JP6748027B2 - 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 - Google Patents
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Description
前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長かつ偏波状態を任意に変化させた試験光パルスを繰り返し生成する生成部と、
前記生成部が生成した前記試験光パルスを任意のモードで前記被試験光ファイバに入射し、かつ前記被試験光ファイバからの前記戻り光を基本モードおよび直交する2つの第一高次モードの3成分に分離するモード合分波部と、
前記モード合分波部が分離した前記戻り光の3成分それぞれを光電変換する受光部と、
前記戻り光の3成分それぞれの、前記被試験光ファイバの距離に対する強度分布を繰り返し取得し、前記戻り光の3成分それぞれで前記強度分布を加算平均する処理を行う演算処理部と、
を備える。
前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長かつ偏波状態を任意に変化させた試験光パルスを繰り返し生成する生成手順と、
前記生成手順で生成した前記試験光パルスを任意のモードで前記被試験光ファイバに入射する入射手順と、
前記被試験光ファイバからの前記戻り光を基本モードおよび直交する2つの第一高次モードの3成分に分離するモード分波手順と、
前記モード分波手順で分離した前記戻り光の3成分それぞれを光電変換する受光手順と、
前記戻り光の3成分それぞれの、前記被試験光ファイバの距離に対する強度分布を繰り返し取得し、前記戻り光の3成分それぞれで前記強度分布を加算平均する処理を行う演算処理手順と、
を行う。
被試験光ファイバ10を基本モード(LP01)と第一高次モード(LP11)で伝搬可能な波長かつ偏波状態を任意に変化させた試験光パルスを繰り返し生成する生成部Aと、
生成部Aが生成した試験光パルスを任意のモードで被試験光ファイバ10に入射し、かつ被試験光ファイバ10からの戻り光を基本モードおよび直交する2つの第一高次モード(LP11aとLP11b)の3成分に分離するモード合分波部Bと、
モード合分波部Bが分離した戻り光の3成分それぞれを光電変換する受光部Cと、
戻り光の3成分それぞれの、被試験光ファイバ10の距離に対する強度分布を繰り返し取得し、戻り光の3成分それぞれで強度分布を加算平均する処理を行う演算処理部Dと、
を備える。
モード合分波部Bは、生成手順で生成した試験光パルスを任意のモードで被試験光ファイバ10に入射する入射手順と、被試験光ファイバ10からの戻り光を基本モードおよび直交する2つの第一高次モードの3成分に分離するモード分波手順を行う。
受光部Cは、モード分波手順で分離した戻り光の3成分それぞれを光電変換する受光手順を行う。
演算処理部Dは、戻り光の3成分それぞれの、被試験光ファイバ10の距離に対する強度分布を繰り返し取得し、戻り光の3成分それぞれで強度分布を加算平均する処理を行う演算処理手順を行う。
ここで、演算処理部Dはコンピュータとプログラムによっても実現でき、プログラムを記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。
要するにこの発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
B:モード合分波部
C:受光部
D:演算処理部
10:被試験光ファイバ
11:光源
12:偏波スクランブラ
13:パルス発生器
14:光強度変調器
15:光スイッチ
16、18、19:光サーキュレータ
17:分岐比可変カプラ
20:モード合分波器
21、22、23:光受信器
24:A/D(アナログ/デジタル)変換器
25:演算処理回路
101:光パルス試験装置
Claims (4)
- 試験光パルスを被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスによる前記被試験光ファイバからの戻り光から前記被試験光ファイバの距離方向の分布データを取得する光パルス試験装置であって、
前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長かつ偏波状態を任意に変化させた試験光パルスを繰り返し生成する生成部と、
前記生成部が生成した前記試験光パルスを任意のモードで前記被試験光ファイバに入射し、かつ前記被試験光ファイバからの前記戻り光を基本モードおよび直交する2つの第一高次モードの3成分に分離するモード合分波部と、
前記モード合分波部が分離した前記戻り光の3成分それぞれを光電変換する受光部と、
前記戻り光の3成分それぞれの、前記被試験光ファイバの距離に対する強度分布を繰り返し取得し、前記戻り光の3成分それぞれで前記強度分布を加算平均する処理を行う演算処理部と、
を備える光パルス試験装置。 - 前記モード合分波部は、前記演算処理部が繰り返して前記強度分布を取得する間に、前記試験光パルスの直交する2つの第一高次モードの入射強度比率を変化させる分岐比可変カプラを有することを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験装置。
- 試験光パルスを被試験光ファイバに入射し、前記試験光パルスによる前記被試験光ファイバからの戻り光から前記被試験光ファイバの距離方向の分布データを取得する光パルス試験方法であって、
前記被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長かつ偏波状態を任意に変化させた試験光パルスを繰り返し生成する生成手順と、
前記生成手順で生成した前記試験光パルスを任意のモードで前記被試験光ファイバに入射する入射手順と、
前記被試験光ファイバからの前記戻り光を基本モードおよび直交する2つの第一高次モードの3成分に分離するモード分波手順と、
前記モード分波手順で分離した前記戻り光の3成分それぞれを光電変換する受光手順と、
前記戻り光の3成分それぞれの、前記被試験光ファイバの距離に対する強度分布を繰り返し取得し、前記戻り光の3成分それぞれで前記強度分布を加算平均する処理を行う演算処理手順と、
を行う光パルス試験方法。 - 前記入射手順では、前記試験光パルスを第一高次モードで入射する場合、前記演算処理手順で繰り返して前記強度分布を取得する間に、前記試験光パルスの直交する2つの第一高次モードの入射強度比率を変化させることを特徴とする請求項3に記載の光パルス試験方法。
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