JPH11173948A - 光ファイバ判別方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の光ファイバの種類の判別では、高精度
かつ高価な装置を必要とし、しかも判別に手間が係って
いたため、低コストかつ簡便な光ファイバ判別方法の開
発が求められていた。 【解決手段】 マスター光ファイバ９に判別対象の試料
光ファイバ１１を接続して、試料光ファイバ１１に曲げ
を加えていない場合と、前記試料光ファイバの前記マス
ター光ファイバに接続された先端近傍に曲げを加えた場
合の双方について接続損失を測定し、この接続損失の差
から得られる曲げによる接続損失によって試料光ファイ
バ１１の種類を判別する光ファイバ判別方法を提供す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光ファイバの種
類を判別するための光ファイバ判別方法に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】例えば、いわゆるＤＳＭ型光ファイバ
（分散シフト光ファイバ：Dispersion shifted Single
Mode optical fiber）あるいはいわゆるＤＳＦ型光ファ
イバ（Dispersion Shifted Fiber）とＳＭ型光ファイバ
とを判別するには、（１）ＯＴＤＲ（Optical Time Dom
ain Reflectometer）に接続した光ファイバに、判別対
象の光ファイバを接続し、両光ファイバ間の接続損失を
前記ＯＴＤＲによって観測する、（２）光ファイバ側面
透過像によるプロファイル測定が従来から行われてい
た。前記（２）の判別方法は高価な光学測定システムを
使用して精密な測定を行うので、手間が係るため、前記
（１）の判別方法が一般的である。（１）の判別方法で
は、ＳＭ型光ファイバとＤＳＭ型光ファイバとで、別の
光ファイバと接続した時の接続損失が異なることを利用
し、その接続損失を測定することで種類を判別する。す
なわち、ＯＴＤＲによって光線路を観察すると、光線路
に入射した試験光の後方散乱光が急激に変化することで
光ファイバ同士の接続点を確認できるが、この時、ＳＭ
型光ファイバとＤＳＭ型光ファイバとでは、別の光ファ
イバとの接続点に現れる後方散乱光量に違いがあるた
め、これにより、種類を判別できる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、（１）
の判別方法では、ＯＴＤＲでの後方散乱光の測定精度を
上げる必要から、ＯＴＤＲ側の光ファイバと判別対象の
光ファイバとの間の接続に高い精度が要求されることに
なる。このため、光ファイバの接続時の調心に係る手間
が増大し、多数の光ファイバの判別を行うにはデメリッ
トが大きかった。また、光ファイバの種類の判別精度を
向上するには、高精度の光学測定システムを必要とする
ため、コストが高く付くといった問題が生じる。このよ
うな問題は、前述のＳＭ型光ファイバとＤＳＭ型光ファ
イバの判別に限定されず、それ以外の光ファイバの判別
にも生じる。

【０００４】この発明は、上記事情に鑑みてなされたも
ので、光ファイバの種類の判別を簡便かつ迅速に行うこ
とができる光ファイバ判別方法を提供することを目的と
している。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の光ファイバ判別方法では、マスター
光ファイバに判別対象の試料光ファイバを接続して光を
送入することにより接続損失を測定する第１の測定工程
と、前記試料光ファイバの前記マスター光ファイバに接
続された先端近傍に曲げを加えて光を送入することによ
り、該試料光ファイバと前記マスター光ファイバとの間
の接続損失を測定する第２の測定工程とを備え、前記第
１の測定工程にて測定した接続損失と、前記第２の測定
工程にて測定した接続損失との差から前記試料光ファイ
バの種類を判別することを特徴としている。

【０００６】この光ファイバ判別方法では、前記第１の
測定工程にて測定した接続損失と、前記第２の測定工程
にて測定した接続損失との差（以下、「曲げ損失」と称
する）を算出する。この曲げ損失は、試料光ファイバの
曲げによる光伝送損失の増加分に相当する。試料光ファ
イバの曲げはマスター光ファイバとの接続点近傍である
ので、光パルス試験器等を使用すれば、試料光ファイバ
の曲げによる光伝送損失が接続点での接続損失とほぼ同
じ地点にて測定される。光ファイバの種類によっては、
例えば、ＳＭ型光ファイバとＤＳＭ型光ファイバとで
は、曲げ損失が大きく異なるため、前記第１、第２の測
定工程にて測定した曲げ損失によって試料光ファイバの
種類を容易に判別することができる。すなわち、ＤＳＭ
型光ファイバは、ＳＭ型光ファイバに比べてコア径が小
さく、特定の波長、例えば１．５５μｍでの分散が小さ
くなるようにしたものであるため、曲げによる光伝送損
失の減少がＳＭ型光ファイバに比べて少ないので、この
ことを利用してＳＭ型光ファイバとの違いを判別するこ
とができる。具体的には、ＳＭ型光ファイバの曲げ損失
は３．０〜７．０ｄＢであるのに対して、ＤＳＭ型光フ
ァイバの曲げ損失は０．２〜０．８ｄＢであるから、こ
れを利用して、試料光ファイバのＳＭ型、ＤＳＭ型の区
別を容易に判別できるのである。

【０００７】この光ファイバ判別方法では、接続した試
料光ファイバとマスター光ファイバとの間の接続損失を
測定を、いわゆる光パワーモニタ法によっても行うこと
ができる。すなわち、接続した試料光ファイバ、マスタ
ー光ファイバの一方に光源を接続し、他方に光パワーメ
ータを接続し、前記光源からの入射光を前記光パワーメ
ータによって受光して受光強度を測定する。試料光ファ
イバのマスター光ファイバとの接続点近傍に曲げを加え
ていない場合と、曲げを加えた場合とについて、接続損
失を測定すると、前述の曲げ損失を算出することがで
き、試料光ファイバの種類を判別することができる。こ
の光ファイバ判別方法では、通常の光線路試験に使用す
る機器によって、光ファイバの種類を判別することがで
き、特別に高価な光学測定システムを適用する必要が無
い。

【０００８】請求項２記載の光ファイバ判別方法では、
光ファイバの光伝送損失を、該光ファイバを曲げていな
い時と、目的の湾曲半径を以て曲げた時とについて測定
し、これら測定した光伝送損失の差から光ファイバの種
類を判別することを特徴としている。この光ファイバ判
別方法においても、光パルス試験器や光パワーモニタ法
によって測定した接続損失から、光ファイバの曲げ損失
を算出することで光ファイバの種類を簡便に判別するこ
とができる。

【０００９】なお、請求項１、２の光ファイバ判別方法
は、いずれも、光ファイバの曲げによる光伝送損失の違
いを利用して光ファイバの種類を判別するものであり、
ＳＭ型光ファイバとＤＳＭ型光ファイバの判別に限定さ
れず、各種光ファイバの種類の判別に利用することがで
きる。また、請求項１記載の光ファイバ判別方法では、
予め光パルス試験器に接続したマスター光ファイバに対
して試料光ファイバを簡便に着脱できる機構を採用する
ことで、接続作業性を向上することができ、しかも、マ
スター光ファイバに対して試料光ファイバを接続するだ
けで、光パルス試験器によって試料光ファイバを試験す
ることができるので、多数の光ファイバの判別作業を効
率良く行うことができる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の１実施形態を図１
および図２を参照して説明する。図１は、この光ファイ
バ判別方法に適用される光ファイバ判別装置の一例を示
す。図１において、この光ファイバ判別装置１は、マス
ター側ファイバホルダ２、接続部３、レール部４、曲げ
機構５、パレット６、可動ファイバホルダ７を備えてい
る。

【００１１】マスター側ファイバホルダ２は、光パルス
試験器８（図１中ＯＴＤＲ）に接続されたマスター光フ
ァイバ９の先端を、開閉可能の蓋２ａ、２ｂによってク
ランプして定位置に支持する。マスター側ファイバホル
ダ２では、位置決め溝等の図示しない位置決め手段によ
ってマスター光ファイバ９を直線上に位置決めしてい
る。接続部３は、二つの調心ブロック３ａ、３ｂを備え
ている。これら調心ブロック３ａ、３ｂは、前記マスタ
ー側ファイバホルダ２によるマスター光ファイバ９の位
置決め直線の延長上に配置され、しかも、互いに離間さ
れている。マスター側ファイバホルダ２によって支持し
たマスター光ファイバ９は、先端の被覆を除去して露出
させた裸ファイバ９ａが、マスター側ファイバホルダ２
寄りに配置した調心ブロック３ａの調心機構１０ａ（図
２参照）によって位置決め調心される。前記裸ファイバ
９ａ先端は、両調心ブロック３ａ、３ｂの間に位置決め
される。

【００１２】図２は、接続部３を示す斜視図である。図
２において、マスター側ファイバホルダ２寄りの調心ブ
ロック３ａの調心機構１０ａは、調心ブロック３ａ上面
上に複数並列したＶ溝１０ｂからなり、マスター光ファ
イバ９としての光ファイバテープ心線の先端に露出させ
た複数本の裸ファイバ９ａをそれぞれＶ溝１０ｂによっ
て精密に位置決めしている。裸ファイバ９ａ先端は、両
調心ブロック３ａ、３ｂの間のほぼ中間に位置決めさ
れ、試料光ファイバ１１（光ファイバテープ心線）の先
端に露出させた複数本の裸ファイバ１１ａとそれぞれ突
き合わせ接続される。試料光ファイバ１１側の裸ファイ
バ１１ａは、調心ブロック３ｂの調心機構１０ｃを構成
する複数のＶ溝１０ｄによって精密に位置決めされ、前
記裸ファイバ９ａと同一直線上になる。なお、調心ブロ
ック３ａ、３ｂ間の離間距離は微小であり、両調心ブロ
ック３ａ、３ｂ間での裸ファイバ９ａ、１１ａの撓み等
による調心精度の低下は接続損失に影響を与えない程度
である。調心機構１０ａ、１０ｃは、Ｖ溝に限定され
ず、Ｕ溝や角溝等の調心溝や、マイクロキャピラリ、３
以上の精密ボール間に光ファイバ（裸ファイバ）を坦持
する機構等から構成することも可能である。なお、試料
光ファイバ１１は、請求項１記載の試料光ファイバおよ
び請求項２記載の光ファイバに対応する。

【００１３】光ファイバ判別装置の接続部としては、図
２に示した接続部これに限定されず、光ファイバ同士を
着脱自在に接続するものであれば、例えば、同一の調心
機構にて光ファイバ同士を接続する構成等、各種構成の
採用が可能である。また、接続部にて接続する光ファイ
バの心数は、図２に示した４心に限定されず、それ以外
の心数であっても良い。この場合、調心機構の対応心数
は、光ファイバの心数よりも多くすることは言うまでも
無い。また、光ファイバの心数や調心機構の対応心数の
変更には、単心も含まれる。

【００１４】図１に戻り説明を続ける。レール部４は、
マスター側ファイバホルダ２におけるマスター光ファイ
バ９の位置決め直線上に延在され、接続部３を介して前
記マスター側ファイバホルダ２と対向する方向へ伸びて
いる。曲げ機構５は、前記レール部４の途中に形成した
切欠部４ａに配置している。この曲げ機構５は、前記切
欠部４ａ内にて昇降駆動される下側クランプ部材５ａ
と、水平移動されることにより前記下側クランプ部材５
ａ上に進退される上側クランプ部材５ｂとを備えてい
る。下側クランプ部材５ａには湾曲された上面を有する
湾曲板５ｃを取り付け、上側クランプ部材５ｂには前記
湾曲板５ｃに対応する湾曲された下面を有する湾曲板５
ｄを取り付けており、上下のクランプ部材５ａ、５ｂを
接近させると、湾曲板５ｃ、５ｄ間に試料光ファイバ１
１が挟み込まれ、規定以上（Ｒ６以上）の湾曲半径を以
て湾曲される。但し、曲げ半径によって、試料光ファイ
バ１１の曲げ損失が異なる。ここで、湾曲の山は、好ま
しくは３山とする。また、曲げ機構５は、上下両側のク
ランプ部材５ａ、５ｂを互いに離間させることで、試料
光ファイバ１１のクランプを解除することができる。な
お、曲げ機構としては、試料光ファイバ１１をクランプ
して規定以上の湾曲半径の曲げを与え、かつクランプを
解除した時には試料光ファイバ１１の取り出しが可能に
なっている構成であれば、本実施形態に限定されず、各
種構成が採用可能である。

【００１５】パレット６は、マスター側ファイバホルダ
２や接続部３から離間させて配置し、前記レール部４の
前記接続部３側とは対向する反対側の端部と接続してい
る。このパレット６には、判別対象の試料光ファイバ１
１の先端を支持する可動ファイバホルダ７を複数並列に
収納している。

【００１６】パレット６に収納した可動ファイバホルダ
７は、それぞれレール部４方向に引き出し可能になって
いる。したがって、レール部４に対して図１中矢印Ａ方
向にパレット６をスライド移動して、目的の可動ファイ
バホルダ７をレール部４に対して位置決めすると、この
パレット６から引き出した目的の可動ファイバホルダ７
をレール部４を経由して接続部３近傍に移動させること
ができる。可動ファイバホルダ７の移動は、つまみ１２
を可動ファイバホルダに係合して行う。

【００１７】可動ファイバホルダ７を接続部３近傍へ引
き出すと、この可動ファイバホルダ７に支持した試料光
ファイバ１１がパレット６の光ファイバ配列板６ａから
引き出される。レール部４上を移動する可動ファイバホ
ルダ７に引っ張られるようにして引き出された試料光フ
ァイバ１１はレール４上に延在し、可動ファイバホルダ
７の引張によって与えられた張力によって直線的に緊張
されるので、曲げ機構５を駆動するとクランプ固定する
ことができ、曲げ機構５の湾曲板５ｃ、５ｄによって湾
曲される。この時、試料光ファイバ１１は緊張によっ
て、湾曲板５ｃ、５ｄによる湾曲以外の方向への曲げが
規制されるため、目的の湾曲半径が確実に得られる。但
し、曲げ機構５は、パレット６から接続部３近傍に可動
ファイバホルダ７を移動する際には、上下両側のクラン
プ部材５ａ、５ｂを離間させておき、可動ファイバホル
ダ７を接続部３方向へ通過させる。しかも、この時、下
側クランプ部材５ａに形成した補助レール５ｅ、５ｅを
レール部４に位置決めして、レール部４を連続させ、可
動ファイバホルダ７の通過が自由になされるようにお
く。

【００１８】可動ファイバホルダ７は、開閉可能な磁石
固定式の蓋７ａ、７ｂによって試料光ファイバ１１をク
ランプ支持するようになっている。したがって、蓋７
ａ、７ｂを開閉することで、クランプ支持する試料光フ
ァイバ１１を簡便に交換することができる。この可動フ
ァイバホルダ７では、試料光ファイバ１１を接続部３側
に先端が突出するようにしてクランプ支持する。そし
て、この可動ファイバホルダ７を、レール部４を経由し
て接続部３近傍に移動すると、試料光ファイバ１１の先
端に露出させた複数本の裸ファイバ１１ａが、それぞ
れ、接続部３の調心ブロック３ｂの調心機構１０ｃに挿
入され精密に位置決めされるとともに、この調心機構１
０ｃを貫通して、マスター光ファイバ９の裸ファイバ９
ａと突き合わせ接続される。逆に、可動ファイバホルダ
７をパレット６方向に戻すと、調心機構１０ｃから裸フ
ァイバ１１ａが引き抜かれ、マスター光ファイバ９の裸
ファイバ９ａとの接続状態が解除される。なお、マスタ
ー光ファイバ９の裸ファイバ９ａ先端や試料光ファイバ
１１の裸ファイバ１１ａ先端には、測定精度向上やフレ
ネル反射低減のために、屈折率整合剤を塗布しておくこ
とが好ましい。

【００１９】この光ファイバ判別装置１では、試料光フ
ァイバ１１とマスター光ファイバ９との接続状態を維持
し、光パルス試験器８から試験光を送入すると、両光フ
ァイバ１１、９間の接続損失を測定することができる。
また、曲げ機構５を駆動して上下のクランプ部材５ａ、
５ｂ間に試料光ファイバ１１を挟み込んで曲げを与えた
状態を維持し、光パルス試験器８から試験光を送入する
と、試料光ファイバ１１の曲げによる光伝送損失を含ん
で、両光ファイバ１１、９間の接続損失を測定すること
ができる。

【００２０】可動ファイバホルダ７をパレット６に戻
し、別の可動ファイバホルダ７を引き出して接続部３近
傍に移動すると、この可動ファイバホルダ７に支持した
試料光ファイバ１１の裸ファイバ１１ａが調心機構１０
ｃに挿入されて位置決めされ、マスター光ファイバ９側
の裸ファイバ９ａに接続される。このように、可動ファ
イバホルダ７を順次引き出して、マスター光ファイバ９
に対して接続する試料光ファイバ１１を交換すると、多
数の試料光ファイバ１１について、マスター光ファイバ
９との間の接続損失を、試料光ファイバ１１を曲げを加
えていない場合と、曲げを加えた場合の双方について、
順次、効率良く測定することができる。

【００２１】なお、光パルス試験器８による接続損失の
測定は、裸ファイバ９ａ、１１ａ同士を接続してなる光
線路毎（試料光ファイバ１１については裸ファイバ１１
ａ毎）になされるので、多心の光ファイバ９、１１同士
を接続すると、一回の接続作業によって、複数の裸ファ
イバ１１ａについて接続損失の測定を行うことができ、
接続回数の削減になる。また、多心のマスター光ファイ
バ９に対して複数本の単心光ファイバを接続するように
すると、複数本の単心光ファイバについて接続損失の測
定を効率良く行うことができる。

【００２２】次に、本発明の光ファイバ判別方法を前記
光ファイバ判別装置１に適用した実施形態を説明する。
前記光ファイバ判別装置１を用いて試料光ファイバ１１
の種類を判別するには、まず、可動ファイバホルダ７を
接続部３近傍に移動して互いに接続したマスター光ファ
イバ９と判別対象の試料光ファイバ１１との間の接続損
失を、試料光ファイバ１１に曲げを加えていない場合に
ついて光パルス試験器８によって測定する（第１の測定
工程）。次いで、曲げ機構５を駆動して、試料光ファイ
バ１１の前記マスター光ファイバ９に接続された先端近
傍に曲げを加えて、該試料光ファイバ１１と前記マスタ
ー光ファイバ９との間の接続損失を測定する（第２の測
定工程）。次に、前記第１の測定工程にて測定した接続
損失（測定値Ａ）と、前記第２の測定工程にて測定した
接続損失（測定値Ｂ）との差、すなわち曲げ損失を求め
る。前記曲げ損失は次式によって算出される。 曲げ損失＝測定値Ｂ−測定値Ａ

【００２３】この光ファイバ判別方法では、算出された
曲げ損失の値により、試料光ファイバ１１の種類を容易
に判別することができる。例えば、波長１．５５μｍの
パルス光で曲げ損失が３．０〜７．０ｄＢであるとＳＭ
型光ファイバ、曲げ損失が０．２〜０．８ｄＢであると
ＤＳＭ型光ファイバであると言うように、曲げ損失の値
の比較によって、光ファイバの種類を明確に判別するこ
とができる。

【００２４】なお、本発明の光ファイバ判別方法にて実
施される接続損失の測定は、光パルス試験器８を利用し
たものに限定されず、光パワーモニタ法によっても実施
することができる。この場合、光源および光パワーメー
タの一方をマスター光ファイバ９に接続し、他方を試料
光ファイバ１１に接続する。光源または光パワーメータ
に対する試料光ファイバ１１の着脱性を確保できれば、
接続損失の測定作業能率や光ファイバ判別作業性を確保
することができる。また、この光ファイバ判別方法は、
ＳＭ型光ファイバとＤＳＭ型光ファイバ以外の各種心線
種別判定にも用いることができる。

【００２５】

【発明の効果】請求項１記載の光ファイバ判別方法によ
れば マスター光ファイバと判別対象の試料光ファイバ
との間の接続損失を、前記試料光ファイバに曲げを加え
ていない時と、前記試料光ファイバの前記マスター光フ
ァイバに接続された先端近傍に曲げを加えた時について
測定し、これら測定した接続損失の差（曲げ損失）から
前記試料光ファイバの種類を判別するようにしたので、
（ａ）マスター光ファイバとの間の接続損失の大きさか
ら試料光ファイバの種類を判別する従来の判別方法に比
べて、簡便かつ容易に試料光ファイバの種類を判別する
ことができる、（ｂ）光パルス試験に使用する光パルス
試験器や光パワーメータ等を使用して接続損失を測定す
ることで試料光ファイバの種類を判別でき、特別に高精
度の測定装置を必要としないので、判別作業性の向上、
判別に係るコストの低減が可能であるといった優れた効
果を奏する。

【００２６】請求項２記載の光ファイバ判別方法によれ
ば、光ファイバの光伝送損失を、該光ファイバを曲げて
いない時と、目的の湾曲半径を以て曲げた時とについて
測定し、これら測定した光伝送損失の差から光ファイバ
の種類を判別することを特徴とするので、（ｃ）マスタ
ー光ファイバとの間の接続損失の大きさから光ファイバ
の種類を判別する従来の判別方法に比べて、簡便かつ容
易に光ファイバの種類を判別することができる、（ｄ）
光パルス試験に使用する光パルス試験器や光パワーメー
タ等を使用して光伝送損失を測定することで光ファイバ
の種類を判別でき、特別に高精度の測定装置を必要とし
ないので、判別作業性の向上、判別に係るコストの低減
が可能である、（ｅ）マスター光ファイバとの接続が不
要であるので、部品数の少ない簡便な装置によって判別
することができるので、一層の低コスト化が可能である
といった優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の１実施形態を示す図であって、光フ
ァイバ判別装置を示す斜視図である。

【図２】 図１の光ファイバ判別装置の接続部近傍を示
す拡大斜視図である。

【符号の説明】

９…マスター光ファイバ、１１…試料光ファイバ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀越 雅博 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内 (72)発明者 大井 三智郎 埼玉県大宮市三橋１−840 藤倉ゴム工業 株式会社大宮工場内 (72)発明者 江森 滋 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内 (72)発明者 斉藤 広二 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内 (72)発明者 毛利 弘治 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 マスター光ファイバ（９）に判別対象の
   試料光ファイバ（１１）を接続して光を送入することに
   より接続損失を測定する第１の測定工程と、 前記試料光ファイバの前記マスター光ファイバに接続さ
   れた先端近傍に曲げを加えて光を送入することにより、
   該試料光ファイバと前記マスター光ファイバとの間の接
   続損失を測定する第２の測定工程とを備え、 前記第１の測定工程にて測定した接続損失と、前記第２
   の測定工程にて測定した接続損失との差から前記試料光
   ファイバの種類を判別することを特徴とする光ファイバ
   判別方法。
2. 【請求項２】 光ファイバ（１１）の光伝送損失を、該
   光ファイバを曲げていない時と、目的の湾曲半径を以て
   曲げた時とについて測定し、これら測定した光伝送損失
   の差から光ファイバの種類を判別することを特徴とする
   光ファイバ判別方法。