JPH0250412B2

JPH0250412B2 -

Info

Publication number: JPH0250412B2
Application number: JP22880084A
Authority: JP
Inventors: Takashi Ide
Original assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date: 1984-10-30
Filing date: 1984-10-30
Publication date: 1990-11-02
Also published as: JPS61107129A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、単一モード光フアイバのカツトオフ
波長を高精度に容易かつ省力的に測定するカツト
オフ波長測定装置に関する。

従来の技術 (1) 単一モード光フアイバのカツトオフ波長の測
定法「曲げ法」の原理単一モード光フアイバにとつて、カツトオフ
波長は、２つ以上のモードを伝播させることな
くシングルモードで作用する限界波長を示す重
要な特性パラメータであるので、このカツトオ
フ波長を精度良く測定することは非常に重要で
ある。そのカツトオフ波長を求めるため従来広
く用いられている方法の１つは、「光通信ハン
ドブツク」1982年９月１日、朝倉書店、第437
頁、図5.4.29に示されるような「曲げ法」とよ
ばれるもので、その典型的な測定装置を第１２
図に示す。第１２図に示すように、適当な長さ
の被測定光フアイバ１を波長可変光源２と光検
出器３の間に結合する。波長可変光源２と光検
出器３とは、制御／演算装置４に接続されてい
る。

まず、第１２図に実線で示すように、被測定
光フアイバ１に曲げを与えない状態で、制御／
演算装置４の制御により波長可変光源２から出
射する光の波長を或る範囲例えば0.95〜1.45μ
ｍの範囲で掃引し、各波長での被測定光フアイ
バ１からの出力光パワーP₁（λ）を光検出器３
で検出し、制御／演算装置４に記憶させる。

次に、被測定光フアイバ１と波長可変光源２
および光検出器３との結合状態に変化を与えな
いようにして被測定光フアイバ１を第１２図に
破線１Ａで示すように適当な径のマンドレル５
に巻きつける。この状態で再度、制御／演算装
置４の制御により波長可変光源２から出射する
光の波長を同一の範囲で掃引し、各波長での被
測定光フアイバ１からの出力光パワーP₂（λ）
を光検出器３で検出し、制御／演算装置４に記
憶させる。

このようにして記憶させた被測定光フアイバ
に曲げを与えない状態および曲げを与えた状態
での光出力の比、例えば、Ｒ（λ）＝10log（P₁（λ）／P₂（λ））…
……(1) を制御／演算装置４により演算し、第１３図に
示すように曲げ損失の波長依存性すなわち波長
特性を示すグラフを作成する。この波長特性か
らカツトオフ波長は、曲げ損失の立上り点とし
て求めることができる。

(2) 単一モード光フアイバのカツトオフ波長の測
定法「曲げ法」の問題しかしながら、上記「曲げ法」による従来の
単一モード光フアイバのカツトオフ波長測定装
置は、測定精度の確保および測定の作業性の点
で下記のような問題があつた。すなわち、カツ
トオフ波長の測定精度は、被測定光フアイバに
曲げを与える際の両端の結合状態の変化に影響
を受けやすいので、両端の結合状態に変化を与
えないよう注意を必要としていた。なぜなら
ば、結合状態が変化すれば、被測定光フアイバ
の波長依存性と関係なく、光検出器に入力され
る光量が変化するからである。

上記「曲げ法」にあつて、被測定光フアイバ
の両端を固定して「光フアイバに曲げを与えな
い状態」から、「光フアイバに曲げを与える状
態」に置くべく、被測定光フアイバをマンドレ
ルに巻きつけると、被測定光フアイバには、そ
の中心軸を中心とした回転すなわち「ひねり」
が必然的に生じてしまう。一般に被覆された光
フアイバはひねりに対して強い復元力を持つの
で、そのひねりは被測定光フアイバの両端の結
合状態に変化を与え、測定精度が悪化した。

更に、被覆された光フアイバは曲げに対して
も復元力を持つので、単にマンドレルに巻いた
だけでは姿勢が不安定なため、被測定光フアイ
バを例えば粘着テープで止める等の固定処理が
必要とされ、作業性が悪かつた。

また、上記した方法において、「光フアイバ
に曲げを与えない状態」の再現性及び安定性が
悪いために、その測定の信頼性に問題があつ
た。その第１の理由は、従来、「光フアイバに
曲げを与えない状態」の定義が不明確であつた
ために、測定団体更には測定者に光フアイバを
どのような状態に置くかの判断に委ねられてい
たので、測定団体または測定者ごとに、更に
は、測定ごとに、「光フアイバに曲げを与えな
い状態」が異なつていたことである。その第２
の理由は、第１２図のような被測定光フアイバ
を垂らした状態では、フアイバの状態が少し変
化するだけで測定値が大幅に変化するためであ
る。

そこで、CCITT（国際電信電話諮問委員会）
は、1984年５月の“Revised Version of
Recommendation G652 Characteristics of
Ａ Single Mode Fiber Cable”P15〜18にお
いて、曲率半径が大きい（例えば、直径280mm）
の曲げを与えることによりこれを「光フアイバ
に曲げを与えない状態」に代え、更に、曲率半
径が小さい（例えば、直径60mm）の曲げを与え
て、従来法で言う「光フアイバに曲げを与えた
状態」に代え、この２つの状態における波長依
存性の比較を従来法と同様の方法で行ない、カ
ツトオフ波長を求めることを勧告している。更
に、曲率半径の大きい曲げを与える際には、そ
の曲率半径よりも小さい曲率半径の曲げを被測
定光フアイバには決して与えず、しかも曲げが
与えられる部分は、丁度上記した大きい曲率半
径をもつ円一周分であり、また、曲率半径の小
さい曲げを与える際には、その小さい曲率半径
よりも小さい曲率半径の曲げを被測定光フアイ
バに決して与えず、しかも曲げが与えられる部
分はその小さい曲率半径をもつ円一周分以上で
あることが必要かつ充分な測定条件としてい
る。

このような測定方法は、「光フアイバに曲げ
を与えない状態」の再現性及び安定性を高め且
つ確実なものとすることができ、「光フアイバ
に曲げを与えない状態」の再現性及び安定性の
欠如による測定の信頼性の低さを解決すること
ができた。

発明が解決しようとする問題点しかしながら、CCITTが勧告した方法におい
ても、両端を固定された被測定光フアイバを所定
の半径の円に沿つて１回巻く必要があるために、
被測定光フアイバのひねりの問題と光フアイバの
復元力の問題は解決していない。すなわち、被測
定光フアイバに加えられたひねりにより、被測定
光フアイバの両端の結合状態が変化し、また、被
覆された光フアイバの曲げに対する復元力のため
に、単にマンドレルに巻いただけでは姿勢が不安
定となるので、被測定光フアイバを例えば粘着テ
ープで止める等の固定が必要とされる。

また、近来、光フアイバの生産は、急速な技術
進歩と共に大量かつ高品質のものが得られるよう
になつた。これに伴ない製品の検査は、高精度か
つ高能率に行なう要求が高まり、特に単一モード
光フアイバに関しては、その最も重要な測定項目
の一つであるカツトオフ波長測定について上記の
要求に応えることが急がれている。

そこで、本発明は、測定の際、被測定フアイバ
に対しひねりを与えることなく、かつ安定した姿
勢で曲げを与えることができ、しかも、被測定光
フアイバの保持及び曲げを簡単に行なうこともで
き、これにより測定精度の確保と共に測定の作業
性が向上かつ省力化される単一モード光フアイバ
のカツトオフ波長測定装置を提供するせんとする
ものである。

問題点を解決するための手段すなわち、本発明によるならば、被測定単一モ
ード光フアイバの一端に接続されるようになされ
且つ様々な波長の光を発生することができる光源
と、該光フアイバの他端に接続される光検出器と
を具備し、前記光フアイバに曲率半径の大きい曲
げを与えた時と曲率半径の小さい曲げを与えた時
に前記光フアイバの他端における効出力の比較か
ら、該光フアイバのカツトオフ波長を測定する単
一モード光フアイバのカツトオフ波長測定装置に
おいて、前記光源と前記光検出器との間の前記被
測定光フアイバにそれぞれ異なる曲率半径の円弧
状の曲げを与える２つの光フアイバ曲げ装置を備
え、それら光フアイバ曲げ装置の内の大きな曲率
半径の曲げを与える第１の光フアイバ曲げ装置
は、同一曲率半径の円弧状曲面をそれぞれ持つ少
なくとも２つの大曲率半径曲げ付与部材を有し、
それら大曲率半径曲げ付与部材の内の少なくとも
１つの第１の大曲率半径曲げ付与部材は、前記光
フアイバに曲げを加え始める点での曲げの接線方
向に移動可能であり、前記少なくとも２つの大曲
率半径曲げ付与部材は、前記被測定光フアイバを
Ｓ字状に曲げ、且つ該光フアイバに与えられる最
小曲率半径が前記円弧の半径に等しく、更に、該
円弧の半径で曲げられる部分の長さが、該円弧の
半径をもつ円一周分に等しくなるように配置され
る。

作用上記したような単一モード光フアイバのカツト
オフ波長測定装置を使用しての「光フアイバに曲
げを与えない状態」の測定は、次のようになされ
る。まず、所定の長さの被測定光フアイバの両端
をそれぞれ光源と光検出器に接続し、上記した第
２の曲げ装置の第１及び第２の大曲率半径曲げ付
与部材にＳ字状に巻き付ける。そして、被測定光
フアイバを緊張状態に置くように、第１の光フア
イバ曲げ装置の第１の大曲率半径曲げ付与部材を
上記接線方向に移動させる。

かくして、被測定光フアイバは、光源と光検出
器との間で、緩みなくＳ字状に曲げられ、そし
て、Ｓ字状の曲げにおける曲率半径は、大曲率半
径曲げ付与部材の円弧状曲面の半径に等しく、且
つ、そのＳ字状の曲げによつて円弧の曲率半径で
曲げられる部分の長さが、該円弧の半径をもつ円
一周分に等しい。

従つて、被測定光フアイバには、上記した曲率
の円筒に巻き付けたときと同じ量の曲げがかけら
れる。しかし、被測定光フアイバはＳ字状に曲げ
られているので、被測定光フアイバがひねられる
すなわち中心軸を中心として回転させられること
はない。それ故、光フアイバのひねりにより被測
定光フアイバと光源または光検出器との結合状態
が変化する問題は発生しない。

更に、第１の光フアイバ曲げ装置の第１の大曲
率半径曲げ付与部材が上記接線方向に移動させら
れて、被測定光フアイバが適当な軽い緊張状態に
置かれるので、被測定光フアイバの復元力に対し
て被測定光フアイバを曲げ付与部材に粘着テープ
などで止める必要なく、測定時に被測定光フアイ
バを非常に安定な状態に維持することができる。
また、粘着テープなどで止めるような作業は全く
必要なくなるので、作業が簡単になる。

実施例以下、添付図面を参照して本発明による単一モ
ード光フアイバのカツトオフ波長測定装置の実施
例を説明する。

第１図及び第２図は、本発明による単一モード
光フアイバのカツトオフ波長測定装置の１つの実
施例の概略構成図であり、第１図は被測定光フア
イバに大きな曲率半径の曲げを与えている状態を
示し、第２図は被測定光フアイバに小さな曲率半
径の曲げを与えている状態を示している。

第１図及び第２図を参照するならば、図示の単
一モード光フアイバのカツトオフ波長測定装置
は、制御／演算装置１０と、その制御／演算装置
１０により制御されて光の波長を変えることがで
きる波長可変光源１２と、制御／演算装置１０に
出力が接続された光検出器１４とを有している。
波長可変光源１２は、波長可変半導体レーザで構
成することも、また、白色光源と分光器とから構
成し、その分光器が制御／演算装置１０により制
御されるようにしてもよい。その光源１２に接続
された測定器側光フアイバ１６は、ホルダ１８に
保持されている。一方、光検出器１４に延びる測
定器側光フアイバ２０も、ホルダ２２に保持され
ている。

それら測定器側光フアイバホルダ１８及び２２
に対向する位置に、被測定光フアイバホルダ２４
及び２６が配置されるようになされている。これ
らホルダ２４及び２６は、被測定光フアイバ２８
に或る程度の引張り力が作用してもホルダから抜
け落ちない程度の力で被測定光フアイバ２８を保
持するようになされている。また、これらホルダ
２４及び２６は、被測定光フアイバ２８の光軸に
直角で互いに直交するｘ方向及びｙ方向に、更に
は、被測定光フアイバ２８の光軸の同一のｚ方向
に位置の微調整できるようになされている。

被測定光フアイバホルダ２４及び２６に両端が
保持される被測定光フアイバ２８に、大きな曲率
半径の曲げを与える第１の光フアイバ曲げ装置
と、小さな曲率半径の曲げを与える第２の光フア
イバ曲げ装置とが、被測定光フアイバホルダ２４
と２６との間に配置されている。

被測定光フアイバ２８に大きな曲率半径の曲げ
を与える第１の光フアイバ曲げ装置は、例えば直
径280mmの円筒状の大曲率半径曲げ付与部材すな
わち大ローラ３０及び３２を有している。これら
大ローラ３０及び３２は、被測定光フアイバホル
ダ２４及び２６に保持されている被測定光フアイ
バの部分の延長線上に周面が接するするように配
置され、それにより、被測定光フアイバ２８の被
測定光フアイバホルダ２４及び２６に保持されて
いる部分と、被測定光フアイバの大ローラ３０及
び３２とホルダ２４及び２６との間にそれぞれ位
置する部分２８Ａ及び２８Ｂとの境で被測定光フ
アイバが曲がらないようにしている。

更に、大ローラ３０及び３２は、被測定光フア
イバ２８の部分２８Ａ及び２８Ｂが平行関係にあ
り、且つ、大ローラ３０及び３２との間に位置す
る被測定光フアイバ２８の部分２８Ｃが、すなわ
ち、大ローラ３０及び３２に共通する接線が、上
記した被測定光フアイバ２８の部分２８Ａ及び２
８Ｂと平行にあるように位置付けられている。

そして、大ローラ３０及び３２の一方、例え
ば、大ローラ３０は、位置が移動しないように固
定保持されている。他方、例えば、大ローラ３２
は、その中心軸３２Ａが、被測定光フアイバ２８
のホルダ２６に保持されている部分の上記した延
長線の方向、すなわち、大ローラ３２により被測
定光フアイバ２８が曲げられ始める点Ｐでの接線
方向に、平行に延在するガイド３４の案内溝３４
Ａに嵌合支持され、その案内溝３４Ａに沿つて摺
動可能になされている。

なお、大ローラ３２の軸３２Ａと案内溝３４Ａ
との摺動の際の摩擦抵抗は、測定者には自由に大
ローラ３２を摺動させることができる反面、被測
定光フアイバの弾力の力では大ローラ３２が摺動
しない程度になされている。従つて、大ローラ３
２が矢印Ａの方向に移動しても、被測定光フアイ
バ２８を緊張状態に保つ限り、被測定光フアイバ
２８の部分２８Ａ，２８Ｂ及び２８Ｃの直線性及
び相互の平行関係は維持され、それら部分に曲が
りが発生することはない。

被測定光フアイバ２８に対して小さな曲率半径
の曲げを与える第２の光フアイバ曲げ装置は、被
測定光フアイバホルダ２４と大ローラ３０との間
に配置された、例えば直径60mmの円筒状の小曲率
半径曲げ付与部材すなわち小ローラ３６及び３８
を有している。

これら小ローラ３６及び３８は、その間に、緊
張状態にある被測定光フアイバ２８の部分２８Ａ
を置き、且つ、一方、例えば、小ローラ３６が、
その緊張状態にある被測定光フアイバ部分２８Ａ
に接するように配置されている。その小ローラ３
６は、位置が移動しないように固定保持される。
他方、例えば、小ローラ３８は、小さな曲率半径
の曲げを与えないときは、第１図に示すように、
緊張状態にある被測定光フアイバ部分２８Ａから
離れた第１の位置にある。しかし、このとき、小
ローラ３８は、被測定光フアイバ２８に対して曲
げを与えなければ、被測定光フアイバ２８の部分
２８Ａに接していてもよい。

この小ローラ３８は、小ローラ３６の中心軸３
６Ａを中心にして公転するように、その小ローラ
３６の中心軸３６Ａに枢着されたアーム４０に中
心軸３８Ａが取り付けられている。かくして、小
ローラ３８が、第２図において矢印４２で示すよ
うに、右回りに公転すると、被測定光フアイバ２
８を小ローラ３６と３８との回りに巻き付ける結
果となる。このようにして、小ローラ３６及び３
８との巻き付けられている被測定光フアイバの長
さの合計が小ローラの周長以上になる位置が、小
ローラ３８の第２の位置である。

以上のような単一モード光フアイバのカツトオ
フ波長測定装置は、次のように使用される。単一
モード光フアイバのカツトオフ波長の「曲げ法」
による測定は、一連の動作、すなわち、“被測定
光フアイバのセツト及び大きな曲率半径の曲げの
付与”、“被測定光フアイバへの小さな曲率半径の
曲げの付与”といつた順序で行なわれるので、一
連の動作を追つて説明する。

まず、測定者は、小ローラ３８を第１図に示す
ような第１の位置に置き、更に、移動可能な大ロ
ーラ３２を第１図において点線で示すように右の
方へ移動させて置く。その状態で、所定の長さ例
えば２ｍの被測定フアイバ２８を大ローラ３０及
び３２の回りに巻き付け、その両端をそれぞれホ
ルダ２４および２６にセツトし、次いで、大ロー
ラ３２を第１図において左の方へ移動させて、過
大な引張り力が作用しない程度の緊張状態に被測
定光フアイバ２８を置く。

その結果、被測定光フアイバ２８の部分２８
Ａ，２８Ｂ及び２８Ｃは、直線状になり且つ互い
に平行関係となるので、被測定光フアイバ２８に
は、大ローラ３０及び３２によりそれぞれの外周
円の半分の円の曲げが付与され、合計で大ローラ
の外周円１つ分の曲げが被測定光フアイバ２８に
付与される。以上の操作において、被測定光フア
イバ２８はＳ字状に曲げられるので、「ひねり」
がかかることはない。従つて、「ひねり」によつ
てホルダ２４および２６による被測定光フアイバ
２８の保持状態が変化することはない。

この状態において、光源１２から特定の波長の
光を出力させて、光検出器１４により検出させ
る。そして、光検出器１４の出力が最大になるよ
うに、ホルダ２４及び２６をそれぞれｘ、ｙ、ｚ
方向に微調整する。その結果、測定器側光フアイ
バ１６及び２０の端部と、被測定光フアイバ２８
の端部との間隔が、数μｍ〜数10μｍの間隔に調
整され、且つ、測定器側光フアイバ１６及び２０
の光軸と、被測定光フアイバ２８の光軸が一致さ
せられる。

この状態（第１図）において、制御／演算装置
１０の制御の下に、光源１２から光を所定の波長
範囲、例えば、1.00〜1.40μｍの範囲にわたつて
掃引させ、被測定光フアイバ２８を伝送され且つ
光検出器１４により検出された各波長での光パワ
ーP₁（λ）を制御／演算装置１０に記憶させる。

そのようにして、大きい曲率半径の曲げを与え
たときの光出力の測定が終了する。

次に、被測定光フアイバ２８に緩みが生じない
ように、大ローラ３４を第１図において右の方へ
移動させつつ、小ローラ３８を第２図の矢印Ｂに
示すように公転させて、第２図に示す第２の位置
へ移動させる。その結果、大ローラ３０及び３２
によつて被測定光フアイバ２８に付与される曲げ
は、大ローラの円周より短くなるが、小ローラ３
６及び３８に巻き付けられている被測定光フアイ
バの長さの合計が小ローラの周長以上になる。

この状態（第２図）において、制御／演算装置
１０の制御の下に、光源１２から光を同一の波長
範囲、すなわち1.00〜1.40μｍの範囲にわたつて
掃引させ、被測定光フアイバ２８を伝送され且つ
光検出器１４により検出された各波長での光パワ
ーP₂（λ）を制御／演算装置１０に記憶させる。

このように、２種類の状態での被測定光フアイ
バ２８を伝播した光の出力の波長特性が測定され
る。そして、制御／演算装置１０により、上記し
た式(1)によりＲ（λ）が演算され、該被測定フア
イバのカツトオフ波長が測定される。

以上の実施例において、大ローラ３０及び３２
並びに小ローラ３６及び３８は、それぞれの中心
軸を中心にして回転しないようになされている。
このような大ローラ及び小ローラが自転しない
と、小ローラ３８を第１図に示す位置から第２図
に示す位置に移動させるときなど、被測定光フア
イバ２８がそれらローラの周面に沿つて移動する
場合、被測定光フアイバ２８がローラの周面に対
して擦られる。そのため、被測定光フアイバがナ
イロンなどで２次被覆を施された心線の場合は、
ローラ周面の材質、形状、表面処理を適当なもの
として摩擦抵抗を小さくでき、被測定光フアイバ
に対して無用なストレスは小さくできる。しか
し、被測定光フアイバがシリコン樹脂などで１次
被覆を施されただけの素線の場合は、摩擦抵抗が
大きいために、被測定光フアイバに対して相当な
ストレスが作用し、伝送特性を変化させてしまう
恐れがある。

そこで、大ローラ３０及び３２並びに小ローラ
３６及び３８を、それぞれその中心軸を中心に自
由に自転できるように構成する。このように大ロ
ーラ及び小ローラを構成するならば、小ローラ３
８を第１図に示す位置から第２図に示す位置に移
動させるときなどのように被測定光フアイバ２８
がそれらローラの周面に沿つて移動しようとする
場合、被測定光フアイバが接触しているローラが
その被測定光フアイバの移動と共に回転して、被
測定光フアイバ２８がローラの周面に対して擦ら
れることはない。それ故、被測定光フアイバが素
線であつても、被測定光フアイバに対して無用な
ストレスが作用して伝送特性が変化してしまう恐
れはなくなる。従つて、被測定光フアイバが素線
の場合であつても、十分に正確なカツトオフ波長
の測定ができる。

更に、上記した実施例において、大きな曲率半
径の曲げを与える第１の曲げ装置は、一対の大ロ
ーラ３０及び３２から構成されている。しかし、
それらローラが曲げ付与部材と機能している部分
は、被測定光フアイバに接触している部分であ
る。それ故、大きな曲率半径の曲げを与える手段
は、第１図及び第２図に示すような円筒状ローラ
の形をとる必要はなく、例えば、第３図に示すよ
うに、断面半円形の大曲率半径曲げ付与部材３０
Ａ及び３２Ａで構成することもできる。

この第３図の例においては、被測定光フアイバ
２８のホルダ２４及び２６に保持されている部分
の延長線上に、大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及
び３２Ａにより被測定光フアイバ２８が曲げを加
えられ始める点Ｐ１及びＰ２の接線が位置するよ
うに、更に、大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び
３２Ａの間の被測定光フアイバ部分２８Ｃがそれ
ぞれ大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び３２Ａに
曲げを加えられ始める点Ｐ３及びＰ４での接線が
同一線上に位置するように、断面半円形の大曲率
半径曲げ付与部材３０Ａ及び３２Ａは配置されて
いる。従つて、被測定光フアイバ２８の部分２８
Ａ，２８Ｂ及び２８Ｃは、直線状に保持され且つ
互いに平行関係にあり、更に、大曲率半径曲げ付
与部材３０Ａ及び３２Ａの背平面に対して直角に
位置している。そして、大曲率半径曲げ付与部材
３０Ａ及び３２Ａは、第３図に矢印で示すよう
に、上記した接線方向と平行な方向に移動可能さ
れるか、または、いずれか一方の曲げ付与部材の
みが移動可能にされる。

このような位置関係に大曲率半径曲げ付与部材
３０Ａ及び３２Ａ並びにホルダ２４及び２６を設
定した場合、大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び
３２Ａの断面半円形曲面によつて与えられた曲げ
以外の曲げは、被測定光フアイバ２８には一切か
からない。そして、大曲率半径曲げ付与部材３０
Ａ及び３２Ａによつて与えられる曲げは、それぞ
れ円の半周分の曲げあり、合計でその円の円周一
周分の曲げをフアイバに与えることができる。

更に、断面半円形の曲げ付与部材の一方を、第
４図に示すように、断面1/4円形の大曲率半径曲
げ付与部材３０Ｂ及び３０Ｃに分割することもで
きる。この場合、大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ
及び３０Ｃの間の被測定光フアイバ部分２８Ｄが
それぞれ大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ及び３０
Ｃに曲げを加えられ始める点Ｐ５及びＰ６での接
線が同一線上に位置するようになされる以外、第
３図の配置と同様に配置される。このように配置
することにより、大曲率半径曲げ付力部材３０
Ｂ，３０Ｃ及び３２Ａの断面円弧面によつて被測
定光フアイバ２８に与えられる曲げ以外の曲げ
が、被測定光フアイバに作用することはない。

このように構成する場合、断面1/4円形の大曲
率半径曲げ付与部材３０Ｂ及び３０Ｃ間の被測定
光フアイバに対して小さい曲率半径の曲げ付与す
るように、大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ及び３
０Ｃ間に上記した第２の光フアイバ曲げ装置を配
置することもできる。

なお、大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ及び３０
Ｃによつて被測定光フアイバ２８に付与される曲
げが合計1/2円周になれば、大曲率半径曲げ付与
部材３０Ｂ及び３０Ｃの湾曲面の断面は、1/4円
にする必要はなく、合計1/2円となように適当に
割り振ることもできる。

いずれにしても、第４図に示すように、第１の
光フアイバ曲げ装置を、３つの大曲率半径曲げ付
与部材で構成したり、または更に４以上の大曲率
半径曲げ付与部材で構成することにより、単一モ
ード光フアイバのカツトオフ波長測定装置の設計
の自由度を高くすることができる。反面、断面が
分割円の形の大曲率半径曲げ付与部材は、自転さ
せることができないので、心線状態の単一モード
光フアイバのカツトオフ波長の測定に適してい
る。

以上の実施例において、小さい曲率半径の曲げ
は被測定光フアイバに与える曲げ装置は、一方が
他方を中心として公転するようになされた一対の
小ローラ３６及び３８から構成されている。しか
し、構成はそれに限定されるものではない。

例えば、第５図に示すように、被測定光フアイ
バに付与したい曲げの曲率半径の円の外周に合計
が等しい断面円弧の３つの小曲率半径曲げ付与部
材４２，４４，４６から構成する。小曲率半径曲
げ付与部材４２及び４４は、断面1/4円の湾曲面
をそれぞれ有し、その湾曲面が互いに向き且つ被
測定光フアイバ２８にも向くようにして被測定光
フアイバ２８の一方の側に配置されている。そし
て、それら小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４
の湾曲面の被測定光フアイバ側の角は、被測定光
フアイバ２８に曲げを与えないように接してお
り、また、小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４
の間隔Ｄは、上記した曲率半径の２倍になつてい
る。

残りの小曲率半径曲げ付与部材４６は、断面1/
２円の湾曲面を有し、その湾曲面が被測定光フア
イバ２８に面するように、被測定光フアイバ２８
に対して小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４と
反対側に配置されている。そして、その小曲率半
径曲げ付与部材４６は、小さい曲率半径の曲げを
被測定光フアイバ２８に与えるときは、第５図ｂ
に示すように、それぞれの円弧の曲率中心が一直
線に並ぶ位置あるいはその点よりも奥まで、被測
定光フアイバ２８を押して小曲率半径曲げ付与部
材４２及び４４の間に侵入するようになされてい
る。

かくして、小曲率半径曲げ付与部材４２，４
４，４６が第５図ａの位置にあるとき、被測定光
フアイバ２８には、小さい曲率半径の曲げは付与
されず、第５図ｂにあるとき、被測定光フアイバ
２８に小さい曲率半径の曲げが付与される。その
ときの曲げは、小曲率半径曲げ付与部材４６の侵
入移動量を適当にとることにより、小曲率半径曲
げ付与部材４２及び４４がそれぞれ上記した曲率
半径の円の1/4周分の曲げを与え、小曲率半径曲
げ付与部材４６が同一の円の1/2周分の曲げを被
測定光フアイバに与えることができる。

しかし、第５図の構成では、小曲率半径曲げ付
与部材４２，４４，４６はその曲げ付与面の向き
を一定に維持するように自転しないようにしなけ
ればならない。そのため、小曲率半径曲げ付与部
材４６が小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４の
間に侵入するとき、被測定光フアイバからそれら
の表面で擦られる問題がある。

そこで、小曲率半径曲げ付与部材４２，４４及
び４６の代わりに、第６図に示すように、断面円
形の小曲率半径曲げ付与部材すなわち小ローラ４
２Ａ，４４Ａ，４６Ａを使用し、それら小ローラ
４２Ａ，４４Ａ，４６Ａを自由に自転できるよう
にする。

このように構成することにより、小さい曲率半
径の曲げを付与するべく小ローラ４６Ａが第６図
に点線で示すように小ローラ４２Ａ，４６Ａ，４
４Ａの中心軸が一直線に並ぶ位置あるいはその点
より奥まで小ローラ４２Ａ及び４４Ａの間に侵入
するとき、被測定光フアイバ２８がそれら小ロー
ラの周面に対して相対移動する代わりに、小ロー
ラが回転する。従つて、被測定光フアイバ２８が
小ローラの周面で擦られることはないので、被測
定光フアイバに無用なストレスを作用させること
なく被測定光フアイバを曲げることができる。

更に、第７図に示すように、小ローラ４２Ａ，
４４Ａ，４６Ａに加えて、小ローラ４４Ｂと４６
Ｂを設けてもよい。このように構成して、第７図
に点線で示すように小ローラ４２Ａ，４６Ａ，４
４Ａ，４６Ｂ，４４Ｂの中心軸が一直線に並ぶ位
置あるいはその点より奥まで小ローラ４６Ａ及び
４６Ｂを小ローラ４２Ａ，４４Ａ及び４４Ｂの間
に侵入すると、被測定光フアイバ２８に対して、
小ローラの円周の２倍の曲げを付与することがで
きる。

以上のように第５図、第６図及び第７図に示す
ように、小さな曲率半径の曲げ付与装置を構成す
ると、第１図及び第２図に示す実施例の小さな曲
率半径の曲げ付与装置の可動部材の移動量に比較
して、可動部材の移動量を小さくすることができ
る。すなわち、小曲率半径曲げ付与部材４６，４
６Ａ，４６Ｂは、最少でその曲率半径の２倍の距
離移動するだけで、必要な小さな曲率半径の曲げ
を被測定光フアイバ２８に付与することができ
る。

上記した本発明による単一モード光フアイバの
カツトオフ波長測定装置の実施例においては、被
測定光フアイバ２８を緊張状態の調整及び維持
は、測定者が大ローラ３２をガイド３４に沿つて
摺動させることによつてなされている。しかし、
そのような操作をすること自体が煩雑である。ま
た、被測定光フアイバに与える緊張状態の程度す
なわち被測定光フアイバに作用させる引張り力
は、測定者の感覚に委ねられる結果となるので、
測定ごと異なることが避けられない。更に、その
引張り力は、被測定光フアイバが曲げ付与部材の
周囲で緩まない程度且つ被測定光フアイバの伝送
特性に影響を与えるほどのストレスが被測定光フ
アイバに作用しない程度に微妙に調整しなければ
ならないため、被測定光フアイバに作用させる引
張り力の調整が面倒である。なぜならば、引張り
力が大きいと、光フアイバにいわゆる側圧等の強
い力が加わり、被測定光フアイバの伝送特性を変
化させてしまうと共に、被測定光フアイバホルダ
での光フアイバの位置決めを狂わせたりする。

更に、上記したように光フアイバは曲げに対し
て復元力をもつので、被測定光フアイバを第１図
に示すようなカツトオフ波長測定装置にセツトす
る際、ただ単に曲げ付与部材に被測定光フアイバ
を当てるだけで曲げを加えたのでは、その部分か
ら滑つてしまう。そのため、被測定光フアイバを
第１図の大ローラの周囲に巻き付けて大ローラ３
２を摺動させ被測定光フアイバを緊張状態に置く
操作も要領良く実施する必要がある。

以上のような問題を解消する１つの手段とし
て、大ローラ３２のような大曲率半径曲げ付与部
材の移動可能方向で且つ被測定光フアイバに引張
り力を作用させる方向に、一定の引張り力を常時
作用させることが考えられる。

第８図は、そのような張力付与装置の１例を示
している。第８図において、図示されているロー
ラ４８は、第１図の大ローラ３２として使用可能
なローラである。しかし、大ローラ３２の軸３２
Ａが案内溝３４Ａに沿つて摺動可能になされてい
た代わりに、ローラ４８の中心軸４８Ａは、アー
ム５０の一端に回転自在に支持され、そのアーム
５０の他端には軸５０Ａが固定され、その軸５０
Ａは、移動台５２に回転自在に支持されている。

そして、アーム５０の途中には、比較的弱いコ
イルバネ５４の一端が接続され、そのコイルバネ
５４の他端は移動台５２に固定され、アーム５０
に第８図において矢印５６Ａの方向の回転力を作
用させている。更に、アーム５０と一緒に回転す
る軸５０Ａは、ポテンシヨメータ５８の回転軸に
接続されている。そのポテンシヨメータ５８の両
端面には一定の電圧が印加され、そのポテンシヨ
メータの可動端子の電圧を測定することにより、
アームの回転変位を知ることができる。

更に、移動台５２は、図示していない駆動装置
によつて、上記した大ローラの移動方向と平行に
ある案内６０に沿つて移動可能となつている。そ
して、上記したポテンシヨメータ５８の可動端子
からの電圧出力は、コンパレータ６２に供給さ
れ、基準電圧６４と比較され、そのコンパレータ
６２の出力が接続された駆動回路６６は、両電圧
の差が零となるように、上記した図示していない
駆動装置を動作させて移動台５２を案内６０に沿
つて第８図において右または左に変位させる。

以上のような張力付与装置は、次のように動作
する。ローラ４８が被測定光フアイバ２８により
第８図において矢印５６Ｂの方へ引つ張られる
と、アーム５０はコイルバネ５４に抗して時計方
向に回転する。その結果、ポテンシヨメータ５８
の出力電圧が変化、例えば低下し、その低下した
電圧を受けるコンパレータ６２は、駆動回路６６
を制御して移動台５２を矢印５６Ｂの方へ変位さ
せる。かくして、アーム５０は反時計方向に回転
し、ポテンシヨメータ５８の出力電圧は増大し、
その電圧が基準電圧と一致する点で移動台５２は
停止する。

一方、被測定光フアイバ２８が緩むと、コイル
バネ５４の力によりアーム５０は矢印５６Ａの方
向に回転し、その結果、ポテンシヨンメータ５８
の出力電圧が増大し、その増大した電圧を受ける
コンパレータ６２は、駆動回路６６を制御して移
動台５２を矢印５６Ａの方向に変位させる。かく
して、アーム５０は時計方向に回転し、ポテンシ
ヨメータ５８の出力電圧は低下し、その電圧が基
準電圧と一致する点で移動台５２は停止する。

以上のような動作において、ポテンシヨメータ
５８の出力電圧と基準電圧が一致するときのコイ
ルバネの伸び量は一定しており、平衡状態のとき
にコイルバネが発揮する引張り力は一定してい
る。そして、測定はその平衡状態のときに実施さ
れるので、測定時の被測定光フアイバに対する引
張り力を一定に維持することができる。従つて、
平衡状態のときにコイルバネが発揮する引張り力
が、被測定光フアイバを緊張状態に保持する必要
最低の力になるように調整する。

なお、アーム５０の回転角は、ポテンシヨメー
タに限らず、光学的なエンコーダなどを使用して
も検出することができる。

また、アーム５０の長さを非常に長くすれば、
移動台５２を動かさなくとも、ローラ４８をほぼ
直線状に変位させることができる。そして、コイ
ルバネ５４をアームの回転軸に可能な限り近ずけ
ることにより、アーム先端すなわちローラ４８の
変位量に比較してコイルバネの伸縮量を非常に小
さくできる。そのように構成する場合は、コイル
バネの伸び量を一定に保持する機構は省略でき
る。

更に、移動台５２が自動的に変位するようにす
る代わりに、測定者が移動台５２を変位させるよ
ようにしてもよい。

しかしながら、以上のような張力付与装置は、
機械構造が複雑になる上、電気的な制御装置が必
要である。それに対して、第９図に示すような張
力付与装置は、極めて簡単な構造により一定の張
力を付与することができる。

すなわち、第９図の張力付与装置は、一端が例
えば第１図の大ローラ３２の回転軸３２Ａに枢着
され、他端がドラム６８に固定されて密着渦巻き
状にきつく巻かれた薄板バネ７０で構成され、そ
のドラム６８は、固定点に回転可能に保持されて
いる。

このバネは、いわゆる「定荷重バネ」として一
般に知られているものである。簡単に説明する
と、薄板バネ７０に矢印７２の方向に引張り力を
加え引き出すと、ドラム６８は回転し、矢印７４
の方向に引張り力を生ずる。ドラム６８の回転を
自由にしておくと、ドラムは矢印７６の方向に回
転しようとして、常に矢印７４の方向に、薄板バ
ネ７０の引出し量に関係なく一定な張力が生ず
る。このように張力が一定になるのは、薄板バネ
に沿つた力は薄板バネが変形する部分７８でのみ
で生ずるからである。

第１０図及び第１１図は、本発明による単一モ
ード光フアイバのカツトオフ波長測定装置の別の
実施例を示す概略構成図であり、第１０図は被測
定光フアイバに大きな曲率半径の曲げを与えてい
る状態を示し、第１１図は被測定光フアイバに小
さな曲率半径の曲げを与えている状態を示してい
る。なお、第１図及び第２図に示した実施例と同
一の部分には、同一の参照番号を付して、同一部
分についての説明は原則として省略する。

第１図及び第２図に示した実施例と同様に、被
測定光フアイバ２８に大きな曲率半径の曲げを与
える第１の光フアイバ曲げ装置は、例えば直径
280mmの円筒すなわち大ローラ３０及び３２を有
している。これら大ローラ３０及び３２は、第１
図及び第２図に示した実施例と同様な位置関係に
配置されている。

そして、大ローラ３０及び３２の一方の大ロー
ラ３０は、位置が移動しないように固定保持さ
れ、更に、第１図及び第２図に示した実施例と異
なり、その軸３０Ａを中心に回転自在になされて
いる。

他方の大ローラ３２は、図示していないが、第
１図及び第２図に示した実施例と同様なガイドに
より、被測定光フアイバホルダ２６に保持されて
いる部分の上記した延長線の方向、すなわち、大
ローラ３２により被測定光フアイバ２８が曲げら
れ始める点での接線方向に平行な矢印Ａの方向に
移動可能になされている。しかし、第１図及び第
２図に示した実施例と異なり、大ローラ３２のガ
イドに沿つての摺動に際し摩擦抵抗は極めて小さ
いようにされ、更に、第９図に示したような「定
荷重バネ」で構成される張力付与装置８０が設け
られている。具体的には、第９図の薄板バネ７０
の先端が大ローラ３２の回転軸３２Ａに枢着さ
れ、ドラム６８が、大ローラ３２の被測定光フア
イバホルダ２６と反対側で大ローラ３２から離れ
た位置８２に回転自在に置かれている。そして、
その張力付与装置８０は、被測定光フアイバを緊
張状態に維持でき且つ測定に悪影響を与えない程
度の微小な、例えば10〜50ｇの間の一定値の張力
を発生するように設定される。

被測定光フアイバ２８に対して小さな曲率半径
の曲げを与える第２の光フアイバ曲げ装置は、第
６図に示す構成と同様に構成されている。従つ
て、同一参照番号を付して、説明は付加的な範囲
に止める。すなわち、小ローラ４２Ａ，４４Ａ及
び４６Ａは、被測定光フアイバホルダ２４と大ロ
ーラ３０との間に配置され、直径60mmの円筒で構
成されている。

以上のような第１０図及び第１１図に示すカツ
トオフ波長測定装置は、次のように使用される。

まず、測定者は、小ローラ４６Ａが第１０図に
示すような第１の位置にある状態で、所定の長さ
の被測定フアイバ２８を大ローラ３０及び３２の
回りに巻き付け、その両端をそれぞれホルダ２４
および２６にセツトする。その結果、被測定光フ
アイバ２８は、張力付与装置８０による上述した
引張り力によつて緊張状態に置かれ、被測定光フ
アイバ２８の部分２８Ａ，２８Ｂ及び２８Ｃは、
直線状になり且つ互いに平行関係となる。それ
故、被測定光フアイバ２８には、大ローラ３０及
び３２によりそれぞれの外周円の半分の円の曲げ
が付与され、合計で大ローラの外周円１つの分の
曲げが被測定光フアイバ２８に付与される。

この状態において、光源１０から特定の波長の
光を出力させて、光検出器１４により検出させ
る。そして、光検出器１４の出力が最大になるよ
うに、ホルダ２４及び２６をそれぞれｘ、ｙ、ｚ
方向に微調整する。

その状態（第１１図）において、制御／演算装
置１０の制御の下に、光源１２から光を所定の波
長範囲、例えば、第１図の実施例の場合と同様
に、1.00〜1.40μｍの範囲にわたつて掃引させ、
被測定光フアイバ２８を伝送され且つ光検出器１
４により検出された各波長での光パワーP₁（λ）
を制御／演算装置１０に記憶させる。

次いで、第１１図に示すように、小ローラ４２
Ａ，４４Ａ，４６Ａの中心が一直線に並ぶように
小ローラ４６Ａを小ローラ４２Ａと４４Ａとの間
に侵入させる。その際、小ローラ４２Ａ及び４４
Ａは回転し、小ローラ４６Ａの侵入の際のローラ
周面との相対移動などによる無理なストレスは被
測定光フアイバ２８に作用しない。また、被測定
光フアイバ２８は、小ローラ４２Ａ，４４Ａ，４
６Ａによつて引つ張られるため、大ローラ３２が
張力付与装置に抗して第１１図において右の方へ
移動する。しかし、張力付与装置は、一定したし
かも上述した程度の弱い張力しか被測定光フアイ
バに作用しないので、大ローラ３２の変位に際し
被測定光フアイバに過大の張力が作用したりする
ことはなく、また、被測定光フアイバの緊張状態
に変化はない。

かくして、大ローラ３０及び３２によつて被測
定光フアイバ２８に付与される曲げは、大ローラ
の円周より短くなるが、小ローラ４２Ａ，４４
Ａ，４６Ａによつて、合計が小ローラの周長と等
しい曲げが被測定光フアイバ２８に付与される。

この状態（第１１図）において、制御／演算装
置１０の制御の下に、光源１２から光を同一の波
長範囲、すなわち、1.00〜1.40μｍの範囲にわた
つて掃引させ、被測定光フアイバ２８を伝送され
且つ光検出器１４により検出された各波長での光
パワーP₂（λ）を制御／演算装置１０に記憶させ
る。

このように、２種類の状態での被測定光フアイ
バ２８の波長特性が測定される。そして、制御／
演算装置１０により、上記した式(1)によりＲ（λ）
が演算され、該被測定フアイバのカツトオフ波長
が測定される。

以上のような構成の単一モード光フアイバのカ
ツトオフ波長測定装置においては、上記した一連
の動作の間、大ローラ、小ローラは、なめらかに
回転し、且つ、張力付与装置が一定の張力を発生
しているので、被測定光フアイバにかかる張力は
一定に保たれ、且つ、その被測定光フアイバの動
きも滑らかである。また、本実施例のような小ロ
ーラの配置は、第１図及び第２図に示した実施例
に比較して、曲げによつて被測定光フアイバを引
つ張る量が少なく、また、常に小ローラ４２Ａ，
４４Ａに接した状態を保たれるので、被測定光フ
アイバの動きが安定である。更に、小さい曲率半
径の曲げを被測定光フアイバに付与する際に、動
く部材は小ローラ４６A1つであり、そして、そ
の移動量は、最小、小ローラの直径分程でよく合
理的である。また、小さい曲率半径の曲げを付与
する光フアイバ曲げ装置の占有スペースとして
も、小ローラ４つ分のスペースですみ、スペース
性がよいと言える。

なお、上記した実施例において、大きい曲率半
径と小さい曲率半径は、CC1TTの勧告に従い、
280mmと60mmとしているが、それぞれの値に限定
されるものではない。従つて、測定の要求に応じ
て、例えば大きい曲率半径を200mm〜400mmの範囲
から選択し、また、小さい曲率半径を50mm〜100
mmの範囲から選択してもよい。

発明の効果以上の説明から明らかなように、本発明による
単一モード光フアイバのカツトオフ波長測定装置
は、被測定光フアイバが、それぞれ曲げ状態に容
易に置かれ、且つ保持される。そして、幾何的に
大きな曲率半径の曲げを与える際は、その曲率半
径をもつ円一周分の曲げを光フアイバに与えるこ
とができ、小さな曲率半径の曲げを与える際に
は、その曲率半径をもつ円一周分以上の曲げを光
フアイバに与えることができる。一方、被測定光
フアイバは、１つの閉ループもつくることがなく
曲げ付与部材にセツトされ、そして、「光フアイ
バに曲げを与えない状態」から「光フアイバに曲
げを与える状態」へ移行するときにも、被測定光
フアイバに「ひねり」や緩みが生じることがな
く、１度のセツトにより被測定光フアイバに与え
た張力や姿勢が保たれたまま測定が行なえる。そ
のため、測定精度が向上すると共に作業性が改善
される。

また、カツトオフ波長測定装置の機械的部材の
動きを自動化すれば、セツトを一度行なえば終了
まで手を加えなくともよい。しかも、この自動化
は、曲げ付与部材を一カ所一定量移動させるだけ
でなく容易に行なえるので省人化につながり、工
業的に有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による単一モード光フアイバ
のカツトオフ波長測定装置の１つの実施例を示
す、被測定光フアイバに大きな曲率半径の曲げが
与えられている状態の概略構成図である。第２図
は、第１図の単一モード光フアイバのカツトオフ
波長測定装置の、被測定光フアイバに小さな曲率
半径の曲げが与えられている状態の概略構成図で
ある。第３図は、大きな曲率半径の曲げを与える
光フアイバ曲げ装置の構成の１例を示す概略図で
ある。第４図は、大きな曲率半径の曲げを与える
光フアイバ曲げ装置の構成の別の１例を示す概略
図である。第５図は、小さな曲率半径の曲げを与
える光フアイバ曲げ装置の構成の一例を示す概略
図であり、第５図ａはその小さな曲率半径の曲げ
を与えていない状態を示し、第５図ｂはその小さ
な曲率半径の曲げを与えている状態を示してい
る。第６図は、小さな曲率半径の曲げを与える光
フアイバ曲げ装置の構成の別の１例を示す概略図
である。第７図は、小さな曲率半径の曲げを与え
る光フアイバ曲げ装置の構成の更に別の１例を示
す概略図である。第８図は、大きな曲率半径の曲
げを与える光フアイバ曲げ装置の曲げ付与部材に
一定の引張り力を付与する張力付与装置の構成の
１例を示す概略図である。第９図は、大きな曲率
半径の曲げを与える光フアイバ曲げ装置の曲げ付
与部材に一定の引張り力を付与する張力付与装置
の構成の別の１例を示す概略図である。第１０図
は、本発明による単一モード光フアイバのカツト
オフ波長測定装置の別の１つの実施例を示す、被
測定光フアイバに大きな曲率半径の曲げが与えら
れている状態の概略構成図である。第１１図は、
第１０図の単一モード光フアイバのカツトオフ波
長測定装置の、被測定光フアイバに小さな曲率半
径の曲げが与えられている状態の概略構成図であ
る。第１２図は、「曲げ法」による単一モード光
フアイバのカツトオフ波長測定方法の基本構成を
示す概略図である。第１３図は、「曲げ法」によ
る単一モード光フアイバのカツトオフ波長測定に
よつて得られる測定データの一例を示すグラフで
ある。〔主な参照番号〕、１……被測定光フアイバ、
２……波長可変光源、３……光検出器、４……制
御／演算装置、５……マンドレル、１０……制
御／演算装置、１２……波長可変光源、１４……
光検出器、１６，２０……測定器側光フアイバ、
１８，２２……測定器側光フアイバホルダ、２
４，２６……被測定光フアイバホルダ、２８……
被測定光フアイバ、３０，３２……大ローラ（曲
げ付与部材）、３２Ａ……大ローラ３２の軸、３
４……ガイド、３４Ａ……ガイドの案内溝、３
６，３８……小ローラ（曲げ付与部材）、３６Ａ
……小ローラ３６の中心軸、４０……アーム、３
０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３２Ａ、……大曲率半径
曲げ付与部材、４２，４４，４６，４２Ａ，４４
Ａ，４６Ａ，４４Ｂ，４６Ｂ……小曲率半径曲げ
付与部材、４８……ローラ、４８Ａ……ローラ４
８の中心軸、５０……アーム、５０Ａ……アーム
５０の他端の軸、５２……移動台、５４……コイ
ルバネ、５８……ポテンシヨメータ、６０……案
内、６２……コンパレータ、６４……基準電圧、
６６……駆動回路、６８……ドラム、７０……薄
板バネ、８０……張力付与装置。

Claims

【特許請求の範囲】１被測定単一モード光フアイバの一端に接続さ
れるようになされ且つ様々な波長の光を発生する
ことができる光源と、該光フアイバの他端に接続
される光検出器とを具備し、前記光フアイバに曲
率半径の大きい曲げを与えた時と曲率半径の小さ
い曲げを与えた時に前記光フアイバの他端におけ
る光出力の比較から、該光フアイバのカツトオフ
波長を測定する単一モード光フアイバのカツトオ
フ波長測定装置において、前記光源と前記光検出
器との間の前記被測定光フアイバにそれぞれ異な
る曲率半径の円弧状の曲げを与える２つの光フア
イバ曲げ装置を備え、それら光フアイバ曲げ装置
の内の大きな曲率半径の曲げを与える第１の光フ
アイバ曲げ装置は、同一曲率半径の円弧状曲面を
それぞれ持つ少なくとも２つの大曲率半径曲げ付
与部材を有し、それら大曲率半径曲げ付与部材の
内の少なくとも１つの第１の大曲率半径曲げ付与
部材は、前記光フアイバに曲げを加え始める点で
の曲げの接線方向に移動可能であり、前記少なく
とも２つの大曲率半径曲げ付与部材は、前記被測
定光フアイバをＳ字状に曲げ、且つ該光フアイバ
に与えられる最小曲率半径が前記円弧の半径に等
しく、更に、該円弧の半径で曲げられる部分の長
さが、該円弧の半径をもつ円一周分に等しくなる
ように配置されていることを特徴とする単一モー
ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置。２前記第１の光フアイバ曲げ装置の少なくとも
前記第１の大曲率半径曲げ付与部材は、円筒形で
あり、円筒の対称軸を回転軸として回転可能とな
つていることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の単一モード光フアイバのカツトオフ波長測
定装置。３前記第１の光フアイバ曲げ装置の前記第１の
大曲率半径曲げ付与部材は、前記被測定光フアイ
バに曲げを与えるに際し、前記接線方向において
該第１の大曲率半径曲げ付与部材の該光フアイバ
が巻き付けられる側への向きに該第１の大曲率半
径曲げ付与部材に偏移力を作用させて該光フアイ
バに対して張力を与える張力付与装置が設けられ
ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項ま
たは第２項記載の単一モード光フアイバのカツト
オフ波長測定装置。４前記張力付与装置は、前記第１の光フアイバ
曲げ装置の前記第１の大曲率半径曲げ付与部材に
一端が取り付けられ、該第１の大曲率半径曲げ付
与部材の前記被測定光フアイバが巻き付けられる
側から前記接線方向に離れて位置付けられた回転
軸を中心にして回転自在なドラムに他端が取付け
られて渦巻き状に巻かれた薄板バネで構成されて
おり、薄板バネの引き出し量に関係なく一定の引
張り力を光フアイバに与えるようになされている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項から第３
項までのいずれかに記載の単一モード光フアイバ
のカツトオフ波長測定装置。５前記光フアイバ曲げ装置の内の小さな曲率半
径の曲げを与える第２の光フアイバ曲げ装置は、
該小さな曲率半径の円筒面を有する少なくとも２
つの円筒形の小曲率半径曲げ付与部材を有し、そ
れら小曲率半径曲げ付与部材の内の第１の小曲率
半径曲げ付与部材は、前記第１の光フアイバ曲げ
装置により前記被測定光フアイバに大きな曲率半
径の曲げが与えられるときに該光フアイバに対し
て曲げを与えないように該光フアイバに接する固
定位置に配置されなおり、前記小曲率半径曲げ付
与部材の内の第２の小曲率半径曲げ付与部材は、
前記第１の光フアイバ曲げ装置により前記被測定
光フアイバに大きな曲率半径の曲げのみが与えら
れるときには、前記被測定光フアイバに対して前
記第１の小曲率半径曲げ付与部材と反対側で、該
被測定光フアイバに対して曲げを与えないような
第１の位置をとり、前記被測定光フアイバに小さ
な曲率半径の曲げが与えられるときには、前記第
１の小曲率半径曲げ付与部材を中心として公転し
て、前記光フアイバを第１及び第２の小曲率半径
曲げ付与部材の周囲に巻き付ける第２の位置をと
るようになされており、その際、第２の光フアイ
バ曲げ装置によつて光フアイバに与えられる最小
曲率半径は、その小曲率半径曲げ付与部材の円筒
の半径に等しく、且つ該最小曲率半径の曲げを与
えられるフアイバの長さは、前記円筒の円一周分
と少なくとも等しくなるようになされていること
を特徴とする特許請求の範囲第１項から第４項ま
でのいずれかに記載の単一モード光フアイバのカ
ツトオフ波長測定装置。６前記第２の光フアイバ曲げ装置の前記第２の
小曲率半径曲げ付与部材は、円筒の対称軸を中心
にしてなめらかに自転可能となつていることを特
徴とする特許請求の範囲第５項記載の単一モード
光フアイバのカツトオフ波長測定装置。７前記光フアイバ曲げ装置の内の小さな曲率半
径の曲げを与える第２の光フアイバ曲げ装置は、
該小さな曲率半径の円弧面を有する少なくとも３
つの小曲率半径曲げ付与部材を有し、それら小曲
率半径曲げ付与部材の内の少なくとも２つの第１
の小曲率半径曲げ付与部材は、前記被測定光フア
イバに対して同じ側においてそれら小曲率半径曲
げ付与部材が与える曲率半径の倍の間隔をもつて
配置され且つ前記第１の光フアイバ曲げ装置によ
り前記被測定光フアイバに大きな曲率半径の曲げ
が与えられるときに該光フアイバに対して曲げを
与えないように該光フアイバに接するように位置
付けられており、前記少なくとも３つの小曲率半
径曲げ付与部材の内の残り第２の小曲率半径曲げ
付与部材は、前記第１の光フアイバ曲げ装置によ
り前記被測定光フアイバに大きな曲率半径の曲げ
のみが与えられるときには、前記光フアイバに対
して前記第１の小曲率半径曲げ付与部材の反対側
で該光フアイバに対して曲げを与えない第１の位
置をとり、前記被測定光フアイバに小さな曲率半
径の曲げが与えられるときには、前記第１の小曲
率半径曲げ付与部材の間に侵入した第２の位置を
とり、該第２の小曲率半径曲げ付与部材が前記第
２の位置にあるとき、前記第１の小曲率半径曲げ
付与部材の各々が前記小さい曲率半径の円の1/4
周分の曲げを前記光フアイバに与え、前記第２の
小曲率半径曲げ付与部材の各々が該小さい曲率半
径の円の1/2周分の曲げを前記光フアイバに与え、
前記第２の光フアイバ曲げ装置により前記光フア
イバにかかる最小曲率半径は、上記した小さい曲
率半径に等しいことを特徴とする特許請求の範囲
第１項から第４項までのいずれかに記載の単一モ
ード光フアイバのカツトオフ波長測定装置。