JPS60216241A - 単−モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置 - Google Patents

単−モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置

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Publication number
JPS60216241A
JPS60216241A JP7383184A JP7383184A JPS60216241A JP S60216241 A JPS60216241 A JP S60216241A JP 7383184 A JP7383184 A JP 7383184A JP 7383184 A JP7383184 A JP 7383184A JP S60216241 A JPS60216241 A JP S60216241A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
wavelength
light source
measured
single mode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7383184A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Nishimura
正幸 西村
Shuzo Suzuki
鈴木 修三
Katsuji Sakamoto
勝司 坂本
Masaharu Ohashi
正治 大橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp, Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP7383184A priority Critical patent/JPS60216241A/ja
Publication of JPS60216241A publication Critical patent/JPS60216241A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08Testing mechanical properties
    • G01M11/088Testing mechanical properties of optical fibres; Mechanical features associated with the optical testing of optical fibres

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)発明の属する技術分野 本発明は単一モード光ファイバのカットオフ波長を高精
度かつ容易に測定するカットオフ波長測定装置に関する
(ロ)従来技術とその問題点 単一モード光ファイバのカットオフ波長は2つ以上のモ
ードを伝播させることなくシングルモードで作用する限
界波長を示す重要な特性パラメータであるので、このカ
ットオフ波長を精度良(測定することは非常に重要であ
る。カットオフ波長をめるため従来広く用いられている
方法は「曲げ法」とよばれるもので、その典型的な測定
装置を第1図に示す。第1図に示すように適当な長さの
被測定光ファイバ5を波長可変光源1と光検出器20間
に結合する。ここで波長可変光源1と光検出器2とは制
御および演算装置3により互いに結合されている。まず
被測定光ファイバ5に曲げを与えない状態で制御および
演算装置乙により波長可変光源1から出射する光の波長
を掃引し、各波長での被測定光ファイバ5からの出力光
パワーを光検出器2で検出し制御および演算装置乙に記
憶させる。次に被測定光ファイバ5と波長可変光源1お
よび光検出器2との結合状態に変化を与えないようにし
て被測定光ファイバ5を破線5′で示すように適当な径
のマンドレル4に巻きつける。この状態で再度制御およ
び演算装置乙により波長可変光源1から出射する光の波
長を掃引し、各波長での被測定光ファイバ5′からの出
力光パワーを光検出器2で検出し制御および演算装置6
に記憶させる。このようにして記憶させた被測定光ファ
イバに曲げを与えない状態および曲げを与えた状態での
光出力波長依存性の比較から制御および演算装置乙によ
り第2図に示すように曲げ損失波長特性をめることがで
き、この波長特性からカットオフ波長は曲げ損失の立上
り点としてめることができる。
しかしながら上記従来の単一モード光ファイバのカット
オフ波長測定装置においては下記のように測定精度の確
保および測定の作業性の点で問題があった。すなわち、
カットオフ波長の測定精度は被測定光ファイバに曲げを
与える際の両端の結合状態の変化に影響をうけやすいの
で両端の結合状態に変化を与えないよう注意を要してい
た。しかしながら、上記方法により被測定光ファイバを
マンドレルに曲きつけると被測定光ファイバには必然的
にひねりが生じてしまう。一般に被覆された光ファイバ
はひねりに対して強い復元力を持つので、このひねりは
被測定光ファイバの両端の結合状態に変化を与える傾向
の悪影響をもたらしていた。さらに、被覆された光ファ
イバは曲げに対しても復元力を持つので単にマンドレル
に巻いただけでは姿勢が不安定なため、被測定光ファイ
バをたとえば粘着テープでとめる等の固定方法が必要と
され作業性の点で問題があった。
(ハ)発明の目的 本発明は上記従来の事情に鑑みなされたものであって、
測定の際被測定光ファイバに対しひねりを与えることな
くかつ安定した姿勢で曲げを与えることができ、これに
より測定精度の確保とともに測定の作業性が向上された
曲げ法による単一モード光ファイバのカットオフ波長測
定装置を提供することを目的としている。
に)発明の構成 本発明は被測定単一モード光ファイバの各端部に接続さ
れる光源と光検出器と、および上記光源および上記光検
出器と協働する制御および演算装置を有する単一モード
光ファイバの曲げ法によるカットオフ波長測定装置にお
いて、互いに平行にかつ間隔を有して連結された2個の
ローラからなり、各上記ローラの軸に平行な自転軸を有
する光ファイバ曲げ装置であって、上記光ファイバが上
記2個のローラの間を通過し上記自転軸が上記光ファイ
バの延伸方向に対し概ね直交するよう配置された光ファ
イバ曲げ装置が設けられている。
これにより測定精度の確保とともに測定の作業性が向上
された単一モード光ファイバのカットオフ波長測定装置
が提供される。
(泗 発明の実施例 以下図面を参照して本発明の好ましい実施例について説
明する。第6図は本発明による単一モード光ファイバの
カットオフ波長測定装置を概略的に示したものであって
、1.2および3は第1図に示したと同様それぞれ可変
波長光源、光検出器および制御および演算装置である。
波長可変光源1と光検出器20間には被測定光ファイバ
5が結合された状態で示されている。本発明による測定
装置においては第1図に示したマンドレル40代りに互
いに平行かつ間隔を有して連結された2個のローラZ7
を有する曲げ装置6が設けられている。曲げ装置6はロ
ーラZ7の軸に平行でかつローラZ7の中間点を延伸す
る自転軸(図示せず)を有している。曲げ装置6はさら
に第6図に実線 ・で示したように波長可変光源1から
光検出器2へ向かって延伸する光ファイバ5が2個のロ
ーラZ7の間を通過し、かつ上記自転軸が光ファイバの
延伸方向に対し概ね直交するよう配装置されている。
被測定光ファイバ5が曲げ装置602個のローラZ7の
間を通過して延伸した状態で制御および演算装置乙によ
り波長可変光源1から出射する光の波長を掃引し、各波
長での被測定光ファイバ5からの出力光パワーを検出器
2で検出し、制御および演算装置6内に記憶させる。次
に曲げ装置6を第6図の6に示す位置へ自転させ、被測
定光ファイバ5を腋線5′に示すように各ローラZ7に
S字状に巻きつける。曲げ装置の自転は手動にてもある
いは動力駆動にても行うことができる。このように曲げ
装置6により被測定光ファイバ5をS字状に曲げる場合
、ローラ7.7の径を第1図に示した従来の装置におけ
るマンドレル4と同一にすれば、第6図において曲げ装
置が6′に示される位置に回転した状態で被測定光ファ
イバには第1図のマンドレル4に1回曲きつけたと同等
の曲げが与えられる。この状態で再び制御および演算装
置乙により波長可変光源1から出射する光の波長を掃引
し、各波長での被測定光ファイバ5′からの出力光パワ
ーを光検出器2で検出し、制御および演算装置6内に記
憶させる。このようにして記憶させた被測定光ファイバ
に曲げを与えない状態および曲げを与えた状態での光出
力波長依存性の比較から、マンドレルを使用した従来技
術の方法と同様に第2図に示すような曲げ損失波長特性
を得ることができ、この波長特性からカットオフ波長を
めることができる。
このように2個のローラZ7を有する曲げ装置6を自転
させることによりきわめて容易に被測定光ファイバ5に
曲げを与えることができ、しかも被測定光ファイバには
−切ひねりが加えられない。
したがって被測定光ファイバ50両端の波長可変光源1
および光検出器2との結合状態に影響を与えることもな
い。また、ひねりが生じないとともに曲げ装置6の自転
角度を調節することにより被測定光ファイバに適当な引
張を与えることができるので、被測定光ファイバはS字
状に曲げられた状態でローラZ7の周囲に安定した姿勢
で保持され、粘着テープ等による固定は必要とされず作
業性の向上が達成される。さらに曲げ装置6に自動回転
機構を付加すれば測定の自動化をもたらすことができ、
大幅に作業性を改善することが可能となる。
(へ)発明の効果 以上のように本発明は被測定単一モード光ファイバの各
端部に接続される光源と光検出器と、および上記光源お
よび上記光検出器と協働する制御および演算装置を有す
る単一モード光ファイバの曲げ法によるカットオフ波長
測定装置において、互いに平行にかつ間隔を有して連結
された2個のローラからなり、各上記ローラの軸に平行
な自転軸を有する光ファイバ曲げ装置であって、上記光
ファイバが上記2個のローラの間を通過し上記自転軸が
上記光ファイバの延伸方向に対し概ね直交するよう配置
された光ファイバ曲げ装置が設けられている。
これにより、2個のローラを有する曲げ装置の自転のみ
により光ファイバにはきわめて容易にS字状の曲げが与
えられるとともに光ファイバはローラ外周上に安定した
姿勢で保持される。しかも光ファイバには−切ひねりが
加えられないため両端の光源および光検出器との結合状
態に影響を与えることもない。したがって高い測定精度
を確保できるとともに作業性の向上をもたらす単一モー
ド光ファイバのカットオフ波長測定装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の単一モード光ファイバのカットオフ波長
測定装置の概略図、第2図はカットオフ波長のめ方を示
す説明図、第6図は本発明による単一モード光ファイバ
のカットオフ波長測定装置の概略図。 1・・・光源、 2・・・光検出器、 6・・・制御お
よび演算装置、 5・・・被測定単一モード光ファイバ
、6・・・曲げ装置、7・・・ローラ。 特許出鮎 住友電気工業株式会社 同 日本電信電話公社 (外4名)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定単一モード光ファイバの各端部に接続される光源
    と光検出器と、および該光源および該光検出器と協働す
    る制御および演算装置を有し、該光ファイバの一端から
    波長可変な光または波長スペクトルの幅の広い光を入射
    し、該光ファイバの他端における光出力の波長依存性を
    検出し、該光ファイバに曲げを与えない状態および曲げ
    を与えた状態における光出力波長依存性の比較から該光
    ファイバのカットオフ波長を測定する単一モード光ファ
    イバのカットオフ波長測定装置において、互いに平行に
    かつ間隔を有して連結された2個のローラからなり、各
    該ローラの軸に平行な自転軸を有する光ファイバ曲げ装
    置であって、該光ファイバが該2個のローラの間を通過
    し該自転軸が該光ファイバ・の延伸方向に対し概ね直交
    するよう配置された光ファイバ曲げ装置を備えたことを
    特徴とする単一モード光ファイバのカットオフ波長測定
    装置。
JP7383184A 1984-04-12 1984-04-12 単−モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置 Pending JPS60216241A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7383184A JPS60216241A (ja) 1984-04-12 1984-04-12 単−モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP7383184A JPS60216241A (ja) 1984-04-12 1984-04-12 単−モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60216241A true JPS60216241A (ja) 1985-10-29

Family

ID=13529476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7383184A Pending JPS60216241A (ja) 1984-04-12 1984-04-12 単−モ−ド光フアイバのカツトオフ波長測定装置

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JP (1) JPS60216241A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4830503A (en) * 1986-04-16 1989-05-16 Fuji Photo Film Co., Ltd. Reflection density measuring system
CN105588709A (zh) * 2015-12-24 2016-05-18 深圳市杰普特电子技术有限公司 自由空间隔离器隔离度的测试装置及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4830503A (en) * 1986-04-16 1989-05-16 Fuji Photo Film Co., Ltd. Reflection density measuring system
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