JPS61102534A - 光フアイバの特性測定装置 - Google Patents

光フアイバの特性測定装置

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JPS61102534A
JPS61102534A JP59223011A JP22301184A JPS61102534A JP S61102534 A JPS61102534 A JP S61102534A JP 59223011 A JP59223011 A JP 59223011A JP 22301184 A JP22301184 A JP 22301184A JP S61102534 A JPS61102534 A JP S61102534A
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JP
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optical fiber
measured
holders
moving stage
measuring instrument
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JP59223011A
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Takashi Ide
井出 貴史
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers

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  • Surface Treatment Of Glass Fibres Or Filaments (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ファイバ特、性測定装置に関する。
更に詳細には、本発明は、伝送損失、伝送帯域等の多項
目にわたる測定を自動的にかつ連続して測定するための
光ファイバ特性測定装置に関する。
従来技術 光ファイバの伝送特性には伝送損失、分散、伝送帯域等
があるが、特に伝送損失、伝送帯域の2つが光ファイバ
にとって重要な特性である。
従来、伝送損失は、被測定光ファイバを伝搬する光の減
衰量を直接測定する透過法や、被測定光ファイバ内で発
生するレイリー後方散乱光の減衰量を測定する後方散乱
法で測定され、一方、伝送帯域は透過法で測定されてい
る。そのいずれの測定においても、被測定光ファイバと
測定器側光ファイバとの結合を行なわなければならない
(例えば、福富秀雄著「光ファイバケーブル」 (昭和
58年7月10日オーム社発行、255〜302頁)。
従って、被測定光ファイバと測定器側光ファイバとの良
好な結合が実現できるかどうかが、光ファイバ特性測定
装置が正確且つ効率的に測定できるかに影響する。添付
図面の第8図は、透過法を使用した従来の光ファイバ特
性測定装置の構成を例示する概略構成図である。
第8図において、調心台1八〜lc及び2八〜2Cは、
被測定光ファイバの両方の端部3.4をそれぞれ保持し
、該両端を測定器側光ファイバ5A〜5C及び6A〜6
Cの端面と突き合わせ、かつ調心する。それら測定器側
光ファイバ5A〜5C及び6A〜60の一方の端は、ホ
ルダ7八〜7C及び8A〜8Cに保持されており、また
、測定器側光ファイバ5A〜5Cの他端は、光検出器7
°A〜7“Cに接続され、測定器側光ファイバ6A〜6
Cの他端は光源8’A〜8’Cに接続されている。
これらは普通、定盤(図示されていない)に組込まれ一
つの装置を形成している。なお、参照番号9は被測定光
ファイバを巻いたボビンを示している。
以上に説明した従来の装置は、次のように使用して測定
が行われる。
すなわち、まず、被測定光ファイバの両端を処理(被覆
除去およびファイバ切断)した後に、調心台IA及び2
Aにセットする。次いで、被測定光ファイバの両端3及
び4の端面を、ホルダ7A及び8Aにセットされている
測定器側光ファイバ5A及び6AAの端面に突き合わせ
、軸心を調節する。この調節は、調心台IA及び2Aに
備えられている調心装置(図示されていない)により、
被測定光ファイバをその軸方向すなわちZ方向に微小変
位させ、また、被測定光ファイバをその軸方向と直角な
互いに直交した2方向すなわちXY方向に微小変位させ
ることにより行う。この調節は、例えば、市販のXYZ
3方向微動台で行う場合と、これを自動的に行う場合が
ある。そして、その調節が完了したら、光源8°Aから
の光を被測定光ファイバに入力させて、光検出器7°A
により被測定光ファイバ゛を伝播した光を測定させる。
か(して、1つの測定項目、例えば伝送損失をステーシ
ョン■で測定゛し、次いで、ボビン9を人手で移し替え
て、ステーション■、ステーション■で同様な操作を操
作者が行って、別の項目を順次測定していく。
発明が解決しようとする問題点 以上のような光ファイバ特性測定装置を使用しての被測
定光ファイバの特性測定では、被測定光ファイバの測定
器側光ファイバとの結合の準備としての被測定光ファイ
バの端面処理、調心台へのセット、結合、測定終了後の
ファイバの取外し等の人手を要する時間と、計器による
測定、データ処理に要する時間とがほぼ同じであるため
、1人が並行して処理きる測定項目はわずか2つとなり
、測定能率が極めて悪い。
そこで、本発明は、上述した従来技術の問題点を解消し
て、1人の操作者により2以上の測定項目を効率的に測
定できる光ファイバ特性測定装置を提供せんとするもの
である。
すなわち、本発明は、1人の操作者が順次被測定光ファ
イバをセットする一方、2以上の測定項目が並行して測
定できるようになされた光ファイバ特性測定装置を提供
せんとするものである。
問題点を解決するための手段 本発明によるならば、一直線に移動可能な移動ステージ
と、該移動ステージの移動方向に沿って配置されたセッ
トステーションと、前記移動ステージの移動方向に沿っ
て一直線状に且つ互いに等間隔に配置された測定器側光
ファイバホルダをそれぞれ有する複数の測定ステーショ
ンとを具備し、前記移動ステージには、該移動ステージ
の移動方向に、前記測定器側光ファイバホルダの配列方
向と並行な一直線状に且つ前記間隔と同じ間隔で配置さ
れた複数の被測定光ファイバホルダが設けられているこ
とを特徴とする光ファイバ特性測定装置が提供される。
九月 かかる構成を持つ本発明の元ファイバ特性測定装置にあ
っては、セットステーションにおいて、被測定光ファイ
バの端部を移動ステージ上の被測定光ファイバホルダに
セットすると、測定ステーションの測定器側光ファイバ
ホルダの間隔と移動ステージ上の被測定光ファイバホル
ダの間隔が同一であるので、移動ステージを移動するこ
とにより、上記被測定光ファイバの端部を測定ステーシ
ョンの測定器側光ファイバに順次結合させることができ
る。従って、複数の被測定測定光ファイバでも、セット
ステーションにおいて一回セットを行なえば、移動ステ
ージの送りによって順次測定ステーションで測定を行う
ことができる。
実施例 以下、添付図面を参照しながら、本発明の光ファイバ特
性測定装置の実施例を説胡する。
第1図は、本発明の光ファイバ特性測定装置の一実施例
の構成を示す概略図である。なお、第1図は、測定途中
の状態を示している。
第1図において、参照番号10A〜IOFは被測定光フ
ァイバのボビンを示しており、図示していない移動台上
にのせられている。各ボビン10 A −10Fに巻か
れている被測定光ファイバの一端HA〜11Fは、移動
ステージ15上に8個設けられた被測定光ファイバホル
ダ13〜13Gの内のホルダ13A〜13Fに保持され
、他端12A〜12Fは、同じ移動ステージ15上に8
個設けられた別の被測定光ファイバホルダ14〜14G
の内のホルダ14A〜14Fに保持されている。後に述
べる説明から明らかになるように、被測定光ファイバホ
ルダ13〜13Gは光出射側ホルダ、被測定光ファイバ
ホルダ14〜14Gは光入射側ホルダである。
移動ステージ15は、図示するように、細長い直線状を
している。そして、その移動ステージ15上の全被測定
光ファイバホルダ13〜13G及び14〜14Gは、そ
の移動ステージ15の長さ方向に沿って一直線に配置さ
れ、被測定光ファイバの両端を保持して対をなす光出射
側ホルダと光入射側ホルダ13と14.13Aと14A
〜13Gと14Gの間隔は、同一になされ、また、光出
射側ホルダ13〜13G相互の間隔も同一になされてい
る。従って、光入射側ホルダ14〜14G相互の間隔も
同一である。
移動ステージ15の被測定光ファイバボビンIOA〜I
OFと反対側には、測定器側光ファイバホルダ16〜1
6″及び17〜17″が、移動ステージ15上の被測定
光ファイバホルダ13〜13G及び14〜14Gの配列
方向と並行に一直線に配列されている。それら測定器側
光ファイバホルダ16〜16”及び17〜17”は、そ
れぞれ、測定器側光ファイバ18〜18”及び19〜1
9”の一端を保持している。測定器側光ファイバ18〜
18”の他端は、それぞれ光検出器20〜22に接続さ
れている。光検出器20〜22は、それぞれ割り当てら
れた測定項目の測定処理をする処理装置(図示されてい
ない)に接続されている。一方、測定器側光ファイバ1
9〜19”の他端は、光源24〜26に接続されている
。従って、測定器側光ファイバホルダ16〜16”は、
受光側光ファイバホルダ、測定器側光ファイバホルダ1
7〜17”は、光源側光ファイバホルダということがで
きる。
そして、上記した受光側光ファイバホルダと光”源側光
ファイバホルダ16と17、lfi’と17”、16”
と17”の間隔は、移動ステージ15上の光入射側ホル
ダと光出射側ホルダ13と14の間隔と同一になされ、
また、受光側光ファイバホルダ16〜16#の間隔は、
光出射側ホルダ13〜13G相互の間隔と同一になされ
ている。従って、光源側光ファイバホルダ17〜17”
の間隔は、光入射側ホルダ14〜14Gの間隔と同一で
ある。
移動ステージ15は、その移動ステージ15の長さ方向
に沿って矢印イで示す方向にコンベヤ装置(図示されて
いない)または操作者により移動させられ、そして、光
入射側ホルダ13〜13Gの間隔に対応する1ステップ
長さごとに停止させられるようになされている。
そのコンベヤ装置は、例えば、移動ステージをガイドに
沿って送る送りネジ機構とその送りネジを回転駆動する
可逆転パルスモータとで構成することができる。そのよ
うなパルスモータの駆動パルス数を適当に選ぶことによ
り送りネジを所定量回転させて、移動ステージを所定量
、すなわち1ステツプ量送ることができる。その移動ス
テージ15の移動につれて、ボビンIOA〜IOFをの
せた移動台も、別のコンベヤ装置(図示されていない)
または操作者により矢印イで示す方向に1ステツプずつ
進めることができる。
かくして、被測定光ファイバホルダ13〜13G及び1
4〜14Gに被測定光ファイバが正しくセットされ、測
定器側光ファイバホルダ16〜16”及び17〜17”
に測定器側光ファイバ18〜18”及び19〜19”が
正しくセットされるならば、測定器側光ファイバ18〜
18”及び19〜19”の端35〜35”及び36〜3
6′。
と、被測定光ファイバの端37A〜37F、38A〜3
8Fとは、極めて近接した、例えば10〜50μmの間
隔で互いに並行関係にある直線上にそれぞれ位置する。
第1図において見るならば、測定器側光ファイバホルダ
16の下方に、対をなす光出射側ホルダと光入射側ホル
ダ13と14の間隔と同一の間隔で、被測定光ファイバ
の先端を検出する光センサS及びS゛が配置されている
。更に、それら光センサS及びS′の下方に、対をなす
光出射側ホルダと光入射側ホルダ13と14の間隔と同
一の間隔で、被測足先ファイバのストッパ29及び30
が配置されている。
これら光センサS及びSo並びにストッパ29及び30
は、測定器側光ファイバホルダ16〜16”及び17〜
17”に正しくセットされた測定器側光ファイバ18〜
18”及び19〜19”の端35〜35”及び36〜3
6”を結ぶ直線上に位置するように配置され、また、受
光側光ファイバホルダ16と光センサSの間隔並びに光
センサSとストッパ29の間隔は、光出射側ホルダ13
〜13G相互の間隔と同一になされている。
従って、光源光ファイバホルダ17と光センサS。
の間隔並びにその先センサS゛とストッパ30の間隔は
、光入射側ホルダ14〜14G相互の間隔と同一である
以上のような光ファイバ特性測定装置において、ストッ
パ29及び30が配置されている所が第1セツトステー
シヨンAをなし、光センサS及びS”が配置されている
所が第2セツトステーシヨンBをなし、光検出器20.
21.22及び光源24.25.26がそれぞれ配置さ
れている所が測定ステーションC1D、Eをなし、その
測定ステーションEの上には、予備ステーションFSC
1,がある。
次に、被測定光ファイバホルダ及びそれに付属する部分
の説明する。しかし、ホルダ13〜13G及び14〜1
4Gの多対は、同一であるので、その一対のみを説明す
る。第2図は、第2セツトステーシヨンBにある被測定
光ファイバホルダ13B及び14Bを示す概略頂面図で
あり、その被測定光ファイバの軸方向の位置決めがなさ
れる状態を示しており、第3図は、その概略側面図であ
る。
移動台(図示されていない)に置かれたボビン10Aか
ら延びる被測定光ファイバの両端部11B及び12Bの
被覆部148.148′は、移動ステージ15上の被覆
部押さえ台152.152゛の上にのせられ、被覆部押
さえ154.154”によって押さえられる。この被覆
部押さえ台152.152′は、移動ステージ15上で
光ファイバ軸方向に可動に設けられている。
すなわち、この被覆部押さえ台152.152”は、支
持台156.156“によって回転自在に螺合支持され
た送りネジ軸158.158°によって被測定光ファイ
バの軸方向に移動できる。従って、この送りネジ軸15
8.158”が送り機構を構成しており、従って、ガタ
がないように特に精密加工されている必要がある。送り
ネジ軸158.158′の後端には脱着自在のカップリ
ング160.160”が設けられている。
カップリング160.160°は、第2セツトステーシ
ヨンに配置された駆動機構の駆動軸162.162′の
カップリング164.164゛と結合される。この駆動
軸162.162゛は、軸受166.166′により支
持され、減速比の大きな歯車伝達機構168.168′
によりモータ170.170′の回転が伝えられる。こ
れらが駆動機構を構成している。
被測定光ファイバの両端部11B、12Bの被覆部14
8.148′の先端部172及び172″は、被覆及び
コーティング層が除去され、清浄状態で別々に、第4図
に示すような断面形状を持つ■溝ブロック174.17
4°の■溝の底に置かれ、上部より押さえ176.17
6゛に滑動自在に押さえられる。■溝ブロック174.
174′の■溝及び押さえ176.176”は、精密な
加工が施されているので、被測定光ファイバ端面の位置
、方向精度は極めて高い。
上記構成により被測定光ファイバはその軸と直角な方向
においては拘束され、該軸方向と同一の方向にのみ移動
する。従って、■溝ブロック174.174′の■溝及
び押さえ176.176“は、被測定光ファイバ端部の
ホルダ13B及び14Bを構成しており、被測定光ファ
イバの両端を所定の間隔に保持する。
それ故、モータ170.170′を回転させると、その
回転により送りネジ軸158.158°が回転され、被
測定光ファイバ端部は、被測定光ファイバの軸方向のみ
に移動する。
第2セツトステーシヨンBの被測定測定光ファイバホル
ダ13B及び14Bの前方には、上述した光センサSS
S″が設けられてふり、これら光センサは、光源及び光
検出器(図示されていない)にそれぞれ結合された光出
射用光ファイバ178及び受光用光ファイバ180を有
している。これら光ファイバ178及び180は、第2
図及び第3図に示すように、被測定測定光ファイバホル
ダ13B及び14Bに保持さている被測定光ファイバの
軸線の延長上の一定位置に、該ファイバの軸線を互いに
挟むように位置している。
光ファイバ178及び180としては、コア径数十μm
のものを用いる。被測定光ファイバがそのコーティング
が除去された場合の直径は、単モード光ファイバの場合
100〜150μmであり、多モード光ファイバの場合
100〜250μmであるので、被測定光ファイバによ
り一光出射用光ファイバ178から出射し、受光用光フ
ァイバ180に入射する光ビームを完全に遮ることがで
きる。そして、光出射用光ファイバ178の端面から出
射する光は成る程度放散し、その光束の中央部分しか受
光用光ファイバ180に入射しない。従って、コア径数
十μmであっても、光ファイバ178及び180間の距
離を適当に選択することにより、実質的には光検出に使
用される光束の径は小さくすることができる。
更に、受光用光ファイバ180が接続された光検出器の
出力電圧が最大値の50%をスレッショルドレベルとし
て、出力電圧が最大値の50%以下になったとき遮光さ
れたと判断して処理すると、数μmの精度で軸方向の位
置決めができる。
、次に、第1図に示す光ファイバ特性測定装置の動作を
説明する。
まず、ホルダ13G及び14Gが第1セツトステーシヨ
ンAに位置するように、第1図において、移動ステージ
15を下方に位置付ける。その状態で、操作者は、被測
定光ファイバの両端をホルダ13G及び14Gにセット
する。その際、被測定光ファイバの先端をストッパ29
及び30に軽く当接させるか、または、極めて狭い間隔
離してセットする。かくして、その被測定光ファイバの
両端は、■溝ブロックの機能により、所定の間隔に位置
付けられ且つ光ファイバの軸に対して直角な互いに直交
するX及びY方向の位置付けがなされる。
ホルダ13G及び14Gへの被測定光ファイバのセット
が終了すれば、移動ステージ15を1ステツプすなわち
1ステ一シヨン間距離矢印イの方向に送り、ホルダ13
G及び14Gに保持されている被測定光ファイバの両端
を第2セツトステーシヨン已に位置付ける。
上記したように、被測定光ファイバホルダの多対におけ
るホルダの間隔、並びに、ストッパ29と30の間隔及
び光センサSとS”の間隔が、全て同一であり、また、
被測定光ファイバホルダの各対間の間隔、及び、ストッ
パ29及び光センサSの間隔が、全て同一であるので、
上記した移動ステーションの送りだけで、第2セツトス
テーシヨンBの光センサSとS”を延長線が通るように
、ホルダ13G及び14Gに保持されている被測定光フ
ァイバは位置する。
そして、第2セツトステーシヨン已において、ホルダ1
3G及び14Gに付属するカップラ60をカップラ64
に結合して、被測定光ファイバの軸方向の位置付けを実
施する。それと共に、ホルダ13F及び14Fに、別の
被測定光ファイバすなわちボビン10Fの被測定光ファ
イバの両端11F及び12Fを、上記と同様にセットす
る。
次いで、移動ステージ15を1ステツプすなわち1ステ
一シヨン間距離矢印イの方向に送り、ホルダ13.0及
び14Gに保持されている被測定光ファイバの両端を測
定ステーションCに位置付け、ホルダ13F及び14F
に保持されている被測定光ファイバの両端11F及び1
2Fを第2セツトステーシヨン已に位置付ける。
被測定光ファイバホルダの多対におけるホルダの間隔と
、ストッパ29と30の間隔、光センサSとS”の間隔
及び測定器側光ファイバホルダ16と17.16゛と1
?’ 、16”と17′”の間隔とが、全て同一であり
、また、被測定光ファイバホルダの各対間の間隔と、ス
トッパ29、光センサS1測定器側光ファイバ16.1
6°、16″の間隔が、全て同一であり、更に、光セン
サSとS′と、測定器側光ファイノ\ホルダ16と17
.16°と17′、16″“と17″′に保持されてい
る測定器側光ファイバの端部35と36.35′  と
36’ 、35”と36″”が、互いに近接して平行な
2直線上に位置しているので、上記した移動ステーショ
ンの送りだけで、測定ステーションCにおいて、測定器
側光ファイバ18及び19の端部に一致し且つ一定の間
隔離れて、ホルダ13G及び14Gに保持されている被
測定光ファイバは位置する。
かくして、測定ステーションCにおいて、第1測定項目
についての測定が、ホルダ13G及び14Gに保持され
ている被測定光ファイバに対して実行される。
一方、第2セツトステーシヨンBにおいては、ホルダ1
3F及び14Fに付属するカップラ60をカップラ64
に結合して、被測定光ファイバの軸方向の位置付けを実
施する。それと共に、ホルダ13E及び14Eに、ボビ
ンIOEの被測定光ファイバの両端11E及び12Eを
、上記と同様にセットする。
その後、移動ステージ15を1ステツプづつ送りながら
、第1セツトステーシヨンAでの被測定光ファイバの被
測定光ファイバホルダへのセット、第2セツトステーシ
ヨンBでの被測定光ファイバの軸方向位置の調整、測定
ステーションC−Eでの各項目の特性の測定が実行され
る。
そして、被測定光ファイバが予備ステーションFまたは
Gに到達したら、被測定光ファイバを被測定光ファイバ
ホルダから取り外す。第1°図の例は、予備ステーショ
ンGにおいて被測定光ファイバが既に取り外されている
状態を示している。
以上の光ファイバ特性測定装置において、被測定光ファ
イバを一度セットすると、全項目の測定が終わるまでは
移動ステージは直線的に動き、各測定ステーションにお
いて改め被測定光ファイバを位置補正することな(、各
被測定光ファイバの端部は、測定器側光ファイバの端部
と同軸関係に且つ所定の距離離れて位置付けられる。従
って、操作者は、被測定光ファイバを移動ステージに順
次セットするだけで、光ファイバの特性を多項目にわた
って測定することができる。
上述した本発明による光ファイバ特性測定装置の実施例
において、第2図及び第3図に示した被測定光ファイバ
を軸方−向に位置付ける機構は、カップリング160.
160′及び164.164°を結合させて、被測定光
ファイバに送りを加えるようになされている。この場合
には、1つの駆動機構を第2セツトステーシヨンB上の
所定位置に設置しておけばよく、駆動機構の数を最小数
にできる。反面、その都度、カップリング160.16
0′及び164.164゛を結合させて、被測定光ファ
イバの軸方向蓋付けが終了する度にカップリングを分離
する動作が必要である。そこで、移動ステージ15上の
各ファイバホルダごとに、駆動機構を設けるようにして
もよい。このようにすると、移動ステージ上の機械的構
成が複雑になるが、カップリングの結合及び分離の動作
が不要となる。
また、第2図及び第3図に示すホルダ及びその付属機構
においては、被覆部押さえ台152.152゛と■溝ブ
ロック174.174′は分離して設置し、■溝のガイ
ドで被測定光ファイバを案内している。
しかし、被覆部押さえ台と■溝ブロックを一体化し、ガ
イド性のよいガイド上に滑動自在に取り付けてもよい。
この場合には、被測定光ファイバは■溝の底に置かれる
が、その上を滑動することはなく、上記した一体化した
台がガイドに沿って光ファイバ軸方向に移動して、被測
定光ファイバの端部の軸方向位置が調整される。
更に、第2セツトステーシヨン已においては、第2図及
び第3図に示すように、被測定光ファイバの端部を光学
的な位置検出方法により検出している。しかし、小さな
受光素子を多くもつ固体受像装置や、顕微鏡目視による
方法等も使用できる。
但し、光ファイバを用いたセンサは、簡単に自動化でき
、しかも精度が高いという利点がある。
ま°た、被測定光ファイバの軸と直角な方向の位置調整
は、上記したような■溝を使用するだけで、通常の被測
定光ファイバの特性測定では十分である。しかし、測定
項目によれば、被測定光ファイバと測定器側光ファイバ
とが高精度に一致していることが必要である。
しかし、そのような高精度の位置付けすなわち調心は、
セットステーションで実施するよりは、必要な測定ステ
ーションで実施することが得策である。
第1図は、光ファイバの軸に直角な互いに直交する2方
向における精密な位置付けすなわち調心の機構が測定ス
テーションEに設けられている状態を点線で図示してい
る。第1図において、参照番号31.32は調心を制御
するコントローラであり、コントローラ31は受光側の
ファイバホルダ16′″を、コントローラ32は光源側
のファイバホルダ17′′を調心する。
第5図、第6図及び第7図は、そのような調心機構を図
示しており、第5図はその調心機構の平面図、第6図は
第5図の線VI−VIでの側面図、第7図は第6図の線
■−■での断面図である。
測定器側光ファイバホルダ16″′、17″゛は、測定
器側光ファイバ18パ及び19′″の被覆除去された部
分をその頂面に固定保持するようになされ、また、弾力
性のあるアーム16″”A及び17”Aを介して被覆部
押さえ台59及び60に固定されている。その被覆部押
さえ台59及び60は、ホルダ支持台40に固定され、
その上には、上記した測定器側光ファイバ18”及び1
9”の被覆部が載せられ、被覆部押さえ61及び62に
より移動及び回転不能に押さえられている。
測定器側光ファイバホルダ16”、17”は、上記した
ように、アーム、16”A及び17”Aに支持されてい
るので、外力を作用させることにより、アーム16”A
及び17”Aがたわんで光ファイバの軸と直角な方向に
振れることができる。そのような振れを測定器側光ファ
イバホルダに与えるために、ホルダ支持台40の前方突
出部42にピストン−シリンダ式のアクチュエータ63
.64.65.66が設けられ、それらアクチュエータ
のピストン67.68.69.70にバネ71.72.
73.74の下端が固定されている。
それらバネの内の内側のバネ72及び73は、ホルダ1
6”、17”の下面に当接しており、それらホルダ16
”、17”に対して、測定器側光ファイバの軸に対して
直角な略垂直方向の変位力を与えるようになされている
一方、それらバネの内の外側のバネ71及び74は、ホ
ルダ支持台40の固定されたピン75及び76に中央部
が回転自在に支持されているL字型のレバー77及び7
8の水平アーム部77A及び78Aの下面に当接してい
る。それらL字型のレバー77及び78の垂直アーム部
77B及び78Bは、対応するホルダ16”、17”の
外側面に当接しており、外側のバネ71及び74による
変位力は、L字型のレバー77及び78により、測定器
側光ファイバの軸に対して直角な水平方向の変位力に変
換されて、測定器側光ファイバホルダに作用する。
アクチュエータ63と64及び65と66は、それぞれ
、コントローラ31及び32に制御される。かくして、
コントローラ31及び32は、光検出器22の出力が最
大になるすなわち結合度が最大になるように、アクチュ
エータ63.64.65.66を制御して、バネ71.
72.73.74に作用する圧縮変位を変えて、測定器
側光ファイバホルダ16″′、17″′を測定器側光フ
ァイバの軸に対して直角な互いに直交する2方向すなわ
ち垂直方向及び水平方向に位置調整させる。
その結果、ホルダ16′°、17′″に支持されている
測定器側光ファイバ18′”及び19″の先端35°°
及び36′”は、ホルダ13E及び14Eに保持されて
いる被測定光ファイバ11E及び12Eの先端37E及
び38Eに正確に調心される。
以上の精密調心は、測定器側光ファイバを変位させるこ
とにより実施している。このように、測定器側光ファイ
バホルダでファイバ軸と直角の方向の位置自動調節を行
っているので、測定の1タクト毎に移動してくる被測定
光ファイバホルダ13〜13G及び14〜14G側での
調心作業は不要となる。
従って、移動ステージの移動の際に被測定光ファイバの
位置精度が低下させる原因となる移動ステージ15上の
可動部を少なくでき、移動ステージ上での被測定光ファ
イバの位置精度をそのまま維持することができる。
但し、装置全体の構成から考えて、被測定光ファイバホ
ルダの方を移動させて調心する方が有利゛な場合にはそ
れらを移動させても良い。この場合の調心方法も上記と
全く同様である。また、例えば、測定器側光ファイバホ
ルダは上下方向、被測定光ファイバホルダは横方向とい
うように移動方向を分割して調心してもかまわない。
第5図、第6図及び第7図に示す調心機構は、バネに圧
縮力を加えて測定器側光ファイバホルダを移動させる例
を示したが、バネはアクチュエータの動きを伝達するこ
とができれば充分であり、従って引張り力でホルダを動
かしてもよい。
以上説明した光ファイバ特性測定装置の実施例において
は、セットステーションを2つ設けているが、必ずしも
2つある必要はない。例えば、1つのセットステーショ
ンにおいて、被測定光ファイバの被測定光ファイバホル
ダへのセット及び被測定光ファイバの軸方向及びその直
角2方向の位置付けができるようにもできる。
その1例としては、第1図における第1セツトステーシ
ヨンAをなくし、第2セツトステーシヨンBのみとする
。その場合、被測定光ファイバをホルダの■溝ブロック
にセットすることにより、被測定光ファイバのセットと
被測定光ファイバの軸方向に直角な互いに直交する2方
向の位置付けを実施し、更に、第2図及び第3図に示す
ような軸方向位置付は機構により被測定光ファイバの軸
方向の位置付けを行う。
または、軸方向の高精度の位置付けが要求されないなら
ば、第2セツトステーシヨンBを省略して、第1セツト
ステーシヨンAのみにする。この場合、被測定光ファイ
バをホルダの■溝ブロックにセットすることにより、被
測定光ファイバのセットと被測定光ファイバの軸方向に
直角な互いに直交する2方向の位置付けを実施し、スト
ッパ29及び30に被測定光ファイバの先端を軽く当接
して被測定光ファイバの軸方向の位置付ける。このよう
に被測定光ファイバの端面がストッパに突き当てると、
被測定光ファイバの先端部が変形する。
これが軸方向位置の多少の誤差の原因である。この方法
では、また、端面にゴミが付着したり、端面が傷ついた
りする問題もある。
以上の光ファイバ特性測定装置の実施例は、被測定光フ
ァイバの両端を測定器側につなぐ透過法を全ての測定ス
テーションにおいて実施している。
光ファイバ特性測定装置において後方散乱測定法を実施
する場合は、その後方散乱測定法を実施する測定ステー
ションの測定器側光ファイバホルダを1つ省略し、残っ
た測定器側光ファイバホルダに保持される測定器側光フ
ァイバに光方向性結合器を設け、光源からの光をその光
方向性結合器を介して測定器側光ファイバに結合し、ま
た、測定器側光ファイバを通ってきた後方散乱光は、そ
の光方向性結合器を介して光検出器に結合するようにす
ればよい。
また、上記した実施例においては、移動ステージ15上
に8組の被測定光ファイバホルダ13〜13G514〜
14C1,が設けられているが、理論的には被測定光フ
ァイバホルダの数は無限に増加できるものであり、本発
明による光ファイバ特性測定装置は、移動ステージ上の
ホルダの数で制限されるものではない。
更に、移動ステージに一旦セットされた全光ファイバに
ついて全項目測定が終わると、矢印イと反対の方向に移
動ステージを戻す必要がある。この返送回数は当然移動
ステージ上に設けられたホルダの個数が多いほどファイ
バ数に対して少なくなる。例えば、移動ステージ上に設
けられた被測定光ファイバホルダの数がN(但し透過法
の場合はN対で、後方散乱測定法の場合はN個)とする
と、N回に1回移動ステージを戻すとよい。
しかし、いずれにせよ、移動ステージは矢印イの方向と
その反対方向に往復させる必要がある。
そこで、予備ステーションG及びFをそれぞれ第1セツ
トステーシヨン及び第2セツトステーシヨンとし、スト
ッパ29及び30をステーションGに設け、光センサS
及びS゛をステーションFに設けて、測定ステーション
をセットステーションで両側から挟むようにしてもよい
このように構成すれば、矢印イの方向への移動ステージ
15での送りによる測定において、その矢印イの方向へ
の移動ステージ15での送りによる測定が完了して移動
ステージ15から一旦被測定光ファイバがなくなったあ
と、ステーションGにおいて移動ステージ15の被測定
光ファイバホルダ13及び14から被測定光ファイバを
セットして、矢印イと反対の方向に移動ステージ15を
送りながら順次被測定光ファイバをセットしまた測定を
実施する。
このように、移動ステージの矢印イの方向とその反対方
向のいづれの方向の移動によっても測定できるようにす
れば、作業能率は更に向上する。
また、上記した実施例においては、一体化した移動ステ
ージ15を1個設けたが、複数にして同一直線方向く矢
印イの方向)に並べてもよい。例えば、それぞれ5対の
被測定光ファイバホルダを設けた第1移動ステージと第
2移動ステージを用意する。このようにすれば、第1移
動ステージをセットステーションから順次測定ステーシ
ョンへ送り、そのあとに第2移動ステージを送ることに
より、第2移動ステージの最先端が測定ステーション旦
に達し、先行する第1移動ステージの後端が予備ステー
ションFに位置したとき、その予備ステーションFから
被測定光ファイバを外して、その第1移動ステージをセ
ットステーション側に戻すように使用することもできる
当然のことながら、移動ステージが単数の場合は移動機
構が簡単だが、複数だと複雑になる。反面、移動ステー
ジを複数にすると、移動ステージ1個の大きさを小型化
できる。一体化された移動ステーションに何個のホルダ
をのせるか、移動ステーション数をいくつにするかは、
送りの容易さと精度を考えて任意に選ぶことができる。
また、上記実施例では、測定ステーションは3つだが、
これも2つあるいは4つ以上としてもよく、理論的には
無限数とできる。測定ステージが多いほど多項目の同時
測定が可能である。
発明の効果 以上の記載から明らかな通り、本発明の光ファイバ特性
測定装置は多くの測定項目を連続的に且つ同時に自動的
に測定できるので、1人の操作者によって効率良く多項
目の測定を実施でき、作業性が著しく向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の光ファイバ特性測定装置の一実施例
の構成を示す概略図である。 第2図及び第3図は、第1図の光ファイバ特性測定装置
において使用されている被測定光ファイバホルダと、被
測定測定光ファイバの軸方向の位置決めを行う機構の一
例を示す図であり、第2図はその概略頂面図、第3図は
その概略側面図である。 第4図は、被測定光ファイバホルダの1例を示す■溝ブ
ロックの断面図である。 第5図、第6図及び第7図は、第1図の光ファイバ特性
測定装置に組込むことができる被測定光ファイバと測定
器側光ファイバとの調心を行う機構を示しており、第5
図はその平面図、第6図は第5図の線VT−VIでの断
面図、第7図は第6図の線■−■での断面図である。 第8図は、従来の透過法による光ファイバ特性測定装置
の概略図である。 (主な参照番号) A、 B  セットステーション、 C,DSE  測定ステーション、 F、G  予備ステーション、 IA〜IC,2A〜2C被測定光ファイバホルダ、3.
4 被測定光ファイバの端部、 7八〜7C,8A〜8C測定器側ファイバホルダ、7“
A〜7’C光検出器、 8’A〜8°C光源、9 被測
定光ファイバボビン、 10A〜IOF  被測定光ヅアイバボビン、13.1
3A〜13G、14.14A〜14G  被測定光ファ
イバホルダ、 15  移動ステージ、16〜16”、
17〜17” 測定器側光ファイバホルダ、20、21
.22  光検出器、 24〜26  光源、31、3
2  調心コントローラ、

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一直線に移動可能な移動ステージと、該移動ステ
    ージの移動方向に沿って配置されたセットステーション
    と、前記移動ステージの移動方向に沿って一直線状に且
    つ互いに等間隔に配置された測定器側光ファイバホルダ
    をそれぞれ有する複数の測定ステーションとを具備し、
    前記移動ステージには、該移動ステージの移動方向に、
    前記測定器側光ファイバホルダの配列方向と並行な一直
    線状に且つ前記間隔と同じ間隔で配置された複数の被測
    定光ファイバホルダが設けられていることを特徴とする
    光ファイバ特性測定装置。
  2. (2)前記測定ステーションの少なくとも1つには、一
    対の測定側光ファイバホルダが設けられて、透過法によ
    り光ファイバ特性を測定するようになされ、前記移動ス
    テージには、各被測定光ファイバの両端を保持する被測
    定光ファイバホルダが2対以上設けられていることを特
    徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の光ファイバ特
    性測定装置。
  3. (3)前記測定ステーションの少なくとも1つには、1
    つの測定側光ファイバホルダが設けられ、後方散乱法に
    より光ファイバ特性を測定するようになされていること
    を特徴とする特許請求の範囲第(1)項または第(2)
    項記載の光ファイバ特性測定装置。
  4. (4)前記セットステーションには、前記移動ステージ
    の前記被測定測定光ファイバホルダに保持されている被
    測定測定光ファイバの延長線を両側から挟むように配置
    された光出射用光ファイバと受光用光ファイバとを有す
    る光センサが設けられていることを特徴とする特許請求
    の範囲第(1)項から第(3)項までのいずれかに記載
    の光ファイバ特性測定装置。
  5. (5)前記被測定光ファイバホルダが、被測定測定光フ
    ァイバを軸方向には滑動自在に、しかし軸方向と直角な
    方向には動かないように保持する保持部を有し、この保
    持部に保持されている被測定光ファイバにその軸方向の
    送りを加え、該被測定光ファイバの軸方向端部の位置を
    前記光センサが検出した時に前記送りを停止させて、被
    測定光ファイバの軸方向端部の位置を所定位置に位置付
    けるようになされていることを特徴とする特許請求の範
    囲第(4)項記載の光ファイバ特性測定装置。
  6. (6)前記被測定光ファイバホルダの保持部は、被測定
    測定ファイバが底部におかれるV溝ブロック及び該V溝
    ブロックのV溝に置かれる光ファイバ押さえとを有して
    いることを特徴とする特許請求の範囲第(5)項記載の
    光ファイバ特性測定装置。
  7. (7)前記測定ステーションの1つには、前記被測定光
    ファイバに対して測定器側光ファイバをその軸に直角で
    互いに直交する2方向に位置調整する調心機構が設けら
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項か
    ら第(6)項までのいずれかに記載の光ファイバ特性測
    定装置。
  8. (8)前記調心機構は、測定器側光ファイバを保持し且
    つ弾性アームを介して支持されている測定器側光ファイ
    バホルダと、該測定器側光ファイバホルダを測定器側光
    ファイバの軸に直角で互いに略直交する前記2方向に変
    位させるアクチュエータとを有していることをを特徴と
    する特許請求の範囲第(7)項記載の光ファイバ特性測
    定装置。
  9. (9)セットステーションが前記測定ステーションを挟
    んで両側に設けられており、前記移動ステージをそれら
    セットステージ間を往復させることを特徴とする特許請
    求の範囲第(1)項から第(8)項までのいずれかに記
    載の光ファイバ特性測定装置。
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US06/705,837 US4676635A (en) 1984-10-25 1985-02-26 Optical fiber characteristic measuring method and apparatus
KR1019850001216A KR900008299B1 (ko) 1984-10-25 1985-02-27 광파이버 특성의 측정방법 및 장치
EP85102193A EP0179183B1 (en) 1984-10-25 1985-02-27 Optical fiber characteristic measuring method and apparatus
AT85102193T ATE59474T1 (de) 1984-10-25 1985-02-27 Verfahren und vorrichtung zur messung der charakteristik von lichtleitfasern.
AU39195/85A AU569375B2 (en) 1984-10-25 1985-02-27 Measuring optical fiber characteristics
CA000475228A CA1231253A (en) 1984-10-25 1985-02-27 Optical fiber characteristic measuring method and apparatus
DE8585102193T DE3581164D1 (de) 1984-10-25 1985-02-27 Verfahren und vorrichtung zur messung der charakteristik von lichtleitfasern.
CN85101798A CN1008213B (zh) 1984-10-25 1985-04-01 光导纤维特性的测量方法及其仪器

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CA (1) CA1231253A (ja)
DE (1) DE3581164D1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63241329A (ja) * 1987-03-28 1988-10-06 Furukawa Electric Co Ltd:The 光コネクタ付光フアイバケ−ブルの特性測定方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6189535A (ja) * 1984-10-08 1986-05-07 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの特性測定方法
DE3735399A1 (de) * 1987-10-20 1989-05-03 Philips Patentverwaltung Messanordnung zur pruefung einer mehrzahl von lichtwellenleitern
US5253035A (en) * 1991-04-12 1993-10-12 The Furukawa Electric Co., Ltd. Automatic optical measuring apparatus for optical fibers
KR20020065522A (ko) * 1999-11-17 2002-08-13 코닝 인코포레이티드 광섬유 테스트 및 측정의 자동화 방법 및 기구
US7053995B1 (en) 1999-11-17 2006-05-30 Corning Incorporated Methods and apparatus for automation of the testing and measurement of optical fiber
JP2002071511A (ja) * 2000-08-31 2002-03-08 Ando Electric Co Ltd 光学部品測定装置及び光学部品の試験方法
US20020069674A1 (en) * 2000-12-13 2002-06-13 Guy Patricia C. Methods and apparatus for automated manufacture of optical fiber

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5326815A (en) * 1976-08-25 1978-03-13 Noda Plywood Mfg Co Ltd Method of manufacturing panels of building materials
JPS5337650U (ja) * 1976-09-08 1978-04-03
JPS6085351A (ja) * 1983-08-29 1985-05-14 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの検査ライン

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4309105A (en) * 1980-03-03 1982-01-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method and apparatus for testing performance of fiber optic cable components and assemblies
FR2506939A1 (fr) * 1981-05-26 1982-12-03 Lignes Telegraph Telephon Dispositif de mesures de caracterisation d'une fibre optique
JPS58191947A (ja) * 1982-05-07 1983-11-09 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバ検査装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5326815A (en) * 1976-08-25 1978-03-13 Noda Plywood Mfg Co Ltd Method of manufacturing panels of building materials
JPS5337650U (ja) * 1976-09-08 1978-04-03
JPS6085351A (ja) * 1983-08-29 1985-05-14 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの検査ライン

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63241329A (ja) * 1987-03-28 1988-10-06 Furukawa Electric Co Ltd:The 光コネクタ付光フアイバケ−ブルの特性測定方法
JP2650905B2 (ja) * 1987-03-28 1997-09-10 古河電気工業株式会社 光コネクタ付光フアイバケーブルの特性測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
AU3919585A (en) 1986-05-01
AU569375B2 (en) 1988-01-28
KR900008299B1 (ko) 1990-11-12
CA1231253A (en) 1988-01-12
EP0179183A2 (en) 1986-04-30
KR860003523A (ko) 1986-05-26
EP0179183B1 (en) 1990-12-27
EP0179183A3 (en) 1987-08-12
ATE59474T1 (de) 1991-01-15
CN1008213B (zh) 1990-05-30
CN85101798A (zh) 1986-04-10
DE3581164D1 (de) 1991-02-07
US4676635A (en) 1987-06-30

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