KR900008299B1 - 광파이버 특성의 측정방법 및 장치 - Google Patents

광파이버 특성의 측정방법 및 장치 Download PDF

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KR900008299B1 KR1019850001216A KR850001216A KR900008299B1 KR 900008299 B1 KR900008299 B1 KR 900008299B1 KR 1019850001216 A KR1019850001216 A KR 1019850001216A KR 850001216 A KR850001216 A KR 850001216A KR 900008299 B1 KR900008299 B1 KR 900008299B1
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Abstract

내용 없음.

Description

광파이버 특성의 측정방법 및 장치
제1도는 본 발명의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치의 제1실시예의 구성을 표시한 개략도.
제2도는 본 발명의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치의 제2실시예의 구성을 표시한 개략도.
제3도 및 제4도는, 제2도의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치에 있어서 사용되고 있는 피측정 광파이버 호울더와, 피측정 광파이버의 축방향의 위치결정을 행하는 기구의 일례를 표시한 도면이며, 제3도는 그 개략 정(頂)면도, 제4도는 그 개략측면도.
제5도는 피측정 광파이버 호울더의 일례를 표시한 V홈 블록의 단면도.
제6도, 제7도 및 제8도는 제2도의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치에 짜넣을수 있는 피측정 광파이버와 측정기쪽 광파이버와의 조심(調心)을 행하는 기구를 표시한 것으로서 제6도는 그 평면도, 제7도는 제6도의 선(VI-VI)에서의 단면도, 제8도는 제7도의 선(Ⅶ-Ⅶ)에서의 단면도.
제9도는 종래의 투과법에 의한 광파이버특성 측정장치의 개략도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
A : 세트스테이션(제1도) A,B : 세트스테이션(제2도)
B,C,D,E : 측정스테이션(제1도) C,D,E : 측정스테이션(제2도)
F,G : 예비스테이션
1A∼1C,2A∼2C,13,13A∼13G,14,14A∼14G 피측정 광파이버 호울더
3,4,37A∼37F,38A∼38F : 피측정 광파이버의 단부
7A∼7C.8A∼8C,16∼16"',17∼17''' : 측정기쪽 파이버 호울더
7'A∼7'C,20∼23 : 광검출기 8'A∼8'C,24∼27 : 광원
9,10A∼10F : 피측정 광파이버 보빈 15,15A∼15E : 이동스테이지
31,31'∼31'",32,32',32''' : 조심제어기
59,60 : 측정기쪽 광파이버의 피복부분압압대
61,62 :측정기쪽 광파이버의 피복부분압압부재 63,64,65,66 : 작동기
67,68,69,70 : 피스톤 71,72,73,74 : 스프링
S,S' : 광센서
152,152' : 피측정 광파이버의 피복부분압압대
154,154' : 피측정 광파이버의 피복부분압압부재
162,162' : 구동축 168,168' : 치차전달기구
170,170' 모우터 174,174' : V홈 블록
176,176' : V홈 블록압압부재 178,180 : 광센서의 광파이버
본 발명은, 광파이버 특성의 측정방법 및 장치에 관한것이다. 더욱 자세하게는 본 발명은 전송손실, 전송대역등의 다항목에 걸친 측정을 자동적으로 동시에 연속해서 측정하기위한 광파이버특성의 측정방법 및 장치에 관한것이다. 광파이버의 전송특성에는 전송손실, 분산, 전송대역등이 있으나, 특히 전송손실, 전송대역의 두가지가 광파이버로서는 중요한 특성이다.
종래, 전송손실은, 피측정 광파이버를 전반(傳搬)하는 광의 감쇄량을 직접측정하는 투과법이나, 피측정광파이버 내에서 발생하는 레일리후방 산란망 및 프레넬 반사광을 측정하는 후방 산란법으로 측정되고, 한편, 전송대역은 투과법으로 측정되고 있다 .그 어느 측정에 있어서도, 피측정 광파이버와 측정기쪽 광파이버와의 결합을 하지않으면 안된다. (예를들면, 일부후꾸로미 히데오저작 "광파이버케이불"(소화58년 7월 10일오옴사발행,255 ∼ 302면 ).
따라서, 피측정 광파이버와 측정기쪽 광파이버와의 양호한 결합이 실현될수 있는지 없는지 여부가, 광파이버 특성 측정장치가 정확하고도 효율적으로 측정할수 있는지의 영향을 미치게 된다.
첩부도면의 제9도는, 투과법을 사용한 종래의 광파이버 특성측정장치의 구성을 예시한 개략구성도이다.
제9도에 있어서, 조심대(調心台)(1A∼1C) 및 (2A∼2C)는, 피측정 광파이버의 양쪽의 단부(3), (4)를 각각 유지하고, 이 양단을 측정기쪽 광파이버(5A∼5C) 및 (6A∼6C)의 단면과 맞대게하고, 그리고 조심(調心)을 한다. 이들 측정기쪽 광파이버(5A∼5C) 및 (6A∼6C)의 한쪽끝은, 호울더(7A∼7C) 및 (8A∼8C)에 유지되고 있으며, 또, 측정기쪽 광파이버(5A-5C)의 타단은, 광검출기(7'A∼7'C)에 접속되고, 측정기쪽 광파이버(6A∼6C)의 타단은 광원(8'A∼8'C)에 접속되어있다. 이들은 보통, 정반(定盤) (도시되어있지않음)에 짜넣어져서 하나의 장치를 형성하고있다. 그런데, (9)는 피측정 광파이버를 감은 보빈을 표시한다.
이상에 설명한 종래의 장치는 다음과 같이 사용해서 측정이 행해진다.
즉, 먼저, 피측정 광파이버의 양단을 처리(피복제거 및 파이버 절단)한뒤에, 조심대(1A) 및 (2A)에 세트한다. 이어서, 피측정 광파이버의 양단(3) 및 (4)의 단면(端面)을, 호울러(7A) 및 (8A)에 세트되어있는 측정기쪽 광파이버(5A) 및 (6A)의 단면에 맞대게하여 축심을 조절한다. 이 조절은 조심대(1A) 및 (2A)에 비치되어있는 조심장치(도시되어있지않음)에 의해서, 피측정 광파이버를 그 축방향 즉 Z방향으로 미소변위시키고, 또, 피측정 광파이버를 그 축방향과 직각인 서로 직교한 2방향 즉 XY방향으로 이소변위시킴으로서 행한다. 이조절은, 예를들면, 시판의 XYZ 3방향 미동대(微動台)로 행하는 경우와, 이것을 자동적으로 행하는 경우가 있다. 그리고, 그 조절이 완료되면, 광원(8'A)으로부터의 광을 피측정 광파이버에 입력시켜서, 광검출기(7'A)에 의해서 피측정 광파이버를 전파(傳播)한 광을 측정한다. 이리하여, 1개의 측정항목, 예를 들면 전송손실을 스테이션(I)에 측정하고, 이어서, 보빈(9)을 사람손으로 옮겨서, 스테이션(II), 스테이션(III)에서 마찬가지 조작을 조작자가 행하여 다른항목을 순차적으로 측정해간다.
이상과같은, 광파이버 특성측정장치를 사용하는 피측정 광파이버의 특성측정에서는, 피측정 광파이버의 측정기쪽 광파이버와의 결합의 준비로서의 피측정 광파이버의 단면처리, 조심대에의 세트, 결합, 측정종료후의 파이버의 제거등 사람손을 요하는 시간과, 계기에 의한 측정, 데이터처리에 요하는 시간등이 거의 같기 때문에, 1인이 병행해서 처리할수있는 측정항목은 겨우 2개가 되어, 측정능률이 매우 나쁘다.
그래서, 본 발명은, 상기한 종래기술의 문제점을 해소하고, 1인의 조작자에 의해서 2개 이상의 측정항목을 효율적으로 측정할수 있는 광파이버 특성의 측정방법 및 장치를 제공할려고 하는 것이다.
즉, 본 발명은, 1인의 조작자가 순차적으로 피측정 광파이버를 세트하는 한편, 2개이상의 측정항목을 병행해서 측정가능하게한 광파이버 특성의 측정방법 및 장치를 제공할려고하는 것이다.
본 발명에 의하면, 일직선으로 이동가능한 이동스테이지와, 이 이동스테이지의 이동방향에 따라서 배치된 세트스테이션과, 상기 이동스테이지의 이동방향에 따라서 일직선상으로 또 서로 등간격으로 배치된 측정기쪽 광파이버 호울더를 각각 가진 복수의 측정스테이션을 구비하고, 상기 이동스테이지에는, 그 이동스테이지의 이동방향으로, 상기 측정기쪽 광파이버 홀더의 배열 방향과 병행되게 일직선 상태로 또 상기 간격과같은 간격으로 배치된 복수의 피측정 광파이버 호울더가 배실되어 있는 것을 특징으로하는 광파이버 특성측정장치가 제공된다.
이와같은 구성을 가진 본 발명의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치에 있어서는, 세트스테이션에 있어서, 피측정 광파이버의 단부를 이동스테이지 상의 피측정 광파이버 호울더에 세트하면, 측정스테이션의 측정기쪽 광파이버 호울더의 간격과 이동 스테이지상의 피측정 광파이버 호울더의 간격이 동일하기 때문에, 이동스테이지를 이동하므로서, 상기 피측정 광파이버의 단부를 측정스테이션의 측정기쪽 광파이버에 순차적으로 결합시킬 수 있다. 따라서, 복수의 피측정 광파이버라도 세트스테이션에서 한번 세트를 하면 이동스테이지의 이송에 따라서 순차적으로 측정스테이션에서 측정을 행할수 있다.
이하, 첨부도면을 참조하면서, 본 발명의 광파이버 특성의 측정방법 및 장치의 실시예를 설명한다.
제1도는, 본 발명의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치의 제1실시예의 구성을 표시한 계략도이다.제1도에 있어서, (10A~10E)는 광파이버의 보빈이다. 그 광파이버의 양단의 한쪽(11A∼11E)은 각각 보빈쪽 파이버 호울더(13A∼13E)에 유지되어 있으며, 다른쪽의 (12A∼12E)는 마찬가지로 다른 파이버 호울더(14A∼14E)에 유지되어있다. 여기서는 (13A∼13E)는 광입사쪽 호울더, (14A∼14E)는 광출사쪽 호울더이다. 이 양호울더는, (15A∼15E)로 표시한 이동 스테이지에 실려있으며, 화살표시(a)로 표시하는 방향으르 1스텝씩 나아가도록, 도시하지않는 컨베이어장치에 의해서 이동할수 있다. 이에 따라서, 보빈(10A∼10E)도 도시하지않는 컨베이어장치에 의해서 화살표(b)로 표시하는 방향으로 1스텝씩 나아간다. 또, (16∼16''' ) 및 (17∼17"')은 측정기쪽의 광파이버(18∼18''') 및 (19∼19''')를 유지하는 호울더이며, (16∼16"')은 수광쪽, (17∼17''')은 광원쪽의 파이버를 유지하는 호울더이다. 광파이버(18)는 측정기(20)에, (18')는 (21)에, 마찬가지로 (18''')는 (23)에 접속되어있다. 측정기(20), (21), (22), (23)는 각각의 항목을 측정한다. 다른쪽의 광파이버(19∼19''')는 광원(24∼27)에 접속되어있다. 광파이버(18∼18'''), (19∼19''')의 단부(35∼35''') 및 (36∼36"')은 이동스테이지(15A∼15E)의 화살표(가)방향의 이동에 따라서 이동스테이지와의 관계위치가 각각 상대적으로 같이되도록 위치시켜 놓는다. (29), (30)은 파이버단부(37A), (38A)의 위치결정용 스토퍼이다.
수광쪽의 파이버 호올더(16∼16"') 및 광원쪽 호울더(17∼17'")는 파이버축에 대해서 직각방향 2방향으로 이동할수있는 후술하는 조심기구를 가지고있다.
(31∼31''') 및 (32∼32'")는 각각 그 조심기구를 제어하는 제어기로서, 전자는 광원쪽의 파이버 호울더(17∼17''')를, 후자는 수광쪽의 파이버 호울더(16∼16'")를 조심한다. (A∼E)는 각각의 동작스테이션을 표시하며, (A)는 측정하는 파이버를 세트하는 스테이션, (B), (C), (D), (E)는 각각의 항목을 측정하는 스테이션이다. 먼저 세트스테이션(A)에서는, 사람의 손으로 광파이버의 단부를 파이버 호울더(13A), (14A)에 세트한다. 그때, 파이버스토퍼(29), (30)에 파이버단면(37A), (38A)을 맞부딪치게해서 세트한다. 즉, 파이버 단면은 이동스페이지(15A)에 대해서 일정한 위치에 위치결정된다. 다음에 이동스테이지(15A)는 도시하지않은 레일위를 스테이션(B)에 이동한다. 동시에 이동스테이지(15B∼15E)는 각각 (C), (D), (E)로 이동하고, 이동스테이지(15E)는 파이버(11E), (12E)를 호울더(13E), (14E)로부터 도시하지않는 장치에 의해서 탈거한후, 화살표(c)에 표시한 바와같이 스테이션(A)로 옮겨진다. 이에 따라서 보빈(10A∼10E)는 각각(B), (C), (D)로 순차적으로 이동된다. 다음에, 측정기쪽 파이버와 보빈쪽 파이버의 단면끼리의 조심에 대해서 설명한다. 스토퍼(29), (30)에 의해서 파이버 축방향의 위치가 결정된 보빈쪽 파이버(11B), (12B)는 다음의 스테이션(B)에 도달했을때, 이동스테이지(15B)는 테일에 실려서 파이버축 방향의 위치가 결정되어있고, 호울더(13B), (14B)는 이동스테이지(15B)위에서 일정한 위치이므로, 파이버단부(37B), (38B)는 도시하지않는 레일에 대해서, 파이버축 방향의 위치가 일정하다.
따라서, 일정위치에 있는 측정기쪽의 파이버단부(35), (36)와 보빈쪽 파이버단부(37B), (38B)는 파이버축방향(Z방향)의 위치관계가 항상 일정하게되어, 설정한 클리어런스를 언제나 재현할수 있다. 다음에 조심제어기(31), (32)의 제어에 의해서 측정기쪽 파이버 호올더(16), (17)가 동작을 하고, 파이버단부(35), (36)를 파이버축과 직각 Z방향(XY방향)으로 이동시키므로서 대향하는 파이버 축심의 자동조절을 행한다.
조심제어기(31) 및 (32)는 각각 측정기(20)의 수광파우어를 받아서, 그것이 최대가 되게 작동한다. 파이버축 방향 및 축과 직각인 방향의 위치맞춤이 정확하게 이루어진후, 측정이 행해진다. 스테이션(B)에서의 측정이 끝나면 스테이션(C)으로 나아가며, 이하 순차적으로 위치맞춤과 측정, 및 스테이션(A)에서의 파이버세트가 행해지고, 파이버세트와 중심맞춤 측정이 동시병행해서 진행된다. 스테이션(E)에서 측정이 완료후, 보빈쪽의 파이버는 도시하지않은 장치에 의해서 파이버호울더로부터 제거되고, 보빈(10E)은 다음공정으로 나아가며, 이동스테이지(15E)는 스테이션(A)으로 되돌아간다. 이동스테이지(15A∼15E)는 수평면상 또는 수직면내에 순환적으로 이동해서 각종특성 항목을 순차적으로 측정할수있다.
이상설명한 방법에 의하면, 1인의 작업자로 다항목의 측정을 할수있다. 즉, 모든 스테이지에 보빈이 있는 정상 상태에 있어서는, 1택트로 모든 측정을 완료한 보빈이 1개 나오게되는 셈이되며, 이것은, 측정항목의 다소에 관계가 없다. 종래의 방법으로는 2항목이 한도이나, 본 발명에 의하면 1인당의 측정항목 나아가서는 1인당의 측정능력이 비약적으로 향상된다.
제2도는, 본 발명의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치의 제2실시예의 구성을 표시한 개략도이다. 그런데, 제2도는 측정도중의 상태를 표시하고 있다.
제2도에 있어서, 참조번호(10A∼10F)는 피측정 광파이버의 보빈을 표시하고 있으며, 도시하지않는 이동대(移動坮)상에 실려있다.각 보빈(10A∼10F)에 감겨있는 피측정 광파이버의 일단(11A∼11F)은 이동스테이지(15)상에 8개 착설된 피측정 광파이버 호울더(13∼13G)중의 호울더(13A∼13F)에 유지되고 타단(12A∼12F)은 같은 이동스테이지(15)상에 8개 착설된 다른 피측정 광파이버 호울더(14∼14G)중의 호올더(14A∼14F)에 유지되어 있다.뒤에 말하는 설명에서 밝혀지는 바와같이, 피측정 광파이버 호울더(13∼13G)는 광출사쪽 호울더, 피측정 광파이버 호울더(14∼14G)는 광입사쪽 호울더이다.
이동스테이지(15)는, 도시한 바와같이, 홀쪽한 직선형상을 하고있다.그리고, 그 이동스테이지(15)상의모든 피측정 광파이버 호울더(13∼13G) 및 (14∼14G)는 그 이동스테이지(15)의 길이방향에 따라서 일직선으로 배치되고, 피측정 광파이버의 양단을 유지해서 쌍을 이루는 광출사쪽 호울더와 광입사쪽 호울더(13)과(14), (13A)와 (14A) ∼(13G)와 (14G)의 간격은, 동일하게 하고, 또, 광출사쪽 호울더(13∼13G)상호간격도 동일하게되고 있다. 따라서, 광입사쪽 호울더(14∼14G)상호 간격도 동일하다.
이동스테이지(15)의 피측정 광파이버보빈(10A∼10F)파 반대쪽에는 측정기쪽 광파이버 호올더(16∼16")및 (17∼17'')가 이동스테이지(15)상의 피측칭 광파이버 호울더(13∼13G) 및 (14∼14G)의 배열방향과 병행되게 일직선으로 배열되어있다. 이들 측정기쪽 광파이버 호울더(16∼16'') 및 (17∼17")는 각각, 측정기쪽광파이버(18∼18") 및 (19∼19")의 일단을 유지하고있다. 측정기쪽 광파이버(18∼18'')의 타단은, 각각 광검출기(20∼22)에 접속되어있다. 광검출기(20∼22)는, 각각 할당된 측정항목의 측정처리를하는 처리장치(도시되어있지않음)에 접속되어있다. 한편, 측정기쪽 광파이버(19∼19")의 타단은, 광원(24∼26)에 접속되어있다. 따라서, 측정기쪽 광파이버 호울더(16∼16")는 수광쪽 광파이버 호울더, 측정기쪽 광파이버 호울더(17∼17")는 광원쪽 광파이버 호울더라고 말할수있다.
그리고, 상기한 수광쪽 광파이버 호울더와 광원쪽 광파이버 호울더(16)과 (17), (16')와 (17'), (16")와(17")의 간격은, 이동스테이지(15)상의 광출사쪽 호울더와 광입사쪽 호울더(13)과 (14)의 간격과 동일하게하고, 또, 수광쪽 광파이버 호울더(16∼16")의 간격은, 광출사쪽 호울더(13∼13G)상호간격과 동일하게 되어있다.
이동스테이지(15)는, 그 이동스테이지(15)의 길이방향에 따라서 화살표(a)로 표시하는 방향으로 자동구동(도시되어있지않음) 또는 조작자에 의해서 이동되고, 그리고, 광출사쪽 호울더(13∼13G)의 간져에 대응하는 1스텝길이마다 정지되게 되어있다.
그 자동구동장치는, 예를들면, 이동스테이지를 가이드에 따라서 보내는 이동나사기구와 그 이동나사를 회전구동하는 가역전(可逆轉)펄스모우터로서 구성할수있다. 이와같은 펄스모우터의 구동펄스수를 적당하게 선정하므로서 이동나사를 소정량 회전시켜서, 이동스테이지를 소정량, 즉 1스텝량 보낼수있다. 이 이동스테이지(15)의 이동에 따라서, 보빈(10A∼10F)을 실온 이동대도 별도의 컨베이어장치(도시되어있지않음) 또는조작자에 의해서 화살표(a)로 표시한 방향으로 1스텝씩 나아갈수있게 할수있다.
이와같이해서, 피측정 광파이버 호울더(13∼13G) 및 (14∼14G)에 피측정 광파이버가 정확하게 세트되어, 측정기쪽 광파이버 호울더(16∼16") 및 (17∼17")에 측정기쪽 광파이버(18∼18") 및 (19∼19")가 정확하게 세트되면, 측정기쪽 광파이버(18∼18'') 및 (19∼19")의 단부(35∼35") 및 (36∼36")와 피측정 광파이버의 단부(37A∼37F), (38A∼38F)는 매우 근접한, 예를들면 10-50μm의 간격으로 서로 평행관계에 있는 직선상에 각각 위치한다.
제2도에서 보게되면, 측정기쪽 광파이버 호울더(16)의 하방에, 쌍을 이루는 광출사쪽 호울더와 광입사쪽 호울더(13)과 (14)의 간격과 동일한 간격으로 피측정 광파이버의 선단을 검출하는 광센서(S) 및 (S')가 배치되어있다. 또, 이들 광센서(S) 및 (S')의 하방에, 쌍을 이루는 광출사쪽 호울더와 광입사쪽 호울더(13)과 (14)의 간격과 동일한 간격으로 피측정 광파이버의 스토퍼(29) 및 (30)가 배치되어있다.
이들 광센서(S) 및 (S') 그리고 스토퍼(29) 및 (30)는 측정기쪽 광파이버 호울더(16∼16") 및 (17∼17")에 정확하게 세트된 측정기쪽 광파이버(18∼18") 및 (19∼19")의 단부(35∼35") 및 (36∼36")를 연결하는 직선상에 위치되도록 배치되며, 또, 수광쪽 광파이버 호울더(16)와 광센서(S)의 간격 및 광센서(S)와 스토퍼(29)의 간격은, 광출사쪽 호울더(13∼13G)상호간격과 동일하게 되어있다. 따라서, 광원 광파이버 호울더(17)와 광센서(S')의 간격 및 그 광센서(S')와 스토퍼(30)의 간격은, 광입사쪽 호울더(14∼14G)상호간격과 동일하다.
이상과같은 광파이버 특성의 측정방법에의한 장치에 있어서 스토퍼(29) 및 (30)이 배치되어있는 곳이 제1세트 스테이션(A)를 이루고, 광센서(S) 및 (S')가 배치되어있는곳이 제2세트 스테이션(B)을 이루고 광검출기(20), (21), (22) 및 광원(24), (25), (26)이 각각 배치되어어있는곳이 측정스테이션(C), (D), (E)을 이루고, 그 측정스테이션(E)의 위에는 예비스테이션(F), (G)이 있다.
다음에, 피측정 광파이버 호울더 및 이에 부속되는 부분의 설명을 한다. 그러나 호울더(13∼13G) 및(14∼14G)의 각쌍은 동일하므로, 그 1쌍만을 설명한다. 제3도는 제2세트 스테이션(B)에 있는 피측정 광파이버 호올더(13B) 및 (14B)를 표시한 계략정면도로서, 그 피측정 광파이버의 축방향의 위치결정이 이루어지는 상태를 표시하고 있으며, 제4도는 그 계략측면도이다.
이동대(도시되어있지않음)에 놓여진 보빈(10A)으로부터 뻗은 피측정 광파이버의 양단부(11B) 및 (12B)의 피복부(148), (148')는, 이동스테이지(15)상의 피복부 분압압대(152), (152')의 위에 얹혀져서, 피복부분압압부재(154), (154')에 의해서 눌려진다.
이피복부분압압대(152), (152')는, 이동스테이지(15)상에서 광파이버축방향으로가동할수있게 착설되어있다. 즉, 이 피복부분압압대(152), (152')는, 지지대(156), (156')에 의해서 회전가능하도록 나사를 맞추어서 지지된 이동나사축(158), (158')에 의하여, 피측정 광파이버의 축방향으로 이동할수있다. 따라서, 이 이동나사축(158), (158')이 이동기구를 구성하고 있으며, 따라서, 유통이 없도록 특히 정밀가공되어 있어야할 필요가 있다. 이동나사축(158), (158')의 후단에는 탈작가능한 커플러(160), (160')이 착설되어있다.
커플러(160), (160')은, 제2세트 스테이션에 배치된 구동기구의 구동축(162), (162')의 커플러(164)(164')과 결합된다. 이 구동축(162), (162')은 베어링(166), (166')에 의해서 지지되며, 감속비가 큰 치차전달기구(168), (168')에 의해서 모우터(170), (170')의 회전이 전달된다. 이들이 구동기구를 구성하고있다.
피측정 광파이버의 양단부(11B), (12B)의 피복부분(148), (148')의 선단부(172) 및 (172')는, 피복 및 코우팅층이 제거되고, 깨끗한 상태로 따로따로, 제5도에 표시한 바와같은 단면형상을 가진 V홈 블록(174), (174')의 V홈 바닥에 놓여진 위로부터압압부재(176), (176')에 부드럽게 움직일 수 있게 눌러진다. V홈블록(174), (174')의 V홈 및 압압부재(176), (176')는, 정밀하게 가공되어 있으므로, 피측정 광파이버 단면의 위치, 방향 정밀도는 매우 높다.
상기 구성에 의해서 피측정 광파이버는 그축과 직각인 방향에 있어서는 구속되고, 이축방향과 동일한 방향으로만 이동한다. 따라서, V홈 블록(174), (174')의 V홈 및 압압부재(176), (176')는 피측정 광파이버 단부의 호울더(13B) 및 (14B)를 구성하고 있으며, 피측정 광파이버의 양단을 소정의 간격으로 유지한다.
그때문에, 모우터(170), (170')를 회전시키면, 그 회전에 의하여 이동나사측(158), (158')이 회전되고 피측정 광파이버 단부는, 피측정 광파이버의 축방향에만 이동한다.
제2세트 스테이션(B)의 피측정 광파이버 호울더(13B) 및 (14B)의 앞쪽에는, 상기한 광센서(S), (S')가 착설되어 있으며, 이들 광센서는, 광원 및 광검출기(도시되어있지않음)에 각각 결합된 광출사용 광파이버(178) 및 수광용 광파이버(180)을 가지고 있다. 이들 광파이버(178) 및 (180)는 제2도 및 제3도에 표시한 바와같이, 피측정 광파이버 호울더(13B) 및 (14B)에 유지되어있는 피측정 광파이버의 축선의 연장상의 일정위치에 이 파이버의 축선을 서로 사이에 두도록 위치하고있다.
광파이버(178) 및 (180)로서는, 코어 직경의 수십 μm의 것을 사용한다. 피측정 광파이버가 그 코우팅이 제거되었을 경우의 직경은 단모우드 광파이버의 경우 100∼150μm이고, 다모우드 광파이버의 경우는100∼250μm이므로, 피측정 광파이버에 의하여 광출사용 광파이버(178)로부터 출사하여, 수광용 광파이버(180)에 입사하는 광비임을 완전히 차단할수있다. 그리고, 광출사용 광파이버(178)의 단면으로부터 출사하는 광은 어느정도 방산(放散)하고, 그 광속(光束)의 중앙부분 이외는 수광용 광파이버(180)에 입사하지 않는다. 따라서, 고어 직경이 수십 μm라도, 광파이버(178) 및 (180)간의 거리를 적당하게 선택하므로서, 실질적으로는 광검출에 사용되는 광속의 직경은 작게할수있다. 또, 수광용 광파이버(180)가 접속된 광검출기의 출력전압이 최대치의 50%를 임계레벨로하여, 출력전압이 최대치의 50%이하가 되었을때 차광되었다고 판단해서 처리하면, 수 μm의 정밀도로 축방향의 위치결정을 할수있다.
다음에, 제2도에 표시한 광파이버 특성의 측정방법 및 장치의 동작을 설명한다.
먼저, 호울더(13G) 및 (14G)가 제1세트 스태이션(A)에 위치하도록, 제2도에 있어서, 이동스테이지(15)를 하방으로 위치시킨다. 그상태에서, 조작자는 피측정 광파이버의 양단을 호울더(13G) 및 (14G)에 세트한다. 그때, 피측정 광파이버의 선단을 스토퍼(29) 및 (30)에 가법게 당접시키거나 또는, 극히 좁은 간격을 떼어서 세트한다. 이렇게하여, 그 피측정 광파이버의 양단은, V홈블록의 기능에 의해서, 소정의 간격으로 위치를 결정하게되고 또, 광파이버의 축에 대해서 직각인 서로 직교하는 X 및 Y방향의 위치결정이 이루어진다.
호울더(13G) 및 (14G)에 피측정 광파이버의 세트가 끝나면, 이동스테이지(15)를 1스텝 즉 1스테이션 간거리 화살표(a)의 방향으로 이동시켜, 호울더(13G) 및 (14G)에 유지되어있는 피측정 광파이버의 양단을 제2세트 스테이션(B)에 위치결정한다.
상기한 바와 같이, 피측정 광파이버 호울더의 각 쌍에 있어서의 호울더의 간격, 및 스토퍼(29)와 (30)의 간격 및 광센서(S)와 (S')의 간격이, 모두 동일하고, 또, 피측정 광파이버 호울더의 각 쌍간의 간격, 및 스토퍼(29) 및 광센서(S)의 간격이 모두 동일하므로, 상기한 이동스테이지의 이송단으로, 제2세트 스테이션(B)의 광센서(S)와 (S')를 연장선이 통과하도록, 호울더(13G) 및 (14G)에 유지되어있는 피측정 광파이버는 위치한다.
그리고, 제2세트 스테이션(B)에 있어서, 호울더(13G) 및 (14G)에 부속되는 커플러(160)를 커플러(164)에 결합하여, 피측정 광파이버의 축방향의 위치결정을 실시한다.
그와 동시에, 호울더(13F) 및 (14F)에 다른 피측정 광파이버 즉 보빈(10F)의 피측정 광파이버의 양단(11F) 및 (12F)를, 상기와 마찬가지로 세트한다.
이러서, 이동스테이지(15)를 1스텝 즉 1스테이션 간거리 화살표(a)의 방향으로 보내고, 호울더(13G) 및(14G)에 유지되어있는 피측정 광파이버의 양단을 측정스테이션(C)에 위치결정하여, 호울더(13F) 및 (14F)에 유지되어있는 피측정 광파이버의 양단(11F) 및 (12F)을 제2세트 스테이션(B)에 위치결정한다.
피측정 광파이버 호울더의 각 쌍에 있어서의 호울더의 간격과, 스토퍼(29)와 (30)의 간격, 광센서(S)와(S')의 간격 및 측정기쪽 광파이버 호울더(16)와 (17), (16')와 (17'), (16")와 (17")의 간격이 모두 동일하고, 또, 피측정 광파이버 호울더의 각 쌍간의 간격과, 스토퍼(29), 광센서(S), 측정기쪽 광파이버 호울더(16), (16'), (16'')의 간격이 모두 동일하며, 또한 광센서(S)와 (S')와, 측정기쪽 광파이버 호울더(16)와(17), (16')와 (17'), (16'')와 (17'')에 유지되어있는 측정기쪽 광파이버의 단부(35)와 (36), (35')와 (36'), (35")와 (36")가 서로 근접하여 평행인 2직선상에 위치하고 있으므로 상기한 이동스테이지의 이동만으로, 측정스테이션(C)에 있어서, 측정기쪽 광파이버(18) 및 (19)의 단부에 일치하고, 동시에 일정한 간격떨어져서, 호울더(13G) 및 (14G)에 유지되고있는 피측정 광파이버는 위치한다.
이리하여, 측정스테이션(C)에 있어서, 제1측정 항목에 대한측정이, 호울더(13G) 및 (14G)에 유지되어있는 피측정 광파이버에 대해서 실행된다.
한편, 제2세트 스테이션(B)에 있어서는, 호울더(13F) 및 (14F)에 부속되는 커플러(160)를 커플러(164)에 결합하여, 피측정 광파이버의 축방향의 위치결정을 실시한다. 그와 동시에, 호울더(13E) 및 (14E)에, 보빈(10E)의 피측정 광파이버의 양단(11E) 및 (12E)을 상기와 마찬가지로 세트한다.
그뒤, 이동스테이지(15)를 1스텝씩 보내면서 제1세트 스테이션(A)에서의 피측정 광파이버의 피측정 광파이버 호울더에의 세트, 제2세트 스테이션(B)에서의 피측정 광파이버의 축방향위치의 조정, 측정스테이션(C)∼(E)에서의 각항목의 특성의 측정이 실행된다.
그리고, 피측정 광파이버가 예비스테이션(F) 또는 (G)에 도달하면, 피측정 광파이버를 피측정 광파이버호울더로부터 땐다. 제2도의 예는, 예비스데이tus(G)에 있어서 피측정 광파이버가 이미 때어져있는 상태를 표시하고 있다.
이상의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치에 있어서, 피측정 광파이버를 한번 세트하면. 전항목의 측정이 끝날때까지는 이동스테이지는 직선적으로 움직여, 각 측정스테이션에서 세삼스럽게 피측정 광파이버를 위치보정함이 없이, 각 피측정 광파이버의 단부는, 측정기쪽 광파이버의 단부와 동축관계로 또 소정의 거리를 떼어서 위치결정된다. 따라서 조작자는, 피측정 광파이버를 이동스테이지에 순차적으로 세트하는 것만으로서, 광파이버의 특성을 다항목에 걸쳐서 측정할 수 있다.
상기한 본 발명에 의한 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치의 실시예에 있어서, 제3도 및 제4도에 표시한 피측정 광파이버를 축방향으로 위치결정하는 기구는, 커플러(160), (160') 및 (164), (164')을 결합시켜서, 피측정 광파이버에 이동을 주도록 되어있다. 이 경우에는 1개의 구동기구를 제2세트 스테이션(B)상의 소정위치에 설치해두면 되며, 구동기구의 수를 최소수로 할 수 있다. 반면, 그때마다, 커플러(160), (160') 및 (164), (164')을 결합시켜서, 피측정 광파이버의 축방향 위치결정이 끝날때마다 커플러를 분리시키는 동작이 필요하다. 그래서, 이동스테이지(15)상의 각 파이바 호울더 마다에, 구동기구를 착설하도록해도 좋다. 이와 같이하면, 이동스테이지상의 기계적구성이 복잡해지지만, 커플러의 결합 및 분리의 동작이 불필요해진다.
또, 제3도 및 제4도에 표시한 호울더 및 그 부속기구에 있어서는, 피복부분 압압대(152), (152')와 V홈블록(174), (174')은 분리해서 설치하며 V홈의 가이드로 피측정 광파이버를 안내하고 있다. 그러나, 피복부분 압압대와 V홈블록을 일체화하여, 가이드성이 좋은 가이드상에서 부드럽게 움직일 수 있게 부착해도 된다. 이 경우에는, 피측정 광파이버는 V홈의 바닥에 놓여지나, 그 위에서 부드럽게 움직이는 일은 없고, 상기한 일체화된 대(台)가 가이드를 따라서 광파이버 축방향으로 이동하여, 피측정 광파이버의 단부의 축방향위치가 조정된다.
또, 제2세트 스테이션(B)에 있어서는, 제3도 및 제4도에 표시한 바와 같이, 피측정 광파이버의 단부를 광학적인 위치검출방법에 의해서 검출하고 있다. 그러나, 작은 수광소자를 많이가진 고체수상장치나, 현미경을 이용한 방법등도 사용할 수 있다. 단, 광파이버를 사용한 센서는, 간단하게 자동화할 수 있고 그 위에 정밀도가 높다고하는 이점이 있다. 또, 그 위에 피측정 광파이버를 축방향으로 위치결정하는 동작을 피측정 광파이버단이 소정 측정스테이션에 위치결정된뒤 각 측정스테이션에서 행하여도 된다. 이를 위해서는 광파이버를 사용한 센서를 각 측정스테이션에 설치하여, 상기 실시예중 스태이션(B)에서 행한 바와 같은 동작을 각 측정스테이션에서 행해주면되며, 이와 같은 방법을 사용했을 경우, 축방향의 위치결정에 스테이지의 이동정밀도의 영향을 받지 않는다고하는 이점이 있다.
또, 피측정 광파이버의 축과 직각인 방향의 위치조정은, 상기한 바와 같은 V홈을 사용하는 것만으로도 통상의 피측정 광파이버의 특성측정은 층분하다. 그러나, 측정항목에 의하면, 피측정 광파이버와 측정기쪽 광파이버를 고정밀도하게 일치시킬 필요가 있다.
그러나 그와 같은 고정밀도의 위치결정 즉, 조심(調心)은, 세트스테이션에서 실시하는 것보다는 필요한 측정스테이션에시 실시하는 것이 특책이다.
제2도는, 광파이버의 축에 직각인 서로 직교하는 2방향에 있어서의 정밀한 위치결정, 즉 조심의 기구가측정스테이션(E)에 착설되어있는 상태릍 점선으로 도시하고 있다. 제2도에 있어서, 참조번호(31), (32)는 조심을 제어하는 제어기로서, 제어기(31)는 수광쪽의 파이버 호울더(16")를, 제어기(32)는 광원쪽의 파이버호울더(17")를 조성한다.
제6도, 제7도, 및 제8도는 그와 같은 조심기구를 도시하고 있으며, 제6도는 그 조심기구의 평면도, 제7도는 제6도의 선(V1-VI)에서의 단면도, 제8도는 제7도의 선(VII-VII)에서의 단면도이다.
측정기쪽 광파이버 호울더(16"), (17")는 측정기쪽 광파이버(18") 및 (19")의 피복제거된 부분을 그 꼭대기면에 고정유지하게 되고, 또, 탄력성이있는 아암(16"A) 및 (17"A)을 개재해서 피복부분 압압대(59) 및(60)에 고정되어있다. 그 피복부분 압압대(59) 및 (60)는, 호울더 지지대(40)에 고정되며, 그 위에는 상기한 측정기쪽 광파이버(18") 및(19")의 피복부분이 얹혀져서, 피복부분 압압부재(61) 및 (62)에 의해서 이동및 회전 불능토록 눌려져있다.
측정기쪽 광파이버 호울더(16"), (17")는, 상기한 바와 같이 아암(16"A) 및 (17"A)에 지지되어있기 때문에 외력을 작용시키므로서 아암(16"A) 및 (17"A)이 휘어져서 광파이버의 축과 직각인 방향으로 흔들릴 수있다. 이와 같은 흔들림을 측정기쪽 광파이버 호울더에 주기위해서 호울더 지지대(40)의 앞쪽 돌출부(42)에 피스톤 실린더식의 작동기(63), (64), (65), (66)가 착설되고, 이들 작동기의 피스톤(67), (68), (69), (70)에 스프링(71), (72), (73), (74)의 하단이 고정되어있다.
이들 스프링중, 안쪽의 스프링(72) 및 (73)은, 호울더(16''), (17")의 하면에 당접하고있으며, 이들 호울더(16"), (17")에 대하여, 측정기쪽 광파이버의 축에 대해서 직각인 대략 직각방향의 변위력을 주도록되어있다.
한편, 이들 스프링중 바깥쪽의 스프링(71) 및 (74)은, 호울더 지지대(40)에 고정된 핀(75) 및 (76)에, 중앙부가 회전가능하게 지지되어있는 1자형의 레버(77) 및 (78)의 수평아암부(77A) 및 (78A)의 하면에 당접하고 있다. 이들 1자형의 레버(77) 및 (78)의 수직아암부(77B) 및 (78B)는, 대응하는 호울더(16"), (17")의 바깥쪽면에 당접하고 있으며, 바깥쪽의 스프링(71) 및 (74)에 의한 변위력은, 1자형의 레버(77) 및(78)에 의해서, 측정기쪽 광파이버의 축에 대해서 직각인 수영방향의 변위력으로 변환되어서, 측정기쪽 광파이버 호울더에 작용한다.
작동기(63)과 (64) 및 (65)와 (66)는, 각각 제어기(31) 및 (32)로 제어된다. 이렇게하여 제어기(31) 및(32)는, 광검출기(22)의 출력이 최대로되는, 즉 결합도가 최대로되게 작동기(63), (64), (65), (66)를 제어하며, 스프링(71), (72), (73), (74)에 작용하는 압축변위를 바꾸어서, 측정기쪽 광파이버 호울더(16"), (17")를 측정기쪽 광파이버의 축에 대해서 직각인 서로 직교하는 2방향 즉 수직방향 및 수평방향으로 위치조정시킨다.
그 결과. 호울더(16"), (17")에 지지되어있는, 측정기쪽 광파이버(18") 및 (19")의 선단(35") 및 (36")은,호울더(13E) 및 (14E)에 유지되고있는 피측정 광파이버(11E) 및 (12E)의 선단(37E) 및 (38E)에 정확하게 조심된다.
이상의 정밀조심은, 측정기쪽 광파이버를 변위시키므로서 실시되고 있다. 이와 같이, 측정기쪽 광파이버호올더로 파이버축과 직각방향의 위치자동조절을 하고있으므로, 측정의 1텍트마다 이동해오는 피측정 광파이버 호울더(13)∼(13G) 및 (14∼14G)쪽에서의 조심작업은 불필요하게 된다.
따라서, 이동스테이지의 이동시에, 피측정 광파이버의 위치정밀도를 저하시키는 원인이되는 이동스테이지(15)상의 가동부를 적게할 수 있어, 이동스테이지상에서의 피측정 광파이버의 위치정밀도를 그대로 유지할 수 있다.
단, 장치 전체의 구성으로 생각컨데, 피측정 광파이버 호울더쪽을 이동시켜서 조심하는 쪽이 유리한 경우에는 이들을 이동시켜도 좋다. 이 경우의 조심방법도 상기와 진적으로 동일하다. 또, 예를 들면 측정기쪽 광파이버 호울더는 상하방향, 피측정 광파이버 호울더는 횡방향으로하는 것처럼 이동방향을 분할해서 조심해도 상관없다.
제6도, 제7도, 및 제8도에 표시한 조심기구는, 스프링에 압축력을 가해서 측정기쪽 광파이버 호울더를 이동시키는 예를 표시했으나, 스프링은 작동기의 움직임을 전달할 수 있수면 충분하며, 따라서 인장력으로 호울더를 움직여도 된다.
이상 설명한 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치의 실시예에 있어서는, 세트스테이션을 2개 설치하고 있으나, 반드시 2개 있을 필요는 없다. 예를 들면 1개의 세트스테이션에 있어서, 피측정 광파이버의 피측정광파이버 호울더에의 세트 및 피측정 광파이버의 축방향 및 그 각각 2방향의 위치결정을 하도록 할 수도 있다.
그 일례로서는, 제2도에 있어서의 제1세트 스테이션(A)을 없애고, 제2세트 스테이션만으로 한다. 이경우, 피측정 광파이버를 호울더의 V홈블록에 세트하므로서, 피측정 광파이버의 세트와 피측정 광파이버의 축방향에 대해서 직각인 서로 직교하는 2방향의 위치결정을 실시하고, 또, 제3도 및 제4도에 표시한 바와같은 축방향 위치결정 기구에 의해서 피측정 광파이버의 축방향의 위치결정을 행한다.
또는, 축방향의 고정밀도의 위치결정이 요구되지 않는다면, 제2세트 스테이션(B)을 생략하고, 제1세트스테이션(A)만으로 한다. 이 경우, 피측정 광파이버를 호울더의 V홈블록에 세트하므로서, 피측정 파이버의 세트와 피측정 광파이버의 축방향에 대해서 직각인 서로 직교하는 2방향의 위치결정을 실시하고, 스토퍼(29) 및 (30)에 피측정 광파이버의 선단을 가볍게 당접시켜서 피측정 광파이버의 축방향의 위치결정을 한다. 이와 같이 피측정 광파이버의 단면이 스토퍼에 맞부딪치게하면, 피측정 광파이버의 선단부가 변형된다. 이것이 축방향 위치의 다소의 오차의 원인이다. 이 방법에서는, 또, 단면에 먼지가 부착되거나, 단면이 상하는 등의 문제도 있다.
이상의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치의 실시예는, 피측정 광파이버의 양단을 측정기쪽에 연결하는 투과법을 모든 측정스테이션에 있어서 실시하고 있다. 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치에 있어서 후방산란 측정법을 실시하는 경우는, 후방산란 측정법을 실시하는 측정스테이션의 측정기쪽 광파이버 호울더를 1개 생략하고, 남은 측정기쪽 광파이버 호울더에 유지되는 측정기쪽 광파이버에 광방향성(光方向性)결합기를 설치하여 광원으로부터의 광을 그 광방향성 결합기를 개재해서 측정쪽 광파이버에 결합하고, 또측정기쪽 광파이버를 통과해온 후방산란광은, 그 광방향성 결합기를 개재하여 광검출기에 결합되게하면 된다.
또, 상기한, 실시예에 있어서는, 이동스테이지(15) 상에 8쌍의 피측정 광파이버 호울더(13∼13G), (14∼14G)가 설치되어 있으나, 이론적으로는 피측정 광파이버 호울더의 수는 무한정 증가할 수 있는 것으로서, 본발명에 의한 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치는, 이동스테이지상의 호울더수로 제한되는 것은 아니다.
이상의 실시예에 있어서는, 광원으로부터 피측정 광파이버에, 흑은 피측정 광파이버로부터 광검출기에로 광을 인도하는 수단으로서 광파이버를 사용하는 예를 표시하였으나, 파이버 대신에 렌즈계, 유리로도, 개구(開口), 핀호울등의 광학계로 이루어지는 광입출사단(光入出射端)으로 바꿀 수도 있다.
또, 이상의 실시예에 있어서, 광입출사단에 있어서의 정밀조심은 필요한 위치결정 정밀도가 까다롭지않는 경우에는, 일부스테이션에 있어서 생략할 수도 있고, 또, 위치조정을 행하지않는 측정스테이션을 예비스테이션으로 추가해서 설치하는 것도 가능하다.
또, 이상의 실시예에 있어서는 측정항목으로서는 투과법에 의한 손실측정이나, 후방산란 측정의 예를 표시했으나, 본 발명에 의한 위치조정 방법에 의해서 광출사단에 렌즈계 및 수광기로서 텔레비전 카메라를 갖추어 파이버단으로부터 피측정 파이버의 코어직경이나 외경등의 구조파라미터까지도 측정가능하다.
또, 이동스테이지에 일단세트된 모든 광파이버에 대해서 모든 항목측정이 끝나면, 화살표(a)와 반대의 방향으로 이동스테이지를 되돌릴 필요가 있다.
이 반송회수(返送回數)는 당연히 이동스테이지상에 설치된 호울더의 개수가 많을수록 파이버수에 비해서 적어진다.
예를 들면, 이동스테이지상에 설치된 피측정 광파이버 호울더의 수가 N(단, 투과법의 경우는 N쌍이고,후방산란 측정법의 경우는 N개)라고 하면, N회에 1회 이동스테이지를 되돌리면 된다.
그러나, 어느경우든 간에, 이동스테이지는 화살표(a)의 방향과 그 반대방향으로 왕복시킬 필요가 있다.그래서, 예비스테이션(G) 및 (F)을 각각 제1세트 스테이션 및 제2세트 스테이션으로하여, 스토퍼(29)및 (30)를 스테이션(G)에 설치하고, 광센서(S) 및 (S')를 스테이션(F)에 설치하여, 측정스테이선의 양쪽사이에 세트스테이션을 두도록 해도 된다.
이와 같이 구성하면, 화살표(a) 방향에 대한 이동스테이지(15)의 이송에 의한 측정에있어서, 그 화살표(a) 방향으로 이동스테이지(15)를 이송시킴으로써 측정이 완료되어 이동스테이지에서 일단 피측정 광파이버가 없어진다음, 스테이션(G)에서는 이동스테이지(15)의 피측정 광파이버 호울더(13) 및 (14)에 피측정광파이버를 세트하여, 화살표(a)의 반대방향으로 이동스테이지(15)를 이송하면서 순차적으로 피측정 광파이버를 세트하고 또 측정을 실시한다.
이와 같이, 이동스테이지의 화살표(a)의 방향과 그 반대방향의 어느방향의 이동에 의해서도 측정을 할수 있도록하면, 작업능률은 더욱 향상된다.
또, 상기한 실시예에 있어서는, 일체화된 이동스테이지(15)를 1개 설치했으나 복수로해서 동일직선방향(화살표(a)의 방향)으로 병행하도륵 해도된다. 예를 들면, 각각 5쌍의 피측정 광파이버 호울더를 착설한 제 1이동스테이지와 제2 이동스테이지를 준비한다. 이와 같이하면, 제1이동스테이지를 세트스테이션으로부터 순차적으로 측정스테이션으로 이송하고, 그 뒤에 제2이동스테이지를 이동하므로서, 제2이동스테이지의 최선단이 측정스테이션(E)에 이르고, 선행하는 제1이동스테이지의 후단이 예비스테이션(F)에 위치했을때, 그 예비스테이션(F)으로부터 피측정 광파이버를 떼고, 그 제1이동스테이지를 세트스테이션쪽으로 되돌리도록 사용할 수도 있다.
당연한 일이지만, 이동스테이지가 단수의 경우는 이동기구가 간단하지만, 복수가되면 복잡해진다.
반면, 이동스테이지를 복수로하면, 이동스테이지 1개의 크기를 소형화할 수 있다. 일체화된 이동스테이지에 몇개의 호울더를 얹는지, 이동스테이지를 몇개로 하는지는, 이동의 용이성과 정밀도를 고려해서 임의로 선정할 수 있다.
또, 상기 실시예에서는, 측정스테이션은 3개이나, 이것도 2개 혹은 4개 이상으로 해도되며, 이론적으로는 무한수로 할 수 있다.
측정스테이지가 많을수록 다항목의 동시측정이 가능하다.
이상의 기재로부터 명백한 바와 같이, 본 발명의 광파이버 특성의 측정방법에 의한 장치는 많은 측정항목을 연속적으로 또 동시에 자동적으로 측정할 수 있으므로 1인의 조작자에 의해서 능률좋게 다항목의 측정을 실시할 수 있어서 작업성이 현저하게 향상된다.

Claims (5)

  1. 측정스테이션(B)(C)(D)(E)과 세트스테이션(A) 및 이동스테이지(15A∼15E)를 구비한 장치를 사용해서 광파이버의 각종 특성항목을 측정할때에, 상기 이동스테이지를 이동하여 측정기쪽 광입출사단(35∼35"')(36∼36"')과 피측정 광파이버단(37A∼37E)(38A∼38E)의 위치결정 및 축방향, 직각방향의 위치조정을하여 상대적으로 이 광파이버단(37A∼37E) (38A∼38E) 과 광입출사단(35∼35"')(36∼36"')의 중심맞춤을 행하고,그러므로써 소정의 특성항목을 측정하는데 상기 이동스테이지를 순차적으로 이동시켜 각종 복수의 특성항목을 동시에 측정하는 것을 특징으로 하는 광파이버 특성의 측정방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 이동스테이지(15)를 직선상으로 왕복이동시켜서 각종 복수의 특성항목을 순차적으로 측정하는 것을 특징으로 하는 광파이버 특성의 측정방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 이동스테이지(15A∼15E)를 수평면상으로 순환적으로 이동시켜서 각종 특성항목을 순차적으로 측정하는 것을 특징으로 하는 광파이버 특성의 측정방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 이동스테이지(15A∼15E)를 수직면내에 순환적으로 이동시켜 각종 특성항목을 순차적으로 측정하는 것을 특징으로 하는 광파이버 특성의 측정방법.
  5. 이동가능한 이동스테이지(15A∼15E)와 이 이동스테이지(15A∼15E)의 이동방향(화살표(a))에 따라서 배치된 세트스테이션(A)과 상기 이동스테이지(15A∼15E)의 이동방향(화살표(a))가 따라서 배치된 측정스테이션(B∼E)이 설치되고, 측정스테이션에 있어서는 상기 측정기쪽 광입출사단(35∼35"')(36∼36"')이 이동스테이지(15A∼15E)의 이동방향에 따라서 일직선상에 등간격으로 배치되어 있고 상기 이동스테이지(15A∼15E)에는 이 이동스테이지의 이동방향으로 상기 측정기쪽 광입출사단(35∼35"')(36-36"')의 배치방향과 병행한 일직선상에 등간격으로 배치된 복수의 피측정 광파이버 호울더(13A∼13E)(14A∼14E)가 설치되어있는 것을 특징으로 하는 광파이버 특성의 측정장치.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6189535A (ja) * 1984-10-08 1986-05-07 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの特性測定方法
JP2650905B2 (ja) * 1987-03-28 1997-09-10 古河電気工業株式会社 光コネクタ付光フアイバケーブルの特性測定方法
DE3735399A1 (de) * 1987-10-20 1989-05-03 Philips Patentverwaltung Messanordnung zur pruefung einer mehrzahl von lichtwellenleitern
US5253035A (en) * 1991-04-12 1993-10-12 The Furukawa Electric Co., Ltd. Automatic optical measuring apparatus for optical fibers
US7053995B1 (en) 1999-11-17 2006-05-30 Corning Incorporated Methods and apparatus for automation of the testing and measurement of optical fiber
DE60039778D1 (de) * 1999-11-17 2008-09-18 Corning Inc Verfahren und vorrichtung zur automatisierung der
JP2002071511A (ja) * 2000-08-31 2002-03-08 Ando Electric Co Ltd 光学部品測定装置及び光学部品の試験方法
US20020069674A1 (en) 2000-12-13 2002-06-13 Guy Patricia C. Methods and apparatus for automated manufacture of optical fiber

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5326815A (en) * 1976-08-25 1978-03-13 Noda Plywood Mfg Co Ltd Method of manufacturing panels of building materials
JPS5337650U (ko) * 1976-09-08 1978-04-03
US4309105A (en) * 1980-03-03 1982-01-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method and apparatus for testing performance of fiber optic cable components and assemblies
FR2506939A1 (fr) * 1981-05-26 1982-12-03 Lignes Telegraph Telephon Dispositif de mesures de caracterisation d'une fibre optique
JPS58191947A (ja) * 1982-05-07 1983-11-09 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバ検査装置
JPS6085351A (ja) * 1983-08-29 1985-05-14 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの検査ライン

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