JPS63220924A - ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 - Google Patents
ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法Info
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- JPS63220924A JPS63220924A JP5140187A JP5140187A JPS63220924A JP S63220924 A JPS63220924 A JP S63220924A JP 5140187 A JP5140187 A JP 5140187A JP 5140187 A JP5140187 A JP 5140187A JP S63220924 A JPS63220924 A JP S63220924A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、回転リールに装着したストリップコイルを巻
戻す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取って
ストリップコイルを形成する際に、ストリップコイルで
発生する層間スリップを早期に検出することができるス
トリップコイルの層間スリップ検出方法に関する。
戻す際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取って
ストリップコイルを形成する際に、ストリップコイルで
発生する層間スリップを早期に検出することができるス
トリップコイルの層間スリップ検出方法に関する。
一般に、金属ストリップの酸洗、圧延等の各種処理ライ
ンでは、処理セクションの前後にペイオフリールとテン
ションリールを備えている。そして、処理すべきストリ
・ノブコイルをペイオフリールに装着して巻戻しながら
処理セクションに搬送してこの処理セクションで所定の
処理を施した後テンションリールによって金属ストリッ
プをコイル状に巻取るようにしている。
ンでは、処理セクションの前後にペイオフリールとテン
ションリールを備えている。そして、処理すべきストリ
・ノブコイルをペイオフリールに装着して巻戻しながら
処理セクションに搬送してこの処理セクションで所定の
処理を施した後テンションリールによって金属ストリッ
プをコイル状に巻取るようにしている。
ところが、このような回転リールによる金属ストリップ
の巻戻し１巻取りの際に、巻重ねられた金属ストリップ
の隣接するストリップ間で滑りを生じる層間スリップが
発生し、これによって巻締り２巻弛みが生じることがあ
る。このように巻締り２巻弛みが生じると、前者の場合
には、金属ストリップ表面にスリ疵が発生して製品の品
質上問題となり、後者の場合には、ストリップコイル径
が大きくなると共に、他の処理ラインでの巻戻しの際の
張力制御を良好に行うことができない等の問題がある。
の巻戻し１巻取りの際に、巻重ねられた金属ストリップ
の隣接するストリップ間で滑りを生じる層間スリップが
発生し、これによって巻締り２巻弛みが生じることがあ
る。このように巻締り２巻弛みが生じると、前者の場合
には、金属ストリップ表面にスリ疵が発生して製品の品
質上問題となり、後者の場合には、ストリップコイル径
が大きくなると共に、他の処理ラインでの巻戻しの際の
張力制御を良好に行うことができない等の問題がある。
このため、通常、層間スリップが生じないように、ペイ
オフリールから巻戻される金属ストリップ及びテンショ
ンリールに巻取られる金属ストリップの張力を一定とす
る回転リールの速度制御を行うようにしている。
オフリールから巻戻される金属ストリップ及びテンショ
ンリールに巻取られる金属ストリップの張力を一定とす
る回転リールの速度制御を行うようにしている。
しかしながら、上述のような層間スリップを生じない速
度制御を実施しても、金属ストリップの張力変動は避け
られず、以前として層間スリップが発生しているのが現
状である。このストリップ張力の変動の要因としては種
々のものがあるが、その主な要因としては以下に述べる
ものがある。
度制御を実施しても、金属ストリップの張力変動は避け
られず、以前として層間スリップが発生しているのが現
状である。このストリップ張力の変動の要因としては種
々のものがあるが、その主な要因としては以下に述べる
ものがある。
（１） ストリップ張力の一部は、回転リールにおけ
る曲げ又は曲げ戻しの仕事に費やされるため、コイル径
が変化すると、この仕事分も変化し、結果として金属ス
トリップの純張力も変化する。
る曲げ又は曲げ戻しの仕事に費やされるため、コイル径
が変化すると、この仕事分も変化し、結果として金属ス
トリップの純張力も変化する。
（２） 回転リールのリール軸が変形するとストリッ
プ張力変動につながる。
プ張力変動につながる。
（３）通板中における金属ストリップの蛇行。
（４） ライン操業条件の変化。
ここで、上記要因（１）については、例えば特開昭５１
−１８２４９号公報に記載されている方法が提案されて
いるが、それ以外の要因【ついては完全に層間スリップ
を防止する方法はなく、大量の不良品を出してからスト
リップコイルでの層間スリップの発生に気付き、その後
何等かの処置を講じることになる。したがって、ストリ
ップコイルの層間スリップを早期に発見することが強く
要望されていた。
−１８２４９号公報に記載されている方法が提案されて
いるが、それ以外の要因【ついては完全に層間スリップ
を防止する方法はなく、大量の不良品を出してからスト
リップコイルでの層間スリップの発生に気付き、その後
何等かの処置を講じることになる。したがって、ストリ
ップコイルの層間スリップを早期に発見することが強く
要望されていた。
そこで、本発明は、ストリップコイルでの層間スリップ
の発生を早期に発見して製品不良等の不具合を最小限に
抑えることが可能なストリップコイルの層間スリップ検
出方法を提供することを目的としている。
の発生を早期に発見して製品不良等の不具合を最小限に
抑えることが可能なストリップコイルの層間スリップ検
出方法を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は、回転リールに装
着したストリップコイルを巻戻す際又は前記回転リール
に金属ストリップを巻取ってストリップコイルを形成す
る際に、前記回転リールの第（ｎ−１）回転目（ｎは正
の整数）における金属ストリップの移動長さ２．−、又
は回転リールに装着されたコイル径Ｄｎ−＋ と、ｎ回
転目における移動長さｌｆｉ又はコイル径Ｄ７とを測定
し、両測定値の差値が所定設定範囲外となったときにス
トリップコイルでの層間スリップの発生状態であると判
定することを特徴としている。
着したストリップコイルを巻戻す際又は前記回転リール
に金属ストリップを巻取ってストリップコイルを形成す
る際に、前記回転リールの第（ｎ−１）回転目（ｎは正
の整数）における金属ストリップの移動長さ２．−、又
は回転リールに装着されたコイル径Ｄｎ−＋ と、ｎ回
転目における移動長さｌｆｉ又はコイル径Ｄ７とを測定
し、両測定値の差値が所定設定範囲外となったときにス
トリップコイルでの層間スリップの発生状態であると判
定することを特徴としている。
本発明においては、回転リールの１回転毎に、巻取られ
る金属ストリップの長さ又はコイル径若しくは巻戻され
る金属ストリップの長さ又はコイル径を測定し、前回の
測定値と今回の測定値とを比較することによって層間ス
リップ発生の有無を判定するので、早期に層間スリップ
を検出することが可能となる。
る金属ストリップの長さ又はコイル径若しくは巻戻され
る金属ストリップの長さ又はコイル径を測定し、前回の
測定値と今回の測定値とを比較することによって層間ス
リップ発生の有無を判定するので、早期に層間スリップ
を検出することが可能となる。
以下、本発明による実施例を図面に基づいて説明する。
第１図はこの発明の第１実施例を示す構成図である。
図中、１は回転リールとしてのテンションリールであっ
て、プライドルロール２ａ、 ２ｂ及びデフレクタ−
ロール３を介して送給される金属ストリップＳを巻取る
。このとき、テンションリール１とプライドルロール２
ａ、２ｂとによって金属ストリップＳに所定の張力を付
与しながら金属ストリップＳをテンションリール１に巻
取る。
て、プライドルロール２ａ、 ２ｂ及びデフレクタ−
ロール３を介して送給される金属ストリップＳを巻取る
。このとき、テンションリール１とプライドルロール２
ａ、２ｂとによって金属ストリップＳに所定の張力を付
与しながら金属ストリップＳをテンションリール１に巻
取る。
テンションリール１のリール軸１ａには、パルスジェネ
レータ４が取付けられ、このパルスジェネレータ４から
テンションリール１０１回転当たりα個（例えばα＝１
０００）のパルス信号ＰＡが出力される。また、プライ
ドルロール２ｂにも同様のパルスジェネレータ５が取付
けられ、このパルスジェネレータ５からプライドルロー
ル２ｂの１回転当たりβ個（例えばβ＝１０００）のパ
ルス信号ＰＢが出力される。
レータ４が取付けられ、このパルスジェネレータ４から
テンションリール１０１回転当たりα個（例えばα＝１
０００）のパルス信号ＰＡが出力される。また、プライ
ドルロール２ｂにも同様のパルスジェネレータ５が取付
けられ、このパルスジェネレータ５からプライドルロー
ル２ｂの１回転当たりβ個（例えばβ＝１０００）のパ
ルス信号ＰＢが出力される。
そして、パルスジェネレータ４のパルス信号ＰＡがプリ
セットダウンカウンタ６に入力される。
セットダウンカウンタ６に入力される。
このカウンタ６のプリセット値は、前記パルスジェネレ
ータ４のテンションリール１の１回転当たりのパルス数
αに等しく選定され、そのカウント値が零となった時に
テンションリール１の１回転を検出する検出パルスＤＰ
が出力される。
ータ４のテンションリール１の１回転当たりのパルス数
αに等しく選定され、そのカウント値が零となった時に
テンションリール１の１回転を検出する検出パルスＤＰ
が出力される。
一方、パルスジェネレータ５のパルス信号ＰＢがアップ
カウンタ７に入力される。このカウンタ７には、前記カ
ウンタ６の検出パルスＤＰが入力され、この検出パルス
ＤＰが入力される毎に、その時点でのカウント値Ｐｎを
出力すると共に、カウント値を零にクリアする。
カウンタ７に入力される。このカウンタ７には、前記カ
ウンタ６の検出パルスＤＰが入力され、この検出パルス
ＤＰが入力される毎に、その時点でのカウント値Ｐｎを
出力すると共に、カウント値を零にクリアする。
このカウント値Ｐｎは、ラッチ回路８及び演算装置９に
それぞれ供給される。
それぞれ供給される。
ラッチ回路８は、前記ダウンカウンタ６の検出パルスＤ
Ｐが供給され、この検出パルスＤＰが供給された時点で
、アップカウンタ７のカウント値Ｐｎを取り込むと共に
、前回取り込んだアップカウンタ７のカウント（！ Ｐ
ｎ−Ｉを演算装置９に出力する。
Ｐが供給され、この検出パルスＤＰが供給された時点で
、アップカウンタ７のカウント値Ｐｎを取り込むと共に
、前回取り込んだアップカウンタ７のカウント（！ Ｐ
ｎ−Ｉを演算装置９に出力する。
演算装置９には、板厚設定器１０で予め設定された板厚
値ｔが入力され、この板厚値ｔとアップカウンタ７から
入力されるカウント値Ｐ、ｌとラッチ回路８から入力さ
れる前回カウント値Ｐｎ−１とに基づきテンションリー
ル１の（ｎ−１）回転目とｎ回転目との間における金属
ストリップＳの巻取り長さを算出し、これに基づいてテ
ンションリール１に形成されたストリップコイルＳＣに
層間スリップが発生しているか否かを判定して、層間ス
リップが発生しているものと判定したときに、そのこと
を表す判定信号ＤＳを警報装置或いはライン制御装置１
１に出力する。
値ｔが入力され、この板厚値ｔとアップカウンタ７から
入力されるカウント値Ｐ、ｌとラッチ回路８から入力さ
れる前回カウント値Ｐｎ−１とに基づきテンションリー
ル１の（ｎ−１）回転目とｎ回転目との間における金属
ストリップＳの巻取り長さを算出し、これに基づいてテ
ンションリール１に形成されたストリップコイルＳＣに
層間スリップが発生しているか否かを判定して、層間ス
リップが発生しているものと判定したときに、そのこと
を表す判定信号ＤＳを警報装置或いはライン制御装置１
１に出力する。
ここで、演算装置９は、以下に述べる演算処理を行う。
すなわち、プライドルロール２ｂの直径をｄ（ｍｍ）ト
すると、パルスジェネレータ５の１パルス当たりにおけ
る金属ストリップＳの移動距離は、πｄ／βで表される
。従って、テンションリール１の第（ｎ−１）回転目に
巻取られる金属ストリップＳの長さｚ、−、（ｔｍ）は
次式で表すことができる。
すると、パルスジェネレータ５の１パルス当たりにおけ
る金属ストリップＳの移動距離は、πｄ／βで表される
。従って、テンションリール１の第（ｎ−１）回転目に
巻取られる金属ストリップＳの長さｚ、−、（ｔｍ）は
次式で表すことができる。
π ｄ
ｊ２．−、＝□・Ｐ□１ ・・・・・・・・・・・・
（１）β 同様に、続くテンションリール１の第ｎ回転目での金属
ストリップＳの巻取り長さＪ、（ｍ）は次式で表すこと
ができる。
（１）β 同様に、続くテンションリール１の第ｎ回転目での金属
ストリップＳの巻取り長さＪ、（ｍ）は次式で表すこと
ができる。
β
従って、層間スリップが発生しているか否かは、次式で
表される巻取り長さｌｎ−１及びｌｆｉの差値に基づく
偏差量Δｌで判定することができる。
表される巻取り長さｌｎ−１及びｌｆｉの差値に基づく
偏差量Δｌで判定することができる。
Δ１ｌ＝１．−１ｎ−＋ ２πｔ ・・・・・・・
・・・・・（３）ここで、Δ！が零であれば層間スリッ
プが全く発生していないことになる。また、ΔｌくＯで
あれば巻締りが生じていることになり、その許容下限値
をεＬ （例えば５鶴）とし、一方、Δ２〉０であれば
巻弛みが生じていることになり、その許容上限値をεＮ
（例えば１０龍）とすると、前記（３）式で算出した
偏差量ΔｌがｔＬ≦Δｌ≦ε□を満足すれば、層間スリ
ップが発生していないか又は発生していたとしても製品
の品質に影響を与えない程度の極僅かであってテンショ
ンリール１による金属ストリップＳの巻取り作業は良好
に行われていると判定することができるが、Δｌ〈εＬ
又はΔｌ〉ε□であるときには金属ストリ゛ツブＳの表
面にスリ疵等が発生して製品の品質に影響を与える層間
スリップが発生しているものと判定することができ、判
定信号ＤＳを警報装置又はライン制御装置１１に出力す
る。
・・・・・（３）ここで、Δ！が零であれば層間スリッ
プが全く発生していないことになる。また、ΔｌくＯで
あれば巻締りが生じていることになり、その許容下限値
をεＬ （例えば５鶴）とし、一方、Δ２〉０であれば
巻弛みが生じていることになり、その許容上限値をεＮ
（例えば１０龍）とすると、前記（３）式で算出した
偏差量ΔｌがｔＬ≦Δｌ≦ε□を満足すれば、層間スリ
ップが発生していないか又は発生していたとしても製品
の品質に影響を与えない程度の極僅かであってテンショ
ンリール１による金属ストリップＳの巻取り作業は良好
に行われていると判定することができるが、Δｌ〈εＬ
又はΔｌ〉ε□であるときには金属ストリ゛ツブＳの表
面にスリ疵等が発生して製品の品質に影響を与える層間
スリップが発生しているものと判定することができ、判
定信号ＤＳを警報装置又はライン制御装置１１に出力す
る。
このように、判定信号ＤＳが警報装置１１に出力される
と、この警報装置から層間スリップが生じたことを表す
警報が発せられ、また判定信号ＤＳがライン制御装置１
１に出力されると、ラインを停止させて金属ストリップ
Ｓの移送を停止させて、層間スリップの発生に対する要
因の除去等の適切な処置を施すことができる。
と、この警報装置から層間スリップが生じたことを表す
警報が発せられ、また判定信号ＤＳがライン制御装置１
１に出力されると、ラインを停止させて金属ストリップ
Ｓの移送を停止させて、層間スリップの発生に対する要
因の除去等の適切な処置を施すことができる。
なお、上記第１実施例においては、テンションリール１
で金属ストリップＳを巻取る場合について説明したが、
これに限定されるものではなく、ペイオフリールにスト
リップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記と同
様に層間スリップの判定を行うことができる。但し、こ
の場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じてストリ
ップコイル径が減少するので、前記（３）式に代えて下
記（４）式を適用する。
で金属ストリップＳを巻取る場合について説明したが、
これに限定されるものではなく、ペイオフリールにスト
リップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記と同
様に層間スリップの判定を行うことができる。但し、こ
の場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じてストリ
ップコイル径が減少するので、前記（３）式に代えて下
記（４）式を適用する。
Δ１＝Ｉｌ、、−１．ｌ−２πｔ ・・・・・・・・・
・・・（４）次に、この発明の第２実施例を第２図につ
いて説明する。
・・・（４）次に、この発明の第２実施例を第２図につ
いて説明する。
この第２実施例においては、演算装置９でテンションリ
ール１の１回転で巻取る金属ストリップＳの巻取り長さ
１．、、Ｉｌｎを算出する場合に代えて、テンションリ
ール１の１回転で巻取った金属ストリップＳのコイル径
り、ｌ、Ｄイを算出して、両者の差値が所定設定範囲外
となったときに、層間スリップが発生しているものと判
定するようにしたものである。
ール１の１回転で巻取る金属ストリップＳの巻取り長さ
１．、、Ｉｌｎを算出する場合に代えて、テンションリ
ール１の１回転で巻取った金属ストリップＳのコイル径
り、ｌ、Ｄイを算出して、両者の差値が所定設定範囲外
となったときに、層間スリップが発生しているものと判
定するようにしたものである。
この第２実施例では、全体的構成は、第１図と同様の構
成を有し、対応部分には同一符号を付してその詳細説明
はこれを省略するが、この第２実施例においては、演算
装置９でアップカランタフの現在カウント値Ｐ７とラッ
チ回路８からの前回カウント値Ｐｎ−１とに基づきテン
ションリール１の第（ｎ−１）回転目及びこれに続く第
ｎ回転目のコイル径Ｄ７−１及びＤ７を算出する。ここ
で、コイル径り、−、及びり、１は、その円周がπＤイ
ア−及びπＤ７で表され、これら円周πＤｎ−１及びπ
Ｄいと前記（１１式及び（２）式におけるテンションリ
ール１の第（ｎ−１）回転目及び第ｎ回転目の金属スト
リップＳの移動長さ１ｎ−１及び！７とが等しくなるの
で、次式で算出することができる。
成を有し、対応部分には同一符号を付してその詳細説明
はこれを省略するが、この第２実施例においては、演算
装置９でアップカランタフの現在カウント値Ｐ７とラッ
チ回路８からの前回カウント値Ｐｎ−１とに基づきテン
ションリール１の第（ｎ−１）回転目及びこれに続く第
ｎ回転目のコイル径Ｄ７−１及びＤ７を算出する。ここ
で、コイル径り、−、及びり、１は、その円周がπＤイ
ア−及びπＤ７で表され、これら円周πＤｎ−１及びπ
Ｄいと前記（１１式及び（２）式におけるテンションリ
ール１の第（ｎ−１）回転目及び第ｎ回転目の金属スト
リップＳの移動長さ１ｎ−１及び！７とが等しくなるの
で、次式で算出することができる。
Ｄ、ｌ−、＝−・Ｐｎ−１・・・・・・・・・・・・（
５）β Ｄ、ｌ＝−・Ｐ９ ・・・・・・・・・・・・（
６）β 従って、層間スリップが発生しているか否かは、次式で
表されるコイル径Ｄｎ−１及びＤ７の差値に基づく偏差
量ΔＤで判定することができる。
５）β Ｄ、ｌ＝−・Ｐ９ ・・・・・・・・・・・・（
６）β 従って、層間スリップが発生しているか否かは、次式で
表されるコイル径Ｄｎ−１及びＤ７の差値に基づく偏差
量ΔＤで判定することができる。
ΔＤ−Ｄ、 −Ｄ＋ｓ−１−２ｔ ・・・・・・（７
）ここで、ｔは金属ストリップＳの板厚であり、２ｔが
コイル径の増加量に相当する。したがって、偏差量ΔＤ
が零であれば層間スリップが全く発生していないことに
なる。また、ΔＤ＜Ｏであれば巻締りが生じていること
になり、その許容上限値εＬ （例えば１．５ ｍ ）
とし、一方ΔＤ＞Ｏであれば巻弛みが生じていることに
なり、その許容上限値をε、（例えば３ｍ）とすると、
前記（７）式で算出した偏差量ΔＤがε、≦ΔＤ≦ε９
を満足すれば層間スリップが発生していないか又は発生
していたとしても製品の品質に影響を与えない程度のご
く僅かであってテンションリール１による金属ストリッ
プＳの巻取り作業は良好に行われていると判定すること
ができるが、ΔＤくε、又はΔＤ〉ε□であるときには
、金属ストリップＳの表面にスリ疵等が発生して製品の
品質に影響を与える層間スリップが発生しているものと
判定することができ、判定信号ＤＳを警報装置又はライ
ン制御語Ｗ１１に出力し、前記第１実施例と同様の処置
を施すことができる。
）ここで、ｔは金属ストリップＳの板厚であり、２ｔが
コイル径の増加量に相当する。したがって、偏差量ΔＤ
が零であれば層間スリップが全く発生していないことに
なる。また、ΔＤ＜Ｏであれば巻締りが生じていること
になり、その許容上限値εＬ （例えば１．５ ｍ ）
とし、一方ΔＤ＞Ｏであれば巻弛みが生じていることに
なり、その許容上限値をε、（例えば３ｍ）とすると、
前記（７）式で算出した偏差量ΔＤがε、≦ΔＤ≦ε９
を満足すれば層間スリップが発生していないか又は発生
していたとしても製品の品質に影響を与えない程度のご
く僅かであってテンションリール１による金属ストリッ
プＳの巻取り作業は良好に行われていると判定すること
ができるが、ΔＤくε、又はΔＤ〉ε□であるときには
、金属ストリップＳの表面にスリ疵等が発生して製品の
品質に影響を与える層間スリップが発生しているものと
判定することができ、判定信号ＤＳを警報装置又はライ
ン制御語Ｗ１１に出力し、前記第１実施例と同様の処置
を施すことができる。
このように、第２実施例においても上記第１実施例と同
様の作用効果を得ることができ、これに加えてコイル径
Ｄ７−６及びＤ７の計算過程及び偏差量Δｌの計算過程
においてπの計算を行う必要がないので、演算速度を向
上させることができる。
様の作用効果を得ることができ、これに加えてコイル径
Ｄ７−６及びＤ７の計算過程及び偏差量Δｌの計算過程
においてπの計算を行う必要がないので、演算速度を向
上させることができる。
なお、上記第２実施例においても、テンションリール１
で金属ストリップＳを巻取る場合について説明したが、
これに限定されるものではなく、ペイオフリールにスト
リップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記と同
様に層間スリップの判定を行うことができる。但し、こ
の場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じてストリ
ップコイル径が減少するめで、前記（７）式に代えて下
記（８）式を適用する。
で金属ストリップＳを巻取る場合について説明したが、
これに限定されるものではなく、ペイオフリールにスト
リップコイルを装着してこれを巻戻す場合にも上記と同
様に層間スリップの判定を行うことができる。但し、こ
の場合には、金属ストリップＳの巻戻しに応じてストリ
ップコイル径が減少するめで、前記（７）式に代えて下
記（８）式を適用する。
ΔＤ＝Ｄ、ｔ −Ｄ、 −２ｔ ・・・・・・・・・
・・・（８）また、上記第１及び第２実施例においては
、テンションリール１０１回転をパルスジェネレータ４
及びダウンカウンタ４で検出するようにした場合につい
て説明した鳴く、これに限らず、リール軸１ａに機械、
光学、！気等の検出手段で物理的に識別可能な識別標識
を設け、これを検出することによりテンションリールの
１回転を検出するようにしてもよい。
・・・（８）また、上記第１及び第２実施例においては
、テンションリール１０１回転をパルスジェネレータ４
及びダウンカウンタ４で検出するようにした場合につい
て説明した鳴く、これに限らず、リール軸１ａに機械、
光学、！気等の検出手段で物理的に識別可能な識別標識
を設け、これを検出することによりテンションリールの
１回転を検出するようにしてもよい。
さらに、上記第１及び第２実施例においては、演算装置
９で偏差量Δｌ、ΔＤが所定範囲（ε。
９で偏差量Δｌ、ΔＤが所定範囲（ε。
≦Δｌ≦εＨ）を逸脱した時に判定信号ＤＳを出力する
場合について説明したが、偏差量Δｌ、ΔＤが所定範囲
を複数Ｎ回（例えば３回）連続する場合に初めて判定信
号ＤＳを出力するようにしてもよい。
場合について説明したが、偏差量Δｌ、ΔＤが所定範囲
を複数Ｎ回（例えば３回）連続する場合に初めて判定信
号ＤＳを出力するようにしてもよい。
−またさらに、上記第１及び第２実施例においては、演
算装置９で偏差量Δｌ、ΔＤを判定することにより層間
スリップの有無を判定するようにした場合について説明
したが、これに限定されるものではなく、回転リールの
第（ｎ−１）回目及び第ｎ回目の巻取り又は巻戻し長さ
ｌｎ−１及びｌｎ又はコイル径Ｄｎ−１及びＤ７の差値
の絶対値を、金属ストリップＳの板厚ｔを加味した上限
許容値ε、及び下限許容値εＬと比較して層間スリップ
の有無を判定するようにしてもよいことは勿論である。
算装置９で偏差量Δｌ、ΔＤを判定することにより層間
スリップの有無を判定するようにした場合について説明
したが、これに限定されるものではなく、回転リールの
第（ｎ−１）回目及び第ｎ回目の巻取り又は巻戻し長さ
ｌｎ−１及びｌｎ又はコイル径Ｄｎ−１及びＤ７の差値
の絶対値を、金属ストリップＳの板厚ｔを加味した上限
許容値ε、及び下限許容値εＬと比較して層間スリップ
の有無を判定するようにしてもよいことは勿論である。
また、上記第１及び第２実施例においては、ダウンカウ
ンタ６、アップカウンタ７、ラッチ回路８及び演算装置
９とを設ける場合について説明したが、演算装置９をマ
イクロコンピュータで構成する場合には、Ｃ゛ウンカウ
ンタ６アップカウンタ７及びランチ回路８を省略してこ
れらの機能をマイクロコンピュータで処理するようにし
てもよい。
ンタ６、アップカウンタ７、ラッチ回路８及び演算装置
９とを設ける場合について説明したが、演算装置９をマ
イクロコンピュータで構成する場合には、Ｃ゛ウンカウ
ンタ６アップカウンタ７及びランチ回路８を省略してこ
れらの機能をマイクロコンピュータで処理するようにし
てもよい。
以上説明したように、本発明によれば、ストリップコイ
ルの１回転当たりにおける金属ストリップの巻取り又は
巻戻しの移送長さ又はコイル径を測定し、第（ｎ−１）
回目の移送長さ又はコイル径とこれに続く第ｎ回目の移
送長さ又はコイル径との差値に基づき層間スリップの有
無を判定するようにしているので、層間スリップの発生
を早期に発見することができ、歩留まりの向上１品質保
証に大きく寄与することができ、しかも層間スリップの
発生を早期に発見することができるので、金属ストリッ
プの処理設備上の層間スリップを生じる要因に対して早
期に対処することでき、効率のよいメンテナンスを行う
ことが可能となる等の効果が得られる。
ルの１回転当たりにおける金属ストリップの巻取り又は
巻戻しの移送長さ又はコイル径を測定し、第（ｎ−１）
回目の移送長さ又はコイル径とこれに続く第ｎ回目の移
送長さ又はコイル径との差値に基づき層間スリップの有
無を判定するようにしているので、層間スリップの発生
を早期に発見することができ、歩留まりの向上１品質保
証に大きく寄与することができ、しかも層間スリップの
発生を早期に発見することができるので、金属ストリッ
プの処理設備上の層間スリップを生じる要因に対して早
期に対処することでき、効率のよいメンテナンスを行う
ことが可能となる等の効果が得られる。
第１図はこの発明の第１実施例を示す構成図、第２図は
この発明の第２実施例を示す構成図である。 図中、１はテンションリール、２ａ、２ｂはプライドル
ロール、４，５はパルスジェネレータ、６はダウンカウ
ンタ、７はアンプカウンタ、８はラッチ回路、９は演算
装置である。
この発明の第２実施例を示す構成図である。 図中、１はテンションリール、２ａ、２ｂはプライドル
ロール、４，５はパルスジェネレータ、６はダウンカウ
ンタ、７はアンプカウンタ、８はラッチ回路、９は演算
装置である。
Claims (1)
- （１）回転リールに装着したストリップコイルを巻戻す
際又は前記回転リールに金属ストリップを巻取ってスト
リップコイルを形成する際に、前記回転リールの第（ｎ
−１）回転目（ｎは正の整数）における金属ストリップ
の移動長さｌ＿ｎ＿−＿１又は回転リールに装着された
コイル径Ｄ＿ｎ＿−＿１と、ｎ回転目における移動長さ
ｌ＿ｎ又はコイル径Ｄ＿ｎとを測定し、両測定値の差値
が所定設定範囲外となったときにストリップコイルでの
層間スリップの発生状態であると判定することを特徴と
するストリップコイルの層間スリップ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62051401A JP2594928B2 (ja) | 1986-10-29 | 1987-03-06 | ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25766486 | 1986-10-29 | ||
| JP61-257664 | 1986-10-29 | ||
| JP62051401A JP2594928B2 (ja) | 1986-10-29 | 1987-03-06 | ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63220924A true JPS63220924A (ja) | 1988-09-14 |
| JP2594928B2 JP2594928B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=26391939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62051401A Expired - Lifetime JP2594928B2 (ja) | 1986-10-29 | 1987-03-06 | ストリツプコイルの層間スリツプ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2594928B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5634061A (en) * | 1990-05-24 | 1997-05-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Instruction decoder utilizing a low power PLA that powers up both AND and OR planes only when successful instruction fetch signal is provided |
| US6209817B1 (en) * | 1998-05-13 | 2001-04-03 | Voith Sulzer Papiertechnik Patent Gmbh | Method and apparatus for monitoring a winding hardness of a winding roll |
| JP2010058149A (ja) * | 2008-09-04 | 2010-03-18 | Jfe Steel Corp | 金属帯巻取り張力の低下検出方法および装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52117263A (en) * | 1976-03-30 | 1977-10-01 | Tokyo Shibaura Electric Co | Device for detecting diameter of coil |
| JPS57156835A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-28 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Detection for slip quantity of strip |
| JPS57180552A (en) * | 1981-04-29 | 1982-11-06 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic deceleration control unit |
-
1987
- 1987-03-06 JP JP62051401A patent/JP2594928B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52117263A (en) * | 1976-03-30 | 1977-10-01 | Tokyo Shibaura Electric Co | Device for detecting diameter of coil |
| JPS57156835A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-28 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Detection for slip quantity of strip |
| JPS57180552A (en) * | 1981-04-29 | 1982-11-06 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic deceleration control unit |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5634061A (en) * | 1990-05-24 | 1997-05-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Instruction decoder utilizing a low power PLA that powers up both AND and OR planes only when successful instruction fetch signal is provided |
| US6209817B1 (en) * | 1998-05-13 | 2001-04-03 | Voith Sulzer Papiertechnik Patent Gmbh | Method and apparatus for monitoring a winding hardness of a winding roll |
| JP2010058149A (ja) * | 2008-09-04 | 2010-03-18 | Jfe Steel Corp | 金属帯巻取り張力の低下検出方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2594928B2 (ja) | 1997-03-26 |
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