JPH0357450B2 - - Google Patents
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- JPH0357450B2 JPH0357450B2 JP57135130A JP13513082A JPH0357450B2 JP H0357450 B2 JPH0357450 B2 JP H0357450B2 JP 57135130 A JP57135130 A JP 57135130A JP 13513082 A JP13513082 A JP 13513082A JP H0357450 B2 JPH0357450 B2 JP H0357450B2
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- light
- core
- optical fiber
- optical fibers
- coating layer
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/255—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding
- G02B6/2551—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding using thermal methods, e.g. fusion welding by arc discharge, laser beam, plasma torch
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は光フアイバ融着接続時等におけるコア
軸合せ方法に関するものである。
軸合せ方法に関するものである。
(2) 従来の技術とその問題点
従来、光フアイバを融着接続する場合、第１図
に示すごとく被接続光フアイバ心線の被覆層１を
除去し、クラツド層２とコア３だけの状態になつ
た心線を精度よく位置決めされたＶ溝等のフアイ
バ装着台４に装着し、被接続光フアイバの先端相
互間の間〓を調整し、せばめながら放電用電極棒
５に電圧を印加し放電させることにより融着接続
を行つている。この方法では、コア径が50μｍ程
度のマルチモード光フアイバの場合はほぼ満足の
いく接続損失で接続することができるが、単一モ
ード光フアイバの場合、直径125μｍ程度のクラ
ツド層に対し、直径10μｍ程度のコア軸は偏心し
ている場合が多く、クラツドの中心軸は一致して
いてもコアの中心軸はずれている可能性があるの
で、この状態で従来の融着方法によつて接続を行
うと満足できる結果は得られない。
に示すごとく被接続光フアイバ心線の被覆層１を
除去し、クラツド層２とコア３だけの状態になつ
た心線を精度よく位置決めされたＶ溝等のフアイ
バ装着台４に装着し、被接続光フアイバの先端相
互間の間〓を調整し、せばめながら放電用電極棒
５に電圧を印加し放電させることにより融着接続
を行つている。この方法では、コア径が50μｍ程
度のマルチモード光フアイバの場合はほぼ満足の
いく接続損失で接続することができるが、単一モ
ード光フアイバの場合、直径125μｍ程度のクラ
ツド層に対し、直径10μｍ程度のコア軸は偏心し
ている場合が多く、クラツドの中心軸は一致して
いてもコアの中心軸はずれている可能性があるの
で、この状態で従来の融着方法によつて接続を行
うと満足できる結果は得られない。
このため、単一モード光フアイバの融着接続の
場合、第２図に示すごとく、被接続光フアイバ心
線７を軸微動型光フアイバ融着接続器８に装着
し、LDもしくはLED等の光源６の出射光を被接
続光フアイバ心線７に通光し、受光器９で受け受
光量をレベルメータ１０にて監視しながら受光レ
ベルが最大となるように軸微動型光フアイバ融着
接続器８のフアイバ装着台４を第１図のＸ、Ｙ方
向に微動調整することによりコア軸を合せてい
る。通常の接続作業はこの方法で行うことができ
るが、光海底ケーブル通信システムの布設時にお
ける最終接続や障害修理における接続作業では、
デイジタル中継システムであることから、光信号
は中継器で一旦電気信号に変換され増幅、波形整
形されるので、接続点での通過パワのレベル変化
の情報を陸揚局等の遠隔地で把握し接続作業点ま
でその情報を伝達することは困難である。そこ
で、監視を行わず、第１図に示すＸ、Ｙ方向に軸
を固定した状態で融着接続を行わざるえないが、
接続損失はコアのクラツド層に対する偏心の度合
によつて左右され、良好な融着接続を完了するこ
とは困難である。
場合、第２図に示すごとく、被接続光フアイバ心
線７を軸微動型光フアイバ融着接続器８に装着
し、LDもしくはLED等の光源６の出射光を被接
続光フアイバ心線７に通光し、受光器９で受け受
光量をレベルメータ１０にて監視しながら受光レ
ベルが最大となるように軸微動型光フアイバ融着
接続器８のフアイバ装着台４を第１図のＸ、Ｙ方
向に微動調整することによりコア軸を合せてい
る。通常の接続作業はこの方法で行うことができ
るが、光海底ケーブル通信システムの布設時にお
ける最終接続や障害修理における接続作業では、
デイジタル中継システムであることから、光信号
は中継器で一旦電気信号に変換され増幅、波形整
形されるので、接続点での通過パワのレベル変化
の情報を陸揚局等の遠隔地で把握し接続作業点ま
でその情報を伝達することは困難である。そこ
で、監視を行わず、第１図に示すＸ、Ｙ方向に軸
を固定した状態で融着接続を行わざるえないが、
接続損失はコアのクラツド層に対する偏心の度合
によつて左右され、良好な融着接続を完了するこ
とは困難である。
また、光フアイバの接続箇所には光フアイバ融
着接続器８を配置するために、光フアイバの接続
箇所付近でクラツドからの漏洩光または反射光を
検出することができず、かつむき出しにされたク
ラツドからの漏洩光はクラツドの屈折率よりも小
なる屈折率を有する空気を介するためほとんど漏
洩しないという問題があつた。
着接続器８を配置するために、光フアイバの接続
箇所付近でクラツドからの漏洩光または反射光を
検出することができず、かつむき出しにされたク
ラツドからの漏洩光はクラツドの屈折率よりも小
なる屈折率を有する空気を介するためほとんど漏
洩しないという問題があつた。
このような問題点を解決する方法として、光フ
アイバの接続部の突き合わせ点からの逸出光を検
出し、その検出信号が最小となるように軸合せを
行う方法が、特開昭48−31964号公報及び特開昭
50−87338号公報に開示されている。しかしなが
ら、前者においては、接続部の突き合せ点近傍の
コーテイング層及び被覆層が取り除かれたクラツ
ド部から逸出する光を検知し軸合せを行うとして
いる。従つて、クラツド部に入射した光の伝搬モ
ードを考えると、クラツド部の屈折率はクラツド
部の外側の空気の屈折率より大きいため、クラツ
ド部と空気との界面でクラツド部内に反射される
形式のいわゆるクラツドモード伝搬となり、光フ
アイバの外に漏洩する光の量は極めて少ないこと
から数μｍ程度のコア軸の高精度な調整は困難で
ある。
アイバの接続部の突き合わせ点からの逸出光を検
出し、その検出信号が最小となるように軸合せを
行う方法が、特開昭48−31964号公報及び特開昭
50−87338号公報に開示されている。しかしなが
ら、前者においては、接続部の突き合せ点近傍の
コーテイング層及び被覆層が取り除かれたクラツ
ド部から逸出する光を検知し軸合せを行うとして
いる。従つて、クラツド部に入射した光の伝搬モ
ードを考えると、クラツド部の屈折率はクラツド
部の外側の空気の屈折率より大きいため、クラツ
ド部と空気との界面でクラツド部内に反射される
形式のいわゆるクラツドモード伝搬となり、光フ
アイバの外に漏洩する光の量は極めて少ないこと
から数μｍ程度のコア軸の高精度な調整は困難で
ある。
後者においても、突き合せ点で一方の光フアイ
バから出射した光が他方の光フアイバのクラツド
層またはコアに入射した場合の端面反射による逸
出光は微量である。
バから出射した光が他方の光フアイバのクラツド
層またはコアに入射した場合の端面反射による逸
出光は微量である。
また、端面反射量は、空気の屈折率をn0、クラ
ツド層またはコアの屈折率をｎとすると、 （ｎ−n0／ｎ＋n0）2 ……(1) できまる。従つて、例えば、クラツド層に入射し
ているとき、その光の入射点がクラツド層のいず
れにあろうとも反射量は一定である。また、クラ
ツド層の屈折率とコア層の屈折率との差は0.3％
程度であるから、式(1)を考慮しても端面反射によ
る逸出光の差も極めて少なく、結局クラツド層に
入射しているのかコアに入射しているのか判別す
ることが困難で、コア軸を一致させることが非常
に困難になる。
ツド層またはコアの屈折率をｎとすると、 （ｎ−n0／ｎ＋n0）2 ……(1) できまる。従つて、例えば、クラツド層に入射し
ているとき、その光の入射点がクラツド層のいず
れにあろうとも反射量は一定である。また、クラ
ツド層の屈折率とコア層の屈折率との差は0.3％
程度であるから、式(1)を考慮しても端面反射によ
る逸出光の差も極めて少なく、結局クラツド層に
入射しているのかコアに入射しているのか判別す
ることが困難で、コア軸を一致させることが非常
に困難になる。
(3) 発明の目的
本発明の目的は、このような従来技術の問題点
を解消して、容易かつ高精度に接続すべき光フア
イバの各コアの軸合せを行うことができる光フア
イバコアの軸合せ方法を提供することにある。
を解消して、容易かつ高精度に接続すべき光フア
イバの各コアの軸合せを行うことができる光フア
イバコアの軸合せ方法を提供することにある。
(4) 発明の構成
本発明による光フアイバコアの軸合せ方法は、
この目的を達成するため、コアを中心としてその
外側にクラツド層を有しさらに該クラツド層の外
側に少なくとも被覆層が順に配置されるように構
成された一対の光フアイバの相互接続に際し、接
続端側の被覆層を一部除去して突き合わせ各々の
コア軸を一致させる光フアイバコアの軸合わせ方
法において、 前記の一対の光フアイバのうちの一方の光フア
イバの非接続端側からコア内に発光素子からの光
を導入し、突き合わせ点で外一方の光フアイバの
コアから出射する光を前記の光フアイバのうちの
他方の光フアイバの端面から入射させ、前記被覆
層が除去された部分の空気に囲まれた前記クラツ
ド層内に閉じ込められて伝搬していくクラツドモ
ード光が、前記被覆層が施されている部分に達し
た後、前記被覆層を介して放射モードとなつて前
記他方の光フアイバ外へ漏洩する光を受光素子を
用いて検知し、前記一対の光フアイバのうち少な
くとも一方のコア軸に直交する面内で微動させ、
前記漏洩光の検知量が最小になる状態を検知して
前記一対の光フアイバの軸合せをすることを特徴
とする構成を有している。
この目的を達成するため、コアを中心としてその
外側にクラツド層を有しさらに該クラツド層の外
側に少なくとも被覆層が順に配置されるように構
成された一対の光フアイバの相互接続に際し、接
続端側の被覆層を一部除去して突き合わせ各々の
コア軸を一致させる光フアイバコアの軸合わせ方
法において、 前記の一対の光フアイバのうちの一方の光フア
イバの非接続端側からコア内に発光素子からの光
を導入し、突き合わせ点で外一方の光フアイバの
コアから出射する光を前記の光フアイバのうちの
他方の光フアイバの端面から入射させ、前記被覆
層が除去された部分の空気に囲まれた前記クラツ
ド層内に閉じ込められて伝搬していくクラツドモ
ード光が、前記被覆層が施されている部分に達し
た後、前記被覆層を介して放射モードとなつて前
記他方の光フアイバ外へ漏洩する光を受光素子を
用いて検知し、前記一対の光フアイバのうち少な
くとも一方のコア軸に直交する面内で微動させ、
前記漏洩光の検知量が最小になる状態を検知して
前記一対の光フアイバの軸合せをすることを特徴
とする構成を有している。
本発明方式により単一モード光フアイバの場合
で融着接続損失は平均1.5dB程度を達成すること
ができる。
で融着接続損失は平均1.5dB程度を達成すること
ができる。
以下、本発明を詳細に説明する。
（発明の原理）
第３図ａに本発明の原理の説明図を示す。本図
は一対の光フアイバのコアを軸合せして相互接続
する場合における接続所望の点の光フアイバの長
手方向の断面を示す。コア３の軸Ａ，A′がずれ
ている場合、コア３内を伝搬してきた光は接続所
望の点の間〓で放射し、一部は他方の光フアイバ
のクラツド層２′へ多モードとなつて導波され、
一部はコア３′内へ導波される。クラツド層２′へ
導波されて伝搬していくクラツドモード光の一部
は、この第３図ａに示すように、被覆層１′の屈
折率がクラツド層２′の屈折率より大きいため容
易に被覆層１′へ抜け出す。また、被覆層１′の屈
折率は空気の屈折率より大きいことから被覆層モ
ードが伝搬していくかにみえるが、被覆層はコア
やクラツドのように、純度の極めて高い素材では
なく不純物を含んでいるので、多くの散乱中心を
有し、被覆層内であらゆる方向に散乱光を生じさ
せる。これらの光は放射モードとなつて光フアイ
バ心線外へ漏洩する。特に被覆層１′とクラツド
層２′の境界でマイクロベンドや境界面の不均一
性がある場合、容易に漏洩する。一方、コア３，
３′の軸Ａ，A′が一致している場合、間〓で放射
した光はクラツド層２′よりもコア３′内へ多く導
波され、漏洩することなくほとんど光フアイバの
長手方向に伝搬していく。従つて、受光器９とレ
ベルメータ１０で漏洩光１１を監視しながら、光
フアイバの軸に交差する方向、例えば軸に直交す
る方向にコア３，３′の軸Ａ，A′を微動させる
と、コア３，３′の軸Ａ，A′が一致した時漏洩光
１１の検出レベルは最小となる。そこで、この最
小値を追跡しながら光フアイバを微動させること
により、コア３，３′の軸Ａ，A′の一致を得るこ
とができる。
は一対の光フアイバのコアを軸合せして相互接続
する場合における接続所望の点の光フアイバの長
手方向の断面を示す。コア３の軸Ａ，A′がずれ
ている場合、コア３内を伝搬してきた光は接続所
望の点の間〓で放射し、一部は他方の光フアイバ
のクラツド層２′へ多モードとなつて導波され、
一部はコア３′内へ導波される。クラツド層２′へ
導波されて伝搬していくクラツドモード光の一部
は、この第３図ａに示すように、被覆層１′の屈
折率がクラツド層２′の屈折率より大きいため容
易に被覆層１′へ抜け出す。また、被覆層１′の屈
折率は空気の屈折率より大きいことから被覆層モ
ードが伝搬していくかにみえるが、被覆層はコア
やクラツドのように、純度の極めて高い素材では
なく不純物を含んでいるので、多くの散乱中心を
有し、被覆層内であらゆる方向に散乱光を生じさ
せる。これらの光は放射モードとなつて光フアイ
バ心線外へ漏洩する。特に被覆層１′とクラツド
層２′の境界でマイクロベンドや境界面の不均一
性がある場合、容易に漏洩する。一方、コア３，
３′の軸Ａ，A′が一致している場合、間〓で放射
した光はクラツド層２′よりもコア３′内へ多く導
波され、漏洩することなくほとんど光フアイバの
長手方向に伝搬していく。従つて、受光器９とレ
ベルメータ１０で漏洩光１１を監視しながら、光
フアイバの軸に交差する方向、例えば軸に直交す
る方向にコア３，３′の軸Ａ，A′を微動させる
と、コア３，３′の軸Ａ，A′が一致した時漏洩光
１１の検出レベルは最小となる。そこで、この最
小値を追跡しながら光フアイバを微動させること
により、コア３，３′の軸Ａ，A′の一致を得るこ
とができる。
なお、被覆層１′からの漏洩光１１の量は、接
続所望点から離れるに従つて指数函数的に減少す
ることが実験的に確かめられているので、その測
定は接続所望点の近傍で行うのが望ましい。この
漏洩光１１対距離ｘとの関係を第３図ｂに示す。
この第３図ｂは、使用波長1.3μｍ、中継器間隔
（入射光源から接続点までの距離）50Km、光フア
イバ損失0.5dB／Km、入射光源の出力レベル−
5dBｍ、コア軸のずれによる損失−20dBにおけ
る被覆層１′からの漏洩光１１対距離ｘの関係を
求めた計算結果であり、約32cm以降で漏洩光１１
がほぼ0dBとなつている。この図から漏洩光１１
のレベルが極めて小さいことがわかる。
続所望点から離れるに従つて指数函数的に減少す
ることが実験的に確かめられているので、その測
定は接続所望点の近傍で行うのが望ましい。この
漏洩光１１対距離ｘとの関係を第３図ｂに示す。
この第３図ｂは、使用波長1.3μｍ、中継器間隔
（入射光源から接続点までの距離）50Km、光フア
イバ損失0.5dB／Km、入射光源の出力レベル−
5dBｍ、コア軸のずれによる損失−20dBにおけ
る被覆層１′からの漏洩光１１対距離ｘの関係を
求めた計算結果であり、約32cm以降で漏洩光１１
がほぼ0dBとなつている。この図から漏洩光１１
のレベルが極めて小さいことがわかる。
（実施例）
第４図に本発明の実施例を示す。光フアイバ融
着接続器８の近傍からの漏洩光１１を受光器９に
て受け、レベルメータ１０にてそのパターンを監
視し、漏洩光１１の受光レベルが最少になるよう
に軸微動形光フアイバ融着接続器８のフアイバ装
着台４を微動させ、光フアイバのコア軸を合せ
る。
着接続器８の近傍からの漏洩光１１を受光器９に
て受け、レベルメータ１０にてそのパターンを監
視し、漏洩光１１の受光レベルが最少になるよう
に軸微動形光フアイバ融着接続器８のフアイバ装
着台４を微動させ、光フアイバのコア軸を合せ
る。
第５図に本発明の他の実施例を示す。受光部に
おける２つ割のリング状の筒内の内壁に受光素子
のアレイを配置し、受光器９の高感度化を施した
構成となつている。なお、リング状の筒の直径Ｒ
を小さくするか、さらに長さｌを長くすることに
より高感度の受光器９を構成することができる。
また板状に配置した受光素子のアレイを２枚重ね
合せても同様の効果を生じる。さらに、受光素子
のアレイを融着装置のフアイバ保持機構に内装し
てもよい。
おける２つ割のリング状の筒内の内壁に受光素子
のアレイを配置し、受光器９の高感度化を施した
構成となつている。なお、リング状の筒の直径Ｒ
を小さくするか、さらに長さｌを長くすることに
より高感度の受光器９を構成することができる。
また板状に配置した受光素子のアレイを２枚重ね
合せても同様の効果を生じる。さらに、受光素子
のアレイを融着装置のフアイバ保持機構に内装し
てもよい。
第６図に本発明の他の実施例を示す。本例で
は、受光部に内壁が完全拡散面になつている球面
光束計１２を用いた漏洩光１１を広範囲で受け、
球の一側面に設けた小窓に装着された受光器９に
て効率よく漏洩光１１を検出する構成となつてい
る。
は、受光部に内壁が完全拡散面になつている球面
光束計１２を用いた漏洩光１１を広範囲で受け、
球の一側面に設けた小窓に装着された受光器９に
て効率よく漏洩光１１を検出する構成となつてい
る。
第７図に本発明の他の実施例を示す。本例で
は、光源６を変調信号発生器１３により変調し、
ロツクインアンプ１４にて同期検波を行い受光系
のＳ／Ｎを上げる構成となつている。これは光源
６から接続点までの光フアイバ７の長さが長くそ
の光損失が大きい時に特に有効である。
は、光源６を変調信号発生器１３により変調し、
ロツクインアンプ１４にて同期検波を行い受光系
のＳ／Ｎを上げる構成となつている。これは光源
６から接続点までの光フアイバ７の長さが長くそ
の光損失が大きい時に特に有効である。
第８図は第７図の実施例を実際に構成し、第１
図におけるＸ軸を固定し、Ｙ軸方向に第７図にお
けるフアイバ装着台４を微動させて得られた漏洩
光１１の検出パターンである。本図に示すように
コア軸が一致した時、漏洩光の受光レベルは最小
になることから、この最小点を追跡しながらフア
イバ装着台を微動させ、コア軸を一致させ得る。
図におけるＸ軸を固定し、Ｙ軸方向に第７図にお
けるフアイバ装着台４を微動させて得られた漏洩
光１１の検出パターンである。本図に示すように
コア軸が一致した時、漏洩光の受光レベルは最小
になることから、この最小点を追跡しながらフア
イバ装着台を微動させ、コア軸を一致させ得る。
第９図は、第７図の実施例に基づき、コア径、
クラツド径、被覆径がそれぞれ10μｍ、125μｍ、
0.9mmの通常の単一モード光フアイバを100回融着
接続を行つた場合の融着接続損失のヒストグラム
であり、平均値は0.16dBを示しており、高精度
の接続ができることを示している。
クラツド径、被覆径がそれぞれ10μｍ、125μｍ、
0.9mmの通常の単一モード光フアイバを100回融着
接続を行つた場合の融着接続損失のヒストグラム
であり、平均値は0.16dBを示しており、高精度
の接続ができることを示している。
実際の光海底ケーブルの布設、障害修理時には
光源６として接続作業点の直近の中継器LDを使
用することが可能である。
光源６として接続作業点の直近の中継器LDを使
用することが可能である。
次に、本発明により軸合せして融着接続された
光フアイバの接続点の接続損失を評価する方法の
１例につき説明する。
光フアイバの接続点の接続損失を評価する方法の
１例につき説明する。
第１０図に本発明により実施された接続点を示
している。融着接続点１５において、コア３を伝
搬してくる入射光１６のパワをPio、透過光１７
のパワをP0、融着点１５及びその近傍からフア
イバ外へ出る放射光１８のパワPrとすると、接続
点１５での損失パワは（Pio−P0）となり、この
損失パワと放射光のパワの関係を一次式で表す
と、 Pr＝Ｋ（Pio−P0）０＜Ｋ＜１ ……(2) となり、両辺をPioで除して P0／Pio＝１−１／Ｋ・Pr／Pio ……(3) を得る。ここで、Ｋは光フアイバの種類と受光系
により異なるので、予め同種の光フアイバを用
い、実測によりP0／PioとPr／Pioの関係を求めて
おく。第１１図に、P0／Pio、Pr／Pioが(2)式の関
係で表された場合を示している。
している。融着接続点１５において、コア３を伝
搬してくる入射光１６のパワをPio、透過光１７
のパワをP0、融着点１５及びその近傍からフア
イバ外へ出る放射光１８のパワPrとすると、接続
点１５での損失パワは（Pio−P0）となり、この
損失パワと放射光のパワの関係を一次式で表す
と、 Pr＝Ｋ（Pio−P0）０＜Ｋ＜１ ……(2) となり、両辺をPioで除して P0／Pio＝１−１／Ｋ・Pr／Pio ……(3) を得る。ここで、Ｋは光フアイバの種類と受光系
により異なるので、予め同種の光フアイバを用
い、実測によりP0／PioとPr／Pioの関係を求めて
おく。第１１図に、P0／Pio、Pr／Pioが(2)式の関
係で表された場合を示している。
評価手順として、先ず融着前にPioを測定して
おき、Prを第１０図の受光器９で測定し、Pr／
Pioを求め、予め得られている第１１図のような
グラフを参照してP0／Pioを求め、融着点の損失
を検知する。接続損失は10log（P0／Pio）として
得られる。
おき、Prを第１０図の受光器９で測定し、Pr／
Pioを求め、予め得られている第１１図のような
グラフを参照してP0／Pioを求め、融着点の損失
を検知する。接続損失は10log（P0／Pio）として
得られる。
第１２図と第１３図に他の評価方法を示す。先
ず、第１２図に示すごとく、融着点への入射光１
６に相当するフアイバ端出射光１７ａを球面光束
計１２内で受け、Pioを測定する。ここで、球面
光束計１２は内面に完全拡散塗料を塗布した中空
球であり、球の一側面に設けた観測用の小窓に受
光器９を装着し測定する。又、高精度の測定を行
う場合には出射光１７ａが受光器９の受光素子に
直接入射しないように遮光板１９を入れ、直接光
をさえぎる。次に、第１３図に示すごとく、融着
接続が施された部分を球面光束計１２に入れ融着
点及びその近傍からの放射光１８のパワPrを測定
する。両測定値よりPr／Pioを求め、前述のよう
に予め同種のフアイバを実測して得られた参照グ
ラフを基に、P0／Pioを求め、対数をとり10log
（P0／Pio）から融着点の接続損失を把握すること
ができる。
ず、第１２図に示すごとく、融着点への入射光１
６に相当するフアイバ端出射光１７ａを球面光束
計１２内で受け、Pioを測定する。ここで、球面
光束計１２は内面に完全拡散塗料を塗布した中空
球であり、球の一側面に設けた観測用の小窓に受
光器９を装着し測定する。又、高精度の測定を行
う場合には出射光１７ａが受光器９の受光素子に
直接入射しないように遮光板１９を入れ、直接光
をさえぎる。次に、第１３図に示すごとく、融着
接続が施された部分を球面光束計１２に入れ融着
点及びその近傍からの放射光１８のパワPrを測定
する。両測定値よりPr／Pioを求め、前述のよう
に予め同種のフアイバを実測して得られた参照グ
ラフを基に、P0／Pioを求め、対数をとり10log
（P0／Pio）から融着点の接続損失を把握すること
ができる。
(5) 発明の効果
以上説明したように、本発明によれば、クラツ
ド層に導波された光の一部はリーク・モードとな
り、特に高次モードはクラツド層と被覆層の境界
面の不均一性、マイクロベンデイング等により容
易に光フアイバ外へ漏洩するため、強制的に光フ
アイバを曲げる必要もなく、漏洩光を検出するこ
とができ、その検出レベルを監視しながら精度良
く光フアイバのコア軸を合せ、低損失の融着接続
を完了することができる。特に、前述の従来方式
が適用不可能な場合、極めて有効な方法である。
ド層に導波された光の一部はリーク・モードとな
り、特に高次モードはクラツド層と被覆層の境界
面の不均一性、マイクロベンデイング等により容
易に光フアイバ外へ漏洩するため、強制的に光フ
アイバを曲げる必要もなく、漏洩光を検出するこ
とができ、その検出レベルを監視しながら精度良
く光フアイバのコア軸を合せ、低損失の融着接続
を完了することができる。特に、前述の従来方式
が適用不可能な場合、極めて有効な方法である。
第１図は光フアイバ融着接続器の接続機構部を
示す斜視図、第２図は従来のモニタ方式によるコ
ア軸合せ方法を説明するための系統図、第３図は
本発明の原理説明用断面図、第４図は本発明の一
実施例を示す系統図、第５図は本発明の他の実施
例を示す系統図、第６図は本発明の別の実施例を
示す系統図、第７図は本発明の他の実施例を示す
系統図、第８図は第７図の実施例に基づいて得ら
れた漏洩光の検出パターンを示す特性図、第９図
は第７図の実施例に基づいて単一モード光フアイ
バの融着接続を行つた時の接続損失のヒストグラ
ム、第１０図、第１２図及び第１３図は本発明方
法による軸合せの仕上り状態の評価を行う方法を
説明するための系統図、第１１図は第１０図、第
１２図及び第１３図における評価方法に用いられ
る特性図である。 １……被覆層、２……クラツド層、３……コ
ア、４……フアイバ装着台、５……放電用電極
棒、６……光源、７……被フアイバ心線、８……
光フアイバ融着接続器、９……受光器、１０……
レベルメータ、１１……漏洩光、１２……球面光
束計、１３……変調信号発生器、１４……ロツク
インアンプ、１５……接続点、１６……入射光、
１７……透過光、１７ａ……出射光、１８……放
射光。
示す斜視図、第２図は従来のモニタ方式によるコ
ア軸合せ方法を説明するための系統図、第３図は
本発明の原理説明用断面図、第４図は本発明の一
実施例を示す系統図、第５図は本発明の他の実施
例を示す系統図、第６図は本発明の別の実施例を
示す系統図、第７図は本発明の他の実施例を示す
系統図、第８図は第７図の実施例に基づいて得ら
れた漏洩光の検出パターンを示す特性図、第９図
は第７図の実施例に基づいて単一モード光フアイ
バの融着接続を行つた時の接続損失のヒストグラ
ム、第１０図、第１２図及び第１３図は本発明方
法による軸合せの仕上り状態の評価を行う方法を
説明するための系統図、第１１図は第１０図、第
１２図及び第１３図における評価方法に用いられ
る特性図である。 １……被覆層、２……クラツド層、３……コ
ア、４……フアイバ装着台、５……放電用電極
棒、６……光源、７……被フアイバ心線、８……
光フアイバ融着接続器、９……受光器、１０……
レベルメータ、１１……漏洩光、１２……球面光
束計、１３……変調信号発生器、１４……ロツク
インアンプ、１５……接続点、１６……入射光、
１７……透過光、１７ａ……出射光、１８……放
射光。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ コアを中心としてその外側にクラツド層を有
しさらに該クラツド層の外側に少なくとも被覆層
が順に配置されるように構成された一対の光フア
イバの相互接続に際し、接続端側の被覆層を一部
除去して突き合わせ各々のコア軸を一致させる光
フアイバコアの軸合わせ方法において、 前記の一対の光フアイバのうちの一方の光フア
イバの非接続端側からコア内に発光素子からの光
を導入し、突き合わせ点で該一方の光フアイバの
コアから出射する光を前記の光フアイバのうちの
他方の光フアイバの端面から入射させ、前記被覆
層が除去された部分の空気に囲まれた前記クラツ
ド層内に閉じ込められて伝搬していくクラツドモ
ード光が、前記被覆層が施されている部分に達し
た後、前記被覆層を介して放射モードとなつて前
記他方の光フアイバ外へ漏洩する光を受光素子を
用いて検知し、前記一対の光フアイバのうち少な
くとも一方をコア軸に直交する面内で微動させ、
前記漏洩光の検知量が最小になる状態を検知して
前記一対の光フアイバの軸合せをすることを特徴
とする光フアイバコアの軸合せ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13513082A JPS5926711A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 光フアイバコアの軸合せ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13513082A JPS5926711A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 光フアイバコアの軸合せ方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5926711A JPS5926711A (ja) | 1984-02-13 |
| JPH0357450B2 true JPH0357450B2 (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=15144509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13513082A Granted JPS5926711A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | 光フアイバコアの軸合せ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926711A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5926594A (en) * | 1994-08-31 | 1999-07-20 | Litton Systems, Inc. | System and method for aligning and attaching optical fibers to optical waveguides, and products obtained thereby |
| US5559915A (en) * | 1995-04-13 | 1996-09-24 | Lucent Technologies Inc. | Apparatuses and methods for aligning an optical fiber array with an optical integrated circuit assembly |
| FR2808093B1 (fr) * | 1999-09-29 | 2002-08-16 | Corning Inc | Procede d'alignement de faisceaux lumineux |
| WO2001081961A2 (en) * | 2000-04-25 | 2001-11-01 | Standard Mems, Inc. | Method for aligning optical components |
| DE102005021119A1 (de) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | CCS Technology, Inc., Wilmington | Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung einer Dämpfung an einer Verbindungsstelle zweier optischer Fasern |
| JP2007225961A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバの接続方法 |
| DE102008027314A1 (de) * | 2008-01-11 | 2009-07-16 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Ankopplung eines Lichtwellenleiters an eine Licht ermittierende oder Licht führende Komponente |
| JP7191812B2 (ja) * | 2019-12-26 | 2022-12-19 | 株式会社Ｋｄｄｉ総合研究所 | 光ファイバの融着接続装置及び融着接続方法 |
| US20230408770A1 (en) * | 2021-01-19 | 2023-12-21 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical waveguide element and optical axis adjustment method |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4831964A (ja) * | 1971-08-29 | 1973-04-26 | ||
| JPS5087338A (ja) * | 1973-12-03 | 1975-07-14 |
-
1982
- 1982-08-04 JP JP13513082A patent/JPS5926711A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4831964A (ja) * | 1971-08-29 | 1973-04-26 | ||
| JPS5087338A (ja) * | 1973-12-03 | 1975-07-14 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5926711A (ja) | 1984-02-13 |
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