JPS5948772B2 - 光フアイバの線引き方法 - Google Patents

光フアイバの線引き方法

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JPS5948772B2
JPS5948772B2 JP3577A JP3577A JPS5948772B2 JP S5948772 B2 JPS5948772 B2 JP S5948772B2 JP 3577 A JP3577 A JP 3577A JP 3577 A JP3577 A JP 3577A JP S5948772 B2 JPS5948772 B2 JP S5948772B2
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JP
Japan
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optical fiber
speed
guide roller
fiber guide
wire diameter
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Expired
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JP3577A
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English (en)
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JPS5385440A (en
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聰 青木
克之 井本
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5385440A publication Critical patent/JPS5385440A/ja
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Expired legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B37/00Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
    • C03B37/01Manufacture of glass fibres or filaments
    • C03B37/02Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
    • C03B37/025Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
    • C03B37/0253Controlling or regulating

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の利用分野 本発明は、光ファイバの線径をオンラインで測定する際
、精度よく線径を測定するために設けた光ファイバガイ
ドローラと光ファイバとのすベーにより生ずる光ファイ
バ表面のキズを低減するため、光ファイバガイドローラ
の周速度が巻き取り速度を等しくなるようにガイドロー
ラを強制的に回転させるようにした光ファイバの線引き
方法に関するものである。
(2)従来技術 光ファイバの線引きは第1図に示すように、光ファイバ
素材1を加熱源2に所定の速度で送り込み、加熱溶融さ
れた光ファイバ素材1を引き出して、巻き取りドラム3
にとりつけ、巻き取りドラム3を所定の速度で回転させ
光ファイバ4とする。
このとき、加熱源2と巻き取りドラム3との間に設けた
線径検出器5により光ファイバ4の線径を検出する。一
般に線径検出器5を光学的に非接触で線径を測定するも
のであり、オンライン中の光ファイバ4の振動などによ
り、安定に測定精度よく線径を測定することはむずかし
い。そのため、光ファイバガイドローラ6、6’を設け
ることにより、光ファイバ4の振動などの位置の変動を
抑えて精度よく線径を検出している。しかし、このよう
な方法で線引きした光ファイバの引張り破断強度を測定
した結果、その強度はO、6kg前後の小さい値であり
、このプロセスの中に光ファイバの機械的強度を劣化さ
せる要因があると考えられた。そこで本発明者はこの劣
化要因を調べるために光ファイバ線引き中の光ファイバ
ガイドローラの回転数を回転検出器で測定した結果、第
2図aに示すごとく変動が大きく、かつ、その周速度と
光ファイバの巻き取り速度に差があることを発見した。
同図bはガイドローラの周速度が巻き取り速度と等くな
るときの回転数(に−p−m)の変動を示したものであ
る。そして、さらに分析、検討した結果、これは光ファ
イバの標引きにおける張力の変動により、光ファイバ4
、による光ファイバガイドローラ6、6’への圧力が変
動するため、光ファイバ4と光ファイバガイドローラ6
、6’との間の摩擦力が変動し、回転むらが生じたもの
と考えられる。その結果、光フアイバ4の巻き取り速度
、すなわち、光フアイバガイドローラ部での光フアイバ
4の通過速度と光フアイバガイドローラ6,65の周速
度に差が生じているものと考えられる。このように光フ
アイバの巻き取り速度と光フアイバガイドローラの周速
度に差があると、光フアイバ4と光フアイバガイドロー
ラ6,6′との間にはすべりが生じ、光フアイバ4の表
面は機械的損傷を受け、表面にキズが発生ずる。これが
、光フアイバ4の機械的強度を劣化させる原因と′よつ
ていた。(3)発明の目的 本発明は、光フアイバガイドローラの周速度が光フアイ
バの巻き取り速度と等しくなるように、光フアイバガイ
ドローラを強制的に回転させることにより、光フアイバ
の巻き取り速度と光フアイバガイドローラの周速度が異
なる場合に生ずる光フアイバと光フrイバガイドローラ
とのすべりによる摩擦をなくすことによつて、光フアイ
バ表面のキズの発生を低減し、光フアイバの機械的強度
の劣化を防止することを目的とする。
(4)実施例 以下、本発明を実施例を参照して詳細に説明する。
第3図は本発明の実施例である。光フアイバ素材の送り
機構部、光フアイバの巻き取り機構図は同図面には省略
してある。炉芯管7と電気炉8よりなる加熱源2に光フ
アイバ素材1を所定の速度で送り込む。本実施例では、
炉芯管内温度は1950℃であり、外径8.4m1の光
フアイバ素材1を7f1Lm/Minで加熱源に送り込
んだ。加熱溶融した光フアイバ素材を引き出し、巻き取
りドラム3にとりつけ、巻き取りドラムを所定の速度で
回転させて巻き取り、光フアイバ4を得る。本実施例に
おいては、光フアイバの1線径dを130μmに設定し
、巻き取り速度を29.22m/Minとした。光フア
イバ4は線径を安定に精度よく測定するために光フアイ
バガイドローラ6,6′に沿わせて巻き取る。以下に本
発明である光フアイバガイドローラ6,65を巻き取り
速度と等しい周速,度をもつて回転させる方法にっいて
述べる。本発明の実施例では光フアイバガイドローラ6
,6/は直流モータ12,127で回転、駆動させ、そ
れらの光ファーバカxイドローラ6,65の周速度は回
転数検出器10,10′で検出する。
また、巻き取りドラム3の回転数は回転数検出器9によ
り検出する。巻き取りドラム3の周長は1mであり、そ
の回転数が巻き取り速度になる。回転数検出器9の出力
を制御回路11,1Vに入力し、制御回路11,1Vの
基準信号とする。他方、回転数検出器10,10′の出
力信号も制御回路11,1Vに各々入力する。制(財)
回路11,1Vは基準信号の変゛化に常に追従して同期
するように動作させ、その制御回路の出力端に上記光フ
アイバガイドカーラ6,6′の周速度が上記巻き取りド
ラム3の回転数に同期させるような信号を発生させる。
そして、その出力信号によつて直流モータ12,12′
が駆動するようにしてある。すなわち、巻き取りドラム
3の回転数RfOに相当する検出器9の出力電圧をVf
Oとし、光フアイバガイドローラ6,6′の周速度R′
FOに相当する検出器10,10′の電圧をVrO,V
,O′とし、またそのときの直流モータ12,125の
電圧をV。,VD′とする。制御回路11(1「)にV
fOとV,O(V,O●の電圧が入力したときには、そ
の制御回路の出力端にはVD(VD′)が生ずるように
してある。そして、FO>V,O(V,Oつ、あるいは
FO<VrO(V,ら)のように誤差信号を生じた場合
には、その制御回路11(112)の比較、増幅回路が
動作し、その出力端に常にVD(VDつが発生するよう
に制御回路の中のフイードバツク回路が動作するように
なつている。さらに、VfOが△FOだけ増した(ある
いは減つた)場合には制御回路の出力端にはVDが大き
く(あるいは小さく)するような信号を発生させる回路
構成とした。本実施例では、巻き取り速度は29.22
,1/Minであり、光フアイバガイドローラ6,6′
の径が10g1であるから、光フアイバガイドローラ6
,65の周速度と巻き取り速度が等しくなるためには光
フアイバガイドローラ6,6′は930r.p.mで回
転しなければならない。第4図は光フアイバの巻き取り
速度を29.22m/Minに保つた場合の光フアィバ
ガィドローラ6,6/の回転数を同期させた場合の一例
である。光フアイバガイドローラ6,6′の回転むらは
光フアイバの巻き取り速度に対して±1%以下に押える
ことができた。第5図に光フアイバガィドローラ6,6
゛を強制的に回転させない従来方法により線引きした光
フアイバの引張り破断強度の頻度分布、第6図に本発明
により光フアイバガイドローラ6,6″の周速度が巻き
取り速度と同期して等しくなるように光フアイバガイド
ローラを強制的に回転させる力法により線引きした光フ
アイバの引張り破断強度の頻度分布を示す。引張り破断
強度の測定に用いた試料は長さ100龍、試料数50本
である。従来方法による光フアイバの引張り破断強度の
平均値は0.59kgであり、本発明による光フアイバ
の引張り破断強度の平均値は0.98k9であつた。本
発明によれば光フアイバ表面の機械的損傷によるキズの
発生を低減し、強度の劣化を防止できる。本実施例によ
れば、本発明により、約40%の劣化防止を実現するこ
とができた。なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではない。
たとえば、光フアイバガイドローラは1個あるいは3個
以上であつてもよい、また、光フアイバガイドローラの
回転,駆動は直流モータ以外にパルスモータ、スデツプ
モータ、インダクシヨンモータなどであつてもよい。さ
らに光フアイバガイドローラの構造、寸法なども上記実
施例に限定されるものではない。また、光フアィバの巻
き取り速度と光フアイバガイドローラの周速度との同期
方法は比例制御、比例積分制御、比例積分微分制御など
を使えることは言うまでもない。(5)まとめ以上説明
したごとく本発明によれば、従来方法のような、光フア
イバと光フアイバガイドローラとの摩擦がなく、接触す
るだけであるため、光フアイバ表面にキズをつけること
が少ない。
したがつて、光フアイバの機械的強度の劣化を低減し、
かつ線径を精度よく測定することが可能となり、光フア
イバの品質の向上に大きな効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来方法による光フアイバ線引き法の概略図、
第2図は従来方法における光フアイバガイドローラの回
転数の変動を示す図、第3図は本発明による実施例を示
す図、第4図は本発明における光フアイバガイドローラ
の回転数の変動を示す図、第5図は従来方法により線引
きした光フアイバの引張り破断強度の頻度分布図、第6
図は本発明による光フアイバガイドローラを用いて線引
きした光フアイバの引張り破片強度の頻度分布図である

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 線引きされる光ファイバの線径を線径検出器で検出
    し、その線径値が一定となるように光ファイバの巻取り
    速度を制御して光ファイバをドラムに巻取る光ファイバ
    の線引き方法において、線径検出器に光ファイバガイド
    ローラを設けて光ファイバを案内すると共に、このガイ
    ドローラの周速度を、光ファイバの巻取り速度と等しく
    なるように巻取り速度検出信号によりフィードバック制
    御するようにしたことを特徴とする光ファイバの線引き
    方法。
JP3577A 1977-01-05 1977-01-05 光フアイバの線引き方法 Expired JPS5948772B2 (ja)

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JPS5385440A JPS5385440A (en) 1978-07-27
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JPS61130372U (ja) * 1985-01-29 1986-08-15

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