JPH0323854B2

JPH0323854B2 -

Info

Publication number: JPH0323854B2
Application number: JP60080003A
Authority: JP
Inventors: Takashi Ide
Original assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date: 1985-04-15
Filing date: 1985-04-15
Publication date: 1991-03-29
Also published as: FI89207C; FI89207B; CA1261166A; US4714343A; FI861566A; NO169256C; AU579293B2; DK166467B1; FI861566A0; EP0198480B1; NO861439L; DK159986A; DE3681191D1; AU5609986A; JPS61239137A; NO169256B; EP0198480A2; DK159986D0; EP0198480A3

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、光フアイバ特性測定装置に関する。
更に詳細には、単一モード光フアイバの外径、コ
ア径、コア偏心率、非円率等の構造パラメータ、
スポツトサイズ、カツトオフ波長、比屈折率差な
ど多項目にわたる測定を自動的かつ連続して測定
するための光フアイバの特性測定装置に関する。

従来の技術単一モード光フアイバの測定項目には、外径、
コア径、コア非円偏心率等の幾何的構造のパラメ
ータ、スポツトサイズ、伝送損失、分散、後方散
乱、カツトオフ波長、比屈折率差等の測定項目が
ある。この内、外径、コア径、コア非円率、偏心
率等の幾何的構造パラメータ、スポツトサイズ、
カツトオフ波長、比屈折率差等の測定項目に関し
ては、測定の性質上光フアイバ全長にわたり光を
透過させて測定を行なうのではなく１〜2m程度
のサンプルを採取し、そのサンプルを光フアイバ
全体（例えば−ボビン）の特性として代表させて
いるのが普通である。

従来、上記した項目の測定ごとに、ITVや光
デイテクタ、あるいは測定器の光源や受光器につ
ながる光フアイバ等の光学的入出射端に対して、
別個の位置で被測定光フアイバ端をセツトし更に
位置決めした後に、測定を行なつていた。そし
て、１つの測定器に対して１人の作業者がついて
測定を行なうのが普通であつた。そのため、測定
項目ごと被測定光フアイバのセツテイングを行な
わなくてはならず手間がかかつた。更に、測定器
が動作して被測定光フアイバの特性測定を行なつ
ている間は、その測定器に対するセツテイング作
業が行なえない。そこで、セツテイング作業と測
定とを交互に行うとしても、１人の作業者が測定
可能な測定項目は２つでしかない。従つて、従来
の単一モード光フアイバの特性測定は、多くの人
と多くの時間がかかり、極めて能率が悪かつた。

発明が解決しようとする問題点上記したように、従来の単一モード光フアイバ
の特性測定は、多大の時間と労力を要していた。
一方、近年、光フアイバの急速な技術進歩によ
り、光フアイバは、大量かつ高品質のものが得ら
れるようになつた。これに伴い製品の検査は、高
精度かつ高能率に行なう要求が高まつている。こ
の中で、(i)カツトオフ波長、(ii)コア径、外径、コ
ア非円率、外径非円率、外径に対するコア偏心率
等の幾何学的寸法、(iii)スポツトサイズ等は最も重
要な光フアイバパラメータであり製品検査に不可
欠である。そして、これらの測定は、上記したよ
うに、2m前後の被測定光フアイバのサンプルを
用いて行なうことができる。

そこで、本発明は、単一モード光フアイバの外
径、コア径、コア偏心率、非円率等の構造の幾何
学的パラメータ、スポツトサイズ、カツトオフ波
長、比屈折率差などの測定項目を能率的且つ省人
的にすなわち自動的かつ連続的に、高精度に測定
することができる光フアイバの特性測定装置を提
供せんとするものである。

問題点を解決するための手段すなわち、本発明によるならば、キヤリア上へ
の被測定光フアイバのセツトを行なうセツトステ
ージと、光学的測定系入出射端を有し且つ前記キ
ヤリア上の被測定光フアイバの特性測定を行なう
測定ステージとが、キヤリアの移動方向に沿つて
順次設けられ、前記キヤリア上にセツトされた被
測定光フアイバをキヤリアごと順次各測定ステー
ジに移動して、測定ステージにおいて前記光学的
測定系入出射端に対し被測定光フアイバ端を位置
決めして所定の特性測定を行なう単一モード光フ
アイバの特性測定装置において、前記キヤリア上
には、被測定光フアイバの各端部を保持するホル
ダと被測定光フアイバ中の伝搬モードを制御すべ
く、第１の曲率半径の円一周分の曲げを被測定光
フアイバに与えように該第１の曲率半径の円弧上
の曲げと与える第１の光フアイバ曲げ装置とが設
けられ、前記第１の曲率半径より小さい第２の曲
率半径の曲げを一周分以上被測定光フアイバに与
える第２の光フアイバ曲げ装置が、前記キヤリア
上または特定の測定ステージに設置される。

作用以上のような本発明による単一モード光フアイ
バの特性測定装置において、まず、セツトステー
ジにおいてキヤリア上に被測定光フアイバをセツ
トする。そして、その被測定光フアイバがセツト
されたキヤリアを測定ステージに送り、その測定
ステージにおいて被測定光フアイバに対して測定
を実施する一方、セツトステージにおいて次のキ
ヤリア上に次の被測定光フアイバをセツトする。
このようにセツトステージでキヤリア上に被測定
光フアイバを１回セツトすれば、後はキヤリアを
順次測定ステージに送るだけで被測定光フアイバ
は順次測定される。

以上のように、本発明による単一モード光フア
イバの特性測定装置においては、被測定光フアイ
バをセツトするステージと測定を行なうステージ
が異なつているので、作業上測定器が測定を行な
つている間にキヤリア上のセツトが出来る。従つ
て、無駄時間が省けると共に一度光フアイバをセ
ツトするだけで多項目の測定が出来るので、一人
の作業者の作業単位時間に対し、測定出来る光フ
アイバ本数及び項目は飛躍的に向上する。

更に、キヤリア上には第１の曲げ装置が配置さ
れ、被測定光フアイバに対して必要な曲率の曲げ
を与える一方、不必要な曲げが生じないようにし
ているので、被測定光フアイバを伝搬するモード
が制御され必要なモードに維持される。従つて、
常に安定した条件において測定をすることができ
る。

実施例以下、添付図面を参照して本発明による単一モ
ード光フアイバの特性測定装置の実施例を説明す
る。

まず、本発明の実施例を説明する前に、本発明
による単一モード光フアイバの特性測定装置にお
ける測定項目の代表的な単一モード光フアイバの
カツトオフ波長測定について説明する。

単一モード光フアイバにとつて、カツトオフ波
長は、２つ以上のモードを伝播させることなくシ
ングルモードで作用する限界波長を示す重要な特
性パラメータであるので、このカツトオフ波長を
精度良く測定することは非常に重要である。その
カツトオフ波長を求めるため従来広く用いられて
いる方法の１つは、「光通信ハンドブツク」1982
年９月１日、朝倉書店、第437頁、図5.4.29に示
されるような「曲げ法」とよばれるもので、その
典型的な測定装置を第９図に示す。第９図に示す
ように、適当な長さの被測定光フアイバ１を波長
可変光源２と光検出器３の間に結合する。波長可
変光源２と光検出器３とは、制御／演算装置４に
接続されている。

まず、第９図に実線で示すように、被測定光フ
アイバ１に曲げを与えない状態で、制御／演算装
置４の制御により波長可変光源２から出射する光
の波長を或る範囲で掃引し、各波長での被測定光
フアイバ１からの出力光パワーP₁（λ）を光検出
器３で検出し、制御／演算装置４に記憶させる。

次に、被測定光フアイバ１と波長可変光源２お
よび光検出器３との結合状態に変化を与えないよ
うにして被測定光フアイバ１を第９図に破線１Ａ
で示すように適当な径のマンドレル５に巻きつけ
る。この状態で再度、制御／演算装置４の制御に
より波長可変光源２から出射する光の波長を同一
の範囲で掃引し、各波長での被測定光フアイバ１
からの出力光パワーP₂（λ）を光検出器３で検出
し、制御／演算装置４に記憶させる。

このようにして記憶させた被測定光フアイバに
曲げを与えない状態および曲げを与えた状態での
光出力の比、例えばＲ（λ）＝10log（P₁（λ）／P₂（λ）） ……(1) を制御／演算装置４により演算し、第１０図に示
すように曲げ損失の波長依存性すなわち波長特性
を示すグラフを作成する。この波長特性からカツ
トオフ波長は、曲げ損失の立上り点として求める
ことができる。

しかしながら、上記「曲げ法」による従来の単
一モード光フアイバのカツトオフ波長測定は、測
定精度の確保および測定の作業性の点で下記のよ
うな問題があつた。すなわち、カツトオフ波長の
測定精度は、被測定光フアイバに曲げを与える際
の両端の結合状態の変化に影響を受けやすいの
で、両端の結合状態に変化を与えないよう注意を
必要としていた。なぜならば、結合状態が変化す
れば、被測定光フアイバの波長依存性と関係な
く、光検出器に入力される光量が変化するからで
ある。

上記「曲げ法」にあつて、被測定光フアイバの
両端を固定して「光フアイバに曲げを与えない状
態」から、「光フアイバに曲げを与える状態」に
置くべく、被測定光フアイバをマンドレルに巻き
つけると、被測定光フアイバには、その中心軸を
中心とした回転すなわち「ひねり」が必然的に生
じてしまう。一般に被覆された光フアイバはひね
りに対して強い復元力を持つので、そのひねりは
被測定光フアイバの両端の結合状態に変化を与
え、測定精度が悪化した。

更に、被覆された光フアイバは曲げに対しても
復元力を持つので、単にマンドレルに巻いただけ
では姿勢が不安定なため、被測定光フアイバを例
えば粘着テープで止める等の固定処理が必要とさ
れ、作業性が悪かつた。

また、上記した方法において、「光フアイバに
曲げを与えない状態」の再現性及び安定性が悪い
ために、その測定の信頼性に問題があつた。その
第１の理由は、従来、「光フアイバに曲げを与え
ない状態」の定義が不明確であつたために、測定
団体更には測定者に光フアイバをどのような状態
に置くかの判断に委ねられていたので、測定団体
または測定者ごとに、更には、測定ごとに、「光
フアイバに曲げを与えない状態」が異なつていた
ことである。その第２の理由は、第９図のような
被測定光フアイバを垂らした状態では、フアイバ
の状態が少し変化するだけで測定値が大幅に変化
するためである。

そこで、CCITT（国際電信電話諮問委員会）
は、1984年５月の「勧告ジ−652単一モード光フ
アイバケーブルの特性の改定版」（Revised
Version of RecommendationG652
Characteristics of Ａ Single Mode Fiber
Cable）第15〜18頁において、被測定光フアイバ
に対し大きい曲率半径140mmの曲げを与えた状態
を「光フアイバに曲げを与えない状態」に代え、
小さい曲率半径30mmの曲げを与えた状態を従来法
で言う「光フアイバに曲げを与えた状態」に代
え、この２つの状態における波長依存性の比較を
従来法と同様の方法で行ない、カツトオフ波長を
求めることを勧告している。更に、曲率半径の大
きい曲げを与える際には、その曲率半径よりも小
さい曲率半径の曲げを被測定光フアイバには決し
て与えず、しかも曲げが与えられる部分は、丁度
上記した大きい曲率半径をもつ円一周分であり、
また、曲率半径の小さい曲げを与える際には、そ
の小さい曲率半径よりも小さい曲率半径の曲げを
被測定光フアイバに決して与えず、しかも曲げが
与えられる部分はその小さい曲率半径をもつ円一
周分以上であることが必要かつ充分な測定条件と
している。

ここで、この曲げは、シングルモード光フアイ
バ中を伝搬するモードの制御のため与えられ、曲
率半径30mmの曲げは、光フアイバ中を伝搬するモ
ードをその最低次モードであるLP₀₁モードのみ
に制限するために与えられる。

以上、カツトオフ波長について述べたが、例え
ばスポツトサイズの測定においても、単一モード
のスポツトサイズを測定するためには上記のよう
な曲げを被測定光フアイバに与える必要がある。

しかしながら、CCITTが勧告した方法におい
ても、両端を固定された被測定光フアイバを所定
の半径の円に沿つて１回巻く必要があるために、
被測定光フアイバのひねりの問題と光フアイバの
復元力の問題は解決していない。すなわち、被測
定光フアイバに加えられたひねりにより、被測定
光フアイバの両端の結合状態が変化し、また、被
覆された光フアイバの曲げに対する復元力のため
に、単にマンドレルに巻いただけでは姿勢が不安
定となるので、被測定光フアイバを例えば粘着テ
ープで止める等の固定が必要とされる。この固定
作業は、280mmという大きな径のマンドレルに光
フアイバをずり落ちないように巻きつけるという
手間がかかり、その上、テープの粘着により測定
に対し悪影響を与えるマイクロベンド等の曲げが
発生しやすく測定精度の確保を難しくしてしま
う。

そこで、本発明による単一モード光フアイバの
特性測定装置においては、測定の際、被測定フア
イバに対しひねりを与えることなく、かつ安定し
た姿勢で曲げを与えることができ、しかも、被測
定光フアイバの保持及び曲げを簡単に行なうこと
もでき、これにより測定精度の確保と共に測定の
作業性が向上かつ省力化されるような工夫を施し
ている。

そこで、被測定フアイバに対しひねりを与える
ことなく、かつ安定した姿勢で曲げを与えること
ができ、しかも、被測定光フアイバの保持及び曲
げを簡単に行なうこともできる曲げ装置をキヤリ
ア上に備えている。

第１図及び第２図は、本発明による単一モード
光フアイバの特性測定装置に使用されるキヤリア
の概略構成図であり、第１図は、キヤリアにセツ
トされた被測定光フアイバに大きな曲率半径の曲
げを与えている状態を示し、第２図は、キヤリア
にセツトされた被測定光フアイバに小さな曲率半
径の曲げを与えている状態を示している。

第１図及び第２図を参照するならば、キヤリア
１０の対向辺近くに互いに対角関係に被測定光フ
アイバホルダ２４及び２６が配置されるようにな
されている。これらホルダ２４及び２６は、被測
定光フアイバ２８に或る程度の引張り力が作用し
てもホルダから抜け落ちない程度の力で被測定光
フアイバ２８を保持するようになされている。ま
た、これらホルダ２４及び２６は、被測定光フア
イバ２８の光軸に直角で互いに直交するｘ方向及
びｙ方向に、更には、被測定光フアイバ２８の光
軸の同一のｚ方向に位置の微調整できるようにな
されている。この被測定光フアイバホルダとして
は、昭和59年特許願第223011号や昭和59年特許願
第240986号に開示されるようなホルダや調心装置
が使用できる。

被測定光フアイバホルダ２４及び２６に両端が
保持される被測定光フアイバ２８に、大きな曲率
半径の曲げを与える第１の光フアイバ曲げ装置
と、小さな曲率半径の曲げを与える第２の光フア
イバ曲げ装置とが、被測定光フアイバホルダ２４
と２６との間に配置されている。

被測定光フアイバ２８に大きな曲率半径の曲げ
を与える第１の光フアイバ曲げ装置は、例えば直
径280mmの円筒状の大曲率半径曲げ付与部材すな
わち大ローラ３０及び３２を有している。これら
大ローラ３０及び３２は、被測定光フアイバホル
ダ２４及び２６に保持されている被測定光フアイ
バの部分の延長線上に周面が接するするように配
置され、それにより、被測定光フアイバ２８の被
測定光フアイバホルダ２４及び２６に保持されて
いる部分と、被測定光フアイバの大ローラ３０及
び３２とホルダ２４及び２６との間にそれぞれ位
置する部分２８Ａ及び２８Ｂとの境で被測定光フ
アイバが曲がらないようにしている。

更に、大ローラ３０及び３２は、被測定光フア
イバ２８の部分２８Ａ及び２８Ｂが平行関係にあ
り、且つ、大ローラ３０及び３２との間に位置す
る被測定光フアイバ２８の部分２８Ｃが、すなわ
ち、大ローラ３０及び３２に共通する接線が、上
記した被測定光フアイバ２８の部分２８Ａ及び２
８Ｂと平行にあるように位置付けられている。

そして、大ローラ３０及び３２の一方、例え
ば、大ローラ３０は、位置が移動しないように固
定保持されている。他方、例えば、大ローラ３２
は、その中心軸３２Ａが、被測定光フアイバ２８
のホルダ２６に保持されている部分の上記した延
長線の方向、すなわち、大ローラ３２により被測
定光フアイバ２８が曲げられ始める点Ｐでの接線
方向に、平行に延在するようにキヤリア１０に設
けられた案内溝３４に嵌合支持され、その案内溝
３４に沿つて摺動可能になされている。

なお、大ローラ３２の軸３２Ａと案内溝３４と
の摺動の際の摩擦抵抗は、測定者には自由に大ロ
ーラ３２を摺動させることができる反面、被測定
光フアイバの弾力の力では大ローラ３２が摺動し
ない程度になされている。従つて、大ローラ３２
が矢印Ａの方向に移動しても、被測定光フアイバ
２８を緊張状態に保つ限り、被測定光フアイバ２
８の部分２８Ａ，２８Ｂ及び２８Ｃの直線性及び
相互の平行関係は維持され、それら部分に曲がり
が発生することはない。

被測定光フアイバ２８に対して小さな曲率半径
の曲げを与える第２の光フアイバ曲げ装置は、被
測定光フアイバホルダ２４と大ローラ３０との間
に配置された、例えば直径60mmの円筒状の小曲率
半径曲げ付与部材すなわち小ローラ３６，３８及
び４０を有している。

各小ローラ３６，３８及び４０は全て、被測定
光フアイバに付与したい曲げの曲率半径の円の外
周を有している。小ローラ３６及び３８は、被測
定光フアイバ２８の一方の側で、小ローラ４０の
直径と等しい間隔Ｄ互いに離隔されて配置され
て、被測定光フアイバ２８に曲げを与えないよう
に接している。

残りの小ローラ４０は、被測定光フアイバ２８
に対して小ローラ３６及び３８と反対側に配置さ
れている。そして、その小ローラ４０は、小さい
曲率半径の曲げを被測定光フアイバ２８に与える
ときは、第２図に示すように、３つの小ローラの
中心が一直線に並ぶ位置あるいはその点よりも奥
まで、被測定光フアイバ２８を押して小ローラ３
６及び３８の間に侵入するようになされている。

かくして、小ローラ３６，３８及び４０は、第
１図の位置にあるとき、被測定光フアイバ２８に
は、小さい曲率半径の曲げは付与されず、第２図
にあるとき、被測定光フアイバ２８に小さい曲率
半径の曲げが付与され、その曲げは、小ローラ４
０の１周分に相当する。

以上のようなキヤリアには、セツトステージに
おいて、被測定光フアイバがセツトされ、そし
て、キヤリアが後述する測定ステージのカツトオ
フ波長測定ステージに位置したとき測定がなされ
る。

セツトステージで被測定光フアイバをセツトす
るときは、小ローラ４０を第１図に示すような第
１の位置に置き、更に、移動可能な大ローラ３２
を第１図において点線で示すように右の方へ移動
させて置く。その状態で、所定の長さ例えば2m
の被測定光フアイバ２８を大ローラ３０及び３２
の回りに巻き付け、その両端をそれぞれホルダ２
４および２６にセツトし、次いで、大ローラ３２
を第１図において左の方へ移動させて、過大な引
張り力が作用しない程度の緊張状態に被測定光フ
アイバ２８を置く。

その結果、被測定光フアイバ２８の部分２８
Ａ，２８Ｂ及び２８Ｃは、直線状になり且つ互い
に平行関係となるので、被測定光フアイバ２８に
は、大ローラ３０及び３２によりそれぞれの外周
円の半分の円の曲げが付与され、合計で大ローラ
の外周円１つ分の曲げが被測定光フアイバ２８に
付与される。以上の操作において、被測定光フア
イバ２８はＳ字状に曲げられるので、「ひねり」
がかかることはない。従つて、「ひねり」によつ
てホルダ２４および２６による被測定光フアイバ
２８の保持状態が変化することはない。

この状態において、セツトステージに設けられ
た光源すなわち第１図において点線で描いた光源
１２から特定の波長の光は、測定器側光フアイバ
ホルダ１４Ａに保持された測定器側光フアイバ１
６Ａを介して、被測定光フアイバ２８の一方の端
部に入力する。そして、その被測定光フアイバ２
８の他方の端部から出射される光は、測定器側光
フアイバホルダ１４Ｂに保持された測定器側光フ
アイバ１６Ｂを介して、セツトステージに設けら
れた光検出器１８により検出させる。そして、光
検出器１８の出力が最大になるように、ホルダ２
４及び２６をそれぞれｘ、ｙ、ｚ方向に微調整す
る。その結果、セツトステージの光源１２及び光
検出器１８と、被測定光フアイバ２８の端部との
間隔が、数μm〜数10μmの間隔に調整され、且
つ、セツトステージの光源１２及び光検出器１８
の光軸と、被測定光フアイバ２８の光軸が一致さ
せられる。

このようにして被測定光フアイバがセツトされ
たキヤリアを、カツトオフ波長測定ステージに移
動させる。その測定ステージにおいて、光源に接
続された測定器側光フアイバと、光検出器に接続
された測定器側光フアイバとの相対位置は、セツ
トステージのそれらの相対位置と全く同一にされ
ている。従つて、その被測定光フアイバの両端
は、カツトオフ波長測定ステージの光源及び光検
出器と光軸が一致する。この状態（第１図）にお
いて、カツトオフ波長測定ステージの制御／演算
装置の制御の下に、光源から光を所定の波長範囲
にわたつて掃引させ、被測定光フアイバ２８を伝
送され且つ光検出器により検出された各波長での
光パワーP₁（λ）を制御／演算装置に記憶させ
る。

そのようにして、大きい曲率半径の曲げを与え
たときの光出力の測定が終了する。

次に、被測定光フアイバ２８に緩みが生じない
ように、大ローラ３４を第１図において右の方へ
移動させつつ、小ローラ４０を第２図に示すよう
に小ローラ３６及び３８の間に侵入させる。その
結果、大ローラ３０及び３２によつて被測定光フ
アイバ２８に付与される曲げは、大ローラの円周
より短くなるが、小ローラ３６，３８及び４０に
よつて与えられる被測定光フアイバの曲げの長さ
の合計が小ローラの周長に等しくなる。

この状態（第２図）において、カツトオフ波長
測定ステージの制御／演算装置の制御の下に、カ
ツトオフ波長測定ステージの光源から光を同一の
波長範囲にわたつて掃引させ、被測定光フアイバ
２８を伝送され且つカツトオフ波長測定ステージ
の光検出器により検出された各波長での光パワー
P₂（λ）を制御／演算装置に記憶させる。

このように、２種類の状態での被測定光フアイ
バ２８を伝播した光の出力の波長特性が測定され
る。そして、上記した式(1)によりＲ（λ）が演算
され、該被測定フアイバのカツトオフ波長が測定
される。

以上の実施例において、大ローラ３０及び３２
並びに小ローラ３６及び３８は、それぞれの中心
軸を中心にして回転しないようになされている。
このような大ローラ及び小ローラが自転しない
と、小ローラ３８を第１図に示す位置から第２図
に示す位置に移動させるときなど、被測定光フア
イバ２８がそれらローラの周面に沿つて移動する
場合、被測定光フアイバ２８がローラの周面に対
して擦られる。そのため、被測定光フアイバがナ
イロンなどで２次被覆を施された心線の場合は、
ローラ周面の材質、形状、表面処理を適当なもの
として摩擦抵抗を小さくでき、被測定光フアイバ
に対して無用なストレスは小さくできる。しか
し、被測定光フアイバがシリコン樹脂などで１次
被覆を施されただけの素線の場合は、摩擦抵抗が
大きいために、被測定光フアイバに対して相当な
ストレスが作用し、伝送特性を変化させてしまう
恐れがある。

そこで、大ローラ３０及び３２並びに小ローラ
３６及び３８を、それぞれその中心軸を中心に自
由に自転できるように構成する。このように大ロ
ーラ及び小ローラを構成するならば、小ローラ３
８を第１図に示す位置から第２図に示す位置に移
動させるときなどのように被測定光フアイバ２８
がそれらローラの周面に沿つて移動しようとする
場合、被測定光フアイバが接触しているローラが
その被測定光フアイバの移動と共に回転して、被
測定光フアイバ２８がローラの周面に対して擦ら
れることはない。それ故、被測定光フアイバが素
線であつても、被測定光フアイバに対して無用な
ストレスが作用して伝送特性が変化してしまう恐
れはなくなる。従つて、被測定光フアイバが素線
の場合であつても、十分に正確なカツトオフ波長
の測定ができる。

なお、小曲率半径の曲げを付与する装置は、小
ローラ３６，３８及び４０の組合せだけでなく、
第３図に示すように、被測定光フアイバに付与し
たい曲げの曲率半径の円の外周に合計が等しい断
面円弧の３つの小曲率半径曲げ付与部材４２，４
４，４６から構成することもできる。小曲率半径
曲げ付与部材４２及び４４は、断面1/4円の湾曲
面をそれぞれ有し、その湾曲面が互いに向き且つ
被測定光フアイバ２８にも向くようにして被測定
光フアイバ２８の一方の側に配置されている。そ
して、それら小曲率半径曲げ付与部材４２及び４
４の湾曲面の被測定光フアイバ側の角は、被測定
光フアイバ２８に曲げを与えないように接してお
り、また、小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４
の間隔Ｄは、上記した曲率半径の２倍になつてい
る。

残りの小曲率半径曲げ付与部材４６は、断面1/
２円の湾曲面を有し、その湾曲面が被測定光フア
イバ２８に面するように、被測定光フアイバ２８
に対して小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４と
反対側に配置されている。そして、その小曲率半
径曲げ付与部材４６は、小さい曲率半径の曲げを
被測定光フアイバ２８に与えるときは、第３図ｂ
に示すように、それぞれの円弧の曲率中心が一直
線に並ぶ位置あるいはその点よりも奥まで、被測
定光フアイバ２８を押して小曲率半径曲げ付与部
材４２及び４４の間に侵入するようになされてい
る。

かくして、小曲率半径曲げ付与部材４２，４
４，４６が第３図ａの位置にあるとき、被測定光
フアイバ２８には、小さい曲率半径の曲げは付与
されず、第３図ｂにあるとき、被測定光フアイバ
２８に小さい曲率半径の曲げが付与される。その
ときの曲げは、小曲率半径曲げ付与部材４６の侵
入移動量を適当にとることにより、小曲率半径曲
げ付与部材４２及び４４がそれぞれ上記した曲率
半径の円の1/4周分の曲げを与え、小曲率半径曲
げ付与部材４６が同一の円の1/2周分の曲げを被
測定光フアイバに与えることができる。

しかし、第３図の構成では、小曲率半径曲げ付
与部材４２，４４，４６はその曲げ付与面の向き
を一定に維持するように自転しないようにしなけ
ればならない。そのため、小曲率半径曲げ付与部
材４６が小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４の
間に侵入するとき、被測定光フアイバがそれらの
表面で擦られる問題がある。

また、第４図に示すように、小ローラ３６，３
８，４０に加えて、小ローラ３８Ｂと４０Ｂを設
けてもよい。このように構成して、第４図に点線
で示すように小ローラ３６，３８，４０，３８
Ｂ，４０Ｂの中心軸が一直線に並ぶ位置あるいは
その点より奥まで小ローラ４０及び４０Ｂを小ロ
ーラ３６，３８及び３８Ｂの間に侵入すると、被
測定光フアイバ２８に対して、小ローラの円周の
２倍の曲げを付与することができる。

上記した本発明による単一モード光フアイバの
特性測定装置のキヤリアの実施例においては、被
測定光フアイバ２８を緊張状態の調整及び維持
は、測定者が大ローラ３２をガイド３４に沿つて
摺動させることによつてなされている。しかし、
そのような操作をすること自体が煩雑である。ま
た、被測定光フアイバに与える緊張状態の程度す
なわち被測定光フアイバに作用させる引張り力
は、測定者の感覚に委ねられる結果となるので、
測定ごと異なることが避けられない。更に、その
引張り力は、被測定光フアイバが曲げ付与部材の
周囲で緩まない程度且つ被測定光フアイバの伝送
特性に影響を与えるほどのストレスが被測定光フ
アイバに作用しない程度に微妙に調整しなければ
ならないため、被測定光フアイバに作用させる引
張り力の調整が面倒である。なぜならば、引張り
力がが大きいと、光フアイバにいわゆる側圧等の
強い力が加わり、被測定光フアイバの伝送特性を
変化させてしまうと共に、被測定光フアイバホル
ダでの光フアイバの位置決めを狂わせたりする。

更に、上記したように光フアイバは曲げに対し
て復元力をもつので、被測定光フアイバを第１図
に示すようなキヤリアにセツトする際、ただ単に
曲げ付与部材に被測定光フアイバを当てるだけで
曲げを加えたのでは、その部分から滑つてしま
う。そのため、被測定光フアイバを第１図の大ロ
ーラの周囲に巻き付けて大ローラ３２を摺動させ
被測定光フアイバを緊張状態に置く操作も要領良
く実施する必要がある。

以上のような問題を解消する１つの手段とし
て、大ローラ３２のような大曲率半径曲げ付与部
材の移動可能方向で且つ被測定光フアイバに引張
り力を作用させる方向に、一定の引張り力を常時
作用させることが考えられる。

第５図は、極めて簡単な構造により一定の張力
を付与することができる張力付与装置を示すもの
である。

すなわち、第５図の張力付与装置は、一端が例
えば第１図の大ローラ３２の回転軸３２Ａに枢着
され、他端がドラム６８に固定されて密着渦巻き
状にきつく巻かれた薄板バネ７０で構成され、そ
のドラム６８は、固定点に回転可能に保持されて
いる。

このバネは、いわゆる「定荷重バネ」として一
般に知られているものである。簡単に説明する
と、薄板バネ７０に矢印７２の方向に引張り力を
加え引き出すと、ドラム６８は回転し、矢印７４
の方向に引張り力を生ずる。ドラム６８の回転を
自由にしておくと、ドラムは矢印７６の方向に回
転しようとして、常に矢印７４の方向に、薄板バ
ネ７０の引出し量に関係なく一定な張力が生ず
る。このように張力が一定になるのは、薄板バネ
に沿つた力は薄板バネが変形する部分７８でのみ
で生ずるからである。

また、上記したキヤリアの実施例においては、
第１の曲げ装置は２つの回転可能な円筒形の曲げ
部材を用いている。しかし、大きな曲率半径の曲
げを与える装置は、そのような構成に限らない。
例えば、第６図及び第７図に示したように、被測
定光フアイバ２８に大きな曲率半径の曲げを与え
る第１の光フアイバ曲げ装置を構成する一対の大
曲率半径曲げ付与部材の一方を、三日月状部材４
８とし、他方の大曲率半径曲げ付与部材を大ロー
ラ５０で構成する。そして、三日月状部材４８及
び大ローラ５０は、２つの互いに平行な共通接線
を有し、且つ、被測定光フアイバホルダ２４及び
２６に保持されている被測定光フアイバの部分の
延長線上に一方の共通接線が位置するように配置
されている。従つて、被測定光フアイバ２８の被
測定光フアイバホルダ２４及び２６に保持されて
いる部分と、被測定光フアイバの三日月状部材４
８及び大ローラ５０とホルダ２４及び２６との間
にそれぞれ位置する部分２８Ａ及び２８Ｂとの境
で被測定光フアイバが曲がらないようにしてい
る。また、被測定光フアイバの部分２８Ａ及び２
８Ｂと、三日月状部材４８と大ローラ５０との間
の一方の共通接線部分２８Ｃとは、一直線に位置
している。

更に、大曲率半径曲げ付与部材の一方、すなわ
ち、三日月状部材４８は、位置が移動しないよう
に固定保持されている。第１図及び第２図の実施
例と同様に、他方の大曲率半径曲げ付与部材、す
なわち、大ローラ５０は、被測定光フアイバの部
分２８Ａ，２８Ｂ，２８Ｃと平行な方向３４Ａ，
３４Ｂに移動可能になされ、且つ、回転可能にな
されている。図示していないが、更に、大ローラ
５０は、三日月状部材４８から離れる方向５０Ａ
に一定の張力を付与する第５図に示すような張力
付与装置が設けられている。

以上のような大曲率半径曲げ付与部材の構成の
場合、小ローラ３６，３８及び４０は、三日月状
部材４８の外周沿いに設けれることが好ましい。
なぜならば、小ローラにより小曲率半径の曲げを
加えた際にも、三日月状部材４８は固定したまま
で、大ローラ５０は、光フアイバを繰り出すよう
に回転しながら滑動するので、なめらかな動作が
第１図及び第２図の実施例に示した場合と同様に
得られると共に、非常にコンパクトな形状とな
り、この曲げ装置を設置するキヤリアの小型化が
出来る。

上記したキヤリアの実施例では小曲率半径曲げ
付与部材をキヤリア側に設けた。しかし、小曲率
半径曲げ付与部材は、全ての項目の測定に必要で
はない。そこで、小曲率半径曲げ付与部材の動作
が必要な項目の測定を実施する測定ステージに設
けるようにしてもよい。

第８図は、小曲率半径曲げ付与部材の動作が必
要な項目の測定を実施する測定ステージのみに小
曲率半径曲げ付与部材を配置した、本発明による
単一モード光フアイバの特性測定装置の実施例の
平面図を示す。

図示の単一モード光フアイバの特性測定装置
は、光フアイバのセツトステージＡと、３つの測
定ステージＢ，Ｃ，Ｄとを有している。本発明に
よる測定装置では、このような複数のステージＡ
〜Ｄに沿つて上記したキヤリア１０が矢印イのよ
うに移動、循環する。図示のキヤリア１０は、大
曲率半径曲げ付与部材をなす大ローラを有してい
るが、小曲率半径曲げ付与部材は有していない。
その代わり、測定ステージＣ及びＤに、小曲率半
径曲げ付与部材をなす小ローラ３６，３８及び４
０が配置されている。

なお、セツトステージＡには、ホルダ２４及び
２６に保持されている被測定光フアイバの光軸調
整機構として第１図に示した光源と光検出器との
組合せを設けることもできるが、第８図の実施例
では、ホルダ２４及び２６を写すITVカメラ８
０及び８２が設けられている。

また、測定ステージＢには、光源に接続されホ
ルダ８４に保持された光フアイバ８６と、ホルダ
８８に保持されたITVカメラ９０が設けられて
いる。そして、ホルダ８４に保持された光フアイ
バ８６と、ホルダ８８に保持されたITVカメラ
９０との相対位置関係は、セツトステージＡの
ITVカメラ８０及び８２との相対位置関係と同
一にされている。

測定ステージＣでは、光源に接続されホルダ８
４Ａに保持された光フアイバ８６Ａと、光検出器
に接続されホルダ８８Ａに保持された光フアイバ
９２とが設けられ、それらの相対位置関係も、セ
ツトステージＡのITVカメラ８０及び８２との
相対位置関係と同一にされている。

更に、測定ステージＤには、光源に接続されホ
ルダ８４Ｂに保持された光フアイバ８６Ｂと、ホ
ルダ８８Ｂに保持された受光器９８とが設けら
れ、それらの相対位置関係も、セツトステージＡ
のITVカメラ８０及び８２との相対位置関係と
同一にされている。

被測定光フアイバ２８は、セツトステージＡで
キヤリア１０の大ローラ３０及び３２に巻かれた
上、その両端がホルダ２４及び２６にホールドさ
れる。セツトステージＡでは、ITVカメラ８０
及び８２を用いて被測定光フアイバ２８の端面状
態、あるいはホルダ２４及び２６上への光フアイ
バのセツト状態がモニタされ、そして、ホルダが
被測定光フアイバの光軸に直角な直交２方向に微
調整される。そのあと、キヤリア１０は、順次ス
テージＢ→Ｃ→Ｄへ送られる。

測定ステージＢにキヤリア１０が移動して所定
位置に位置づけられると、ホルダ２４及び２６に
保持されている被測定光フアイバ２８の両端は、
ホルダ８４に保持された光フアイバ８６と、ホル
ダ８８に保持されているITVカメラ９０とに、
僅かな距離で対設し、その光軸もほぼ同心関係に
ある。この測定ステージＢでは、光フアイバの幾
何的構造パラメータが測定される。ホルダ８４に
保持され光源（不図示）より光を導く光フアイバ
８６は、被測定光フアイバ２８の一方の端からコ
ア内の照明を行なう。また、ホルダ８８に保持さ
れているITVカメラ９０は、光フアイバ２８の
他方の端面の、光フアイバ８６によるコア内の照
明と自身からの照射照明により、いわゆるニア・
フイールドパターンを測定する。そして、そのニ
ア・フイールドパターンから、コア径、クラツド
径、非円率、偏心率を求める。

すなわち、光フアイバの幾何的構造パラメータ
の測定では、小曲率半径曲げ付与は必要ない。

次いで、キヤリア１０は、ステージＣに送られ
る。この測定ステージＣにおいても、ホルダ２４
及び２６に保持されている被測定光フアイバ２８
の両端は、ホルダ８４Ａに保持された光フアイバ
８６Ａと、ホルダ８８Ａに保持されている光フア
イバ９２とに、僅かな距離で対設し、その光軸も
ほぼ同心関係にある。ホルダ８６Ａに保持され光
源（不図示）より光を導く光フアイバ８６Ａによ
り被測定光フアイバ２８を励振し、受光器（不図
示）につながる光フアイバ９２により光フアイバ
２８から出射された光を受光する。その際、小ロ
ーラ３６，３８，４０が小曲率半径の曲げ付与を
しない状態でまず測定し、その後、小ローラ４０
が小ローラ３６及び３８の間に侵入して中心軸が
一直線に並んで小曲率半径の曲げ付与をした状態
で測定を実施する。かくして、両測定の際の光フ
アイバの波長依存性の比較によりカツトオフ波長
の測定が行なわれる。

なお、この測定ステージＣでも後述する測定ス
テージＤでも、第２の曲げ装置をなす小ローラ３
６，３８，４０は、キヤリア１０の面に対して直
角な方向すなわち垂直方向に上下し且つ小ローラ
４０が小ローラ３６及び３８の間に侵入するよう
に小ローラ４０がキヤリア１０の面に対して平行
で被測定光フアイバに直角な方向に変位可能にな
されている。従つて、キヤリア１０が測定ステー
ジへ送られてくる時は、小ローラ３６，３８，４
０は、上方位置にある。そして、矢印イの方向に
移動し順次移動されるキヤリアが正しい位置に来
たならば、小ローラ３６，３８，４０は、間に被
測定光フアイバ２８を挟むような下方位置に下り
てくる。そして、被測定光フアイバ２８に小曲率
半径の曲げを付与するときは、小ローラ４０が小
ローラ３６及び３８の間に侵入するように小ロー
ラ４０がキヤリア１０の面に対して平行で被測定
光フアイバに直角な方向に変位する。そして、測
定が終了すると、小ローラ４０は、挟みこんだ状
態からゆつくりと解放し、そして、小ローラ３
６，３８，４０は上方へ逃げるように動作する。

ステージＤでは、スポツトサイズの測定を行な
う。ホルダ８４Ｂに保持されている光フアイバ８
６Ｂは、被測定光フアイバ２８に光源（不図示）
より光を導いて被測定光フアイバのコアを励振す
る。そして、被測定光フアイバ２８の他端からフ
アーフイールドパターンを、ホルダ８８Ｂに保持
されて矢印９４の方向に往復し電線９６によつて
測定器（不図示）とつながる受光器９８によつて
測定し、光フアイバ２８のスポツトサイズを測定
する。

この際も、コアを伝搬する光のモードを制限す
るために第２の曲げ装置により光フアイバに曲げ
が加えられる。この曲げによつて被測定光フアイ
バ中を単一モードで伝搬する光の出射パターンを
観察する時ができる。（尚以上の測定法について
は「光通信ハンドブツク」1982年９月１日、朝倉
書店、第430頁に〓ニアフイールドパターンによ
る光フアイバ端面の寸法測定法〓、あるいは〓フ
アフイールドパターン測定法〓が示されている。
また“フアーフイールドパターンによるスポツト
サイズ測定”に関しては「住友電気」1983年３
月、第153〜156頁に示されている。）これらの測定は、どれも測定器側光の入出射口
と被測定光フアイバ端との位置合わせを行なうこ
とにより合なわれるが、これらはキヤリアの光学
的入出射口に対する停止精度、キヤリア上の光フ
アイバのセツテイング精度、光フアイバホルダ２
４及び２６の精度を上げると共に、次のような方
法でこの位置合わせを自動的かつ高精度に行なえ
る。すなわち測定ステージの光学的入出射端のホ
ルダ８４〜８４Ｂ、８８〜８８Ｂを光フアイバ２
８の軸に垂直な方向に変位を加え、受光器が最大
の光パワーを受光するように調節することにより
行なう。また、ITV等の画像観察装置を用いる
場合は、被測定光フアイバの像が撮像面におさま
るように、この像を観察しながら調節する。

本発明によれば、上記のようにキヤリア上に大
きい曲率半径を光フアイバに与える第１の曲げ装
置を備え、その上に光フアイバが保持された形で
１連の小曲率半径を与える第２の曲げ装置の作用
時を含めた全ての測定動作が行なわれ、しかも光
フアイバにかかる張力が制御されるので、被測定
光フアイバの搬送が非常に容易であり、かつ光フ
アイバの姿勢を安定に保つことが出来る。

また装置として、張力の制御はキヤリア上に設
置された定荷重バネで行なわれるのでキヤリア外
部から信号や動力を与える必要がなく、非常に簡
易なものとなる。

本発明の装置による実施例では、幾何的構造測
定（ニアフイールドパターン）による、カツトオ
フ波長（実効カツトオフ波長）、スポツトサイズ
（フアーフイールドパターンによる）を測定する
例を示したが、測定項目及び測定方法は必要に応
じて変えることが出来る。このような測定装置に
おいては順次同時にキヤリアが動くので各ステー
ジ上で測定、あるいはセツト作業に要する時間が
均等になる程無駄時間が少なくなり能率的とな
る。そのために例えば幾何的構造測定の時間が長
い場合、そのステージを２つにしてコアの測定ス
テージとクラツドの測定ステージに分け、所要時
間の均等化を図ることも有効である。いずれにせ
よ全体の動作として被測定光フアイバ端と光学的
入出射端との位置合わせや、曲げによる伝搬モー
ドの制限が必要なシングルモード光フアイバの測
定項目は本装置により行なう事ができるが、測定
項目の詳細な説明は省略する。

なお、上記した実施例において、大きい曲率半
径と小さい曲率半径は、CC1TTの勧告に従い、
140mmと30mmとしていが、それぞれの値に限定さ
れるものではない。従つて、測定の要求に応じ
て、例えば大きい曲率半径を100mm〜200mmの範囲
から選択し、また、小さい曲率半径を25mm〜50mm
の範囲から選択してもよい。

発明の効果以上の説明から明らかなように、本発明による
単一モード光フアイバの特性測定装置では、被測
定光フアイバは、セツトステージにおいてそれぞ
れ曲げ状態に容易に置かれ且つ保持されるように
キヤリアにセツトされ、そのキヤリアを順次に測
定ステージに移動させるだけで、単一モード光フ
アイバの外径、コア径、コア偏心率、非円率等の
構造の幾何学的パラメータ、スポツトサイズ、カ
ツトオフ波長、比屈折率差などの測定項目を能率
的且つ省人的にすなわち自動的かつ連続的に、高
精度に測定することができる。

そして、キヤリア上において被測定光フアイバ
に対して、幾何的に大きな曲率半径の曲げを与え
る際は、その曲率半径をもつ円一周分の曲げを光
フアイバに与えることができ、小さな曲率半径の
曲げを与える際には、その曲率半径をもつ円一周
分以上の曲げを光フアイバに与えている。しか
し、それら曲げを与える際に、そして、「光フア
イバに曲げを与えない状態」から「光フアイバに
曲げを与える状態」へ移行するときにも、被測定
光フアイバに「ひねり」や緩みが生じることがな
く、１度のセツトにより被測定光フアイバに与え
た張力や姿勢が保たれたまま測定が行なえる。そ
のため、測定精度が向上すると共に作業性が改善
される。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による単一モード光フアイバ
の特性測定装置に使用されるキヤリアの１つの実
施例を示す、被測定光フアイバに大きな曲率半径
の曲げが与えられている状態の概略構成図であ
る。第２図は、第１図の単一モード光フアイバの
特性測定装置のキヤリアにおいて、被測定光フア
イバに小さな曲率半径の曲げが与えられている状
態の概略構成図である。第３図は、小さな曲率半
径の曲げを与える光フアイバ曲げ装置の構成の１
例を示す概略図であり、第３図ａはその小さな曲
率半径の曲げを与えていない状態を示し、第３図
ｂはその小さな曲率半径の曲げを与えている状態
を示している。第４図は、小さな曲率半径の曲げ
を与える光フアイバ曲げ装置の構成の別の１例を
示す概略図である。第５図は、大きな曲率半径の
曲げを与える光フアイバ曲げ装置の曲げ付与部材
に一定の引張り力を付与する張力付与装置の構成
の１例を示す概略図である。第６図は、本発明に
よる単一モード光フアイバの特性測定装置に使用
されるキヤリアの別の実施例を示す、被測定光フ
アイバに大きな曲率半径の曲げが与えられている
状態の概略構成図である。第７図は、第６図の単
一モード光フアイバの特性測定装置のキヤリアに
おいて、被測定光フアイバに小さな曲率半径の曲
げが与えられている状態の概略構成図である。第
８図は、本発明による単一モード光フアイバの特
性測定装置の１つの実施例を示す概略構成図であ
る。第９図は、「曲げ法」による単一モード光フ
アイバのカツトオフ波長測定方法の基本構成を示
す概略図である。第１０図は、「曲げ法」による
単一モード光フアイバのカツトオフ波長測定によ
つて得られる測定データの１例を示すグラフであ
る。〔主な参照番号〕Ａ……セツトステージ、
Ｂ，Ｃ，Ｄ……測定ステージ、１……被測定光フ
アイバ、２……波長可変光源、３……光検出器、
４……制御／演算装置、５……マンドレル、１０
……キヤリア、１２……波長可変光源、１４Ａ，
１４Ｂ……測定器側光フアイバホルダ、１６Ａ，
１６Ｂ……測定器側光フアイバ、１８……光検出
器、２４，２６……被測定光フアイバホルダ、８
……被測定光フアイバ、３０，３２，５０……大
ローラ（曲げ付与部材）、３４……案内溝、３６，
３８，４０，３８Ｂ，４０Ｂ……小ローラ（曲げ
付与部材）、４２，４４，４６……小曲率半径曲
げ付与部材、４８……三日月状部材、６８……ド
ラム、７０……薄板バネ。

Claims

【特許請求の範囲】１キヤリア上への被測定光フアイバのセツトを
行なうセツトステージと、光学的測定系入出射端
を有し且つ前記キヤリア上の被測定光フアイバの
特性測定を行なう測定ステージとが、キヤリアの
移動方向に沿つて順次設けられ、前記キヤリア上
にセツトされた被測定光フアイバをキヤリアごと
順次各測定ステージに移動して、測定ステージに
おいて前記光学的測定系入出射端に対し被測定光
フアイバ端を位置決めして所定の特性測定を行な
う単一モード光フアイバの特性測定装置におい
て、前記キヤリア上には、被測定光フアイバの各
端部を保持するホルダと、被測定光フアイバ中の
伝搬モードを制御すべく、第１の曲率半径の円一
周分の曲げを与えように被測定光フアイバに該第
１の曲率半径の円弧上の曲げを与える第１の光フ
アイバ曲げ装置とが設けられ、前記第１の曲率半
径より小さい第２の曲率半径の曲げを一周分以上
被測定光フアイバに与える第２の光フアイバ曲げ
装置が、前記キヤリア上または特定の測定ステー
ジに設置されていることを特徴とする単一モード
光フアイバの特性測定装置。２前記第１の光フアイバ曲げ装置は２つの大曲
率半径曲げ付与部材よりなり、各大曲率半径曲げ
付与部材は被測定光フアイバに対して各々半周分
ずつ曲げを与え、そのうち少なくとも一方の第１
の大曲率半径曲げ付与部材は、２つの大曲率半径
曲げ付与部の共通接線方向に滑動可能になされて
いることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の単一モード光フアイバの特性測定装置。３前記第１の光フアイバ曲げ装置の少なくとも
前記第１の大曲率半径曲げ付与部材は、円筒形で
あり、円筒の対称軸を回転軸として回転可能とな
つていることを特徴とする特許請求の範囲第２項
記載の単一モード光フアイバの特性測定装置。４前記大曲率半径曲げ付与部材は、被測定光フ
アイバにＳ字状の曲げを与えるよう、共通接線を
１つしか持たないように配置されていることを特
徴とする特許請求の範囲第２項または第３項記載
の単一モード光フアイバの特性測定装置。５前記大曲率半径曲げ付与部材は、平行な２本
の共通接線を有し且つそれぞれ前記被測定光フア
イバに曲げを加え始める点での曲げの接線が共線
関係にあるように配置されて、前記被測定光フア
イバにループ状の曲げを与えるようになされてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第２項または
第３項記載の単一モード光フアイバの特性測定装
置。６前記第２の大曲率半径曲げ付与部材は、前記
第１の大曲率半径曲げ付与部材側に凹部が位置す
るように配置された三日月状部材であり、該三日
月状部材の凹部は、前記第１の大曲率半径曲げ付
与部材の前記曲率半径と同一の曲率半径の円弧を
形成していることを特徴とする特許請求の範囲第
５項記載の単一モード光フアイバの特性測定装
置。７前記第１の光フアイバ曲げ装置の前記第１の
大曲率半径曲げ付与部材は、前記被測定光フアイ
バに曲げを与えるに際し、前記接線方向において
該第１の大曲率半径曲げ付与部材の該光フアイバ
が巻き付けられる側への向きに該第１の大曲率半
径曲げ付与部材に偏移力を作用させて該光フアイ
バに対して張力を与える張力付与装置が設けられ
ていることを特徴とする特許請求の範囲第２項か
ら第６項までのいずれかに記載の単一モード光フ
アイバの特性測定装置。８前記張力付与装置は、前記第１の光フアイバ
曲げ装置の前記第１の大曲率半径曲げ付与部材に
一端が取り付けられ、該第１の大曲率半径曲げ付
与部材の前記被測定光フアイバが巻き付けられる
側から前記接線方向に離れて位置付けられた回転
軸を中心にして回転自在なドラムに他端が取付け
られて渦巻き状に巻かれた薄板バネで構成されて
おり、薄板バネの引き出し量に関係なく一定の引
張り力を光フアイバに与えるようになされている
ことを特徴とする特許請求の範囲第７項記載の単
一モード光フアイバの特性測定装置。９小さな曲率半径の曲げを与える前記第２の光
フアイバ曲げ装置は、該小さな曲率半径の円弧面
を有する少なくとも２つの小曲率半径曲げ付与部
材を有し、それら小曲率半径曲げ付与部材の内の
少なくとも２つの第１の小曲率半径曲げ付与部材
は、前記被測定光フアイバに対して同じ側におい
てそれら小曲率半径曲げ付与部材が与える曲率半
径の倍の間隔をもつて配置され且つ前記第１の光
フアイバ曲げ装置により前記被測定光フアイバに
大きな曲率半径の曲げが与えられるときに該光フ
アイバに対して曲げを与えないように該光フアイ
バに接するように位置付けられており、前記少な
くとも３つの小曲率半径曲げ付与部材の内の残り
第２の小曲率半径曲げ付与部材は、前記第１の光
フアイバ曲げ装置により前記被測定光フアイバに
大きな曲率半径の曲げのみが与えられるときに
は、前記光フアイバに対して前記第１の小曲率半
径曲げ付与部材の反対側で該光フアイバに対して
曲げを与えない第１の位置をとり、前記被測定光
フアイバに小さな曲率半径の曲げが与えられると
きには、前記第１の小曲率半径曲げ付与部材の間
に侵入した第２の位置をとり、該第２の小曲率半
径曲げ付与部材が前記第２の位置にあるとき、前
記第１の小曲率半径曲げ付与部材の各々が前記小
さい曲率半径の円の1/4周分の曲げを前記光フア
イバに与え、前記第２の小曲率半径曲げ付与部材
の各々が該小さい曲率半径の円の1/2周分の曲げ
を前記光フアイバに与え、前記第２の光フアイバ
曲げ装置により前記光フアイバにかかる最小曲率
半径は、上記した小さい曲率半径に等しいことを
特徴とする特許請求の範囲第１項から第８項まで
のいずれかに記載の単一モード光フアイバの特性
測定装置。１０前記第２の光フアイバ曲げ装置の前記第２
の小曲率半径曲げ付与部材は、円筒の対称軸を中
心にしてなめらかに自転可能となつていることを
特徴とする特許請求の範囲第９項記載の単一モー
ド光フアイバの特性測定装置。１１前記測定ステージ中少なくとも１つのステ
ージにおいて、光学的測定系入出射端は、光フア
イバであり、被測定光フアイバとの接続を出射端
から出射される光パワーが最大になるよう前記測
定系入出射端の位置を微調整できるホルダに保持
されていることを特徴とする特許請求の範囲第１
項から第１０項までのいずれかに記載の単一モー
ド光フアイバの特性測定装置。