JPH07294380A - 光部品の光損失測定方法 - Google Patents
光部品の光損失測定方法Info
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- JPH07294380A JPH07294380A JP11036494A JP11036494A JPH07294380A JP H07294380 A JPH07294380 A JP H07294380A JP 11036494 A JP11036494 A JP 11036494A JP 11036494 A JP11036494 A JP 11036494A JP H07294380 A JPH07294380 A JP H07294380A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 短時間で正確に光部品の光通過損失を測定で
きる光部品の光損失測定方法を提供する。 【構成】 光源11からの入射光を光ファイバ配列具９に
内蔵したシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂから光導
波路チップ８のコア４ａ，４ｂに入射させる。このと
き、微動ステージ10によりシングルモード光ファイバ６
を光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面でＸ方向とＹ方向の一方向
又は両方向の異なる位置に微動させ、異なる５点位置で
の受光強度を光パワーメータ13で測定し、この受光強度
を２次関数で近似し、２次関数方程式を解いてシングル
モード光ファイバ６ａ，６ｂとコア４ａ，４ｂとの光軸
中心の軸ずれが零となるように光軸調整を行った後のそ
れぞれの受光強度を求め、この受光強度と前記入射光の
強度との差に基づいてコア４ａ，４ｂの光通過損失を求
める。
きる光部品の光損失測定方法を提供する。 【構成】 光源11からの入射光を光ファイバ配列具９に
内蔵したシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂから光導
波路チップ８のコア４ａ，４ｂに入射させる。このと
き、微動ステージ10によりシングルモード光ファイバ６
を光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面でＸ方向とＹ方向の一方向
又は両方向の異なる位置に微動させ、異なる５点位置で
の受光強度を光パワーメータ13で測定し、この受光強度
を２次関数で近似し、２次関数方程式を解いてシングル
モード光ファイバ６ａ，６ｂとコア４ａ，４ｂとの光軸
中心の軸ずれが零となるように光軸調整を行った後のそ
れぞれの受光強度を求め、この受光強度と前記入射光の
強度との差に基づいてコア４ａ，４ｂの光通過損失を求
める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信等に用いられる
光部品の光損失測定方法に関するものである。
光部品の光損失測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信を行う際等に、光ファイバや光導
波路チップ等の光部品の光損失を測定することが行われ
ており、図３には、光導波路チップ８の光損失（光導波
路チップ８のコア４の光損失）を測定する装置の一例が
示されている。同図において、発光ダイオード（ＬＥ
Ｄ）等の光源11に入射光導入用光部品として機能するシ
ングルモード光ファイバ６が接続されており、シングル
モード光ファイバ６の出射側の端面20側には、光損失測
定対象となる測定対象光部品として機能する光導波路チ
ップ８のコア４の入射側端面21が間隔Ｌを介して対向配
置されており、コア４の出射側端面22にはコア径の大き
なマルチモード光ファイバ14がコア４と光軸がほぼ合っ
た状態で接続されており、マルチモード光ファイバ14に
は光パワーメータ13が接続されている。光導波路チップ
８は固定されており、微動ステージ10を微動することに
より、シングルモード光ファイバ６の光軸と光導波路チ
ップ８のコア４の光軸とが位置合わせされるようになっ
ている。
波路チップ等の光部品の光損失を測定することが行われ
ており、図３には、光導波路チップ８の光損失（光導波
路チップ８のコア４の光損失）を測定する装置の一例が
示されている。同図において、発光ダイオード（ＬＥ
Ｄ）等の光源11に入射光導入用光部品として機能するシ
ングルモード光ファイバ６が接続されており、シングル
モード光ファイバ６の出射側の端面20側には、光損失測
定対象となる測定対象光部品として機能する光導波路チ
ップ８のコア４の入射側端面21が間隔Ｌを介して対向配
置されており、コア４の出射側端面22にはコア径の大き
なマルチモード光ファイバ14がコア４と光軸がほぼ合っ
た状態で接続されており、マルチモード光ファイバ14に
は光パワーメータ13が接続されている。光導波路チップ
８は固定されており、微動ステージ10を微動することに
より、シングルモード光ファイバ６の光軸と光導波路チ
ップ８のコア４の光軸とが位置合わせされるようになっ
ている。
【０００３】このような装置において、光導波路チップ
８のコア４の光損失を測定するときには、光源11からシ
ングルモード光ファイバ６に導入した入射光を光導波路
チップ８のコア４に入射させ、このとき、シングルモー
ド光ファイバ６とコア４との光軸が合うように微動ステ
ージ10を微動させながら、コア４の出射側の端面22から
出射される光の受光強度をマルチモード光ファイバ14を
介して光パワーメータ13により測定し、受光強度が最大
となる位置をシングルモード光ファイバ６と光導波路チ
ップ８のコア４との光軸が合った調心位置と判断する。
そして、この位置での受光強度と前記入射光の強度との
差に基づいて、入射光強度の値から受光強度の値を差し
引いて光導波路チップ８のコア４の光通過損失を求める
ようになっている。
８のコア４の光損失を測定するときには、光源11からシ
ングルモード光ファイバ６に導入した入射光を光導波路
チップ８のコア４に入射させ、このとき、シングルモー
ド光ファイバ６とコア４との光軸が合うように微動ステ
ージ10を微動させながら、コア４の出射側の端面22から
出射される光の受光強度をマルチモード光ファイバ14を
介して光パワーメータ13により測定し、受光強度が最大
となる位置をシングルモード光ファイバ６と光導波路チ
ップ８のコア４との光軸が合った調心位置と判断する。
そして、この位置での受光強度と前記入射光の強度との
差に基づいて、入射光強度の値から受光強度の値を差し
引いて光導波路チップ８のコア４の光通過損失を求める
ようになっている。
【０００４】なお、この測定に際し、マルチモード光フ
ァイバ14のコア径が大きく、コア４の端面22とマルチモ
ード光ファイバ14との光結合損失はほぼ無視することが
可能であり、マルチモード光ファイバ14の光通過損失も
無視できると仮定して、光パワーメータ13により測定さ
れる受光強度の値をそのままコア４の端面22から出射さ
れる光の受光強度としており、また、シングルモード光
ファイバ６とコア４とが調心位置にあるときにシングル
モード光ファイバ６とコア４との光結合損失が無視でき
ることから、前記調心位置での受光強度（最大受光強
度）の値を前記入射光の強度の値から差し引いてコア４
の光通過損失を測定していた。
ァイバ14のコア径が大きく、コア４の端面22とマルチモ
ード光ファイバ14との光結合損失はほぼ無視することが
可能であり、マルチモード光ファイバ14の光通過損失も
無視できると仮定して、光パワーメータ13により測定さ
れる受光強度の値をそのままコア４の端面22から出射さ
れる光の受光強度としており、また、シングルモード光
ファイバ６とコア４とが調心位置にあるときにシングル
モード光ファイバ６とコア４との光結合損失が無視でき
ることから、前記調心位置での受光強度（最大受光強
度）の値を前記入射光の強度の値から差し引いてコア４
の光通過損失を測定していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法で光導波路チップ８のコア４の光通過損失の測定を
行うためには、シングルモード光ファイバ６とコア４と
の光軸のずれを例えば0.1 μｍ単位で調整して、シング
ルモード光ファイバ６とコア４との光軸のずれがほぼ零
となるように調心する必要があり、そのためには、微動
ステージ10によりシングルモード光ファイバ６を0.1 μ
ｍ単位で微動することを何度も繰り返してシングルモー
ド光ファイバ６とコア４との調心を行わなければなら
ず、非常に時間がかかるといった問題があった。特に複
数のコア４を形成した光導波路チップ８や多心の光ファ
イバを配設した光ファイバアレイ等の光部品の光損失
（光通過損失）を測定する場合には、シングルモード光
ファイバ６等の入射光導入用光部品と光導波路チップ８
のそれぞれのコア４とを調心するといったように、光損
失測定対象となる測定対象光部品の複数のコアや複数の
光ファイバについて、それぞれ調心を行わなければなら
ないために、非常に時間がかかり問題であった。
方法で光導波路チップ８のコア４の光通過損失の測定を
行うためには、シングルモード光ファイバ６とコア４と
の光軸のずれを例えば0.1 μｍ単位で調整して、シング
ルモード光ファイバ６とコア４との光軸のずれがほぼ零
となるように調心する必要があり、そのためには、微動
ステージ10によりシングルモード光ファイバ６を0.1 μ
ｍ単位で微動することを何度も繰り返してシングルモー
ド光ファイバ６とコア４との調心を行わなければなら
ず、非常に時間がかかるといった問題があった。特に複
数のコア４を形成した光導波路チップ８や多心の光ファ
イバを配設した光ファイバアレイ等の光部品の光損失
（光通過損失）を測定する場合には、シングルモード光
ファイバ６等の入射光導入用光部品と光導波路チップ８
のそれぞれのコア４とを調心するといったように、光損
失測定対象となる測定対象光部品の複数のコアや複数の
光ファイバについて、それぞれ調心を行わなければなら
ないために、非常に時間がかかり問題であった。
【０００６】本発明は上記従来の課題を解決するために
なされたものであり、その目的は、短時間で光部品の光
通過損失を測定することができる光部品の光損失測定方
法を提供することにある。
なされたものであり、その目的は、短時間で光部品の光
通過損失を測定することができる光部品の光損失測定方
法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は次のように構成されている。すなわち、本
発明は、入射光導入用光部品と光損失測定対象となる測
定対象光部品とを対向配置し、入射光導入用光部品から
測定対象光部品に入射光を入射させ、該測定対象光部品
の出射側から出射される光の受光強度を測定して該受光
強度と前記入射光の強度との差に基づいて測定対象光部
品の光通過損失を求める光部品の光損失測定方法であっ
て、入射光導入用光部品と測定対象光部品の光軸中心の
軸ずれによる光結合強度の分布を受光強度Ｈ（ｄＢ）の
分布で表し、光軸に垂直なＸ−Ｙ平面のＸ方向の軸ずれ
量ξと、Ｙ方向の軸ずれ量ηによって受光強度をＨ＝ａ
ξ2 ＋ｂη2 ＋ｃの２次関数で近似し、入射光導入用光
部品と測定対象光部品とを対向配置した位置からＸ方向
とＹ方向の一方向又は両方向の異なる位置に入射光導入
用光部品と測定対象光部品の一方又は両方を微動したと
きの５点の受光強度をそれぞれＨ0 ，Ｈ1 ，Ｈ2 ，
Ｈ3 ，Ｈ4 としてＨ0 からＨ4 の５元の連立２次方程式
を作り、この連立２次方程式を解いて前記２次関数のξ
とηの値が零となるときのｃの値を求め、このｃの値を
入射光導入用光部品と測定対象光部品との光軸中心の軸
ずれが零となるように光軸調整を行ったときの光軸調整
後の受光強度としてこの受光強度と前記入射光の強度と
の差に基づいて測定対象光部品の光通過損失を求めるこ
とを特徴として構成されている。
に、本発明は次のように構成されている。すなわち、本
発明は、入射光導入用光部品と光損失測定対象となる測
定対象光部品とを対向配置し、入射光導入用光部品から
測定対象光部品に入射光を入射させ、該測定対象光部品
の出射側から出射される光の受光強度を測定して該受光
強度と前記入射光の強度との差に基づいて測定対象光部
品の光通過損失を求める光部品の光損失測定方法であっ
て、入射光導入用光部品と測定対象光部品の光軸中心の
軸ずれによる光結合強度の分布を受光強度Ｈ（ｄＢ）の
分布で表し、光軸に垂直なＸ−Ｙ平面のＸ方向の軸ずれ
量ξと、Ｙ方向の軸ずれ量ηによって受光強度をＨ＝ａ
ξ2 ＋ｂη2 ＋ｃの２次関数で近似し、入射光導入用光
部品と測定対象光部品とを対向配置した位置からＸ方向
とＹ方向の一方向又は両方向の異なる位置に入射光導入
用光部品と測定対象光部品の一方又は両方を微動したと
きの５点の受光強度をそれぞれＨ0 ，Ｈ1 ，Ｈ2 ，
Ｈ3 ，Ｈ4 としてＨ0 からＨ4 の５元の連立２次方程式
を作り、この連立２次方程式を解いて前記２次関数のξ
とηの値が零となるときのｃの値を求め、このｃの値を
入射光導入用光部品と測定対象光部品との光軸中心の軸
ずれが零となるように光軸調整を行ったときの光軸調整
後の受光強度としてこの受光強度と前記入射光の強度と
の差に基づいて測定対象光部品の光通過損失を求めるこ
とを特徴として構成されている。
【０００８】
【作用】上記構成の本発明において、受光強度がＸ方向
の軸ずれ量ξとＹ方向の軸ずれ量ηによってＨ＝ａξ2
＋ｂη2 ＋ｃの２次関数で近似され、入射光導入用光部
品と測定対象光部品とを対向配置した位置からＸ方向と
Ｙ方向の一方向又は両方向の異なる位置に入射光導入用
光部品と測定対象光部品の一方又は両方が微動され、異
なる位置での５点の受光強度がＨ0 〜Ｈ4 の５元の連立
２次方程式で表され、この連立２次方程式を解くことに
より入射光導入用光部品と測定対象光部品との光軸中心
の軸ずれが零となるように光軸調整を行ったときの光軸
調整後の受光強度が求められ、この受光強度と入射光の
強度との差に基づいて測定対象光部品の光通過損失が求
められる。
の軸ずれ量ξとＹ方向の軸ずれ量ηによってＨ＝ａξ2
＋ｂη2 ＋ｃの２次関数で近似され、入射光導入用光部
品と測定対象光部品とを対向配置した位置からＸ方向と
Ｙ方向の一方向又は両方向の異なる位置に入射光導入用
光部品と測定対象光部品の一方又は両方が微動され、異
なる位置での５点の受光強度がＨ0 〜Ｈ4 の５元の連立
２次方程式で表され、この連立２次方程式を解くことに
より入射光導入用光部品と測定対象光部品との光軸中心
の軸ずれが零となるように光軸調整を行ったときの光軸
調整後の受光強度が求められ、この受光強度と入射光の
強度との差に基づいて測定対象光部品の光通過損失が求
められる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。なお、本実施例の説明において、従来例と同一名
称部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略する。
図１には本発明に係る光部品の光損失測定方法により、
光損失測定を行う装置の一例が示されている。
する。なお、本実施例の説明において、従来例と同一名
称部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略する。
図１には本発明に係る光部品の光損失測定方法により、
光損失測定を行う装置の一例が示されている。
【００１０】同図において、発光ダイオード（ＬＥＤ）
等の光源11の光源光出射側端面23側には、光ファイバ配
列具９の入射側端面25が接続されており、光ファイバ配
列具９は微動ステージ10を備え、この微動ステージ10の
働きにより光ファイバ配列具９の光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ
平面上でＸ方向とＹ方向に微動できるように構成されて
いる。光ファイバ配列具９の出射側端面20側には光部品
の光導波路チップ８が間隔Ｌを介して対向配置されてお
り、光導波路チップ８の出射側端面22にはコア径50μｍ
のマルチモード光ファイバ14が接続されており、マルチ
モード光ファイバ14の出射側端面24側には光パワーメー
タ13が接続されている。
等の光源11の光源光出射側端面23側には、光ファイバ配
列具９の入射側端面25が接続されており、光ファイバ配
列具９は微動ステージ10を備え、この微動ステージ10の
働きにより光ファイバ配列具９の光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ
平面上でＸ方向とＹ方向に微動できるように構成されて
いる。光ファイバ配列具９の出射側端面20側には光部品
の光導波路チップ８が間隔Ｌを介して対向配置されてお
り、光導波路チップ８の出射側端面22にはコア径50μｍ
のマルチモード光ファイバ14が接続されており、マルチ
モード光ファイバ14の出射側端面24側には光パワーメー
タ13が接続されている。
【００１１】光ファイバ配列具９はシングルモード光フ
ァイバ６を誤差範囲0.5 μｍ以下となるように正確に25
0 μｍピッチで８本並べて内蔵したものであり、両端側
の２本のシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂの入射側
端面25から光源11の光が入射するように構成されてい
る。光導波路チップ８はシリコンの基板上に石英ガラス
を積層し、石英ガラス上にチタンをドープした幅８μｍ
の矩形状のコア４を８本積層形成し、コア４の周りをク
ラッドで覆った平行導波路であり、コア４とクラッドの
屈折率差は0.3 ％である。なお、本実施例では、前記光
ファイバ配列具９の両端側のシングルモード光ファイバ
６ａ，６ｂが入射光導入用光部品として機能するもので
あり、導波路チップ８の両端側のコア４ａ，４ｂが光損
失測定対象となる測定対象光部品であり、上記シングル
モード光ファイバ６ａ，６ｂから上記コア４ａ，４ｂに
入射光（光源11からの光）が入射されるようになってい
る。
ァイバ６を誤差範囲0.5 μｍ以下となるように正確に25
0 μｍピッチで８本並べて内蔵したものであり、両端側
の２本のシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂの入射側
端面25から光源11の光が入射するように構成されてい
る。光導波路チップ８はシリコンの基板上に石英ガラス
を積層し、石英ガラス上にチタンをドープした幅８μｍ
の矩形状のコア４を８本積層形成し、コア４の周りをク
ラッドで覆った平行導波路であり、コア４とクラッドの
屈折率差は0.3 ％である。なお、本実施例では、前記光
ファイバ配列具９の両端側のシングルモード光ファイバ
６ａ，６ｂが入射光導入用光部品として機能するもので
あり、導波路チップ８の両端側のコア４ａ，４ｂが光損
失測定対象となる測定対象光部品であり、上記シングル
モード光ファイバ６ａ，６ｂから上記コア４ａ，４ｂに
入射光（光源11からの光）が入射されるようになってい
る。
【００１２】また、上記光ファイバ配列具９と導波路チ
ップ８との間隔Ｌは５μｍ以内とし、シングルモード光
ファイバ６とコア４との間隔Ｌによる光結合損失は0.01
ｄＢ以下としてほぼ無視できるようになっており、さら
に、光ファイバ配列具９と導波路チップ８との光軸の角
度ずれは0.1 ｄｅｇ以内となるように光ファイバ配列具
９と導波路チップ８とが配置され、シングルモード光フ
ァイバ６とコア４との光軸の角度ずれによる光結合損失
もほぼ無視できるようになっている。したがって、本実
施例におけるシングルモード光ファイバ６とコア４との
光結合損失は殆どシングルモード光ファイバ６とコア４
との光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面上でのＸ方向よびＹ方向
の位置ずれにより決定される。
ップ８との間隔Ｌは５μｍ以内とし、シングルモード光
ファイバ６とコア４との間隔Ｌによる光結合損失は0.01
ｄＢ以下としてほぼ無視できるようになっており、さら
に、光ファイバ配列具９と導波路チップ８との光軸の角
度ずれは0.1 ｄｅｇ以内となるように光ファイバ配列具
９と導波路チップ８とが配置され、シングルモード光フ
ァイバ６とコア４との光軸の角度ずれによる光結合損失
もほぼ無視できるようになっている。したがって、本実
施例におけるシングルモード光ファイバ６とコア４との
光結合損失は殆どシングルモード光ファイバ６とコア４
との光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面上でのＸ方向よびＹ方向
の位置ずれにより決定される。
【００１３】光パワーメータ13にはパーソナルコンピュ
ータ12が接続され、パーソナルコンピュータ12は前記微
動ステージ10に接続されている。パーソナルコンピュー
タ12は光パワーメータ13により検出される受光強度と、
光ファイバ配列具９に内蔵されたシングルモードファイ
バ６の光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面上でのＸ方向、Ｙ方向
の位置を同時に記録し、演算回路で解析するとともに、
微動ステージ10の微動を制御し、光ファイバ配列具９を
Ｘ方向、Ｙ方向に所望に移動させる機能を備えている。
ータ12が接続され、パーソナルコンピュータ12は前記微
動ステージ10に接続されている。パーソナルコンピュー
タ12は光パワーメータ13により検出される受光強度と、
光ファイバ配列具９に内蔵されたシングルモードファイ
バ６の光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面上でのＸ方向、Ｙ方向
の位置を同時に記録し、演算回路で解析するとともに、
微動ステージ10の微動を制御し、光ファイバ配列具９を
Ｘ方向、Ｙ方向に所望に移動させる機能を備えている。
【００１４】以上のように、光損失測定装置は構成され
ており、次に、光ファイバ配列具９に内蔵された両端側
２本のシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂから光導波
路チップ８のコア４ａ，４ｂに入射光を同時に入射させ
てコア４ａ，４ｂの光損失（光通過損失）を求める動作
について説明する。まず、光源11の出射側端面23側から
出射されて光ファイバ配列具９の両端側のシングルモー
ド光ファイバ６ａ，６ｂを通り、シングルモードファイ
バ６ａ，６ｂの出射側端面20から出射する各光強度を、
予め光パワーメータ13により測定し、それらの測定値を
入射光強度としてパーソナルコンピュータ12に記憶させ
る。
ており、次に、光ファイバ配列具９に内蔵された両端側
２本のシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂから光導波
路チップ８のコア４ａ，４ｂに入射光を同時に入射させ
てコア４ａ，４ｂの光損失（光通過損失）を求める動作
について説明する。まず、光源11の出射側端面23側から
出射されて光ファイバ配列具９の両端側のシングルモー
ド光ファイバ６ａ，６ｂを通り、シングルモードファイ
バ６ａ，６ｂの出射側端面20から出射する各光強度を、
予め光パワーメータ13により測定し、それらの測定値を
入射光強度としてパーソナルコンピュータ12に記憶させ
る。
【００１５】次に、シングルモード光ファイバ６ａ，６
ｂから出射した光を光導波路チップ８のコア４ａ，４ｂ
入射側端面21から入射し、光導波路チップ８のコア４
ａ，４ｂを通して、マルチモード光ファイバ14を通し、
マルチモード光ファイバ14の出射側端面24から出射させ
る。そして、マルチモード光ファイバ14の出射側端面24
から出射した光を、光パワーメータ13で受光強度Ｈ（単
位はｄＢ）により検出し、検出した受光強度Ｈをパーソ
ナルコンピュータ12に入力する。このとき、パーソナル
コンピュータ12は光ファイバ配列具９に内蔵されたシン
グルモード光ファイバ６の光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面上
でのＸ方向とＹ方向の位置も同時に検出し、記録する。
ｂから出射した光を光導波路チップ８のコア４ａ，４ｂ
入射側端面21から入射し、光導波路チップ８のコア４
ａ，４ｂを通して、マルチモード光ファイバ14を通し、
マルチモード光ファイバ14の出射側端面24から出射させ
る。そして、マルチモード光ファイバ14の出射側端面24
から出射した光を、光パワーメータ13で受光強度Ｈ（単
位はｄＢ）により検出し、検出した受光強度Ｈをパーソ
ナルコンピュータ12に入力する。このとき、パーソナル
コンピュータ12は光ファイバ配列具９に内蔵されたシン
グルモード光ファイバ６の光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平面上
でのＸ方向とＹ方向の位置も同時に検出し、記録する。
【００１６】ところで、受光強度Ｈは、図２に示すよう
に、例えばシングルモード光ファイバ６とコア４のよう
な光部品同士の光軸Ｚが調心位置にあるときに最大とな
り、光部品同士の光軸Ｚが調心位置からずれると小さく
なることが既に知られており、この受光強度Ｈの分布は
２次関数曲線と近い曲線分布となる。そこで、本実施例
では、受光強度Ｈの分布を光軸に垂直なＸ−Ｙ平面のＸ
方向の軸ずれ量ξと、Ｙ方向の軸ずれ量ηによって次式
（１）に示すξとηの２次関数で近似し、この２次方程
式をパーソナルコンピュータ12に内蔵された演算回路で
解くことにより、下記のようにして受光強度が最大とな
る光軸調心位置における受光強度を算出し、その受光強
度の値に基づいてコア４の光損失を求めることにした
（ａ，ｂ，ｃは定数）。
に、例えばシングルモード光ファイバ６とコア４のよう
な光部品同士の光軸Ｚが調心位置にあるときに最大とな
り、光部品同士の光軸Ｚが調心位置からずれると小さく
なることが既に知られており、この受光強度Ｈの分布は
２次関数曲線と近い曲線分布となる。そこで、本実施例
では、受光強度Ｈの分布を光軸に垂直なＸ−Ｙ平面のＸ
方向の軸ずれ量ξと、Ｙ方向の軸ずれ量ηによって次式
（１）に示すξとηの２次関数で近似し、この２次方程
式をパーソナルコンピュータ12に内蔵された演算回路で
解くことにより、下記のようにして受光強度が最大とな
る光軸調心位置における受光強度を算出し、その受光強
度の値に基づいてコア４の光損失を求めることにした
（ａ，ｂ，ｃは定数）。
【００１７】Ｈ＝ａξ2 ＋ｂη2 ＋ｃ・・・・・（１）
【００１８】まず、光ファイバ配列具９と光導波路チッ
プ８とを対向配置してシングルモード光ファイバ６ａ，
６ｂとコア４ａ，４ｂとをそれぞれ対向させた位置にお
いて、それぞれの受光強度Ｈ0 を測定し、また、このと
きの光軸調心位置からのシングルモード光ファイバ６
ａ，６ｂとコア４ａ，４ｂとの光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平
面のＸ方向の軸ずれ量をξ、Ｙ方向の軸ずれ量をηと仮
定して、この位置での受光強度Ｈ0 を上記式（１）に示
した２次関数の方程式により、次式（２）のように表
し、ξとηの２次関数で近似する（ａ，ｂ，ｃは定
数）。
プ８とを対向配置してシングルモード光ファイバ６ａ，
６ｂとコア４ａ，４ｂとをそれぞれ対向させた位置にお
いて、それぞれの受光強度Ｈ0 を測定し、また、このと
きの光軸調心位置からのシングルモード光ファイバ６
ａ，６ｂとコア４ａ，４ｂとの光軸Ｚに垂直なＸ−Ｙ平
面のＸ方向の軸ずれ量をξ、Ｙ方向の軸ずれ量をηと仮
定して、この位置での受光強度Ｈ0 を上記式（１）に示
した２次関数の方程式により、次式（２）のように表
し、ξとηの２次関数で近似する（ａ，ｂ，ｃは定
数）。
【００１９】 Ｈ0 ＝ａξ2 ＋ｂη2 ＋ｃ・・・・・（２）
【００２０】次に、この受光強度Ｈ0 を測定した位置を
基準位置とし、パーソナルコンピュータ12の制御によ
り、微動ステージ10を微動させ、シングルモードファイ
バ６をＸ−Ｙ平面上でＸ方向とＹ方向の一方向又は両方
向の異なる位置に微動して、このときの受光強度を光パ
ワーメータ13で検出し、受光強度Ｈn をＸ方向の微動量
Δξn 、Ｙ方向の微動量Δηn により次式（３）で表
し、近似する。なお、ｎは整数であり、Δξn ，Δηn
の値は零を含む実数である。
基準位置とし、パーソナルコンピュータ12の制御によ
り、微動ステージ10を微動させ、シングルモードファイ
バ６をＸ−Ｙ平面上でＸ方向とＹ方向の一方向又は両方
向の異なる位置に微動して、このときの受光強度を光パ
ワーメータ13で検出し、受光強度Ｈn をＸ方向の微動量
Δξn 、Ｙ方向の微動量Δηn により次式（３）で表
し、近似する。なお、ｎは整数であり、Δξn ，Δηn
の値は零を含む実数である。
【００２１】 Ｈn ＝ａ（ξ−△ξn ）2 ＋ｂ（η−Δηn ）2 ＋ｃ・・・・・（３）
【００２２】したがって、例えば、前記基準位置からＸ
方向、Ｙ方向の一方向又は両方向の異なる４点位置に微
動したときの受光強度は次式（４）〜（７）により近似
される。
方向、Ｙ方向の一方向又は両方向の異なる４点位置に微
動したときの受光強度は次式（４）〜（７）により近似
される。
【００２３】 Ｈ1 ＝ａ（ξ−Δξ1 ）2 ＋ｂ（η−Δη1 ）2 ＋ｃ・・・・・（４）
【００２４】 Ｈ2 ＝ａ（ξ−Δξ2 ）2 ＋ｂ（η−Δη2 ）2 ＋ｃ・・・・・（５）
【００２５】 Ｈ3 ＝ａ（ξ−Δξ3 ）2 ＋ｂ（η−Δη3 ）2 ＋ｃ・・・・・（６）
【００２６】 Ｈ4 ＝ａ（ξ−Δξ4 ）2 ＋ｂ（η−Δη4 ）2 ＋ｃ・・・・・（７）
【００２７】なお、本実施例では、Δξ1 ＝＋２μｍ，
Δη1 ＝０，Δξ2 ＝−２μｍ，Δη2 ＝０，Δξ3 ＝
０，Δη3 ＝＋２μｍ，Δξ4 ＝０，Δη4 ＝−２μｍ
としてシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂを微動し、
各微動位置での受光強度Ｈ1，Ｈ2 ，Ｈ3 ，Ｈ4 を測定
し、上記式（４）〜（７）により近似した。
Δη1 ＝０，Δξ2 ＝−２μｍ，Δη2 ＝０，Δξ3 ＝
０，Δη3 ＝＋２μｍ，Δξ4 ＝０，Δη4 ＝−２μｍ
としてシングルモード光ファイバ６ａ，６ｂを微動し、
各微動位置での受光強度Ｈ1，Ｈ2 ，Ｈ3 ，Ｈ4 を測定
し、上記式（４）〜（７）により近似した。
【００２８】次に、コア４ａ側とコア４ｂ側とで測定し
た受光強度の値と受光強度の式（２）および式（４）〜
式（７）の５元連立２次方程式を解くことにより、ξお
よびηの値が零のときのｃ値をそれぞれ求め、このそれ
ぞれのｃの値をシングルモード光ファイバ６ａとコア４
ａ、シングルモード光ファイバ６ｂとコア４ｂを光軸中
心の軸ずれ（Ｘ方向Ｙ方向の位置ずれ）が零となるよう
に光軸調整を行ったときの光軸調整後の受光強度の値と
する。
た受光強度の値と受光強度の式（２）および式（４）〜
式（７）の５元連立２次方程式を解くことにより、ξお
よびηの値が零のときのｃ値をそれぞれ求め、このそれ
ぞれのｃの値をシングルモード光ファイバ６ａとコア４
ａ、シングルモード光ファイバ６ｂとコア４ｂを光軸中
心の軸ずれ（Ｘ方向Ｙ方向の位置ずれ）が零となるよう
に光軸調整を行ったときの光軸調整後の受光強度の値と
する。
【００２９】そして、これらの受光強度の値を、パーソ
ナルコンピュータ12に記憶されている前記入射光強度の
値からそれぞれ差し引くことにより、各コア４ａ，４ｂ
の光通過損失の値を算出した。
ナルコンピュータ12に記憶されている前記入射光強度の
値からそれぞれ差し引くことにより、各コア４ａ，４ｂ
の光通過損失の値を算出した。
【００３０】本実施例によれば、上記動作により、光フ
ァイバ配列具９を微動してシングルモード光ファイバ６
の位置を最初にコア４と対向配置した位置からＸ方向と
Ｙ方向のいずれか一方向の異なる位置に微動して、その
ときの５点の受光強度を測定するとともに、各受光強度
をＨ0 からＨ4 の５元の連立２次方程式で近似してこの
連立２次方程式を解いて２次関数のｃの値を求めるだけ
で、シングルモード光ファイバ６とコア４との調心を行
わなくとも調心位置での受光強度を求めることができ
る。そのため、例えば0.1 μｍ単位で微動させて調心を
行ってそのときの受光強度を測定する従来の方法のよう
に時間がかかることはなく、短時間で光軸調整後の受光
強度（調心位置での受光強度）を求めることが可能とな
り、この受光強度の値と入射光の強度との差に基づいて
短時間で正確に光導波路チップ８のコア４ａ，４ｂのそ
れぞれの光通過損失を同時に求めることができる。
ァイバ配列具９を微動してシングルモード光ファイバ６
の位置を最初にコア４と対向配置した位置からＸ方向と
Ｙ方向のいずれか一方向の異なる位置に微動して、その
ときの５点の受光強度を測定するとともに、各受光強度
をＨ0 からＨ4 の５元の連立２次方程式で近似してこの
連立２次方程式を解いて２次関数のｃの値を求めるだけ
で、シングルモード光ファイバ６とコア４との調心を行
わなくとも調心位置での受光強度を求めることができ
る。そのため、例えば0.1 μｍ単位で微動させて調心を
行ってそのときの受光強度を測定する従来の方法のよう
に時間がかかることはなく、短時間で光軸調整後の受光
強度（調心位置での受光強度）を求めることが可能とな
り、この受光強度の値と入射光の強度との差に基づいて
短時間で正確に光導波路チップ８のコア４ａ，４ｂのそ
れぞれの光通過損失を同時に求めることができる。
【００３１】また、本実施例によれば、上記のように、
シングルモード光ファイバ６ａ，６ｂと光導波路チップ
８のコア４ａ，４ｂの光軸を完全に一致させる必要はな
いために、光ファイバ配列具９のシングルモード光ファ
イバ６のピッチ間隔と光導波路チップ８のコア４のピッ
チ間隔とが数μｍずれていたとしても支障なく光導波路
チップ８の各コア４の光通過損失を測定することができ
る。
シングルモード光ファイバ６ａ，６ｂと光導波路チップ
８のコア４ａ，４ｂの光軸を完全に一致させる必要はな
いために、光ファイバ配列具９のシングルモード光ファ
イバ６のピッチ間隔と光導波路チップ８のコア４のピッ
チ間隔とが数μｍずれていたとしても支障なく光導波路
チップ８の各コア４の光通過損失を測定することができ
る。
【００３２】なお、本発明は上記実施例に限定されるこ
とはなく、様々な実施の態様を採り得る。例えば、上記
実施例では、光導波路チップ８の両端側のコア４ａ，４
ｂの光通過損失の測定のみを行ったが、光ファイバ配列
具９に配列されている全てのシングルモード光ファイバ
から光導波路チップ８の全てのコア４に入射光を入射
し、例えばマルチモードファイバアレイを用いて、マル
チモードファイバアレイに配列されているマルチモード
光ファイバ14を光導波路チップ８の全てのコア４の出射
側端面22に接続して各コア４の端面22側から出射される
受光強度を光パワーメータ13により検出するようにすれ
ば、光導波路チップ８の全てのコアの光通過損失を同時
に測定することができる。このように、同時に測定を行
う測定対象光部品の数等は適宜設定されるものである。
とはなく、様々な実施の態様を採り得る。例えば、上記
実施例では、光導波路チップ８の両端側のコア４ａ，４
ｂの光通過損失の測定のみを行ったが、光ファイバ配列
具９に配列されている全てのシングルモード光ファイバ
から光導波路チップ８の全てのコア４に入射光を入射
し、例えばマルチモードファイバアレイを用いて、マル
チモードファイバアレイに配列されているマルチモード
光ファイバ14を光導波路チップ８の全てのコア４の出射
側端面22に接続して各コア４の端面22側から出射される
受光強度を光パワーメータ13により検出するようにすれ
ば、光導波路チップ８の全てのコアの光通過損失を同時
に測定することができる。このように、同時に測定を行
う測定対象光部品の数等は適宜設定されるものである。
【００３３】また、上記実施例では、微動ステージ10に
より光ファイバ配列具９を微動させるときに、シングル
モード光ファイバ６とコア４とを対向配置した位置（基
準位置）からＸ方向とＹ方向のいずれか一方向の異なる
位置に微動したが、基準位置からＸ方向とＹ方向の両方
向の異なる位置に微動しても構わない。さらに、上記実
施例では、基準位置での受光強度をＨ0 とし、この基準
位置を含む異なる５点位置での受光強度Ｈ0 からＨ4 に
基づいて光軸調整後の受光強度を求めたが、基準位置で
の受光強度を含めずに、基準位置から異なる５点位置に
微動したときの受光強度をＨ0 からＨ4 としてそのＨ0
からＨ4 の値に基づいて光軸調整後の受光強度を求める
ようにしても構わない。また、上記のように、異なる５
点位置での受光強度に基づいて光軸調整後の受光強度を
求めることはできるが、異なる５点以上の位置での受光
強度を求めて５元以上の連立２次方程式を作り、その連
立２次方程式を解いて光軸調整後の受光強度を求めても
構わない。
より光ファイバ配列具９を微動させるときに、シングル
モード光ファイバ６とコア４とを対向配置した位置（基
準位置）からＸ方向とＹ方向のいずれか一方向の異なる
位置に微動したが、基準位置からＸ方向とＹ方向の両方
向の異なる位置に微動しても構わない。さらに、上記実
施例では、基準位置での受光強度をＨ0 とし、この基準
位置を含む異なる５点位置での受光強度Ｈ0 からＨ4 に
基づいて光軸調整後の受光強度を求めたが、基準位置で
の受光強度を含めずに、基準位置から異なる５点位置に
微動したときの受光強度をＨ0 からＨ4 としてそのＨ0
からＨ4 の値に基づいて光軸調整後の受光強度を求める
ようにしても構わない。また、上記のように、異なる５
点位置での受光強度に基づいて光軸調整後の受光強度を
求めることはできるが、異なる５点以上の位置での受光
強度を求めて５元以上の連立２次方程式を作り、その連
立２次方程式を解いて光軸調整後の受光強度を求めても
構わない。
【００３４】さらに、上記実施例では、光ファイバ配列
具９のシングルモード光ファイバ６を基準位置からＸ方
向又はＹ方向の一方向に±２μｍ微動したが、シングル
モード光ファイバ６の微動距離は１μｍでも構わない
し、３μｍでも構わないし、シングルモード光ファイバ
６の微動距離は適宜設定されるものである。
具９のシングルモード光ファイバ６を基準位置からＸ方
向又はＹ方向の一方向に±２μｍ微動したが、シングル
モード光ファイバ６の微動距離は１μｍでも構わない
し、３μｍでも構わないし、シングルモード光ファイバ
６の微動距離は適宜設定されるものである。
【００３５】さらに、上記実施例では、光導波路チップ
８は固定してコア４の位置は固定したまま、微動ステー
ジ10により光ファイバ配列具９を微動させてシングルモ
ード光ファイバ６を微動させるようにしたが、その逆
に、シングルモード光ファイバ６の位置を固定して光導
波路チップ８を微動ステージ10により微動させてコア４
の位置を微動してもよく、また、光ファイバ配列具９と
光導波路チップ８の両方を微動させてシングルモード光
ファイバ６とコア４の位置を共に微動するようにしても
構わない。
８は固定してコア４の位置は固定したまま、微動ステー
ジ10により光ファイバ配列具９を微動させてシングルモ
ード光ファイバ６を微動させるようにしたが、その逆
に、シングルモード光ファイバ６の位置を固定して光導
波路チップ８を微動ステージ10により微動させてコア４
の位置を微動してもよく、また、光ファイバ配列具９と
光導波路チップ８の両方を微動させてシングルモード光
ファイバ６とコア４の位置を共に微動するようにしても
構わない。
【００３６】さらに、上記実施例では、入射光の強度、
すなわち、シングルモード光ファイバ６ａ，６ｂの出射
側端面20から出射する各光強度を予め光パワーメータ13
により測定し、それらの測定値を入射光強度としてパー
ソナルコンピュータ12に記憶させておき、その入射光強
度と、シングルモード光ファイバ６ａ，６ｂとコア４
ａ，４ｂとの光軸調整後の受光強度との差に基づいてコ
ア４ａ，４ｂの光通過損失を求めるようにしたが、入射
光強度は必ずしも予め測定するとは限らず、シングルモ
ード光ファイバ６ａ，６ｂとコア４ａ，４ｂとの光軸調
整後の受光強度を測定した後に、入射光強度を測定し、
その入射光強度と前記光軸調整後の受光強度との差に基
づいてコア４ａ，４ｂの光通過損失を求めるようにして
も構わない。
すなわち、シングルモード光ファイバ６ａ，６ｂの出射
側端面20から出射する各光強度を予め光パワーメータ13
により測定し、それらの測定値を入射光強度としてパー
ソナルコンピュータ12に記憶させておき、その入射光強
度と、シングルモード光ファイバ６ａ，６ｂとコア４
ａ，４ｂとの光軸調整後の受光強度との差に基づいてコ
ア４ａ，４ｂの光通過損失を求めるようにしたが、入射
光強度は必ずしも予め測定するとは限らず、シングルモ
ード光ファイバ６ａ，６ｂとコア４ａ，４ｂとの光軸調
整後の受光強度を測定した後に、入射光強度を測定し、
その入射光強度と前記光軸調整後の受光強度との差に基
づいてコア４ａ，４ｂの光通過損失を求めるようにして
も構わない。
【００３７】さらに、上記実施例では、入射光導入用光
部品はシングルモード光ファイバ６とし、測定対象光部
品は光導波路チップ８のコア４としたが、入射光導入用
光部品はシングルモード光ファイバ６とは限らず、測定
対象光部品も光導波路チップ８のコア４とは限らず、入
射光導入用光部品や測定対象光部品は、光通信に用いら
れる他の光部品としても構わない。また、光導波路チッ
プ８のコア４等の測定対象光部品の出射側に、上記実施
例のようにマルチモード光ファイバ14を接続する代わり
に、シングルモード光ファイバを接続するようにしても
よく、光損失測定用の装置は、測定対象光部品の出射側
から出射される光の受光強度が測定できるように構成さ
れていれば構わない。
部品はシングルモード光ファイバ６とし、測定対象光部
品は光導波路チップ８のコア４としたが、入射光導入用
光部品はシングルモード光ファイバ６とは限らず、測定
対象光部品も光導波路チップ８のコア４とは限らず、入
射光導入用光部品や測定対象光部品は、光通信に用いら
れる他の光部品としても構わない。また、光導波路チッ
プ８のコア４等の測定対象光部品の出射側に、上記実施
例のようにマルチモード光ファイバ14を接続する代わり
に、シングルモード光ファイバを接続するようにしても
よく、光損失測定用の装置は、測定対象光部品の出射側
から出射される光の受光強度が測定できるように構成さ
れていれば構わない。
【００３８】
【発明の効果】本発明によれば、入射光導入用光部品と
測定対象光部品とを対向配置した位置から入射光導入用
光部品と測定対象光部品の一方又は両方を異なる位置に
微動したときの５点の受光強度を測定し、各受光強度を
連立２次方程式で近似してその連立２次方程式を解くこ
とにより、入射光導入用光部品と測定対象光部品との光
軸中心の軸ずれが零となるように光軸調整を行ったとき
の光軸調整後の受光強度を求めることができるために、
入射光導入用部品と測定対象光部品の一方又は両方を例
えば0.1 μｍ単位で微動して光軸調整を行い、このとき
の受光強度を求める従来の方法のように時間がかかるこ
とはなく、短時間で光軸調整後の受光強度を正確に求め
ることができる。そのため、求めた光軸調整後の受光強
度と測定対象光部品への入射光の強度との差に基づいて
測定対象光部品の光通過損失を短時間で正確に求めるこ
とができる。
測定対象光部品とを対向配置した位置から入射光導入用
光部品と測定対象光部品の一方又は両方を異なる位置に
微動したときの５点の受光強度を測定し、各受光強度を
連立２次方程式で近似してその連立２次方程式を解くこ
とにより、入射光導入用光部品と測定対象光部品との光
軸中心の軸ずれが零となるように光軸調整を行ったとき
の光軸調整後の受光強度を求めることができるために、
入射光導入用部品と測定対象光部品の一方又は両方を例
えば0.1 μｍ単位で微動して光軸調整を行い、このとき
の受光強度を求める従来の方法のように時間がかかるこ
とはなく、短時間で光軸調整後の受光強度を正確に求め
ることができる。そのため、求めた光軸調整後の受光強
度と測定対象光部品への入射光の強度との差に基づいて
測定対象光部品の光通過損失を短時間で正確に求めるこ
とができる。
【００３９】特に、従来は、多心の光導波路を形成した
光導波路チップの各光導波路の光通過損失を測定すると
きや、多心の光ファイバを配列した光ファイバアレイの
各光ファイバの光通過損失を測定するときに、各光導波
路や各光ファイバごとに光軸調整を行い、光軸調整後の
受光強度を求めることから非常に多くの時間を有したの
に比べ、本発明によれば、多心の光導波路や多心の光フ
ァイバの出射側から出射される受光強度を同時にそれぞ
れ測定し、それぞれの受光強度を連立２次方程式で近似
してそれらの連立２次方程式を解くことにより、同時に
各光導波路や各光ファイバの入射光導入用光部品との光
軸調整後の受光強度を求めることができるため、光部品
の移動の回数や１心当たりの受光強度の測定回数を増や
す必要もなく、求めた光軸調整後の受光強度の値に基づ
き、各光導波路や光ファイバの光通過損失を極めて短時
間で正確に求めることができる。
光導波路チップの各光導波路の光通過損失を測定すると
きや、多心の光ファイバを配列した光ファイバアレイの
各光ファイバの光通過損失を測定するときに、各光導波
路や各光ファイバごとに光軸調整を行い、光軸調整後の
受光強度を求めることから非常に多くの時間を有したの
に比べ、本発明によれば、多心の光導波路や多心の光フ
ァイバの出射側から出射される受光強度を同時にそれぞ
れ測定し、それぞれの受光強度を連立２次方程式で近似
してそれらの連立２次方程式を解くことにより、同時に
各光導波路や各光ファイバの入射光導入用光部品との光
軸調整後の受光強度を求めることができるため、光部品
の移動の回数や１心当たりの受光強度の測定回数を増や
す必要もなく、求めた光軸調整後の受光強度の値に基づ
き、各光導波路や光ファイバの光通過損失を極めて短時
間で正確に求めることができる。
【図１】本発明に係る光部品の光損失測定方法に基づ
き、光導波路チップ８のコア４の光損失を測定する装置
の一例を示す構成図である。
き、光導波路チップ８のコア４の光損失を測定する装置
の一例を示す構成図である。
【図２】光部品同士の光軸のずれ量による受光強度分布
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図３】従来の光部品の光損失測定方法により光損失測
定を行う装置の一例を示す説明図である。
定を行う装置の一例を示す説明図である。
４ コア ６ シングルモード光ファイバ ８ 光導波路チップ ９ 光ファイバ配列具 10 微動ステージ 12 パーソナルコンピュータ 13 光パワーメータ
Claims (1)
- 【請求項１】 入射光導入用光部品と光損失測定対象と
なる測定対象光部品とを対向配置し、入射光導入用光部
品から測定対象光部品に入射光を入射させ、該測定対象
光部品の出射側から出射される光の受光強度を測定して
該受光強度と前記入射光の強度との差に基づいて測定対
象光部品の光通過損失を求める光部品の光損失測定方法
であって、入射光導入用光部品と測定対象光部品の光軸
中心の軸ずれによる光結合強度の分布を受光強度Ｈ（ｄ
Ｂ）の分布で表し、光軸に垂直なＸ−Ｙ平面のＸ方向の
軸ずれ量ξと、Ｙ方向の軸ずれ量ηによって受光強度を
Ｈ＝ａξ2 ＋ｂη2 ＋ｃの２次関数で近似し、入射光導
入用光部品と測定対象光部品とを対向配置した位置から
Ｘ方向とＹ方向の一方向又は両方向の異なる位置に入射
光導入用光部品と測定対象光部品の一方又は両方を微動
したときの５点の受光強度をそれぞれＨ0 ，Ｈ1 ，
Ｈ2 ，Ｈ3 ，Ｈ4 としてＨ0 からＨ4 の５元の連立２次
方程式を作り、この連立２次方程式を解いて前記２次関
数のξとηの値が零となるときのｃの値を求め、このｃ
の値を入射光導入用光部品と測定対象光部品との光軸中
心の軸ずれが零となるように光軸調整を行ったときの光
軸調整後の受光強度としてこの受光強度と前記入射光の
強度との差に基づいて測定対象光部品の光通過損失を求
めることを特徴とする光部品の光損失測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11036494A JP3359150B2 (ja) | 1994-04-25 | 1994-04-25 | 光部品の光損失測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11036494A JP3359150B2 (ja) | 1994-04-25 | 1994-04-25 | 光部品の光損失測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07294380A true JPH07294380A (ja) | 1995-11-10 |
| JP3359150B2 JP3359150B2 (ja) | 2002-12-24 |
Family
ID=14533924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11036494A Expired - Lifetime JP3359150B2 (ja) | 1994-04-25 | 1994-04-25 | 光部品の光損失測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3359150B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0968410A1 (en) * | 1997-03-20 | 2000-01-05 | Hartford Hospital | Method and apparatus for evaluating the performance characteristics of endoscopes |
| KR100444268B1 (ko) * | 2002-06-05 | 2004-08-12 | 주식회사 한택 | 평면배열형 수광 소자를 이용한 광 측정 장치 및 방법 |
| JP2011242204A (ja) * | 2010-05-17 | 2011-12-01 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 調芯装置、コア位置特定方法、コアの損失測定方法、およびコア間のクロストーク測定方法 |
| CN104316294A (zh) * | 2014-10-22 | 2015-01-28 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于泄漏光检测的光纤熔接点损耗测试装置及方法 |
| WO2019061889A1 (zh) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法 |
-
1994
- 1994-04-25 JP JP11036494A patent/JP3359150B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0968410A1 (en) * | 1997-03-20 | 2000-01-05 | Hartford Hospital | Method and apparatus for evaluating the performance characteristics of endoscopes |
| EP0968410A4 (en) * | 1997-03-20 | 2000-05-24 | Hartford Hospital | METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING THE PERFORMANCE CHARACTERISTICS OF ENDOSCOPES |
| KR100444268B1 (ko) * | 2002-06-05 | 2004-08-12 | 주식회사 한택 | 평면배열형 수광 소자를 이용한 광 측정 장치 및 방법 |
| EP1508021A1 (en) * | 2002-06-05 | 2005-02-23 | Hantech Co., Ltd | Optical measuring system with arrayed optical receivers and method thereof |
| US7181101B2 (en) | 2002-06-05 | 2007-02-20 | Hantech Co., Ltd. | Optical measuring system with arrayed optical receivers and method thereof |
| EP1508021A4 (en) * | 2002-06-05 | 2009-09-16 | Hantech Co Ltd | OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM WITH NETWORK OPTICAL RECEIVERS AND ASSOCIATED METHOD |
| JP2011242204A (ja) * | 2010-05-17 | 2011-12-01 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 調芯装置、コア位置特定方法、コアの損失測定方法、およびコア間のクロストーク測定方法 |
| CN104316294A (zh) * | 2014-10-22 | 2015-01-28 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于泄漏光检测的光纤熔接点损耗测试装置及方法 |
| WO2019061889A1 (zh) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法 |
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