JPS6085351A - 光フアイバの検査ライン - Google Patents

光フアイバの検査ライン

Info

Publication number
JPS6085351A
JPS6085351A JP15880083A JP15880083A JPS6085351A JP S6085351 A JPS6085351 A JP S6085351A JP 15880083 A JP15880083 A JP 15880083A JP 15880083 A JP15880083 A JP 15880083A JP S6085351 A JPS6085351 A JP S6085351A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fiber
optical fiber
stage
holder
measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP15880083A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0354288B2 (ja
Inventor
Katsuji Sakamoto
勝司 坂本
Akio Oota
明夫 太田
Yuichi Toda
戸田 祐一
Shuzo Suzuki
鈴木 修三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP15880083A priority Critical patent/JPS6085351A/ja
Publication of JPS6085351A publication Critical patent/JPS6085351A/ja
Publication of JPH0354288B2 publication Critical patent/JPH0354288B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分11− ) 光ファイバの各種伝送特性の自動測定装置に関するもの
である。−例としてマルチモードファイバの測定につい
て述べると、測定す、へき項目としては、損失、帯域、
構造等があるが、本発明は損失、帯域等光ファイバへ入
射した光と一方の端より出射された光との関係を計測す
る必要のある測定項目の自動測定に関するものである。
(従来技術とその問題点) 第1図に従来の測定装置の概念図を示す。1゜2は、測
定するファイバの両端3,4を保持し、測定器側のファ
イバ5.6とそれぞれ端面を突合わせ、かつ調心する機
能を持つル11心台である。7゜8は測定器側のファイ
バ5.6の端を固定するホルダである。7′は測定器の
本体、8′は光源である。
これらの装置は図示していない定盤に組込まれ一つのユ
ニットを形成しているのか普通である。9はtt測定フ
ァイバを巻いたボビンである。以上説明した装置にて1
つの測定項目A(例えば損失)を測定し、次に項目B2
項目Cとボビン9を人手で移し替えて測定する。まず、
光フアイバ両端の処理(被覆除去およびファイバ切断)
を行った後、調心台1および2にセットする。測定器側
のファイバ5.6は予めセットされているのでそのファ
イバ端面に測定するファイバ3,4の端面を突合わせ、
軸心を調節する。軸心の調節は調心台1゜2の図示して
いない調心装置により行うが、これは例えば市販のXY
Z3方向微動台にて行う場合と、これを自動的に行う場
合がある。次に従来の方法の欠点を述べる。/項目の測
定を時間の尺度でみると、まず人が作業する時間と、機
械が作業している時間に分けられる。前者はファイバの
端面処理と調心台へのセット測定後のファイバ取外しで
、後者は実際はシ躬定器が動き、またそのデータを処理
している時間である。
通常前者と後者はほに同じ時間を必要とする。
従って7人が作業できる測定項目は、計算上2項目で、
これで人の稼動率および機械の稼動率が最大になる。つ
まり7人で作業できる11111定項目が少ない欠点が
ある。
(発明の構成と実施例) 第2図に本発明の構成図、第3図〜第7図に本発明の重
要装置である調心装置の実施例を示して本発明の詳細な
説明する。
第2図において10.10’・・・i o ”’は元フ
ァイバのボビンである。その光ファイバの両端の一方1
1〜11 ”″はそれぞれボビン側ファイバホルダ13
〜13 に保持されており、他方の12〜12″″はや
はり別のファイバホルダ14〜14 ”″に保持されて
いる。
こ\では13〜13 は光入射側ボルダ、14〜14″
″は光出射側ホルダである。この両ホルダは、15〜i
 s””で示すキャリアに乗っており、矢印イで示す方
向に/ステップずつ進むように、図示していないコンベ
ヤ装置により移動できる。それにつれてボビン10〜1
0 も、図示していないコンベヤ装置ニより矢印口で示
す方向に/ステップずつ進む。また16′〜16″″ 
および17′〜17JL/+は測定器側の光ファイバ1
8′〜1C″および19′〜19″”を保持するホルダ
で、16〜16は受光側、17〜17 は光源側のファ
イバを保持するホルダである。光ファイバ18″は測定
器20に、18は21に、同様に18は23に接続され
ている。測定器21 、22 、23はそれぞれの項目
を測定する。他方の光ファイバ19′〜19ot1は光
源24′〜24””に接続されている。光ファイバ18
〜18.19〜19の端25′〜25゛″′および26
′〜26”″はキャリヤ15′〜15″″の矢印イ、方
向の移動につれてキャリヤとの関係位置がそれぞれ相対
的に同じになるように位置しておく。29 、30はフ
ァイバ端27.28の位置決め用ストッパである。受光
側のファイバホルダ16〜16および光源側ホルダ17
〜17 はファイバ軸に対し直角方向!方向に移動でき
る後述する調心機構を有している。
31〜31 および32〜32 はそれぞれその調心機
構ヲコントロールするコントローラーで、前者ハ光源側
のファイバホルダ17〜17 を、後者は受光側のファ
イバホルダ16′〜16″″を調心する。A−Eはそれ
ぞれの動作ステージを示し、Aは測定するファイバをセ
ットするステージ、B、C,D、Eはそれぞれの項目を
測定するステージである。まずセットステージAでは、
人の手で光ファイバの端をファイバホルダ13.14に
セットする。その際、ファイバストッパ29 、30に
ファイバ端面27 、28を突当てるようにしてセット
する。つまりファイノく端面はキャリヤ15に対し一定
の位置に位置決めされる。次にキャリヤ15は図示して
いなl)レール上をステージBへ移動する。同時にキャ
リヤ15′〜はファイバ111n+ 、 127///
をホルダノ3w+ 、 14////より図示していな
い装置により外した後、矢印ノ・に示すようにステージ
Aに移る。それにつれてボビン10〜10 はそれぞれ
B、C,Dと順次送られる。次に測定器側ファイバとボ
ビン側ファイバの端面同志の調心について説明する。ス
トツノ< 29 、30によりファイバ軸方向の位置を
決められたボビン側ファイバ11’、12’は次のステ
ージBに到達した時、キャリヤ15′はレールに乗って
ファイバ軸方向の位置が決められており、ホルダ13 
、14はキャリヤ15′の上で一定の位置であるから、
ファイバ端27’、 28’は図示していないレールに
対し2、ファイバ軸方向の位11う:か一定である。
従って一定位置にある測定器側のファイバ端25′と2
6′とボビン側ファイバ端27’、 28’はファイバ
軸方向(2方向)の位置関係が常に一定となり、設定し
たクリアランスを常に再現することができる。
次に調心コントローラ31 、32のコントロールニヨ
り測定器側ファイバホルダ16’、 17’が動作をし
、ファイバ端25’、 26’をファイバ軸と直角2方
向(XY方向)に微動することにより、対向するファイ
バ軸心の自動調節を行う。
調心コントローラ31′および32′はそれぞれ測定器
20の受光パワーを受けて、それが最大になるように作
動する。ファイバ軸方向および軸と直角な方向の位置合
わせが正確になされた後、測定が行われる。ステージB
での測定が終ると、ステージCに進み、以下鳩次位置合
わせと測定、およびステージAでのファイバセットが行
われ、ファイバセントと心合わせ測定、が同時上行して
進む。ステ2 E L T測定が完了後、ボビン側のフ
ァイバは図示してない装置により、ファイバホルダより
外され、ボビン10G?、次工程に進み、キャリト15
″″はステージAに戻る。
以上説明した方法によれは、/大の作業者で多項目の測
定ができる。つまり、すべてのステージにボビンがある
定常状態においては、/タクトですべての測定を完了し
たボビンが/個出てくることになり、これは、測定項目
の多少に関係ない。
従来の方法では2項目が限度であるが、本方法によれば
7人当りの測定項目ひいては7人当りの測定能力が飛躍
的に向上する。
次に、心合わせ機構の実施例について説明する。
第3図〜第4図はステージAつまりファイバをセントす
るステージを示す。15はキャリヤで2本のレール50
 、51にて支持され、移動できる。52はキャリヤの
位置決め用ストッパで、レール軸方向の位置ヲ決める。
13.14はボビン側ファイバのホルダで、光ファイバ
のガラス部分を支持する。通常この部分はv壕形状を成
していてファイバを乗せると、ファイバの軸直角方向の
位置が決まる。
55 、56は光ファイバのvM部を支持する台で、5
7゜58はその被覆部えであり、キャリヤ15に対しフ
ァイバ軸方向の移動ができるようになっている。53゜
54はその調節用ノブである。従ってノブ53 、54
によりファイバの’l:6面27.28をファイバスト
ツノ<29゜30に当るように調節することにより、フ
ァイノく軸方向(2方向)の位置が決まり、結局ファイ
ノく端面の位置が決まる。次に第5図〜第7図により、
ステージB以降のステージについて構造を説明する。第
5図は平面図、第6図は側面図、第7図は第6図のa 
−a断面図である。15はキャリヤで前述したものであ
る。16 、17は測定器側のファイバホルダで光ファ
イバのガラス部を保持し、ボビン側と同じ構造である。
59.60.61 、 G2は光ファイバの被覆部を押
える部品である。63 、64 、65 、66はその
ピストン67 、68 、69 、70がそれぞれ矢印
ノ・方向に移動するアクチュエータで、バネ71,72
,73゜74の圧縮変位を変える。72.74の他端は
軸75 、76に回転自由のレバー77 、78を押し
、レバーの他端はホルダの側面を押すように作用する。
また同様にバネ71.73の変位を変えることにより町
ルダの下面を押すように作用する。つまり、ホルダを!
方向から押すことにより、光ファイバ端25 、26′
を軸と直角一方向に変位することかできる。つまりバネ
の圧縮量を変えると、バネ圧力が変るのでホルダの変形
量が変り、最終的にファイバの位置が変る。
本実施例においては、測定器側ホルダにて、ファイバ軸
と直角の方向の位置自動調節を行っているので、測定の
/タクト毎に移動する測定端のファイバホルダ13’、
14’は心合わせ動作が不要であり、可動部が少なく、
移動の際、ファイバの位置精度を低下させる要素が少な
く、高精度を維持するのに効果的であるが、装置全体の
構成において移動側のファイバホルダ13’、 14’
の方を動かせて調心する方が有利な場合には13’、 
14’を動かせても良く、要は自動的に調心でさるもの
であればよい。
また、本実施例では測定側ファイバホルダを!方向に動
かす方法を示したが、これも装置斤全体の構成において
たとえば測定器側ホルダは、上下方向ファイバ側ホルダ
は横方向というようにこの移動方向を分割してもかまわ
ない。
(発明の効果) 従来の測定方法では測定項目2項目が限度であるが、本
発明では1人当りの測定項目、ひいては7人当りの測定
能力が飛躍的に向上するのが大きな効果である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の光ファイバの特性測定装置の説明図、第
2図は本発明の測定装置の構成説明図。 第3図〜第7図は本発明の重要装置である調心装置の実
施例説明図で、第3図、第4図はステージ八つまりファ
イバをセットするステージの説明図でそれぞれ平面図、
側面図、第5図〜第7図はステージB以降のステージに
ついての構造説明図で、第5図は平面図、第6図は側面
図、第7図は第6図のa −a断面図である。 1.2・・・調心台、3,4・・・測定するファイバの
両端、5,6・・・測定器側ファイバの端面、7,87
′・・・測定器本体、′8′・・・光源、9・・・被測
定側ファイバ、10.10〜10 ・・・光ファイバの
ボビン、ii、ii’〜11 ・・・光ファイバの一端
、12.12’〜12”・光ファイバの他端、13〜1
3 ・・・光ファイバ11〜i i ′’のホルダ(光
入射側)、14〜14″″・・・光ファイバ12〜12
 のホルダ(光出射側)、15〜15 ・・・キャリヤ
、16〜16 ・・・受光側ファイバホルダ、17′〜
171111・・・光源側ファイバホルダ、18〜18
 ・・・ホルダ161〜I G ””に保持される光フ
ァイバ、19′〜19″″・・ホルタ17〜17 に保
持される光ファイバ、20,21.22゜23・・・測
定器、24′〜24″”・光源、25′〜25″″・・
光ファイバ18〜18の端、26〜26 ・・・光ファ
イバ19′−19の端、27・・・光ファイバ11の端
、28・・・光ファイバ12の端、29.30・・・光
フアイバ端位置決め用ストッパ、31′〜31”、 3
2’〜32″″・・・モータコントローラ、50 、5
1・・・レール、52・・・キャリヤ位置決め用ストソ
バ、53,54・・・調節用ノブ、55.56・・・光
ファイバの被覆部を支持する台、57.58・・・被覆
部え、59 、60 。 61 、62・・・被覆部を押える部分、63 、64
 、65 、66・・アクチュエータ、67.68,6
9.70・・・ピストン、71゜72 、73 、74
・・・バネ、75 、76・・・軸、77、γ8・・・
回転自由のレバー。 官3図 著4図 第5図 0ト、−15 77図 f:)4 63 6566

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光ファイバの特性測定において、光ファイバのセッ
    トステージおよび測定ステーシラ1llfj次配置し、
    測定する光ファイバを保持するファイバホルダを載せた
    キャリアを順次循環的に移動し、測定器側ファイバホル
    ダおよび被測定ファイバホルダにセットされた両ファイ
    バの軸心を2方向に自動的に移動させることにより心合
    わせさせ、もって所望の特性の測定を行うことを特徴と
    する光ファイバの特性測定装置。 2.2方向の軸合わせはファイバを保持する部分をバネ
    による圧縮力で変形させて行う構造であり、且つ同一の
    部分を異なった方向に押すことにより光ファイバの軸に
    対して方向の変位を生じさせて行うことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の光ファイバの特性測定装置。
JP15880083A 1983-08-29 1983-08-29 光フアイバの検査ライン Granted JPS6085351A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15880083A JPS6085351A (ja) 1983-08-29 1983-08-29 光フアイバの検査ライン

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15880083A JPS6085351A (ja) 1983-08-29 1983-08-29 光フアイバの検査ライン

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6085351A true JPS6085351A (ja) 1985-05-14
JPH0354288B2 JPH0354288B2 (ja) 1991-08-19

Family

ID=15679624

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15880083A Granted JPS6085351A (ja) 1983-08-29 1983-08-29 光フアイバの検査ライン

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6085351A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61102534A (ja) * 1984-10-25 1986-05-21 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの特性測定装置
JPS61155935A (ja) * 1984-12-28 1986-07-15 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの特性測定方法およびその装置
US4685799A (en) * 1986-01-13 1987-08-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Integrated optical time domain reflectometer/insertion loss measurement system
JPS62197740A (ja) * 1986-02-25 1987-09-01 Sumitomo Electric Ind Ltd 光ファイバ特性の測定装置
US4714343A (en) * 1985-04-15 1987-12-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Optical fiber characteristic measurement
JPS63183532U (ja) * 1987-05-20 1988-11-25
EP1184654A2 (en) * 2000-08-31 2002-03-06 Ando Electric Co., Ltd. Optical component measurement apparatus and method of testing optical component

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5326815A (en) * 1976-08-25 1978-03-13 Noda Plywood Mfg Co Ltd Method of manufacturing panels of building materials
JPS5337650U (ja) * 1976-09-08 1978-04-03

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5326815A (en) * 1976-08-25 1978-03-13 Noda Plywood Mfg Co Ltd Method of manufacturing panels of building materials
JPS5337650U (ja) * 1976-09-08 1978-04-03

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61102534A (ja) * 1984-10-25 1986-05-21 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの特性測定装置
JPS61155935A (ja) * 1984-12-28 1986-07-15 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの特性測定方法およびその装置
JPH0354773B2 (ja) * 1984-12-28 1991-08-21
US4714343A (en) * 1985-04-15 1987-12-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Optical fiber characteristic measurement
US4685799A (en) * 1986-01-13 1987-08-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Integrated optical time domain reflectometer/insertion loss measurement system
JPS62197740A (ja) * 1986-02-25 1987-09-01 Sumitomo Electric Ind Ltd 光ファイバ特性の測定装置
JPH0364815B2 (ja) * 1986-02-25 1991-10-08 Sumitomo Electric Industries
JPS63183532U (ja) * 1987-05-20 1988-11-25
JPH0346351Y2 (ja) * 1987-05-20 1991-09-30
EP1184654A2 (en) * 2000-08-31 2002-03-06 Ando Electric Co., Ltd. Optical component measurement apparatus and method of testing optical component
EP1184654A3 (en) * 2000-08-31 2004-06-02 Ando Electric Co., Ltd. Optical component measurement apparatus and method of testing optical component

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0354288B2 (ja) 1991-08-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6085351A (ja) 光フアイバの検査ライン
JPH02131849A (ja) 円筒研磨装置
JPH09113759A (ja) 光結合系の整列装置及び光結合系の形成方法
US4637761A (en) Automated tool positioning system
CN210817953U (zh) 一种基于扫描振镜的五轴激光微加工装置
US5619783A (en) Method for setting cutting tool
KR900008299B1 (ko) 광파이버 특성의 측정방법 및 장치
JPS638609B2 (ja)
US2827699A (en) Apparatus for the repeated settings of one or several movable machine parts, such asthe work-tables of machine tools
JPH01303359A (ja) 2次元運動機構
JP2709622B2 (ja) レンズの加工方法およびそれに用いるレンズ接着装置
JPH0454191Y2 (ja)
JP2659978B2 (ja) 移動テーブル装置
JPH0355157A (ja) ロッド研磨装置
JPH03180706A (ja) 多線の外径測定装置
JPH0446475B2 (ja)
JPH01154892A (ja) レーザ加工用ビームベンダ
JPS62296116A (ja) 光デバイスの光軸調整方法
JPH04367324A (ja) 細径金属管の曲げ加工法と曲げ加工装置
JP2562249Y2 (ja) セラミックフェルールの端面加工装置
JPH0583355B2 (ja)
JPS57149148A (en) Method and equipment for manufacturing lens or the like
JP3343188B2 (ja) 微小部品用パレット及びそれを用いた作業装置
JPS62229108A (ja) 二軸の位置決め装置
GB2073629A (en) Machine tool for making a jewel or gem setting