JPH06239641A - 光ファイバの異常点検出方法及び装置 - Google Patents

光ファイバの異常点検出方法及び装置

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JPH06239641A
JPH06239641A JP5025063A JP2506393A JPH06239641A JP H06239641 A JPH06239641 A JP H06239641A JP 5025063 A JP5025063 A JP 5025063A JP 2506393 A JP2506393 A JP 2506393A JP H06239641 A JPH06239641 A JP H06239641A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、線引工程において光ファイバに発
生した微細な気泡や傷等の異常点を検出する方法及びそ
の装置に関する。 【構成】 線引装置に演算処理装置９を設けた構成につ
いて、光ファイバ３の外径変動をキャプスタン４にフィ
ードバックし、引取速度を変化せしめて一定外径になる
よう線引きするときに、所定の期間内に生じた引取速度
変化について当該期間に対する速度変化の割合を演算
し、この値と予め指定した値とを比較して検出するもの
である。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、線引工程における光フ
ァイバの異常点検出方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバを線引きする場合、外径変動
をキャプスタンの引取速度にフィードバックする外径制
御方式がとられている。図３は従来の線引装置の構成を
示す概略図である。光ファイバ用母材１は加熱炉２によ
り溶融され、キャプスタン４により引取られて光ファイ
バ３が形成される。光ファイバ３の外径は加熱炉２の直
下にある外径測定器５によって測定され、所定の外径
（通常は１２５μｍ）となるようにキャプスタン４の引
取速度にフィードバックされる。この方法は、また母材
中に微小の異物が存在し、線引きされたファイバ外径が
この異物によって変化した場合、この変化は瞬間的であ
るため上記の制御系は追随することができずに外径測定
器５によって異常点の発生したことを検知することがで
きる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法では光ファイバ母材中に気泡が一定の長さに亘って
残存した場合はキャプスタンの引取速度が変化し一定の
外径に制御される。ところで外径が均一に制御されて
も、線引きされるときに気泡がつぶれて光ファイバのコ
アが変形し、伝送損失の増加を招く等の問題が生じるの
で予め検出して除去する必要がある。そこで本発明は、
かかる問題を解決した光ファイバの異常点検出方法及び
その装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、光ファイバの
外径変動をキャプスタンの引取速度にフィードバック
し、引取速度を変化せしめて一定外径になるよう線引き
するときに、所定の期間内に生じた引取速度変化につい
て当該期間に対する速度変化の割合を計算し、この計算
値と予め指定した値とを比較して検知する光ファイバの
異常点検出方法であり、前記引取速度変化の割合を計算
するにあたり、各時刻とそのときの引取速度を一旦記憶
し、これをデータベースに基準時刻と指定時刻との期間
に対する速度変化の割合を計算し、以下基準時刻を順次
移動して速度変化の割合を求める異常点検出方法であ
る。
【０００５】また本発明は、光ファイバ用母材の加熱装
置と、線引きされた光ファイバの外径測定器と、光ファ
イバに樹脂を被覆する塗布装置と、樹脂の硬化装置と、
外径測定器の測定値によって引取速度が制御されるキャ
プスタンとを備えた線引装置に所定期間内における引取
速度変化の割合を演算処理する装置が取付けられた光フ
ァイバの異常点検出装置であり、前記演算処理装置は、
キャプスタンの引取速度をサンプリングする入力装置
と、サンプリングされた引取速度とその時刻とを蓄積す
る記憶装置と、所定の期間に対するその期間に生じた引
取速度変化の割合を計算する演算器と、演算器の出力と
予め指定した値とを比較する比較器と、比較器の出力に
よって作動する異常点検知器とを備えて構成される。
【０００６】
【作用】光ファイバ用母材に気泡の残存する部分が線引
きされるときは、先ず気泡がつぶれあるいは気泡が小さ
くなって外径が細くなろうとする。このときの情報は外
径測定器からキャプスタンにフィードバックされ、その
結果線速が遅くなって線引された光ファイバは一定外径
を保持することができる。しかしながらこのファイバは
外径が一定でも気泡がつぶれたりあるいは小さい気泡が
残る場合があり、光ファイバの強度が低下したり、伝送
損失の増加原因となる。そこで前記の構成のように、引
取速度を一旦メモリーし、その変化を演算処理すること
によって外径測定器では検知できない異常点を検出する
ことができる。
【０００７】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の実施例を
説明する。なお、図面の説明において同一要素には同一
符号を付し、重複する説明を省略する。図１は光ファイ
バの線引装置に引取速度の演算処理装置を付加した実施
例の構成を示す概略図であり、図２は演算処理装置の構
成を示すブロック図である。本実施例はこれらの図が示
すように、光ファイバ用母材１は加熱炉２により溶融さ
れ、キャプスタン４により引出されて光ファイバ３が形
成される。光ファイバ３の外径は加熱炉２の直下にある
外径測定器５によって測定され、所定の外径（通常は１
２５μｍ）となるようキャプスタン４にフィードバック
される。演算処理装置９はキャプスタン８の引取速度を
一旦記憶し、速度変化の程度を演算処理して異常点の有
無を判断する。
【０００８】なお、光ファイバ３は塗布ダイ６によって
樹脂が被覆され、硬化炉７，キャプスタン４を経てドラ
ム８に巻取られる。図２に示された演算処理装置の実施
例において、１１は時刻Ｔにおけるキャプスタンの引取
速度Ｖを一定間隔ごとにサンプリングする入力装置、１
２はこれらの情報を貯える記憶装置、１３a，１３b,・・
・,１３nはそれぞれ演算器であって、基準時刻（例えば
現時点）ＴoとＴoから一定時間さかのぼって指定した指
定時刻Ｔa,・・・,Ｔnにおけるキャプスタンの引取速度Ｖ
o，Ｖa,・・・,Ｖnを記憶装置１２から引出し、速度差Ｖa
−Ｖo,・・・,ＩＶn−Ｖoをそのときの期間Ｔo−Ｔa,・・・,
Ｔo−Ｔnで割って速度変化の割合 ＩＶa−Ｖo／Ｔo−
Ｔa,・・・,ＩＶn−ＶoＩ／Ｔo−Ｔnを求めるものである。
１５a,・・・,１５nは演算器１３a,・・・,１３nの出力と予め
設定された指定値１４a,・・・,１４nとを比較し、指定値
より大きいときだけ出力を発生する比較器、６は比較器
からの信号に従って作動する異常点検知器である。上記
の演算処理が終わると基準時刻Ｔoを移動し、次に基準
時刻Ｔo’について上記の演算を繰返し、光ファイバ全
長について異常点の検出を行うものである。
【０００９】ここで、指定値１４a,・・・,１４nの大きさ
及び基準時刻と指定時刻との間隔Ｔa−Ｔo,・・・,Ｔn−Ｔ
oは線速制御の方式（Ｐ，Ｉ，Ｄ制御及び係数等）ある
いは異常点検出の精度（気泡の大きさ，発生頻度等）に
よって適宜決定される。また、複数の指定値１４a,・・・,
１４n及び期間の長さＴa−Ｔo,・・・,Ｔn−Ｔoを設定し、
これらの値について速度変化の割合を演算することによ
ってきめ細かい異常点の検出を実現することができる。
次に図１，図２に示す装置について光ファイバの異常点
検出を行った。間隔Ｔo−Ｔa＝２秒，Ｔo−Ｔb＝１０
秒，Ｔo−Ｔc＝３０秒とし、指定値１４a＝２ｍ／分／
秒，１４b＝４ｍ／分／秒，１４c＝１０ｍ／分／秒に設
定し、直径５０ｍｍの母材を用いて外径１２５μｍの光
ファイバを１０００ｋｍ線引した。その結果１０ケ所に
ついて異常点検知器が作動したが、いずれも異常点が検
出された。これに対して従来の外径測定器では１０ケ所
中、３ケ所が異常であると判定できた。
【００１０】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば外径制御された光ファイバの線引装置について、キ
ャプスタンの引取速度を一旦記憶し、所定期間の速度変
化の割合を演算処理して異常点の有無を判断するもので
ある。従って、気泡等が残存する母材を線引きする場
合、外径が均一に制御されても線引きされるときに気泡
がつぶれ、あるいは小さくなって外径が細くなろうとす
る。本発明はこのときの引取速度変化を処理することに
よって、外径測定器では検知できない異常点を検出する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施例の構成を示す概略図である。
【図２】本実施例に適用される演算処理装置の構成を示
すブロック図である。
【図３】従来の異常点検出装置の構成を示す概略図であ
る。
【符号の説明】
１：光ファイバ用母材 ２：加熱装置 ３：光ファイバ ４：キャプスタン ５：外径測定器 ６：塗布装置 ８：巻取装置 ９：演算処置装置 １１：入力装置 １２：記憶装置 １３a,・・・,１３n：演算器 １４a,・・・,１４n：指定値 １５a,・・・,１５n：比較器 １６：異常検知器

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光ファイバの外径変動をキャプスタンの
    引取速度にフィードバックし、引取速度を変化せしめて
    一定外径になるよう線引きするときに、所定の期間内に
    生じた引取速度変化について当該期間に対する速度変化
    の割合を計算し、この計算値と予め指定した値とを比較
    して検知することを特徴とする光ファイバの異常点検出
    方法。
  2. 【請求項２】 各時刻とそのときの引取速度を一旦記憶
    し、これをデータベースに基準時刻と指定時刻との期間
    に対する速度変化の割合を計算し、以下基準時刻を順次
    移動して速度変化の割合を求めることを特徴とする請求
    項１記載の光ファイバの異常点検出方法。
  3. 【請求項３】 光ファイバ用母材の加熱装置と、線引き
    された光ファイバの外径測定器と、光ファイバに樹脂を
    被覆する塗布装置と、樹脂の硬化装置と、外径測定器の
    測定値によって引取速度が制御されるキャプスタンとを
    備えた線引装置に所定期間内における引取速度変化の割
    合を演算処理する装置が取付けられたことを特徴とする
    光ファイバの異常点検出装置。
  4. 【請求項４】 演算処理装置がキャプスタンの引取速度
    をサンプリングする入力装置と、サンプリングされた引
    取速度とその時刻とを蓄積する記憶装置と、所定の期間
    に対するその期間に生じた引取速度変化の割合を計算す
    る演算器と、演算器の出力と予め指定した値とを比較す
    る比較器と、比較器の出力によって作動する異常点検知
    器とを備えたことを特徴とする請求項３記載の光ファイ
    バの異常点検出装置。
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