JPS618612A - コ−ルドタンデムミルの仕上板厚測定方法 - Google Patents
コ−ルドタンデムミルの仕上板厚測定方法Info
- Publication number
- JPS618612A JPS618612A JP12927584A JP12927584A JPS618612A JP S618612 A JPS618612 A JP S618612A JP 12927584 A JP12927584 A JP 12927584A JP 12927584 A JP12927584 A JP 12927584A JP S618612 A JPS618612 A JP S618612A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- winding
- reel
- diameter
- roll
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/10—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring diameters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Metal Rolling (AREA)
- Winding, Rewinding, Material Storage Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明はコールドタンデムミルの仕上板厚測定方法に関
するものである０ （従来の技術） 従来ノコールドタンデムミルの出側板厚は、（１）厚物
については、コイルの厚さを直接物権で求めることによ
り、 （財）薄物については、巻き取ったコイルのコイル長き
とその時のコイル径から厚はを算出することにより求め
ていた。
するものである０ （従来の技術） 従来ノコールドタンデムミルの出側板厚は、（１）厚物
については、コイルの厚さを直接物権で求めることによ
り、 （財）薄物については、巻き取ったコイルのコイル長き
とその時のコイル径から厚はを算出することにより求め
ていた。
そして、出側Ｘ線厚さ計のチェック（設定値のチェック
及び機械が正常に動作しているかどうかのチェック）に
使われていた。
及び機械が正常に動作しているかどうかのチェック）に
使われていた。
（発明が解決しようとする問題点）
＠記の手段は、手間がかかる上に、Ｘ線厚き計のチェッ
クをするには精度が悪いという問題があった。
クをするには精度が悪いという問題があった。
（問題点を解決するだめの手段）
本発明のコールドタンデムミルの仕上板厚測定方法は、
巻き取り中のコイル径が実質的に変化しないと見做せる
短時間内のテンションリール回転数と、最終スタンドワ
ークロール回転数又ハ最終スタンドワークロールとテン
ションリールとの間に設けたデフレクタロール回転数の
いずれか一方の回転数を検出し、この検出値と、検出値
を求めた最終スタンドワークロール径又はデフレクタロ
ール径より巻き取り中のコイル径を求めるとともに、巻
き取り開始からその時点までのテンションリールの総回
転数を求め、このコイル径とテンションリールの総回転
数を７本のコイルの圧延中に所要回数記憶さぜた後、こ
の記憶値の回帰係数を不めることにより巻き取りコイル
の平均板厚を演算するものである。
巻き取り中のコイル径が実質的に変化しないと見做せる
短時間内のテンションリール回転数と、最終スタンドワ
ークロール回転数又ハ最終スタンドワークロールとテン
ションリールとの間に設けたデフレクタロール回転数の
いずれか一方の回転数を検出し、この検出値と、検出値
を求めた最終スタンドワークロール径又はデフレクタロ
ール径より巻き取り中のコイル径を求めるとともに、巻
き取り開始からその時点までのテンションリールの総回
転数を求め、このコイル径とテンションリールの総回転
数を７本のコイルの圧延中に所要回数記憶さぜた後、こ
の記憶値の回帰係数を不めることにより巻き取りコイル
の平均板厚を演算するものである。
（実施例）
本発明の第１笑施例を第１図に示すワークロールを使用
した際について詳細に説明する。
した際について詳細に説明する。
圧延されたストリップ／は最終スタンドワークロールコ
からデフレクタロール３を介してテンションリール４ｔ
に巻き取られてコイルＳを形成する。通常前記最終スタ
ンドワークロール２とデフレクタロール３との間に出側
Ｘ糾）痺さ計Ｚを設置して板厚を測定するようになって
いる。
からデフレクタロール３を介してテンションリール４ｔ
に巻き取られてコイルＳを形成する。通常前記最終スタ
ンドワークロール２とデフレクタロール３との間に出側
Ｘ糾）痺さ計Ｚを設置して板厚を測定するようになって
いる。
前記設備において、出側巻き取りコイル径が一定だと見
做せる短かい時間△Ｔの間における最終スタンドワーク
ロールの回転数を ｎＷ最終スタンドワークロ
ールの径を ｄＷテンションリールの回転
数を Ｎテンションリールの径ヲＤ。
做せる短かい時間△Ｔの間における最終スタンドワーク
ロールの回転数を ｎＷ最終スタンドワークロ
ールの径を ｄＷテンションリールの回転
数を Ｎテンションリールの径ヲＤ。
巻き取りコイル径を Ｄ板
厚を ｄ
とし、を 又、それまでのテンションリールの総回転数（巻き取り
開始時から今までの回転数）をＮ１を 最終スタンドワークロール先進率をｆとすると、Ｅａｄ
ＩＩｎ （／＋ｆ）＝ＥＩＩＤ・Ｎ （１）Ｗ が成立するので、巻き取りコイル径りはＤ＝ｄ 二＝
（／イ） Ｗ Ｎ （−２）と々る。
厚を ｄ
とし、を 又、それまでのテンションリールの総回転数（巻き取り
開始時から今までの回転数）をＮ１を 最終スタンドワークロール先進率をｆとすると、Ｅａｄ
ＩＩｎ （／＋ｆ）＝ＥＩＩＤ・Ｎ （１）Ｗ が成立するので、巻き取りコイル径りはＤ＝ｄ 二＝
（／イ） Ｗ Ｎ （−２）と々る。
一方、テンションリール総回転数Ｎ を用いす
ることにより巻き取りコイル径りは
Ｄ＝Ｄｏ＋２ｄ ＩＩＮ （♂と表わ
すことができる。
すことができる。
前記（財）式から求めたＤ及びその時のＮ、の組（Ｎ
、Ｄ）を７本のコイルにつき数百回サンプリングし、
それらの回帰係数を求めその回帰直線の傾きを求め乙と
、（、ｊ５式からも理解できるように、それがコイル枦
厚ｄ （第３図参照）となる。即ち、 ことで、「 と石は夫々Ｎ とＤのサンブリング値の平
均値である。
、Ｄ）を７本のコイルにつき数百回サンプリングし、
それらの回帰係数を求めその回帰直線の傾きを求め乙と
、（、ｊ５式からも理解できるように、それがコイル枦
厚ｄ （第３図参照）となる。即ち、 ことで、「 と石は夫々Ｎ とＤのサンブリング値の平
均値である。
そこで、本実施例においては、出倶ｊ７．タンドワーク
ロール２にパルス発生器７を、テンションリールグにパ
ルス発生器７′を接続し、両パルス発生器７．７′に夫
々パルスカウンタｇ、ｇ’を接続し、このパルスカウン
タど、に′をタイマ装置りでサンプリング周期とサンプ
リング時△Ｔ（約２００ｍ・θｅｃ）を制御し、６１時
間だけ、パルスをカウントするようになっている。パル
ス発生器７，７′から発生するパルスはパルスレート（
／パルスでロールが何回転したかということ）がわかっ
ているので、パルス数を数えることによりワークロール
λの回転数ｎｗ及びテンションリールグの回転数Ｎがわ
かるので、これを演算処理装置１０に送る。又、この演
算処理装置１０に先進率（／＋ｆ）、ワークロール径ｄ
Ｗ テンシミ／リール径り。の信号を送ることにより、
前記Ｇ２）式に基づいて巻き朋りコイル径ｐを演算する
。
ロール２にパルス発生器７を、テンションリールグにパ
ルス発生器７′を接続し、両パルス発生器７．７′に夫
々パルスカウンタｇ、ｇ’を接続し、このパルスカウン
タど、に′をタイマ装置りでサンプリング周期とサンプ
リング時△Ｔ（約２００ｍ・θｅｃ）を制御し、６１時
間だけ、パルスをカウントするようになっている。パル
ス発生器７，７′から発生するパルスはパルスレート（
／パルスでロールが何回転したかということ）がわかっ
ているので、パルス数を数えることによりワークロール
λの回転数ｎｗ及びテンションリールグの回転数Ｎがわ
かるので、これを演算処理装置１０に送る。又、この演
算処理装置１０に先進率（／＋ｆ）、ワークロール径ｄ
Ｗ テンシミ／リール径り。の信号を送ることにより、
前記Ｇ２）式に基づいて巻き朋りコイル径ｐを演算する
。
一力、この時、サンプリング周期を精製した時間で、テ
ンションリールグからのパルス数を数えることにより、
テンンヨンリール総回転数１１、を演算処理装置１０で
演算することができる。
ンションリールグからのパルス数を数えることにより、
テンンヨンリール総回転数１１、を演算処理装置１０で
演算することができる。
前記の演算により算出しだ巻き取りコイル径りとテンン
ヨンリール総回転数Ｎ、を一組にして、サンプリング周
期で次々に記憶装動／／に送り記憶きせておく。
ヨンリール総回転数Ｎ、を一組にして、サンプリング周
期で次々に記憶装動／／に送り記憶きせておく。
前記の一連の処理は、コイルが完全に巻き取られるまで
続けられ、コイル巻取終了ノ時点テ、記憶装置／／に記
憶でれている（ Ｎ ｔ ＋ Ｄ ）のデータを演算
処理／θに取り込み前記（俗式に示す計算を行ってコイ
ル板厚ｄ、を算出する。
続けられ、コイル巻取終了ノ時点テ、記憶装置／／に記
憶でれている（ Ｎ ｔ ＋ Ｄ ）のデータを演算
処理／θに取り込み前記（俗式に示す計算を行ってコイ
ル板厚ｄ、を算出する。
この板厚ｄｔと前記Ｘ線厚さ計乙で測定した板厚ｄｔｏ
が１ｔｉｔ−ｄｔｏｌ／ａ、≦α（α＜＜／）を満して
いれば、Ｘ線厚き計乙は正常に動作していると見做し、
そうでなければＸ線厚濾計を異常だとして、Ｘ線厚さ計
の検査を行う。
が１ｔｉｔ−ｄｔｏｌ／ａ、≦α（α＜＜／）を満して
いれば、Ｘ線厚き計乙は正常に動作していると見做し、
そうでなければＸ線厚濾計を異常だとして、Ｘ線厚さ計
の検査を行う。
次に第２実施例を第２図に基いて説明すると、本実施例
はデフレクトロール３を用いて計算する場合である。
はデフレクトロール３を用いて計算する場合である。
今、デフレクタロール回転数を ｎＤデ
フレクタロール径を ｄＤテンショ
ンリール回転数を Ｎ巻き取りコイル径
を Ｄとすれば、 ｆｆ （Ｉ Ｄ −ｎ Ｄ＝４Ｄ −Ｎ
（／’）が成立するの
で、巻き取りコイル径りはｎＤ Ｄ＝ｄＤ下 （２勺したがっ
て、デフレクタロール３にパルス発生器７を接続する。
フレクタロール径を ｄＤテンショ
ンリール回転数を Ｎ巻き取りコイル径
を Ｄとすれば、 ｆｆ （Ｉ Ｄ −ｎ Ｄ＝４Ｄ −Ｎ
（／’）が成立するの
で、巻き取りコイル径りはｎＤ Ｄ＝ｄＤ下 （２勺したがっ
て、デフレクタロール３にパルス発生器７を接続する。
他は全て第１実施名・１」と同一なので、同一符号を付
し説明を省略する。
し説明を省略する。
本実施例においては演算処理装＃１０にデフレクタロー
ル径ｄＤとテンションリール径り。とを信号を送るよう
になっている。
ル径ｄＤとテンションリール径り。とを信号を送るよう
になっている。
第２実施例における演算手段は第１笑施ｆ・１１と同様
なので説明を省略−する。
なので説明を省略−する。
本発明においては多数回のデータを用いて回帰係数を求
めて平均板厚を算出するので、求めた板厚の精度が良く
、Ｘ線厚さ計のチェックを信頼して行うことができる。
めて平均板厚を算出するので、求めた板厚の精度が良く
、Ｘ線厚さ計のチェックを信頼して行うことができる。
第１図は本発明に係るコールドタンデムミルの仕上板厚
測定方法の第１実施例のブロック図、第２図は第２実施
例のブロック図、第３図はコイル径とテンションリール
回転数との回帰直線図である。 尚、図中７は圧延中のストリップ、λは最終スタンドワ
ークロール、３はデフレクタロール、グはテンションリ
ール、Ｓは巻き取りコイル、△Ｔは短時間、ｄｔは板厚
、Ｄｏはテンションリール径、Ｎ、はテンションリール
総回転数、Ｄはコイル径、ｎＷＶｉ最終スタンドワーク
ロール回転数、ｄｗは最終スタンドワークロール径、ｎ
Ｄはデフレクタロールである。
測定方法の第１実施例のブロック図、第２図は第２実施
例のブロック図、第３図はコイル径とテンションリール
回転数との回帰直線図である。 尚、図中７は圧延中のストリップ、λは最終スタンドワ
ークロール、３はデフレクタロール、グはテンションリ
ール、Ｓは巻き取りコイル、△Ｔは短時間、ｄｔは板厚
、Ｄｏはテンションリール径、Ｎ、はテンションリール
総回転数、Ｄはコイル径、ｎＷＶｉ最終スタンドワーク
ロール回転数、ｄｗは最終スタンドワークロール径、ｎ
Ｄはデフレクタロールである。
Claims (1)
- 巻き取り中のコイル径が実質的に変化しないと見做せる
短時間内のテンシヨンリール回転数と、最終スタンドワ
ークロール回転数又は最終スタンドワークロールとテン
シヨンリールとの間に設けたデフレクタロール回転数の
いずれか一方の回転数を検出し、この検出値と、検出値
を求めた最終スタンドワークロール径又はデフレクタロ
ール径より巻き取り中のコイル径を求めるとともに、巻
き取り開始からその時点までのテンシヨンリールの総回
転数を求め、このコイル径とテンシヨンリールの総回転
数を１本のコイル圧延中に所要回数記憶させた後、この
記憶値の回帰係数を求めることにより巻き取りコイルの
平均板厚を演算することを特徴とするコールドタンデム
ミルの仕上板厚測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12927584A JPS618612A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | コ−ルドタンデムミルの仕上板厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12927584A JPS618612A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | コ−ルドタンデムミルの仕上板厚測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS618612A true JPS618612A (ja) | 1986-01-16 |
Family
ID=15005557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12927584A Pending JPS618612A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | コ−ルドタンデムミルの仕上板厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS618612A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0273682A2 (en) * | 1986-12-29 | 1988-07-06 | Kitamura Kiden Co., Ltd. | Method and apparatus for manufacturing wound core |
| CN103943350A (zh) * | 2014-04-04 | 2014-07-23 | 昆山达功电子有限公司 | 线包厚度检测及矫正装置 |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP12927584A patent/JPS618612A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0273682A2 (en) * | 1986-12-29 | 1988-07-06 | Kitamura Kiden Co., Ltd. | Method and apparatus for manufacturing wound core |
| CN103943350A (zh) * | 2014-04-04 | 2014-07-23 | 昆山达功电子有限公司 | 线包厚度检测及矫正装置 |
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