JPS61239137A

JPS61239137A - 単一モ−ド光フアイバの特性測定装置

Info

Publication number: JPS61239137A
Application number: JP60080003A
Authority: JP
Inventors: Takashi Ide; 井出　貴史
Original assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date: 1985-04-15
Filing date: 1985-04-15
Publication date: 1986-10-24
Also published as: DK159986D0; DK159986A; EP0198480A2; EP0198480B1; NO169256B; DE3681191D1; AU579293B2; FI89207C; DK166467B1; EP0198480A3; US4714343A; AU5609986A; CA1261166A; FI861566A0; NO169256C; NO861439L; JPH0323854B2; FI89207B; FI861566A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】１１ユΩμ月分！本発明は、光フアイバ特性測定装置に関する。

更に詳細には、単一モード光ファイバの外径、コア径、
コア偏心率、非円率等の構造パラメータ、スポットサイ
ズ、カットオフ波長、比屈折率差など多項目にわたる測
定を自動的かつ連続して測定するための光ファイバの特
性測定装置に関する。

従来の技術単一モード光ファイバの測定項目には、外径、コア径、
コア非円偏心率等の幾何的構造のパラメータ、スポット
サイズ、伝送損失、分散、後方散乱、カットオフ波長、
比屈折率差等の測定項目がある。この内、外径、コア径
、コア非円率、偏心率等の幾何的構造パラメータ、スポ
ットサイズ、カットオフ波長、比屈折率差等の測定項目
に関しては、測定の性質上光フアイバ全長にわたり光を
透過させて測定を行なうのではなく１〜２ｍ程度のサン
プルを採取し、そのサンプルを光フアイバ全体（例えば
−ボビン）の特性として代表させているのが普通である
。

従来、上記した項目の測定ごとに、ＩＴＶや光ディテク
タ、あるいは測定器の光源や受光器につながる光ファイ
バ等の光学的入出射端に対して、別個の位置で被測定光
ファイバ端をセットし更に位置決めした後に、測定を行
なっていた。そして、１つの測定器に対して１人の作業
者がついて測定を行なうのが普通であった。そのため、
測定項目ごと被測定光ファイバのセツティングを行なわ
なくてはならず手間がかかった。更に、測定器が動作し
て被測定光ファイバの特性測定を行なっている間は、そ
の測定器に対するセツティング作業が行なえない。そこ
で、セツティング作業と測定とを交互に行うとしても、
１人の作業者が測定可能な測定項目は２つでしかない。

従って、従来の単一モード光ファイバの特性測定は、多
くの人と多くの時間がかかり、極めて能率が悪かった。

発明が解決しようとする問題点上記したように、従来の単一モード光ファイバの特性測
定は、多大の時間と労力を要していた。

一方、近年、光ファイバの急速な技術進歩により、光フ
ァイバは、大量かつ高品質のものが得られるようになっ
た。これに伴い製品の検査は、高精度かつ高能率に行な
う要求が高まっている。この中で、Ｉ）カットオフ波長
、ｉｉ）コア径、外径、コア非円率、外径非円率、外径
に対するコア偏心率等の幾何学的寸法、ｉｉｉ　）スポ
ットサイズ等は最も重要な光フアイバパラメータであり
製品検査に不可欠である。そして、これらの測定は、上
記したように、２ｍ前後の被測定光ファイバのサンプル
を用いて行なうことができる。

そこで、本発明は、単一モード光ファイバの外径、コア
径、コア偏心率、非円率等の構造の幾何学的パラメータ
、スポットサイズ、カットオフ波長、比屈折率差などの
測定項目を能率的且つ省人的にすなわち自動的かつ連続
的に、高精度に測定することができる光ファイバの特性
測定装置を提供せんとするものである。

問題点を解決するための手段すなわち、本発明によるならば、キャリア上への被測定
光ファイバのセットを行なうセットステージと、光学的
測定系入出射端を有し且つ前記キャリア上の被測定光フ
ァイバの特性測定を行なう測定ステージとが、キャリア
の移動方向に沿って順次設けられ、前記キャリア上にセ
ットされた被測定光ファイバをキャリアごと順次各測定
ステージに移動して、測定ステージにおいて前記光学的
測定系入出射端に対し被測定光ファイバ端を位置決めし
て所定の特性測定を行なう単一モード光ファイバの特性
測定装置において、前記キャリア上には、被測定光ファ
イバの各端部を保持するホルダと、被測定光ファイバ中
の伝微モードを制御すべく、第１の曲率半径の円一周分
の曲げを被測定光ファイバに与えように該第１の曲率半
径の円弧上の曲げを与える第１の光ファイバ曲げ装置と
が設けられ、前記第１の曲率半径より小さい第２の曲率
半径の曲げを一周分以上被測定光ファイバに与える第２
の光ファイバ曲げ装置が、前記キャリア上または特定の
測定ステージに設置される。

−作浬以上のような本発明による単一モード光ファイバの特性
測定装置において、まず、セットステージにおいてキャ
リア上に被測定光ファイバをセットする。そして、その
被測定光ファイバがセットされたキャリアを測定ステー
ジに送り、その測定ステージにおいて被測定光ファイバ
に対して測定を実施する一方、セットステージにおいて
次のキ。

ヤリア上に次の被測定光ファイバをセットする。

このようにセットステージでキャリア上に被測定光ファ
イバを１回セットすれば、後はキャリアを順次測定ステ
ージに送るだけで被測定光ファイバは順次測定される。

以上のように、本発明による単一モード光ファイバの特
性測定装置においては、被測定光ファイバをセットする
ステージと測定を行なうステージが異なっているので、
作業上測定器が測定を行なっている間にキャリア上のセ
ットが出来る。従って、無駄時間が省けると共に一度光
ファイバをセットするだけで多項目の測定が出来るので
、−人の作業者の作業単位時間に対し、測定出来る光フ
アイバ本数及び項目は飛躍的に向上する。

更に、キャリア上には第１の曲げ装置が配置され、被測
定光ファイバに対して必要な曲率の曲げを与える一方、
不必要な曲げが生じないようにしているので、被測定光
ファイバを伝搬するモードが制御され必要なモードに維
持される。従って、常に安定した条件において測定をす
ることができる。

実施例以下、添付図面を参照して本発明による単一モード光フ
ァイバの特性測定装置の実施例を説明する。

まず、本発明の詳細な説明する前に、本発明による単一
モード光ファイバの特性測定装置における測定項目の代
表的な単一モード光ファイバのカットオフ波長測定につ
して説明する。

単一モード光ファイバにとって、カットオフ波長は、２
つ以上のモードを伝播させることなくシングルモードで
作用する限界波長を示す重要な特性パラメータであるの
で、このカットオフ波長を精度良く測定することは非常
に重要である。そのカットオフ波長を求めるため従来広
く用いられている方法の１つは、「光通信ハンドブック
ｊ　１９８２年９月１日、朝食書店、第４３７頁、図５
．４．２９に示されるような「曲げ法」とよばれるもの
で、その典型的な測定装置を第９図に示す。第９図に示
すように、適当な長さの被測定光ファイバ１を波長可変
光源２と光検出器３の間に結合する。波長可変光源２と
光検出器３とは、制御／演算装置４に接続されている。

まず、第９図に実線で示すように、被測定光ファイバ１
に曲げを与えない状態で、制御／演算装置４の制御によ
り波長可変光源２から出射する光の波長を成る範囲で掃
引し、各波長での被測定光ファイバ１からの出力光パワ
ーＰ、（λ）を光検出器３で検出し、制御／演算装置４
に記憶させる。

次に、被測定光ファイバ１と波長可変光源２および光検
出器３との結合状態に変化を与えないようにして被測定
光ファイバ１を第９図に破線ＩＡで示すように適当な径
のマンドレル５に巻きつける。この状態で再度、制御／
演算装置４の制御により波長可変光源２から出射する光
の波長を同一の範囲で掃引し、各波長での被測定光ファ
イバ１からの出力光パワーＰ２（λ）を光検出器３で検
出し、制御／演算装置４に記憶させる。

このようにして記憶させた被測定光ファイバに曲げを与
えない状態および曲げを与えた状態での光出力の比、例
えば、を制御／演算装置４により演算し、第１０図に示すよう
に曲げ損失の波長依存性すなわち波長特性を示すグラフ
を作成する。この波長特性からカットオフ波長は、曲げ
損失の立上り点として求めることができる。

しかしながら、上記「曲げ法」による従来の単一モード
光ファイバのカットオフ波長測定は、測定精度の確保お
よび測定の作業性の点で下記のような問題があった。す
なわち、カットオフ波長の測定精度は、被測定光ファイ
バに曲げを与える際の両端の結合状態の変化に影響を受
けやすいので、両端の結合状態に変化を与えないよう注
意を必要としていた。なぜならば、結合状態が変化すれ
ば、被測定光ファイバの波長依存性と関係なく、光検出
器に入力される光量が変化するからである。

上記「曲げ法」にあって、被測定光ファイバの両端を固
定して「光ファイバに曲げを与えない状態」から、「光
ファイバに曲げを与える状態」に置くべく、被測定光フ
ァイバをマンドレルに巻きつけると、被測定光ファイバ
には、その中心軸を中心とした回転すなわち「ひねり」
が必然的に生じてしまう。一般に被覆された光ファイバ
はひねりに対して強い復元力を持つので、そのひねりは
被測定光ファイバの両端の結合状態に変化を与え、測定
精度が悪化した。

更に、被覆された光ファイバは曲げに対しても復元力を
持つので、単にマンドレルに巻いただけでは姿勢が不安
定なため、被測定光ファイバを例えば粘着テープで止め
る等の固定処理が必要とされ、作業性が悪かった。

また、上記した方法において、「光ファイバに曲げを与
えない状態」の再現性及び安定性が悪いために、その測
定の信頼性に問題があった。その第１の理由は、従来、
「光ファイバに曲げを与えない状態」の定義が不明確で
あったために、測定団体更には測定者に光ファイバをど
のような状態に置くかの判断に委ねられていたので、測
定団体または測定者ごとに、更には、測定ごとに、「光
ファイバに曲げを与えない状態」が異なっていたことで
ある。その第２の理由は、第９図のような被測定光ファ
イバを垂らした状態では、ファイバの状態が少し変化す
るだけで測定値が大幅に変化するためである。

そこで、ＣＣＩＴＴ（国際電信電話諮問委員会）は、１
９８４年５月の「勧告ジ−６５２単一モード光フアイバ
ケーブルの特性の改定板Ｊ　（Ｒｅｖｉｓｅｄ　Ｖｅｒ
ｓｉｏｎｏｆ　　ＲｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎＧ６５
２　　Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ　　ｏｆ　　Ａ
Ｓｉｎｇｌｅ　Ｍｏｄｅ　Ｆｉｂｅｒ　Ｃａｂｌｅ）第
１５〜１８頁において、被測定光ファイバに対し大きい
曲率半径Ｌ４０ｍｍの曲げを与えた状態を「光ファイバ
に曲げを与えない状態」に代え、小さい曲率半径３０ｍ
ｍの曲げを与えた状態を従来法で言う「光ファイバに曲
げを与えた状態」に代え、この２つの状態における波長
依存性の比較を従来法と同様の方法で行ない、カットオ
フ波長を求めることを勧告している。更に、曲率半径の
大きい曲げを与える際には、その曲率半径よりも小さい
曲率半径の曲げを被測定光ファイバには決して与えず、
しかも曲げが与えられる部分は、丁度上記した大きい曲
率半径をもつ円一周分であり、また、曲率半径の小さい
曲げを与える際には、その小さい曲率半径よりも小さい
曲率半径の曲げを被測定光ファイバに決して与えず、し
かも曲げが与えられる部分はその小さい曲率半径をもつ
円一周分以上であることが必要かつ充分な測定条件とし
ている。

ここで、この曲げは、シングルモード光ファイバ中を伝
搬するモードの制御のため与えられ、曲率半径３０＋ｎ
ｍの曲げは、光フアイバ中を伝搬するモ−ドをその最低
次モードであるＬＰｏｌモードのみに制限するために与
えられる。

以上、カプトオフ波長について述べたが、例えばスポッ
トサイズの測定においても、単一モードのスポットサイ
ズを測定するためには上記のような曲げを被測定光ファ
イバに与える必要がある。

しかしながら、ＣＣＩＴＴが勧告した方法においても、
両端を固定された被測定光ファイバを所定の半径の円に
沿って１回巻く必要があるために、被測定光ファイバの
ひねりの問題と光ファイバの復元力の問題は解決してい
ない。すなわち、被測定光ファイバに加えられたひねり
により、被測定光ファイバの両端の結合状態が変化し、
また、被覆された光ファイバの曲げに対する復元力のた
めに、単にマンドレルに巻いただけでは姿勢が不安定と
なるので、被測定光ファイバを例えば粘着テープで止め
る等の固定が必要とされる。この固定作業は、２８０ｍ
ｍという大きな径のマンドレルに光ファイバをずり落ち
ないように巻きつけるという手間がかかり、その上、テ
ープの粘着により測定に対し悪影響を与えるマイクロベ
ンド等の曲げが発生しやすく測定精度の確保を難しくし
てしまう。

そこで、本発明による単一モード光ファイバの特性測定
装置においては、測定の際、被測定ファイバに対しひね
りを与えることなく、かつ安定した姿勢で曲げを与える
ことができ、しかも、被測定光ファイバの保持及び曲げ
を簡単に行なうこともでき、これにより測定精度の確保
と共に測定の作業性が向上かつ省力化されるような工夫
を施している。

そこで、被測定ファイバに対しひねりを与えることなく
、かつ安定した姿勢で曲げを与えることができ、しかも
、被測定光ファイバの保持及び曲げを簡単に行なうこと
もできる曲げ装置をキャリア上に備えている。

第１図及び第２図は、本発明による単一モード光ファイ
バの特性測定装置に使用されるキャリアの概略構成図で
あり、第１図は、キャリアにセットされた被測定光ファ
イバに大きな曲率半径の曲げを与えている状態を示し、
第２図は、キャリアにセットされた被測定光ファイバに
小さな曲率半径の曲げを与えている状態を示している。

第１図及び第２図を参照するならば、キャリア１０の対
向辺近くに互いに対角関係に被測定光ファイバホルダ２
４及び２６が配置されるようになされている。これらホ
ルダ２４及び２６は、被測定光ファイバ２８に成る程度
の引張り力が作用してもホルダから抜は落ちない程度の
力で被測定光ファイバ２８を保持するようになされてい
る。また、これらホルダ２４及び２６は、被測定光ファ
イバ２８の光軸に直角で互いに直交するＸ方向及びｙ方
向に、更には、被測定光ファイバ２８の光軸の同一の２
方向に位置の微調整できるようになされている。この被
測定光ファイバホルダとしては、昭和５９年特許願第２
２３（１０）１号や昭和５９年特許願第２４０９８６号
に開示されるようなホルダや調心装置が使用できる。

被測定光ファイバホルダ２４及び２６に両端が保持され
る被測定光ファイバ２８に、大きな曲率半径の曲げを与
える第１の光ファイバ曲げ装置と、小さな曲率半径の曲
げを与える第２の光ファイバ曲げ装置とが、被測定光フ
ァイバホルダ２４と２６との間に配置されている。

被測定光ファイバ２８に大きな曲率半径の曲げを与える
第１の光ファイバ曲げ装置は、例えば直径２８０ｍｍの
円筒状の大曲率半径曲げ付与部材すなわち大ローラ３０
及び３２を有している。これら大ローラ３０及び３２は
、被測定光ファイバホルダ２４及び２６に保持されてい
る被測定光ファイバの部分の延長線上に周面が接するす
るように配置され、それにより、被測定光ファイバ２８
の被測定光ファイバホルダ２４及び２６に保持されてい
る部分と、被測定光ファイバの大ローラ３０及び３２と
ホルダ２４及び２６との間にそれぞれ位置する部分２８
Ａ及び２８Ｂとの境で被測定光ファイバが曲がらないよ
うにしている。

更に、大ローラ３０及び３２は、被測定光ファイバ２８
の部分２８Ａ及び２８Ｂが平行関係にあり、且つ、大ロ
ーラ３０及び３２との間に位置する被測定光ファイバ２
８の部分２８Ｃが、すなわち、大ローラ３０及び３２に
共通する接線が、上記した被測定光ファイバ２８の部分
２８Ａ及び２８Ｂと平行にあるように位置付けられてい
る。

そして、大ローラ３０及び３２の一方、例えば、大ロー
ラ３０は、位置が移動しないように固定保持されている
。他方、例えば、大ローラ３２は、その中心軸３２Ａが
、被測定光ファイバ２８のホルダ２６に保持されている
部分の上記した延長線の方向、すなわち、大ローラ３２
により被測定光ファイバ２８が曲げられ始める点Ｐでの
接線方向に、平行に延在するようにキャリア１０に設け
られた案内溝３４に嵌合支持され、その案内溝３４に沿
って摺動可能になされている。

なお、大ローラ３２の軸３２Ａと案内溝３４との摺動の
際の摩擦抵抗は、測定者には自由に大ローラ３２を摺動
させることができる反面、被測定光ファイバの弾力の力
では大ローラ３２が摺動しない程度になされている。従
って、大ローラ３２が矢印Ａの方向に移動しても、被測
定光ファイバ２８を緊張状態に保つ限り、被測定光ファ
イバ２８０部分２８Ａ、２８Ｂ及び２８Ｃの直線性及び
相互の平行関係は維持され、それら部分に曲がりが発生
することはない。

被測定光ファイバ２８に対して小さな曲率半径の曲げを
与える第２の光ファイバ曲げ装置は、被測定光ファイバ
ホルダ２４と大ローラ３０との間に配置された、例えば
直径６０ｍｍの円筒状の小曲率半径曲げ付与部材すなわ
ち小ローラ３６．３８及び４０を有している。

各小ローラ３６．３８及び４０は全て、被測定光ファイ
バに付与したい曲げの曲率半径の円の外周を有している
。小ローラ３６及び３８は、被測定光ファイバ２８の一
方の側で、小ローラ４０の直径と等しい間隔り互いに離
隔されて配置されて、被測定光ファイバ２８に曲げを与
えないように接している。

残りの小ローラ４０は、被測定光ファイバ２８に対して
小ローラ３６及び３８と反対側に配置されている。

そして、その小ローラ４０は、小さい曲率半径の曲げを
被測定光ファイバ２８に与えるときは、第２図に示すよ
うに、３つの小ローラの中心が一直線に並ぶ位置あるい
はその点よりも奥まで、被測定光ファイバ２８を押して
小ローラ３６及び３８の間に侵入するようになされてい
る。

かくして、小ローラ３６．３８及び４０は、第１図の位
置にあるとき、被測定光ファイバ２８には、小さい曲率
半径の曲げは付与されず、第２図にあるとき、被測定光
ファイバ２８に小さい曲率半径の曲げが付与され、その
曲げは、小ローラ４０の１周分に相当する。

以上のようなキャリアには、セットステージにおいて、
被測定光ファイバがセットされ、そして、キャリアが後
述する測定ステージのカットオフ波長測定ステージに位
置したとき測定がなされる。

セットステージで被測定光ファイバをセットするときは
、小ローラ４０を第１図に示すような第１の位置に置き
、更に、移動可能な大ローラ３２を第１図において点線
で示すように右の方へ移動させて置く。その状態で、所
定の長さ例えば２ｍの被測定ファイバ２８を大ローラ３
０及び３２の回りに巻き付け、その両端をそれぞれホル
ダ２４および２６にセットし、次いで、大ローラ３２を
第１図において左の方へ移動させて、過大な引張り力が
作用しない程度の緊張状態に被測定光ファイバ２８を置
く。

その結果、被測定光ファイバ２８の部分２８Ａ、２８Ｂ
及び２８Ｃは、直線状になり且つ互いに平行関係となる
ので、被測定光ファイバ２８には、大ローラ３゜及び３
２によりそれぞれの外周円の半分の円の曲げが付与され
、合計で大ローラの外周円１つ分の曲げが被測定光ファ
イバ２８に付与される。以上の操作において、被測定光
ファイバ２８はＳ字状に曲げられるので、「ひねり」が
かかることはない。従って、「ひねり」によってホルダ
２４および２６による被測定光ファイバ２８．の保持状
態が変化することはない。

この状態において、セットステージに設けられた光源す
なわち第１図において点線で描いた光源１２から特定の
波長の光は、測定器側光ファイバホ）、ｆ１４　Ａ　ｌ
：ｉｉ　８　ｔ’Ｌ？、：ｆｆ１ｌ：ｔＷ（１！ＩＸニ
ア　ｙ　イｚ（１６Ａ　Ｇ　　　　　介して、被測定光
ファイバ２８の一方の端部に人力する。そして、その被
測定光ファイバ２８の他方の端部から出射される光は、
測定器側光ファイバホルダ１４Ｂに保持された測定器側
光ファイバ１６Ｂを介して、セットステージに設けられ
た光検出器１８により検出させる。そして、光検出器１
８の出力が最大になるように、ホルダ２４及び２６をそ
れぞれｘｌｙ、ｚ方向に微調整する。その結果、セット
ステージの光源１２及び光検出器１８と、被測定光ファ
イバ２８の端部との間隔が、数μｍ〜数１０μｍの間隔
に調整され、且つ、セットステージの光源１２及び光検
出器１８の光軸と、被測定光ファイバ２８の光軸が一致
させられる。

このようにして被測定光ファイバがセットされたキャリ
アを、カットオフ波長測定ステージに移動させる。その
測定ステージにおいて、光源に接続された測定器側光フ
ァイバと、光検出器に接続された測定器側光ファイバと
の相対位置は、セットステージのそれらの相対位置と全
く同一にされている。従って、その被測定光ファイバの
両端は、カットオフ波長測定ステージの光源及び光検出
器と光軸が一致する。この状態（第１図）において、カ
ットオフ波長測定ステージの制御／演算装置の制御の下
に、光源から光を所定の波長範囲にわたって掃引させ、
被測定光ファイバ２８を伝送され且つ光検出器により検
出された各波長での光パワーＰ、（λ）を制御／演算装
置に記憶させる。

そのようにして、大きい曲率半径の曲げを与えたときの
光出力の測定が終了する。

次に、被測定光ファイバ２８に緩みが生じないように、
大ローラ３４を第１図において右の方へ移動させつつ、
小ローラ４０を第２図に示すように小ローラ３６及び３
８の間に侵入させる。その結果、大ローラ３０及び３２
によって被測定光ファイバ２８に付与される曲げは、大
ローラの円周より短くなるが、小ローラ３６．３８及び
４０によって与えられる被測定光ファイバの曲げの長さ
の合計が小ローラの周長に等しくなる。

この状態（第２図）において、カットオフ波長測定ステ
ージの制御／演算装置の制御の下に、カットオフ波長測
定ステージの光源から光を同一の波長範囲にわたって掃
引させ、被測定光ファイバ２８を伝送され且つカットオ
フ波長測定ステージの光検出器により検出された各波長
での光パワーＰ、（λ）を制御／演算装置に記憶させる
。

このように、２種類の状態での被測定光ファイバ２８を
伝播した光の出力の波長特性が測定される。

そして、上記した式（１）によりＲ（λ）が演算され、
咳被測定ファイバのカットオフ波長が測定される。

以上の実施例において、大ローラ３０及び３２並びに小
ローラ３６及び３８は、それぞれの中心軸を中心にして
回転しないようになされている。このような大ローラ及
び小ローラが自転しないと、小ローラ３８を第１図に示
す位置から第２図に示す位置に移動させるときなど、被
測定光ファイバ２８がそれらローラの周面に沿って移動
する場合、被測定光ファイバ２８がローラの周面に対し
て擦られる。そのため、被測定光ファイバがナイロンな
どで２次被覆を施された心線の場合は、ローラ周面の材
質、形状、表面処理を適当なものとして摩擦抵抗を小さ
くでき、被測定光ファイバに対して無用なストレスは小
さくできる。しかし、被測定光ファイバがシリコン樹脂
などで１次被覆を施されただけの素線の場合は、摩擦抵
抗が大きいために、被測定光ファイバに対して相当なス
トレスが作用し、伝送特性を変化させてしまう恐れがあ
る。

そこで、大ローラ３０及び３２並びに小ローラ３６及び
３８を、それぞれその中心軸を中心に自由に自転できる
ように構成する。このように大ローラ及び小ローラを構
成するならば、小ローラ３８を第１図に示す位置から第
２図に示す位置に移動させるときなどのように被測定光
ファイバ２８がそれらローラの周面に沿って移動しよう
とする場合、被測定光ファイバが接触しているローラが
その被測定光ファイバの移動と共に回転して、被測定光
ファイバ２８がローラの周面に対して擦られることはな
い。

それ故、被測定光ファイバが素線であっても、被測定光
ファイバに対して無用なストレスが作用して伝送特性が
変化してしまう恐れはなくなる。従って、被測定光ファ
イバが素線の場合であっても、十分に正確なカットオフ
波長の測定ができる。

なお、小曲率半径の曲げを付与する装置は、小ローラ３
６．３８及び４０の組合せだけでなく、第３図に示すよ
うに、被測定光ファイバに付与したい曲げの曲率半径の
円の外周に合計が等しい断面円弧０３つの小曲率半径曲
げ付与部材４２．４４．４６から構成することもできる
。小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４は、断面４円の
湾曲面をそれぞれ有し、その湾曲面が互いに向き且つ被
測定光ファイバ２８にも向くようにして被測定光ファイ
バ２８の一方の側に配置されている。そして、それら小
曲率半径曲げ付与部材４２及び４４の湾曲面の被測定光
ファイバ側の角は、被測定光ファイバ２８に曲げを与え
ないように接してふり、また、小曲率半径曲げ付与部材
４２及び４４の間隔りは、上記した曲率半径の２倍にな
っている。

残りの小曲率半径曲げ付与部材４６は、断面％円の湾曲
面を有し、その湾曲面が被測定光ファイバ２８に面する
ように、被測定光ファイバ２８に対して小曲率半径曲げ
付与部材４２及び４４と反対側に配置されている。そし
て、その小曲率半径曲げ付与部材４６は、小さい曲率半
径の曲げを被測定光ファイバ２８に与えるときは、第３
図ら）に示すように、それぞれの円弧の曲率中心が一直
線に並ぶ位置あるいはその点よりも奥まで、被測定光フ
ァイバ２８を押して小曲率半径曲げ付与部材４２及び４
４０間に侵入するようになされている。

かくして、小曲率半径曲げ付与部材４２．４４．４６が
第３図（ａ）の位置にあるとき、被測定光ファイバ２８
には、小さい曲率半径の曲げは付与されず、第３図（ハ
）にあるとき、被測定光ファイバ２８に小さい曲率半径
の曲げが付与される。そのときの曲げは、小曲率半径曲
げ付与部材４６の侵入移動量を適当にとることにより、
小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４がそれぞれ上記し
た曲率半径の円の３周分の曲げを与え、小曲率半径曲げ
付与部材４６が同一の円の３周分の曲げを被測定光ファ
イバに与えることができる。

しかし、第３図の構成では、小曲率半径曲げ付与部材４
２．４４．４６はその曲げ付与面の向きを一定に維持す
るように自転しないようにしなければならない。そのた
め、小曲率半径曲げ付与部材４６が小曲率半径曲げ付与
部材４２及び４４０間に侵入するとき、被測定光ファイ
バがそれらの表面で擦られる問題がある。

また、第４図に示すように、小ローラ３６．３８．４０
に加えて、小ローラ３８Ｂと４０Ｂを設けてもよい。

このように構成して、第４図に点線で示すように小ロー
ラ３６．３８．４０．３８Ｂ、４０Ｂの中心軸が一直線
に並ぶ位置あるいはその点より奥まで小ローラ、・１　
　　　　４０及び４０Ｂを小ローラ３６．３８及び３８
Ｂの間に侵入すると、被測定光ファイバ２８に対して、
小ローラの円周の２倍の曲げを付与することができる。

上記した本発明による単一モード光ファイバの特性測定
装置のキャリアの実施例においては、被測定光ファイバ
２８を緊張状態の調整及び維持は、測定者が大ローラ３
２をガイド３４に沿って摺動させることによってなされ
ている。しかし、そのような操作をすること自体が煩雑
である。また、被測定光ファイバに与える緊張状態の程
度すなわち被測定光ファイバに作用させる引張り力は、
測定者の感覚に委ねられる結果となるので、測定ごと異
なることが避けられない。更に、その引張り力は、被測
定光ファイバが曲げ付与部材の周囲で緩まない程度且つ
被測定光ファイバの伝送特性に影響を与えるほどのスト
レスが被測定光ファイバに作用しない程度に微妙に調整
しなければならないため、被測定光ファイバに作用させ
る引張り力の調整が面倒である。なぜならば、引張り力
が大きいと、光ファイバにいわゆる側圧等の強い力が加
わり、被測定光ファイバの伝送特性を変化させてしまう
と共に、被測定光ファイバホルダでの光ファイバの位置
決めを狂わせたりする。

更に、上記したように光ファイバは曲げに対して復元力
をもつので、被測定光ファイバを第１図に示すようなキ
ャリアにセットする際、ただ単に曲げ付与部材に被測定
光ファイバを当てるだけで曲げを加えたのでは、その部
分から滑っでしまう。

そのため、被測定光ファイバを第１図の大ローラの周囲
に巻き付けて大ローラ３２を摺動させ被測定光ファイバ
を緊張状態に置く操作も要領良〈実施する必要がある。

以上のような問題を解消する１つの手段として、大ロー
ラ３２のような大曲率半径曲げ付与部材の移動可能方向
で且つ被測定光ファイバに引張り力を作用させる方向に
、一定の引張り力を常時作用させることが考えられる。

第５図は、極めて簡単な構造により一定の張力を付与す
ることができる張力付与装置を示すものである。

すなわち、第５図の張力付与装置は、一端が例え、ば第
１図の大ローラ３２の回転軸３２Δに枢着され、他端が
ドラム６８に固定されて密着渦巻き状にきつく巻かれた
薄板バネ７０で構成され、そのドラム６８は、固定点に
回転可能に保持されている。

このバネは、いわゆる「定荷重バネ」として一般に知ら
れているものである。簡単に説明すると、薄板バネ７０
に矢印７２の方向に引張り力を加え引き出すと、ドラム
６８は回転し、矢印７４の方向に引張り力を生ずる。ド
ラム６８の回転を自由にしておくと、ドラムは矢印７６
の方向に回転しようとして、常に矢印７４の方向に、薄
板バネ７０の引出し量に関係な（一定な張力が生ずる。

このように張力が一定になるのは、薄板バネに沿った力
は薄板バネが変形する部分７８でのみで生ずるからであ
る。

また、上記したキャリアの実施例においては、第１の曲
げ装置は２つの回転可能な円筒形の曲げ部材を用いてい
る。しかし、大きな曲率半径の曲げを与える装置は、そ
のような構成に限らない。

例えば、第６図及び第７図に示したように、被測定光フ
ァイバ２８に大きな曲率半径の曲げを与える第１の光フ
ァイバ曲げ装置を構成する一対の大曲率半径曲げ付与部
材の一方を、三日月状部材４８とし、他方の大曲率半径
曲げ付与部材を大ローラ５０で構成する。そして、三日
月状部材４８及び大ローラ５０は、２つの互いに平行な
共通接線を有し、且つ、被測定光ファイバホルダ２４及
び２６に保持されている被測定光ファイバの部分の延長
線上に一方の共通接線が位置するように配置されている
。従って、被測定光ファイバ２８の被測定光ファイバホ
ルダ２４及び２６に保持されている部分と、被測定光フ
ァイバの三日月状部材４８及び大ローラ５０とホルダ２
４及び２６との間にそれぞれ位置する部分２８Ａ及び２
８Ｂとの境で被測定光ファイバが曲がらないようにして
いる。また、被測定光ファイバの部分２８Ａ及び２８Ｂ
と、三日月状部材４８と大ローラ５０との間の一方の共
通接線部分２８Ｃとは、−直線に位置している。

更に、大曲率半径曲げ付与部材の一方、すなわち、三日
月状部材４８は、位置が移動しないように固定保持され
ている。第１図及び第２図の実施例と同様に、他方の大
曲率半径曲げ付与部材、すなわち、大ローラ５０は、被
測定光ファイバの部分２８Ａ、２８Ｂ、２８Ｃと平行な
方向３４Ａ及び３４Ｂに移動可能になされ、且つ、回転
可能になされている。

図示していないが、更に、大ローラ５０は、三日月状部
材４８から離れる方向５０Ａに一定の張力を付与する第
５図に示すような張力付与装置が設けられている。

以上のような大曲率半径曲げ付与部材の構成の場合、小
ローラ３６．３８及び４０は、三日月状部材４８の外周
沿いに設けれることが好ましい。なぜならば、小ローラ
により小曲率半径の曲げを加えた際にも、三日月状部材
４８は固定したままで、大ローラ５０は、光ファイバを
繰り出すように回転しながら滑動するので、なめらかな
動作が第１図及び第２図の実施例に示した場合と同様に
得られると共に、非常にコンパクトな形状となり、この
曲げ装置を設置するキャリアの小型化が出来る。

上記したキャリアの実施例では小曲率半径曲げ付与部材
をキャリア側に設けた。しかし、小曲率半径曲げ付与部
材は、全ての項目の測定に必要ではない。そこで、小曲
率半径曲げ付与部材の動作が必要な項目の測定を実施す
る測定ステージに設けるようにしてもよい。

第８図は、小曲率半径曲げ付与部材の動作が必要な項目
の測定を実施する測定ステージのみに小曲率半径曲げ付
与部材を配置した、本発明による単一モード光ファイバ
の特性測定装置の実施例の平面図を示す。

図示の単一モード光ファイバの特性測定装置は、光）７
・イバのセットステージＡと、３つの測定ステージＢ、
ＣＳＤとを有している。本発明による測定装置では、こ
のような複数のステージＡ−Ｄに沿って上記したキャリ
ア１０が矢印イのように移動、盾環する。図示のキャリ
ア１０は、大曲率半径曲げ付与部材をなす大ローラを有
しているが、小曲率半径曲げ付与部材は有していない。

その代わり、測定ステージＣ及びＤに、小曲率半径曲げ
付与部材をなす小ローラ３６．３８及び４０が配置され
ている。

なお、セットステージＡには、ホルダ２４及び２６に保
持されている被測定光ファイバの光軸調整機構として第
１図に示した光源と光検出器との組合せを設けることも
できるが、第８図の実施例では、゛　　　　　ホルダ２
４及び２６を写すＩＴＶカメラ８０及び８２が設けられ
ている。

また、測定ステージＢには、光源に接続されホルダ８４
に保持された光ファイバ８６と、ホルダ８Ｂに保持され
たＩＴＶカメラ９０が設けられている。そして、ホルダ
８４に保持された光ファイバ８６と、ホルダ８８に保持
されたＩＴＶカメラ９０との相対位置関係は、セットス
テージＡのＩＴＶカメラ８０及び８２との相対位置関係
と同一にされている。

測定ステージＣでは、光源に接続されホルダ８４Ａに保
持された光ファイバ８６Ａと、光検出器に接続されホル
ダ８８Ａに保持された光ファイバ９２とが設けられ、そ
れらの相対位置関係も、セットステージＡのＩＴＶカメ
ラ８０及び８２との相対位置関係と同一にされている。

更に、測定ステージＤには、光源に接続されホルダ８４
Ｂに保持された光ファイバ８６Ｂと、ホルダ８８Ｂに保
持された受光器９８とが設けられ、それらの相対位置関
係も、セットステージＡの■ＴＶカメラ８０及び８２と
の相対位置関係と同一にされている。

被測定光ファイバ２８は、セットステージＡでキャリア
１０の大ローラ３０及び３２に巻かれた上、その両端が
ホルダ２４及び２６にホールドされる。セットステージ
Ａでは、ＩＴＶカメラ８０及び８２を用いて被測定光フ
ァイバ２８の端面状態、あるいはホルダ２４及び２６上
への光ファイバのセット状態がモニタされ、そして、ホ
ルダが被測定光ファイバの光軸に直角な直交２方向に微
調整される。そのあと、キャリア１０は、順次ステージ
Ｂ−Ｃ−Ｄへ送られる。

測定ステージＢにキャリア１０が移動して所定位置に位
置づけられると、ホルダ２４及び２６に保持されている
被測定光ファイバ２８の両端は、ホルダ８４に保持され
た光ファイバ８６と、ホルダ８８に保持されているＩＴ
Ｖカメラ９０とに、僅かな距離で対設し、その光軸もほ
ぼ同心関係にある。この測定ステージＢでは、光ファイ
バの幾何的構造パラメータが測定される。ホルダ８４に
保持され光源（不図示）より光を導く光ファイバ８６は
、被測定光ファイバ２８の一方の端からコア内の照明を
行なう。また、ホルダ８８に保持されているＩＴＶカメ
ラ９０は、光ファイバ２８の他方の端面の、光ファイバ
８６によるコア内の照明と自身からの照射照明により、
いわゆるニア・フィールドパターンを測定する。そして
、そのニア・フィールドパターンから、コア径、クラツ
ド径、非円率、偏心率を求める。

すなわち、光ファイバの幾何的構造パラメータの測定で
は、小曲率半径曲げ付与は必要ない。

次いで、キャリア１０は、ステージＣに送られる。

この測定ステージＣにおいても、ホルダ２４及び２６に
保持されている被測定光ファイバ２８の両端は、ホルダ
８４Ａに保持された光ファイバ８６Ａと、ホルダ８８Ａ
に保持されている光ファイバ９２とに、僅かな距離で対
設し、その光軸もほぼ同心関係にある。

ホルダ８６Ａに保持され光源（不図示）より光を導く光
ファイバ８６Ａにより被測定光ファイバ２８を励振し、
受光器（不図示）につながる光ファイバ９２により光フ
ァイバ２８から出射された光を受光する。

その際、小ローラ３６．３８．４０が小曲率半径の曲げ
付与をしない状態でまず測定し、その後、小ローラ４０
が小ローラ３６及び３８の間に侵入して中心軸が一直線
に並んで小曲率半径の曲げ付与をした状態で測定を実施
する。かくして、両側室の際の光ファイバの波長依存性
の比較によりカットオフ波長の測定が行なわれる。

なお、この測定ステージＣでも後述する測定ステージＤ
でも、第２の曲げ装置をなす小ローラ３６．３８．４０
は、キャリア１００面に対して直角な方向すなわち垂直
方向に上下し且つ小ローラ４０が小口−ラ３６及び３８
の間に侵入するように小ローラ４０がキャリア１０の面
に対して平行で被測定光ファイバに直角な方向に変位可
能になされている。従って、キャリア１０が測定ステー
ジへ送られてくる時は、小ローラ３６．３８．４０は、
上方位置にある。そして、矢印イの方向に移動し順次移
動されるキャリアが正しい位置に来たならば、小ローラ
３６．３８．４０は、間に被測定光ファイバ２８を挟む
ような下方位置に下りてくる。そして、被測定光ファイ
バ２８に小曲率半径の曲げを付与するときは、小ローラ
４０が小ローラ３６及び３８の間に侵入するように小ロ
ーラ４０がキャリア１００面に対して平行で被測定光フ
ァイバに直角な方向に変位する。そして、測定が終了す
ると、小ローラ４０は、挟みこんだ状態からゆっくりと
解放し、そして、小ローラ３６．３８．４０は上方に逃
げるように動作する。

ステージＤでは、スポットサイズの測定を行なう。ホル
ダ８４Ｂに保持されている光ファイバ８６Ｂは、被測定
光ファイバ２８に光源（不図示）より光を導いて被測定
光ファイバのコアを励振する。そして、被測定光ファイ
バ２８の他端からのファーフィールドパターンを、ホル
ダ８８Ｂに保持さて矢印９４の方向に往復し電線９６に
よって測定器（不図示）とつながる受光器９８によって
測定し、光ファイバ２８のスポットサイズを測定する。

この際も、コアを伝搬する光のモードを制限するために
第２の曲げ装置により光ファイバに曲げが加えられる。

この曲げによって被測定光ファイバ中を単一モードで伝
搬する光の出射パターンを観察する時ができる。（尚以
上の測定法については「光通信ハンドブックＪ　１９８
２年９月１日、朝食書店、第４３０頁に「ニアフィール
ドパターンによる光フアイバ端面の寸法測定法」、ある
いは「コアフィールドパターン測定法」が示されている
。

また“ファーフィールドパターンによるスポットサイズ
測定”に関しては［体皮電気Ｊ　１９８３年３月、第１
５３〜１５６頁に示されている。）これらの測定は、ど
れも測定器側光の入出射口と被測定光ファイバ端との位
置合わせを行なうことにより合なわれるが、これらはキ
ャリアの光学的人出射口に対する停止精度、キャリア上
の光ファイバのセツティング精度、光フアイバホルダ２
４及び２６の精度を上げると共に、次のような方法でこ
の位置合わせを自動的かつ高精度に行なえる。

すなわち測定ステージの光学系人出端のホルダ８４〜８
４Ｂ、８８〜８８Ｂを光ファイバ２８の軸に垂直な方向
に変位を加え、受光器が最大の光パワーを受光するよう
に調節することにより行なう。また、ＩＴＶ等の画像観
察装置を用いる場合は、被測定光ファイバの像が撮像面
におさまるように、この像を観察しながら調節する。

本発明によれば、上記のようにキャリア上に大きい曲率
半径を光ファイバに与える第１“の曲げ装置を備え、そ
の上に光ファイバが保持された形で１運の小曲率半径を
与える第２の曲げ装置の作用時を含めた全ての測定動作
が行なわれ、しかも光ファイバにかかる張力が制御され
るので、被測定光ファイバの電送が非常に容易であり、
かつ光ファイバの姿勢を安定に保つことが出来る。

また装置として、張力の制御はキャリア上に設置された
定荷重バネで行なわれるのでキャリア外部から信号や動
力を与える必要がなく、非常に簡易なものとなる。

本発明の装置による実施例では、幾何的構造測定にニア
フィールドパターンによる）、力γトオフ波長（実効カ
ットオフ波長）、スポットサイズ（ファーフィールドパ
ターンによる）を測定する例を示したが、測定項目及び
測定方法は必要に応じて変えることが出来る。このよう
な測定装置においては順次同時にキャリアが動くので各
ステージ上で測定、あるいはセット作業に要する時間が
均等になる程無駄時間が少なくなり能率的となる。

そのために例えば幾何的構造測定の時間が長い場合、そ
のステージを２つにしてコアの測定ステージとクラッド
の測定ステージに分け、所要時間の均等化を図ることも
有効である。いずれにせよ全体の動作として被測定光フ
ァイバ端と光学的入出射端との位置合わせや、曲げによ
る伝搬モードの制限が必要なシングルモード光ファイバ
の測定項目は本装置により行なう事ができるが、測定項
目の詳細な説明は省略する。

なお、上記した実施例において、大きい曲率半径と小さ
い曲率半径は、ＣＣＩＴＴの勧告に従い、１４０ｍｍと
３０ｍｍとしているが、それぞれの値に限定されるもの
ではない。従って、測定の要求に応じて、例えば大きい
曲率半径を１００ｍｍ〜２００ｍｍの範囲から選択し、
また、小さい曲率半径を２５ｍｍ〜５０ｍｍの範囲から
選択してもよい。

発明の効果以上の説明から明らかなように、本発明による単一モー
ド光ファイバの特性測定装置では、被測定光ファイバは
、セットステージにおいてそれぞれ曲げ状態に容易に置
かれ且つ保持されるようにキャリアにセットされ、その
キャリアを順次に測定ステージに移動させるだけで、単
一モード光ファイバの外径、コア径、コア偏心率、非円
率等の構造の幾何学的パラメータ、スポットサイズ、カ
ットオフ波長、比屈折率差などの測定項目を能率的且つ
省人的にすなわち自動的かつ連続的に、高精度に測定す
ることができる。

そして、キャリア上において被測定光ファイバに対して
、幾何的に大きな曲率半径の曲げを与える際は、その曲
率半径をもつ円一周分の曲げを光ファイバに与えること
ができ、小さな曲率半径の曲げを与える際には、その曲
率半径をもつ円一周分以上の曲げを光ファイバに与えて
いる。しかし、それら曲げを与える際に、そして、「光
ファイバに曲げを与えない状態」から「光ファイバに曲
げを与える状態」へ移行するときにも、被測定光ファイ
バに「ひねり」や緩みが生じることがなく、１度のセッ
トにより被測定光ファイバに与えた張力や姿勢が保たれ
たまま測定が行なえる。そのため、測定精度が向上する
と共に作業性が改善される。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による単一モード光ファイバの特性測
定装置に使用されるキャリアの１つの実施例を示す、被
測定光ファイバに大きな曲率半径の曲げが与えられてい
る状態の概略構成図である。第２図は、第１図の単一モード光ファイバの特性測定装
置のキャリアにおいて、被測定光ファイバに小さな曲率
半径の曲げが与えられている状態の概略構成図である。第３図は、小さな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の構成の１例を示す概略図であり、第３図（ａ）
はその小さな曲率半径の曲げを与えていない状態を示し
、第３図（ｂ）はその小さな曲率半径の曲げを与えてい
る状態を示している。第４図は、小さな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の構成の別の１例を示す概略図である。第５図は、大きな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の曲げ付与部材に一定の引張り力を付与する張力
付与装置の構成の１例を示す概略図である。第６図は、本発明による単一モード光ファイバの特性測
定装置に使用されるキャリアの別の実施例を示す、被測
定光ファイバに大きな曲率半径の曲げが与えられている
状態の概略構成図である。第７図は、第６図の単一モード光ファイバの特性測定装
置のキャリアにおいて、被測定光ファイバに小さな曲率
半径の曲げが与えられている状態の概略構成図である。第８図は、本発明による単一モード光ファイバの特性測
定装置の１つの実施例を示す概略構成図である。第９図は、「曲げ法」による単一モード光ファイバのカ
ットオフ波長測定方法の基本構成を示す概略図である。第１０図は、「曲げ法」による単一モード光ファイバの
カットオフ波長測定によって得られる測定データの１例
を示すグラフである。〔主な参照番号〕Ａ・・セットステージ、Ｂ、Ｃ，Ｄ・・測定ステージ、 ■・・被測定光ファイバ、２・・波長可変光源、３・・
光検出器、　　４・・制御／演算装置、５・・マンドレ
ノペ　１０・・キャリア、１２・・波長可変光源、１４Ａ、１４Ｂ・・測定器側光ファイバホルダ、１６Ａ
、１６Ｂ・・測定器側光ファイバ、１８・・光検出器、２４．２６・・被測定光ファイバホルダ、２８・・被測
定光ファイバ、３０．３２．５０・・大ローラ（曲げ付与部材）、３４
・・案内溝、３６．３８．４０．３８Ｂ、４０Ｂ・・小ローラ（曲げ
付与部材）、４２．４４．４６、・・小曲率半径曲げ付与部材、４８
・・三日月状部材、

Claims

【特許請求の範囲】

（１）キャリア上への被測定光ファイバのセットを行な
うセットステージと、光学的測定系入出射端を有し且つ
前記キャリア上の被測定光ファイバの特性測定を行なう
測定ステージとが、キャリアの移動方向に沿って順次設
けられ、前記キャリア上にセットされた被測定光ファイ
バをキャリアごと順次各測定ステージに移動して、測定
ステージにおいて前記光学的測定系入出射端に対し被測
定光ファイバ端を位置決めして所定の特性測定を行なう
単一モード光ファイバの特性測定装置において、前記キ
ャリア上には、被測定光ファイバの各端部を保持するホ
ルダと、被測定光ファイバ中の伝搬モードを制御すべく
、第１の曲率半径の円一周分の曲げを与えように被測定
光ファイバに該第１の曲率半径の円弧上の曲げを与える
第１の光ファイバ曲げ装置とが設けられ、前記第１の曲
率半径より小さい第２の曲率半径の曲げを一周分以上被
測定光ファイバに与える第２の光ファイバ曲げ装置が、
前記キャリア上または特定の測定ステージに設置されて
いることを特徴とする単一モード光ファイバの特性測定
装置。
（２）前記第１の光ファイバ曲げ装置は２つの大曲率半
径曲げ付与部材よりなり、各大曲率半径曲げ付与部材は
被測定光ファイバに対して各々半周分ずつ曲げを与え、
そのうち少なくとも一方の第１の大曲率半径曲げ付与部
材は、２つの大曲率半径曲げ付与部の共通接線方向に滑
動可能になされていることを特徴とする特許請求の範囲
第（１）項記載の単一モード光ファイバの特性測定装置
。
（３）前記第１の光ファイバ曲げ装置の少なくとも前記
第１の大曲率半径曲げ付与部材は、円筒形であり、円筒
の対称軸を回転軸として回転可能となっていることを特
徴とする特許請求の範囲第（２）項記載の単一モード光
ファイバの特性測定装置。
（４）前記大曲率半径曲げ付与部材は、被測定光ファイ
バにＳ字状の曲げを与えるよう、共通接線を１つしか持
たないように配置されていることを特徴とする特許請求
の範囲第（２）項または第（３）項記載の単一モード光
ファイバの特性測定装置。
（５）前記大曲率半径曲げ付与部材は、平行な２本の共
通接線を有し且つそれぞれ前記被測定光ファイバに曲げ
を加え始める点での曲げの接線が共線開係にあるように
配置されて、前記被測定光ファイバにループ状の曲げを
与えるようになされていることを特徴とする特許請求の
範囲第（２）項または第（３）項記載の単一モード光フ
ァイバの特性測定装置。
（６）前記第２の大曲率半径曲げ付与部材は、前記第１
の大曲率半径曲げ付与部材側に凹部が位置するように配
置された三日月状部材であり、該三日月状部材の凹部は
、前記第１の大曲率半径曲げ付与部材の前記曲率半径と
同一の曲率半径の円弧を形成していることを特徴とする
特許請求の範囲第（５）項記載の単一モード光ファイバ
の特性測定装置。
（７）前記第１の光ファイバ曲げ装置の前記第１の大曲
率半径曲げ付与部材は、前記被測定光ファイバに曲げを
与えるに際し、前記接線方向において該第１の大曲率半
径曲げ付与部材の該光ファイバが巻き付けられる側への
向きに該第１の大曲率半径曲げ付与部材に偏移力を作用
させて該光ファイバに対して張力を与える張力付与装置
が設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第（
２）項から第（６）項までのいずれかに記載の単一モー
ド光ファイバの特性測定装置。
（８）前記張力付与装置は、前記第１の光ファイバ曲げ
装置の前記第１の大曲率半径曲げ付与部材に一端が取り
付けられ、該第１の大曲率半径曲げ付与部材の前記被測
定光ファイバが巻き付けられる側から前記接線方向に離
れて位置付けられた回転軸を中心にして回転自在なドラ
ムに他端が取付けられて渦巻き状に巻かれた薄板バネで
構成されており、薄板バネの引き出し量に関係なく一定
の引張り力を光ファイバに与えるようになされているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第（７）項記載の単一モ
ード光ファイバの特性測定装置。
（９）小さな曲率半径の曲げを与える前記第２の光ファ
イバ曲げ装置は、該小さな曲率半径の円弧面を有する少
なくとも３つの小曲率半径曲げ付与部材を有し、それら
小曲率半径曲げ付与部材の内の少なくとも２つの第１の
小曲率半径曲げ付与部材は、前記被測定光ファイバに対
して同じ側においてそれら小曲率半径曲げ付与部材が与
える曲率半径の倍の間隔をもって配置され且つ前記第１
の光ファイバ曲げ装置により前記被測定光ファイバに大
きな曲率半径の曲げが与えられるときに該光ファイバに
対して曲げを与えないように該光ファイバに接するよう
に位置付けられており、前記少なくとも３つの小曲率半
径曲げ付与部材の内の残り第２の小曲率半径曲げ付与部
材は、前記第１の光ファイバ曲げ装置により前記被測定
光ファイバに大きな曲率半径の曲げのみが与えられると
きには、前記光ファイバに対して前記第１の小曲率半径
曲げ付与部材の反対側で該光ファイバに対して曲げを与
えない第１の位置をとり、前記被測定光ファイバに小さ
な曲率半径の曲げが与えられるときには、前記第１の小
曲率半径曲げ付与部材の間に侵入した第２の位置をとり
、該第２の小曲率半径曲げ付与部材が前記第２の位置に
あるとき、前記第１の小曲率半径曲げ付与部材の各々が
前記小さい曲率半径の円の１／４周分の曲げを前記光フ
ァイバに与え、前記第２の小曲率半径曲げ付与部材の各
々が該小さい曲率半径の円のＺ周分の曲げを前記光ファ
イバに与え、前記第２の光ファイバ曲げ装置により前記
光ファイバにかかる最小曲率半径は、上記した小さい曲
率半径に等しいことを特徴とする特許請求の範囲第（１
）項から第（８）項までのいずれかに記載の単一モード
光ファイバの特性測定装置。
（１０）前記第２の光ファイバ曲げ装置の前記第２の小
曲率半径曲げ付与部材は、円筒の対称軸を中心にしてな
めらかに自転可能となっていることを特徴とする特許請
求の範囲第（９）項記載の単一モード光ファイバの特性
測定装置。
（１１）前記測定ステージ中少なくとも１つのステージ
において、光学的測定系入出射端は、光ファイバであり
、被測定光ファイバとの接続を出射端から出射される光
パワーが最大になるよう前記測定系入出射端の位置を微
調整できるホルダに保持されていることを特徴とする特
許請求の範囲第（１）項から第（１０）項までのいずれ
かに記載の単一モード光ファイバの特性測定装置。