JP2594928B2 - ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 - Google Patents
ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法Info
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- JP2594928B2 JP2594928B2 JP62051401A JP5140187A JP2594928B2 JP 2594928 B2 JP2594928 B2 JP 2594928B2 JP 62051401 A JP62051401 A JP 62051401A JP 5140187 A JP5140187 A JP 5140187A JP 2594928 B2 JP2594928 B2 JP 2594928B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、回転リールに装着したストリップコイルを
巻戻す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取っ
てストリップコイルを形成する際に、ストリップコイル
で発生する層間スリップを早期に検出することができる
ストリップコイルの層間スリップ検出方法に関する。
巻戻す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取っ
てストリップコイルを形成する際に、ストリップコイル
で発生する層間スリップを早期に検出することができる
ストリップコイルの層間スリップ検出方法に関する。
一般に、金属ストリップの酸洗，圧延等の各種処理ラ
インでは、処理セクションの前後にペイオフリールとテ
ンションリールを備えている。そして、処理すべきスト
リップコイルをペイオフリールに装着して巻戻しながら
処理セクションに搬送してこの処理セクションで所定の
処理を施した後テンションリールによって金属ストリッ
プをコイル状に巻取るようにしている。
インでは、処理セクションの前後にペイオフリールとテ
ンションリールを備えている。そして、処理すべきスト
リップコイルをペイオフリールに装着して巻戻しながら
処理セクションに搬送してこの処理セクションで所定の
処理を施した後テンションリールによって金属ストリッ
プをコイル状に巻取るようにしている。
ところが、このような回転リールによる金属ストリッ
プの巻戻し，巻取りの際に、巻重ねられた金属ストリッ
プの隣接するストリップ間で滑りを生じる層間スリップ
が発生し、これによって巻締り，巻弛みが生じることが
ある。このように巻締り，巻弛みが生じると、前者の場
合には、金属ストリップ表面にスリ疵が発生して製品の
品質上問題となり、後者の場合には、ストリップコイル
径が大きくなると共に、他の処理ラインでの巻戻しの際
の張力制御を良好に行うことができない等の問題があ
る。
プの巻戻し，巻取りの際に、巻重ねられた金属ストリッ
プの隣接するストリップ間で滑りを生じる層間スリップ
が発生し、これによって巻締り，巻弛みが生じることが
ある。このように巻締り，巻弛みが生じると、前者の場
合には、金属ストリップ表面にスリ疵が発生して製品の
品質上問題となり、後者の場合には、ストリップコイル
径が大きくなると共に、他の処理ラインでの巻戻しの際
の張力制御を良好に行うことができない等の問題があ
る。
このため、通常、層間スリップが生じないように、ペ
イオフリールから巻戻される金属ストリップ及びテンシ
ョンリールに巻取られる金属ストリップの張力を一定と
する回転リールの速度制御を行うようにしている。
イオフリールから巻戻される金属ストリップ及びテンシ
ョンリールに巻取られる金属ストリップの張力を一定と
する回転リールの速度制御を行うようにしている。
しかしながら、上述のような層間スリップを生じない
速度制御を実施しても、金属ストリップの張力変動は避
けられず、以前として層間スリップが発生しているのが
現状である。このストリップ張力の変動の要因としては
種々のものがあるが、その主な要因としては以下に述べ
るものがある。
速度制御を実施しても、金属ストリップの張力変動は避
けられず、以前として層間スリップが発生しているのが
現状である。このストリップ張力の変動の要因としては
種々のものがあるが、その主な要因としては以下に述べ
るものがある。
（１） ストリップ張力の一部は、回転リールにおける
曲げ又は曲げ戻しの仕事に費やされるため、コイル径が
変化すると、この仕事分も変化し、結果として金属スト
リップの純張力も変化する。
曲げ又は曲げ戻しの仕事に費やされるため、コイル径が
変化すると、この仕事分も変化し、結果として金属スト
リップの純張力も変化する。
（２） 回転リールのリール軸が変形するとストリップ
張力変動につながる。
張力変動につながる。
（３） 通板中における金属ストリップの蛇行。
（４） ライン操業条件の変化。
ここで、上記要因（１）については、例えば特開昭51
−18249号公報に記載されている方法が提案されている
が、それ以外の要因については完全に層間スリップを防
止する方法はなく、大量の不良品を出してからストリッ
プコイルでの層間スリップの発生に気付き、その後何等
かの処置を講じることになる。したがって、ストリップ
コイルの層間スリップを早期に発見することが強く要望
されていた。
−18249号公報に記載されている方法が提案されている
が、それ以外の要因については完全に層間スリップを防
止する方法はなく、大量の不良品を出してからストリッ
プコイルでの層間スリップの発生に気付き、その後何等
かの処置を講じることになる。したがって、ストリップ
コイルの層間スリップを早期に発見することが強く要望
されていた。
そこで、本発明は、ストリップコイルでの層間スリッ
プの発生を早期に発見して製品不良等の不具合を最小限
に抑えることが可能なストリップコイルの層間スリップ
検出方法を提供することを目的としている。
プの発生を早期に発見して製品不良等の不具合を最小限
に抑えることが可能なストリップコイルの層間スリップ
検出方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は、回転リールに
装着したストリップコイルを巻戻す際又は前記回転リー
ルに金属ストリップを巻取ってストリップコイルを形成
する際に、前記回転リールの回転数に応じたパルスを発
生する回転リールパルス発生器及び回転リールの近傍で
金属ストリップに転接するロールの回転数に応じたパル
スを発生するロールパルス発生器のパルスと前記ロール
の径とに基づいて、前記回転リールの第（ｎ−１）回転
目（ｎは正の整数）における金属ストリップの移動長さ
ln-1と、ｎ回転目における移動長さlnとを算出し、両算
出値の差値が前記回転リールの１回転における移動長さ
の変化分と許容値とで設定される所定設定範囲外となっ
たときにストリップコイル内における金属ストリップ間
の層間スリップ発生状態であると判定することを特徴と
するストリップコイルの層間スリップ検出方法を特定発
明とし、回転リールに装着したストリップコイルを巻戻
す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取ってス
トリップコイルを形成する際に、前記回転リールの回転
数に応じたパルスを発生する回転リールパルス発生器及
び回転リールの近傍で金属ストリップに転接するロール
の回転数に応じたパルスを発生するロールパルス発生器
のパルスと前記ロールの径とに基づいて、前記回転リー
ルの第（ｎ−１）回転目（ｎは正の整数）におけるスト
リップコイルのコイル径Dn-1と、ｎ回転目におけるコイ
ル径Dnとを算出し、両算出値の差値が前記回転リールの
１回転におけるコイル径Dnの変化分と許容値とで設定さ
れる所定設定範囲外となったときにストリップコイル内
における金属ストリップ間の層間スリップ発生状態であ
ると判定することを特徴とするストリップコイルの層間
スリップ検出方法を併合発明としている。
装着したストリップコイルを巻戻す際又は前記回転リー
ルに金属ストリップを巻取ってストリップコイルを形成
する際に、前記回転リールの回転数に応じたパルスを発
生する回転リールパルス発生器及び回転リールの近傍で
金属ストリップに転接するロールの回転数に応じたパル
スを発生するロールパルス発生器のパルスと前記ロール
の径とに基づいて、前記回転リールの第（ｎ−１）回転
目（ｎは正の整数）における金属ストリップの移動長さ
ln-1と、ｎ回転目における移動長さlnとを算出し、両算
出値の差値が前記回転リールの１回転における移動長さ
の変化分と許容値とで設定される所定設定範囲外となっ
たときにストリップコイル内における金属ストリップ間
の層間スリップ発生状態であると判定することを特徴と
するストリップコイルの層間スリップ検出方法を特定発
明とし、回転リールに装着したストリップコイルを巻戻
す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取ってス
トリップコイルを形成する際に、前記回転リールの回転
数に応じたパルスを発生する回転リールパルス発生器及
び回転リールの近傍で金属ストリップに転接するロール
の回転数に応じたパルスを発生するロールパルス発生器
のパルスと前記ロールの径とに基づいて、前記回転リー
ルの第（ｎ−１）回転目（ｎは正の整数）におけるスト
リップコイルのコイル径Dn-1と、ｎ回転目におけるコイ
ル径Dnとを算出し、両算出値の差値が前記回転リールの
１回転におけるコイル径Dnの変化分と許容値とで設定さ
れる所定設定範囲外となったときにストリップコイル内
における金属ストリップ間の層間スリップ発生状態であ
ると判定することを特徴とするストリップコイルの層間
スリップ検出方法を併合発明としている。
本発明においては、回転リールの１回転毎に、巻取ら
れる金属ストリップの長さ又はコイル径若しくは巻戻さ
れる金属ストリップの長さ又はコイル径を測定し、前回
の測定値と今回の測定値とを比較することによってスト
リップコイル内の金属ストリップ間で発生する層間スリ
ップの有無を判定するので、早期に層間スリップを検出
することが可能となる。
れる金属ストリップの長さ又はコイル径若しくは巻戻さ
れる金属ストリップの長さ又はコイル径を測定し、前回
の測定値と今回の測定値とを比較することによってスト
リップコイル内の金属ストリップ間で発生する層間スリ
ップの有無を判定するので、早期に層間スリップを検出
することが可能となる。
以下、本発明による実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図はこの発明の第１実施例を示す構成図である。
図中、１は回転リールとしてのテンションリールであ
って、ブライドルロール2a,2b及びデフレクターロール
３を介して送給される金属ストリップＳを巻取る。この
とき、テンションリール１とブライドルロール2a,2bと
によって金属ストリップＳに所定の張力を付与しながら
金属ストリップＳをテンションリール１に巻取る。
って、ブライドルロール2a,2b及びデフレクターロール
３を介して送給される金属ストリップＳを巻取る。この
とき、テンションリール１とブライドルロール2a,2bと
によって金属ストリップＳに所定の張力を付与しながら
金属ストリップＳをテンションリール１に巻取る。
テンションリール１のリール軸1aには、パルスジェネ
レータ４が取付けられ、このパルスジェネレータ４から
テンションリール１の１回転当たりα個（例えばα＝10
00）のパルス信号PAが出力される。また、ブライドルロ
ール2bにも同様のパルスジェネレータ５が取付けられ、
このパルスジェネレータ５からブライドルロール2bの１
回転当たりβ個（例えばβ＝1000）のパルス信号PBが出
力される。
レータ４が取付けられ、このパルスジェネレータ４から
テンションリール１の１回転当たりα個（例えばα＝10
00）のパルス信号PAが出力される。また、ブライドルロ
ール2bにも同様のパルスジェネレータ５が取付けられ、
このパルスジェネレータ５からブライドルロール2bの１
回転当たりβ個（例えばβ＝1000）のパルス信号PBが出
力される。
そして、パルスジェネレータ４のパルス信号PAがプリ
セットダウンカウンタ６に入力される。このカウンタ６
のプリセット値は、前記パルスジェネレータ４のテンシ
ョンリール１の１回転当たりのパルス数αに等しく選定
され、そのカウント値が零となった時にテンションリー
ル１の１回転を検出する検出パルスDPが出力される。
セットダウンカウンタ６に入力される。このカウンタ６
のプリセット値は、前記パルスジェネレータ４のテンシ
ョンリール１の１回転当たりのパルス数αに等しく選定
され、そのカウント値が零となった時にテンションリー
ル１の１回転を検出する検出パルスDPが出力される。
一方、パルスジェネレータ５のパルス信号PBがアップ
カウンタ７に入力される。このカウンタ７には、前記カ
ウンタ６の検出パルスDPが入力され、この検出パルスDP
が入力される毎に、その時点でのカウント値Pnを出力す
ると共に、カウント値を零にクリアする。
カウンタ７に入力される。このカウンタ７には、前記カ
ウンタ６の検出パルスDPが入力され、この検出パルスDP
が入力される毎に、その時点でのカウント値Pnを出力す
ると共に、カウント値を零にクリアする。
このカウント値Pnは、ラッチ回路８及び演算装置９に
それぞれ供給される。
それぞれ供給される。
ラッチ回路８は、前記ダウンカウンタ６の検出パルス
DPが供給され、この検出パルスDPが供給された時点で、
アップカウンタ７のカウント値Pnを取り込むと共に、前
回取り込んだアップカウンタ７のカウント値Pn-1を演算
装置９に出力する。
DPが供給され、この検出パルスDPが供給された時点で、
アップカウンタ７のカウント値Pnを取り込むと共に、前
回取り込んだアップカウンタ７のカウント値Pn-1を演算
装置９に出力する。
演算装置９には、板厚設定器10で予め設定された板厚
値ｔが入力され、この板厚値ｔとアップカウンタ７から
入力されるカウント値Pnとラッチ回路８から入力される
前回カウント値Pn-1とに基づきテンションリール１の
（ｎ−１）回転目とｎ回転目との間における金属ストリ
ップＳの巻取り長さを算出し、これに基づいてテンショ
ンリール１に形成されたストリップコイルSCに層間スリ
ップが発生しているか否かを判定して、層間スリップが
発生しているものと判定したときに、そのことを表す判
定信号DSを警報装置或いはライン制御装置11に出力す
る。
値ｔが入力され、この板厚値ｔとアップカウンタ７から
入力されるカウント値Pnとラッチ回路８から入力される
前回カウント値Pn-1とに基づきテンションリール１の
（ｎ−１）回転目とｎ回転目との間における金属ストリ
ップＳの巻取り長さを算出し、これに基づいてテンショ
ンリール１に形成されたストリップコイルSCに層間スリ
ップが発生しているか否かを判定して、層間スリップが
発生しているものと判定したときに、そのことを表す判
定信号DSを警報装置或いはライン制御装置11に出力す
る。
ここで、演算装置９は、以下に述べる演算処理を行
う。
う。
すなわち、ブライドルロール2dの直径をｄ（mm）とす
ると、パルスジェネレータ５の１パルス当たりにおける
金属ストリップＳの移動距離は、πd/βで表される。従
って、テンションリール１の第（ｎ−１）回転目に巻取
られる金属ストリップＳの長さln-1（mm）は次式で表す
ことができる。
ると、パルスジェネレータ５の１パルス当たりにおける
金属ストリップＳの移動距離は、πd/βで表される。従
って、テンションリール１の第（ｎ−１）回転目に巻取
られる金属ストリップＳの長さln-1（mm）は次式で表す
ことができる。
同様に、続くテンションリール１の第ｎ回転目での金
属ストリップＳの巻取り長さln（mm）は次式で表すこと
ができる。
属ストリップＳの巻取り長さln（mm）は次式で表すこと
ができる。
従って、層間スリップが発生しているか否かは、次式
で表される巻取り長さln-1及びlnの差値に基づく偏差量
Δｌで判定することができる。
で表される巻取り長さln-1及びlnの差値に基づく偏差量
Δｌで判定することができる。
Δｌ＝ln−ln-1−２πｔ ……（３） ここで、Δｌが零であれば層間スリップが全く発生し
ていないことになる。また、Δｌ＜０であれば巻締しが
生じていることになり、その許容下限値をεＬ（例えば
5mm）とし、一方、Δｌ＞０であれば巻弛みが生じてい
ることになり、その許容上限値をεＨ（例えば10mm）と
すると、前記（３）式で算出した偏差量ΔｌがεＬ≦Δ
ｌ≦εＨを満足すれば、層間スリップが発生していない
か又は発生していたとしても製品の品質に影響を与えな
い程度の極僅かであってテンションリール１による金属
ストリップＳの巻取り作業は良好に行われていると判定
することができるが、Δｌ＜εＬ又はΔｌ＞εＨである
ときには金属ストリップＳの表面にスリ疵等が発生して
製品の品質に影響を与える層間スリップが発生している
ものと判定することができ、判定信号DSを警報装置又は
ライン制御装置11に出力する。
ていないことになる。また、Δｌ＜０であれば巻締しが
生じていることになり、その許容下限値をεＬ（例えば
5mm）とし、一方、Δｌ＞０であれば巻弛みが生じてい
ることになり、その許容上限値をεＨ（例えば10mm）と
すると、前記（３）式で算出した偏差量ΔｌがεＬ≦Δ
ｌ≦εＨを満足すれば、層間スリップが発生していない
か又は発生していたとしても製品の品質に影響を与えな
い程度の極僅かであってテンションリール１による金属
ストリップＳの巻取り作業は良好に行われていると判定
することができるが、Δｌ＜εＬ又はΔｌ＞εＨである
ときには金属ストリップＳの表面にスリ疵等が発生して
製品の品質に影響を与える層間スリップが発生している
ものと判定することができ、判定信号DSを警報装置又は
ライン制御装置11に出力する。
このように、判定信号DSが警報装置11に出力される
と、この警報装置から層間スリップが生じたことを表す
警報が発せられ、また判定信号DSがライン制御装置11に
出力されると、ラインを停止させて金属ストリップＳの
移送を停止させて、層間スリップの発生に対する要因の
除去等の適切な処置を施すことができる。
と、この警報装置から層間スリップが生じたことを表す
警報が発せられ、また判定信号DSがライン制御装置11に
出力されると、ラインを停止させて金属ストリップＳの
移送を停止させて、層間スリップの発生に対する要因の
除去等の適切な処置を施すことができる。
なお、上記第１実施例においては、テンションリール
１で金属ストリップＳを巻取る場合について説明した
が、これに限定されるものではなく、ペイオフリールに
ストリップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記
と同様に層間スリップの判定を行うことができる。但
し、この場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じて
ストリップコイル径が減少するので、前記（３）式に代
えて下記（４）式を適用する。
１で金属ストリップＳを巻取る場合について説明した
が、これに限定されるものではなく、ペイオフリールに
ストリップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記
と同様に層間スリップの判定を行うことができる。但
し、この場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じて
ストリップコイル径が減少するので、前記（３）式に代
えて下記（４）式を適用する。
Δｌ＝ln-1−ln−２πｔ ……（４） 次に、この発明の第２実施例を第２図について説明す
る。
る。
この第２実施例においては、演算装置９でテンション
リール１の１回転で巻取る金属ストリップＳの巻取り長
さln-1,lnを算出する場合に代えて、テンションリール
１の１回転で巻取った金属ストリップＳのコイル径
Dn-1,Dnを算出して、両者の差値が所定設定範囲外とな
ったときに、層間スリップが発生しているものと判定す
るようにしたものである。
リール１の１回転で巻取る金属ストリップＳの巻取り長
さln-1,lnを算出する場合に代えて、テンションリール
１の１回転で巻取った金属ストリップＳのコイル径
Dn-1,Dnを算出して、両者の差値が所定設定範囲外とな
ったときに、層間スリップが発生しているものと判定す
るようにしたものである。
この第２実施例では、全体的構成は、第１図と同様の
構成を有し、対応部分には同一符号を付してその詳細説
明はこれを省略するが、この第２実施例においては、演
算装置９でアップカウンタ７の現在カウント値Rnとラッ
チ回路８からの前回カウント値Pn-1とに基づきテンショ
ンリール１の第（ｎ−１）回転目及びこれに続く第ｎ回
転目のコイル径Dn-1及びDnを算出する。ここで、コイル
径Dn-1及びDnは、その円周がπDn-1及びπDnで表され、
これら円周πDn-1及びπDnと前記（１）式及び（２）式
におけるテンションリール１の第（ｎ−１）回転目及び
第ｎ回転目の金属ストリップＳの移動長さln-1及びlnと
が等しくなるので、次式で算出することができる。
構成を有し、対応部分には同一符号を付してその詳細説
明はこれを省略するが、この第２実施例においては、演
算装置９でアップカウンタ７の現在カウント値Rnとラッ
チ回路８からの前回カウント値Pn-1とに基づきテンショ
ンリール１の第（ｎ−１）回転目及びこれに続く第ｎ回
転目のコイル径Dn-1及びDnを算出する。ここで、コイル
径Dn-1及びDnは、その円周がπDn-1及びπDnで表され、
これら円周πDn-1及びπDnと前記（１）式及び（２）式
におけるテンションリール１の第（ｎ−１）回転目及び
第ｎ回転目の金属ストリップＳの移動長さln-1及びlnと
が等しくなるので、次式で算出することができる。
従って、層間スリップが発生しているか否かは、次式
で表されるコイル径Dn-1及びDnの差値に基づく偏差量Δ
Ｄで判定することができる。
で表されるコイル径Dn-1及びDnの差値に基づく偏差量Δ
Ｄで判定することができる。
ΔＤ＝Dn−Dn-1−2t ……（７） ここで、ｔは金属ストリップＳの板厚であり、2tがコ
イル径の増加量に相当する。したがって、偏差量ΔＤが
零であれば層間スリップが全く発生していないことにな
る。また、ΔＤ＜０であれば巻締りが生じていることに
なり、その許容上限値εＬ（例えば1.5mm）とし、一方
ΔＤ＞０であれば巻弛みが生じていることになり、その
許容上限値をεＨ（例えば3mm）とすると、前記（７）
式で算出した偏差量ΔＤがεＬ≦ΔＤ≦εＨを満足すれ
ば層間スリップが発生していないか又は発生していたと
しても製品の品質に影響を与えない程度のごく僅かであ
ってテンションリール１による金属ストリップＳの巻取
り作業は良好に行われていると判定することができる
が、ΔＤ＜εＬ又はΔＤ＞εＨであるときには、金属ス
トリップＳの表面にスリ疵等が発生して製品の品質に影
響を与える層間スリップが発生しているものと判定する
ことができ、判定信号DSを警報装置又はライン制御装置
11に出力し、前記第１実施例と同様の処置を施すことが
できる。
イル径の増加量に相当する。したがって、偏差量ΔＤが
零であれば層間スリップが全く発生していないことにな
る。また、ΔＤ＜０であれば巻締りが生じていることに
なり、その許容上限値εＬ（例えば1.5mm）とし、一方
ΔＤ＞０であれば巻弛みが生じていることになり、その
許容上限値をεＨ（例えば3mm）とすると、前記（７）
式で算出した偏差量ΔＤがεＬ≦ΔＤ≦εＨを満足すれ
ば層間スリップが発生していないか又は発生していたと
しても製品の品質に影響を与えない程度のごく僅かであ
ってテンションリール１による金属ストリップＳの巻取
り作業は良好に行われていると判定することができる
が、ΔＤ＜εＬ又はΔＤ＞εＨであるときには、金属ス
トリップＳの表面にスリ疵等が発生して製品の品質に影
響を与える層間スリップが発生しているものと判定する
ことができ、判定信号DSを警報装置又はライン制御装置
11に出力し、前記第１実施例と同様の処置を施すことが
できる。
このように、第２実施例においても上記第１実施例と
同様の作用効果を得ることができ、これに加えてコイル
径Dn-1及びDnの計算過程及び偏差量Δｌの計算過程にお
いてπの計算を行う必要がないので、演算速度を向上さ
せることができる。
同様の作用効果を得ることができ、これに加えてコイル
径Dn-1及びDnの計算過程及び偏差量Δｌの計算過程にお
いてπの計算を行う必要がないので、演算速度を向上さ
せることができる。
なお、上記第２実施例においても、テンションリール
１で金属ストリップＳを巻取る場合について説明した
が、これに限定されるものではなく、ペイオフリールに
ストリップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記
と同様に層間スリップの判定を行うことができる。但
し、この場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じて
ストリップコイル径が減少するので、前記（７）式に代
えて下記（８）式を適用する。
１で金属ストリップＳを巻取る場合について説明した
が、これに限定されるものではなく、ペイオフリールに
ストリップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記
と同様に層間スリップの判定を行うことができる。但
し、この場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じて
ストリップコイル径が減少するので、前記（７）式に代
えて下記（８）式を適用する。
ΔＤ＝Dn-1−Dn−2t ……（８） また、上記第１及び第２実施例においては、テンショ
ンリール１の１回転をパルスジェネレータ４及びダウン
カウンタ４で検出するようにした場合について説明した
が、これに限らず、リール軸1aに機械，光学，磁気等の
検出手段で物理的に識別可能な識別標識を設け、これを
検出することによりテンションリールの１回転を検出す
るようにしてもよい。
ンリール１の１回転をパルスジェネレータ４及びダウン
カウンタ４で検出するようにした場合について説明した
が、これに限らず、リール軸1aに機械，光学，磁気等の
検出手段で物理的に識別可能な識別標識を設け、これを
検出することによりテンションリールの１回転を検出す
るようにしてもよい。
さらに、上記第１及び第２実施例においては、演算装
置９で偏差量Δl,ΔＤが所定範囲（εＬ≦Δｌ≦εＨ）
を逸脱した時に判定信号DSを出力する場合について説明
したが、偏差量Δl,ΔＤが所定範囲を複数Ｎ回（例えば
３回）連続する場合に初めて判定信号DSを出力するよう
にしてもよい。
置９で偏差量Δl,ΔＤが所定範囲（εＬ≦Δｌ≦εＨ）
を逸脱した時に判定信号DSを出力する場合について説明
したが、偏差量Δl,ΔＤが所定範囲を複数Ｎ回（例えば
３回）連続する場合に初めて判定信号DSを出力するよう
にしてもよい。
またさらに、上記第１及び第２実施例においては、演
算装置９で偏差量Δl,ΔＤを判定することにより層間ス
リップの有無を判定するようにした場合について説明し
たが、これに限定されるものではなく、回転リールの第
（ｎ−１）回目及び第ｎ回目の間取り又は巻戻し長さl
n-1及びln又はコイル径Dn-1及びDnの差値の絶対値を、
金属ストリップＳの板厚ｔを加味した上限許容値εＨ及
び下限許容値εＬと比較して層間スリップの有無を判定
するようにしてもよいことは勿論である。
算装置９で偏差量Δl,ΔＤを判定することにより層間ス
リップの有無を判定するようにした場合について説明し
たが、これに限定されるものではなく、回転リールの第
（ｎ−１）回目及び第ｎ回目の間取り又は巻戻し長さl
n-1及びln又はコイル径Dn-1及びDnの差値の絶対値を、
金属ストリップＳの板厚ｔを加味した上限許容値εＨ及
び下限許容値εＬと比較して層間スリップの有無を判定
するようにしてもよいことは勿論である。
また、上記第１及び第２実施例においては、ダウンカ
ウンタ６、アップカウンタ７、ラッチ回路８及び演算装
置９とを設ける場合について説明したが、演算装置９を
マイクロコンピュータで構成する場合には、ダウンカウ
ンタ６、アップカウンタ７及びラッチ回路８を省略して
これらの機能をマイクロコンピュータで処理するように
してもよい。
ウンタ６、アップカウンタ７、ラッチ回路８及び演算装
置９とを設ける場合について説明したが、演算装置９を
マイクロコンピュータで構成する場合には、ダウンカウ
ンタ６、アップカウンタ７及びラッチ回路８を省略して
これらの機能をマイクロコンピュータで処理するように
してもよい。
以上説明したように、本発明によれば、ストリップコ
イルの１回転当たりにおける金属ストリップの巻取り又
は巻戻しの移送長さ又はコイル径を算出し、第（ｎ−
１）回目の移送長さ又はコイル径とこれに続く第ｎ回目
の移送長さ又はコイル径との差値に基づきストリップコ
イル内の金属ストリップ間で発生する層間スリップの有
無を判定するようにしているので、層間スリップの発生
を早期に発見することができ、歩留まりの向上，品質保
証に大きく寄与することができ、しかも層間スリップの
発生を早期に発見することができるので、金属ストリッ
プの処理設備上の層間スリップを生じる要因に対して早
期に対処することでき、効率のよいメンテナンスを行う
ことが可能となる等の効果が得られる。
イルの１回転当たりにおける金属ストリップの巻取り又
は巻戻しの移送長さ又はコイル径を算出し、第（ｎ−
１）回目の移送長さ又はコイル径とこれに続く第ｎ回目
の移送長さ又はコイル径との差値に基づきストリップコ
イル内の金属ストリップ間で発生する層間スリップの有
無を判定するようにしているので、層間スリップの発生
を早期に発見することができ、歩留まりの向上，品質保
証に大きく寄与することができ、しかも層間スリップの
発生を早期に発見することができるので、金属ストリッ
プの処理設備上の層間スリップを生じる要因に対して早
期に対処することでき、効率のよいメンテナンスを行う
ことが可能となる等の効果が得られる。
第１図はこの発明の第１実施例を示す構成図、第２図は
この発明の第２実施例を示す構成図である。 図中、１はテンションリール、2a,2bはブライドルロー
ル、4,5はパルスジェネレータ、６はダウンカウンタ、
７はアップカウンタ、８はラッチ回路、９は演算装置で
ある。
この発明の第２実施例を示す構成図である。 図中、１はテンションリール、2a,2bはブライドルロー
ル、4,5はパルスジェネレータ、６はダウンカウンタ、
７はアップカウンタ、８はラッチ回路、９は演算装置で
ある。
Claims (2)
- 【請求項１】回転リールに装着したストリップコイルを
巻戻す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取っ
てストリップコイルを形成する際に、前記回転リールの
回転数に応したパルスを発生する回転リールパルス発生
器及び回転リールの近傍で金属ストリップに転接するロ
ールの回転数に応じたパルスを発生するロールパルス発
生器のパルスと前記ロールの径とに基づいて、前記回転
リールの第（ｎ−１）回転目（ｎは正の整数）における
金属ストリップの移動長さln-1と、ｎ回転目における移
動長さlnとを算出し、両算出値の差値が前記回転リール
の１回転における移動長さの変化分と許容値とで設定さ
れる所定設定範囲外となったときにストリップコイル内
における金属ストリップ間の層間スリップ発生状態であ
ると判定することを特徴とするストリップコイルの層間
スリップ検出方法。 - 【請求項２】回転リールに装着したストリップコイルを
巻戻す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取っ
てストリップコイルを形成する際に、前記回転リールの
回転数に応じたパルスを発生する回転リールパルス発生
器及び回転リールの近傍で金属ストリップに転接するロ
ールの回転数に応じたパルスを発生するロールパルス発
生器のパルスと前記ロールの径とに基づいて、前記回転
リールの第（ｎ−１）回転目（ｎは正の整数）における
ストリップコイルのコイル径Dn-1と、ｎ回転目における
コイル径Dnとを算出し、両算出値の差値が前記回転リー
ルの１回転におけるコイル径Dnの変化分と許容値とで設
定される所定設定範囲外となったときにストリップコイ
ル内における金属ストリップ間の層間スリップ発生状態
であると判定することを特徴とするストリップコイルの
層間スリップ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62051401A JP2594928B2 (ja) | 1986-10-29 | 1987-03-06 | ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61-257664 | 1986-10-29 | ||
| JP25766486 | 1986-10-29 | ||
| JP62051401A JP2594928B2 (ja) | 1986-10-29 | 1987-03-06 | ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63220924A JPS63220924A (ja) | 1988-09-14 |
| JP2594928B2 true JP2594928B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=26391939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62051401A Expired - Lifetime JP2594928B2 (ja) | 1986-10-29 | 1987-03-06 | ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2594928B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2544027B2 (ja) * | 1990-05-24 | 1996-10-16 | 株式会社東芝 | 低消費電力型プログラマブルロジックアレイおよびそれを用いた情報処理装置 |
| DE19821318A1 (de) * | 1998-05-13 | 1999-11-25 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Verfahren zum Überwachen der Wickelhärte einer Wickelrolle |
| JP5298711B2 (ja) * | 2008-09-04 | 2013-09-25 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 金属帯巻取り張力の低下検出方法および装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52117263A (en) * | 1976-03-30 | 1977-10-01 | Tokyo Shibaura Electric Co | Device for detecting diameter of coil |
| JPS57156835A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-28 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Detection for slip quantity of strip |
| JPS57180552A (en) * | 1981-04-29 | 1982-11-06 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic deceleration control unit |
-
1987
- 1987-03-06 JP JP62051401A patent/JP2594928B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63220924A (ja) | 1988-09-14 |
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