JPS6125172B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6125172B2
JPS6125172B2 JP55139675A JP13967580A JPS6125172B2 JP S6125172 B2 JPS6125172 B2 JP S6125172B2 JP 55139675 A JP55139675 A JP 55139675A JP 13967580 A JP13967580 A JP 13967580A JP S6125172 B2 JPS6125172 B2 JP S6125172B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
pattern
trigger
output
detection circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55139675A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5764851A (en
Inventor
Yasuhiro Nagayama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP55139675A priority Critical patent/JPS5764851A/ja
Publication of JPS5764851A publication Critical patent/JPS5764851A/ja
Publication of JPS6125172B2 publication Critical patent/JPS6125172B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、情報処理装置に関する。特に、プロ
グラムおよび論理回路等の故障位置を発見するた
めの故障位置検出装置に関するものである。
従来、この種の装置は起動と同時に入力データ
を記憶回路に順次記憶し、トリガパターン検出回
路でトリガパターンを検出したときから、カウン
タを減算し、このカウンタが零となつたときに上
記記憶動作を停止する。この動作により記憶され
た記憶内容を読出しながら、デバツクを行う。し
かし、このような従来装置ではトリガパターンが
多数発生するような入力データを扱う場合には、
起動から最初に入力するトリガパターンのみがト
リガされ任意の位置のトリガパターンを利用して
トリガすることはできない欠点を有する。
本発明はこの点を改良するもので、トリガパタ
ーンが多数発生するような信号系列を扱う場合に
おいても検出しようとする位置のトリガパターン
のみを検出することができる故障位置検出装置を
提供することを目的とする。
本発明は、入力データを順次書込むメモリと、
入力データからトリガパターンを検出するトリガ
パターン検出回路とを備え、このトリガパターン
検出回路に検出出力が送出されてからあらかじめ
指定されたステツプ数だけ入力データを上記メモ
リに書込み、その書込を停止するように構成され
た故障位置検出回路において、上記入力データか
らイネーブルパターンを検出するイネーブルパタ
ーン検出回路と、この回路の検出出力により上記
トリガパターン検出回路の出力を許可する回路
と、上記入力データからインヒビツトパターンを
検出するインヒビツトパターン検出回路と、この
回路の検出出力により上記トリガパターン検出回
路の出力を遮断する回路とを備えたことを特徴と
する。
このことを図面に基づいて詳しく説明する。第
1図は、従来例装置の要部ブロツク構成図であ
る。第1図で1はレベル変換器である。このレベ
ル変換器1の出力は同期化回路2に導かれてい
る。この同期化回路2の出力はメモリ3およびト
リガパターン検出回路5にそれぞれ導かれてい
る。このトリガパターン検出回路5には、トリガ
パターン指定線6が導かれている。
また、第1図で7はクロツク発生回路であり、
このクロツク出力は上記同期化回路2に導かれる
とともに、アンド回路8および9の一方の入力端
子にそれぞれ導かれている。また、第1図で10
はスタートパルス発生器であり、この出力はフリ
ツプフロツプ11のリセツト端子およびフリツプ
フロツプ12のセツト端子に、それぞれ導かれて
いる。このフリツプフロツプ11のセツト端子に
は上記トリガパターン検出回路5の出力が導かれ
ている。
このフリツプフロツプ11および12の出力は
上記アンド回路8および9の入力端子にそれぞれ
導かれている。このアンド回路9の出力は、上記
メモリ3の書込端子に導かれるとともに、アドレ
スカウンタ15に導かれている。このアドレスカ
ウンタ15の出力は、メモリ3のアドレス端子に
導かれている。また、アンド回路8の出力は減算
カウンタ13の減算入力に導かれている。この減
算カウンタ13の出力は上記フリツプフロツプ1
1および12のリセツト端子にそれぞれ導かれて
いる。
このような回路構成の従来装置の動作を説明す
る。フリツプフロツプ11および12はリセツト
状態で初期値「0」が設定されている。また、ク
ロツク発生回路7からは入力データaをサンプル
するクロツク周期でクロツク信号を発生する。こ
の装置が起動するには、スタートパルス発生器1
0がスタートパルスを発生する。これによりフリ
ツプフロツプ12がセツトされ「1」が出力され
る。このためアンド回路9では論理積が取られメ
モリ書込信号bが発生されメモリ3に書込を指示
する。また、この書込信号bはアドレスカウンタ
15をカウントアツプし、書込信号bが出るごと
に、メモリ3の書込アドレスを指定して行く。
一方、入力データaはレベル変換器1により装
置内の電圧レベルに変換され、さらに同期化回路
2でクロツク発生回路7で発生しているクロツク
に同期化される。メモリ3はこの入力データaを
順次書込んで行く。その後トリガ指定パターン指
定線6を介して、あらかじめトリガパターン検出
回路5に入力されているトリガパターンと一致し
た入力データaが入ると、トリガパターン検出回
路5が信号を発生し、フリツプフロツプ11を
「1」にセツトする。この状態で、アンド回路8
はクロツク信号cと論理積が取られる毎に、減算
カウンタ13を減算する。これにより、あらかじ
めセツトされた値だけ減算カウンタ13がカウン
トダウンされ、カウンタが零になると終了パルス
dが送出され、フリツプフロツプ11および12
がリセツトされ、データ書込動作を終了する。こ
の後メモリ3のデータを読出線14によりゆつく
り読むことにより、故障個所の検出が行われる。
したがつて、この種の装置では、トリガパター
ンが多数発生するような信号系列で、指定した任
意の位置のトリガパターンをトリガとすることが
できない不都合を有する。
第2図は、本発明一実施例の要部ブロツク構成
図である。第1図で示した従来例と比較すると、
イネーブルパターン検出回路16、インヒビツト
パターン検出回路17、アンド回路18およびフ
リツプフロツプ19を設け、イネーブルパターン
の後で、かつインヒビツトパターンより前に、ト
リガパターンが検出されたときにのみ、トリガパ
ターン検出出力を送出するように構成したところ
に特徴がある。
すなわち、同期化回路2の出力はイネーブルパ
ターン検出回路16、およびインヒビツトパター
ン検出回路17にそれぞれ導かれている。このイ
ネーブルパターン検出回路16の出力は、フリツ
プフロツプ19のセツト端子に導かれている。こ
のフリツプフロツプ19のリセツト端子には、イ
ンヒビツトパターン検出回路17の出力、および
スタートパルス発生器10の出力が、それぞれ導
かれている、このフリツプフロツプ19の出力
は、アンド回路18の一方の入力端子に導かれて
いる。このアンド回路18の他の入力端子には、
トリガパターン検出回路5の出力が導かれてい
る。このアンド回路18の出力は前記フリツプフ
ロツプ11のセツト端子に導かれている。
他の構成については、第1図で示した従来例と
同様であるので説明の繰返しを省く。
このような回路構成で、本発明の特徴ある動作
を説明する。スタートパルス発生器10がスター
トパルスを発生すると、フリツプフロツプ19と
フリツプフロツプ11はリセツトされ、フリツプ
フロツプ12はセツトされる。入力データaは、
レベル変換器1で内部論理の電圧レベルに変換さ
れ、さらに同期化回路2でクロツクに同期化され
る。クロツク信号cが「1」になると、アンド回
路9の出力は「1」になり、メモリ書込信号bが
送出され、メモリ3に同期化回路2の出力を書込
むことを指示する。また、アドレスカウンタ15
をカウントアツプする。この動作はフリツプフロ
ツプ12が「1」の間は順次つづけられ、メモリ
3の容量すべてにデータが書かれた後は、すでに
書いたデータを書きつぶして行く。
入力データaの中にイネーブルパターン指定線
20を介して、イネーブルパターン検出回路16
に入力したイネーブルパターンが入つた場合に
は、イネーブルパターン検出回路16の出力が
「1」になり、フリツプフロツプ19が「1」に
なる。この状態で、入力データaの中にトリガパ
ターン指定線6でトリガパターン検出回路5に入
力したトリガパターンが入つた場合には、トリガ
パターン検出回路の出力が「1」になり、アンド
回路18で論理積がとられ、フリツプフロツプ1
1を「1」にする。
以下の動作は前述の従来装置と同様に行われ
る。すなわち、クロツク信号cが出力されるごと
にアンド回路8で論理積がとられカウンタ13が
カウントダウンされる。カウンタ13には、あら
かじめトリガパターン以降に記憶するデータ数の
カウント値がセツトされている。カウンタ13が
指定したカウント値をカウントダウンし、その内
容が零となると終了信号dが送出され、フリツプ
フロツプ11および12がリセツトされ、入力デ
ータaのメモリ3への書込を中止する。メモリ3
に書込れたデータは、アドレスを指定しメモリ読
出線14から読出される。
次に、本発明の特徴であるトリガパターン検出
を中止する動作を説明する。イネーブルパターン
が検出された後に、トリガパターンが検出されず
にインヒビツトパターン指定線21でインヒビツ
トパターン検出回路21に入力されたインヒビツ
トパターンが検出された場合には、インヒビツト
パターン検出回路17の出力が「1」になり、フ
リツプフロツプ19をリセツトする。このため、
アンド回路18が閉じられ、トリガパターン検出
回路5の出力を遮断する。この後は、入力データ
aは順次メモリ3に書込れて行き、イネーブルパ
ターンとトリガパターンが順次発生するまでこの
書込み動作を継続する。従つて、イネーブルパタ
ーンの後で、かつインヒビツトパターンより前に
トリガパターンが検出されたときにのみトリガパ
ターンをトリガすることになる。
第3図は、上記例の動作タイムチヤートであ
る。この第3図は入力データaの中にある「3」
と「0」のパターンの間で発生する「2」のパタ
ーンをトリガパターンとした時の波形である。入
力データaの中に「2」のパターンが多数あるた
め、従来の装置では最初に発生する「2」のパタ
ーンでトリガが発生していたが(第3図A)、本
発明の装置では、観測したい時点でのトリガを発
生させる(第3図B)。
以上説明したように本発明によれば、イネーブ
ルパターン検出回路とインヒビツトパターン検出
回路を設けることにより、イネーブルパターン、
トリガパターンの順でトリガパターンが検出され
たときにはカウンタを動作させ、イネーブルパタ
ーン、インヒビツトパターン、トリガパターンの
順でトリガパターンを検出したときにはカウンタ
を動作しないこととした。したがつて、トリガパ
ターンが多数発生するような信号系列の中から、
目的とするトリガパターンのみを選択することが
できる。このため、マイクロプログラムまたは論
理回路等の故障位置を適切に検出することができ
る。また、このために付加する回路も複雑となら
ずコストも低廉とすることができる等の効果を有
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例装置の要部回路構成図。第2図
は本発明一実施例の要部回路構成図。第3図は上
記例の動作タイムチヤート。 1……レベル変換器、2……同期化回路、3…
…メモリ、5……トリガパターン検出回路、7…
…クロツク発生回路、8,9,18……アンド回
路、10……スタートパルス発生回路、11,1
2,19……フリツプフロツプ、15……アドレ
スカウンタ、13……減算カウンタ、16……イ
ネーブルパターン検出回路、17……インヒビツ
トパターン検出回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 入力データを順次書込むメモリと、入力デー
    タからトリガパターンを検出するトリガパターン
    検出回路と、このトリガパターン検出回路に検出
    出力が送出されてからあらかじめ設定されたステ
    ツプ数だけ入力データを上記メモリに書込んだと
    ころでその書込を停止する手段とを備えた故障位
    置検出装置において、 上記入力データからイネーブルパターンを検出
    するイネーブルパターン検出回路と、 この回路の検出出力により上記トリガパターン
    検出回路の出力を許可する回路と、上記入力デー
    タからインヒビツトパターンを検出するインヒピ
    ツトパターン検出回路と、 この回路の検出出力により上記トリガパターン
    検出回路の出力を遮断する回路と を備えたことを特徴とする故障位置検出装置。
JP55139675A 1980-10-06 1980-10-06 Detector for position of fault Granted JPS5764851A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55139675A JPS5764851A (en) 1980-10-06 1980-10-06 Detector for position of fault

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55139675A JPS5764851A (en) 1980-10-06 1980-10-06 Detector for position of fault

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5764851A JPS5764851A (en) 1982-04-20
JPS6125172B2 true JPS6125172B2 (ja) 1986-06-14

Family

ID=15250795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55139675A Granted JPS5764851A (en) 1980-10-06 1980-10-06 Detector for position of fault

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5764851A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5764851A (en) 1982-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910012924A (ko) 다중 소오스로부터 독립적으로 발생하는 에러를 선택적으로 잡아내기 위한 버스 모니터
JPS6125172B2 (ja)
JPS5939782B2 (ja) トレ−サ
JP2789900B2 (ja) 状態履歴記憶装置
JPS6142186Y2 (ja)
JPH03184135A (ja) データ処理装置
JPS6011400B2 (ja) Ic試験装置
JPS5838879B2 (ja) フエイルメモリ
JPS6153579A (ja) 論理回路機能試験機
JPH0645261Y2 (ja) ロジック・アナライザ
SU1539782A2 (ru) Устройство дл тестового контрол цифровых блоков
JPH0241694Y2 (ja)
SU918975A1 (ru) Устройство дл контрол блоков пам ти
SU1674255A2 (ru) Запоминающее устройство
JPS5814989B2 (ja) ロジック素子あるいはロジック回路の動作速度試験回路
JP2831031B2 (ja) 周期発生器
JPS63128446A (ja) トレ−ス方式
JPS61815A (ja) シ−ケンス回路の異常個所発見装置
JPH02178886A (ja) データ記録装置
JPS6155137B2 (ja)
JPH04195552A (ja) アドレストレーサ
JPS58117055A (ja) スキヤン・デ−タ保護方式
JPS63317786A (ja) ロジック・アナライザ
JPS58208898A (ja) 異地点情報の同期計測方式
JPS6020693U (ja) ガス漏れ警報器