JP2022085974A - 光学特性測定方法および光学特性測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
結合型マルチコアファイバの光学特性を測定する光学特性測定方法であって、
互いのモードフィールド径及び比屈折率差が異なり、かつ、前記モードフィールド径及び前記比屈折率差が既知である第1シングルコアファイバと第2シングルコアファイバとを直列に接続し、前記第2シングルコアファイバの未接続の端に前記結合型マルチコアファイバの1つのコアを直列に接続し、光ファイバ伝送路を形成すること、
前記光ファイバ伝送路の一端から第1の試験光パルスを入力すること、
前記一端からの距離に関して、前記第1の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布を測定すること、
前記光ファイバ伝送路の他端から第2の試験光パルスを入力すること、
前記一端からの距離に関して、前記第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布を測定すること、
前記第1シングルコアファイバの任意の1点、前記第2シングルコアファイバの任意の1点及び前記結合型マルチコアファイバの所望の1点のそれぞれについて、対数スケールで表示した前記第1の試験光パルスによる後方散乱光強度及び前記第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の相加平均強度を算出すること、
3つの前記相加平均強度と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれのモードフィールド径と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれの比屈折率差とから、前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径、比屈折率差及び波長分散の少なくとも1つを算出すること、
を行う。
試験光パルスを生成する試験光パルス生成器と、
互いにモードフィールド径及び比屈折率差が異なり、かつ、前記モードフィールド径及び前記比屈折率差が既知であって、直列に接続された第1シングルコアファイバ及び第2シングルコアファイバと、前記第2シングルコアファイバに自身の有する1つのコアが直列に接続された結合型マルチコアファイバと、で構成される光ファイバ伝送路の一端に第1の試験光パルスを入力するとともに前記第1の試験光パルスによる後方散乱光を出力し、前記光ファイバ伝送路の他端に第2の試験光パルスを入力するとともに前記第2の試験光パルスによる後方散乱光を出力する入出力器と、
前記入出力器が出力した前記第1の試験光パルスによる後方散乱光の強度及び前記第2の試験光パルスによる後方散乱光の強度について、前記一端からの距離に関する分布を測定する測定器と、
前記第1シングルコアファイバの任意の1点、前記第2シングルコアファイバの任意の1点及び前記結合型マルチコアファイバの所望の1点のそれぞれについて、対数スケールで表示した前記第1の試験光パルスによる後方散乱光の強度及び前記第2の試験光パルスによる後方散乱光の強度の相加平均強度を算出し、3つの前記相加平均強度と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれのモードフィールド径と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれの比屈折率差とから、前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径、比屈折率差及び波長分散の少なくとも1つを算出する演算器と、
を備える。
数C1を用いて前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径を算出してもよい。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
λは波長であり、
w(λ、z)は前記所望の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径である。
数C2を用いて前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差を算出してもよい。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
Δ(z)は前記所望の1点に関しての比屈折率差、Δ(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差、Δ(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差であり、
kは定数である。
前記結合型マルチコアファイバの波長分散を算出する際に、
数C3を用いて前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径を算出すること、
数C4を用いて前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差を算出すること、
前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差から材料分散を算出すること、
複数の波長λに関して取得した前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径から前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径の波長依存性を算出すること、
前記波長依存性から導波路分散を算出すること、
前記材料分散と前記導波路分散とを足して前記波長分散を算出してもよい。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
λは波長であり、
w(λ、z)は前記所望の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径であり、
Δ(z)は前記所望の1点に関しての比屈折率差、Δ(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差、Δ(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差であり、
kは定数である。
本実施形態に係る光学特性測定装置の概略構成の一例を図1に示す。
本開示に係る光学特性測定装置は、
試験光パルスを生成する試験光パルス生成器11と、
互いにモードフィールド径及び比屈折率差が異なり、かつ、モードフィールド径及び比屈折率差が既知であって、直列に接続された第1シングルコアファイバ10-1及び第2シングルコアファイバ10-2と、第2シングルコアファイバ10-2に自身の有する1つのコアが直列に接続された結合型マルチコアファイバ10-3と、で構成される光ファイバ伝送路10の一端Aに第1の試験光パルスを入力するとともに第1の試験光パルスによる後方散乱光を出力し、光ファイバ伝送路10の他端Bに第2の試験光パルスを入力するとともに第2の試験光パルスによる後方散乱光を出力する入出力器12と、
入出力器12が出力した第1の試験光パルスによる後方散乱光の強度及び第2の試験光パルスによる後方散乱光の強度について、一端Aからの距離に関する分布を測定する測定器13と、
第1シングルコアファイバ10-1の任意の1点、第2シングルコアファイバ10-2の任意の1点及び結合型マルチコアファイバ10-3の所望の1点のそれぞれについて、対数スケールで表示した第1の試験光パルスによる後方散乱光の強度及び第2の試験光パルスによる後方散乱光の強度の相加平均強度を算出し、3つの相加平均強度と、第1シングルコアファイバ10-1及び第2シングルコアファイバ10-2のそれぞれのモードフィールド径と、第1シングルコアファイバ10-1及び第2シングルコアファイバ10-2のそれぞれの比屈折率差とから、結合型マルチコアファイバ10-3のモードフィールド径、比屈折率差及び波長分散の少なくとも1つを算出する演算器14と、を備える。
本実施形態に係る光学特性測定方法は、
結合型マルチコアファイバ10-3の光学特性を測定する光学特性測定方法であって、
互いのモードフィールド径及び比屈折率差が異なり、かつ、モードフィールド径及び比屈折率差が既知である第1シングルコアファイバ10-1と第2シングルコアファイバ10-2とを直列に接続し、第2シングルコアファイバ10-2の未接続の端に結合型マルチコアファイバ10-3の1つのコアを直列に接続し、光ファイバ伝送路10を形成すること(ステップS00)、
光ファイバ伝送路10の一端Aから第1の試験光パルスを入力すること(ステップS01)、
一端Aからの距離に関して、第1の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布を測定すること(ステップS02及びS03)、
光ファイバ伝送路10の他端Bから第2の試験光パルスを入力すること(ステップS04)、
一端Aからの距離に関して、第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布を測定すること(ステップS05及びS06)、
第1シングルコアファイバ10-1の任意の1点、第2シングルコアファイバ10-2の任意の1点及び結合型マルチコアファイバ10-3の所望の1点のそれぞれについて、対数スケールで表示した第1の試験光パルスによる後方散乱光強度及び第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の相加平均強度を算出すること(サブステップS07-1)、
3つの相加平均強度と、第1シングルコアファイバ10-1及び第2シングルコアファイバ10-2のそれぞれのモードフィールド径と、第1シングルコアファイバ10-1及び第2シングルコアファイバ10-2のそれぞれの比屈折率差とから、結合型マルチコアファイバ10-3のモードフィールド径、比屈折率差及び波長分散の少なくとも1つを算出すること(サブステップS07-2からS07-7)、を行う。
以下、ステップS00からステップS07まで詳細に説明する。
図1に示すように、互いのモードフィールド径及び比屈折率差が異なり、かつ、モードフィールド径及び比屈折率差が既知である第1シングルコアファイバ10-1と第2シングルコアファイバ10-2とを直列に接続し、第2シングルコアファイバ10-2の未接続の端に結合型マルチコアファイバ10-3の1つのコアを直列に接続し、光ファイバ伝送路10を形成する。
試験光パルス生成器11は、前述したように、光源11-1から出力された連続光を試験光パルスに変え、入出力器12を介して第1の試験光パルスを光ファイバ伝送路10の一端Aから入力する。
測定器13は、ステップS01で入力した第1の試験光パルスにより光ファイバ伝送路10内で発生した後方散乱光を、前述したように、一端Aに接続された入出力器12を介して受光する。
測定器13は、ステップS02で受光した第1の試験光パルスによる後方散乱光の強度について、光ファイバ伝送路10の一端Aからの距離に関する分布を測定する。
試験光パルス生成器11は、前述したように、光源11-1から出力された連続光を試験光パルスに変え、入出力器12を介して第2の試験光パルスを光ファイバ伝送路10の他端Bから入力する。
測定器13は、ステップS04で入力した第2の試験光パルスにより光ファイバ伝送路10内で発生した後方散乱光を、前述したように、他端Bに接続された入出力器12を介して受光する。
測定器13は、ステップS05で受光した第2の試験光パルスによる後方散乱光の強度について、光ファイバ伝送路10の一端Aからの距離に関する分布を測定する。
演算器14は、ステップS03およびステップS06において、信号処理部13-3で測定した第1の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布及び第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布を用いて、結合型マルチコアファイバのモードフィールド径、比屈折率差および波長分散を算出する。本ステップは、図5に示すサブステップS07-1からサブステップS07-7をさらに備えてもよい。以下、サブステップS07-1からS07-7について説明する。
演算器14は、ステップS03およびステップS06において、信号処理部13-3で測定した第1の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布及び第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布から、結合型マルチコアファイバ10-3の所望の1点における第1の試験光パルスによる後方散乱光強度及び第2の試験光パルスによる後方散乱光強度を抽出し、対数スケールで表示する。対数スケールで表示した第1の試験光パルスによる後方散乱光強度及び第2の試験光パルスによる後方散乱光強度を足して2で割ることで、相加平均強度を求める。同様に、第1シングルコアファイバ10-1の任意の1点及び第2シングルコアファイバ10-2の任意の1点のそれぞれについても相加平均強度を求める。
サブステップS07-1で取得した3つの相加平均強度と、第1シングルコアファイバ10-1のモードフィールド径と、第2シングルコアファイバ10-2のモードフィールド径とを、数7(非特許文献3参照。)に用いて結合型マルチコアファイバ10-3のモードフィールド径を算出する。
I(z)は所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は第1シングルコアファイバ10-1の任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は第2シングルコアファイバ10-2の任意の1点に関しての相加平均強度であり、
λは波長であり、
w(λ、z)は所望の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z1)は第1シングルコアファイバ10-1の任意の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z2)は第2シングルコアファイバ10-2の任意の1点に関してのモードフィールド径である。
サブステップS07-1で取得した3つの相加平均強度と、第1シングルコアファイバ10-1の比屈折率差と、第2シングルコアファイバ10-2の比屈折率差とを、数8(非特許文献3を参照。)に用いて結合型マルチコアファイバ10-3の比屈折率差を算出する。
サブステップS07-3で算出した比屈折率差Δ(z)と、屈折率nの波長依存性を記述するセルマイヤの分散関係式を表す数9(非特許文献4を参照。)と、を用いて結合型マルチコアファイバ10-3のコアの屈折率波長依存性を算出する。
試験光パルスの波長を変えてステップS01からステップ06を複数回行い、複数の波長についての後方散乱光強度の分布を測定し、サブステップS07-1及びサブステップS07-2により、複数波長についての結合型マルチコアファイバ10-3のモードフィールド径を算出する。
サブステップS07-5で算出した結合型マルチコアファイバ10-3のモードフィールド径の波長依存性を導波路分散の近似式である数12(非特許文献3を参照。)に用いて導波路分散を算出する。
10-1:第1シングルコアファイバ
10-2:第2シングルコアファイバ
10-3:結合型マルチコアファイバ
11:試験光パルス生成器
11-1:光源
11-2:光強度変調器
11-3:パルス発生器
12:入出力器
13:測定器
13-1:受光器
13-2:A/D変換機
13-3:信号処理部
14:演算器
101:光学特性測定装置
Claims (8)
- 結合型マルチコアファイバの光学特性を測定する光学特性測定方法であって、
互いのモードフィールド径及び比屈折率差が異なり、かつ、前記モードフィールド径及び前記比屈折率差が既知である第1シングルコアファイバと第2シングルコアファイバとを直列に接続し、前記第2シングルコアファイバの未接続の端に前記結合型マルチコアファイバの1つのコアを直列に接続し、光ファイバ伝送路を形成すること、
前記光ファイバ伝送路の一端から第1の試験光パルスを入力すること、
前記一端からの距離に関して、前記第1の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布を測定すること、
前記光ファイバ伝送路の他端から第2の試験光パルスを入力すること、
前記一端からの距離に関して、前記第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の分布を測定すること、
前記第1シングルコアファイバの任意の1点、前記第2シングルコアファイバの任意の1点及び前記結合型マルチコアファイバの所望の1点のそれぞれについて、対数スケールで表示した前記第1の試験光パルスによる後方散乱光強度及び前記第2の試験光パルスによる後方散乱光強度の相加平均強度を算出すること、
3つの前記相加平均強度と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれのモードフィールド径と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれの比屈折率差とから、前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径、比屈折率差及び波長分散の少なくとも1つを算出すること、
を行う光学特性測定方法。 - 数C1を用いて前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径を算出する
ことを特徴とする請求項1に記載の光学特性測定方法。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
λは波長であり、
w(λ、z)は前記所望の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径である。 - 数C2を用いて前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差を算出する
ことを特徴とする請求項1に記載の光学特性測定方法。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
Δ(z)は前記所望の1点に関しての比屈折率差、Δ(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差、Δ(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差であり、
kは定数である。 - 前記結合型マルチコアファイバの波長分散を算出する際に、
数C3を用いて前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径を算出すること、
数C4を用いて前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差を算出すること、
前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差から材料分散を算出すること、
複数の波長λに関して取得した前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径から前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径の波長依存性を算出すること、
前記波長依存性から導波路分散を算出すること、
前記材料分散と前記導波路分散とを足して前記波長分散を算出すること
を行うことを特徴とする請求項1に記載の光学特性測定方法。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
λは波長であり、
w(λ、z)は前記所望の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径であり、
Δ(z)は前記所望の1点に関しての比屈折率差、Δ(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差、Δ(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差であり、
kは定数である。 - 試験光パルスを生成する試験光パルス生成器と、
互いにモードフィールド径及び比屈折率差が異なり、かつ、前記モードフィールド径及び前記比屈折率差が既知であって、直列に接続された第1シングルコアファイバ及び第2シングルコアファイバと、前記第2シングルコアファイバに自身の有する1つのコアが直列に接続された結合型マルチコアファイバと、で構成される光ファイバ伝送路の一端に第1の試験光パルスを入力するとともに前記第1の試験光パルスによる後方散乱光を出力し、前記光ファイバ伝送路の他端に第2の試験光パルスを入力するとともに前記第2の試験光パルスによる後方散乱光を出力する入出力器と、
前記入出力器が出力した前記第1の試験光パルスによる後方散乱光の強度及び前記第2の試験光パルスによる後方散乱光の強度について、前記一端からの距離に関する分布を測定する測定器と、
前記第1シングルコアファイバの任意の1点、前記第2シングルコアファイバの任意の1点及び前記結合型マルチコアファイバの所望の1点のそれぞれについて、対数スケールで表示した前記第1の試験光パルスによる後方散乱光の強度及び前記第2の試験光パルスによる後方散乱光の強度の相加平均強度を算出し、3つの前記相加平均強度と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれのモードフィールド径と、前記第1シングルコアファイバ及び前記第2シングルコアファイバのそれぞれの比屈折率差とから、前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径、比屈折率差及び波長分散の少なくとも1つを算出する演算器と、
を備える光学特性測定装置。 - 前記演算器は、数C5を用いて前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径を算出する
ことを特徴とする請求項5に記載の光学特性測定装置。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
λは波長であり、
w(λ、z)は前記所望の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径である。 - 前記演算器は、数C6を用いて前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差を算出する
ことを特徴とする請求項5に記載の光学特性測定装置。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
Δ(z)は前記所望の1点に関しての比屈折率差、Δ(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差、Δ(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差であり、
kは定数である。 - 前記演算器は、前記結合型マルチコアファイバの波長分散を算出する際に、
数C7を用いて前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径を算出すること、
数C8を用いて前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差を算出すること、
前記結合型マルチコアファイバの比屈折率差から材料分散を算出すること、
複数の波長λに関して取得した前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径から前記結合型マルチコアファイバのモードフィールド径の波長依存性を算出すること、
前記波長依存性から導波路分散を算出すること、
前記材料分散と前記導波路分散とを足して前記波長分散を算出すること
を行うことを特徴とする請求項5に記載の光学特性測定装置。
I(z)は前記所望の1点に関しての相加平均強度、I(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度、I(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての相加平均強度であり、
λは波長であり、
w(λ、z)は前記所望の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径、w(λ、z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関してのモードフィールド径であり、
Δ(z)は前記所望の1点に関しての比屈折率差、Δ(z1)は前記第1シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差、Δ(z2)は前記第2シングルコアファイバの任意の1点に関しての比屈折率差であり、
kは定数である。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2024038487A1 (ja) * | 2022-08-15 | 2024-02-22 | 日本電信電話株式会社 | 双方向のクロストークを評価する装置及び方法 |
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2020
- 2020-11-30 JP JP2020197752A patent/JP2022085974A/ja active Pending
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