JPS6189535A - 光フアイバの特性測定方法 - Google Patents
光フアイバの特性測定方法Info
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- JPS6189535A JPS6189535A JP21067284A JP21067284A JPS6189535A JP S6189535 A JPS6189535 A JP S6189535A JP 21067284 A JP21067284 A JP 21067284A JP 21067284 A JP21067284 A JP 21067284A JP S6189535 A JPS6189535 A JP S6189535A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は光ファイバの特性測定、特に伝送損失。
伝送帯域、カントオフ波長などの光ファイバへ入射され
た光強度と一方の端より出射される光強度の関係を測定
することにより特性把握がなされる特性測定の省力化に
関するものである。
た光強度と一方の端より出射される光強度の関係を測定
することにより特性把握がなされる特性測定の省力化に
関するものである。
（従来の技術）
第９図は従来の測定方法の概念図を示す。以下説明は光
ファイバ（以下ファイバと略す）の伝送特性のうち、最
も重要で且つ代表的な特性ｆｉｃしてある伝送損失につ
いて述べるが、伝送帯域、カントオフ波長の測定など、
この他の測定も大略測距１去としては同じであり、本技
術がそのま＼もしくは若干の改良でできるので割愛し、
伝送損失の特注測定方法を例に挙げて説明する。
ファイバ（以下ファイバと略す）の伝送特性のうち、最
も重要で且つ代表的な特性ｆｉｃしてある伝送損失につ
いて述べるが、伝送帯域、カントオフ波長の測定など、
この他の測定も大略測距１去としては同じであり、本技
術がそのま＼もしくは若干の改良でできるので割愛し、
伝送損失の特注測定方法を例に挙げて説明する。
第９図において、１は光源で、通常レーザダイオード（
ＬＤ） 、発光ダイオード（ＬＥＤ）、分光器などが用
いられる。２はダミーファイバで、光源１より出た光フ
ァイバの伝搬モードを定常モードとするために利用され
る。３はダミーファイバ２の光源側端、４は被測定ファ
イバ側の端である。
ＬＤ） 、発光ダイオード（ＬＥＤ）、分光器などが用
いられる。２はダミーファイバで、光源１より出た光フ
ァイバの伝搬モードを定常モードとするために利用され
る。３はダミーファイバ２の光源側端、４は被測定ファ
イバ側の端である。
５はダミーファイバの端４と筬測定ファイバの端６を結
合するためのＶ溝接続器、即ち６は阪ヨ・」定ファイバ
７の光源側端部、７は仮測定ファイバ。
合するためのＶ溝接続器、即ち６は阪ヨ・」定ファイバ
７の光源側端部、７は仮測定ファイバ。
８は被測定ファイバ７の出射側端、９は受元潴である。
このような測定系で仮測定ファイバ７の伝送（）ｊ失を
測定しようとすれは、まず第９図の状態での出射光強度
を受光器９で測定する。この値を仮にＰ、 ｄａ、とじ
、次に図中Ａで被測定側ファイバγを切附丁し、その切
断端面の光源側の端部１０を受光器９と結合させｍ１ｌ
ｌｌｌ定フアイバ７へ入っている光の強度Ｐ、ｄＢ−を
測定する。このようにするとＡ点より出射端部８までの
被測定ファイバの伝送損失は（Ｐよ−ｐｒＭＢとなる。
測定しようとすれは、まず第９図の状態での出射光強度
を受光器９で測定する。この値を仮にＰ、 ｄａ、とじ
、次に図中Ａで被測定側ファイバγを切附丁し、その切
断端面の光源側の端部１０を受光器９と結合させｍ１ｌ
ｌｌｌ定フアイバ７へ入っている光の強度Ｐ、ｄＢ−を
測定する。このようにするとＡ点より出射端部８までの
被測定ファイバの伝送損失は（Ｐよ−ｐｒＭＢとなる。
（発明が解決しようとする問題点）
上記のような方式で測定する場合、精度は良いが、一つ
の被測定ファイバに対し少なくとも／回Ａ点での切断と
再度！４ｉ１０を受光器に結合させる必要があり、また
この切断された端部６〜１０間のファイバは測定のため
無駄となってしまう。
の被測定ファイバに対し少なくとも／回Ａ点での切断と
再度！４ｉ１０を受光器に結合させる必要があり、また
この切断された端部６〜１０間のファイバは測定のため
無駄となってしまう。
（問題点を解決するための手段と作用）第１図、第２図
に示すように、被測定ファイバ７とダミーファイバ（入
射側ファイバと同じ）２′とは■面接続器５で、被測定
ファイバ７、あるいは測定基準膠原用ファイバ７′と受
光側ファイバ１１とはＶ溝接続器５で結合する。
に示すように、被測定ファイバ７とダミーファイバ（入
射側ファイバと同じ）２′とは■面接続器５で、被測定
ファイバ７、あるいは測定基準膠原用ファイバ７′と受
光側ファイバ１１とはＶ溝接続器５で結合する。
この本発明における測定系においては、被測定ファイバ
７の伝送損失を測定するには、第１図で出射光強度を受
光器９で′ｆＩＪ定し、この値を仮にＰ、 ｄＢ、し、
さらに第２図に示すような同一の測定系において、測定
基準参照用ファイバ７′を被測定ファイバ７のあった位
置にいれかえ、その出射光度を受光器９で測定し、この
値を仮にＰ２′ｄＢ、とする。こ＼で被測定ファイバお
よび測定基準参照用ファイバの光の入、出射端面での結
合損失を省い：た固有の伝送損失（いわゆる一般的にい
う伝送損／ ′ 失）を各々Ｌ、、Ｉ、とし、また光の入、出射端面の結
合損を、、＃、 Ｌ：とＴる。また各々のファイバの伝
送損失をり、Ｌよとすると、Ｌ、 −Ｌ：＋ ｒ、７．
Ｌ、−Ｌ二十Ｌ：である。さてＰｌ′と一′を比較す
ると、その差 η−ｐ−Ｌ−Ｉ、 であるのは明らか
である。さて、シ Ｊ、／ いわゆる伝送損失を求めるにはり、−Ｌ、を求めること
が必要であるが、Ｌ−ＬにすれはＬ−Ｌ−（Ｌ’１
λ λ ｌ＋Ｌ工）
−（Ｌ、’＋ ｒ、″）−月′−可となり、こ−でＬユ
の値が既知であればＬ−Ｐ’−Ｐ’＋Ｌであるからちと
／上ｌス Ｐ′を求めれば求まることになる。
７の伝送損失を測定するには、第１図で出射光強度を受
光器９で′ｆＩＪ定し、この値を仮にＰ、 ｄＢ、し、
さらに第２図に示すような同一の測定系において、測定
基準参照用ファイバ７′を被測定ファイバ７のあった位
置にいれかえ、その出射光度を受光器９で測定し、この
値を仮にＰ２′ｄＢ、とする。こ＼で被測定ファイバお
よび測定基準参照用ファイバの光の入、出射端面での結
合損失を省い：た固有の伝送損失（いわゆる一般的にい
う伝送損／ ′ 失）を各々Ｌ、、Ｉ、とし、また光の入、出射端面の結
合損を、、＃、 Ｌ：とＴる。また各々のファイバの伝
送損失をり、Ｌよとすると、Ｌ、 −Ｌ：＋ ｒ、７．
Ｌ、−Ｌ二十Ｌ：である。さてＰｌ′と一′を比較す
ると、その差 η−ｐ−Ｌ−Ｉ、 であるのは明らか
である。さて、シ Ｊ、／ いわゆる伝送損失を求めるにはり、−Ｌ、を求めること
が必要であるが、Ｌ−ＬにすれはＬ−Ｌ−（Ｌ’１
λ λ ｌ＋Ｌ工）
−（Ｌ、’＋ ｒ、″）−月′−可となり、こ−でＬユ
の値が既知であればＬ−Ｐ’−Ｐ’＋Ｌであるからちと
／上ｌス Ｐ′を求めれば求まることになる。
よって、この測定系において、光源１の出射光強度が一
定に制御されておれは基準となる測定基準参照用ファイ
バを接続した際の受光器の受光量を７回以上記録し、被
測定ファイバを接続した際の受光量を記録し、その両者
を比較すれば被測定ファイバの伝送損失は明らかとなる
。こ＼で被測定ファイバに関しては、その種類８本数が
撥数であっても、従来のように前記のＡ点での切断（い
わゆるカットバンク）を行わなくてもその損失が測定で
きる。
定に制御されておれは基準となる測定基準参照用ファイ
バを接続した際の受光器の受光量を７回以上記録し、被
測定ファイバを接続した際の受光量を記録し、その両者
を比較すれば被測定ファイバの伝送損失は明らかとなる
。こ＼で被測定ファイバに関しては、その種類８本数が
撥数であっても、従来のように前記のＡ点での切断（い
わゆるカットバンク）を行わなくてもその損失が測定で
きる。
さて、こ＼で本発明を更に詳細に述べるために前記のＬ
；、 Ｌ； 、 Ｌ７． Ｌ；についての性質を説明す
る。
；、 Ｌ； 、 Ｌ７． Ｌ；についての性質を説明す
る。
Ｌ’、 Ｌ’についてはｍ述のとおり被測定ファイバの
一１有の値で、Ｌ′はこ＼で我々が求める知りたい値で
ある。Ｌ′については伝送損失が長さ方向に一様な適当
なファイバを定め、その長さ全体の伝送損失を測足し、
全体またはかｊ当な長さを切りとって調定基準参照用フ
ァイバとして供し、その長さ分の伝送損失を換算すれば
ｆｉ＋４単に求められる。
一１有の値で、Ｌ′はこ＼で我々が求める知りたい値で
ある。Ｌ′については伝送損失が長さ方向に一様な適当
なファイバを定め、その長さ全体の伝送損失を測足し、
全体またはかｊ当な長さを切りとって調定基準参照用フ
ァイバとして供し、その長さ分の伝送損失を換算すれば
ｆｉ＋４単に求められる。
７′、 Ｌ了についてはファイバの結合損失と一般的に
いわれるものであり、この結合損失には大きく分けて下
記の３つの要因がある。
いわれるものであり、この結合損失には大きく分けて下
記の３つの要因がある。
（１）両ファイバ間の幾何的位置ずれ。
（２） 両ファイバ間のフレネル反＜ｉ＝［。
（３） 両ファイバ間の構造パラメータの差。
わかりやすくするため、これを詳細に見て行くと、（１
）についてはさらに 第３図に示すようなファイバの軸ずれ・・・ｕｌ −／
第４図に示すようなファイバ端面の間隙・・・（１＋
−ｊ 第５図に示すようなファイバ端面の傾き・・・＋１）−
３ 第６図に示すようなファイバ軸方向の不一致・・・（１
＋−４ が挙げられる。
）についてはさらに 第３図に示すようなファイバの軸ずれ・・・ｕｌ −／
第４図に示すようなファイバ端面の間隙・・・（１＋
−ｊ 第５図に示すようなファイバ端面の傾き・・・＋１）−
３ 第６図に示すようなファイバ軸方向の不一致・・・（１
＋−４ が挙げられる。
なお、第３図〜第６図にお６″ｌる１９，１９はそれぞ
れファイバ端である。
れファイバ端である。
（２）については、いわゆるファイバ端間における屈折
率の差によるフレネル反射損であり、ファイバ端での単
純な反射（＋２１−／）、およびファイバ端１１ｉ１隙
で起こる多重反射（（２） −２）が挙げられる。
率の差によるフレネル反射損であり、ファイバ端での単
純な反射（＋２１−／）、およびファイバ端１１ｉ１隙
で起こる多重反射（（２） −２）が挙げられる。
後者＋２１−．２については、特に該間隙が小さい場合
、光学的に干渉作用等を起こし、結合損失が微小な間隙
の差や伝送される光の波長に依存して著ｒｅｎｃｅ ｅ
ｆｆｅｃｔｓ ｉｎ ｏｐｔｉｃａｌ ｃｏｎｎｅｃｔ
ｉｏｎｓ”昭和３７年４１／ｊ ＡＰＰＬＩＥＤ ０Ｐ
ＴＩＣ８Ｖｏｌｊ／ Ｎａｇ Ｐ ／Ｊ’（Ｓ’／に示
されている。） （３）については両ファイバ径の差（＋３１−／）およ
び両ファイバの屈折率差（（２＋−，２）等が挙げられ
る。
、光学的に干渉作用等を起こし、結合損失が微小な間隙
の差や伝送される光の波長に依存して著ｒｅｎｃｅ ｅ
ｆｆｅｃｔｓ ｉｎ ｏｐｔｉｃａｌ ｃｏｎｎｅｃｔ
ｉｏｎｓ”昭和３７年４１／ｊ ＡＰＰＬＩＥＤ ０Ｐ
ＴＩＣ８Ｖｏｌｊ／ Ｎａｇ Ｐ ／Ｊ’（Ｓ’／に示
されている。） （３）については両ファイバ径の差（＋３１−／）およ
び両ファイバの屈折率差（（２＋−，２）等が挙げられ
る。
よって、このり、、Ｌを個別に測定する方法もあルカ、
被測定ファイバおよび測定基準参照用ファイバの測定に
おいて、前記の（１１〜（３）における各パラメーター
を同一またはその差が結合損失に及ぼす影響を無視でき
るほど小さくなるように設定すればＬ：＝ Ｌ′ｌとな
り前述の本発明における測定が可能となるが、（１１〜
（３）における各々については、次のような方法によれ
ばこれが実現できる。
被測定ファイバおよび測定基準参照用ファイバの測定に
おいて、前記の（１１〜（３）における各パラメーター
を同一またはその差が結合損失に及ぼす影響を無視でき
るほど小さくなるように設定すればＬ：＝ Ｌ′ｌとな
り前述の本発明における測定が可能となるが、（１１〜
（３）における各々については、次のような方法によれ
ばこれが実現できる。
先ずｉｌｌ−／およびｉｌｌ −！については第１．２
図における４と６および４′と６′の端面を精密なＶγ
１−１接続器でつき合わせるか、あるいは精密な畝動世
構にのせてａ 、Ｖ：４整を行えばよい。ｉｌｌ −，
２についてはファイバ端どうしをつきあてるか、あるい
は一定の厚みを有するプレートに両者をつきあて＼調節
すること、または光学的に端間位置を検出した上で、位
置決めしてもよい。ｉｌｌ −３については光フアイバ
専用の切断器で切断するか、あるいは切断後端面の研磨
等適当な手段を用いてもよいし、さらに測定前にその端
面状態をσ−詔すれば°、より確実な測定が行える。ｆ
２＋ −／ 、 ＋２１−２については屈折率整合剤を
塗布すれはフレネル反射損自体が無視できるほど小さく
なるので、結合損失の変動は、無視できるほど小さくな
るし、より確実に測定を行うには屈折率の温度変化か小
さい整合剤を遁べばよい。さらにこの整合は特に端面間
隔や端直角度を含む他の結合損失要素の影響を小さくで
きるという利点もあるが、このことは広く知られている
。
図における４と６および４′と６′の端面を精密なＶγ
１−１接続器でつき合わせるか、あるいは精密な畝動世
構にのせてａ 、Ｖ：４整を行えばよい。ｉｌｌ −，
２についてはファイバ端どうしをつきあてるか、あるい
は一定の厚みを有するプレートに両者をつきあて＼調節
すること、または光学的に端間位置を検出した上で、位
置決めしてもよい。ｉｌｌ −３については光フアイバ
専用の切断器で切断するか、あるいは切断後端面の研磨
等適当な手段を用いてもよいし、さらに測定前にその端
面状態をσ−詔すれば°、より確実な測定が行える。ｆ
２＋ −／ 、 ＋２１−２については屈折率整合剤を
塗布すれはフレネル反射損自体が無視できるほど小さく
なるので、結合損失の変動は、無視できるほど小さくな
るし、より確実に測定を行うには屈折率の温度変化か小
さい整合剤を遁べばよい。さらにこの整合は特に端面間
隔や端直角度を含む他の結合損失要素の影響を小さくで
きるという利点もあるが、このことは広く知られている
。
（３）については構造パラメータはファイバ製造中の条
件により定まってくるので各ファイバについてその値を
確認し測定に供するか、あるいは測定径確認してもよい
。
件により定まってくるので各ファイバについてその値を
確認し測定に供するか、あるいは測定径確認してもよい
。
また、第１図において端面４−６．８−１２．第２図に
おいて４’−６’、 ８’−１２の位置合わせについて
は、倣動機構を利用する方法について述べたが、測定精
度をさらに高精良にし、かつ測定を容易にするため、た
とχば４と６の端面を精密な微動機構にのせて受光器９
で得られる出射光強度が最大になるよう調心することは
、軸ずれや軸の傾き、端直角度の総合的影響を一度に最
小とすることができると共に容易に位置合わせができる
といえる。
おいて４’−６’、 ８’−１２の位置合わせについて
は、倣動機構を利用する方法について述べたが、測定精
度をさらに高精良にし、かつ測定を容易にするため、た
とχば４と６の端面を精密な微動機構にのせて受光器９
で得られる出射光強度が最大になるよう調心することは
、軸ずれや軸の傾き、端直角度の総合的影響を一度に最
小とすることができると共に容易に位置合わせができる
といえる。
このように出射光強度が最大になるよう調心する方法は
公知であり、特にシングルモードファイバの接続の場合
には自動的に行う方法も公知となっている。
公知であり、特にシングルモードファイバの接続の場合
には自動的に行う方法も公知となっている。
また、端面の状態については、本発明においては清浄度
かつ平しｌｔ１度、血の軸に対する直角度か充分である
ことを薙詔するために、測定前照Ｉａ鏡やあるいは倍率
の尚いＩＴＶで目視確認すれは、さらに測定精度が俺実
に行える。こ＼で、面の状態については、光の伝送路で
ある光ファイバのコア部のみならず、面全体の様子を監
視することにより、端面間隔の位置決めを容易かつ確実
にする益もある。
かつ平しｌｔ１度、血の軸に対する直角度か充分である
ことを薙詔するために、測定前照Ｉａ鏡やあるいは倍率
の尚いＩＴＶで目視確認すれは、さらに測定精度が俺実
に行える。こ＼で、面の状態については、光の伝送路で
ある光ファイバのコア部のみならず、面全体の様子を監
視することにより、端面間隔の位置決めを容易かつ確実
にする益もある。
また、以上述べた方法の大前提は光源の光強度が常に一
定であることであるが、高Ｍ＆の測定を行う必要がある
時は後述する実施例（第７図、第８図）のようにしても
よい。
定であることであるが、高Ｍ＆の測定を行う必要がある
時は後述する実施例（第７図、第８図）のようにしても
よい。
（実施例／）
以下に本発明の実施例を第１図、第２図を再度間いて説
明する。
明する。
先ず、第１図にあるように被測定ファイバ７を供し、そ
の両＃８曲をファイバカッターでカットする。カントし
た端面は一度高倍率のＩＴＶ（工業用テレビ）で軸方間
、または軸に垂直な方向を口視し、端面にゴミがついて
いないか（清浄度）。
の両＃８曲をファイバカッターでカットする。カントし
た端面は一度高倍率のＩＴＶ（工業用テレビ）で軸方間
、または軸に垂直な方向を口視し、端面にゴミがついて
いないか（清浄度）。
端面全体が平らで、特にコア削９にキズはないか（平ｅ
＋［！Ｊ：）、また、端面の角度はファイバに対し垂直
であるか（軸に対する垂直良）を確かめ、稈Ｉ花で微動
機構をイＪするＶ溝上に入射側ファイバ端４′および出
射側ファイバ端１２に対し、端面間隔が一定位１６に位
置決めする。こ＼で屈折率整合剤を滴下し、両端向の整
合を行う。そして、さらに高精良に軸合わせを行うため
に、前記微動機構を用い受光器９の受光量が最大となる
よう４−６．８−１２の結合の軸合わせを行う。そして
この時の受光量をＰ、 ｄＢ、、とする。
＋［！Ｊ：）、また、端面の角度はファイバに対し垂直
であるか（軸に対する垂直良）を確かめ、稈Ｉ花で微動
機構をイＪするＶ溝上に入射側ファイバ端４′および出
射側ファイバ端１２に対し、端面間隔が一定位１６に位
置決めする。こ＼で屈折率整合剤を滴下し、両端向の整
合を行う。そして、さらに高精良に軸合わせを行うため
に、前記微動機構を用い受光器９の受光量が最大となる
よう４−６．８−１２の結合の軸合わせを行う。そして
この時の受光量をＰ、 ｄＢ、、とする。
次に全く被測定ファイバにおけるものと同様に測定基準
参照用ファイバ７′（第２図）における受光量をＰ！ｄ
Ｂいとする。
参照用ファイバ７′（第２図）における受光量をＰ！ｄ
Ｂいとする。
こ＼で、測定基準参照用ファイバの伝送損失が長手方向
に一様でＬ ｄＢ／ｋｙｎ、測定に供した長さがＰｋｍ
とすると、測定基準参照用ファイバでの損失Ｌ ＝Ｉ
ｘ Ｌ”ｃ＋Ｂとなり、被測定ファイバの伝送損失λ はＰ、−Ｐ’−でＸＬｄＢと測定できる。
に一様でＬ ｄＢ／ｋｙｎ、測定に供した長さがＰｋｍ
とすると、測定基準参照用ファイバでの損失Ｌ ＝Ｉ
ｘ Ｌ”ｃ＋Ｂとなり、被測定ファイバの伝送損失λ はＰ、−Ｐ’−でＸＬｄＢと測定できる。
このとき、光源の出力が安定であれは、長さＪ−、か同
一の測定基準参照用ファイバ接続時の受光ｉＰ’、：’
ｄＢ、、は一定である筈であるから、この間測定基準参
照用ファイバの測定は一度行えばよく、被測定ファイバ
は何本でも測定できることになる。
一の測定基準参照用ファイバ接続時の受光ｉＰ’、：’
ｄＢ、、は一定である筈であるから、この間測定基準参
照用ファイバの測定は一度行えばよく、被測定ファイバ
は何本でも測定できることになる。
こ＼で、ファイバの怖造パラメータについて述べると、
これらはファイバの励振状態に影響を及Ｊｅｔすが、入
射側ファイバ、出射側ファイバおよび測定基準参照用フ
ァイバは、被測定ファイバと同様に設定すればよく、出
射側ファイバについてはそのコア径や開口数を被測定フ
ァイバよりや＼大きめに設定してもよいか、このことは
従来法でも同様の設定が行われていることが知られてい
るので評細な説明は割愛する。
これらはファイバの励振状態に影響を及Ｊｅｔすが、入
射側ファイバ、出射側ファイバおよび測定基準参照用フ
ァイバは、被測定ファイバと同様に設定すればよく、出
射側ファイバについてはそのコア径や開口数を被測定フ
ァイバよりや＼大きめに設定してもよいか、このことは
従来法でも同様の設定が行われていることが知られてい
るので評細な説明は割愛する。
端面のｒＮＪ隔については、より高精度の位置決めを行
うため、屈折率整合剤滴下前にＩＴＶでｌ”ｒｊｊ Ｒ
を検出したり、例えば光センサのような非接触式のセン
サを使って検出したり、検出後さらに倣動したりするこ
ともできるが、こ−では詳利１は省略する。
うため、屈折率整合剤滴下前にＩＴＶでｌ”ｒｊｊ Ｒ
を検出したり、例えば光センサのような非接触式のセン
サを使って検出したり、検出後さらに倣動したりするこ
ともできるが、こ−では詳利１は省略する。
（実施例２）
高精度の測定を行う必要のある時は第７図のように行う
。同図において光源１より出た光はファイバ１５を通り
光分岐器１４に入る。１４に入った光は２分されて一方
は第１図に示したダミーファイバ２に通じ、もう一方は
ファイバ１８を介して受光器９′に結合されている。ダ
ミーファイバ２以降の測定系は第１，２図と同じである
。
。同図において光源１より出た光はファイバ１５を通り
光分岐器１４に入る。１４に入った光は２分されて一方
は第１図に示したダミーファイバ２に通じ、もう一方は
ファイバ１８を介して受光器９′に結合されている。ダ
ミーファイバ２以降の測定系は第１，２図と同じである
。
この系においては、もし光源１の光強度が変動すると９
′の受光強度を変動するので、受光器の電気回路糸１６
より電気的に（図中破線のように）光源の駆動用電気回
路系１γヘフイードバツクし、光′ＩＭ１の光強度を一
足に保つことができる。
′の受光強度を変動するので、受光器の電気回路糸１６
より電気的に（図中破線のように）光源の駆動用電気回
路系１γヘフイードバツクし、光′ＩＭ１の光強度を一
足に保つことができる。
（実飢例３）
第８図は受光器日の出力を補強する方法を示す。
いま、受光器９で得られる出射光強度がＰ、であり、端
ｍ４’の出力がＰ、’ 、受光器９で得られる出射光強
曳がＰ２であったとする。このとき被測定ファイバ７の
伝送損失は（Ｐ、’−Ｐ２’）であるか、仮に光源の出
力か変化したとすると受光器９′の出力はＰ６′に変化
する。匠って、仮にＩ）、 ＞ Ｐ０’とすれは端［Ｉ
Ｊ）４′の光強度はＰ、’−ｎ ＜ Ｐ６− Ｐ、’）
となる。こ＼でｎは７０分岐器の分配比で決まる定数で
ある。このとき受光器９の出力Ｐになったとすれば、被
測定ファイノくコ の伝送損失はＰ、’−ｎ （Ｐ、〜ピ。′）となる。
ｍ４’の出力がＰ、’ 、受光器９で得られる出射光強
曳がＰ２であったとする。このとき被測定ファイバ７の
伝送損失は（Ｐ、’−Ｐ２’）であるか、仮に光源の出
力か変化したとすると受光器９′の出力はＰ６′に変化
する。匠って、仮にＩ）、 ＞ Ｐ０’とすれは端［Ｉ
Ｊ）４′の光強度はＰ、’−ｎ ＜ Ｐ６− Ｐ、’）
となる。こ＼でｎは７０分岐器の分配比で決まる定数で
ある。このとき受光器９の出力Ｐになったとすれば、被
測定ファイノくコ の伝送損失はＰ、’−ｎ （Ｐ、〜ピ。′）となる。
こ＼でＰ′は予め測定されている値であり、ｎも光分岐
器の特性で定まる定数であるので、その都度Ｐ′の値を
測定しなくてもＰ″の値に（Ｐ、−Ｐ、、’）のｌ
Ｌ測定値をもと＼する補正を加えれは良い。
器の特性で定まる定数であるので、その都度Ｐ′の値を
測定しなくてもＰ″の値に（Ｐ、−Ｐ、、’）のｌ
Ｌ測定値をもと＼する補正を加えれは良い。
また、上記においては、出射側ファイバラ用いるように
記述したが、結合損失か一定である軸回でこれを省略し
てもよい。例えば、ファイバの出射光のスポットの広が
りより広い受光［Ｉｌｌ 積をもつＬＥＤを用いること
などは、従来法においても用いられている技術である。
記述したが、結合損失か一定である軸回でこれを省略し
てもよい。例えば、ファイバの出射光のスポットの広が
りより広い受光［Ｉｌｌ 積をもつＬＥＤを用いること
などは、従来法においても用いられている技術である。
（発明の効果）
以上述べたように本発明においては、１数の被測定ファ
イバに対し、一度その測定値の鋏照たる測定基準参照フ
ァイバ端２ケ所を光学的帖会のために位置決めし、しか
も被測定ファイバに関してはファイバ端２ケ所を光学口
’Ｉ ＩＮ合のために位１［ｊ４決めすれは、その測定
を行えることから、６［来法より大幅に１′μ業か省略
できる。また、この測定示準参照用ファイバの結合回数
を被測定ファイバのそれにくらべ少なくすれは、はソ従
来のＬＡの作業で同等の測定が行える。
イバに対し、一度その測定値の鋏照たる測定基準参照フ
ァイバ端２ケ所を光学的帖会のために位置決めし、しか
も被測定ファイバに関してはファイバ端２ケ所を光学口
’Ｉ ＩＮ合のために位１［ｊ４決めすれは、その測定
を行えることから、６［来法より大幅に１′μ業か省略
できる。また、この測定示準参照用ファイバの結合回数
を被測定ファイバのそれにくらべ少なくすれは、はソ従
来のＬＡの作業で同等の測定が行える。
さらには、高部すべき検査余尺がないので、短いファイ
バの検査には、相対的に無駄が裁少し有利となる。
バの検査には、相対的に無駄が裁少し有利となる。
第１図〜第８図は本発明に係る元ファイバの特性測定方
法に関するもので、第１図は被測定ファイバの測定系実
施例説明図、第２図は測定基準参照用ファイバの測定系
実施例説明図、第３図、第４図、第５図および第６図は
それぞれ結合両ファイバの軸ズレ、端囲の間隙、ファイ
バ端面の傾き。 およびファイバ軸方向の不一致の説明図、第７図は高精
度の測定系実施例説明図、第８図は受光器出力を補強す
る実施例説明図、第９図は従来の測定糸説明図である。 １・・・光源、２．２・・・ダミーファイバ、３ 、３
’・・・ダミーファイバの光源側端、４ 、４’・・・
ダミーファイバの被測定ファイバ側端、５，５・・・Ｖ
溝接続器、６・・・被測定ファイバの入射側端、６・・
・測定ゐ（準参照用ファイバの入射側端、γ・・・被測
更ファイバ、７′・・・測定基準参照用ファイバ、８・
・・被測定ファイバの出射側端、８′・・・測定基準参
照用ファイバの出射側端、９，９′・・・受光器、１０
・・・切断部の光詠側端、１１・・・出射側ファイバ、
１２・・・出射側ファイバの’ｆＪ２ ？ＪＪＩｌ定側
端、１３・・・出射側ファイバの被測定ファイノ（側端
、１４・・・光分岐器、１５・・・ファイバ、１６・・
・受光ＫＭの′屈気回路系、１７・・・光源の駆動用電
気回路系、１８・・・光分岐器と受光器とを結ぶファイ
バ、１９．１９・・・光ファイバ端。 一１ト？右 代理人 弁理士 浦田渭−志ｔ：、、、１宝。 ヤ１図 や２日 す３（２） 申出ス“°し 女南面Ｊ月間ｒ搬 ７？イバ負θ面リイ噌さ
法に関するもので、第１図は被測定ファイバの測定系実
施例説明図、第２図は測定基準参照用ファイバの測定系
実施例説明図、第３図、第４図、第５図および第６図は
それぞれ結合両ファイバの軸ズレ、端囲の間隙、ファイ
バ端面の傾き。 およびファイバ軸方向の不一致の説明図、第７図は高精
度の測定系実施例説明図、第８図は受光器出力を補強す
る実施例説明図、第９図は従来の測定糸説明図である。 １・・・光源、２．２・・・ダミーファイバ、３ 、３
’・・・ダミーファイバの光源側端、４ 、４’・・・
ダミーファイバの被測定ファイバ側端、５，５・・・Ｖ
溝接続器、６・・・被測定ファイバの入射側端、６・・
・測定ゐ（準参照用ファイバの入射側端、γ・・・被測
更ファイバ、７′・・・測定基準参照用ファイバ、８・
・・被測定ファイバの出射側端、８′・・・測定基準参
照用ファイバの出射側端、９，９′・・・受光器、１０
・・・切断部の光詠側端、１１・・・出射側ファイバ、
１２・・・出射側ファイバの’ｆＪ２ ？ＪＪＩｌ定側
端、１３・・・出射側ファイバの被測定ファイノ（側端
、１４・・・光分岐器、１５・・・ファイバ、１６・・
・受光ＫＭの′屈気回路系、１７・・・光源の駆動用電
気回路系、１８・・・光分岐器と受光器とを結ぶファイ
バ、１９．１９・・・光ファイバ端。 一１ト？右 代理人 弁理士 浦田渭−志ｔ：、、、１宝。 ヤ１図 や２日 す３（２） 申出ス“°し 女南面Ｊ月間ｒ搬 ７？イバ負θ面リイ噌さ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光源より光ファイバで光を導く入射側ファイバの端
面と被測定ファイバの端面とを結合させ、且つ被測定フ
ァイバの他端の端面と出射される光を検出器に導く出射
側ファイバ端面を結合させ、その検出器の受光強度を検
出し、また測定基準参照用ファイバにおいて同様に該入
射側ファイバの端面と測定基準参照用ファイバの端面を
結合させ、且つ測定基準参照用ファイバの他端の端面と
出射される光と該出射側ファイバ端面を結合させその検
出器の受光強度を検出し、前記被測定ファイバにおける
検出受光強度と測定基準参照用ファイバにおける受光強
度を比較して被測定ファイバの伝送特性を測定する方法
において、複数の被測定ファイバおよび単数または複数
の測定基準参照用ファイバ間の両者の全てにおいて光の
入、出射端の結合損失の変動は、ゼロまたは無視できる
程小さく選定されており、且つ光源の発光強度が一定に
制御されていることを特徴とする光ファイバの特性測定
方法。 ２、出射側ファイバをなくし、被測定ファイバの端を直
接受光器に結合させることを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の光ファイバの特性測定方法。 ３、被測定ファイバあるいは測定基準参照用ファイバの
光の入、出射端と、入射側ファイバあるいは出射側ファ
イバとの結合点において、少なくとも１結合点には屈折
率整合剤を介在させることを特徴とする特許請求の範囲
第１項または第２項記載の光ファイバの特性測定方法。 ４、屈折率整合剤の屈折率の温度による変化は無視でき
る程小さいことを特徴とする特許請求の範囲第１項、第
２項、または第３項記載の光ファイバの特性測定方法。 ５、被測定ファイバあるいは測定基準参照用ファイバの
入、出射端と、入射側ファイバあるいは出射側ファイバ
端との結合点における端面の間隔は少なくとも一つの結
合点において、一定またはその結合損失の差が無視でき
るほど変動分が小さくなるよう設定することを特徴とす
る特許請求の範囲第１項、第２項、第３項、または第４
項記載の光ファイバの特性測定方法。 ６、被測定ファイバあるいは測定基準参照用ファイバの
入、出射端と、入射側ファイバあるいは出射側ファイバ
端との結合点における軸ずれ量は少なくとも一つの結合
点において、ゼロまたは軸ずれによる結合損失が無視で
きるほど小さくなるよう設定することを特徴とする特許
請求の範囲第１項、第２項、第３項、第４項、または第
５項記載の光ファイバの特性測定方法。 ７、測定を開始する前に被測定ファイバあるいは測定基
準参照用ファイバの入、出射端と、入射側ファイバある
いは出射側ファイバ端との結合点のうち、少なくとも１
結合点において、結合する２つのファイバ端の軸を出射
側ファイバよりの受光強度が最大になるよう軸合わせを
することを特徴とする特許請求の範囲第１項、第２項、
第３項、第４項、第５項、または第６項記載の光ファイ
バの特性測定方法。 ８、被測定ファイバあるいは測定基準参照用光ファイバ
の入、出射端の端面の少なくとも１端面の切断面は、そ
のファイバ軸方向に対する角度を垂直またはほゞ垂直に
近い一定角度とすることを特徴とする特許請求の範囲第
１項、第２項、第３項、第４項、第５項、第６項または
第７項記載の光ファイバの特性測定方法。 ９、測定を開始する前に仮測定ファイバあるいは測定基
準参照用ファイバの端面のうち少なくとも１つの端面に
ついて光学的にその平凹度、ファイバ軸に対する直角度
を監視することを特徴とする特許請求の範囲第１項、第
２項、第３項、第４項、第５項、第６項、第７項または
第８項記載の光ファイバの特性測定方法。 １０、被測定ファイバあるいは測定基準参照用ファイバ
の構造パラメーターは、入射側ファイバあるいは出射側
ファイバの結合損失が一定またはその変動が無視できる
程小さく設定されていることを特徴とする特許請求の範
囲第１項、第２項、第３項、第４項、第５項、第６項、
第７項、第８項または第９項記載の光ファイバの特性測
定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21067284A JPS6189535A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 光フアイバの特性測定方法 |
| AU48368/85A AU586192B2 (en) | 1984-10-08 | 1985-10-08 | A method and apparatus for measuring optical fiber characteristics |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21067284A JPS6189535A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 光フアイバの特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6189535A true JPS6189535A (ja) | 1986-05-07 |
Family
ID=16593197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21067284A Pending JPS6189535A (ja) | 1984-10-08 | 1984-10-08 | 光フアイバの特性測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6189535A (ja) |
| AU (1) | AU586192B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9182006B2 (en) | 2012-08-31 | 2015-11-10 | Showa Corporation | Hydraulic shock absorber and valve |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5260153A (en) * | 1975-11-12 | 1977-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | Light communication test equipment |
| JPS55152433A (en) * | 1979-05-17 | 1980-11-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Light loss measuring instrument |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61102534A (ja) * | 1984-10-25 | 1986-05-21 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバの特性測定装置 |
-
1984
- 1984-10-08 JP JP21067284A patent/JPS6189535A/ja active Pending
-
1985
- 1985-10-08 AU AU48368/85A patent/AU586192B2/en not_active Ceased
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5260153A (en) * | 1975-11-12 | 1977-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | Light communication test equipment |
| JPS55152433A (en) * | 1979-05-17 | 1980-11-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Light loss measuring instrument |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9182006B2 (en) | 2012-08-31 | 2015-11-10 | Showa Corporation | Hydraulic shock absorber and valve |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU586192B2 (en) | 1989-07-06 |
| AU4836885A (en) | 1986-04-17 |
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