KR920010262A - 광커넥터의 치수측정방법 - Google Patents
광커넥터의 치수측정방법 Download PDFInfo
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명 방법을 실시하는 치수측정시스템의 기계적 구성에 관한 개락구성도.
제2도는 제1도의 치수측정시스템의 전기적 접속을 표시한 개략접속도.
제3도는 광커넥터와 검사페루울과의 단부면 간격과 검사광의 전송 손실과의 관계를 표시한 상관도.
Claims (17)
1혹은 2이상의 광파이버가 각각 삽입되는 1혹은 2이상의 파이버삽입구멍과 위치결정용 안내핀(복수)이 끼워 맞추어지는 핀구멍(복수)을 가진 페루울을 구비하고, 상기 파이버삽입구멍의 위치를 측정하는, 하기의 공정을 구비한 광커넥터의 치수측정방법에 있어서, 상기 페루울의 각 핀구멍에 단심광파이버가 장착된 검사페루울을 꽂고 빼기 자재하게 삽입하는 동시에 상기 파이버삽입구멍에 광파이버를 삽입하는 공정과, 상기 페루울을 X,Y 2축 방향으로 이동시키는 동시에 X,Y2축방향으로서 이동위치를 측정하는 위치측정수단의 소정위치에 위치결정하는 공정과 상기 위치측정수단의 근처에 배치되고, 상기 X,Y2축방향의 면에 직교하는 Z축방향으로 이동자재한 Z축스테이지에, 송수광파이버가 장착된 송수광 페우루을 장착하고, 상기 Z축스테이지에 의해 이송수광 페우루을 상기 페루울에 대해서 Z축방향으로 소정간격을 두고 맞대는 공정과, 광원으로부터 출사되는 검사광을 상기 파이버삽입구멍에 삽입한 광파이버 혹은 상기 송수광파이버의 어느 한쪽에서부터 입사하는 동시에 다른쪽에서부터 수광수단에 출사시키면서, 상기 페루울을 상기 위치측정수단에 의해 X-Y 2축방향으로 이동시키고, 상기 단심광파이버 혹은 상기 광파이버의 어느 하나와 송수광파이버를 광접속하는 공정과 상기 위치측정수단에 의해 상기 페루울을 상기 X,Y2축 방향으로 이동시키고, 상기 송수광팡버를 상기 단삼광파이버 혹은 상기 광파이버의 다른 광파이버로 순차 절환하고, 소정측정조건하에, 상기 수광수단에 출사되는 검사광을 측정해서 당해 페루울 및 검사페루울의 각 광파이버의 위치를 측정하는 공정 및 당해 측정 결과로부터 상기 페루울의 핀구멍을 기준으로 하는 각 파이버삽입구멍의 중심위치를 구하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 광커넥터의 치수측정방법.
제1항에 있어서, 상기 위치측정수단에서는 상기 페루울의 형상에 대응해서 형성한 개구부가 형성되고, 상기 페루울은, 이 개구부에 의해서 상기 위치측정수단에 X,Y 2축방향의 소정위치에 위치 결정해서 장착되는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법.
제1항에 있어서, 상기 위치측정수단에는 소정위치에 V홈(복수)이 형성되고, 상기 페루울은 이 V홈에 의해서 상기 각 검사페루울을 위치 결정해서 상기 위치결정수단의 X,Y 2축방향의 소정위치로 위치결정해서 장착되는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 위치측정수단에는, Z축 콘트롤러를 구비한 Z축스케일이설치되고, 상기 송수광페루울과 상기 페루울을 맞대는 소정간격이 상기 Z축스케일에 의해서 측정되고, 미리 측정되어 있는 상기 송수광페루울과 상기 페루울과의 간격에 의거한 검사광의 전송선실의 관계에서, 당해 소정간격을 항상 일정하게 유지하면서 상기 페루울 및 검사페루울의 각 광파이버의 위치를 측정하는 것을 특징으로 하는 광커넥테의 치수 측정방법.
제4항에 있어서, 상기 Z축스케일이 글라스스케일인 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 검사광에 의거해서 상기 페루울 및 검사페루울의 각 광파이버의 위치를 측정하는 소정 측정조건으로서, 상기 단심광파이버 혹은 상기 광파이버의 어느 하나와 송수광 파이버를 광접속한 상태에서 측정한 검사광의 강도에 대해서, 상기 위치측정 수단에 의해 상기 페루울을 상기 X,Y2축방향의 복수개소로 이동시켰을때의 각 검사광의 강도가 동등해지도록 해서 측정하고, 이측정위치로부터 핀구멍의 위치를 결정하고, 당해 핀구멍의 위치를 기분으로해서 상기 페루울의 각 광파이버의 위치를 측정하는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 검사광에 의거해서 상기 페우울 및 검사페루울의 각 광파이버의 위치를 측정 하는 소정측정조건으로서, 상기 각 검사페루울을 상기 핀 구멍 내에서 각각 복수회, 소정각도회전시키고, 각 회전위치에 있어서 측정한 상기 단심광파이버의 위치로부터 핀구멍의 위치를 결정하고, 당해 핀구멍의 위치를 기준으로해서 상기 페루울의 각 광파이버의 위치를 측정하는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 파이버삽입구멍에 삽입한 광파이버가 상기 파이버삽입구명에 임시장착되어 있는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 파이버삽입구멍에 삽입한 광파이버가 상기 파이버삽입구멍에 접착고정되어 있는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 위치측정수단이 레이저스케일을 구비한 X-Y 스테이지인 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 X-Y 스테이지의 X-Y 2축방향의 이동을 X-Y 콘트롤러에 의해서 제어하는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 Z축 스테이지를 Z축콘트롤러에 의해서 Z축방향의 움직임을 제어하는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 페루울에 삽입하는 광파이버 및 상기 검사페루울에 장착한 단심광파이버 및 검사페루울은, 코어외경 및 페루울의 외경에 편심이 없는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 검사과의 광원이 LED인 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 검사광의 광원이 반도체 레인저인 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 검사광의 수광수단이 광파우어미터인 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
제1항에 있어서, 상기 검사광이 측정한 상기 페루울 및 검사페루울의 각 광파이버의 위치에 의거해서 전자제어장치(Electric Control Unit)에 의해 당해 측정결과를 처리해서 상기 페루울의 핀구멍을 기준으로 하는 각 파이버삽입구멍의 중심위치를 구비하는 것을 특징으로 하는 광커넥터에 치수측정방법
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| KR100560346B1 (ko) * | 1998-10-07 | 2006-03-14 | 제이씨씨 엔지니어링 가부시키가이샤 | 전해 콘덴서 소자의 전해액 진공 함침 방법 및 장치 |
Families Citing this family (2)
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1991
- 1991-11-26 KR KR1019910021290A patent/KR960001997B1/ko not_active IP Right Cessation
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| KR960001997B1 (ko) | 1996-02-09 |
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