JP5237526B2 - 光導波路の損失測定方法 - Google Patents

光導波路の損失測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5237526B2
JP5237526B2 JP2005272856A JP2005272856A JP5237526B2 JP 5237526 B2 JP5237526 B2 JP 5237526B2 JP 2005272856 A JP2005272856 A JP 2005272856A JP 2005272856 A JP2005272856 A JP 2005272856A JP 5237526 B2 JP5237526 B2 JP 5237526B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical waveguide
measured
light
measuring elements
loss
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2005272856A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007085799A (ja
Inventor
眞治 橋本
博之 柳生
徹 中芝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2005272856A priority Critical patent/JP5237526B2/ja
Publication of JP2007085799A publication Critical patent/JP2007085799A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5237526B2 publication Critical patent/JP5237526B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Description

本発明は、光導波路を有する可撓性の被測定物について、被測定物を所定の曲率半径で屈曲させた状態で、光導波路の光導波損失を測定する方法に関するものである。
クラッド層1とクラッド層1よりも屈折率の高いコア層2とから形成される光導波路3が可撓性を有するものである場合、光導波路3の光導波性能を評価するにあたっては、このような光導波路3を有する可撓性の被測定物4を所定の曲率半径で屈曲させた状態で、光導波損失を測定することが必要である。
そしてこのように所定の曲率半径で屈曲させた状態で光導波路3の光導波損失を測定する方法としては、社団法人 日本プリント回路工業会が平成16年5月に定めたJPCA規格 JPCA−PE02−05−01Sがある(非特許文献1参照)。
この規格によれば、図6(a)に示すように、光導波路3を有する被測定物4の中央付近を円筒状治具11に押し当て、この円筒状治具11の半径によって曲げの曲率半径を規定しながら90度曲げた状態で、あるいは図6(b)に示すように、光導波路3を有する被測定物4をU字状に屈曲して平行な平板状治具12の間に配置し、平板状治具12間の距離で曲げ径を規定して180度曲げた状態で、受発光装置を光導波路3の露出する端部に突き当て、光導波路3の一方の端部から光を入射させると共に他方の端部から光を出射させ、光の透過損失を検出することによって、光導波路3の光導波損失を測定するようにしている。またJPCA規格ではないが、円柱治具に光導波路3を1回巻き付けた状態で、同様にして光導波損失を測定するというアルファ(α)曲げという方法もある。
JPCA規格 JPCA−PE02−05−01S「高分子光導波路の試験方法」社団法人 日本プリント回路工業会、平成17年5月発行
しかしながら図6(a)の方法では、被測定物4を正確に90度曲げ、かつ被測定物4の直線部を保持するための機構が複雑となるとともに、光導波路3の端部に受発光装置を突き当てて光の強度を測定する際に、受発光装置の光の軸が90度で交差することになるので、光学系が複雑化するものであった。また、光導波路3の曲がり角度が1直角だけであるので、曲がり損失が小さい光導波路3では光導波損失の測定値が非常に小さくなり、測定精度が不充分になるものであった。
また図6(b)の方法では、各平板状治具12の内面に被測定物4が密着しているので、光導波路3の端部が2枚の平板状治具12の内側にあると、光導波路3の端部に受発光装置を位置合わせして対向設置することが困難になるものであった。さらに光導波路3の端部が平板状治具12の外方に出ている場合でも、光が入出力する光導波路3の端部間の距離が狭いので、受発光装置とその保持治具がぶつかり合わないよう設置するのが困難になるという問題を有するものであった。また、光導波路3の曲がり角度が2直角であるので、上記図6(a)の方法よりは光導波損失の測定精度を改善することができるが、曲がり損失がより小さい光導波路3では、測定精度が不充分になるものであった。
さらに、アルファ曲げの方法では、曲がり角度を4直角とることができるので、曲がり損失が小さい光導波路3においても高い測定精度を実現できるものの、光導波路3がファイバー状の場合は光導波路3に捻りが加わらないよう設置に工夫が必要であり、また光導波路3が厚みに比べて幅が著しく広いフィルム状の場合は、円柱治具に対して斜めに巻き付けることになり、フィルム幅が広くなるほどフィルムの曲がり径が円柱径よりも大きくなり、円柱径だけではフィルムの曲がり径を規定できないという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、簡易な方法で4直角分の曲げ角度を実現することができ、光導波損失の測定精度を向上することができると共に、測定に必要な受発光装置の設置が容易になる、光導波路の曲がり状態での光導波損失測定方法を提供することを目的とするものである。
本発明の請求項1に係る光導波路の損失測定方法は、クラッド層1とクラッド層1よりも屈折率の高いコア層2とを備えて形成されるフィルム状光導波路3を有する可撓性の被測定物4を、所定の曲率半径で屈曲させた状態で、フィルム状光導波路3の光導波損失を測定する方法であって、フィルム状光導波路3におけるクラッド層1とコア層2とがいずれも樹脂の層から形成されたものであり、上記の所定の曲率半径に合わせた半径を有する円柱状測定子5a,5b,5cを3個、各円柱状測定子5a,5b,5cの中心軸が同一平面上において平行に配置されるように並設し、被測定物4を各隣合う円柱状測定子5a,5b,5cの間に通して、中央の円柱状測定子5aの円周の1/2に、両側の円柱状測定子5b,5cの円周の1/4にそれぞれ接触させるように、被測定物4を円柱状測定子5a,5b,5cの間に架け渡すと共に被測定物4を隣合う円柱状測定子5a,5b,5cで挟み込むことによって、被測定物4を3個の円柱状測定子5a,5b,5cにセットし、前記両側の円柱状測定子5a,5b,5cに接触させた被測定物4の、該円柱状測定子5a,5b,5cと反対側の表面に、平面状治具15の平面部を押し当てて、被測定物4の両端部を同一平面上で反対方向を向くようにして、両端部が直線状になるように被測定物4を保持し、この状態で被測定物4のフィルム状光導波路3に光を通過させて光の透過損失を測定することを特徴とするものである。
また請求項2の発明は、請求項1において、被測定物4を3個の円柱状測定子3a,3b,3cにセットした状態で、被測定物4の端部に露出するフィルム状光導波路3の二つの端部に対向させてそれぞれ受発光装置6を配置すると共にフィルム状光導波路3を通して光を結合させることによって、光の透過損失を測定することを特徴とするものである。
また請求項3の発明は、請求項1において、フィルム状光導波路3のコア層2に光路を偏向させる偏向器7を設けた被測定物4を3個の円柱状測定子3a,3b,3cにセットした状態で、光路が偏向される側において二つの偏向器7に対向させてそれぞれ受発光装置6を配置すると共にフィルム状光導波路3を通して発光・受光させることによって、光の透過損失を測定することを特徴とするものである。
本発明によれば、3個の円柱状測定子5a,5b,5cに被測定物4をセットすることによって、中央の円柱状測定子5aで被測定物4を2直角の角度で、両側の円柱状測定子5b,5cで被測定物4をそれぞれ1直角ずつ曲げることができ、フィルム状光導波路3を4直角分の曲げ角度で曲げた状態で光導波損失を測定することができるものであり、測定精度を向上することができるものである。しかも円柱状測定子5a,5b,5cへの被測定物4のセットは、平行に配置した3個の円柱状測定子5a,5b,5cに被測定物4を通して挟み込むだけでよく、簡易な方法で測定を行なうことができると共に、フィルム状光導波路3の両端部は相互に反対方向を向くことになるので、測定に必要な受発光装置の設置が容易になるものである。
以下、本発明を実施するための最良の形態を説明する。
光導波路3は一般に、クラッド層1の内部にクラッド層1よりも屈折率の高いコア層2を設けて形成されるものであり、本発明において測定の対象とする、光導波路3を有する被測定物4としては、クラッド層1及びコア層2の断面が円形の光ファイバーや、その光ファイバーをシート状物に接着あるいは埋め込んだ形の光ファイバーシート、更に、コア層2の断面が矩形や台形など、円形ではないポリマ光導波路や、その光導波路をシート状物に接着あるいは埋め込んだ形の光導波路付き基板など、可撓性を有するものであれば制限されることなく被測定物4とすることができるものである。
特に、クラッド層1とコア層2が共に透明樹脂の層で形成される光導波路3を被測定物4として用いるのが好ましい。クラッド層1やコア層2を形成する樹脂としては、一般的な熱可塑性樹脂や、硬化性樹脂や、珪素等の金属元素と有機成分が分子内で複合化された有機無機ハイブリッドと呼ばれるものなど用いることができるものである。ここで、ガラス系の光ファイバは細いためにある程度の可撓性を持っているが、4直角分の曲げ角度で、また小さい曲率半径で曲げようとすると破壊され易いので、本発明の測定方法に適用するのは好ましくない。一方、樹脂で形成された光導波路3は、4直角分の曲げ角度で曲げても、また小さい曲率半径で曲げても、容易に破壊されることはないので、本発明の測定方法に適用する被測定物4として好ましいものである。
図1は上記のような光導波路3を有する可撓性の被測定物4を所定の曲率半径で4直角分曲げた状態で、光導波路3の光導波損失を測定する方法の一例を示すものであり、被測定物4を曲げる曲率半径と同じ半径を有する3個の円柱状測定子5a,5b,5cを用いる。そして、この3個の円柱状測定子5a,5b,5cを、各円柱状測定子5a,5b,5cの中心軸が一つの平面上において平行になるように、並設し、被測定物4を各隣合う円柱状測定子5a,5b,5cの間に通して、被測定物4を3本の円柱状測定子5a,5b,5cの間に架け渡し、この状態で3本の円柱状測定子5a,5b,5cを相互に押し付け合うようにして、被測定物4を隣合う円柱状測定子3本の円柱状測定子5a,5b,5cで挟み込むことによって、中央の円柱状測定子5aの一方側の外周面に沿わせて円周の1/2に接触させると共に、両側の円柱状測定子5b,5cの他方側の外周に沿わせて円周の1/4にそれぞれ接触させる。
このようにして被測定物4を3個の円柱状測定子3本の円柱状測定子5a,5b,5cにセットするものであり、中央の円柱状測定子5aで被測定物4を2直角の角度で、両側の円柱状測定子5b,5cで被測定物4をそれぞれ1直角ずつ曲げることができ、被測定物4の一方の端から他方の端までの間で、光導波路3を4直角分の曲げ角度で曲げることができるものである。このとき必要に応じて、図1に示すように、両側の円柱状測定子5b,5cに接触させた被測定物4の、円柱状測定子5b,5cと反対側の表面に、平面状治具15の平面部を押し当てることによって、両側の円柱状測定子5b,5cの外方へ突出する被測定物4の両端部が直線状になるように保持するのが好ましく、被測定物4の両端部を同一平面上で反対方向を向くようにすることができるものである。
しかして、上記のように被測定物4を3個の円柱状測定子5a,5b,5cにセットした状態で、被測定物4の一方の端部に位置する光導波路3の端部から光を入射させると共に被測定物4の他方の端部に位置する光導波路3の端部から光を出射させるようにして光導波路3に光を通過させ、光の通過損失を計測することによって、光導波路3が4直角で曲がった状態での全損失(挿入損失ともいう)を測定することができるものである。そして事前に、被測定物4を真っ直ぐにして、光導波路3が真っ直ぐな状態での全損失を測定しておき、曲がった状態での全損失との差を求めることで、円柱状測定子5a,5b,5cの曲率半径で4直角曲げた光導波路3における、曲がりによる光導波損失を求めることができるものである。尚、光導波路3は円柱状測定子5a,5b,5cの中心軸と直交する方向に配置されている必要はなく、円柱状測定子5a,5b,5cの中心軸と斜めに交差するように配置されていても、また曲がって蛇行などしていてもよい。
図2は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、光導波路3のコア層2の両端面が被測定物4の両端部において露出するものについて、光導波路3の曲がりによる光導波損失を測定するようにしたものである。3個の円柱状測定子5a,5b,5cへの被測定物4のセットは上記と全く同様にして行なわれるものであり、そして、被測定物4の両端部に露出する光導波路3の各端面に対向させて受発光装置6が配置してある。受発光装置6は発光装置6aと受光装置6bからなるものであり、発光装置6aを光導波路3の一方の端部の端面に接触又は近接させると共に受光装置6bを光導波路3の他方の端部の端面に接触又は近接させ、光導波路3を通して受発光装置6の光を結合させるようにしてある。光導波路3の両端部は相互に反対方向を向いているので、受発光装置6の設置が容易になるものである。
ここで、発光装置6aとしては、発光ダイオードやレーザダイオードなどの発光素子そのものを用いることができるが、発光素子から光を導く光ファイバ(レンズ付きも含む)であってもよく、また発光素子からの空間光を集光するレンズであってもよい。発光装置6aが発光素子や光ファイバである場合は、光のロスを抑えるために、光導波路3のコア層2の端面に出来るだけ近づけるか接触させる必要があり、発光装置6aが集光レンズである場合は、その焦点距離に応じて1〜2cm程度の近接で光導波路3に光を入射させることができる。
また受光装置6bとしては、フォトダイオードやフォトトランジスタなどの受光素子を用いることができるが、受光素子に光を導く光ファイバ(レンズ付きも含む)であってもよく、また受光素子へ光を集光するレンズであっても良い。受光装置6bが受光素子や光ファイバである場合は、光のロスを抑えるために、光導波路3のコア層2の端面に出来るだけ近づけるか接触させる必要があり、受光装置6bが集光レンズの場合は、その焦点距離に応じて1〜2cm程度の近接で、光導波路3からの出射光を受光装置6bに受光することができる。
また、平面状治具15を押し当てて被測定物4の両端部の直線部分を保持する場合には、図2に示すように、平面状治具15の端部から被測定物4の両端部が外方へ突出する程度に配置すると、光導波路3の平面状治具15から外方へ飛び出す両端面に対して受発光装置6を近接あるいは接触させて位置合わせすることが容易になるので、好ましい。
そして、発光装置6aから光導波路3の一方の端部に光を入射させると共に、光導波路3を通過した光を光導波路3の他方の端部から出射させて受光装置6bに受光させ、入射光の強度と出射光の強度の差を光の通過損失として計測することによって、光導波路3が4直角で曲がった状態での全損失を測定することができるものである。そして事前に、被測定物4を真っ直ぐにして、光導波路3が真っ直ぐな状態での全損失を受発光装置6で同様にして測定しておき、曲がった状態での全損失との差を求めることで、円柱状測定子5a,5b,5cの曲率半径で4直角曲げた光導波路3における、曲がりによる光導波損失を求めることができるものである。
図3は本発明の実施の形態の他の一例を示すものであり、光導波路3の両端部のコア層2に偏向器7を設け、光導波路3の長手方向に対して光路を偏向させた状態で、光導波路3に光を入射・出射させるようにしたものについて、光導波路3の曲がりによる光導波損失を測定するようにしたものである。このように偏向器7で光路を偏向させることによって、光導波路3の長手方向と垂直な方向での被測定物4の表面を通して、光導波路3に光を入射・出射させることができるものであり、被測定物4の表面において光導波路3の両端部に設けた各偏向器7に対向する位置に、受発光装置6を接触又は近接させて配置することができるものである。受発光装置6の設置は、このように被測定物4の広い表面に配置して容易に行なうことができるものである。
ここで偏向器7はマイクロミラーやグレーティングなどで形成されるものであり、光導波路3を通過する光の進行方向を曲げることができるものである。設計によって光の曲がり角度を変えることができるが、偏向器7の主な使用目的は、偏向器7の直上に表面実装型の受発光素子6を搭載できるようにすることにあるので、光を曲げる角度は90度が好ましい。図3の実施の形態では、光導波路3の同じ面に向かって光路を曲げるように偏向器7を形成したが、逆の面に向かって光路を曲げるように偏向器7を形成してもよい。また、可撓性を持つ何らかの基板に、光導波路3が一体化されていて、かつ、その基板が光導波路3のコア層2を導通する光の波長に於いて透明性の高いものである場合には、この基板を透過する方向に偏向器7で光路を曲げるようにしてもよい。
また受発光装置6としては上記のような発光装置6a及び受光装置6bを用いることができるものであり、発光装置6aが発光素子や光ファイバである場合は、光のロスを抑えるために、偏向器7の真上の被測定物4の表面に出来るだけ近づけるか接触させる必要があり、発光装置6aが集光レンズである場合は、その焦点距離に応じて1〜2cm程度の近接で偏向器7に光を入射させることができる。受光装置6bが受光素子や光ファイバである場合は、光のロスを抑えるために、偏向器7の真上の被測定物4の表面に出来るだけ近づけるか接触させる必要があり、受光装置6bが集光レンズの場合は、その焦点距離に応じて1〜2cm程度の近接で、偏向器7からの出射光を受光装置6bに受光することができる。
被測定物4は上記と同様にして、3本の円柱状測定子5a,5b,5cにセットされるものであり、このとき偏向器7を設けた光導波路3の両端部が両側の円柱状測定子5b,5cより外方へ突出するように、被測定物4のセットを行なうものである。そして、発光装置6aから一方の端部の偏向器7に光を入射させると、光路が偏向されて光導波路3内を光が通過し、他方の端部の偏向器7で光路が偏向されて光導波路3から光が出射して、受光装置6bで受光されるものであり、入射光の強度と出射光の強度の差を光の通過損失として計測することによって、光導波路3が4直角で曲がった状態での全損失を測定することができるものである。そして事前に、被測定物4を真っ直ぐにして、光導波路3が真っ直ぐな状態での全損失を受発光装置6で同様にして測定しておき、曲がった状態での全損失との差を求めることで、円柱状測定子5a,5b,5cの曲率半径で4直角曲げた光導波路3における、曲がりによる光導波損失を求めることができるものである。
尚、上記の図2及び図3の実施の形態のものを併用することも可能である。すなわち、光導波路3の一方の端部の端面を被測定物4の端部において露出させ、この露出する光導波路3の端面に受発光装置6を図2のように対向配置すると共に、光導波路3の他方の端部に偏向器7を設け、この偏向器7に対向させて受発光装置6を図3のように配置し、これらの受発光装置6で光導波路3の光導波損失を測定することができるものである。
次に、本発明を実施例によって具体的に説明する。
(実施例1)
直径240μmのコア層2と、直径250μmのクラッド層1からなるプラスチック光ファイバー(三菱レイヨン(株)製「SK−10」)を、光導波路3を有する被測定物4として用い、長さ10cmにカットした。
そしてまず、この10cmのプラスチック光ファイバAを平板の表面に粘着テープで直線状に貼り付け、プラスチック光ファイバAの一方の端部に露出したコア層2に、コア径50μmの光ファイバーをマッチングオイルを介して接続し、またプラスチック光ファイバAの他方の端部に露出したコア層2に、マッチングオイルを介してコア径500μmの光ファイバーを通してパワーメータを接続した。そして波長850nmの光をコア径50μmの光ファイバーを通してプラスチック光ファイバAのコア層2に入射させ、出射する光の強度をパワーメータで測定し、光導波損失を評価したところ0.4dBであった。
次に、直径10mm長さ5cmのピンゲージを3本、円柱状測定子5a,5b,5cとして用い、図4に示すように、クリップ17で3本の円柱状測定子5a,5b,5cの両端部を挟むことによって、各円柱状測定子5a,5b,5cが同一平面上において平行に配置されるようにし、隣合う円柱状測定子5a,5b,5c間にプラスチック光ファイバAを通して、3本の円柱状測定子5a,5b,5c間の距離がプラスチック光ファイバAの厚みになるまで押し付けて固定した。そして、平面状治具15の上に、傾きを防止する目的でプラスチック光ファイバAと同じ光ファイバA′を左右2本、粘着テープで貼り付け、その間の中央部分に、クリップ17で固定したプラスチック光ファイバAを置き、上記と同様にして波長850nmの光での、光導波損失を測定したところ0.7dBであった。
この実施例1のように、可撓性を有する光ファイバについて、曲率半径5mmで4直角分曲がった状態での、曲がり損失を簡易に測定することができるものである。
(実施例2)
光導波路3のコア層2にマイクロミラーによる偏向器7を設けた可撓性を有する被測定物4を以下のようにして作製した。
まず両面に12μm厚の銅箔を貼った50μm厚のポリイミド基板の、片側の銅箔をエッチング除去し、その面に20μm厚のエポキシ樹脂フィルム材料を真空ラミネートすると共にエポキシ樹脂フィルム材料の全面を硬化させた後、酸素プラズマ処理して可撓性を有するクラッド層1を形成した。次に、このグラッド層1の表面に80μm厚の光硬化性エポキシ樹脂フィルム材料を真空ラミネートし、パターン露光して露光部分を硬化させると共に、現像を行なって未硬化部分を除去することによって、幅80μmの直線状のコア層2を形成した。次に、5000番の砥粒の先端角90度のブレードが装着されたダイシングマシンで、コア層2の長手方向と直角にコア層2の表面から85μmの深さまでブレードを入れ、10cmの間隔で2本のマイクロミラー用V溝を形成した。さらにこのV溝の表面に研削による凹凸をエキシマレーザーでスムージングしたのち、V溝部分のみにメタルマスク越しに金を真空蒸着することよって、マイクロミラーによる偏向器7をコア層2に設けた。この後、コア層2の上から上記のクラッド層1の表面に、酸素プラズマ処理された12μm厚ポリイミドフィルムをベースフィルムとする100μm厚エポキシ樹脂フィルム材料を真空ラミネートし、エポキシ樹脂フィルム材料を全面硬化することによって、クラッド層1を形成し、二層のクラッド層1間にコア層2を設けると共にコア層2に偏向器7を設けた光導波路3を形成した(図3の光導波路3の構成参照)。そして銅箔にプリント配線加工を行ない、偏向器7の直上部には銅箔が残らないようなパターンで、電気回路を形成して、被測定物4を作製した。
そしてまず、この被測定物4を電気回路形成面を上にして平板の表面に粘着テープで貼り付け、被測定物4の一方の偏向器7の箇所において被測定物4の電気回路形成面に垂直にコア径50μmの光ファイバー(発光装置6a)をマッチングオイルを介して接続し、また被測定物4の他方の偏向器7の箇所において被測定物4の電気回路形成面に垂直にマッチングオイルを介してコア径500μmの光ファイバー(受光装置6b)を通してパワーメータを接続した(図5(c)参照)。そして波長850nmの光をコア径50μmの光ファイバーを通して光導波路3に入射させると共に、出射する光の強度をパワーメータで測定し、光導波損失を評価したところ3.5dBであった。
次に、直径4mm長さ5cmのピンゲージを3本、円柱状測定子5a,5b,5cとして用い、図5(a)(b)に示すように、クリップ17で3本の円柱状測定子5a,5b,5cの両端部を挟むことによって、各円柱状測定子5a,5b,5cが同一平面上において平行に配置されるようにし、隣合う円柱状測定子5a,5b,5c間に被測定物4を通して、3本の円柱状測定子5a,5b,5c間の距離が被測定物4の厚みになるまで押し付けて固定した。そして、平面状治具15の上に、傾きを防止する目的で被測定物4と同じ被測定物4′を左右2枚、粘着テープで貼り付け、その間の中央部分に、クリップ17で固定した被測定物4を置き、図5(c)に示すように、上記と同様にして波長850nmの光での、光導波損失を測定したところ3.9dBであった。
この実施例2のように、可撓性を有する光導波路形成板について、曲率半径2mmで4直角分曲がった状態での、曲がり損失を簡易に測定することができるものである。
そして上記の実施例1,2を基にして、円柱状測定子5a,5b,5cへの被測定物4の設置や被測定物4の非曲がり部分を直線に保持する工程、損失を測定する工程等を、自動化することで、検査工程を自動化することも可能である。
本発明の実施の形態の一例を示す正面図である。 本発明の他の実施の形態の一例を示す正面図である。 本発明のさらに他の実施の形態の一例を示す正面図である。 実施例1の工程を説明するものであり、(a)は平面図、(b)は正面図である。 実施例2の工程を説明するものであり、(a)は平面図、(b)は側面図、(c)は正面図である。 従来例を示すものであり、(a)(b)はそれぞれ正面図である。
符号の説明
1 クラッド層
2 コア層
3 光導波路
4 被測定物
5a,5b,5c 円柱状測定子
6 受発光装置
7 偏向器

Claims (3)

  1. クラッド層とクラッド層よりも屈折率の高いコア層とを備えて形成されるフィルム状光導波路を有する可撓性の被測定物を、所定の曲率半径で屈曲させた状態で、フィルム状光導波路の光導波損失を測定する方法であって、フィルム状光導波路におけるクラッド層とコア層とがいずれも樹脂の層から形成されたものであり、上記の所定の曲率半径に合わせた半径を有する円柱状測定子を3個、各円柱状測定子の中心軸が同一平面上において平行に配置されるように並設し、被測定物を各隣合う円柱状測定子の間に通して、中央の円柱状測定子の円周の1/2に、両側の円柱状測定子の円周の1/4にそれぞれ接触させるように、被測定物を円柱状測定子の間に架け渡すと共に被測定物を隣合う円柱状測定子で挟み込むことによって、被測定物を3個の円柱状測定子にセットし、前記両側の円柱状測定子に接触させた被測定物の、該円柱状測定子と反対側の表面に、平面状治具の平面部を押し当てて、被測定物の両端部を同一平面上で反対方向を向くようにして、両端部が直線状になるように被測定物を保持し、この状態で被測定物のフィルム状光導波路に光を通過させて光の透過損失を測定することを特徴とする光導波路の損失測定方法。
  2. 被測定物を3個の円柱状測定子にセットした状態で、被測定物の端部に露出するフィルム状光導波路の二つの端部に対向させてそれぞれ受発光装置を配置すると共にフィルム状光導波路を通して光を結合させることによって、光の透過損失を測定することを特徴とする請求項1に記載の光導波路の損失測定方法。
  3. フィルム状光導波路のコア層に光路を偏向させる偏向器を設けた被測定物を3個の円柱状測定子にセットした状態で、光路が偏向される側において二つの偏向器に対向させてそれぞれ受発光装置を配置すると共にフィルム状光導波路を通して結合させることによって、光の透過損失を測定することを特徴とする請求項1に記載の光導波路の損失測定方法。
JP2005272856A 2005-09-20 2005-09-20 光導波路の損失測定方法 Active JP5237526B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005272856A JP5237526B2 (ja) 2005-09-20 2005-09-20 光導波路の損失測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005272856A JP5237526B2 (ja) 2005-09-20 2005-09-20 光導波路の損失測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007085799A JP2007085799A (ja) 2007-04-05
JP5237526B2 true JP5237526B2 (ja) 2013-07-17

Family

ID=37972928

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005272856A Active JP5237526B2 (ja) 2005-09-20 2005-09-20 光導波路の損失測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5237526B2 (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61128134A (ja) * 1984-11-26 1986-06-16 Sumitomo Electric Ind Ltd 単一モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置
JPS61239137A (ja) * 1985-04-15 1986-10-24 Sumitomo Electric Ind Ltd 単一モ−ド光フアイバの特性測定装置
JPH04249732A (ja) * 1990-12-29 1992-09-04 Furukawa Electric Co Ltd:The 光ファイバの光伝送損失測定装置
JP2001042171A (ja) * 1999-07-28 2001-02-16 Canon Inc アクティブ光配線装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007085799A (ja) 2007-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2304483B1 (en) Retro-reflective structures
JP4577376B2 (ja) 光導波路の製造方法
US8023790B2 (en) Optical waveguide film with mark for positioning and method for producing the same
KR101425298B1 (ko) 광콜리메이터 및 그를 이용한 광커넥터, 및, 광콜리메이터용 유지부재
KR20120085943A (ko) 패터닝된 클래딩을 구비한 평면 도파관 및 그 제조 방법
JP2008216905A (ja) 光モジュール及び光導波路の製造方法
JP2007178852A (ja) 光配線基板及びこれを用いた光モジュール
JPWO2017170689A1 (ja) 光ファイバアレイ
KR101760156B1 (ko) 광 콜리메이터 및 이를 이용한 광 커넥터
JP2006184754A (ja) 光導波路、光ファイバモジュール、光ファイバ実装治具及び光ファイバ実装方法
JP5237526B2 (ja) 光導波路の損失測定方法
JP5611160B2 (ja) 端面近接多芯光ファイバーの製造方法およびその製造装置
JP2009156640A (ja) 導波路のねじり試験機及び導波路のねじり試験方法
US20190018190A1 (en) Optical waveguide sheet, optical transmission module, and manufacturing method for an optical waveguide sheet
JP3501789B2 (ja) ランドマークを利用した平面光導波路素子
JP2006201499A (ja) 光通信モジュール
JP5973748B2 (ja) ファイバ湾曲センサ
JP5767057B2 (ja) ファイバーセンサー
KR102662752B1 (ko) 광 커넥터 모듈 및 광 도파로 기판의 제조 방법
JP2014194473A (ja) 光導波路及び光導波路の検査方法
JP4649369B2 (ja) 光ファイバアレイの製造方法
CN113227861B (zh) 具有硅透镜的多通道模式转换器
JPWO2005052663A1 (ja) 光素子結合構造体
JP5895727B2 (ja) コネクタおよびその製造方法
JP2009300562A (ja) 多チャンネル直角光路変換素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080610

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100713

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101124

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110117

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111004

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111219

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20111222

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20120111

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20120210

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130201

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130329

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160405

Year of fee payment: 3