JPH0658289B2 - 光フアイバの測定法 - Google Patents
光フアイバの測定法Info
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- JPH0658289B2 JPH0658289B2 JP60294781A JP29478185A JPH0658289B2 JP H0658289 B2 JPH0658289 B2 JP H0658289B2 JP 60294781 A JP60294781 A JP 60294781A JP 29478185 A JP29478185 A JP 29478185A JP H0658289 B2 JPH0658289 B2 JP H0658289B2
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- light
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、光ファイバの伝送特性や光学特性を測定す
る方法に関する。
る方法に関する。
従来の技術 光ファイバの測定すべき伝送特性、光学特性には、伝
送損失、伝送帯域、開口数、第２モードのカット
オフ波長、基本モードのモードフィールド直径などが
ある。これらを測定するには、従来より、光ファイバの
一端に測定用の光を入射し、且つ他端からの出射光を受
光して、その強度や空間的広がり、波長に依存した強度
（スペクトル）を計量するようにしている。あるいは、
光ファイバの一端より光を入射し、その光ファイバ各部
からの後方散乱光を、この入射側端末より取り出して計
測する。バックスキャッタ法による測定も行なわれる。
送損失、伝送帯域、開口数、第２モードのカット
オフ波長、基本モードのモードフィールド直径などが
ある。これらを測定するには、従来より、光ファイバの
一端に測定用の光を入射し、且つ他端からの出射光を受
光して、その強度や空間的広がり、波長に依存した強度
（スペクトル）を計量するようにしている。あるいは、
光ファイバの一端より光を入射し、その光ファイバ各部
からの後方散乱光を、この入射側端末より取り出して計
測する。バックスキャッタ法による測定も行なわれる。
たとえば伝送損失を測定する場合には、第６図のよう
に、光源１から出射されたビームをレンズ６によって絞
って被測定光ファイバ３の一端に入射する。この光はフ
ァイバ３中を伝搬して他端から出射するが、この出射光
をレンズ７を介して受光器５に入射させる。受光器５の
出力信号を増幅器８により必要に応じて増幅した後電圧
計９に送り、受光光量に比例した量を表示させる。
に、光源１から出射されたビームをレンズ６によって絞
って被測定光ファイバ３の一端に入射する。この光はフ
ァイバ３中を伝搬して他端から出射するが、この出射光
をレンズ７を介して受光器５に入射させる。受光器５の
出力信号を増幅器８により必要に応じて増幅した後電圧
計９に送り、受光光量に比例した量を表示させる。
ところで、通常、光ファイバは、紡糸後は１本１本個別
のドラムに巻かれた状態となっており、その後、光ファ
イバケーブル構造に応じて、１本毎に被覆されたり、複
数本がまとめて、樹脂で被覆されてテープ化されたり、
リボン化されたり、丸形断面を有するユニットとして撚
り合せられたりする。
のドラムに巻かれた状態となっており、その後、光ファ
イバケーブル構造に応じて、１本毎に被覆されたり、複
数本がまとめて、樹脂で被覆されてテープ化されたり、
リボン化されたり、丸形断面を有するユニットとして撚
り合せられたりする。
発明が解決しようとする問題点 上記のような従来の測定法の場合、本来の計測時間以外
に準備のための時間が多くかかり、そのため全体の測定
時間が長くなってしまうという欠点がある。すなわち、
測定を再現性良く行なうためには、常に一定の条件で、
被測定光ファイバに光が入射したり、被測定光ファイバ
からの出射光を取り出す必要があり、そのため入射端に
おいて、入射光ビームスポットを正確に被測定光ファイ
バ端面に照射する必要があるだけでなく、被測定光ファ
イバの端面がファイバ軸に対して垂直で且つ平坦にカッ
トされており、しかもごみ等の類が付着してはならない
からである。そこで、測定に要する時間の多くは、しば
しば、本来の光の計測時間ではなくて、光の入・出射軸
合せ、ファイバ端面の整形等の準備のために要する時間
が支配的になってしまう。
に準備のための時間が多くかかり、そのため全体の測定
時間が長くなってしまうという欠点がある。すなわち、
測定を再現性良く行なうためには、常に一定の条件で、
被測定光ファイバに光が入射したり、被測定光ファイバ
からの出射光を取り出す必要があり、そのため入射端に
おいて、入射光ビームスポットを正確に被測定光ファイ
バ端面に照射する必要があるだけでなく、被測定光ファ
イバの端面がファイバ軸に対して垂直で且つ平坦にカッ
トされており、しかもごみ等の類が付着してはならない
からである。そこで、測定に要する時間の多くは、しば
しば、本来の光の計測時間ではなくて、光の入・出射軸
合せ、ファイバ端面の整形等の準備のために要する時間
が支配的になってしまう。
特に、１本１本が単独に被覆された単心線光ファイバで
は、光ファイバの１本毎にファイバ端面の処理を行なっ
て、光の入・出射の調整を行なわなければならないた
め、この問題が顕著である。
は、光ファイバの１本毎にファイバ端面の処理を行なっ
て、光の入・出射の調整を行なわなければならないた
め、この問題が顕著である。
この発明は、１本毎に被覆された単心線光ファイバを測
定する際にも作業が容易となり、全体の測定時間を短縮
できるとともに、精度を高めることも容易な、光ファイ
バの測定法を提供することを目的とする。
定する際にも作業が容易となり、全体の測定時間を短縮
できるとともに、精度を高めることも容易な、光ファイ
バの測定法を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段 この発明によると、被測定光ファイバの端末に光を入射
し、その光ファイバ中を伝搬した光を端末からの出射さ
せ、その出射光を計測する光ファイバの測定法におい
て、複数本の被測定光ファイバの端末付近をほぼ平行な
揃えて一体化し、これら一体化された複数本の被測定光
ファイバの端面の整形を一括に行ない、一端が光源に接
続されている複数本の、他方の端末付近が平行に揃えら
れて一体化されている、入射用光ファイバのその他方の
端末を、上記複数本の被測定光ファイバの端末に各々接
続することが特徴となっている。
し、その光ファイバ中を伝搬した光を端末からの出射さ
せ、その出射光を計測する光ファイバの測定法におい
て、複数本の被測定光ファイバの端末付近をほぼ平行な
揃えて一体化し、これら一体化された複数本の被測定光
ファイバの端面の整形を一括に行ない、一端が光源に接
続されている複数本の、他方の端末付近が平行に揃えら
れて一体化されている、入射用光ファイバのその他方の
端末を、上記複数本の被測定光ファイバの端末に各々接
続することが特徴となっている。
作 用 複数本の被測定光ファイバの端末部が一体化されている
ので、それらの被覆の除去作業や端面の整形などが一括
にできる。また、入射用光ファイバとの接続も、入射用
光ファイバの端末部が同様に一体化されているため、複
数本について同時に行なうことができるようになるの
で、それらの間の軸合わせ作業なども一括でできる。こ
のように、複数本の被測定光ファイバを測定するについ
ての取り扱いや作業が容易になる。そのため、全体の測
定時間を短縮することができるとともに、測定精度を高
めることも容易である。
ので、それらの被覆の除去作業や端面の整形などが一括
にできる。また、入射用光ファイバとの接続も、入射用
光ファイバの端末部が同様に一体化されているため、複
数本について同時に行なうことができるようになるの
で、それらの間の軸合わせ作業なども一括でできる。こ
のように、複数本の被測定光ファイバを測定するについ
ての取り扱いや作業が容易になる。そのため、全体の測
定時間を短縮することができるとともに、測定精度を高
めることも容易である。
実 施 例 まず、第１図のように、複数本の被測定単心線光ファイ
バ３の両端末３１をそろえて平行にならべる。一般的に
は、被測定光ファイバ３の各々は、それらがケーブル化
しても差しつかえない良好な特性を有しているかどうか
を判定されるために測定されるので、それぞれの長さが
まちまちになっていることが多く、そのため、ドラム３
０から適宜な長さに繰り出して、両端を上記のように揃
える。この場合、光ファイバ３は、ガラスがむき出しに
なっているのでなく、所謂プライマリコートや２次被覆
により覆われている。
バ３の両端末３１をそろえて平行にならべる。一般的に
は、被測定光ファイバ３の各々は、それらがケーブル化
しても差しつかえない良好な特性を有しているかどうか
を判定されるために測定されるので、それぞれの長さが
まちまちになっていることが多く、そのため、ドラム３
０から適宜な長さに繰り出して、両端を上記のように揃
える。この場合、光ファイバ３は、ガラスがむき出しに
なっているのでなく、所謂プライマリコートや２次被覆
により覆われている。
次にこの端末３１が平行に揃えられたままの状態で一体
化される。一体化の方法としては、熱可塑性、熱硬化性
あるいは紫外線硬化性の樹脂で固めたり、低融点金属で
固める。または、２枚のテープの間に平行に揃えられた
端末３１を挟んで貼り合せたりしてもよい。この実施例
では、第２図に示すように、紫外線架橋型樹脂３２で一
体化している。ガイド３４の部分にノズル３５より紫外
線架橋型樹脂を注入しながら光ファイバ３の束を上方に
引き上げ、このとき紫外線ランプ３７からの紫外線を紫
外線ガイド用ファイババンドル３６で導いてこの樹脂３
２に照射して樹脂３２を硬化させて一体化し局所的にテ
ープ状としている。この場合、一体化する光ファイバの
長さは測定すべき項目や、その後の処理に必要なファイ
バ長さにもよるが、一般には２００mm〜１ｍ程度でよ
い。
化される。一体化の方法としては、熱可塑性、熱硬化性
あるいは紫外線硬化性の樹脂で固めたり、低融点金属で
固める。または、２枚のテープの間に平行に揃えられた
端末３１を挟んで貼り合せたりしてもよい。この実施例
では、第２図に示すように、紫外線架橋型樹脂３２で一
体化している。ガイド３４の部分にノズル３５より紫外
線架橋型樹脂を注入しながら光ファイバ３の束を上方に
引き上げ、このとき紫外線ランプ３７からの紫外線を紫
外線ガイド用ファイババンドル３６で導いてこの樹脂３
２に照射して樹脂３２を硬化させて一体化し局所的にテ
ープ状としている。この場合、一体化する光ファイバの
長さは測定すべき項目や、その後の処理に必要なファイ
バ長さにもよるが、一般には２００mm〜１ｍ程度でよ
い。
こうして、複数本の被測定光ファイバ３の端末３１が樹
脂３２でテープ状に一体化されることになるのでその後
の扱いがきわめて容易になる。そこで、これらの複数本
の一体化された光ファイバ３を一括に平坦にカットし、
端面の整形を一括に行なう。こうしてカットされた後の
状態が第３図に示されている。
脂３２でテープ状に一体化されることになるのでその後
の扱いがきわめて容易になる。そこで、これらの複数本
の一体化された光ファイバ３を一括に平坦にカットし、
端面の整形を一括に行なう。こうしてカットされた後の
状態が第３図に示されている。
次に、各光ファイバ３の端末部分の被覆を除去し、第４
図のようにファイバ心線３３が露出した状態にする。こ
の被覆除去作業は、樹脂３２で一体化されているため、
複数本の光ファイバ３につき一括に行なうことが可能と
なる。
図のようにファイバ心線３３が露出した状態にする。こ
の被覆除去作業は、樹脂３２で一体化されているため、
複数本の光ファイバ３につき一括に行なうことが可能と
なる。
他方第１図に示すように、入射側では、光源１に接続さ
れた複数本の光ファイバ２がその端末２１で上記と同様
にテープ状に一体化されている。また出射側でも、受光
器５に接続された複数本の光ファイバ４の端末４１が同
様にテープ状に一体化されている。そこで、複数本の被
測定光ファイバ３に対する光の入・出射は、テープ状の
ものからテープ状のものへと行なわれるので、１本ずつ
の光軸合せは実質的には不便となり、全体として光軸合
せはきわめて容易である。また、この場合、必要とあれ
ば各光ファイバ同士の接続は融着接続で行なうことも容
易であり、これによって低損失に接続でき、確実で且つ
精度の高い測定を保証できる。
れた複数本の光ファイバ２がその端末２１で上記と同様
にテープ状に一体化されている。また出射側でも、受光
器５に接続された複数本の光ファイバ４の端末４１が同
様にテープ状に一体化されている。そこで、複数本の被
測定光ファイバ３に対する光の入・出射は、テープ状の
ものからテープ状のものへと行なわれるので、１本ずつ
の光軸合せは実質的には不便となり、全体として光軸合
せはきわめて容易である。また、この場合、必要とあれ
ば各光ファイバ同士の接続は融着接続で行なうことも容
易であり、これによって低損失に接続でき、確実で且つ
精度の高い測定を保証できる。
このように端末３１を一体化しているため、複数本のフ
ァイバ３の端面を平坦にカットすることが１回で済み、
また複数本のファイバ３の被覆除去作業が１回で済み、
しかも、入・出射の光軸合せが容易なため、具体的に、
たとえば、単心線光ファイバの挿入損失測定を個別に行
なった場合、５本測定するのに約５０分かかったのが、
２０分でできるようになり、全体の測定時間の短縮効果
が著しい。
ァイバ３の端面を平坦にカットすることが１回で済み、
また複数本のファイバ３の被覆除去作業が１回で済み、
しかも、入・出射の光軸合せが容易なため、具体的に、
たとえば、単心線光ファイバの挿入損失測定を個別に行
なった場合、５本測定するのに約５０分かかったのが、
２０分でできるようになり、全体の測定時間の短縮効果
が著しい。
第５図は第２の実施例を示す。この実施例では光ファイ
バの測定法としてバックスキャッタ法を採用している。
複数本の被測定単心線光ファイバ３の一方の端末３１が
揃えられて平行に並べられている。他方の端末は開放端
とされる。そして平行に並べられた一方の端末付近が、
樹脂等で固められて一体化され、一括に平坦にカットさ
れ、被覆が除去されていることは上記の実施例と同様で
ある。また、入・出射用の複数本の光ファイバ２の端末
２１も上記と同様にテープ状に一体化されている。この
複数の光ファイバ２の一端には、光源と受光器とを含
み、光ファイバ２の一端に光を入射するとともに、この
一端から出射される光ファイバ２の各部からの後方散乱
光を受光して測定する測定器１１がそれぞれ接続されて
いる。複数の光ファイバ２と複数の被測定光ファイバ３
とが、テープ状に成形された端末２１と３１とを突き合
せるようにして接続されており、測定器１１から入射さ
れた光が光ファイバ２および光ファイバ３中に伝搬さ
れ、その各部での散乱光や反射光が逆方向に進行して入
射端側に再び戻ってくる。この光が測定器１１の受光器
に受光され、その各部での散乱光や反射光の状態が表示
装置１２によって示される。
バの測定法としてバックスキャッタ法を採用している。
複数本の被測定単心線光ファイバ３の一方の端末３１が
揃えられて平行に並べられている。他方の端末は開放端
とされる。そして平行に並べられた一方の端末付近が、
樹脂等で固められて一体化され、一括に平坦にカットさ
れ、被覆が除去されていることは上記の実施例と同様で
ある。また、入・出射用の複数本の光ファイバ２の端末
２１も上記と同様にテープ状に一体化されている。この
複数の光ファイバ２の一端には、光源と受光器とを含
み、光ファイバ２の一端に光を入射するとともに、この
一端から出射される光ファイバ２の各部からの後方散乱
光を受光して測定する測定器１１がそれぞれ接続されて
いる。複数の光ファイバ２と複数の被測定光ファイバ３
とが、テープ状に成形された端末２１と３１とを突き合
せるようにして接続されており、測定器１１から入射さ
れた光が光ファイバ２および光ファイバ３中に伝搬さ
れ、その各部での散乱光や反射光が逆方向に進行して入
射端側に再び戻ってくる。この光が測定器１１の受光器
に受光され、その各部での散乱光や反射光の状態が表示
装置１２によって示される。
このようなバックスキャッタ法の場合も、端末３１が一
体化されているので、扱いが容易であり、作業が簡単に
なって全体の測定時間が短縮される。
体化されているので、扱いが容易であり、作業が簡単に
なって全体の測定時間が短縮される。
発明の効果 この発明によれば、１本毎に被覆された単心線光ファイ
バを測定する際にも、複数本のファイバの単面の整形
（カット）および被覆除去作業を一括に行なうことがで
き、作業が容易になる。また、入射用光ファイバとの接
続も、入射用光ファイバの端末部が同様に一体化されて
いるため、複数本について同時に行なうことができるよ
うになるので、それらの間の軸合わせ作業なども一括に
できる。このように作業が容易になるので、全体の測定
時間が短縮される。また、測定精度を高めることも容易
である。
バを測定する際にも、複数本のファイバの単面の整形
（カット）および被覆除去作業を一括に行なうことがで
き、作業が容易になる。また、入射用光ファイバとの接
続も、入射用光ファイバの端末部が同様に一体化されて
いるため、複数本について同時に行なうことができるよ
うになるので、それらの間の軸合わせ作業なども一括に
できる。このように作業が容易になるので、全体の測定
時間が短縮される。また、測定精度を高めることも容易
である。
第１図はこの発明の一実施例の模式図、第２図、第３図
および第４図は各工程での光ファイバの端末部分を示す
斜視図、第５図は他の実施例の模式図、第６図は従来例
の模式図である。 １……光源、２……入射用光ファイバ ３……被測定光ファイバ、４……出射用光ファイバ ５……受光器、３２……樹脂 ３４……ガイド、３５……ノズル 36……ファイババンドル、３７……紫外線ランプ ６、７……レンズ、８……増幅器 ９……電圧計、１１……測定器 １２……表示装置
および第４図は各工程での光ファイバの端末部分を示す
斜視図、第５図は他の実施例の模式図、第６図は従来例
の模式図である。 １……光源、２……入射用光ファイバ ３……被測定光ファイバ、４……出射用光ファイバ ５……受光器、３２……樹脂 ３４……ガイド、３５……ノズル 36……ファイババンドル、３７……紫外線ランプ ６、７……レンズ、８……増幅器 ９……電圧計、１１……測定器 １２……表示装置
Claims (3)
- 【請求項１】被測定光ファイバの端末に光を入射し、そ
の光ファイバ中を伝搬した光を端末からの出射させ、そ
の出射光を計測する光ファイバの測定法において、複数
本の被測定光ファイバの端末付近をほぼ平行に揃えて一
体化する工程と、これら一体化された複数本の被測定光
ファイバの端面の整形を一括に行なう工程と、一端が光
源に接続されている複数本の、他方の端末付近が平行に
揃えられて一体化されている、入射用光ファイバのその
他方の端末を、上記複数本の被測定光ファイバの端末に
各々接続する工程とを含むことを特徴とする光ファイバ
の測定法。 - 【請求項２】複数本の一体化された入射用光ファイバに
接続される端末は被測定光ファイバの一方の端末であ
り、他方の端末より出射される、該光ファイバ中を伝搬
した光を計測することを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の光ファイバの測定法。 - 【請求項３】複数本の一体化された入射用光ファイバに
接続される端末は被測定光ファイバの一方の端末であ
り、この一方の端末より出射される、該被測定光ファイ
バ各部からの後方散乱光を、この入射側の端末より取り
出して計測することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の光ファイバの測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60294781A JPH0658289B2 (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | 光フアイバの測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60294781A JPH0658289B2 (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | 光フアイバの測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62150134A JPS62150134A (ja) | 1987-07-04 |
| JPH0658289B2 true JPH0658289B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=17812199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60294781A Expired - Fee Related JPH0658289B2 (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | 光フアイバの測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658289B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101600477B1 (ko) * | 2015-07-03 | 2016-03-07 | 광일종합건설 주식회사 | 개선된 강관말뚝 매립 공정을 통해 안정성을 향상시킨 탑다운 공법 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4243388A1 (de) * | 1992-02-05 | 1994-06-23 | Siemens Ag | Meßeinrichtung für Lichtwellenleiter und Verfahren zur Durchführung der Messung |
| JP2007033255A (ja) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバーの検査システム |
| JP5564586B1 (ja) * | 2013-02-04 | 2014-07-30 | ソフトバンクテレコム株式会社 | 測定装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5220250U (ja) * | 1975-07-30 | 1977-02-14 | ||
| JPS55118209U (ja) * | 1979-02-14 | 1980-08-21 |
-
1985
- 1985-12-25 JP JP60294781A patent/JPH0658289B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101600477B1 (ko) * | 2015-07-03 | 2016-03-07 | 광일종합건설 주식회사 | 개선된 강관말뚝 매립 공정을 통해 안정성을 향상시킨 탑다운 공법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62150134A (ja) | 1987-07-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |