JPS61107129A - 単一モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、単一モード光ファイバのカットオフ波長を高
精度に容易かつ省力的に測定するカットオフ波長測定装
置に関する。

従来の技術 （１）単一モード光ファイバのカプトオフ波長の測定法
「曲げ法」の原理 単一モード光ファイバにとって、カットオフ波長は、２
つ以上のモードを伝播させることなくシングルモードで
作用する限界波長を示す重要な特性パラメータであるの
で、このカットオフ波長を精度良く測定することは非常
に重要である。そのカットオフ波長を求めるため従来広
く用いられている方法の１つは、［光通信ハンドブック
Ｊ　１９８２年９月１日、朝食書店、第４３７頁、図５
．４．２９に示されるような「曲げ法」とよばれるもの
で、その典型的な測定装置を第１２図に示す。第１２図
に示すように、適当な長さの被測定光ファイバ１を波長
可変光源２と光検出器３の間に結合する。波長可変光源
２と光検出器３とは、制御／演算装置４に接続されてい
る。

まず、第１２図に実線で示すように、被測定光ファイバ
１に曲げを与えない状態で、制御／演算装置４の制御に
より波長可変光源２から出射する光の波長を成る範囲例
えば０．９５〜、４５μｍの範囲で掃引し、各波長での
被測定光ファイバ１からの出力光パワーＰ、（λ）を光
検出器３で検出し、制御／演算装置４に記憶させる。

次に、被測定光ファイバ１と波長可変光源２および光検
出器３との結合状態に変化を与えないようにして被測定
光ファイバ１を第１２図に破線ＩＡで示すよう１″、適
当な径のマンドレル５に巻きつける。この状態で再度、
制御／演算装置４の制御により波長可変光源２から出射
する光の波長を同一　・の範囲で掃引し、各波長での被
測定光ファイバ１からの出力光パワーＰ２（λ）を光検
出器３で検出し、制御／演算装置４に記憶させる。

このようにして記憶させた被測定光ファイバに曲げを与
えない状態および曲げを与えた状態での光出力の比、例
えば、 を制御／演算装置４により演算し、第１３図に示すよう
に曲げ損失の波長依存性すなわち波長特性を示すグラフ
を作成する。この波長特性からカットオフ波長は、曲げ
損失の立上り点として求めることができる。

〔２）単一モード光ファイバのカットオフ波長の測定法
「曲げ法」の問題 しかしながら、上記「曲げ法」による従来の単一モード
光フ薔イバのカットオフ波長測定装置は、測定精度の確
保および測定の作業性の点で下記のような問題があった
。すなわち、カットオフ波長の測定精度は、被測定光フ
ァイバに曲げを与える際の両端の結合状態の変化に影響
を受けやすいので、両端の結合状態に変化を与えないよ
う注意を必要としていた。なぜならば、結合状態が変化
すれば、被測定光ファイバの波長依存性と関係なく、光
検出器に人力される光量が変化するからである。

上記「曲げ法」にあって、被測定光ファイバの両端を固
定して「光ファイバに曲げを与えない状態」から、「光
ファイバに曲げを与える状態」に　　　・置＜へ＜、被
測定光ファイバをマンドレルに巻キつけると、被測定光
ファイバには、その中心軸を中心とした回転すなわち「
ひねり」が必然的に生じてしまう。一般に被覆された光
ファイバはひねりに対して強い復元力を持つので、その
ひねりは被測定光ファイバの両端の結合状態に変化を与
え、測定精度が悪化した。

更に、被讃された光ファイバは曲げに対しても復元力を
持つので、単にマンドレルに巻いただけでは姿勢が不安
定なため、被測定光ファイバを例えば粘着テープで止め
る等の固定処理が必要とされ、作業性が悪かった。

また、上記した方法において、「光ファイバに曲げを与
えない状態」の再現性及び安定性が悪いために、その測
定の信頼性に問題があった。その第１の理由は、従来、
「光ファイバに曲げを与えない状態」の定義が不明確で
あったために、測定団体更には測定者に光ファイバをど
のような状態に置くかの判断に委ねられていたので、測
定団体または測定者ごとに、更には、測定ごとに、「光
ファイバに曲げを与えない状態」が異なっていたことで
ある。その第２の理由は、第１２図のような被測定光フ
ァイバを垂らした状態では、ファイバの状態が少し変化
するだけで測定値が大幅に変化するためである。

そこで、ＣＣＩＴＴ（国際電信電話諮問委員会）は、１
９８４年５月の”Ｒｅｖｉｓｅｄ　Ｖｅｒｓｉｏｎ　ｏ
ｆ　Ｒｅｃｏｍｍｅ−ｎｄａｔｉｏｎ　Ｇ６５２　Ｃｈ
ａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ　ｏｆ　Ａ　Ｓｉｎｇｌｅ
　ＭｏｄｅＦｉｂｅｒ　Ｃａｂｌｅ　”Ｐ１５〜１８に
おいて、曲率半径が大きいく例えば、直径２８０ｍｍ　
）の曲げを与えることによりこれを「光ファイバに曲げ
を与えない状態」に代え、更に、曲率半径が小さい（例
えば、直径６０ｍｍ）の曲げを与えて、従来法で言う「
光ファイバに曲げを与えた状態」に代え、この２つの状
態における波長依存性の比較を従来法と同様の方法で行
ない、カットオフ波長を求めることを勧告している。更
に、曲率半径の大きい曲げを与える際には、その曲率半
径よりも小さい曲率半径の曲げを被測定光ファイバには
決して与えず、しかも曲げが与えられる部分は、丁度上
記した大きい曲率半径をもつ円一周分であり、また、曲
率半径の小さい曲げを与える際には、その小さい曲率半
径よりも小さい曲率半径の曲げを被測定光ファイバに決
して与えず、しかも曲げが与えられる部分はその小さい
曲率半径をもつ円一周分以上であることが必要かつ充分
な測定条件としている。

このような測定方法は、「光ファイバに曲げを与えない
状態」の再現性及び安定性を高め且つ確実なものとする
ことができ、「光ファイバに曲げを与えない状態」の再
現性及び安定性の欠如による測定の信頼性の低さを解決
することができた。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、ＣＧ、ＩＴＴが勧告した方法においても
、両端を固定された被測定光ファイバを所定の半径の円
に沿って１回巻く必要があるために、被測定光ファイバ
のひねりの問題と光ファイバの復元力の問題は解決して
いない。すなわち、被測定光ファイバに加えられたひね
りにより、被測定光ファイバの両端の結合状態が変化し
、また、被覆された光ファイバの曲げに対する復元力の
ために、単にマンドレルに巻いただけでは姿勢が不安定
となるので、被測定光ファイバを例えば粘着テープで止
める等の固定が必要とされる。

また、近来、光ファイバの生産は、急速な技術進歩と共
に大量かつ高品質のものが得られるようになった。これ
に伴ない製品の検査は、高精度かつ高能率に行なう要求
が高まり、特に単一モード光ファイバに関しては、その
最も重要な測定項目の一つであるカットオフ波長測定に
ついて上記の要求に応えることが急がれている。

そこで、本発明は、測定の際、被測定ファイバに対しひ
ねりを与えることなく、かつ安定した姿勢で曲げを与え
ることができ、しかも、被測定光ファイバの保持及び曲
げを簡単に行なうこともでき、これにより測定精度の確
保と共に測定の作業性が向上かつ省力化される単一モー
ド光ファイバのカットオフ波長測定装置を提供するせん
とするものである。

問題点を解決するための手段 すなわち、本発明によるならば、被測定単一モ−ド光フ
ァイバの一端に接続されるようになされ且つ様々な波長
の光を発生することができる光源と、該光ファイバの他
端に接続される光検出器とを具備し、前記光ファイバに
曲率半径の大きい曲げを与えた時と曲率半径の小さい曲
げを与えた時に前記光ファイバの他端における光出力の
比較から、該光ファイバのカットオフ波長を測定する単
一モード光ファイバのカットオフ波長測定装置において
、前記光源と前記光検出器との間の前記被測定光ファイ
バにそれぞれ異なる曲率半径の円弧状の曲げを与える２
つの光ファイバ曲げ装置を備え、それら光ファイバ曲げ
装置の内の大きな曲率半径の曲げを与える第１の光ファ
イバ曲げ装置は、同一曲率半径の円弧状曲面をそれぞれ
持つ少なくとも２つの大曲率半径曲げ付与部材を有し、
それら大曲率半径曲げ付与部材の内の少なくとも１つの
第１の大曲率半径曲げ付与部材は、前記光ファイバに曲
げを加え始める点での曲げの接線方向に移動可能であり
、前記少なくとも２つの大曲率半径曲げ付与部材は、前
記被測定光ファイバをＳ字状に曲げ、且つ該光ファイバ
に与えられる最小曲率半径が前記円弧の半径に等しく、
更に、該円弧の半径で曲げられる部分の長さが、該円弧
の半径をもつ円一周分に等しくなるように配置される。

痒月 上記したような単一モード光ファイバのカットオフ波長
測定装置を使用しての「光ファイバに曲げを与えない状
態」の測定は、次のようになされる。まず、所定の長さ
の被測定光ファイバの両端をそれぞれ光源と光検出器に
接続し、上言己した第２の曲げ装置の第１及び第２の大
曲率半径曲げ付与部材にＳ字状に巻き付ける。そして、
被測定光ファイバを緊張状態に置くように、第１の光フ
ァイバ曲げ装置の第１の大曲率半径曲げ付与部材を上記
接線方向に移動させ□る。

かくして、被測定光ファイバは、光源と光検出器との間
で、緩みなくＳ字状に曲げられ、そして、Ｓ字状の曲げ
における曲率半径は、大曲率半径曲げ付与部材の円弧状
曲面の半径に等しく、且つ、そのＳ字状の曲げによって
円弧の曲率半径で曲げられる部分の長さが、該円弧の半
径をもつ円一周分に等しい。

従って、被測定光ファイバには、上記した曲率の円筒に
巻き付けたときと同じ量の曲げがかけられる。しかし、
被測定光ファイバはＳ字状に曲げられているので、被測
定光ファイバがひねられるすなわち中心軸を中心として
回転させられることはない。それ故、光ファイバのひね
りにより被測定光ファイバと光源または光検出器との結
合状態が変化する問題は発生しない。

更に、第１の光ファイバ曲げ装置の第１の大曲率半径曲
げ付与部材が上記接線方向に移動させられて、被測定光
ファイバが適当な軽い緊張状態に置かれるので、被測定
光ファイバの復元力に対して被測定光ファイバを曲げ付
与部材に粘着テープなどで止める必要なく、測定時に被
測定光ファイバを非常に安定な状態に維持することがで
きる。

また、粘着テープなどで止めるような作業は全く必要な
くなるので、作業が簡単になる。

実施例 以下、添付図面を参照して本発明による単一モード光フ
ァイバのカットオフ波長測定装置の実施例を説明する。

第１図及び第２図は、本発明による単一モード光ファイ
バのカットオフ波長測定装置の１つの実施例の概略構成
図であり、第１図は被測定光ファイバに大きな曲率半径
の曲げを与えている状態を示し、第２図は被測定光ファ
イバに小さな曲率半径の曲げを与えている状態を示して
いる。

第１図及び第２図を参照するならば、図示の単一モード
光ファイバのカットオフ波長測定装置は、制御／演算装
置１０と、その制御／演算装置１０により制御されて光
の波長を変えることができる波長可変光源１２と、制御
／演算装置１０に出力が接続された光検出器１４とを有
している。波長可変光源１２は、波長可変半導体レーザ
で構成することも、また、白色光源と分光器とから構成
し、その分光器が制御／演算装置１０により制御される
ようにしてもよい。その光源１２に接続された測定器側
光ファイバ１６は、ホルダ１８に保持されている。一方
、光検出器１４に延びる測定器側光ファイバ２０も、ホ
ルダ２２に保持されている。

それら測定器側光ファイバホルダ１８及び２２に対向す
る位置に、被測定光ファイバホルダ２４及び２６が配置
されるようになされている。これらホルダ２４及び２６
は、被測定光ファイバ２８に成る程度の引張り力が作用
してもホルダから抜は落ちない程度の力で被測定光ファ
イバ２８を保持するようになされている。また、これら
ホルダ２４及び２６は、被測定光ファイバ２８の光軸に
直角で互いに直交するＸ方向及びｙ方向に、更には、被
測定光ファイバ２８の光軸の同一の２方向に位置の微調
整できるようになされている。

被測定光ファイバホルダ２４及び２６に両端が保持され
る被測定光ファイバ２８に、大きな曲率半径の曲げを与
える第１の光ファイバ曲げ装置と、小さな曲率半径の曲
げを与える第２の光ファイバ曲げ装置とが、被測定光フ
ァイバホルダ２４と２６との間に配置されている。

被測定光ファイバ２８に大きな曲率半径の曲げを与える
第１の光ファイバ曲げ装置は、例えば直径２８０ｍｍの
円筒状の大曲率半径曲げ付与部材すなわち大ローラ３０
及び３２を有している。これら大ローラ３０及び３２は
、被測定光ファイバホルダ２４及び２６に保持されてい
る被測定光ファイバの部分の延長線上に周面が接するす
るように配置され、それにより、被測定光ファイバ２８
の被測定光ファイバホルダ２４及び２６に保持されてい
る部分と、被測定光ファイバの大ローラ３０及び３２と
ホルダ２４及び２６との間にそれぞれ位置する部分２８
Ａ及び２８Ｂとの境で被測定光ファイバが曲がらないよ
うにしている。

更に、大ローラ３０及び３２は、被測定光ファイバ２８
の部分２８Ａ及び２８Ｂが平行関係にあり、且つ、大ロ
ーラ３０及び３２との間に位置する被測定光ファイバ２
８の部分２８Ｃが、すなわち、大ローラ３０及び３２に
共通する接線が、上記した被測定光ファイバ２８の部分
２８Ａ及び２８Ｂと平行にあるように位置付けられてい
る。

そして、大ローラ３０及び３２の一方、例えば、大ロー
ラ３０は、位置が移動しないように固定保持されている
。他方、例えば、大ローラ３２は、その中心軸３２Ａが
、被測定光ファイバ２８のホルダ２６に保持されている
部分の上記した延長線の方向、すなわち、大ローラ３２
により被測定光ファイバ２８が曲げられ始める点Ｐでの
接線方向に、平行に延在するガイド３４の案内溝３４Ａ
に嵌合支持され、その案内溝３４Ａに沿って摺動可能に
なされている。

なお、大ローラ３２の軸３２Ａと案内溝３４Ａとの摺動
の際の摩擦抵抗は、測定者には自由に大ローラ３２を摺
動させることができる反面、被測定光ファイバの弾力の
力では大ローラ３２が摺動しない程度になされている。

従って、大ローラ３２が矢印Ａの方向に移動しても、被
測定光ファイバ２８を緊張状態に保つ限り、被測定光フ
ァイバ２８の部分２８Ａ１２８Ｂ及び２８Ｇの直線性及
び相互の平行関係は維持され、それら部分に曲がりが発
生することはない。

被測定光ファイバ２８に対して小さな曲率半径の曲げを
与える第２の光ファイバ曲げ装置は、被測定光ファイバ
ホルダ２４と大ローラ３０との間に配置された、例えば
直径６０ｍｍの円筒状の小曲率半径曲げ付与部材すなわ
ち小ローラ３６及び３８を有している。

これら小ローラ３６及び３８は、その間に、緊張状態に
ある被測定光ファイバ２８の部分２８Ａを置き、且つ、
一方、例えば、小ローラ３６が、その緊張状態にある被
測定光ファイバ部分２８Ａに接するように配置されてい
る。その小ローラ３６は、位置が移動しないように固定
保持される。他方、例えば、小ローラ３８は、小さな曲
率半径の曲げを与えないときは、第１図に示すように、
緊張状態にある被測定光ファイバ部分２８Ａから離れた
第１の位置にある。しかし、このとき、小ローラ３８は
、被測定光ファイバ２８に対して曲げを与えなければ、
被測定光ファイバ２８の部分２８Ａに接していてもよい
。

この小ローラ３８は、小ローラ３６の中心軸３６Ａを中
心にして公転するように、その小ローラ３６の中心軸３
６Ａに枢着されたアーム４０に中心軸３８Ａが取り付け
られている。かくして、小ローラ３８が、第２図におい
て矢印４２で示すように、右回りに公転すると、被測定
光ファイバ２８を小ローラ３６と３８との回りに巻き付
ける結果となる。このようにして、小ローラ３６及び３
８との巻き付けられている被測定光ファイバの長さの合
計が小ローラの周長以上になる位置が、小ローラ３８の
第２の位置である。

以上のような単一モード光ファイバのカプトオフ波長測
定装置は、次のように使用される。単一モード光ファイ
バのカットオフ波長の「曲げ法」による測定は、一連の
動作、すなわち、“被測定光ファイバのセット及び大き
な曲率半径の曲げの付与”、“被測定光ファイバへの小
さな曲率半径の曲°げの付与”といった順序で行なわれ
るので、一連の動作を追って説明する。

まず、測定者は、小ローラ３８を第１図に示すような第
１の位置に置き、更に、移動可能な大ローラ３２を第１
図において点線で示すように右の方へ移動させて置く。

その状態で、所定の長さ例えば２ｍの被測定ファ、イバ
２８を大ローラ３０及び３２の回りに巻き付け、その両
端をそれぞれホルダ２４および２６にセットし、次いで
、大ローラ３２を第１図において左の方へ移動させて、
過大な引張り力が作用しない程度の緊張状態に被測定光
ファイバ２８を置く。

その結果、被測定光ファイバ２８の部分２８Ａ、２８Ｂ
及び２８Ｃは、直線状になり且つ互いに平行関係となる
ので、被測定光ファイバ２８には、大ローラ３０及び３
２によりそれぞれの外周円の半分の円の曲げが付与され
、合計で大ローラの外周円１つ分の曲げが被測定光ファ
イバ２８に付与される。以上の操作において、被測定光
ファイバ２８はＳ字状に曲げられるので、「ひねり」が
かかることはない。従って、「ひねり」によってホルダ
２４および２６による被測定光ファイバ２８の保持状態
が変化することはない。

この状態において、光源１２から特定の波長の光を出力
させて、光検出器１４により検出させる。そして、光検
出器１４の出力が最大になるように、ホルダ２４及び２
６をそれぞれＸＳ’ＩＳＺ方向に微調整する。その結果
、測定器側光ファイバ１６及び２０の端部と、被測定光
ファイバ２８の端部との間隔が、数μｍ〜数１０μｍの
間隔に調整され、且つ、測定器側光ファイバ１６及び２
０の光軸と、被測定光ファイバ２８の光軸が一致させら
れる。

この状態（第１図）において、制御／演算装置ＩＯの制
御の下に、光源１２から光を所定の波長範囲、例えば、
、００〜、４０μｍの範囲にわたって掃引させ、被測定
光ファイバ２８を伝送され且つ光検出器１４により検出
された各波長での光パフ−Ｐ、（λ）を制御／演算装置
１０に記憶させる。

そのようにして、大きい曲率半径の曲げを与えたときの
光出力の測定が終了する。

次に、被測定光ファイバ２８に緩みが生じないように、
大ローラ３４を第１図において右の方へ移動させつつ、
小ローラ３８を第２図の矢印已に示すように公転させて
、第２図に示す第２の位置へ移動させる。その結果、大
ローラ３０及び３２によって被測定光ファイバ２８に付
与される曲げは、大ローラの円周より短くなるが、小ロ
ーラ３６及び３８に巻き付けられている被測定光ファイ
バの長さの合計が小ローラの周長以上になる。

この状態（第２図）において、制御／演算装置１０の制
御の下に、光源１２から光を同一の波長範囲、すなわち
、００〜、４０μｍの範囲にわたって掃引させ、被測定
光ファイバ２８を伝送され且つ光検出器１４により検出
された各波長での光パワーＰ、（λ）を制御／演算装置
１０に記憶させる。

このように、２種類の状態での被測定光ファイバ２８を
伝播した光の出力の波長特性が測定される。

そして、制御／演算装置１０により、上記した式（１）
によりＲ（λ）が演算され、該被測定ファイバのカット
オフ波長が測定される。

以上の実施例において、大ローラ３０及び３２並びに小
ローラ３６及び３８は、それぞれの中心軸を中心にして
回転しないようになされている。このような大ローラ及
び小ローラが自転しないと、小ローラ３８を第１図に示
す位置から第２図に示す位置に移動させるときなど、被
測定光ファイバ２８がそれらローラの周面に沿って移動
する場合、被測定光ファイバ２８がローラの周面に対し
て擦られる。そのため、被測定光ファイバがナイロンな
どで２次被覆を施された心線の場合は、ローラ周面の材
質、形状、表面処理を適当なものとして摩擦抵抗を小さ
くでき、被測定光ファイバに対して無用なストレスは小
さくできる。しかし、被測定光ファイバがシリコン樹脂
などで１次被覆を施されただけの素線の場合は、摩擦抵
抗が大きいために、被測定光ファイバに対して相当なス
トレスが作用し、伝送特性を変化させてしまう恐れがあ
る。

そこで、大ローラ３０及び３２並びに小ローラ３６及び
３８を、それぞれその中心軸を中心に自由に自転できる
ように構成する。このように大ローラ及び小ローラを構
成するならば、小ローラ３８を第１図に示す位置から第
２図に示す位置に移動させるときなどのように被測定光
ファイバ２８がそれらローラの周面に沿って移動しよう
とする場合、被測定光ファイバが接触しているローラが
その被測定光ファイバの移動と共に回転して、被測定光
ファイバ２８がローラの周面に対して擦られることはな
い。

それ故、被測定光ファイバが素線であっても、被測定光
ファイバに対して無用なストレスが作用して伝送特性が
変化してしまう恐れはなくなる。従って、被測定光ファ
イバが素線の場合であっても、十分に正確なカットオフ
波長の測定ができる。

更に、上記した実施例において、大きな曲率半径の曲げ
を与える第１の曲げ装置は、一対の大ローラ３０及び３
２から構成されている。しかし、それらローラが曲げ付
与部材と機能している部分は、被測定光ファイバに接触
しでいる部分である。それ故、大きな曲率半径の曲げを
与える手段は、第１図及び第２図に示すような円筒状ロ
ーラの形をとる必要はなく、例えば、第３図に示すよう
に、断面半円形の大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び３
２Ａで構成することもできる。

この第３図の例においては、被測定光ファイバ２８のホ
ルダ２４及び２６に保持されている部分の延長線上に、
大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び３２Ａにより被測定
光ファイノ９２８が曲げを加えられ始める点Ｐ１及びＰ
２の接線が位置するように、更に、大曲率半径曲げ付与
部材３０Ａ及び３２Ａの間の被測定光ファイバ部分２８
Ｃがそれぞれ大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び３２Ａ
に曲げを加えられ始める点Ｐ３及びＰ４での接線が同一
線上に位置するように、断面半円形の大曲率半径曲げ付
与部材３０Ａ及び３２Ａは配置されている。従って、被
測定光ファイバ２８の部分２８Ａ、２８Ｂ及び２８Ｃは
、直線状に保持され且つ互いに平行関係にあり、更に、
大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び３２Ａの背平面に対
して直角に位置している。そして、大曲率半径曲げ付与
部材３０Ａ及び３２Ａは、第３図に矢印で示すように、
上記した接線方向と平行な方向に移動可能されるか、ま
たは、いずれか一方の曲げ付与部材のみが移動可能にさ
れる。

このような位置関係に大曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及
び３２Ａ並びにホルダ２４及び２６を設定した場合、大
曲率半径曲げ付与部材３０Ａ及び３２Ａの断面半円形曲
面によって与えられた曲げ以外の曲げは、被測定光ファ
イバ２８には−切かからない。そして、大曲率半径曲げ
付与部材３０Ａ及び３２Ａによって与えられる曲げは、
それぞれ円の半周分の曲げあり、合計でその円の円周−
周分の曲げをファイバに与えることができる。

更に、断面半円形の曲げ付与部材の一方を、第４図に示
すように、断面Ａ円形の大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ
及び３０Ｃに分割することもできる。

この場合、大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ及び３０Ｃの
間の被測定光ファイバ部分２８Ｄがそれぞれ大曲率半径
曲げ付与部材３０Ｂ及び３０Ｃに曲げを加えられ始める
点Ｐ５及びＰ６での接線が同一線上に位置するようにな
される以外、第３図の配置と同様に配置される。このよ
うに配置することにより、大曲率半径曲げ付与部材３０
Ｂ、３０Ｃ及び３２Ａの断面円弧面によって被測定光フ
ァイバ２８に与えられる曲げ以外の曲げが、被測定光フ
ァイバに作用することはない。

このように構成する場合、断面Ａ円形の大曲率半径曲げ
付与部材３０Ｂ及び３０Ｃ間の被測定光ファイバに対し
て小さい曲率半径の曲げ付与するように、大曲率半径曲
げ付与部材３０Ｂ及び３０Ｃ間に上記した第２の光ファ
イバ曲げ装置を配置することもできる。

なお、大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ及び３０Ｃによっ
て被測定光ファイバ２８に付与される曲げが合計外円周
になれば、大曲率半径曲げ付与部材３０Ｂ及び３０Ｃの
湾曲面の断面は、Ａ円にする必要はなく、合計２円とな
ように適当に割り振ることもできる。

いずれにしても、第４図に示すように、第１の光ファイ
バ曲げ装置を、３つの大曲率半径曲げ付与部材で構成し
たり、または更に４以上の大曲率半径曲げ付与部材で構
成することにより、単一モード光ファイバのカットオフ
波長測定装置の設計の自由度を高くすることができる。

反面、断面が分割円の形の大曲率半径曲げ付与部材は、
自転させることができないので、心線状態の単一モード
光ファイバのカットオフ波長の測定に適している。

以上の実施例において、小さい曲率半径の曲げを被測定
光ファイバに与える曲げ装置は、一方が他方を中心とし
て公転するようになされた一対の小ローラ３６及び３８
から構成されている。しかし、構成はそれに限定される
ものではない。

例えば、第５図に示すように、被測定光ファイバに付与
したい曲げの曲率半径の円の外周に合計が等しい断面円
弧の３つの小曲率半径曲げ付与部材４２．４４．４６か
ら構成する。小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４は、
断面４円の湾曲面をそれぞれ有し、その湾曲面が互いに
向き且つ被測定光ファイバ２８にも向くようにして被測
定光ファイバ２８の一方の側に配置されている。そして
、それら小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４の湾曲面
の被測定光ファイバ側の角は、被測定光ファイバ２８に
曲げを与えないように接しており、また、小曲率半径曲
げ付与部材４２及び４４の間隔りは、上記した曲率半径
の２倍になっている。

残りの小曲率半径曲げ付与部材４６は、断面４円の湾曲
面を有し、その湾曲面が被測定光ファイバ２８に面する
ように、被測定光ファイバ２８に対して小曲率半径曲げ
付与部材４２及び４４と反対側に配置されている。そし
て、その小曲率半径曲げ付与部材４６は、小さい曲率半
径の曲げを被測定光ファイバ２８に与えるときは、第５
図（ハ）に示すように、それぞれの円弧の曲率中心が一
直線に並ぶ位置あるいはその点よりも奥まで、被測定光
ファイバ２８を押して小曲率半径曲げ付与部材４２及び
４４の間に侵入するようになされている。

かくして、小曲率半径曲げ付与部材４２．４４．４６が
第５図（ａ）の位置にあるとき、被測定光ファイバ２８
には、小さい曲率半径の曲げは付与されず、第５図（社
）にあるとき、被測定光ファイバ２８に小さい曲率半径
の曲げが付与される。そのときの曲げは、小曲率半径曲
げ付与部材４６の侵入移動量を適当にとることにより、
小曲率半径曲げ付与部材４２及び４４がそれぞれ上記し
た曲率半径の円のＡ周分の曲げを与え、小曲率半径曲げ
付与部材４６が同一の円の２周分の曲げを被測定光ファ
イバに与えることができる。

しかし、第５図の構成では、小曲率半径曲げ付与部材４
２．４４．４６はその曲げ付与面の向きを一定に維持す
るように自転しないようにしなければならない。そのた
め、小曲率半径曲げ付−与部材４６が小曲率半径曲げ付
与部材４２及び４４の間に侵入するとき、被測定光ファ
イバがそれらの表面で擦られる問題がある。

そこで、小曲率半径曲げ付与部材４２．４４及び４６の
代わりに、第６図に示すように、断面円形の小曲率半径
曲げ付与部材すなわち小ローラ４２Ａ、４４Ａ。

４６Ａを使用し、それら小ローラ４２Ａ、４４Ａ、４６
Ａを自由１ご自転できるよう１こする。

このように構成することにより、小さい曲率半径の曲げ
を付与するべく小ローラ４６Ａが第６図に点線で示すよ
うに小ローラ４２Ａ、４６Ａ、４４Ａの中心軸が一直線
に並ぶ位置あるいはその点より奥まで小ローラ４２Ａ及
び４４Ａの間に侵入するとき、被測定光ファイバ２８が
それら小ローラの周面に対して相対移動する代わりに、
小ローラが回転する。

従って、被測定光ファイバ２８が小ローラの周面で擦ら
れることはないので、被測定光ファイバに無用なストレ
スを作用させることなく被測定光ファイバを曲げること
ができる。

更に、第７図に示すように、小ローラ４２Ａ、４４Ａ。

４６Ａに加えて、小ローラ４４Ｂと４６Ｂを設けてもよ
い。このように構成して、第７図に点線で示すように小
ローラ４２Ａ、４６Ａ、４４Ａ、４６Ｂ、４４Ｂの中心
軸が一直線に並ぶ位置あるいはその点より奥まで小ロー
ラ４６Ａ及び４６Ｂを小ローラ４２Ａ、４４Ａ及び４４
Ｂの間に侵入すると、被測定光ファイバ２８に対して、
小ローラの円周の２倍の曲げを付与することができる。

以上のように第５図、第６図及び第７図に示すように、
小さな曲率半径の曲げ付与装置を構成すると、第１図及
び第２図に示す実施例の小さな曲率半径の曲げ付与装置
の可動部材の移動量に比較して、可動部材の移動量を小
さくすることができる。すなわち、小曲率半径曲げ付与
部材４６．４６Ａ１４６Ｂは、最少でその曲率半径の２
倍の距離移動するだけで、必要な小さな曲率半径の曲げ
を被測定光ファイバ２８に付与することができる。

上記した本発明による単一モード光ファイバのカットオ
フ波長測定装置の実施例においては、被測定光ファイバ
２８を緊張状態の調整及び維持は、測定者が大ローラ３
２をガイド３４に沿って摺動させることによってなされ
ている。しかし、そのような操作をすること自体が煩雑
である。また、被測定光ファイバに与える緊張状態の程
度すなわち被測定光ファイバに作用させる引張り力は、
測定者の感覚に委ねられる結果となるので、測定ごと異
なることが避けられない。更に、その引張り力は、被測
定光ファイバが曲げ付与部材の周囲で緩まない程度且つ
被測定光ファイバの伝送特性に影響を与えるほどのスト
レスが被測定光ファイバに作用しない程度に微妙に調整
しなければならないため、被測定光ファイバに作用させ
る引張り力の調整が面倒である。なぜならば、引張り力
が大きいと、光ファイバにいわゆる側圧等の強い力が加
わり、被測定光ファイバの伝送特性を変化させてしまう
と共に、被測定光ファイバホルダでの光ファイバの位置
決めを狂わせたりする。

更に、上記したように光ファイバは曲げに対して復元力
をもつので、被測定光ファイバを第１図に示すようなカ
ットオフ波長測定装置にセットする際、ただ単に曲げ付
与部材に被測定光ファイバを当てるだけで曲げを加えた
のでは、その部分から滑ってしまう。そのため、被測定
光ファイバを第１図の大ローラの周囲に巻き付けて大ロ
ーラ３２を摺動させ被測定光ファイバを緊張状態に置く
操作も要領良〈実施する必要がある。

以上のような問題を解消する１つの手段として、大ロー
ラ３２のような大曲率半径曲げ付与部材の移動可能方向
で且つ被測定光ファイバに引張り力を作用させる方向に
、一定の引張り力を常時作用させることが考えられる。

第８図は、そのような張力付与装置の１例を示している
。第８図において、図示されているローラ４８は、第１
図の大ローラ３２として使用可能なローラである。しか
し、大ローラ３２の軸３２Ａが案内溝３４Ａに沿って摺
動可能になされていた代わりに、ローラ４８の中心軸４
８Ａは、アーム５０の一端に回転自在に支持され、その
アーム５０の他端には軸５０Ａが固定され、その軸５０
Ａは、移動台５２に回転自在に支持されている。

そして、アーム５０の途中には、比較的弱いコイルバネ
５４の一端が接続され、そのコイルバネ５４の他端は移
動台５２に固定され、アーム５０に第８図において矢印
５６Ａの方向の回転力を作用させている。

更に、アーム５０と一緒に回転する軸５０Ａは、ポテン
ショメータ５８の回転軸に接続されている。そのポテン
ショメータ５８の両端間には一定の電圧が印加され、そ
のポテンショメータの可動端子の電圧を測定することに
より、アームの回転変位を知ることができる。

更に、移動台５２は、図示していない駆動装置によって
、上記した大ローラの移動方向と平行にある案内６０に
沿って移動可能となっている。そして、上記したポテン
ショメータ５８の可動端子からの電圧出力は、コンパレ
ータ６２に供給され、基準電圧６４と比較され、そのコ
ンパレータ６２の出力が接続された駆動回路６６は、両
電圧の差が零となるように、上記した図示していない駆
動装置を動作させて移動台５２を案内６０に沿って第８
図において右または左に変位させる。

以上のような張力付与装置は、次のように動作する。ロ
ーラ４８が被測定光ファイバ２８により第８図にふいて
矢印５６Ｂの方へ引っ張られると、アーム５０はコイル
バネ５４に抗して時計方向に回転する。

その結果、ポテンショメータ５８の出力電圧が変化、例
えば低下し、その低下した電圧を受けるコンパレータ６
２は、駆動回路６６を制御して移動台５２を矢印５６Ｂ
の方へ変位させる。かくして、アーム５０は反時計方向
に回転し、ポテンショメータ５８の出力電圧は増大し、
その電圧が基準電圧と一致する点で移動台５２は停止す
る。

一方、被測定光ファイバ２８が緩むと、コイルバネ５４
の力によりアーム５０は矢印５６Ａの方向に回転し、そ
の結果、ポテンショメータ５８の出力電圧が増大し、そ
の増大した電圧を受けるコンパレータ６２は、駆動回路
６６を制御して移動台５２を矢印５６Ａの方向に変位さ
せる。かくして、アーム５０は時計方向に回転し、ポテ
ンショメータ５８の出力電圧は低下し、その電圧が基準
電圧と一致する点で移動台５２は停止する。

以上のような動作において、ポテンショメータ５８の出
力電圧と基準電圧が一致するときのコイルバネの伸び量
は一定しており、平衡状態のときにコイルバネが発揮す
る引張り力は一定している。

そして、測定はその平衡状態のときに実施されるので、
測定時の被測定光ファイバに対する引張り力を一定に維
持することができる。従って、平衡状態のときにコイル
バネが発揮する引張り力が、被測定光ファ、イバを緊張
状態に保持する必要最低の力になるように調整する。

なお、アーム５００回転角は、ポテンショメータに限ら
ず、光学的なエンコーダなどを使用しても検出すること
ができる。

また、アーム５０の長さを非常に長くすれば、移動台５
２を動かさなくとも、ローラ４８をほぼ直線状に変位さ
せることが°できる。そして、コイルバネ５４をアーム
の回転軸に可能な限り近ずけることにより、アーム先端
すなわちローラ４８の変位量に比較してコイルバネの伸
縮量を非常に小さくできる。

そのように構成する場合は、コイルバネの伸び量を一定
に保持する機構は省略できる。

更に、移動台５２が自動的に変位するようにする代わり
に、測定者が移動台５２を変位させるよようにしてもよ
い。

しかしながら、以上のような張力付与装置は、機械構造
が複雑になる上、電気的な制御装置が必要である。それ
に対して、第９図に示すような張力付与装置は、極めて
簡単な構造により一定の張力を付与することができる。

すなわち、第９図の張力付与装置は、一端が例えば第１
図の大ローラ３２の回転軸３２Ａに枢着され、他端がド
ラム６８に固定されて密着渦巻き状にきつく巻かれた薄
板バネ７０で構成され、そのドラム６８は、固定点に回
転可能に保持されている。

このバネは、いわゆる「定荷重バネ」として一般に知ら
れているものである。簡単に説明すると、薄板バネ７０
に矢印７２の方向に引張り力を加え引き出すと、ドラム
６８は回転し、矢印７４の方向に引張り力を生ずる。ド
ラム６８の回転を自由にしておくと、ドラムは矢印７６
の方向に回転しようとして、常に矢印７４の方向に、薄
板バネ７０の引出し量に関係なく一定な張力が生ずる。

このように張力が一定になるのは、薄板バネに沿った力
は薄板バネが変形する部分７８でのみで生ずるからであ
る。

第１０図及び第１１図は、本発明による単一モード光フ
ァイバのカットオフ波長測定装置の別の実施例を示す概
略構成図であり、第１０図は被測定光ファイバに大きな
曲率半径の曲げを与えている状態を示し、第１１図は被
測定光ファイバに小さな曲率半径の曲げを与えている状
態を示している。なお、第１図及び第２図に示した実施
例と同一の部分には、同一の参照番号を付して、同一部
分についての説明は原則として省略する。

第１図及び第２図に示した実施例と同様に、被測定光フ
ァイバ２８に大きな曲率半径の曲げを与える第１の光フ
ァイバ曲げ装置は、例えば直径２８０ｍｍの円筒すなわ
ち大ローラ３０及び３２を有している。

これら大ローラ３０及び３２は、第１図及び第２図に示
した実施例と同様な位置関係に配置されている。

そして、大ローラ３０及び３２の一方の大ローラ３０は
、位置が移動しないように固定保持され、更に、第１図
及び第２図に示した実施例と異なり、その軸３０Ａを中
心に回転自在になされている。

他方の大ローラ３２は、図示していないが、第１図及び
第２図に示した実施例と同様なガイドにより、被測定光
ファイバホルダ２６に保持されている部分の上記した延
長線の方向、すなわち、大ローラ３２により被測定光フ
ァイバ２８が曲げられ始める点での接線方向に平行な矢
印Ａの方向に移動可能になされている。しかし、第１図
及び第２図に示した実施例と異なり、大ローラ３２のガ
イドに沿っての摺動に際し摩擦抵抗は極めて小さいよう
にされ、更に、第９図に示したような「定荷重バネ」で
構成される張力付与装置８０が設けられている。

具体的には、第９図の薄板バネ７０の先端が大ローラ３
２の回転軸３２Ａに枢着され、ドラム６８が、大ローラ
３２の被測定光ファイバホルダ２６と反対側で大ローラ
３２から離れた位置８２に回転自在に置かれている。そ
して、その張力付与装置８０は、被測定光ファイバを緊
張状態に維持でき且つ測定に悪影響を与えない程度の微
小な、例えば１０〜５０ｇの間の一定値の張力を発生す
るように設定される。

被測定光ファイバ２８に対して小さな曲率半径の曲げを
与える第２の光ファイバ曲げ装置は、第６図に示す構成
と同様に構成されている。従って、同一参照番号を付し
て、説明は付加的な範囲に止める。すなわち、小ローラ
４２Ａ、４４Ａ及び４６Ａは、被測定光ファイバホルダ
２４と大ローラ３０との間に配置され、直径６０ｍｍの
円筒で構成されている。

以上のような第１０図及び第１１図に示すカットオフ波
長測定装置は、次のように使用される。

まず、測定者は、小ローラ４６Ａが第１０図に示すよう
な第１の位置にある状態で、所定の長さの被測定ファイ
バ２８を大ローラ３０及び３２の回りに巻き付け、その
両端をそれぞれホルダ２４アよび２６にセットする。そ
の結果、被測定光ファイバ２８は、張力付与装置８０に
よる上述した引張り力によって緊張状態に置かれ、被測
定光ファイバ２８の部分２８Ａ１２８Ｂ及び２８Ｃは、
直線状になり且つ互いに平行関係となる。それ故、被測
定光ファイバ２８には、大ローラ３０及び３２によりそ
れぞれの外周円の半分の円の曲げが付与され、合計で大
ローラの外周円１つ分の曲げが被測定光ファイバ２８に
付与される。

この状態において、光源１０から特定の波長の光を出力
させて、光検出器１４により検出させる。そして、光検
出器１４の出力が最大になるように、ホルダ２４及び２
６をそれぞれｘ、ｙＳｚ方向に微調整する。

その状態（第１１図）において、制御／演算装置ｌＯの
制御の下に、光源１２から光を所定の波長範囲、例えば
、第１図の実施例の場合と同様に、、００〜、４０μｍ
の範囲にわたって掃引させ、被測定光ファイバ２８を伝
送され且つ光検出器１４により検出された各波長での光
パワーｐ＋（λ）を制御／演算装置ｌＯに記憶させる。

次いで、第１１図に示すように、小ローラ４２Ａ１４４
Ａ、４６Ａの中心が一直線に並ぶように小ローラ４６Ａ
を小ローラ４２Ａと４４Ａとの間に侵入させる。

その際、小ローラ４２Ａ及び４４Ａは回転し、小ローラ
４６Ａの侵入の際のローラ周面との相対移動などによる
無理なストレスは被測定光ファイバ２８に作用しない。

また、被測定光ファイバ２８は、小ローラ４２Ａ、４４
Ａ、４６Ａによって引っ張られるため、大ローラ３２が
張力付与装置に抗して第１１ＵｇＪにおいて右の方へ移
動する。しかし、張力付与装置は、一定したしかも上述
した程度の弱い張力しか被測定光ファイバに作用しない
ので、大ローラ３２の変位に際し被測定光ファイバに過
大の張力が作用したりすることはなく、また、被測定光
ファイバの緊張状態に変化はない。

かくして、大ローラ３０及び３２によって被測定光ファ
イバ２８に付与される曲げは、大ローラの円周より短く
なるが、小ローラ４２Ａ、４４Ａ、４６Ａによって、合
計が小ローラの周長と等しい曲げが被測定光ファイバ２
８に付与される。

この状態（第１１図）において、制御／演算装置１０の
制御の下に、光源１２から光を同一の波長範囲、すなわ
ち、００〜、４０μｍの範囲にわたって掃引させ、被測
定光ファイバ２８を伝送され且つ光検出器１４により検
出された各波長での光パワーＰ、（λ）を制御／演算装
置１０に記憶させる。

このように、２種類の状態での被測定光ファイバ２８の
波長特性が測定される。そして、制御／演算装置１０に
より、上記した式（１）によりＲ（λ）が演算され、該
被測定ファイバのカットオフ波長が測定される。

以上のような構成の単一モード光ファイバのカットオフ
波長測定装置においては、上記した一連の動作の間、大
ローラ、小ローラは、なめらかに回転し、且つ、張力付
与装置が一定の張力を発生しているので、被測定光ファ
イバにかかる張力は一定に保たれ、且つ、その被測定光
ファイバの動きも滑らかである。また、本実施例のよう
な小ローラの配置は、第１図及び第２図に示した実施例
に比較して、曲げによって被測定光ファイバを引っ張る
量が少なく、また、常に小ローラ４２Ａ、４４Ａに接し
た状態を保たれるので、被測定光ファイバの動きが安定
である。更に、小さい曲率半径の曲げを被測定光ファイ
バに付与する際に、動く部材は小ローラ４６Ａ１つであ
り、そして、その移動量は、最小、小ローラの直径分程
でよく合理的である。また、小さい曲率半径の曲げを付
与する光ファイバ曲げ装置の占有スペースとしても、小
ローラ４つ分のスペースですみ、スペース性がよいと言
える。

なお、上記した実施例において、大きい曲率半径と小さ
い曲率半径は、ＣＣＩＴＴの勧告に従い、２８０ｍｍと
（ｉＱｍｍとしているが、それぞれの値に限定されるも
のではない。従って、測定の要求に応じて、例えば大き
い曲率半径を２００ｍｍ〜４００ｍｍの範囲から選択し
、また、小さい曲率半径を５０ｍｍ〜１００＋ｎ＋ｎの
範囲から選択してもよい。

１旦企左星 以上の説明から明らかなように、本発明による単一モー
ド光ファイバのカットオフ波長測定装置は、被測定光フ
ァイバが、それぞれ曲げ状態に容易に置かれ、且つ葆持
される。そして、幾何的に大きな曲率半径の曲げを与え
る際は、その曲率半径をもつ円一周分の曲げを光ファイ
バに与えることができ、小さな曲率半径の曲げを与える
際には、その曲率半径をもつ円一周分以上の曲げを光フ
ァイバに与えることができる。一方、被測定光ファイバ
は、１つの閉ループもつくることがなく曲げ付与部材に
セットされ、そして、「光ファイバに曲げを与えない状
態」から「光ファイバに曲げを与える状態」へ移行する
ときにも、被測定光ファイバに「ひねり」や緩みが生じ
ることがなく、１度のセットにより被測定光ファイバに
与えた張力や姿勢が保たれたまま測定が行なえる。その
ため、測定精度が向上すると共に作業性が改善される。

また、カットオフ波長測定装置の機械的部材の□　動き
を自動化すれば、セットを一度行なえば終了まで手を加
えなくともよい。しかも、この自動化は、曲げ付与部材
を一カ所一定量移動させるだけでな（容易に行なえるの
で省人化につながり、工業的に有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による単一モード光ファイバのカット
オフ波長測定装置の１つの実施例を示す、被測定光ファ
イバに大きな曲率半径の曲げが与えられている状態の概
略構成図である。 第２図は、第１図の単一モード光ファイバのカットオフ
波長測定装置の、被測定光ファイバに小さな曲率半径の
曲げが与えられている状態の概略構成図である。 第３図は、大きな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の構成の１例を示す概略図である。 第４図は、大きな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の構成の別の１例を示す概略図である。 第５図は、小さな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の構成の１例を示す概略図であり、第５図（ａ）
はその小さな曲率半径の曲げを与えていない状態を示し
、第５図ら）はその小さな曲率半径の曲げを与えている
状態を示している。 第６図は、小さな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の構成の別の１例を示す概略図である。 第７図は、小さな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の構成の更に別の１例を示す概略図である。 第８図は、大きな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の曲げ付与部材に一定の引張り力を付与する張力
付与装置の構成の１例を示す概略図である。 第９図は、大きな曲率半径の曲げを与える光ファイバ曲
げ装置の曲げ付与部材に一定の引張り力を付与する張力
付与装置の構成の別の１例を示す概略図である。 第１０図は、本発明による単一モード光ファイバのカプ
トオフ波長測定装置の別の１つの実施例を示す、被測定
光ファイバに大赤な曲率半径の曲げが与えられている状
態の概略構成図である。 第１１図は、第１０図の単一モード光ファイバのカット
オフ波長測定装置の、被測定光ファイバに小さな曲率半
径の曲げが与えられている状態の概略構成図である。 第！２図は、「曲げ法」による単一モード光ファイバの
カットオフ波長測定方法の基本構成を示す概略図である
。 第１３図は、「曲げ法」による単一モード光ファイバの
カットオフ波長測定によって得られる測定データの１例
を示すグラフである。 〔主な参照番号〕

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. （１）被測定単一モード光ファイバの一端に接続される
   ようになされ且つ様々な波長の光を発生することができ
   る光源と、該光ファイバの他端に接続される光検出器と
   を具備し、前記光ファイバに曲率半径の大きい曲げを与
   えた時と曲率半径の小さい曲げを与えた時に前記光ファ
   イバの他端における光出力の比較から、該光ファイバの
   カットオフ波長を測定する単一モード光ファイバのカッ
   トオフ波長測定装置において、前記光源と前記光検出器
   との間の前記被測定光ファイバにそれぞれ異なる曲率半
   径の円弧状の曲げを与える２つの光ファイバ曲げ装置を
   備え、それら光ファイバ曲げ装置の内の大きな曲率半径
   の曲げを与える第１の光ファイバ曲げ装置は、同一曲率
   半径の円弧状曲面をそれぞれ持つ少なくとも２つの大曲
   率半径曲げ付与部材を有し、それら大曲率半径曲げ付与
   部材の内の少なくとも１つの第１の大曲率半径曲げ付与
   部材は、前記光ファイバに曲げを加え始める点での曲げ
   の接線方向に移動可能であり、前記少なくとも２つの大
   曲率半径曲げ付与部材は、前記被測定光ファイバをＳ字
   状に曲げ、且つ該光ファイバに与えられる最小曲率半径
   が前記円弧の半径に等しく、更に、該円弧の半径で曲げ
   られる部分の長さが、該円弧の半径をもつ円一周分に等
   しくなるように配置されていることを特徴とする単一モ
   ード光ファイバのカットオフ波長測定装置。
2. （２）前記第１の光ファイバ曲げ装置の少なくとも前記
   第１の大曲率半径曲げ付与部材は、円筒形であり、円筒
   の対称軸を回転軸として回転可能となっていることを特
   徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の単一モード光
   ファイバのカットオフ波長測定装置。
3. （３）前記第１の光ファイバ曲げ装置の前記第１の大曲
   率半径曲げ付与部材は、前記被測定光ファイバに曲げを
   与えるに際し、前記接線方向において該第１の大曲率半
   径曲げ付与部材の該光ファイバが巻き付けられる側への
   向きに該第１の大曲率半径曲げ付与部材に偏移力を作用
   させて該光ファイバに対して張力を与える張力付与装置
   が設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第（
   １）項または第（２）項記載の単一モード光ファイバの
   カットオフ波長測定装置。
4. （４）前記張力付与装置は、前記第１の光ファイバ曲げ
   装置の前記第１の大曲率半径曲げ付与部材に一端が取り
   付けられ、該第１の大曲率半径曲げ付与部材の前記被測
   定光ファイバが巻き付けられる側から前記接線方向に離
   れて位置付けられた回転軸を中心にして回転自在なドラ
   ムに他端が取付けられて渦巻き状に巻かれた薄板バネで
   構成されており、薄板バネの引き出し量に関係なく一定
   の引張り力を光ファイバに与えるようになされているこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第（１）項から第（３）
   項までのいずれかに記載の単一モード光ファイバのカッ
   トオフ波長測定装置。
5. （５）前記光ファイバ曲げ装置の内の小さな曲率半径の
   曲げを与える第２の光ファイバ曲げ装置は、該小さな曲
   率半径の円筒面を有する少なくとも２つの円筒形の小曲
   率半径曲げ付与部材を有し、それら小曲率半径曲げ付与
   部材の内の第１の小曲率半径曲げ付与部材は、前記第１
   の光ファイバ曲げ装置により前記被測定光ファイバに大
   きな曲率半径の曲げが与えられるときに該光ファイバに
   対して曲げを与えないように該光ファイバに接する固定
   位置に配置されなおり、前記小曲率半径曲げ付与部材の
   内の第２の小曲率半径曲げ付与部材は、前記第１の光フ
   ァイバ曲げ装置により前記被測定光ファイバに大きな曲
   率半径の曲げのみが与えられるときには、前記被測定光
   ファイバに対して前記第１の小曲率半径曲げ付与部材と
   反対側で、該被測定光ファイバに対して曲げを与えない
   ような第１の位置をとり、前記被測定光ファイバに小さ
   な曲率半径の曲げが与えられるときには、前記第１の小
   曲率半径曲げ付与部材を中心として公転して、前記光フ
   ァイバを第１及び第２の小曲率半径曲げ付与部材の周囲
   に巻き付ける第２の位置をとるようになされており、そ
   の際、第２の光ファイバ曲げ装置によって光ファイバに
   与えられる最小曲率半径は、その小曲率半径曲げ付与部
   材の円筒の半径に等しく、且つ該最小曲率半径の曲げを
   与えられるファイバの長さは、前記円筒の円一周分と少
   なくとも等しくなるようになされていることを特徴とす
   る特許請求の範囲第（１）項から第４項までのいずれか
   に記載の単一モード光ファイバのカットオフ波長測定装
   置。
6. （６）前記第２の光ファイバ曲げ装置の前記第２の小曲
   率半径曲げ付与部材は、円筒の対称軸を中心にしてなめ
   らかに自転可能となっていることを特徴とする特許請求
   の範囲第（５）項記載の単一モード光ファイバのカット
   オフ波長測定装置。
7. （７）前記光ファイバ曲げ装置の内の小さな曲率半径の
   曲げを与える第２の光ファイバ曲げ装置は、該小さな曲
   率半径の円弧面を有する少なくとも３つの小曲率半径曲
   げ付与部材を有し、それら小曲率半径曲げ付与部材の内
   の少なくとも２つの第１の小曲率半径曲げ付与部材は、
   前記被測定光ファイバに対して同じ側においてそれら小
   曲率半径曲げ付与部材が与える曲率半径の倍の間隔をも
   って配置され且つ前記第１の光ファイバ曲げ装置により
   前記被測定光ファイバに大きな曲率半径の曲げが与えら
   れるときに該光ファイバに対して曲げを与えないように
   該光ファイバに接するように位置付けられており、前記
   少なくとも３つの小曲率半径曲げ付与部材の内の残り第
   ２の小曲率半径曲げ付与部材は、前記第１の光ファイバ
   曲げ装置により前記被測定光ファイバに大きな曲率半径
   の曲げのみが与えられるときには、前記光ファイバに対
   して前記第１の小曲率半径曲げ付与部材の反対側で該光
   ファイバに対して曲げを与えない第１の位置をとり、前
   記被測定光ファイバに小さな曲率半径の曲げが与えられ
   るときには、前記第１の小曲率半径曲げ付与部材の間に
   侵入した第２の位置をとり、該第２の小曲率半径曲げ付
   与部材が前記第２の位置にあるとき、前記第１の小曲率
   半径曲げ付与部材の各々が前記小さい曲率半径の円の１
   ／４周分の曲げを前記光ファイバに与え、前記第２の小
   曲率半径曲げ付与部材の各々が該小さい曲率半径の円の
   １／２周分の曲げを前記光ファイバに与え、前記第２の
   光ファイバ曲げ装置により前記光ファイバにかかる最小
   曲率半径は、上記した小さい曲率半径に等しいことを特
   徴とする特許請求の範囲第（１）項から第（４）項まで
   のいずれかに記載の単一モード光ファイバのカットオフ
   波長測定装置。