JPS61273653A - 電子計算機 - Google Patents
電子計算機Info
- Publication number
- JPS61273653A JPS61273653A JP60117047A JP11704785A JPS61273653A JP S61273653 A JPS61273653 A JP S61273653A JP 60117047 A JP60117047 A JP 60117047A JP 11704785 A JP11704785 A JP 11704785A JP S61273653 A JPS61273653 A JP S61273653A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- diagnosis
- initialization
- interface
- cpu
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は電子計算機に関し、特にそのメモリの診断およ
び初期化に関する。
び初期化に関する。
〔発明の技術的背…および背題技術の問題点〕従来電子
H1輝機のメモリ装置の診断や初期化は引算機の電源投
入時などにすべて中央処理装置(CPU)によって行な
わせていた。この方法はCPtJの処理速度に対するメ
モリの容量が小ざいうちは問題はないが、メモリの容量
が大きくなるにつれ、メモリの診断や初期化に要する峙
間が長くなり、不都合が生じてきた。
H1輝機のメモリ装置の診断や初期化は引算機の電源投
入時などにすべて中央処理装置(CPU)によって行な
わせていた。この方法はCPtJの処理速度に対するメ
モリの容量が小ざいうちは問題はないが、メモリの容量
が大きくなるにつれ、メモリの診断や初期化に要する峙
間が長くなり、不都合が生じてきた。
本発明の目的は、メモリの診断や初期化を短時間に行な
うことができる電子甜鼻機を提供することにある。
うことができる電子甜鼻機を提供することにある。
本発明の電子計算機は、メモリ装置をいくつかの単位即
ちブロックに分け、ブロック毎に並列的に診断や初期化
を行なうようにしたものである。
ちブロックに分け、ブロック毎に並列的に診断や初期化
を行なうようにしたものである。
第1図は本発明の一実施例を示したものである。
同図で、1はCPLJ(中央処理装置)、2は内部バス
、3は主記憶装置(メインメモリ)で、この主記憶装N
3は複数のメモリブロック4に分けられている。5はメ
モリブロックにそれぞれ対応して設けられたメモリ診断
初期化制御部、6はプログラムインターフェース、7は
メモリインターフエースである。
、3は主記憶装置(メインメモリ)で、この主記憶装N
3は複数のメモリブロック4に分けられている。5はメ
モリブロックにそれぞれ対応して設けられたメモリ診断
初期化制御部、6はプログラムインターフェース、7は
メモリインターフエースである。
上記の構成で、電源投入時やメモリ診断が必要な時には
、CP IJ 1はそれぞれのメモリブロック毎に、プ
ログラムインターフ−r−ス6を通して、メ土り診断初
期化制御部5に命令を出し、メ[り診断や初期化を行な
わせる。メモリ診断初期化制御部5は対応するメモリブ
ロックの診断また番、1初期化を行を丁い、その結果を
、プログラムインターフェース6、内部バス2を通して
CP U 1に報告する。 メモリ診断、初期化の時以
外は、プログラムインターフェース6、メ七り診断初期
化制御部5は働かず、G P LJ 1からメモリブロ
ック4へのアクレスはメモリインターフェース7を介し
て行なわれる。
、CP IJ 1はそれぞれのメモリブロック毎に、プ
ログラムインターフ−r−ス6を通して、メ土り診断初
期化制御部5に命令を出し、メ[り診断や初期化を行な
わせる。メモリ診断初期化制御部5は対応するメモリブ
ロックの診断また番、1初期化を行を丁い、その結果を
、プログラムインターフェース6、内部バス2を通して
CP U 1に報告する。 メモリ診断、初期化の時以
外は、プログラムインターフェース6、メ七り診断初期
化制御部5は働かず、G P LJ 1からメモリブロ
ック4へのアクレスはメモリインターフェース7を介し
て行なわれる。
第2図【31本発明の他の実施例を示したものである。
同図で第1図と同じ符号は同様の部材を示す。
8は共通インターフェース、9は切替回路で、CP U
1からの命令により、プログラムインターフェース6
とメモリインターフェースフのいずれかを選択して共通
インターフェース8に接続する。
1からの命令により、プログラムインターフェース6
とメモリインターフェースフのいずれかを選択して共通
インターフェース8に接続する。
電源投入時やメUり診断が必要な時、CPtJ 1は内
部バス2、共通インターフ[−ス8を通して切替回路9
に対して命令を出1ハJj通インターフェース8をメモ
リインターフェース7がら切り離して、プログラムイン
ターフ1−ス6に接続さける。次にCPU1は内部バス
2、共通インターフェース8、プログラムインターフ[
−ス6を通してメモリ診断初期化制御部5に命令を出し
、メモリ診断や初期化を行なわせる。メモリ診断初期化
制御部5は対応するメモリブロック4につき診断又は初
期化を行ない、その結果をプログラムインターフェース
6、共通インターフェース8、内部バス2を通して、C
PUIに報告する。メ[りの診断や初期化が終了すると
、CPtJlは内部バス2、共通バス8を通して切替回
路9に命令を出し、Jl−通インターフI−ス8をプロ
グラムインターフェース6から切り離し、メ[リインタ
ーフエース7に接続さゼる。
部バス2、共通インターフ[−ス8を通して切替回路9
に対して命令を出1ハJj通インターフェース8をメモ
リインターフェース7がら切り離して、プログラムイン
ターフ1−ス6に接続さける。次にCPU1は内部バス
2、共通インターフェース8、プログラムインターフ[
−ス6を通してメモリ診断初期化制御部5に命令を出し
、メモリ診断や初期化を行なわせる。メモリ診断初期化
制御部5は対応するメモリブロック4につき診断又は初
期化を行ない、その結果をプログラムインターフェース
6、共通インターフェース8、内部バス2を通して、C
PUIに報告する。メ[りの診断や初期化が終了すると
、CPtJlは内部バス2、共通バス8を通して切替回
路9に命令を出し、Jl−通インターフI−ス8をプロ
グラムインターフェース6から切り離し、メ[リインタ
ーフエース7に接続さゼる。
メモリの診断や初期化の時以外は、CP tJ 1がら
のメモリブロック4へのアクロスは内部バス2、共通イ
ンターフェース8、メモリインターフェース7を介して
行なわれる。
のメモリブロック4へのアクロスは内部バス2、共通イ
ンターフェース8、メモリインターフェース7を介して
行なわれる。
以上のように本発明によれば、メモリを複数のブロック
に分け、ブロック毎に並行して診断や初期化を行なうの
で診断や初期化に要する時間を大幅に短縮Jることがで
きる。
に分け、ブロック毎に並行して診断や初期化を行なうの
で診断や初期化に要する時間を大幅に短縮Jることがで
きる。
第1図は本発明一実施例の電子計算機を示すブ【]ツク
線図、第2図は本発明の他の実施例を示すブロック線図
である。 1・・・CPLJ、2・・・内部バス、3・・・メイン
メモリ、4・・・メモリブロック、5・・・メモリ診断
初期化制御部、6・・・プログラムインターフェース、
7・・・メモリインターフェース、8・・・共通インタ
ーフェース、9・・・切替回路。
線図、第2図は本発明の他の実施例を示すブロック線図
である。 1・・・CPLJ、2・・・内部バス、3・・・メイン
メモリ、4・・・メモリブロック、5・・・メモリ診断
初期化制御部、6・・・プログラムインターフェース、
7・・・メモリインターフェース、8・・・共通インタ
ーフェース、9・・・切替回路。
Claims (1)
- 中央処理装置と、メモリとを有する電子計算機において
前記メモリが複数のメモリブロックに分けられ、そのメ
モリブロックに対して、それぞれ並行して診断や初期化
を行ない得る複数のメモリ診断初期化制御部を設けたこ
とを特徴とする電子計算機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60117047A JPS61273653A (ja) | 1985-05-30 | 1985-05-30 | 電子計算機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60117047A JPS61273653A (ja) | 1985-05-30 | 1985-05-30 | 電子計算機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61273653A true JPS61273653A (ja) | 1986-12-03 |
Family
ID=14702108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60117047A Pending JPS61273653A (ja) | 1985-05-30 | 1985-05-30 | 電子計算機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61273653A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6467659A (en) * | 1987-09-09 | 1989-03-14 | Nec Corp | Information processor |
JPH03142536A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Nec Corp | 記憶装置の診断方式 |
-
1985
- 1985-05-30 JP JP60117047A patent/JPS61273653A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6467659A (en) * | 1987-09-09 | 1989-03-14 | Nec Corp | Information processor |
JPH03142536A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Nec Corp | 記憶装置の診断方式 |
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