JPH0617848B2 - 光フアイバ特性測定装置 - Google Patents
光フアイバ特性測定装置Info
- Publication number
- JPH0617848B2 JPH0617848B2 JP6772686A JP6772686A JPH0617848B2 JP H0617848 B2 JPH0617848 B2 JP H0617848B2 JP 6772686 A JP6772686 A JP 6772686A JP 6772686 A JP6772686 A JP 6772686A JP H0617848 B2 JPH0617848 B2 JP H0617848B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- measurement
- measured
- optical
- holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ファイバの各種特性を高速で、自動的に評価
できる光ファイバ特性測定装置に関するものである。
できる光ファイバ特性測定装置に関するものである。
従来発表されているこの種の測定装置の代表例を第４図
に示す。（引用した文献：「計算機による光ファイバ特
性評価」（Wim L.S.Mathu,“Computerized Optical Fib
er Characterization",International Wire and Cable
Symposium proceedings,pp.407〜413,1983） １０１は
例えば光パルス試験器、１０２は例えば波長1.3μｍの
発光ダイオードからなる光源部、１０３は例えば波長0.
845μｍのパルスレーザダイオードからなる送信部、１
０２′はゲルマニウムフォトダイオードからなるパワメ
ータ部、１０３′はシリコンアパランシェフォトダイオ
ードからなる受信部である。光パルス試験器１０１のみ
で光ファイバの後方散乱光による長手方向欠陥測定を行
う。光源部１０２とパワメータ部１０２′で波長１．３
μｍの損失測定、送信部１０３と受信部１０３′でベー
スバンド特性測定を行う。１０４は励振（パルス試験用
では受光も兼ねる）用光ファイバ、１０４′は受光用光
ファイバ、１０５，１０５′はそれぞれ励振用及び受光
用光ファイバパンドルアセンブリ、１０６，１０６′は
この光ファイババンドルアセンブリをＸ，Ｙ，Ｚ方向へ
移動させる外部制御可能な微動台、１０７，１０７′は
被測定光ファイバ固定用のステージ、１０８は被測定光
ファイバケーブル、１０９，１０９′はそれぞれ被測定
光ファイバ心線の両端部を示す。１１０は外部制御用・
処理用コントローラ１１１はインターフェイスケーブル
を示す。第５図はファイババンドルアセンブリの構造例
である。アセンブリは中空円筒中に励振，受光用光ファ
イバを縦添え、封入され端部が同一平面上にあるように
構成される。従来のこの光ファイバ特性測定装置は、複
数の光ファイバを測定する場合微動台１０６，１０６′
を駆動させ、光ファイバ心線の両端１０９，１０９′
（パルス試験の場合は１０９のみ）と、任意の測定系ペ
ア例えば１０２と１０２′または１０３と１０３′に接
続されている励振・受光用光ファイバ１０４，１０４′
とを結合させ、測定を行い、１心の光ファイバで順次測
定系を替えて行き、しかる後次の光ファイバに移るとい
う手順で行い、並列的な測定はできなかった。
に示す。（引用した文献：「計算機による光ファイバ特
性評価」（Wim L.S.Mathu,“Computerized Optical Fib
er Characterization",International Wire and Cable
Symposium proceedings,pp.407〜413,1983） １０１は
例えば光パルス試験器、１０２は例えば波長1.3μｍの
発光ダイオードからなる光源部、１０３は例えば波長0.
845μｍのパルスレーザダイオードからなる送信部、１
０２′はゲルマニウムフォトダイオードからなるパワメ
ータ部、１０３′はシリコンアパランシェフォトダイオ
ードからなる受信部である。光パルス試験器１０１のみ
で光ファイバの後方散乱光による長手方向欠陥測定を行
う。光源部１０２とパワメータ部１０２′で波長１．３
μｍの損失測定、送信部１０３と受信部１０３′でベー
スバンド特性測定を行う。１０４は励振（パルス試験用
では受光も兼ねる）用光ファイバ、１０４′は受光用光
ファイバ、１０５，１０５′はそれぞれ励振用及び受光
用光ファイバパンドルアセンブリ、１０６，１０６′は
この光ファイババンドルアセンブリをＸ，Ｙ，Ｚ方向へ
移動させる外部制御可能な微動台、１０７，１０７′は
被測定光ファイバ固定用のステージ、１０８は被測定光
ファイバケーブル、１０９，１０９′はそれぞれ被測定
光ファイバ心線の両端部を示す。１１０は外部制御用・
処理用コントローラ１１１はインターフェイスケーブル
を示す。第５図はファイババンドルアセンブリの構造例
である。アセンブリは中空円筒中に励振，受光用光ファ
イバを縦添え、封入され端部が同一平面上にあるように
構成される。従来のこの光ファイバ特性測定装置は、複
数の光ファイバを測定する場合微動台１０６，１０６′
を駆動させ、光ファイバ心線の両端１０９，１０９′
（パルス試験の場合は１０９のみ）と、任意の測定系ペ
ア例えば１０２と１０２′または１０３と１０３′に接
続されている励振・受光用光ファイバ１０４，１０４′
とを結合させ、測定を行い、１心の光ファイバで順次測
定系を替えて行き、しかる後次の光ファイバに移るとい
う手順で行い、並列的な測定はできなかった。
従来の装置では、以上述べたような構成となっていたた
めに、測定項目が時間的につながっており、例えば損失
測定時には、帯域測定系、パルス試験器が使用されない
状態となり、能率が悪い欠点があった。また光ファイバ
パラメータの測定には短尺（１〜３ｍ）の光ファイバ心
線を別途必要とし、作業が別工程となり人員稼動，能率
の点で問題があった。
めに、測定項目が時間的につながっており、例えば損失
測定時には、帯域測定系、パルス試験器が使用されない
状態となり、能率が悪い欠点があった。また光ファイバ
パラメータの測定には短尺（１〜３ｍ）の光ファイバ心
線を別途必要とし、作業が別工程となり人員稼動，能率
の点で問題があった。
本発明は、光ファイバの諸特性評価用の装置類（損失測
定器、ベースバンド特性測定器、光パルス試験器など）
毎に外部制御可能な微動台を２台又は１台（パルス試験
器の場合）用意し、各微動台および諸特性評価用の装置
類をタイムシェアリング機能もしくは複数のマイクロプ
ロセッサを有する外部制御用・処理用コントローラでマ
ルチタスク（並行）制御・処理し、高速並行軸調心・測
定およびデータ処理を行うと共に、測定が終了した光フ
ァイバをアーム・ハンドマニピュレータにより自動的に
次の測定すべき光ファイバに交換し、システム稼動率を
高め高速化を可能としていることを最も主要な特徴とす
る。本技術は、微動台を測定項目毎に分離し、アームハ
ンドマニピュレータを導入し、かつ全面的に並行制御，
並行処理技術を導入し、大幅に光ファイバの特性測定時
間を短縮できる点が従来技術と異なる。
定器、ベースバンド特性測定器、光パルス試験器など）
毎に外部制御可能な微動台を２台又は１台（パルス試験
器の場合）用意し、各微動台および諸特性評価用の装置
類をタイムシェアリング機能もしくは複数のマイクロプ
ロセッサを有する外部制御用・処理用コントローラでマ
ルチタスク（並行）制御・処理し、高速並行軸調心・測
定およびデータ処理を行うと共に、測定が終了した光フ
ァイバをアーム・ハンドマニピュレータにより自動的に
次の測定すべき光ファイバに交換し、システム稼動率を
高め高速化を可能としていることを最も主要な特徴とす
る。本技術は、微動台を測定項目毎に分離し、アームハ
ンドマニピュレータを導入し、かつ全面的に並行制御，
並行処理技術を導入し、大幅に光ファイバの特性測定時
間を短縮できる点が従来技術と異なる。
第１図は本発明の一実施例を示す図である。２０１は光
パルス試験器、２０２，２０２′はそれぞれ光損失測定
用光源および光パワメータ、２０３，２０３′はそれぞ
れペースバンド特性測定用の送信部，受信部、２０４，
２０４′はそれぞれ励振用光ファイバおよび受光用光フ
ァイバである。光パルス試験器においては１本の光ファ
イバコード２０４は励振，受光用を兼用する。２０５，
２０５′は例えばＶ溝などで構成され光ファイバを把持
する機構をもつ光ファイバホルダー、２０６，２０６′
はＸ，Ｙ，Ｚ方向へ移動できる外部制御可能な微動台で
あり、光ファイバホルダ２０５，２０５′は微動台の上
に固定されている。２０７，２０７′は励振，受光用光
ファイバを固定する固定台、２０８は光ファイバケーブ
ル、２０９，２０９′は光ファイバケーブルに収容され
ている光ファイバ心線、２１０はタイムシェアリング機
構もしくは複数のマイクロプロセッサにより並行的に実
行する外部制御用・処理用コントローラ、２１１はイン
タフェイスケーブル、２１２は例えば円筒座標型のアー
ムハンドマニピュレータである。またＡは被測定光ファ
イバ心線の置かれる位置である。このように構成された
システムは以下の手順で動作を行う。
パルス試験器、２０２，２０２′はそれぞれ光損失測定
用光源および光パワメータ、２０３，２０３′はそれぞ
れペースバンド特性測定用の送信部，受信部、２０４，
２０４′はそれぞれ励振用光ファイバおよび受光用光フ
ァイバである。光パルス試験器においては１本の光ファ
イバコード２０４は励振，受光用を兼用する。２０５，
２０５′は例えばＶ溝などで構成され光ファイバを把持
する機構をもつ光ファイバホルダー、２０６，２０６′
はＸ，Ｙ，Ｚ方向へ移動できる外部制御可能な微動台で
あり、光ファイバホルダ２０５，２０５′は微動台の上
に固定されている。２０７，２０７′は励振，受光用光
ファイバを固定する固定台、２０８は光ファイバケーブ
ル、２０９，２０９′は光ファイバケーブルに収容され
ている光ファイバ心線、２１０はタイムシェアリング機
構もしくは複数のマイクロプロセッサにより並行的に実
行する外部制御用・処理用コントローラ、２１１はイン
タフェイスケーブル、２１２は例えば円筒座標型のアー
ムハンドマニピュレータである。またＡは被測定光ファ
イバ心線の置かれる位置である。このように構成された
システムは以下の手順で動作を行う。
ピックアンドプレースと光学的疎結合：場所Ａから
任意の光ファイバ心線２０９の端末をアームハンドマニ
ピュレータ２１２によりピックアップし空いている任意
の光ファイバホルダー２０５に搬送し把持させる。次に
光ファイバ心線２０９の端末と組になる端末２０９′を
場所Ａからアームハンドマニピュレータ２１２によりピ
ックアップし、組となるべき光ファイバホルダー２０
５′に搬送させ、把持させる。この状態で光ファイバ心
線２０９，２０９′の端面は、励振，受光用光ファイバ
２０４，２０４′の端面と向かいあい光学的に疎に結合
される。（例えば突合せ部の接続損失は５〜２０dB） 精密結合：２０２，２０３等の光源部からの光を２
０２′，２０３′等の受光部で受信し、受信される光パ
ワをモニタしつつそのパワが最大となるように微動台２
０６を外部制御用・処理用コントローラ２１０でコント
ロールし、光ファイバの突合せ接続損失が０dB近傍にな
るように光学的に密に２０４と２０９或いは２０４′と
２０９′を結合させる。
任意の光ファイバ心線２０９の端末をアームハンドマニ
ピュレータ２１２によりピックアップし空いている任意
の光ファイバホルダー２０５に搬送し把持させる。次に
光ファイバ心線２０９の端末と組になる端末２０９′を
場所Ａからアームハンドマニピュレータ２１２によりピ
ックアップし、組となるべき光ファイバホルダー２０
５′に搬送させ、把持させる。この状態で光ファイバ心
線２０９，２０９′の端面は、励振，受光用光ファイバ
２０４，２０４′の端面と向かいあい光学的に疎に結合
される。（例えば突合せ部の接続損失は５〜２０dB） 精密結合：２０２，２０３等の光源部からの光を２
０２′，２０３′等の受光部で受信し、受信される光パ
ワをモニタしつつそのパワが最大となるように微動台２
０６を外部制御用・処理用コントローラ２１０でコント
ロールし、光ファイバの突合せ接続損失が０dB近傍にな
るように光学的に密に２０４と２０９或いは２０４′と
２０９′を結合させる。
測定：損失および帯域等の測定を行い、データ処
理，表示，プリント出力，記憶装置へのデータのストア
を行う。あるいは測定直後に測定値をファイル化してお
けば次のステップへ進み、データ処理，出力は別プログ
ラム上で実施することも可能であり、さらに高速化が図
れる。
理，表示，プリント出力，記憶装置へのデータのストア
を行う。あるいは測定直後に測定値をファイル化してお
けば次のステップへ進み、データ処理，出力は別プログ
ラム上で実施することも可能であり、さらに高速化が図
れる。
測定終了：終了したらアームハンドマニピュレータ
２１２により光ファイバホルダー２０５，２０５′から
光ファイバ心線２０９，２０９′をはずし、場所Ａに戻
して一測定を終了する。そして手順に戻る。もしくは
全測定終了時にはプログラムを終了させる。
２１２により光ファイバホルダー２０５，２０５′から
光ファイバ心線２０９，２０９′をはずし、場所Ａに戻
して一測定を終了する。そして手順に戻る。もしくは
全測定終了時にはプログラムを終了させる。
上記フローをもつプログラムを測定項目数に見合うだけ
外部制御用・処理用コントローラ２１０上で並行して動
作させる。これによって光ファイバケーブルの全心線の
全測定項目を実行処理できる。各プログラムは〜の
単純作業を繰り返すのみである。このプロセスにおける
待ち時間はアームハンドマニピュレータ２１２の使用待
ち時間及び所要光ファイバ心線がたまたま使用中の時の
待ち時間であり、装置の稼動率は従来の方法に比較して
飛躍的に向上する。第２図に測定心線数３、測定項目数
３の場合の測定作業の時間的な流れを従来装置と本発明
による装置を比較して示す。測定時間は、被測定光ファ
イバ心線数をＮとし、各測定項目（損失，帯域測定な
ど）を１回実行する平均所要時間（〜の１サイク
ル）をT1，T2，T3…，Tn（ｎは測定項目数）とすれば、
従来装置によれば全測定時間は である。これに対して本発明のこの実施例では、近似的
に全測定時間がＴｉの最大値（MAX（Ｔｉ））を用い、
Ｎ・MAX(Ti)と表現できる。例えば、測定項目が３種
類，各項目の測定時間が各々同じ値５分、被測定光ファ
イバ心線数が１００心である時は、従来装置では１，５
００分要するが、本発明による装置では、５００分で済
むことになり大幅な測定時間短縮が可能となる。
外部制御用・処理用コントローラ２１０上で並行して動
作させる。これによって光ファイバケーブルの全心線の
全測定項目を実行処理できる。各プログラムは〜の
単純作業を繰り返すのみである。このプロセスにおける
待ち時間はアームハンドマニピュレータ２１２の使用待
ち時間及び所要光ファイバ心線がたまたま使用中の時の
待ち時間であり、装置の稼動率は従来の方法に比較して
飛躍的に向上する。第２図に測定心線数３、測定項目数
３の場合の測定作業の時間的な流れを従来装置と本発明
による装置を比較して示す。測定時間は、被測定光ファ
イバ心線数をＮとし、各測定項目（損失，帯域測定な
ど）を１回実行する平均所要時間（〜の１サイク
ル）をT1，T2，T3…，Tn（ｎは測定項目数）とすれば、
従来装置によれば全測定時間は である。これに対して本発明のこの実施例では、近似的
に全測定時間がＴｉの最大値（MAX（Ｔｉ））を用い、
Ｎ・MAX(Ti)と表現できる。例えば、測定項目が３種
類，各項目の測定時間が各々同じ値５分、被測定光ファ
イバ心線数が１００心である時は、従来装置では１，５
００分要するが、本発明による装置では、５００分で済
むことになり大幅な測定時間短縮が可能となる。
なお本実施例においては、光ファイバの突合せによる軸
合わせを行っているが、光パワーメータ２０２′または
受信部２０３′のフォトダイオードを直接固定台に設置
することも可能である。この場合、フォトダイオードの
受光径が光ファイバのコア径より大きい（１〜０．１mm
φ）ため、軸合せははるかに簡単になり、短時間で行え
るという利点がある。また本実施例ではアームハンドマ
ニピュレータ２１２が光ファイバ２０９，２０９′を直
接搬送しているが、光ファイバをセットした光ファイバ
ホルダー２０５，２０５′を搬送することも可能であ
る。以上の例においてさらに互いに組となる外部制御可
能な微動台２０６，２０６′と固定台２０７，２０７′
とを反転させて使用してもよい。
合わせを行っているが、光パワーメータ２０２′または
受信部２０３′のフォトダイオードを直接固定台に設置
することも可能である。この場合、フォトダイオードの
受光径が光ファイバのコア径より大きい（１〜０．１mm
φ）ため、軸合せははるかに簡単になり、短時間で行え
るという利点がある。また本実施例ではアームハンドマ
ニピュレータ２１２が光ファイバ２０９，２０９′を直
接搬送しているが、光ファイバをセットした光ファイバ
ホルダー２０５，２０５′を搬送することも可能であ
る。以上の例においてさらに互いに組となる外部制御可
能な微動台２０６，２０６′と固定台２０７，２０７′
とを反転させて使用してもよい。
第３図は第１図の実施例で示さなかった光ファイバパラ
メータの測定系の部分のみを示したものである。３００
はNFP測定用顕微鏡、３００′は端面反射像測定用光
源、３０１はビジコンカメラ、３０２はカメラコントロ
ーラおよびモニタテレビであり、３０３はFFP測定用フ
ォトダイオード、３０４は電流アンプ、３０５は輝度A/
D変換用デジタル電圧計、３０６，３０６′は被測定光
ファイバ２０９′の端末近傍に曲げを与え、かつ側方入
射用光源を内蔵する光ファイバ自動曲げ入射装置であ
る。従来光ファイバパラメータ測定においては、長尺光
ファイバの一部を切り出して短尺状態で測定する必要が
あった。
メータの測定系の部分のみを示したものである。３００
はNFP測定用顕微鏡、３００′は端面反射像測定用光
源、３０１はビジコンカメラ、３０２はカメラコントロ
ーラおよびモニタテレビであり、３０３はFFP測定用フ
ォトダイオード、３０４は電流アンプ、３０５は輝度A/
D変換用デジタル電圧計、３０６，３０６′は被測定光
ファイバ２０９′の端末近傍に曲げを与え、かつ側方入
射用光源を内蔵する光ファイバ自動曲げ入射装置であ
る。従来光ファイバパラメータ測定においては、長尺光
ファイバの一部を切り出して短尺状態で測定する必要が
あった。
本測定方法は長尺状態における測定を可能とするもので
あり、被測定光ファイバの端末部近傍に曲げを与え、NF
P測定用の側方からの導波モード励振およびFFP測定用の
側方からの導波モード励振をそれぞれ行っている。光フ
ァイバ自動曲げ入射装置３０６によりNFP測定時のみ曲
げを与え、曲げ部に側方から光を入射し、NFP測定用顕
微鏡３００，ビジコンカメラ３０１、カメラコントロー
ラ及びモニタテレビ３０２でNFP測定を行う。第３図は
この状態を示している。また端面反射像測定用光源３０
０′のON,OFFで端面反射像が得られる。一方光ファイバ
自動曲げ入射装置３０６′によりFFP測定時のみ曲げを
与え、FFP測定用フォトダイオード３０３でFFP測定を行
う。これにより、コア径，クラッド径，偏心率，非円
率，開口数（または、コア，クラッド比屈折率差）が測
定される。NFP,FFP測定時以外は曲げを開放する。本手
法を導入することによって短尺の光ファイバを用意する
ことなく、長尺の光ファイバで光ファイバパラメータの
測定が可能となり、他の測定項目に引続いて測定できる
ため高速化にさらに貢献できる。
あり、被測定光ファイバの端末部近傍に曲げを与え、NF
P測定用の側方からの導波モード励振およびFFP測定用の
側方からの導波モード励振をそれぞれ行っている。光フ
ァイバ自動曲げ入射装置３０６によりNFP測定時のみ曲
げを与え、曲げ部に側方から光を入射し、NFP測定用顕
微鏡３００，ビジコンカメラ３０１、カメラコントロー
ラ及びモニタテレビ３０２でNFP測定を行う。第３図は
この状態を示している。また端面反射像測定用光源３０
０′のON,OFFで端面反射像が得られる。一方光ファイバ
自動曲げ入射装置３０６′によりFFP測定時のみ曲げを
与え、FFP測定用フォトダイオード３０３でFFP測定を行
う。これにより、コア径，クラッド径，偏心率，非円
率，開口数（または、コア，クラッド比屈折率差）が測
定される。NFP,FFP測定時以外は曲げを開放する。本手
法を導入することによって短尺の光ファイバを用意する
ことなく、長尺の光ファイバで光ファイバパラメータの
測定が可能となり、他の測定項目に引続いて測定できる
ため高速化にさらに貢献できる。
以上説明したように本発明の光ファイバ特性測定装置は
並行動作を行える構成をとっているために各測定系の稼
動率が高く測定時間の短縮化が図れる。本装置を光ファ
イバケーブルの最終検査工程に適用すれば検査コスト低
減による光ファイバケーブルの低コスト化が実現でき
る。
並行動作を行える構成をとっているために各測定系の稼
動率が高く測定時間の短縮化が図れる。本装置を光ファ
イバケーブルの最終検査工程に適用すれば検査コスト低
減による光ファイバケーブルの低コスト化が実現でき
る。
第１図は本発明の実施例、第２図は従来装置と本発明に
よる装置とによる測定時間の比較図、第３図は本発明に
よる実施例の一部を示す図である。第４図，第５図は従
来の装置を示す図である。 ２０１……光パルス試験器、２０２……光損失測定用光
源、２０２′……光損失測定用パワメータ、２０３……
ベースバンド特性測定用送信部、２０３′……ベースバ
ンド特性測定用受信部、２０４……励振用光ファイバ、
２０４′……受光用光ファイバ、２０５，２０５′……
光ファイバホルダー、２０６，２０６′……外部制御可
能な微動台、２０７，２０７′……固定台、２０８……
光ファイバケーブル、２０９，２０９′……被測定光フ
ァイバ、２１０……外部制御用・処理用コントローラ、
２１１……インターフェイスケーブル、２１２……アー
ムハンドマニピュレータ、３００……NFP測定用顕微
鏡、３００′……端面反射像測定用光源、３０１……ビ
ジコンカメラ、３０２……カメラコントローラおよびモ
ニタテレビ、３０３……FFP測定用フォトダイオード、
３０４……電流アンプ、３０５……デジタル電圧計、３
０６，３０６′……光ファイバ自動曲げ入射装置。
よる装置とによる測定時間の比較図、第３図は本発明に
よる実施例の一部を示す図である。第４図，第５図は従
来の装置を示す図である。 ２０１……光パルス試験器、２０２……光損失測定用光
源、２０２′……光損失測定用パワメータ、２０３……
ベースバンド特性測定用送信部、２０３′……ベースバ
ンド特性測定用受信部、２０４……励振用光ファイバ、
２０４′……受光用光ファイバ、２０５，２０５′……
光ファイバホルダー、２０６，２０６′……外部制御可
能な微動台、２０７，２０７′……固定台、２０８……
光ファイバケーブル、２０９，２０９′……被測定光フ
ァイバ、２１０……外部制御用・処理用コントローラ、
２１１……インターフェイスケーブル、２１２……アー
ムハンドマニピュレータ、３００……NFP測定用顕微
鏡、３００′……端面反射像測定用光源、３０１……ビ
ジコンカメラ、３０２……カメラコントローラおよびモ
ニタテレビ、３０３……FFP測定用フォトダイオード、
３０４……電流アンプ、３０５……デジタル電圧計、３
０６，３０６′……光ファイバ自動曲げ入射装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢野 正義 茨城県那珂郡東海村大字白方字白根162番 地 日本電信電話株式会社茨城電気通信研 究所内 (56)参考文献 特開 昭57−45426（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−102534（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】複数の外部制御可能な微動台と、該微動台
上に固定又は取りはずし可能として配置される被測定光
ファイバ把持固定用光ファイバホルダーと、前記外部制
御可能な微動台に対向して組となる同数の固定台と、該
固定台に把持固定された光ファイバが接続される各種伝
送特性測定器の光源部及び受光部又は該固定台に設置さ
れたファイバパラメータ測定器と、被測定光ファイバの
端末近傍に設置する光ファイバ自動曲げ入射装置と、被
測定光ファイバを把持し３次元空間内を移動させ、前記
の光ファイバホルダーに任意の場所から搬送・固定させ
る外部制御可能な１台もしくは複数台のアームハンドマ
ニピュレータと、外部制御用・処理用コントローラと、
から成る構成要素を具備した装置であって、被測定光フ
ァイバの搬送・ホルダーへの固定・ホルダーからの解除
から成る光ファイバのハンドリングと、光ファイバ軸調
心と、測定と、の各工程の制御・処理を各測定項目毎お
よび各測定項目内で並行して行うことを特徴とする光フ
ァイバ特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6772686A JPH0617848B2 (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | 光フアイバ特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6772686A JPH0617848B2 (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | 光フアイバ特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62223641A JPS62223641A (ja) | 1987-10-01 |
| JPH0617848B2 true JPH0617848B2 (ja) | 1994-03-09 |
Family
ID=13353251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6772686A Expired - Lifetime JPH0617848B2 (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | 光フアイバ特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0617848B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033255A (ja) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバーの検査システム |
| JP5483738B2 (ja) * | 2011-01-27 | 2014-05-07 | 日本電信電話株式会社 | 光入出射装置及び光入出射方法 |
-
1986
- 1986-03-26 JP JP6772686A patent/JPH0617848B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62223641A (ja) | 1987-10-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0198480B1 (en) | Optical fiber characteristic measurement | |
| CN112697402B (zh) | 一种多芯光纤测试方法及装置 | |
| US20080144015A1 (en) | Optical characteristic inspection method, optical characteristic inspection apparatus, and optical characteristic inspection system for optical fiber device | |
| Moar et al. | Fabrication, modeling, and direct evanescent field measurement of tapered optical fiber sensors | |
| JPH09105610A (ja) | 対象物の中心特徴部の偏りを非接触で測定する検査装置用の対象物を整列して照明する整列及び照明装置と方法 | |
| JPH0617848B2 (ja) | 光フアイバ特性測定装置 | |
| US20040037554A1 (en) | Non-coherent fiber optic apparatus and imaging method | |
| KR900008299B1 (ko) | 광파이버 특성의 측정방법 및 장치 | |
| US6765657B2 (en) | Method of testing optical fibers | |
| JP3107315B2 (ja) | 光導波路の製造方法 | |
| JPH04231837A (ja) | 光ファイバの一括測定方法 | |
| Chu et al. | Low Coupling-Loss Three-Dimensional Waveguide Fan-In/Fan-Out Devices for Multi-Core Fiber | |
| EP3647757B1 (en) | Reflected light measurement device | |
| JPS63108243A (ja) | 光フアイバケ−ブル断線検査方法 | |
| JP2810318B2 (ja) | 光コネクタ光学特性測定用レセプタクルと光学特性測定方法 | |
| US20220038177A1 (en) | Optical-fiber device for one-cord reference optical power loss measurement | |
| JP3961086B2 (ja) | 光スイッチの接続損失測定方法 | |
| Stern et al. | The Characterization of Monomode Fibre Links Installed in Operational Duct | |
| CN212238273U (zh) | 一种用于光接口的自动清洁装置及测试仪表 | |
| JPH0658289B2 (ja) | 光フアイバの測定法 | |
| JPH07294380A (ja) | 光部品の光損失測定方法 | |
| JPH05272920A (ja) | 光ファイバ変位計 | |
| JP2000205999A (ja) | 光ファイバ測定装置 | |
| JPH0210369B2 (ja) | ||
| KR101907648B1 (ko) | 다채널 광 커넥터의 광 손실을 측정하는 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |