JP2002071511A - 光学部品測定装置及び光学部品の試験方法 - Google Patents
光学部品測定装置及び光学部品の試験方法Info
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/335—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using two or more input wavelengths
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定デバイスの接続に変更を加えることな
く、被測定デバイスのアライメント調整及び光学特性の
測定を行える光学部品測定装置を提供する。 【解決手段】 光学部品測定装置１に被測定デバイス１
５と測定用光ファイバのアライメント調整装置１６を具
備させ、さらに、光学部品テスタ１０の構成品である複
数の光検出器１４にそれぞれアナログ信号出力端子を備
え、切替装置１８によって切り替えることにより、任意
の出力端子と光検出器１４及び電圧計１７とを接続でき
るようにした。また、電圧計１７にさらに波形表示装置
１９を具備させ、外付けのデジボルやレコーダを等を用
いずにアライメント状態を監視できる構成とした。
く、被測定デバイスのアライメント調整及び光学特性の
測定を行える光学部品測定装置を提供する。 【解決手段】 光学部品測定装置１に被測定デバイス１
５と測定用光ファイバのアライメント調整装置１６を具
備させ、さらに、光学部品テスタ１０の構成品である複
数の光検出器１４にそれぞれアナログ信号出力端子を備
え、切替装置１８によって切り替えることにより、任意
の出力端子と光検出器１４及び電圧計１７とを接続でき
るようにした。また、電圧計１７にさらに波形表示装置
１９を具備させ、外付けのデジボルやレコーダを等を用
いずにアライメント状態を監視できる構成とした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学部品の波長依
存特性などを測定する光学部品測定装置及び光学部品の
試験方法に関する。
存特性などを測定する光学部品測定装置及び光学部品の
試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、光通信ネットワークを構成するた
めの主要部品として使用される光デバイスは、大量生産
されるためそれぞれの製品間に多少の特性のバラツキを
生じる。そこで、このような光デバイスの特性が規格を
満たしているか否かを試験するために、光デバイスの波
長依存特性を測定し、光デバイスの信頼性を確保する必
要がある。
めの主要部品として使用される光デバイスは、大量生産
されるためそれぞれの製品間に多少の特性のバラツキを
生じる。そこで、このような光デバイスの特性が規格を
満たしているか否かを試験するために、光デバイスの波
長依存特性を測定し、光デバイスの信頼性を確保する必
要がある。
【０００３】近年では、この測定を光デバイスがパッケ
ージ化される以前の段階、すなわち、ベアな状態で測定
が行われることが求められており、その測定にあたって
は、ベアデバイスと測定用光ファイバとの間の光軸が一
致するように微細に位置調整を行わなければならない。
ージ化される以前の段階、すなわち、ベアな状態で測定
が行われることが求められており、その測定にあたって
は、ベアデバイスと測定用光ファイバとの間の光軸が一
致するように微細に位置調整を行わなければならない。
【０００４】そこで従来は測定を開始する前に、図３に
示すようなアライメント調整装置１００により、被測定
デバイスの位置調整を行っている。アライメント調整装
置１００は、光源１０１、入力用光ファイバ１０２、出
力用光ファイバ１０３、光パワーメータ１０４、電圧計
１０６から構成される。また、入力用光ファイバ１０２
と出力用光ファイバ１０３との間には、被測定デバイス
１０５を設置するための図示しない可動台座を有し、被
測定デバイス１０５は、可動台座に載置固定される。
示すようなアライメント調整装置１００により、被測定
デバイスの位置調整を行っている。アライメント調整装
置１００は、光源１０１、入力用光ファイバ１０２、出
力用光ファイバ１０３、光パワーメータ１０４、電圧計
１０６から構成される。また、入力用光ファイバ１０２
と出力用光ファイバ１０３との間には、被測定デバイス
１０５を設置するための図示しない可動台座を有し、被
測定デバイス１０５は、可動台座に載置固定される。
【０００５】光源１０１から、入力用光ファイバ１０２
を介して被測定デバイスに光信号が入力され、出力用光
ファイバ１０３を介して光信号が出力されると、出力信
号光は光パワーメータ１０４及び電圧計１０６によって
観測される。そして、アライメント調節装置１００は、
この観測結果から光信号の挿入損失がもっとも小さくな
る位置に可動台座を稼働させて、入出力端の測定用光フ
ァイバと被測定デバイス１０５の接続位置の調整を行
う。
を介して被測定デバイスに光信号が入力され、出力用光
ファイバ１０３を介して光信号が出力されると、出力信
号光は光パワーメータ１０４及び電圧計１０６によって
観測される。そして、アライメント調節装置１００は、
この観測結果から光信号の挿入損失がもっとも小さくな
る位置に可動台座を稼働させて、入出力端の測定用光フ
ァイバと被測定デバイス１０５の接続位置の調整を行
う。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
測定においては、被測定デバイスと測定用光ファイバの
位置調整をした後、さらに、光学部品テスタにつなぎ変
え、波長依存性等の測定を行っているため、被測定デバ
イスが複数の出力端子を有する多端子デバイスである場
合、各端子毎に光パワーメータを用意するか、測定用光
ファイバをつなぎ変えなければならず、測定準備時間を
長引かせ、手間がかかるという問題があった。
測定においては、被測定デバイスと測定用光ファイバの
位置調整をした後、さらに、光学部品テスタにつなぎ変
え、波長依存性等の測定を行っているため、被測定デバ
イスが複数の出力端子を有する多端子デバイスである場
合、各端子毎に光パワーメータを用意するか、測定用光
ファイバをつなぎ変えなければならず、測定準備時間を
長引かせ、手間がかかるという問題があった。
【０００７】本発明の課題は、被測定デバイスの接続に
変更を加えることなく、被測定デバイスのアライメント
調整及び光学特性の測定を行える光学部品測定装置を提
供することである。
変更を加えることなく、被測定デバイスのアライメント
調整及び光学特性の測定を行える光学部品測定装置を提
供することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
測定用光源からの測定用光信号を被測定光学部品へ入力
し、この被測定光学部品から出力される光出力信号を測
定する光学部品測定装置において、前記被測定光学部品
から出力される光出力信号を測定する測定手段（例え
ば、図１に示す光検出器１４及び電圧計１７）と、前記
被測定光学部品の入力端子に接続され、前記測定用光信
号を当該被測定光学部品に入力する第１の光ファイバ
（例えば、図１に示す入力用光ファイバ１２）と、前記
被測定光学部品の出力端子に接続され、前記被測定光学
部品から出力された光出力信号を前記測定手段に伝送す
る第２の光ファイバ（例えば、図１に示す出力用光ファ
イバ１３）と、前記測定手段により測定される光信号レ
ベルが最大となるように、前記第１の光ファイバ及び前
記第２の光ファイバと前記被測定光学部品の各接続部の
相対位置を調整する位置調整手段（例えば、図１に示す
アライメント調整装置１６）と、を備えたことを特徴と
している。
測定用光源からの測定用光信号を被測定光学部品へ入力
し、この被測定光学部品から出力される光出力信号を測
定する光学部品測定装置において、前記被測定光学部品
から出力される光出力信号を測定する測定手段（例え
ば、図１に示す光検出器１４及び電圧計１７）と、前記
被測定光学部品の入力端子に接続され、前記測定用光信
号を当該被測定光学部品に入力する第１の光ファイバ
（例えば、図１に示す入力用光ファイバ１２）と、前記
被測定光学部品の出力端子に接続され、前記被測定光学
部品から出力された光出力信号を前記測定手段に伝送す
る第２の光ファイバ（例えば、図１に示す出力用光ファ
イバ１３）と、前記測定手段により測定される光信号レ
ベルが最大となるように、前記第１の光ファイバ及び前
記第２の光ファイバと前記被測定光学部品の各接続部の
相対位置を調整する位置調整手段（例えば、図１に示す
アライメント調整装置１６）と、を備えたことを特徴と
している。
【０００９】請求項１記載の発明によれば、測定用光源
からの測定用光信号を被測定用光学部品へ入力し、この
被測定光学部品から出力される光出力信号を測定する光
学部品測定装置において、測定手段により被測定光学部
品から出力される光出力信号を測定し、被測定光学部品
の入力端子に接続され、測定用光信号を被測定光学部品
に入力する第１の光ファイバと、被測定光学部品の出力
端子に接続され、被測定光学部品から出力された光出力
信号を測定手段に伝送する第２の光ファイバとを備え、
測定手段により測定される光信号レベルが最大となるよ
うに、第１の光ファイバ及び第２の光ファイバと被測定
光学部品の各接続部の相対位置を位置調整手段により調
整するため、測定の度にアライメント調整装置から、光
学部品テスタに被測定光学部品を付け替える必要がな
く、作業効率が上がり、作業時間を短縮できる。また、
アライメントの調整から実際の測定までを全て一定個所
において行えるため、被測定光学部品を移動させる必要
がなく、作業途中においてアライメントに狂いが生じに
くいので、より正確な被測定光学部品の測定が可能にな
り、光学部品テスタの信頼性を向上できる。
からの測定用光信号を被測定用光学部品へ入力し、この
被測定光学部品から出力される光出力信号を測定する光
学部品測定装置において、測定手段により被測定光学部
品から出力される光出力信号を測定し、被測定光学部品
の入力端子に接続され、測定用光信号を被測定光学部品
に入力する第１の光ファイバと、被測定光学部品の出力
端子に接続され、被測定光学部品から出力された光出力
信号を測定手段に伝送する第２の光ファイバとを備え、
測定手段により測定される光信号レベルが最大となるよ
うに、第１の光ファイバ及び第２の光ファイバと被測定
光学部品の各接続部の相対位置を位置調整手段により調
整するため、測定の度にアライメント調整装置から、光
学部品テスタに被測定光学部品を付け替える必要がな
く、作業効率が上がり、作業時間を短縮できる。また、
アライメントの調整から実際の測定までを全て一定個所
において行えるため、被測定光学部品を移動させる必要
がなく、作業途中においてアライメントに狂いが生じに
くいので、より正確な被測定光学部品の測定が可能にな
り、光学部品テスタの信頼性を向上できる。
【００１０】請求項２記載の発明のように、請求項１記
載の光学部品測定装置において、前記被測定光学部品は
複数の出力端子を有し、前記測定手段は、前記被測定光
学部品の複数の出力端子から出力される各光出力信号を
それぞれ検出する複数の光検出器（例えば、図１に示す
光検出器１４）と、これら複数の光検出器に接続される
測定器（例えば、図１に示す電圧計１７）とを備え、前
記被測定光学部品の複数の出力端子と前記複数の光検出
器との間をそれぞれ前記第２の光ファイバにより接続す
ることを特徴としている。
載の光学部品測定装置において、前記被測定光学部品は
複数の出力端子を有し、前記測定手段は、前記被測定光
学部品の複数の出力端子から出力される各光出力信号を
それぞれ検出する複数の光検出器（例えば、図１に示す
光検出器１４）と、これら複数の光検出器に接続される
測定器（例えば、図１に示す電圧計１７）とを備え、前
記被測定光学部品の複数の出力端子と前記複数の光検出
器との間をそれぞれ前記第２の光ファイバにより接続す
ることを特徴としている。
【００１１】請求項２記載の発明によれば、被測定光学
部品は複数の出力端子を有し、測定手段は、被測定光学
部品の複数の出力端子から出力される各光出力信号をそ
れぞれ検出する複数の光検出器と、これら複数の光検出
器に接続される測定器とを備え、被測定光学部品の複数
の出力端子と複数の光検出器との間をそれぞれ第２の光
ファイバにより接続するので、被測定光学部品が複数の
出力端子を有する場合、あらかじめ各出力端子とそれぞ
れに光検出器を接続しておくことができるので、測定毎
に出力端子の接続を変更する必要がなく、手間がかから
ず、作業時間を短縮できる。
部品は複数の出力端子を有し、測定手段は、被測定光学
部品の複数の出力端子から出力される各光出力信号をそ
れぞれ検出する複数の光検出器と、これら複数の光検出
器に接続される測定器とを備え、被測定光学部品の複数
の出力端子と複数の光検出器との間をそれぞれ第２の光
ファイバにより接続するので、被測定光学部品が複数の
出力端子を有する場合、あらかじめ各出力端子とそれぞ
れに光検出器を接続しておくことができるので、測定毎
に出力端子の接続を変更する必要がなく、手間がかから
ず、作業時間を短縮できる。
【００１２】請求項３記載の発明のように、請求項２記
載の光学部品測定装置において、前記測定手段は、前記
測定器に対して前記複数の光検出器を切り替えて接続さ
せる切換手段をさらに備えることを特徴としている。
載の光学部品測定装置において、前記測定手段は、前記
測定器に対して前記複数の光検出器を切り替えて接続さ
せる切換手段をさらに備えることを特徴としている。
【００１３】請求項３記載の発明によれば、測定手段
は、測定器に対して複数の光検出器を切り替えて接続さ
せる切替手段を更に備えるため、切替装置を切り替える
ことにより、容易に任意の光検出器と電圧計の接続を切
り替えることができるので、電圧計を光検出器の数に対
応させて備えたり、測定毎に接続を変更する必要がな
く、コスト及び手間を省き、作業時間も短縮できる。
は、測定器に対して複数の光検出器を切り替えて接続さ
せる切替手段を更に備えるため、切替装置を切り替える
ことにより、容易に任意の光検出器と電圧計の接続を切
り替えることができるので、電圧計を光検出器の数に対
応させて備えたり、測定毎に接続を変更する必要がな
く、コスト及び手間を省き、作業時間も短縮できる。
【００１４】請求項４記載の発明のように、請求項３記
載の光学部品測定装置において、前記測定手段は、前記
測定器における測定結果を表示出力する表示装置をさら
に備えることを特徴としている。
載の光学部品測定装置において、前記測定手段は、前記
測定器における測定結果を表示出力する表示装置をさら
に備えることを特徴としている。
【００１５】請求項４記載の発明によれば、測定手段
は、測定器における測定結果を表示する表示装置をさら
に備えるため、光学部品テスタの画面に任意の端子のア
ナログ信号の出力レベルを表示できるので、アライメン
ト調整の際に使用するデジボルやレコーダ等などの切替
やつなぎ換えをする必要がなく、作業効率が上がる。ま
た、被測定光学部品の光学特性の測定の際にも、光学部
品テスタの画面上に任意の出力端子のアナログ信号出力
レベルを表示できるので、外付けのデジボルやレコーダ
等を用いずにアライメント状態を監視できる。
は、測定器における測定結果を表示する表示装置をさら
に備えるため、光学部品テスタの画面に任意の端子のア
ナログ信号の出力レベルを表示できるので、アライメン
ト調整の際に使用するデジボルやレコーダ等などの切替
やつなぎ換えをする必要がなく、作業効率が上がる。ま
た、被測定光学部品の光学特性の測定の際にも、光学部
品テスタの画面上に任意の出力端子のアナログ信号出力
レベルを表示できるので、外付けのデジボルやレコーダ
等を用いずにアライメント状態を監視できる。
【００１６】請求項５記載の発明は、測定用光源からの
測定用光信号を被測定光学部品へ入力し、この被測定光
学部品から出力される光出力信号を測定する光学部品の
試験方法であって、前記被測定光学部品の入力端子に接
続される第１の光ファイバを介して前記測定用光信号を
当該被測定光学部品へ入力し、前記被測定光学部品の出
力端子に接続される第２の光ファイバを介して前記被測
定光学部品から出力された光出力信号を伝送し、前記第
２の光ファイバにより伝送される光出力信号をもとに前
記被測定光学部品から出力される光出力信号を測定し、
測定される光出力信号レベルが最大となるように、前記
第１の光ファイバ及び前記第２の光ファイバと前記被測
定光学部品の各接続部の相対位置を調整すること、を特
徴としている。
測定用光信号を被測定光学部品へ入力し、この被測定光
学部品から出力される光出力信号を測定する光学部品の
試験方法であって、前記被測定光学部品の入力端子に接
続される第１の光ファイバを介して前記測定用光信号を
当該被測定光学部品へ入力し、前記被測定光学部品の出
力端子に接続される第２の光ファイバを介して前記被測
定光学部品から出力された光出力信号を伝送し、前記第
２の光ファイバにより伝送される光出力信号をもとに前
記被測定光学部品から出力される光出力信号を測定し、
測定される光出力信号レベルが最大となるように、前記
第１の光ファイバ及び前記第２の光ファイバと前記被測
定光学部品の各接続部の相対位置を調整すること、を特
徴としている。
【００１７】請求項５記載の発明によれば、測定用光源
からの測定用光信号を被測定光学部品へ入力し、この被
測定光学部品から出力される光出力信号を測定する光学
部品の試験方法であって、被測定光学部品の入力端子に
接続される第１の光ファイバを介して測定用光信号を被
測定光学部品へ入力し、被測定光学部品の出力端子に接
続される第２の光ファイバを介して被測定光学部品から
出力された光出力信号を伝送し、前記第２の光ファイバ
により伝送される光出力信号をもとに被測定光学部品か
ら出力される光出力信号を測定し、測定される光出力信
号レベルが最大となるように、第１の光ファイバ及び第
２の光ファイバと被測定光学部品の各接続部の相対位置
を調整するため、測定の度にアライメント調整装置か
ら、光学部品テスタに被測定光学部品を付け替える必要
がなく、作業効率が上がり、作業時間を短縮できる。ま
た、アライメントの調整から実際の測定までを全て一定
個所において行えるため、被測定光学部品を移動させる
必要がなく、作業途中においてアライメントに狂いが生
じにくいので、より正確な被測定光学部品の測定が可能
になり、光学部品テスタの信頼性を向上できる。
からの測定用光信号を被測定光学部品へ入力し、この被
測定光学部品から出力される光出力信号を測定する光学
部品の試験方法であって、被測定光学部品の入力端子に
接続される第１の光ファイバを介して測定用光信号を被
測定光学部品へ入力し、被測定光学部品の出力端子に接
続される第２の光ファイバを介して被測定光学部品から
出力された光出力信号を伝送し、前記第２の光ファイバ
により伝送される光出力信号をもとに被測定光学部品か
ら出力される光出力信号を測定し、測定される光出力信
号レベルが最大となるように、第１の光ファイバ及び第
２の光ファイバと被測定光学部品の各接続部の相対位置
を調整するため、測定の度にアライメント調整装置か
ら、光学部品テスタに被測定光学部品を付け替える必要
がなく、作業効率が上がり、作業時間を短縮できる。ま
た、アライメントの調整から実際の測定までを全て一定
個所において行えるため、被測定光学部品を移動させる
必要がなく、作業途中においてアライメントに狂いが生
じにくいので、より正確な被測定光学部品の測定が可能
になり、光学部品テスタの信頼性を向上できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】［第１の実施の形態］以下、図を
参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１
は、本発明を適用した光学部品測定装置の一実施の形態
を示す図である。まず、構成を説明する。図１は、本第
１の実施の形態における光学部品測定装置１の要部構成
を示すブロック図である。
参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１
は、本発明を適用した光学部品測定装置の一実施の形態
を示す図である。まず、構成を説明する。図１は、本第
１の実施の形態における光学部品測定装置１の要部構成
を示すブロック図である。
【００１９】この図１において、光学部品測定装置１
は、光学部品テスタ１０、アライメント調整装置１６、
及び電圧計１７から構成されており、光学部品テスタ１
０は、可変波長光源１１、１本の入力用光ファイバ１
２、Ｎ本の出力用光ファイバ１３、及びＮ個の光検出器
１４から構成される。アライメント調整装置１６は、入
力用光ファイバ１２と出力用光ファイバ１３との間に設
置され、被測定デバイス１５が載置される。また、光検
出器１４はアナログ信号出力端子を有し、各アナログ信
号出力端子は、切替装置１８により切り替えられて択一
的に電圧計１７の測定端子に接続される構成となってい
る。
は、光学部品テスタ１０、アライメント調整装置１６、
及び電圧計１７から構成されており、光学部品テスタ１
０は、可変波長光源１１、１本の入力用光ファイバ１
２、Ｎ本の出力用光ファイバ１３、及びＮ個の光検出器
１４から構成される。アライメント調整装置１６は、入
力用光ファイバ１２と出力用光ファイバ１３との間に設
置され、被測定デバイス１５が載置される。また、光検
出器１４はアナログ信号出力端子を有し、各アナログ信
号出力端子は、切替装置１８により切り替えられて択一
的に電圧計１７の測定端子に接続される構成となってい
る。
【００２０】可変波長光源１１は、被測定デバイス１５
に試験信号を与えるための光信号を出力する。光源には
半導体レーザーや発光ダイオードが用いられ、出力する
光信号の波長、出力強度は被測定デバイス及び測定条件
に応じて任意に可変設定できる。可変波長光源１１の出
力端には入力用光ファイバ１２が接続され、入力用光フ
ァイバ１２は被測定デバイス１５に接続される。
に試験信号を与えるための光信号を出力する。光源には
半導体レーザーや発光ダイオードが用いられ、出力する
光信号の波長、出力強度は被測定デバイス及び測定条件
に応じて任意に可変設定できる。可変波長光源１１の出
力端には入力用光ファイバ１２が接続され、入力用光フ
ァイバ１２は被測定デバイス１５に接続される。
【００２１】光検出器１４は、入力される光の強度やス
ペクトル分布等を検出するものであり、被測定デバイス
１５及び測定条件に応じて、光の強度やスペクトル分布
の検出条件を任意に設定できる。
ペクトル分布等を検出するものであり、被測定デバイス
１５及び測定条件に応じて、光の強度やスペクトル分布
の検出条件を任意に設定できる。
【００２２】本第１の実施の形態では、光学部品テスタ
１０は、複数の光検出器１４を有するため、被測定デバ
イス１５が複数の出力端子を有する場合、複数の出力端
子がそれぞれ光検出器１４と接続できる。そして、出力
端子と接続された各光検出器１４は、切替装置１８によ
り、測定条件に応じて電圧計１７に接続される。つま
り、被測定デバイス１５の出力端子と光検出器１４の接
続状況に対応して、所望の光検出器１４の出力端子と電
圧計１７とを接続できる。
１０は、複数の光検出器１４を有するため、被測定デバ
イス１５が複数の出力端子を有する場合、複数の出力端
子がそれぞれ光検出器１４と接続できる。そして、出力
端子と接続された各光検出器１４は、切替装置１８によ
り、測定条件に応じて電圧計１７に接続される。つま
り、被測定デバイス１５の出力端子と光検出器１４の接
続状況に対応して、所望の光検出器１４の出力端子と電
圧計１７とを接続できる。
【００２３】また、各光検出器１４は、接続された被測
定デバイス１５の出力端子における挿入損失を検出し、
その検出結果をアナログ電圧信号として出力するので、
このアナログ電圧信号の電位を電圧計１７で確認するこ
とにより、被測定デバイス１５と入力用光ファイバ１２
及び出力用光ファイバ１３との接続位置を調整するアラ
イメント調整作業を光学部品テスタ１０側で可能にする
構成となっている。
定デバイス１５の出力端子における挿入損失を検出し、
その検出結果をアナログ電圧信号として出力するので、
このアナログ電圧信号の電位を電圧計１７で確認するこ
とにより、被測定デバイス１５と入力用光ファイバ１２
及び出力用光ファイバ１３との接続位置を調整するアラ
イメント調整作業を光学部品テスタ１０側で可能にする
構成となっている。
【００２４】被測定デバイス１５は、例えば図中に示す
ように、１つの入力端子と複数の出力端子を備えた光モ
ジュール、光スプリッタ、光サーキュレータ等の種々の
光学素子を有する光学部品である。被測定デバイス１５
は、アライメント調整装置１６に設置されており、入力
端子には入力用光ファイバ１２が接続され、可変波長光
源１１と接続されている。また、各出力端子には出力用
光ファイバ１３が接続され、光検出器１４と接続されて
いる。
ように、１つの入力端子と複数の出力端子を備えた光モ
ジュール、光スプリッタ、光サーキュレータ等の種々の
光学素子を有する光学部品である。被測定デバイス１５
は、アライメント調整装置１６に設置されており、入力
端子には入力用光ファイバ１２が接続され、可変波長光
源１１と接続されている。また、各出力端子には出力用
光ファイバ１３が接続され、光検出器１４と接続されて
いる。
【００２５】これにより、可変波長光源１１から入力用
光ファイバ１２を介して入力される光信号は、被測定デ
バイス１５の光学特性に応じた変化を受けた後に、出力
用光ファイバ１３を介して光検出器１４に出力される。
光ファイバ１２を介して入力される光信号は、被測定デ
バイス１５の光学特性に応じた変化を受けた後に、出力
用光ファイバ１３を介して光検出器１４に出力される。
【００２６】複数の出力端子を有する被測定デバイス１
５の場合、各出力端子を複数の出力用光ファイバ１３と
接続することにより、複数の光検出器１４に同時に接続
することが可能である。
５の場合、各出力端子を複数の出力用光ファイバ１３と
接続することにより、複数の光検出器１４に同時に接続
することが可能である。
【００２７】アライメント調整装置１６は、被測定デバ
イス１５を載置固定するための可動台座、及びこの可動
台座の位置を調整するための制御装置等を備えてなり、
入力用光ファイバ１２と出力用光ファイバ１３との間に
設置される。
イス１５を載置固定するための可動台座、及びこの可動
台座の位置を調整するための制御装置等を備えてなり、
入力用光ファイバ１２と出力用光ファイバ１３との間に
設置される。
【００２８】アライメント調整装置１６は、光検出器１
４及び電圧計１７により測定される被測定デバイス１５
の出力端子における挿入損失が最小となるように、可動
台座の位置を調整して、被測定デバイス１５の入力端子
及び各出力端子と、入力用光ファイバ１２及び出力用光
ファイバ１３との各接続状態が光軸と一致するようにア
ライメント調整作業を実行する。
４及び電圧計１７により測定される被測定デバイス１５
の出力端子における挿入損失が最小となるように、可動
台座の位置を調整して、被測定デバイス１５の入力端子
及び各出力端子と、入力用光ファイバ１２及び出力用光
ファイバ１３との各接続状態が光軸と一致するようにア
ライメント調整作業を実行する。
【００２９】電圧計１７は、アナログ電圧信号入力端子
を有しており、このアナログ電圧信号入力端子には切替
装置１８により、任意の光検出器１４と接続することが
可能である。電圧計１７は、光検出器１４から出力され
たアナログ電圧信号の電位を指針やデジタル表示などの
数値により表示する。
を有しており、このアナログ電圧信号入力端子には切替
装置１８により、任意の光検出器１４と接続することが
可能である。電圧計１７は、光検出器１４から出力され
たアナログ電圧信号の電位を指針やデジタル表示などの
数値により表示する。
【００３０】切替装置１８は、光検出器１４及び電圧計
１７との間に設けられている。電圧計１７とは固定して
接続され、被測定デバイス１５の出力端子と光検出器１
４との接続状態に応じて、任意の光検出器１４と択一的
に接続できるようになっている。そして、切替装置１８
を切り替えることにより、複数の光検出器１４と電圧計
１８との接続が切り替えられるので、被測定デバイス１
５の測定すべき出力端子を容易に変更できる。
１７との間に設けられている。電圧計１７とは固定して
接続され、被測定デバイス１５の出力端子と光検出器１
４との接続状態に応じて、任意の光検出器１４と択一的
に接続できるようになっている。そして、切替装置１８
を切り替えることにより、複数の光検出器１４と電圧計
１８との接続が切り替えられるので、被測定デバイス１
５の測定すべき出力端子を容易に変更できる。
【００３１】次に、本第１の実施の形態の光学部品測定
装置１において実行される各種動作について説明する。
まず、被測定デバイス１５と入力用光ファイバ１２及び
出力用光ファイバ１３との接続位置を調整するアライメ
ント調整作業を行う場合の動作について説明する。
装置１において実行される各種動作について説明する。
まず、被測定デバイス１５と入力用光ファイバ１２及び
出力用光ファイバ１３との接続位置を調整するアライメ
ント調整作業を行う場合の動作について説明する。
【００３２】可変波長光源１１から出力された光信号
は、入力用光ファイバ１２を介して、被測定デバイス１
５へ入力される。そして、被測定デバイス１５から、出
力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４へ出力され
る。光検出器１４により、接続された被測定デバイス１
５の出力端子における挿入損失が検出され、その検出結
果がアナログ電圧信号として電圧計１７に出力される
と、アライメント調整装置１６において、この挿入損失
がもっとも小さくなるように可動台座が稼働される。そ
して、被測定デバイス１５の入力端子及び出力端子と、
入力用光ファイバ１２及び出力用光ファイバ１３との接
続位置が、光軸が一致するように調整される。
は、入力用光ファイバ１２を介して、被測定デバイス１
５へ入力される。そして、被測定デバイス１５から、出
力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４へ出力され
る。光検出器１４により、接続された被測定デバイス１
５の出力端子における挿入損失が検出され、その検出結
果がアナログ電圧信号として電圧計１７に出力される
と、アライメント調整装置１６において、この挿入損失
がもっとも小さくなるように可動台座が稼働される。そ
して、被測定デバイス１５の入力端子及び出力端子と、
入力用光ファイバ１２及び出力用光ファイバ１３との接
続位置が、光軸が一致するように調整される。
【００３３】また、複数の出力端子を有する被測定デバ
イス１５の場合は、複数の光検出器１４の中から、各出
力端子に応じた光検出器１４を選択し、各出力端子と対
応する光検出器１４に接続される出力用光ファイバ１３
とのアライメント調整を行う。
イス１５の場合は、複数の光検出器１４の中から、各出
力端子に応じた光検出器１４を選択し、各出力端子と対
応する光検出器１４に接続される出力用光ファイバ１３
とのアライメント調整を行う。
【００３４】次に、被測定デバイス１５の光学特性を測
定する場合の動作について説明する。光学部品測定装置
１において、入出力用光ファイバ１２、１３とのアライ
メント調整が行われた被測定デバイス１５は、入力用光
ファイバ１２と可変波長光源１１、及び出力用光ファイ
バ１３と光検出器１４との接続を変更することなく測定
が実行される。
定する場合の動作について説明する。光学部品測定装置
１において、入出力用光ファイバ１２、１３とのアライ
メント調整が行われた被測定デバイス１５は、入力用光
ファイバ１２と可変波長光源１１、及び出力用光ファイ
バ１３と光検出器１４との接続を変更することなく測定
が実行される。
【００３５】可変波長光源１１から出力される光信号
は、被試験デバイス１５及び測定条件に対応してあらか
じめ出力強度及び波長等が設定されており、入力用光フ
ァイバ１２を介して、被測定デバイス１５に入力され
る。被測定デバイス１５に入力された光信号は、被測定
デバイス１５内に設けられた種々の光学素子によって、
透過、反射、又は散乱される。
は、被試験デバイス１５及び測定条件に対応してあらか
じめ出力強度及び波長等が設定されており、入力用光フ
ァイバ１２を介して、被測定デバイス１５に入力され
る。被測定デバイス１５に入力された光信号は、被測定
デバイス１５内に設けられた種々の光学素子によって、
透過、反射、又は散乱される。
【００３６】被測定デバイス１５内の光学素子を透過し
た光及び散乱した光は、出力用光ファイバ１３に出力さ
れ、出力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４に出
力される。そして、光検出器１４により、あらかじめ設
定された光の強度やスペクトル分布の検出条件をもと
に、入力された光の強度やスペクトル分布が検出され、
検出結果をアナログ電圧信号として電圧計１７に出力さ
れる。アナログ電圧信号は、電圧計１７により対応する
電圧レベルが電位として指針やデジタル表示などの数値
により表示される。
た光及び散乱した光は、出力用光ファイバ１３に出力さ
れ、出力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４に出
力される。そして、光検出器１４により、あらかじめ設
定された光の強度やスペクトル分布の検出条件をもと
に、入力された光の強度やスペクトル分布が検出され、
検出結果をアナログ電圧信号として電圧計１７に出力さ
れる。アナログ電圧信号は、電圧計１７により対応する
電圧レベルが電位として指針やデジタル表示などの数値
により表示される。
【００３７】被測定デバイス１５が複数の出力端子を有
する場合は、測定を行う出力端子毎に、出力端子に対応
した光検出器１４をあらかじめ接続しておく。そして、
切替装置１８を切り替えることにより、測定すべき被測
定デバイス１５の出力端子と電圧計１７との接続を切り
替えて測定を順次行う。
する場合は、測定を行う出力端子毎に、出力端子に対応
した光検出器１４をあらかじめ接続しておく。そして、
切替装置１８を切り替えることにより、測定すべき被測
定デバイス１５の出力端子と電圧計１７との接続を切り
替えて測定を順次行う。
【００３８】以上のように、本第１の実施の形態におけ
る光学部品測定装置１より以下の効果が得られる。
る光学部品測定装置１より以下の効果が得られる。
【００３９】光学部品テスタに被測定デバイスと測定用
光ファイバのアライメントを調整する機能をさらに設け
たので、測定の度にアライメント調整装置から、光学部
品テスタに被測定デバイスを付け替える必要がなく、作
業効率が上がり、作業時間を短縮できる。
光ファイバのアライメントを調整する機能をさらに設け
たので、測定の度にアライメント調整装置から、光学部
品テスタに被測定デバイスを付け替える必要がなく、作
業効率が上がり、作業時間を短縮できる。
【００４０】あるいは、アライメントの調整から実際の
測定までを全て一定個所において行えるので、被測定デ
バイスを移動させる必要がなく、作業途中においてアラ
イメントに狂いが生じにくい。このため、より正確な被
測定デバイスの測定が可能になり、光学部品テスタの信
頼性を向上できる。
測定までを全て一定個所において行えるので、被測定デ
バイスを移動させる必要がなく、作業途中においてアラ
イメントに狂いが生じにくい。このため、より正確な被
測定デバイスの測定が可能になり、光学部品テスタの信
頼性を向上できる。
【００４１】光学部品テスタの構成品である光検出器を
複数有しているので、複数の出力端子を有する被測定デ
バイスを測定する場合、あらかじめ各出力端子に対応し
た光検出器を同時に接続できる。そして、光検出器のそ
れぞれにアナログ信号出力端子を持たせ、光検出器と電
圧計の間には切替装置が設置されているので、切替装置
を切り替えることにより、任意の光検出器と電圧計とを
容易に接続できる。これにより、被測定デバイスの複数
の出力端子を、各出力端子の測定が終わる度に接続をつ
なぎ変えることなしに容易に測定できる。
複数有しているので、複数の出力端子を有する被測定デ
バイスを測定する場合、あらかじめ各出力端子に対応し
た光検出器を同時に接続できる。そして、光検出器のそ
れぞれにアナログ信号出力端子を持たせ、光検出器と電
圧計の間には切替装置が設置されているので、切替装置
を切り替えることにより、任意の光検出器と電圧計とを
容易に接続できる。これにより、被測定デバイスの複数
の出力端子を、各出力端子の測定が終わる度に接続をつ
なぎ変えることなしに容易に測定できる。
【００４２】なお、上記の形態に示した光学部品測定装
置１の構成は一例であり、光学部品テスタ１０や光検出
器１４の設置台数等は本実施の形態の趣旨を逸脱しない
範囲で任意に変更可能である。 ［第２の実施の形態］次に、図２を参照して本第２の実
施の形態について説明する。図２は本第２の実施の形態
における光学部品測定装置２の要部構成を示すブロック
図である。なお、図１中で示された部材と同一の部材に
対しては同一の符号が付してあり、同一部材についての
説明は省略する。
置１の構成は一例であり、光学部品テスタ１０や光検出
器１４の設置台数等は本実施の形態の趣旨を逸脱しない
範囲で任意に変更可能である。 ［第２の実施の形態］次に、図２を参照して本第２の実
施の形態について説明する。図２は本第２の実施の形態
における光学部品測定装置２の要部構成を示すブロック
図である。なお、図１中で示された部材と同一の部材に
対しては同一の符号が付してあり、同一部材についての
説明は省略する。
【００４３】図２に示された本発明第２の実施の形態に
よる光学部品測定装置２が、図１に示された本発明第１
の実施の形態による光学部品測定装置１と主に異なる点
は、電圧計１７に、光検出器１４によって検出された光
出力信号の波形を表示するための液晶ディスプレイ等に
よって構成される波形表示装置１９がさらに接続されて
いる点である。
よる光学部品測定装置２が、図１に示された本発明第１
の実施の形態による光学部品測定装置１と主に異なる点
は、電圧計１７に、光検出器１４によって検出された光
出力信号の波形を表示するための液晶ディスプレイ等に
よって構成される波形表示装置１９がさらに接続されて
いる点である。
【００４４】本第２の実施の形態において、電圧計１７
は、光検出器１４から出力されたアナログ電圧信号の電
位を指針やデジタル表示などの数値により表示し、さら
に波形表示装置１９にアナログ電圧信号を出力する。波
形表示装置１９は、電圧計１７から出力された電圧の出
力レベルを波形として画面上に表示する。
は、光検出器１４から出力されたアナログ電圧信号の電
位を指針やデジタル表示などの数値により表示し、さら
に波形表示装置１９にアナログ電圧信号を出力する。波
形表示装置１９は、電圧計１７から出力された電圧の出
力レベルを波形として画面上に表示する。
【００４５】本第２の実施の形態の光学部品測定装置２
において実行される各種動作について説明する。まず、
被測定デバイス１５と入力用光ファイバ１２及び出力用
光ファイバ１３との接続位置を調整するアライメント調
整作業を行う場合の動作について説明する。
において実行される各種動作について説明する。まず、
被測定デバイス１５と入力用光ファイバ１２及び出力用
光ファイバ１３との接続位置を調整するアライメント調
整作業を行う場合の動作について説明する。
【００４６】可変波長光源１１から出力された光信号
は、入力用光ファイバ１２を介して、被測定デバイス１
５へ入力される。そして、被測定デバイス１５から、出
力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４へ出力され
る。光検出器１４により、接続された被測定デバイス１
５の出力端子における挿入損失が検出され、その検出結
果がアナログ電圧信号として電圧計に出力されると、ア
ライメント調整装置１６において、この挿入損失がもっ
とも小さくなるように可動台座が稼働される。そして、
被測定デバイス１５の入力端子及び出力端子と、入力用
光ファイバ１２及び出力用光ファイバ１３との接続位置
が、光軸が一致するように調整される。
は、入力用光ファイバ１２を介して、被測定デバイス１
５へ入力される。そして、被測定デバイス１５から、出
力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４へ出力され
る。光検出器１４により、接続された被測定デバイス１
５の出力端子における挿入損失が検出され、その検出結
果がアナログ電圧信号として電圧計に出力されると、ア
ライメント調整装置１６において、この挿入損失がもっ
とも小さくなるように可動台座が稼働される。そして、
被測定デバイス１５の入力端子及び出力端子と、入力用
光ファイバ１２及び出力用光ファイバ１３との接続位置
が、光軸が一致するように調整される。
【００４７】さらに、光検出器１４及び電圧計１７によ
って測定された挿入損失は、表示装置１７に出力され、
被測定デバイス１５の入力端子及び出力端子と、入力用
光ファイバ１２及び出力用光ファイバ１３のアライメン
ト調整状態を監視することができる。
って測定された挿入損失は、表示装置１７に出力され、
被測定デバイス１５の入力端子及び出力端子と、入力用
光ファイバ１２及び出力用光ファイバ１３のアライメン
ト調整状態を監視することができる。
【００４８】また、複数の出力端子を有する被測定デバ
イス１５の場合は、複数の光検出器１４の中から、各出
力端子に応じた光検出器１４を選択し、各出力端子と対
応する光検出器１４に接続される出力用光ファイバ１３
とのアライメント調整を行う。
イス１５の場合は、複数の光検出器１４の中から、各出
力端子に応じた光検出器１４を選択し、各出力端子と対
応する光検出器１４に接続される出力用光ファイバ１３
とのアライメント調整を行う。
【００４９】次に、被測定デバイス１５の光学特性を測
定する場合の動作について説明する。光学部品測定装置
２において、アライメント調整を行われた被測定デバイ
ス１５は、入力用光ファイバ１２と可変波長光源１１、
及び出力用光ファイバ１３と光検出器１４との接続を変
更することなく測定が実行される。
定する場合の動作について説明する。光学部品測定装置
２において、アライメント調整を行われた被測定デバイ
ス１５は、入力用光ファイバ１２と可変波長光源１１、
及び出力用光ファイバ１３と光検出器１４との接続を変
更することなく測定が実行される。
【００５０】可変波長光源１１から出力される光信号
は、被試験デバイス１５及び測定条件に対応してあらか
じめ出力強度及び波長等が設定されており、入力用光フ
ァイバ１２を介して、被測定デバイス１５に入力され
る。被測定デバイス１５に入力された光信号は、被測定
デバイス１５内に設けられた種々の光学素子によって、
透過、反射、又は散乱される。
は、被試験デバイス１５及び測定条件に対応してあらか
じめ出力強度及び波長等が設定されており、入力用光フ
ァイバ１２を介して、被測定デバイス１５に入力され
る。被測定デバイス１５に入力された光信号は、被測定
デバイス１５内に設けられた種々の光学素子によって、
透過、反射、又は散乱される。
【００５１】被測定デバイス１５内の光学素子を透過し
た光及び散乱した光は、出力用光ファイバ１３に出力さ
れ、出力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４に伝
送される。そして、光検出器１４により、あらかじめ設
定された光の強度やスペクトル分布の検出条件をもと
に、入力された光の強度やスペクトル分布が検出され、
検出結果をアナログ電圧信号として電圧計１７に出力さ
れる。
た光及び散乱した光は、出力用光ファイバ１３に出力さ
れ、出力用光ファイバ１３を介して、光検出器１４に伝
送される。そして、光検出器１４により、あらかじめ設
定された光の強度やスペクトル分布の検出条件をもと
に、入力された光の強度やスペクトル分布が検出され、
検出結果をアナログ電圧信号として電圧計１７に出力さ
れる。
【００５２】さらに、電圧計１７により、光の強度やス
ペクトル分布に応じたアナログ電圧信号が対応する電圧
レベルの電位として表示される。次いで、電圧計１７か
らアナログ電圧信号が波形表示装置１９に出力され、電
圧の出力レベルが波形として波形表示装置１９の画面上
に表示される。
ペクトル分布に応じたアナログ電圧信号が対応する電圧
レベルの電位として表示される。次いで、電圧計１７か
らアナログ電圧信号が波形表示装置１９に出力され、電
圧の出力レベルが波形として波形表示装置１９の画面上
に表示される。
【００５３】被測定デバイス１５が複数の出力端子を有
する場合は、測定を行う出力端子毎に、出力端子に対応
した光検出器１４をあらかじめ接続しておく。そして、
切替装置１８を切り替えることにより、測定すべき被測
定デバイス１５の出力端子と電圧計１７との接続を切り
替えて測定を順次行う。
する場合は、測定を行う出力端子毎に、出力端子に対応
した光検出器１４をあらかじめ接続しておく。そして、
切替装置１８を切り替えることにより、測定すべき被測
定デバイス１５の出力端子と電圧計１７との接続を切り
替えて測定を順次行う。
【００５４】本第２の実施の形態によれば、本第１の実
施の形態の効果に加えて、光学部品テスタの画面に上記
の任意の端子のアナログ電圧信号の出力レベルを波形表
示させることにより、アライメント調整の際に使用する
デジボルやレコーダ等などの切替やつなぎ換えをする必
要がなく、作業効率が上がる。また、光学特性の測定の
際にも、光学部品テスタの画面上に任意の出力端子のア
ナログ電圧信号の出力レベルを波形表示できるので、外
付けのデジボルやレコーダ等を取り付けずにアライメン
ト状態を監視できる。
施の形態の効果に加えて、光学部品テスタの画面に上記
の任意の端子のアナログ電圧信号の出力レベルを波形表
示させることにより、アライメント調整の際に使用する
デジボルやレコーダ等などの切替やつなぎ換えをする必
要がなく、作業効率が上がる。また、光学特性の測定の
際にも、光学部品テスタの画面上に任意の出力端子のア
ナログ電圧信号の出力レベルを波形表示できるので、外
付けのデジボルやレコーダ等を取り付けずにアライメン
ト状態を監視できる。
【００５５】なお、上記の形態に示した光学部品測定装
置２の構成は一例であり、光学部品テスタ２０や光検出
器１４の設置台数等は本実施の形態の趣旨を逸脱しない
範囲で任意に変更可能である。
置２の構成は一例であり、光学部品テスタ２０や光検出
器１４の設置台数等は本実施の形態の趣旨を逸脱しない
範囲で任意に変更可能である。
【００５６】
【発明の効果】請求項１または５記載の発明の光学部品
測定装置、または、光学部品の試験方法によれば、光学
部品テスタに被測定デバイスと測定用光ファイバのアラ
イメントを調整する機能をさらに設けたので、測定の度
にアライメント調整装置から、光学部品テスタに被測定
デバイスを付け替える必要がなく、作業効率が上がり、
作業時間を短縮できる。
測定装置、または、光学部品の試験方法によれば、光学
部品テスタに被測定デバイスと測定用光ファイバのアラ
イメントを調整する機能をさらに設けたので、測定の度
にアライメント調整装置から、光学部品テスタに被測定
デバイスを付け替える必要がなく、作業効率が上がり、
作業時間を短縮できる。
【００５７】請求項２記載の発明の光学部品測定装置に
よれば、被測定デバイスが複数の出力端子を有する場
合、あらかじめ各出力端子とそれぞれに光検出器を接続
しておくことができるので、測定毎に出力端子の接続を
変更する必要がなく、手間がかからず、作業時間を短縮
できる。
よれば、被測定デバイスが複数の出力端子を有する場
合、あらかじめ各出力端子とそれぞれに光検出器を接続
しておくことができるので、測定毎に出力端子の接続を
変更する必要がなく、手間がかからず、作業時間を短縮
できる。
【００５８】請求項３記載の発明の光学部品測定装置に
よれば、切替装置によって、容易に任意の光検出器と電
圧計の接続を切り替えることができるので、電圧計を光
検出器の数に対応させて備えたり、測定毎に接続を変更
する必要がなく、コスト及び手間を省き、作業時間も短
縮できる。
よれば、切替装置によって、容易に任意の光検出器と電
圧計の接続を切り替えることができるので、電圧計を光
検出器の数に対応させて備えたり、測定毎に接続を変更
する必要がなく、コスト及び手間を省き、作業時間も短
縮できる。
【００５９】請求項４記載の発明の光学部品測定装置に
よれば、光学部品テスタの画面に任意の端子のアナログ
信号の出力レベルを表示させることができるので、アラ
イメント調整の際に使用するデジボルやレコーダ等など
の切替やつなぎ換えをする必要がなく、作業効率が上が
る。
よれば、光学部品テスタの画面に任意の端子のアナログ
信号の出力レベルを表示させることができるので、アラ
イメント調整の際に使用するデジボルやレコーダ等など
の切替やつなぎ換えをする必要がなく、作業効率が上が
る。
【００６０】また、光学特性の測定の際にも、光学部品
テスタの画面上に任意の出力端子のアナログ信号出力レ
ベルを表示させることができるので、外付けのデジボル
やレコーダ等を用いずにアライメント状態を監視するこ
とができる。
テスタの画面上に任意の出力端子のアナログ信号出力レ
ベルを表示させることができるので、外付けのデジボル
やレコーダ等を用いずにアライメント状態を監視するこ
とができる。
【図１】本発明を適用した第１の実施の形態の光学部品
測定装置１の要部構成を示すブロック図。
測定装置１の要部構成を示すブロック図。
【図２】本発明を適用した第２の実施の形態の光学部品
測定装置２の要部構成を示すフロック図。
測定装置２の要部構成を示すフロック図。
【図３】従来のアライメント調整装置１の要部構成を示
すブロック図。
すブロック図。
１、２ 光学部品測定装置 １０、２０ 光学部品テスタ １１ 可変波長光源 １２、１０２ 入力用光ファイバ １３、１０３ 出力用光ファイバ １４ 光検出器 １５、１０５ 被測定デバイス １６、１００ アライメント調整装置 １７、１０６ 電圧計 １８ 切替装置 １９ 波形表示装置 １０１ 光源 １０４ 光パワーメータ
Claims (5)
- 【請求項１】測定用光源からの測定用光信号を被測定光
学部品へ入力し、この被測定光学部品から出力される光
出力信号を測定する光学部品測定装置において、 前記被測定光学部品から出力される光出力信号を測定す
る測定手段と、 前記被測定光学部品の入力端子に接続され、前記測定用
光信号を当該被測定光学部品に入力する第１の光ファイ
バと、 前記被測定光学部品の出力端子に接続され、前記被測定
光学部品から出力された光出力信号を前記測定手段に伝
送する第２の光ファイバと、 前記測定手段により測定される光信号レベルが最大とな
るように、前記第１の光ファイバ及び前記第２の光ファ
イバと前記被測定光学部品の各接続部の相対位置を調整
する位置調整手段と、 を備えたことを特徴とする光学部品測定装置。 - 【請求項２】前記被測定光学部品は複数の出力端子を有
し、 前記測定手段は、前記被測定光学部品の複数の出力端子
から出力される各光出力信号をそれぞれ検出する複数の
光検出器と、これら複数の光検出器に接続される測定器
とを備え、 前記被測定光学部品の複数の出力端子と前記複数の光検
出器との間をそれぞれ前記第２の光ファイバにより接続
することを特徴とする請求項１記載の光学部品測定装
置。 - 【請求項３】前記測定手段は、前記測定器に対して前記
複数の光検出器を切り替えて接続させる切換手段をさら
に備えることを特徴とする請求項２記載の光学部品測定
装置。 - 【請求項４】前記測定手段は、前記測定器における測定
結果を表示する表示装置をさらに備えることを特徴とす
る請求項３記載の光学部品測定装置。 - 【請求項５】測定用光源からの測定用光信号を被測定光
学部品へ入力し、この被測定光学部品から出力される光
出力信号を測定する光学部品の試験方法であって、 前記被測定光学部品の入力端子に接続される第１の光フ
ァイバを介して前記測定用光信号を当該被測定光学部品
へ入力し、 前記被測定光学部品の出力端子に接続される第２の光フ
ァイバを介して前記被測定光学部品から出力された光出
力信号を伝送し、 前記第２の光ファイバにより伝送される光出力信号をも
とに前記被測定光学部品から出力される光出力信号を測
定し、 測定される光出力信号レベルが最大となるように、前記
第１の光ファイバ及び前記第２の光ファイバと前記被測
定光学部品の各接続部の相対位置を調整すること、 を特徴とする光学部品の試験方法。
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