JP7081471B2 - 光パルス試験方法および光パルス試験装置 - Google Patents
光パルス試験方法および光パルス試験装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7081471B2 JP7081471B2 JP2018235878A JP2018235878A JP7081471B2 JP 7081471 B2 JP7081471 B2 JP 7081471B2 JP 2018235878 A JP2018235878 A JP 2018235878A JP 2018235878 A JP2018235878 A JP 2018235878A JP 7081471 B2 JP7081471 B2 JP 7081471B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- loss
- mode
- incident
- connection point
- basic mode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3154—Details of the opto-mechanical connection, e.g. connector or repeater
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
本開示は、2モード光ファイバを直列に接続している光ファイバの接続損失を測定するための光パルス試験方法および光パルス試験装置に関する。
動画やゲームに代表される大容量コンテンツの増加やスマートフォンの普及に伴い、光ファイバネットワークにおけるトラフィック量は年々増加している。一方で、現在伝送媒体として用いられているシングルモードファイバには、伝送容量の限界が近づいている。将来的なトラフィック増大に対応するための一つの技術として、数モードファイバを用いたモード多重伝送が注目されている。モード多重伝送の実用化を考えると、数モードファイバを用いた光伝送路構築後に、伝送に用いる各モードの損失特性を測定する技術が必要不可欠となる。
伝送路構築後の損失試験方法としては、光時間領域反射測定法(Optical Time Domain Reflectometry、以下OTDRと称する)が著名である。OTDRは、パルス化された試験光を被試験光ファイバ(Fiber Under Test、以下FUTと称する)に入射し、光ファイバ内を伝搬する試験光パルスに由来するレイリー散乱光の後方散乱光やフレネル反射光の強度とラウンドトリップ時間に基づき分布データ(後方散乱波形)を取得する方法および装置である。非特許文献1では、2モードファイバを試験するためのOTDRとして、後方散乱光に含まれる基本モードと第一高次モードを個別に測定するOTDRが開示されている。各モード成分の後方散乱波形から、光ファイバにおける損失情報を取得することができる。
M.Nakazawa et.al.,"Measurement of mode coupling distribution along a few-mode fiber using a synchronous multi-channel OTDR," Opt. Express, vol. 22, no. 25, pp. 31299-31309, 2014.
A.Nakamura et.al.,"Reduction of modal evolution fluctuation in 2-LP mode optical time domain reflectometry," Opt. Express, vol. 25, no. 17, pp. 20727-20736, 2017.
非特許文献1に記載の試験方法で2モードファイバの接続点における基本モードおよび第一高次モードの損失を取得する場合、試験光を基本モードで入射しての測定と、試験光を第一高次モードで入射しての測定と、の合計2回の測定を行う必要がある。これら2回の測定において、入射するモードを切り替えるために、手動で光コネクタを切り替えることや、光スイッチを装置に組み込むこと、が必要となる。すなわち、測定時の手作業が煩雑となることや、測定装置の構成が複雑となることが課題となる。
本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、2モード光ファイバを直列させた接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を、入射する試験光のモードを切り替えることなく測定できる光パルス試験方法および光パルス試験装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る光パルス試験方法および光パルス試験装置は、基本モードまたは第一高次モードのいずれか一方のみの試験光パルスを用い、基本モード成分および第一高次モード成分の後方散乱波形に生じるそれぞれの損失に対して算術処理を施すことにより基本モードおよび第一高次モード双方の透過接続損失を算出することとした。
具体的には、本発明に係る第一の光パルス試験方法は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手順と、
前記第一入射手順で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手順と、
前記第一測定手順で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手順と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第一の数式に、前記第一損失算出手順で算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手順と、
を行うことを特徴とする。
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手順と、
前記第一入射手順で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手順と、
前記第一測定手順で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手順と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第一の数式に、前記第一損失算出手順で算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手順と、
を行うことを特徴とする。
また、本発明に係る第二の光パルス試験方法は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手順と、
前記第二入射手順で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手順と、
前記第二測定手順で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手順と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第二の数式に、前記第二損失算出手順で算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手順と、
を行うことを特徴とする。
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手順と、
前記第二入射手順で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手順と、
前記第二測定手順で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手順と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第二の数式に、前記第二損失算出手順で算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手順と、
を行うことを特徴とする。
また、本発明に係る第一の光パルス試験装置は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手段と、
前記第一入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手段と、
前記第一測定手段が測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手段と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第一の数式に、前記第二損失算出手段が算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手段と、
を備えることを特徴とする。
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手段と、
前記第一入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手段と、
前記第一測定手段が測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手段と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第一の数式に、前記第二損失算出手段が算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手段と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明に係る第二の光パルス試験装置は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手段と、
前記第二入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手段と、
前記第二測定手段が測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手段と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第二の数式に、前記第一損失算出手段が算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手段と、
を備えることを特徴とする。
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手段と、
前記第二入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手段と、
前記第二測定手段が測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手段と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第二の数式に、前記第一損失算出手段が算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手段と、
を備えることを特徴とする。
本発明は、2モード光ファイバを直列させた接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を、入射する試験光のモードを切り替えることなく測定できる光パルス試験方法および光パルス試験装置を提供することができる。
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書および図面において、符号が同じ構成要素は相互に同一のものを示すものとする。
図1は、本実施形態の第一の光パルス試験方法を説明する工程図である。本光パルス試験方法は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手順S01と、
第一入射手順S01で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手順S02と、
第一測定手順S02で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手順S03と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(8)に、第一損失算出手順S03で算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手順S04と、
を行うことを特徴とする。
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手順S01と、
第一入射手順S01で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手順S02と、
第一測定手順S02で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手順S03と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(8)に、第一損失算出手順S03で算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手順S04と、
を行うことを特徴とする。
また、図2は、本実施形態の第二の光パルス試験方法を説明する工程図である。本光パルス試験方法は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手順S05と、
第二入射手順S05で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手順S06と、
第二測定手順S06で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手順S07と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(9)に、第二損失算出手順S07で算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手順S08と、
を行うことを特徴とする。
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手順S05と、
第二入射手順S05で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手順S06と、
第二測定手順S06で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手順S07と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(9)に、第二損失算出手順S07で算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手順S08と、
を行うことを特徴とする。
第一入射手順S01では、
被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを生成する生成ステップと、
前記生成ステップで生成した前記試験光パルスを基本モードで前記被試験光ファイバの一端に入射する第一入射ステップと、
を行う。
被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを生成する生成ステップと、
前記生成ステップで生成した前記試験光パルスを基本モードで前記被試験光ファイバの一端に入射する第一入射ステップと、
を行う。
第一測定手順S02では、
前記第一入射ステップで前記被試験光ファイバの一端に入射した前記試験光パルスの戻り光を基本モードおよび第一高次モードに分離するモード分波ステップと、
前記モード分波ステップで分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換し、前記被試験光ファイバ一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布を取得する第一光強度取得ステップと、
を行う。つまり、第一入射手順S01と第一測定手順S02で非特許文献1および非特許文献2に示されるような後方散乱光測定技術を用いて、被試験光ファイバの一端から基本モードおよび第一高次モードの後方散乱光強度分布を測定する。
前記第一入射ステップで前記被試験光ファイバの一端に入射した前記試験光パルスの戻り光を基本モードおよび第一高次モードに分離するモード分波ステップと、
前記モード分波ステップで分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換し、前記被試験光ファイバ一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布を取得する第一光強度取得ステップと、
を行う。つまり、第一入射手順S01と第一測定手順S02で非特許文献1および非特許文献2に示されるような後方散乱光測定技術を用いて、被試験光ファイバの一端から基本モードおよび第一高次モードの後方散乱光強度分布を測定する。
第一損失算出手順S03では、
前記第一光強度取得ステップで取得した前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布から前記被試験光ファイバの接続点における前記戻り光のモード成分に生じた損失を算出する第一損失算出ステップ
を行う。
前記第一光強度取得ステップで取得した前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布から前記被試験光ファイバの接続点における前記戻り光のモード成分に生じた損失を算出する第一損失算出ステップ
を行う。
第一演算手順S04では、
前記第一損失算出ステップで取得した損失から近似式(式(8))を用いて接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する第一演算ステップ
を行う。接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する詳細は後述する。
前記第一損失算出ステップで取得した損失から近似式(式(8))を用いて接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する第一演算ステップ
を行う。接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する詳細は後述する。
第二入射手順S05では、
被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを生成する生成ステップと、
前記生成ステップで生成した前記試験光パルスを第一高次モードで前記被試験光ファイバの一端に入射する第二入射ステップと、
を行う。
被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを生成する生成ステップと、
前記生成ステップで生成した前記試験光パルスを第一高次モードで前記被試験光ファイバの一端に入射する第二入射ステップと、
を行う。
第二測定手順S06では、
前記第二入射ステップで前記被試験光ファイバの一端に入射した前記試験光パルスの戻り光を基本モードおよび第一高次モードに分離するモード分波ステップと、
前記モード分波ステップで分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換し、前記被試験光ファイバ一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布を取得する第二光強度取得ステップと、
を行う。つまり、第二入射手順S05と第二測定手順S06で非特許文献1および非特許文献2に示されるような後方散乱光測定技術を用いて、被試験光ファイバの一端から基本モードおよび第一高次モードの後方散乱光強度分布を測定する。
前記第二入射ステップで前記被試験光ファイバの一端に入射した前記試験光パルスの戻り光を基本モードおよび第一高次モードに分離するモード分波ステップと、
前記モード分波ステップで分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換し、前記被試験光ファイバ一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布を取得する第二光強度取得ステップと、
を行う。つまり、第二入射手順S05と第二測定手順S06で非特許文献1および非特許文献2に示されるような後方散乱光測定技術を用いて、被試験光ファイバの一端から基本モードおよび第一高次モードの後方散乱光強度分布を測定する。
第一損失算出手順S07では、
前記第二光強度取得ステップで取得した前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布から前記被試験光ファイバの接続点における前記戻り光のモード成分に生じた損失を算出する第二損失算出ステップ
を行う。
前記第二光強度取得ステップで取得した前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布から前記被試験光ファイバの接続点における前記戻り光のモード成分に生じた損失を算出する第二損失算出ステップ
を行う。
第二演算手順S08では、
前記第二損失算出ステップで取得した損失から近似式(式(9))を用いて接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する第二演算ステップ
を行う。接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する詳細は後述する。
前記第二損失算出ステップで取得した損失から近似式(式(9))を用いて接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する第二演算ステップ
を行う。接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を演算する詳細は後述する。
図3は、第一および第二の光パルス試験方法を行う光パルス試験装置101の構成例を説明する図である。
図1に示した第一の光パルス試験方法を行う場合、光パルス試験装置101は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバ10の一端から、被試験光ファイバ10を基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手段と、
前記第一入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手段と、
前記第一測定手段が測定した前記強度分布から、被試験光ファイバ10の前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手段と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(8)に、前記第一損失算出手段が算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手段と、
を備えることを特徴とする。
図1に示した第一の光パルス試験方法を行う場合、光パルス試験装置101は、
同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバ10の一端から、被試験光ファイバ10を基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手段と、
前記第一入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手段と、
前記第一測定手段が測定した前記強度分布から、被試験光ファイバ10の前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手段と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(8)に、前記第一損失算出手段が算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手段と、
を備えることを特徴とする。
また、図2に示した第二の光パルス試験方法を行う場合、光パルス試験装置101は、
被試験光ファイバ10の一端から、被試験光ファイバ10を基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手段と、
前記第二入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手段と、
前記第二測定手段が測定した前記強度分布から、被試験光ファイバ10の前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手段と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(9)に、前記第二損失算出手段が算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手段と、
を備えることを特徴とする。
被試験光ファイバ10の一端から、被試験光ファイバ10を基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手段と、
前記第二入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手段と、
前記第二測定手段が測定した前記強度分布から、被試験光ファイバ10の前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手段と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる式(9)に、前記第二損失算出手段が算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手段と、
を備えることを特徴とする。
前記第一入射手段および前記第二入射手段は、
被試験光ファイバ10を基本モードおよび第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを生成する生成部Aと、
生成部Aが生成した試験光パルスを基本モードまたは第一高次モードのいずれかで被試験光ファイバ10に入射し、かつ前記試験光パルスからの戻り光を基本モードおよび第一高次モードに分離するモード合分波部Bと、
で構成される。
被試験光ファイバ10を基本モードおよび第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを生成する生成部Aと、
生成部Aが生成した試験光パルスを基本モードまたは第一高次モードのいずれかで被試験光ファイバ10に入射し、かつ前記試験光パルスからの戻り光を基本モードおよび第一高次モードに分離するモード合分波部Bと、
で構成される。
前記第一測定手段および第二測定手段は、
モード合分波部Bと、
モード合分波部Bが分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換する受光部Cと、
演算処理部Dのうち、受光部Cの出力信号をデジタルデータに変換するA/D(アナログ/デジタル)変換器18と、前記デジタルデータに基づいて被試験光ファイバ10の一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布を取得する信号処理部19と、
で構成される。
モード合分波部Bと、
モード合分波部Bが分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換する受光部Cと、
演算処理部Dのうち、受光部Cの出力信号をデジタルデータに変換するA/D(アナログ/デジタル)変換器18と、前記デジタルデータに基づいて被試験光ファイバ10の一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布を取得する信号処理部19と、
で構成される。
前記第一損失算出手段および前記第二損失算出手段は、
演算処理部Dのうち、前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布から接続点で生じた損失を算出する損失算出部20
で構成される。
演算処理部Dのうち、前記戻り光のモード成分それぞれの強度分布から接続点で生じた損失を算出する損失算出部20
で構成される。
前記第一演算手段および前記第二演算手段は、
演算処理部Dのうち、損失算出部20が算出した損失から各モードの透過損失を算出する透過損失算出部21
で構成される。
演算処理部Dのうち、損失算出部20が算出した損失から各モードの透過損失を算出する透過損失算出部21
で構成される。
生成部Aは、光源11、パルス発生器12および光強度変調器13を有する。光源11は被試験光ファイバ10を基本モードおよび第一高次モードで伝搬可能な波長の連続光を出力可能であり、出力される連続光はパルス発生器12の信号に従って光強度変調器13でパルス化され、試験光パルスとなる。光強度変調器13は、例えば音響光学素子をパルス駆動するようにした音響光学スイッチを備える、音響光学変調器である。なお、パルス発生器12は、演算処理部Dに対して、後方散乱光強度分布の測定を開始するタイミングを決めるためのトリガ信号を出力するようにしてもよい。
モード合分波部Bは、光サーキュレータ14およびモード合分波器15を有する。光強度変調器13で生成された試験光パルスは、光サーキュレータ14を介してモード合分波器15に入射される。モード合分波器15は、例えば非特許文献2に記載されるような平面光波回路で構成された方向性結合器を備える、モード合分波器である。試験光パルスは、モード合分波器15から基本モードまたは第一高次モードとして被試験光ファイバ10の一端に入射される。
基本モードまたは第一高次モードで入射された試験光パルスが被試験光ファイバ10を伝搬する際、レイリー散乱によって試験光パルスの一部は逆方向に伝搬する基本モードおよび第一高次モードに結合し、それぞれ基本モードおよび第一高次モードの後方散乱光となる。この後方散乱光は、戻り光としてモード合分波器15に再入射される。このとき戻り光の基本モードと第一高次モードのモード成分はモード合分波器15で分離される。
受光部Cは、2つの光受信器(16、17)を有する。モード合分波器15でモード毎に分離された戻り光のうち、基本モード成分は光サーキュレータ14を経由して光受信器16に、第一高次モード成分は光受信器17に入射され、光電変換される。
演算処理部Dは、A/D変換器18、信号処理部19、損失算出部20、透過損失算出部21を有する。光受信器16および17からの電気信号は、A/D変換器18でデジタルデータに変換される。前記デジタルデータは信号処理部19に入力される。
信号処理部19は、戻り光の基本モードと第一高次モード成分に対する強度分布を取得する。さらに、損失算出部20は、接続点において戻り光の基本モードと第一高次モード成分に対する強度分布に生じる損失を取得する。そして、透過損失算出部21は、接続点における各モードの透過損失を算出する演算処理を行う。
なお、演算処理部Dはコンピュータとプログラムによっても実現でき、プログラムを記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。
以下、接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を算出する演算処理について説明する。
被試験光ファイバに基本モードで試験光パルスを入射したときに、基本モード成分および第一高次モード成分の後方散乱光強度における接続点の損失は、以下の式で表すことができる。
L1およびL2はそれぞれ、デシベル単位で表記された基本モード成分および第一高次モード成分の後方散乱光強度における接続点の損失である。
η01-01は、接続部において基本モードから基本モードへ結合する効率を表す。
η01-11は、接続部において基本モードから第一高次モードへ結合する効率を表す。
η11-01は、接続部において第一高次モードから基本モードへ結合する効率を表す。
η11-11は、接続部において第一高次モードから第一高次モードへ結合する効率を表す。
η01-01は、接続部において基本モードから基本モードへ結合する効率を表す。
η01-11は、接続部において基本モードから第一高次モードへ結合する効率を表す。
η11-01は、接続部において第一高次モードから基本モードへ結合する効率を表す。
η11-11は、接続部において第一高次モードから第一高次モードへ結合する効率を表す。
また、被試験光ファイバに第一高次モードで試験光パルスを入射したときに、基本モード成分および第一高次モード成分の後方散乱光強度における接続点の損失は、以下の式で表すことができる。
L3およびL4はそれぞれ、デシベル単位で表記された基本モード成分および第一高次モード成分の後方散乱光強度における接続点の損失である。
図3(A)は、基本モードで試験光パルスを入射したときの後方散乱波形の測定例であり、L1とL2の関係を説明している。図3(B)は、第一高次モードで試験光パルスを入射したときの後方散乱波形の測定例であり、L3とL4の関係を説明している。
一方、被試験光ファイバに基本モードまたは第一高次モードを入射したときの透過損失は、以下の式で表すことができる。
L01およびL11はそれぞれ、デシベル単位で表記された接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失である。
式(1)~(3)、(6)、(7)より、以下の式が得られる。
したがって、式(8)を用いて、測定したL1およびL2から接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を算出することができる。
また、式(3)~(7)より、以下の式が得られる。
したがって、式(9)を用いて、測定したL3およびL4から接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を算出することができる。
また、式(3)~(7)より、以下の式が得られる。
(他の実施形態)
この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能である。
要するにこの発明は、上位実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。例えば、演算処理部Dは、コンピュータとプログラムによっても実現でき、プログラムを記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。
この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能である。
要するにこの発明は、上位実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。例えば、演算処理部Dは、コンピュータとプログラムによっても実現でき、プログラムを記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。
また、上記実施例では、2本の同種光ファイバを直列に接続したものを被試験光ファイバとして説明したが、3本以上の同種光ファイバまたは異種光ファイバを直列に接続したものを被試験光ファイバとしても試験可能である。ただし、試験光入射端から離れた接続点ほど測定精度に劣化が生じる点について注意が必要である。
また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素を適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
10:被試験光ファイバ
11:光源
12:パルス発生器
13:光強度変調器
14:光サーキュレータ
15:モード合分波器
16、17:光受信器
18:A/D変換器
19:信号処理部
20:損失算出部
21:透過損失算出部
101:光パルス試験装置
11:光源
12:パルス発生器
13:光強度変調器
14:光サーキュレータ
15:モード合分波器
16、17:光受信器
18:A/D変換器
19:信号処理部
20:損失算出部
21:透過損失算出部
101:光パルス試験装置
Claims (8)
- 同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手順と、
前記第一入射手順で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手順と、
前記第一測定手順で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手順と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第一の数式に、前記第一損失算出手順で算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手順と、
を行うことを特徴とする光パルス試験方法。 - 同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手順と、
前記第二入射手順で入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手順と、
前記第二測定手順で測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手順と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第二の数式に、前記第二損失算出手順で算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手順と、
を行うことを特徴とする光パルス試験方法。 - 同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モードで入射する第一入射手段と、
前記第一入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第一測定手段と、
前記第一測定手段が測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L1および第一高次モード成分の損失L2を算出する第一損失算出手段と、
前記損失L1、前記損失L2、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第一の数式に、前記第一損失算出手段が算出した前記損失L1および前記損失L2を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第一演算手段と、
を備えることを特徴とする光パルス試験装置。 - 同種の光ファイバを直列に接続した被試験光ファイバの一端から、前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを第一高次モードで入射する第二入射手段と、
前記第二入射手段が入射した前記試験光パルスにより発生した戻り光を受光し、前記戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれについて前記一端からの距離に関する強度分布を測定する第二測定手段と、
前記第二測定手段が測定した前記強度分布から、前記被試験光ファイバの前記同種の光ファイバを直列に接続した接続点における前記戻り光の基本モード成分の損失L3および第一高次モード成分の損失L4を算出する第二損失算出手段と、
前記損失L3、前記損失L4、前記接続点における基本モードの透過損失L01、および前記接続点における第一高次モードの透過損失L11の、前記接続点における各モード間の結合効率で表した数式を連立させることによって得られる第二の数式に、前記第二損失算出手段が算出した前記損失L3および前記損失L4を代入して前記基本モードの透過損失L01および前記第一高次モードの透過損失L11を演算する第二演算手段と、
を備えることを特徴とする光パルス試験装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018235878A JP7081471B2 (ja) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | 光パルス試験方法および光パルス試験装置 |
PCT/JP2019/047195 WO2020129615A1 (ja) | 2018-12-17 | 2019-12-03 | 光パルス試験方法および光パルス試験装置 |
US17/413,880 US11598692B2 (en) | 2018-12-17 | 2019-12-03 | Optical pulse testing method and optical pulse testing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018235878A JP7081471B2 (ja) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | 光パルス試験方法および光パルス試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020098127A JP2020098127A (ja) | 2020-06-25 |
JP7081471B2 true JP7081471B2 (ja) | 2022-06-07 |
Family
ID=71101409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018235878A Active JP7081471B2 (ja) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | 光パルス試験方法および光パルス試験装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11598692B2 (ja) |
JP (1) | JP7081471B2 (ja) |
WO (1) | WO2020129615A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7081471B2 (ja) * | 2018-12-17 | 2022-06-07 | 日本電信電話株式会社 | 光パルス試験方法および光パルス試験装置 |
WO2020250310A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 日本電信電話株式会社 | 光パルス試験方法及び光パルス試験装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6706186B2 (ja) * | 2016-10-14 | 2020-06-03 | 日本電信電話株式会社 | 2モード光ファイバ特性解析方法および2モード光ファイバ特性解析装置 |
JP7081471B2 (ja) * | 2018-12-17 | 2022-06-07 | 日本電信電話株式会社 | 光パルス試験方法および光パルス試験装置 |
WO2020250310A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 日本電信電話株式会社 | 光パルス試験方法及び光パルス試験装置 |
-
2018
- 2018-12-17 JP JP2018235878A patent/JP7081471B2/ja active Active
-
2019
- 2019-12-03 WO PCT/JP2019/047195 patent/WO2020129615A1/ja active Application Filing
- 2019-12-03 US US17/413,880 patent/US11598692B2/en active Active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
LIU et al.,Simultaneous measurement of mode dependent loss and mode coupling in few mode fibers by analyzing th,Applied Optics,2018年10月,Vol.57,No.30,pp.8894-8902 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020129615A1 (ja) | 2020-06-25 |
JP2020098127A (ja) | 2020-06-25 |
US20220065744A1 (en) | 2022-03-03 |
US11598692B2 (en) | 2023-03-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7070695B2 (ja) | 光ファイバ試験方法及び光ファイバ試験装置 | |
JP6338153B2 (ja) | モード結合比率分布測定方法及びモード結合比率分布測定装置 | |
JP7322960B2 (ja) | 光ファイバ試験方法および光ファイバ試験装置 | |
JP6706186B2 (ja) | 2モード光ファイバ特性解析方法および2モード光ファイバ特性解析装置 | |
JP6769944B2 (ja) | モード遅延時間差分布試験方法および試験装置 | |
JP7136348B2 (ja) | 光パルス試験方法及び光パルス試験装置 | |
JP7081471B2 (ja) | 光パルス試験方法および光パルス試験装置 | |
JP6748027B2 (ja) | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | |
JP5993818B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 | |
JP2020056904A (ja) | 後方散乱光増幅装置、光パルス試験装置、後方散乱光増幅方法、及び光パルス試験方法 | |
JP6653616B2 (ja) | 光パルス試験方法及び光パルス試験装置 | |
JP2017072495A (ja) | 試験光合分波器及び光線路試験システム | |
JP6653617B2 (ja) | 光パルス試験装置および光パルス試験方法 | |
JP6393563B2 (ja) | 光ファイバの評価方法及び評価装置 | |
JP7006537B2 (ja) | ラマン利得効率分布試験方法およびラマン利得効率分布試験装置 | |
JP2020026976A (ja) | 光ファイバの損失測定装置および光ファイバの損失測定方法 | |
JP2022085974A (ja) | 光学特性測定方法および光学特性測定装置 | |
JP7380892B2 (ja) | 数モードファイバ試験方法及び数モードファイバ試験装置 | |
WO2023084679A1 (ja) | 光伝送路試験装置及び試験方法 | |
JP7497780B2 (ja) | 光ファイバ試験方法及び光ファイバ試験装置 | |
WO2024038487A1 (ja) | 双方向のクロストークを評価する装置及び方法 | |
US20230288287A1 (en) | Power coupling coefficient measuring method and power coupling coefficient measuring device | |
WO2021245826A1 (ja) | 光ファイバ試験方法および光ファイバ試験装置 | |
JP6353429B2 (ja) | 光線路損失解析方法及び光線路損失解析装置 | |
JP2017191046A (ja) | 光パルス試験装置および光パルス試験方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210317 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220426 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220509 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7081471 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |