JPS62223641A - 光フアイバ特性測定装置 - Google Patents
光フアイバ特性測定装置Info
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔雄業上の利用分野〕
本ｌＡｌ３１１は元ファイバの各梼脣性１に嵩速で、自
動的に評価できる光ファイバｌθ性測定装置に関するも
のである。
動的に評価できる光ファイバｌθ性測定装置に関するも
のである。
従来発表されているこの樵の一１建装置の代表例を第参
図に示す。（引用した文献震［計算機による光ファイバ
台性評価Ｊ（ＷｌｍしＳ−Ｍａｔｈｕ ＋’ Ｏｏｍｐ
ｕｔｅｒｌｚｅｄ ０ｐｔｉｃａｌ ＆ｌ′１ｂｅｒ
０ｈａｒａｃｔｅｒムｚａｔｌｏｎ“−ＩｒＮｃｒｎａ
ｔｉｏｎａｌ Ｗｉｒｅ ａｎｄ ０ａｂｌｅ ８ｙｍ
ｐｏｓｉｕｍＰｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ Ｉ ｐｐ−４４
０７〜弘／Ｊ＊／り１ｒＪ”） ｌｏｉは例えば光パ
ルス試験器ｓ１０コは例えば波長／、 Ｊμ屑の発光ダ
イオードからなる光源部、ｌＯ３は例えばｔＲ民Ｑ、ｌ
弘よμ肩のパルスレーザダイオードからなる送信部、Ｉ
Ｏλ′はゲルマニウムフォトダイオードからなるパワメ
ータ部、１０３はシリコンアバランシｌオドダイオード
からなる受信部である。光パルス賦Ｍ器１０１のみで光
ファイバの彼方散乱光による長十方向欠陥副定を行う、
光課部１０λとパワメータ部１０コで波長／、３μ肩の
仇失測定、送信部１０Ｊと受信ｓ１０！’でベースバン
ド特性り（ｊ定を行う。
図に示す。（引用した文献震［計算機による光ファイバ
台性評価Ｊ（ＷｌｍしＳ−Ｍａｔｈｕ ＋’ Ｏｏｍｐ
ｕｔｅｒｌｚｅｄ ０ｐｔｉｃａｌ ＆ｌ′１ｂｅｒ
０ｈａｒａｃｔｅｒムｚａｔｌｏｎ“−ＩｒＮｃｒｎａ
ｔｉｏｎａｌ Ｗｉｒｅ ａｎｄ ０ａｂｌｅ ８ｙｍ
ｐｏｓｉｕｍＰｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ Ｉ ｐｐ−４４
０７〜弘／Ｊ＊／り１ｒＪ”） ｌｏｉは例えば光パ
ルス試験器ｓ１０コは例えば波長／、 Ｊμ屑の発光ダ
イオードからなる光源部、ｌＯ３は例えばｔＲ民Ｑ、ｌ
弘よμ肩のパルスレーザダイオードからなる送信部、Ｉ
Ｏλ′はゲルマニウムフォトダイオードからなるパワメ
ータ部、１０３はシリコンアバランシｌオドダイオード
からなる受信部である。光パルス賦Ｍ器１０１のみで光
ファイバの彼方散乱光による長十方向欠陥副定を行う、
光課部１０λとパワメータ部１０コで波長／、３μ肩の
仇失測定、送信部１０Ｊと受信ｓ１０！’でベースバン
ド特性り（ｊ定を行う。
１０・４ｃ１は励・損（パルス試験用では受光も兼ねる
）用光ファイバ、ＩＱ≠は受光用尤ファイバ、１０ふ１
０１’はそれぞれ励振用及び受光用光ファイババンドル
アセンブリ、１０６．１０４’はこの光ファイババンド
ルアセンブリをｘ、ｙ、ｚ方向へ移動させる外部制御可
能な微動台、１０７ｐ １０７は被ＩｌＫ！１定光フ
ァイバ固定用のステージ、１０１は被測定光ファイバケ
ーブル、１０り、ｌＱり′はそれぞれ被測定光ファイバ
心線の両端部を示す。Ｉｌｏは外扉制御用・処理用コン
トローラ、／ｌｌはインター７エイスケーブルを示す。
）用光ファイバ、ＩＱ≠は受光用尤ファイバ、１０ふ１
０１’はそれぞれ励振用及び受光用光ファイババンドル
アセンブリ、１０６．１０４’はこの光ファイババンド
ルアセンブリをｘ、ｙ、ｚ方向へ移動させる外部制御可
能な微動台、１０７ｐ １０７は被ＩｌＫ！１定光フ
ァイバ固定用のステージ、１０１は被測定光ファイバケ
ーブル、１０り、ｌＱり′はそれぞれ被測定光ファイバ
心線の両端部を示す。Ｉｌｏは外扉制御用・処理用コン
トローラ、／ｌｌはインター７エイスケーブルを示す。
ｍｔ図はファイババンドルアセンブリの構造例である。
アセンブリは中空円筒中に励振、受光用元ファイバをＩ
１１添え、封入され端部が同一平面上条でらるように構
成される０従米のこの光ファイバ特性測定装置は、複数
の光ファイバを測定する場合微動台１０ｐｓ１０６′を
駆ｙＩＪＪ嘔せ、元ファイバ心線の両端ＩＱ？。
１１添え、封入され端部が同一平面上条でらるように構
成される０従米のこの光ファイバ特性測定装置は、複数
の光ファイバを測定する場合微動台１０ｐｓ１０６′を
駆ｙＩＪＪ嘔せ、元ファイバ心線の両端ＩＱ？。
ＩＯ２′（パルス試躾の場合は１０？Ｏみ）と、任意の
６１す足糸ベア例えば１０コと１０２’ま九η０３と１
０Ｊ’に接続されている励振・受光用光ファイバｌＯ４
／Ｌ・ ｉｏａ’とを結合させ、測定を行い、／心の光
ファイバで順次測定糸を譬えて行き、しかる後火の光フ
ァイバに移るという手順で行い、並列的な測定はできな
かうた。
６１す足糸ベア例えば１０コと１０２’ま九η０３と１
０Ｊ’に接続されている励振・受光用光ファイバｌＯ４
／Ｌ・ ｉｏａ’とを結合させ、測定を行い、／心の光
ファイバで順次測定糸を譬えて行き、しかる後火の光フ
ァイバに移るという手順で行い、並列的な測定はできな
かうた。
従来の装置では、以上述べたような構成とな９ていた丸
めに、測定項目が時間的につながってシシ、例えば損失
側定時には、帯域側足糸、パルス試験６が使用されない
状態となシ、能率が悪い欠点かめっｔ、また尤ファイバ
パラメータの測定には短尺（７〜Ｊ贋）の光ファイバ心
線を別途必要とし、作栗が別工相となプ人貞稼動、１７
Ｉ！率の点で問題がめった。
めに、測定項目が時間的につながってシシ、例えば損失
側定時には、帯域側足糸、パルス試験６が使用されない
状態となシ、能率が悪い欠点かめっｔ、また尤ファイバ
パラメータの測定には短尺（７〜Ｊ贋）の光ファイバ心
線を別途必要とし、作栗が別工相となプ人貞稼動、１７
Ｉ！率の点で問題がめった。
Ｃｍ１Ｍ点を解決するための手段〕
本発明ｔよ、光ファイバの緒特性評価用の装＃を類（損
失６４１１矩器、ベースバンド特性測定器、尤パルス試
験器など）毎に外部制御可能な微動台を２台又は７台（
パルス試験器の場合）用意し、各微動台および紅１特注
評価用の装置類をタイムシェアリング楡馳もしくは仮畝
りマイク日プロセッサを有する外扉制御用・処理用コン
トローラでマルチタスク（並行）制御・処理し、高速並
行軸調心・測定およびデータ処理を行うと共に、測定が
終了しり光ファイバをアーム・ハンドマニビエレー）Ｋ
よシ自動的に次の−ｊ定すべき光ファイバに交換し、シ
ステム梶勅畢を＾め＋％速化をＢ（補ピとしていること
ｆ：Ｍも主要な彎豪とする。本技術は、微動台を測定項
目毎に分艦し、アームハンドマニビ為レータを導入し、
かつ全面的に並行？ｔＩ１１１Ｉｌ１ｇ 並行処理技術
を導入し、大幅に光ファイバの特性測定時間を短縮でき
ろ点が従来技術と異なる。
失６４１１矩器、ベースバンド特性測定器、尤パルス試
験器など）毎に外部制御可能な微動台を２台又は７台（
パルス試験器の場合）用意し、各微動台および紅１特注
評価用の装置類をタイムシェアリング楡馳もしくは仮畝
りマイク日プロセッサを有する外扉制御用・処理用コン
トローラでマルチタスク（並行）制御・処理し、高速並
行軸調心・測定およびデータ処理を行うと共に、測定が
終了しり光ファイバをアーム・ハンドマニビエレー）Ｋ
よシ自動的に次の−ｊ定すべき光ファイバに交換し、シ
ステム梶勅畢を＾め＋％速化をＢ（補ピとしていること
ｆ：Ｍも主要な彎豪とする。本技術は、微動台を測定項
目毎に分艦し、アームハンドマニビ為レータを導入し、
かつ全面的に並行？ｔＩ１１１Ｉｌ１ｇ 並行処理技術
を導入し、大幅に光ファイバの特性測定時間を短縮でき
ろ点が従来技術と異なる。
第７図１工本発明の一実施例を示す図である。
コ０／は元パルス試錬器、コ０１． ．２０２’はそれ
ぞれ光損失測定用九源および尤パワメータ、コ０３゜、
２０Ｊ’はそれぞれベースバンド特性測距用の送信部、
受４Ｍ都、２０帽 コ０４ｔ′はそれぞれ励伽用光ファ
イバおよび受光用元ファイバである。光パルス試験器ｖ
ζ訃いては７本の光ファイバコート”Ｊ ０４’紘＃儀
−受光用を兼用する。２０．！ｔ、 コＯ！′は例え
ばＶ躊などで構成され光ファイバを把持する機Ｗ＃をも
つ光ファイバホルダー、２０Ａｅ２０乙 はＸｓ Ｙ
−Ｚ方向へ移！′ａ″′Ｃきる外部制御可能な微動台で
Ｊ３Ｄ１光ファイバホルダ、２０！かコＱ！′は酸励台
の上に固矩されている。、２０７． コ０７’は励振
、５！、光用光ファイバを固定する固定台、λＯｒは元
ファイバケーブル、−０２，λＯりは元ファイバケーブ
ルに収容されている元ファイバ心線、−７０はタイムシ
ェアリング磯桐もしくは複数のマイクロプロセッサによ
り並行的に実行する外部制御用・処理用コントローラ１
．２／ｌはインタフェイスクープル、λ／、２は例えば
円ｗＩ座椋凰のアーＡ ”ンドマニビ島レータである。
ぞれ光損失測定用九源および尤パワメータ、コ０３゜、
２０Ｊ’はそれぞれベースバンド特性測距用の送信部、
受４Ｍ都、２０帽 コ０４ｔ′はそれぞれ励伽用光ファ
イバおよび受光用元ファイバである。光パルス試験器ｖ
ζ訃いては７本の光ファイバコート”Ｊ ０４’紘＃儀
−受光用を兼用する。２０．！ｔ、 コＯ！′は例え
ばＶ躊などで構成され光ファイバを把持する機Ｗ＃をも
つ光ファイバホルダー、２０Ａｅ２０乙 はＸｓ Ｙ
−Ｚ方向へ移！′ａ″′Ｃきる外部制御可能な微動台で
Ｊ３Ｄ１光ファイバホルダ、２０！かコＱ！′は酸励台
の上に固矩されている。、２０７． コ０７’は励振
、５！、光用光ファイバを固定する固定台、λＯｒは元
ファイバケーブル、−０２，λＯりは元ファイバケーブ
ルに収容されている元ファイバ心線、−７０はタイムシ
ェアリング磯桐もしくは複数のマイクロプロセッサによ
り並行的に実行する外部制御用・処理用コントローラ１
．２／ｌはインタフェイスクープル、λ／、２は例えば
円ｗＩ座椋凰のアーＡ ”ンドマニビ島レータである。
また人は？ｌ［＃Ｊ定光ファイバ心線の置かれる位置で
ある。このようＶＣ構成されたシステムは以下の手順で
動作を行う。
ある。このようＶＣ構成されたシステムは以下の手順で
動作を行う。
の ビックアンドプレースと光学的疎結合８場所人から
任意の光ファイバ心線λＯりの端末ヲアームハンドマニ
ビ為レータ２７．２によ〕ピックアップし空いている任
意の尤ファイバホルダーコＯ３に搬送し把持させる。次
に元ファイバ心融λＯＰの端末と組になる端末、２ｏＰ
ｔＡＩｆｆｒ人カラアームハンドマエピ瓢レータコ
／しによりピックアップし、組となるべｆ！元ファイバ
ホルダーコＯ！に搬送させ、把持させる。この状馴で光
ファイバ心ｌ５２０り。
任意の光ファイバ心線λＯりの端末ヲアームハンドマニ
ビ為レータ２７．２によ〕ピックアップし空いている任
意の尤ファイバホルダーコＯ３に搬送し把持させる。次
に元ファイバ心融λＯＰの端末と組になる端末、２ｏＰ
ｔＡＩｆｆｒ人カラアームハンドマエピ瓢レータコ
／しによりピックアップし、組となるべｆ！元ファイバ
ホルダーコＯ！に搬送させ、把持させる。この状馴で光
ファイバ心ｌ５２０り。
２０Ｆ’の端面は、励４！＆−・・、受光用元ファイバ
λ０４４．−〇μの端面と同かいあい光学的に練に結合
される。（例えば突脅せ郡の接続損失は！〜コ０ｄＢ） ■ ｎＩ市Ｍ合８−〇−２−〇３等の光源部からの光計
−０−′、−〇Ｊ’等の受光部で受信し、受信される光
パワをモニタしつつそのパワが最大となるように微動台
２０６ｔ−外部制御用・処ｍ用コントローラコ１０でプ
ントルールし、元ファイバの突曾−＋！″接続損失がＯ
ｄ８近傍になるように光学的に密に一〇弘と一〇Ｆ或い
はλｏｕ’と−ｏｙ’を結合させる。
λ０４４．−〇μの端面と同かいあい光学的に練に結合
される。（例えば突脅せ郡の接続損失は！〜コ０ｄＢ） ■ ｎＩ市Ｍ合８−〇−２−〇３等の光源部からの光計
−０−′、−〇Ｊ’等の受光部で受信し、受信される光
パワをモニタしつつそのパワが最大となるように微動台
２０６ｔ−外部制御用・処ｍ用コントローラコ１０でプ
ントルールし、元ファイバの突曾−＋！″接続損失がＯ
ｄ８近傍になるように光学的に密に一〇弘と一〇Ｆ或い
はλｏｕ’と−ｏｙ’を結合させる。
■ 閘定！損失および帯域等の両足を行い、データ処Ａ
、表示か プリント出力１記憶装置へのデータのストア
を行う。おるφは測定直後に測定値をファイル化してお
けば次のステップへ進み、データ処理を出力は別プμグ
ラム上で実施することも可能でるり、さらに高速化が図
れる。
、表示か プリント出力１記憶装置へのデータのストア
を行う。おるφは測定直後に測定値をファイル化してお
けば次のステップへ進み、データ処理を出力は別プμグ
ラム上で実施することも可能でるり、さらに高速化が図
れる。
＠ ｍｌ定終了ｆ終了したらアームハンドマニビ為し
−タコｌ装置よυ光ファイバホルダー２０！＊ ２０
ｔ’から元ファイバ心！１ｊ２０９ｔ２０り′をはずし
、場所Ａに戻して−＃Ｉ定を終了する。そして手順のに
戻る。もしくは全測定終了時にはプログラム′ｔ−終了
させる０上記７四−をもつプルグラムを測定項目数に見
合うだけ外部制御用・処理用コントローラＪｌＯ上で並
行して動作させる。これによりて光ファイバケーブルの
全心線の全測定項目を実行処理できる。各プ田グ２ムは
の〜＠の単純作業を繰り返すのみでるる。このプルセス
における待ち時間はア−７４／’１ンドマニビ為レーし
コｌコの使用待ち時間及び所長光ファイバ心線がたまた
ま使用中の時の待ち時間であシ、装置の稼動率は従来の
方法に比較して地線的に向上する。第２図に測定心線数
３゜測定項目数３の場合の測定作業の時間的な流れを従
来装置と本発明による装置を比較して示す。測定時間は
、被測定光ファイバ心ｍ数をＮとし、各測定項目（損失
−帯域測定など）を７１９１実行する平均所要時間（の
〜［有］の７サイクル）を’ｌｌ’ｌ ＊ ＴＩ ＊Ｔ
ｓ・・・ｔ Ｔｎ（ｎは測定項目数）とすれば、従来装
置によれば全測定時間はＮＪ’ｒｌである。これに対し
て本発明のこの実施例では、近似的に全測定時間がＴ＋
Ｏ最大１ｋ （ＭＡＸ（Ｔ＋））を用い、Ｎ−ＭＡＸ
（ＴＩ）と貴男できる。例えば、測定項目が３棟畑、各
項目の測定時間が各ｑｌＷｌじ値１分、被測定光ファイ
バ心線数がｌＯＯ心でるる時は、従来装置では／、 ７
００分裂するが、本発明ｔｃよる装置では、２００分で
済むことになシ大幅な測定時間短縮が可能となる。
−タコｌ装置よυ光ファイバホルダー２０！＊ ２０
ｔ’から元ファイバ心！１ｊ２０９ｔ２０り′をはずし
、場所Ａに戻して−＃Ｉ定を終了する。そして手順のに
戻る。もしくは全測定終了時にはプログラム′ｔ−終了
させる０上記７四−をもつプルグラムを測定項目数に見
合うだけ外部制御用・処理用コントローラＪｌＯ上で並
行して動作させる。これによりて光ファイバケーブルの
全心線の全測定項目を実行処理できる。各プ田グ２ムは
の〜＠の単純作業を繰り返すのみでるる。このプルセス
における待ち時間はア−７４／’１ンドマニビ為レーし
コｌコの使用待ち時間及び所長光ファイバ心線がたまた
ま使用中の時の待ち時間であシ、装置の稼動率は従来の
方法に比較して地線的に向上する。第２図に測定心線数
３゜測定項目数３の場合の測定作業の時間的な流れを従
来装置と本発明による装置を比較して示す。測定時間は
、被測定光ファイバ心ｍ数をＮとし、各測定項目（損失
−帯域測定など）を７１９１実行する平均所要時間（の
〜［有］の７サイクル）を’ｌｌ’ｌ ＊ ＴＩ ＊Ｔ
ｓ・・・ｔ Ｔｎ（ｎは測定項目数）とすれば、従来装
置によれば全測定時間はＮＪ’ｒｌである。これに対し
て本発明のこの実施例では、近似的に全測定時間がＴ＋
Ｏ最大１ｋ （ＭＡＸ（Ｔ＋））を用い、Ｎ−ＭＡＸ
（ＴＩ）と貴男できる。例えば、測定項目が３棟畑、各
項目の測定時間が各ｑｌＷｌじ値１分、被測定光ファイ
バ心線数がｌＯＯ心でるる時は、従来装置では／、 ７
００分裂するが、本発明ｔｃよる装置では、２００分で
済むことになシ大幅な測定時間短縮が可能となる。
なお本実施例においては、元ファイバの突合せによる軸
合わせを行っているが、光バワーメータコＯコ′または
受ｍ部−〇３′のフォトダイオードを直接固定台に設置
することも可能である。この場合、フォトダイオードの
受光径が光ファイバのコア径よ〕大きい（ｌ〜０． ／
龍φ）ため、軸合せははるかＩＣ簡単になシ、短時間で
行えるという利点がある。また本実施例ではアームハン
ドマニビエレータコ１２が元ファイバー〇？、λ０２
を直接搬送して−るが、元ファイバをセットした光ファ
イバホルダー−〇！、−〇！′を搬送することも可能で
るる。以上の例においてさらに互いに組となる外部制−
可能な微動台λ０６．コｏｔ’と固定台２０７゜−０７
′とを反転させて使用してもよい。
合わせを行っているが、光バワーメータコＯコ′または
受ｍ部−〇３′のフォトダイオードを直接固定台に設置
することも可能である。この場合、フォトダイオードの
受光径が光ファイバのコア径よ〕大きい（ｌ〜０． ／
龍φ）ため、軸合せははるかＩＣ簡単になシ、短時間で
行えるという利点がある。また本実施例ではアームハン
ドマニビエレータコ１２が元ファイバー〇？、λ０２
を直接搬送して−るが、元ファイバをセットした光ファ
イバホルダー−〇！、−〇！′を搬送することも可能で
るる。以上の例においてさらに互いに組となる外部制−
可能な微動台λ０６．コｏｔ’と固定台２０７゜−０７
′とを反転させて使用してもよい。
第３図はｔＩＸ１図の実施例で示さなかうた尤ファイバ
パラメータの測定系の部分のみを示したもの明細書の浄
書（内容に変更なし） である。３００はＮＦＰ測定用顕微鏡、３００は端面反
射像６＋＋１定用光源、３０／はビジコンカメラ、３０
．２はカメラコントローラおよびモニタテレビであり、
３０３はＦ’ＦＩ’測定用フォトダイオード、３０１１
ｔは電流アンプ、３０夕は輝度Ａ／Ｄ変換用デジタル電
圧計、３０乙、３０ｔ は被測定光ファイバ、２０２
′の端末近傍に曲げを与え、かつ側方入射用光源を内蔵
する光ファイバ自動開げ入射装装置である。従来光ファ
イバパラメータ測定においては、長尺光ファイバの一部
を切シ出して短尺状態で測定する必要があった。
パラメータの測定系の部分のみを示したもの明細書の浄
書（内容に変更なし） である。３００はＮＦＰ測定用顕微鏡、３００は端面反
射像６＋＋１定用光源、３０／はビジコンカメラ、３０
．２はカメラコントローラおよびモニタテレビであり、
３０３はＦ’ＦＩ’測定用フォトダイオード、３０１１
ｔは電流アンプ、３０夕は輝度Ａ／Ｄ変換用デジタル電
圧計、３０乙、３０ｔ は被測定光ファイバ、２０２
′の端末近傍に曲げを与え、かつ側方入射用光源を内蔵
する光ファイバ自動開げ入射装装置である。従来光ファ
イバパラメータ測定においては、長尺光ファイバの一部
を切シ出して短尺状態で測定する必要があった。
本測定方法は長尺状態における測定を可能とするもので
あシ、被測定光ファイバの端末部近傍に曲げを与え、Ｎ
ｌｉ’Ｐ測定用の側方からの導波モード励振およびＦＦ
Ｉ’測定用の側方からの導波モード励振をそれぞれ行っ
ている。光ファイバ自動開げ入射装置３０６によりＮＦ
Ｐ測定時測定回げを与え、曲げ部に側方から光を入射し
、ＮＦＰ測定用顕微＠３００゜ビジコンカメラ３０／、
カメラコントローラ及びモニタテレビ３０２でＮＦＰ測
定を行う。第３図はこの状態を示している。また＃１ｌ
ｊＩｆ反射葎測定用光源３００ のＯＮ、 Ｏ）’ｌ’
で地面反射像が得られる。−刃元ファイバ自動開げ入射
％＠ＪＯぶ′によｊｉ）Ｆ）’Ｐ＃１定時のみ曲げを与
え、Ｐｋ”Ｐ＃Ｊ定用フォトダイオードＪＯＪでＦＦＰ
副定を行う。これにより、コア径！クツッド僅渉偏心率
−卵円率を開口数（ｉたｔよ、コアｔ クラツド比屈折
率差）が６１１Ｉ足される。
あシ、被測定光ファイバの端末部近傍に曲げを与え、Ｎ
ｌｉ’Ｐ測定用の側方からの導波モード励振およびＦＦ
Ｉ’測定用の側方からの導波モード励振をそれぞれ行っ
ている。光ファイバ自動開げ入射装置３０６によりＮＦ
Ｐ測定時測定回げを与え、曲げ部に側方から光を入射し
、ＮＦＰ測定用顕微＠３００゜ビジコンカメラ３０／、
カメラコントローラ及びモニタテレビ３０２でＮＦＰ測
定を行う。第３図はこの状態を示している。また＃１ｌ
ｊＩｆ反射葎測定用光源３００ のＯＮ、 Ｏ）’ｌ’
で地面反射像が得られる。−刃元ファイバ自動開げ入射
％＠ＪＯぶ′によｊｉ）Ｆ）’Ｐ＃１定時のみ曲げを与
え、Ｐｋ”Ｐ＃Ｊ定用フォトダイオードＪＯＪでＦＦＰ
副定を行う。これにより、コア径！クツッド僅渉偏心率
−卵円率を開口数（ｉたｔよ、コアｔ クラツド比屈折
率差）が６１１Ｉ足される。
ＮＦｐ＊ ｈ’ｙｐ測定時以外は曲げを開放する。本手
法を導入することによって短尺のｊｔ、ファイバを用意
することなく、長尺の光ファイバで尤ツァイ／（／＜２
メータのｌｊ′ＸＥが可屈となシ、他の測定項目に引続
いて１１１１定できるため高速化にさらに貢献できる。
法を導入することによって短尺のｊｔ、ファイバを用意
することなく、長尺の光ファイバで尤ツァイ／（／＜２
メータのｌｊ′ＸＥが可屈となシ、他の測定項目に引続
いて１１１１定できるため高速化にさらに貢献できる。
以上説明し九ように本発明の元ファイバ時性測定装置Ｆ
ｉ並行動作を行える構成をとっているために各測定糸の
９を動率が高く側足時間の短縮化が図れる。本装置を光
ファイバケーブルの最終横査工相に適用すれば検量コス
ト低減による光ファイバケーブルの低コスト化が実現で
きる。
ｉ並行動作を行える構成をとっているために各測定糸の
９を動率が高く側足時間の短縮化が図れる。本装置を光
ファイバケーブルの最終横査工相に適用すれば検量コス
ト低減による光ファイバケーブルの低コスト化が実現で
きる。
ＢＦ１ｍｌｌ書の浄書（内容に変更なし１
第１図は本発明の実施例、第２図は従来装置と本発明に
よる装置とによる測定時間の比較図、第３図は本発明に
よる実施例の一部を示す図である。 第μ図、第を図は従来の装置を示す図である。 ２０／・・・光パルス試験器、２０２・・・光損失測定
用光源、２０２′・・・光損失測定用パワメータ、２０
３・・・ベースバンド特性測定用送信部、２０３’・・
・ベースバンド特性測定用受信部、２０４ｔ・・・励振
用光ファイバ、２０’ｌ−’・・・受光用光ファイバ、
２０ｊ、２０３’・・・光ファイバホルダー１．２０’
ｔ、 ２０ｔ’・・・外部制御可能な微動台、２０７・
２０７′・・・固定台、２０！・・・光７−ｙイバケー
ブル、２０り、２０り′・・・被測定光ファイバ、２／
θ・・・外部制御用・処理用コントローラ、２／／・・
・インターフェイスケーブル、２／２・・・アームハン
ドマニピュレータ、３００・・・ＮＩｉ”Ｐ測定用顕微
鏡、３００′・・・端面反射像測定用光源、３０／・・
・ビジコンカメラ、３０２・−・カメラコントローラお
よびモニタテレビ、３０３・・・Ｆ’Ｉｉ’Ｐ測定用フ
ォトダイオード、３０４ｔ・・・電流アンプ、３０！・
・・デジタル電圧針、ＪＯ４＊ Ｊｏｔ ・・・元フ
ァイバ自ｇｔ曲げ入射装置。
よる装置とによる測定時間の比較図、第３図は本発明に
よる実施例の一部を示す図である。 第μ図、第を図は従来の装置を示す図である。 ２０／・・・光パルス試験器、２０２・・・光損失測定
用光源、２０２′・・・光損失測定用パワメータ、２０
３・・・ベースバンド特性測定用送信部、２０３’・・
・ベースバンド特性測定用受信部、２０４ｔ・・・励振
用光ファイバ、２０’ｌ−’・・・受光用光ファイバ、
２０ｊ、２０３’・・・光ファイバホルダー１．２０’
ｔ、 ２０ｔ’・・・外部制御可能な微動台、２０７・
２０７′・・・固定台、２０！・・・光７−ｙイバケー
ブル、２０り、２０り′・・・被測定光ファイバ、２／
θ・・・外部制御用・処理用コントローラ、２／／・・
・インターフェイスケーブル、２／２・・・アームハン
ドマニピュレータ、３００・・・ＮＩｉ”Ｐ測定用顕微
鏡、３００′・・・端面反射像測定用光源、３０／・・
・ビジコンカメラ、３０２・−・カメラコントローラお
よびモニタテレビ、３０３・・・Ｆ’Ｉｉ’Ｐ測定用フ
ォトダイオード、３０４ｔ・・・電流アンプ、３０！・
・・デジタル電圧針、ＪＯ４＊ Ｊｏｔ ・・・元フ
ァイバ自ｇｔ曲げ入射装置。
Claims (1)
- 複数の外部制御可能な微動台と、該微動台上に固定又は
取りはずし可能として配置される被測定光ファイバ把持
固定用光ファイバホルダーと、前記外部制御可能な微動
台に対向して組となる同数の固定台と、該固定台に把持
固定された光ファイバが接続される各種伝送特性測定器
の光源部及び受光部又は該固定台に設置されたファイバ
パラメータ測定器と、被測定光ファイバの端末近傍に設
置する光ファイバ自動曲げ入射装置と、被測定光ファイ
バを把持し３次元空間内を移動させ、前記の光ファイバ
ホルダーに任意の場所から搬送・固定させる外部制御可
能な１台もしくは複数台のアームハンドマニピュレータ
と、外部制御用・処理用コントローラと、から成る構成
要素を具備した装置であって、被測定光ファイバの搬送
・ホルダーへの固定・ホルダーからの解除から成る光フ
ァイバのハンドリングと、光ファイバ軸調心と、測定と
、の各工程の制御・処理を各測定項目毎および各測定項
目内で並行して行うことを特徴とする光ファイバ特性測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6772686A JPH0617848B2 (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | 光フアイバ特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6772686A JPH0617848B2 (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | 光フアイバ特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62223641A true JPS62223641A (ja) | 1987-10-01 |
| JPH0617848B2 JPH0617848B2 (ja) | 1994-03-09 |
Family
ID=13353251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6772686A Expired - Lifetime JPH0617848B2 (ja) | 1986-03-26 | 1986-03-26 | 光フアイバ特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0617848B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033255A (ja) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバーの検査システム |
| JP2012154843A (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光入出射装置及び光入出射方法 |
-
1986
- 1986-03-26 JP JP6772686A patent/JPH0617848B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033255A (ja) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバーの検査システム |
| JP2012154843A (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光入出射装置及び光入出射方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0617848B2 (ja) | 1994-03-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |