JPH0797232A - 光ファイバの線引き方法 - Google Patents
光ファイバの線引き方法Info
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- JPH0797232A JPH0797232A JP24280993A JP24280993A JPH0797232A JP H0797232 A JPH0797232 A JP H0797232A JP 24280993 A JP24280993 A JP 24280993A JP 24280993 A JP24280993 A JP 24280993A JP H0797232 A JPH0797232 A JP H0797232A
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- outer diameters
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
- C03B37/0253—Controlling or regulating
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- Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 外径異常検出用外径測定器２１のサンプリン
グ時間を６４×１０-3秒とし、その間の光ファイバ外径
の平均を取るための測定回数が６４回、また前記外径制
御用外径測定器２２のサンプリング時間を１０２４×１
０-3秒とし、その間の平均を取るための測定回数が１０
２４回となるように平均値を取る周期をそれぞれ設定し
た。このような線引き装置を用いて光ファイバの線引き
を行った。 【効果】 本発明によれば、光ファイバの外径異常検出
と外径制御をともに精度良くおこなうことが可能な光フ
ァイバの線引き方法が提供される。
グ時間を６４×１０-3秒とし、その間の光ファイバ外径
の平均を取るための測定回数が６４回、また前記外径制
御用外径測定器２２のサンプリング時間を１０２４×１
０-3秒とし、その間の平均を取るための測定回数が１０
２４回となるように平均値を取る周期をそれぞれ設定し
た。このような線引き装置を用いて光ファイバの線引き
を行った。 【効果】 本発明によれば、光ファイバの外径異常検出
と外径制御をともに精度良くおこなうことが可能な光フ
ァイバの線引き方法が提供される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバの線引き方
法に関する。
法に関する。
【０００２】
【従来技術】従来の光ファイバの線引き方法は例えば図
２に示すような光ファイバの線引き装置を用いて行われ
ていた。すなわち、光ファイバ用ガラス母材１の上部を
保持部材２によって固定する。該保持部材２を下降させ
て、光ファイバ用ガラス母材１を線引き加熱炉３へと徐
々に導入する。光ファイバ用ガラス母材１は線引き加熱
炉３内で高温に加熱されることによって溶融され、下方
のキャプスタン１２に引き取られることによって所定径
にまで線引きされて光ファイバ４となる。この光ファイ
バ４はそのままでは外力に対して非常に脆い。そこで様
々な外力からの保護を目的として線引き後の光ファイバ
４には直ちに被覆樹脂塗布装置６によって紫外線硬化性
樹脂や熱硬化性樹脂などの被覆樹脂が塗布される。次い
で塗布された被覆樹脂が被覆樹脂硬化装置７で硬化され
ることによって第１の被覆樹脂層が施され、光ファイバ
素線８となる。通常はさらに被覆樹脂塗布装置９によっ
て第１の被覆樹脂層と同様に被覆樹脂が塗布され、その
被覆樹脂が被覆樹脂硬化装置１０によって硬化されるこ
とによって第２の被覆樹脂層施されて光ファイバ心線１
１となる。この光ファイバ心線１１はキャプスタン１２
を経て巻取ドラム１３に巻き取られる。なお、図２にお
ける符号５は外径測定器である。
２に示すような光ファイバの線引き装置を用いて行われ
ていた。すなわち、光ファイバ用ガラス母材１の上部を
保持部材２によって固定する。該保持部材２を下降させ
て、光ファイバ用ガラス母材１を線引き加熱炉３へと徐
々に導入する。光ファイバ用ガラス母材１は線引き加熱
炉３内で高温に加熱されることによって溶融され、下方
のキャプスタン１２に引き取られることによって所定径
にまで線引きされて光ファイバ４となる。この光ファイ
バ４はそのままでは外力に対して非常に脆い。そこで様
々な外力からの保護を目的として線引き後の光ファイバ
４には直ちに被覆樹脂塗布装置６によって紫外線硬化性
樹脂や熱硬化性樹脂などの被覆樹脂が塗布される。次い
で塗布された被覆樹脂が被覆樹脂硬化装置７で硬化され
ることによって第１の被覆樹脂層が施され、光ファイバ
素線８となる。通常はさらに被覆樹脂塗布装置９によっ
て第１の被覆樹脂層と同様に被覆樹脂が塗布され、その
被覆樹脂が被覆樹脂硬化装置１０によって硬化されるこ
とによって第２の被覆樹脂層施されて光ファイバ心線１
１となる。この光ファイバ心線１１はキャプスタン１２
を経て巻取ドラム１３に巻き取られる。なお、図２にお
ける符号５は外径測定器である。
【０００３】前記外径測定器５では線引き後の光ファイ
バ４の外径をモニターしている。この外径測定器からの
出力を所望周期でデジタルサンプリングするとともに各
周期での平均値を取り出している。この平均値は、光フ
ァイバの外径制御および光ファイバの外径異常検出に用
いられる。これらの具体的な方法については以下に述べ
る通りである。光ファイバの外径制御は、取り出した光
ファイバの外径の平均値が長手方向に対して一定となる
ように、光ファイバ用ガラス母材１の送り速度やキャプ
スタン１２の引取速度を調節することによっておこなわ
れている。また、光ファイバの外径異常検出は、取り出
した光ファイバの平均値を記録し、線引き工程終了後に
記録された平均値のなかに大きな変化が見られる部分に
は外径異常が生じていると判断する。そして外径異常が
あると判断された部分の光ファイバを取り除き、外径異
常のない部分のみを製品として扱っている。
バ４の外径をモニターしている。この外径測定器からの
出力を所望周期でデジタルサンプリングするとともに各
周期での平均値を取り出している。この平均値は、光フ
ァイバの外径制御および光ファイバの外径異常検出に用
いられる。これらの具体的な方法については以下に述べ
る通りである。光ファイバの外径制御は、取り出した光
ファイバの外径の平均値が長手方向に対して一定となる
ように、光ファイバ用ガラス母材１の送り速度やキャプ
スタン１２の引取速度を調節することによっておこなわ
れている。また、光ファイバの外径異常検出は、取り出
した光ファイバの平均値を記録し、線引き工程終了後に
記録された平均値のなかに大きな変化が見られる部分に
は外径異常が生じていると判断する。そして外径異常が
あると判断された部分の光ファイバを取り除き、外径異
常のない部分のみを製品として扱っている。
【０００４】しかしながら、従来の方法では線引き速度
が上昇するにつれ、光ファイバの外径異常検出の精度が
著しく低下してしまった。この理由としては、線引き速
度の上昇に伴って線引きされた光ファイバのデジタルサ
ンプリング点の間隔が長くなってきたために外径異常部
分の見落としが生じたことが挙げられる。一般に光ファ
イバの外径異常検出用の測定データは出来るだけ短い周
期のデータを平均化したほうが良い。光ファイバの線引
きの場合に用いられているレーザ式の外径測定器では時
間当たりのサンプリング数は一定である。したがって短
い周期、すなわち少ないデジタルサンプリング点の値を
平均化すれば、その中の一点の測定点の影響が大きくな
るから外径異常の部分を見つけやすくなるのである。よ
って、光ファイバの外径異常検出の精度を上げるには測
定点の平均を取る周期を短くすればよいのだが、今度は
光ファイバの外径制御の精度が低下してしまう。これは
光ファイバの外径制御のためには誤測定を避けるために
長い周期のデータを平均化し、一点の測定点の影響を小
さくする必要があるためである。なお、誤測定の原因と
なる測定誤差自体は光ファイバの揺れや外径測定器の振
動、およびその取りつけの際に生じる。特に、該光ファ
イバの揺れは線引き速度の高速化に伴って大きくなるこ
とが分かっている。したがって、線引き速度が高速化す
るのに伴って光ファイバの外径の測定精度は低下してし
まう。
が上昇するにつれ、光ファイバの外径異常検出の精度が
著しく低下してしまった。この理由としては、線引き速
度の上昇に伴って線引きされた光ファイバのデジタルサ
ンプリング点の間隔が長くなってきたために外径異常部
分の見落としが生じたことが挙げられる。一般に光ファ
イバの外径異常検出用の測定データは出来るだけ短い周
期のデータを平均化したほうが良い。光ファイバの線引
きの場合に用いられているレーザ式の外径測定器では時
間当たりのサンプリング数は一定である。したがって短
い周期、すなわち少ないデジタルサンプリング点の値を
平均化すれば、その中の一点の測定点の影響が大きくな
るから外径異常の部分を見つけやすくなるのである。よ
って、光ファイバの外径異常検出の精度を上げるには測
定点の平均を取る周期を短くすればよいのだが、今度は
光ファイバの外径制御の精度が低下してしまう。これは
光ファイバの外径制御のためには誤測定を避けるために
長い周期のデータを平均化し、一点の測定点の影響を小
さくする必要があるためである。なお、誤測定の原因と
なる測定誤差自体は光ファイバの揺れや外径測定器の振
動、およびその取りつけの際に生じる。特に、該光ファ
イバの揺れは線引き速度の高速化に伴って大きくなるこ
とが分かっている。したがって、線引き速度が高速化す
るのに伴って光ファイバの外径の測定精度は低下してし
まう。
【０００５】
【発明が解決しようとする問題点】そこで、この相反す
る性質を有する光ファイバの外径異常検出の精度および
光ファイバの外径制御の精度がともによい光ファイバの
線引き方法の開発が必要とされていた。
る性質を有する光ファイバの外径異常検出の精度および
光ファイバの外径制御の精度がともによい光ファイバの
線引き方法の開発が必要とされていた。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、光ファイバの
外径異常検出の精度がよくかつ光ファイバの外径制御が
精度良くできる光ファイバの線引き装置を提供すること
を目的とする。本発明は、光ファイバ用ガラス母材を線
引き加熱炉にて加熱、溶融して光ファイバとする光ファ
イバの線引き方法において、前記線引き加熱炉から出た
光ファイバの外径を外径制御を目的とする外径測定器と
外径不良検出を目的とする外径測定器とで測定すること
を特徴とする。
外径異常検出の精度がよくかつ光ファイバの外径制御が
精度良くできる光ファイバの線引き装置を提供すること
を目的とする。本発明は、光ファイバ用ガラス母材を線
引き加熱炉にて加熱、溶融して光ファイバとする光ファ
イバの線引き方法において、前記線引き加熱炉から出た
光ファイバの外径を外径制御を目的とする外径測定器と
外径不良検出を目的とする外径測定器とで測定すること
を特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明のように目的ごとに外径測定器を設けれ
ば、それぞれの用途に適した設定をすることができる。
具体的には、光ファイバの外径制御用には平均をとる周
期を長く設定することができ、光ファイバの外径異常検
出用には平均を取る周期を短く設定することができる。
このために、線引き速度が上昇しても、外径異常検出の
精度が落ちることはなくなる。
ば、それぞれの用途に適した設定をすることができる。
具体的には、光ファイバの外径制御用には平均をとる周
期を長く設定することができ、光ファイバの外径異常検
出用には平均を取る周期を短く設定することができる。
このために、線引き速度が上昇しても、外径異常検出の
精度が落ちることはなくなる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。実施例としては、図１に示すような光ファ
イバの線引き装置を使用した。すなわち、光ファイバ用
ガラス母材１の上部を保持部材２によって固定する。該
保持部材２を下降させて、光ファイバ用ガラス母材１を
線引き加熱炉３へと徐々に導入する。光ファイバ用ガラ
ス母材１は線引き加熱炉３内で高温に加熱されることに
よって溶融され、下方のキャプスタン１２に引き取られ
ることによって所定径にまで線引きされて光ファイバ４
となる。この光ファイバ４はそのままでは外力に対して
非常に脆い。そこで様々な外力からの保護を目的として
線引き後の光ファイバ４には直ちに被覆樹脂塗布装置６
によって紫外線硬化性樹脂や熱硬化性樹脂などの被覆樹
脂が塗布される。次いで塗布された被覆樹脂が被覆樹脂
硬化装置７で硬化されることによって第１の被覆樹脂層
が施され、光ファイバ素線８となる。通常はさらに被覆
樹脂塗布装置９によって第１の被覆樹脂層と同様に被覆
樹脂が塗布され、その被覆樹脂が被覆樹脂硬化装置１０
によって硬化されることによって第２の被覆樹脂層施さ
れて光ファイバ心線１１となる。この光ファイバ心線１
１はキャプスタン１２を経て巻取ドラム１３に巻き取ら
れる。なお、図１における符号２１は外径異常検出用の
外径測定器であり、符号２２は外径制御用の外径測定器
である。
に説明する。実施例としては、図１に示すような光ファ
イバの線引き装置を使用した。すなわち、光ファイバ用
ガラス母材１の上部を保持部材２によって固定する。該
保持部材２を下降させて、光ファイバ用ガラス母材１を
線引き加熱炉３へと徐々に導入する。光ファイバ用ガラ
ス母材１は線引き加熱炉３内で高温に加熱されることに
よって溶融され、下方のキャプスタン１２に引き取られ
ることによって所定径にまで線引きされて光ファイバ４
となる。この光ファイバ４はそのままでは外力に対して
非常に脆い。そこで様々な外力からの保護を目的として
線引き後の光ファイバ４には直ちに被覆樹脂塗布装置６
によって紫外線硬化性樹脂や熱硬化性樹脂などの被覆樹
脂が塗布される。次いで塗布された被覆樹脂が被覆樹脂
硬化装置７で硬化されることによって第１の被覆樹脂層
が施され、光ファイバ素線８となる。通常はさらに被覆
樹脂塗布装置９によって第１の被覆樹脂層と同様に被覆
樹脂が塗布され、その被覆樹脂が被覆樹脂硬化装置１０
によって硬化されることによって第２の被覆樹脂層施さ
れて光ファイバ心線１１となる。この光ファイバ心線１
１はキャプスタン１２を経て巻取ドラム１３に巻き取ら
れる。なお、図１における符号２１は外径異常検出用の
外径測定器であり、符号２２は外径制御用の外径測定器
である。
【０００９】前記外径異常検出用外径測定器２１のサン
プリング時間を６４×１０-3秒とし、その間の光ファイ
バ外径の平均を取るための測定回数が６４回、また前記
外径制御用外径測定器２２のサンプリング時間を１０２
４×１０-3秒とし、その光ファイバ外径の平均を取るた
めの測定回数が１０２４回となるように平均値を取る周
期をそれぞれ設定した。（ここで用いた外径測定器はサ
ンプリング周期が１分間のものを用いた。）このような
線引き装置を用いて光ファイバの線引きを行ったとこ
ろ、外径変動幅が小さい光ファイバを得ることができ
た。また、外径異常をして検出された部分のみを取り除
いたあとの光ファイバには外径異常の部分は認められな
かった。
プリング時間を６４×１０-3秒とし、その間の光ファイ
バ外径の平均を取るための測定回数が６４回、また前記
外径制御用外径測定器２２のサンプリング時間を１０２
４×１０-3秒とし、その光ファイバ外径の平均を取るた
めの測定回数が１０２４回となるように平均値を取る周
期をそれぞれ設定した。（ここで用いた外径測定器はサ
ンプリング周期が１分間のものを用いた。）このような
線引き装置を用いて光ファイバの線引きを行ったとこ
ろ、外径変動幅が小さい光ファイバを得ることができ
た。また、外径異常をして検出された部分のみを取り除
いたあとの光ファイバには外径異常の部分は認められな
かった。
【００１０】以下、本発明の比較例を説明する。比較例
としては、図２に示すような外径測定器を１台しか使用
しない以外は前記実施例と同様にして光ファイバ心線１
１を製造した。
としては、図２に示すような外径測定器を１台しか使用
しない以外は前記実施例と同様にして光ファイバ心線１
１を製造した。
【００１１】この光ファイバの線引き装置において、外
径測定器５で得た平均値をもとに光ファイバの外径制御
ならびに光ファイバの外径異常検出をおこなった。該外
径測定器において、サンプリング時間を６４×１０-3秒
とし、その間の平均を取るための測定回数が６４回とな
るように平均値を取る周期の設定を変えて線引きをおこ
なった。また、サンプリング時間を１０２４×１０-3秒
と変え、その間の平均を取るための測定回数が１０２４
回となるように平均値を取る周期の設定を変えて線引き
をおこなった。その結果、平均を取る回数を６４回とし
たときには、外径異常として検出された部分を取り除い
たあとの光ファイバに外径異常の部分は認められなかっ
たが、光ファイバの長手方向における外径変動幅が大き
く、品質的に問題が生じた。また、平均を取る回数を１
０２４回としたときには、外径変動幅は小さかったもの
の、外径異常部分として検出された部分を取り除いた後
にも外径異常の部分が認められた。
径測定器５で得た平均値をもとに光ファイバの外径制御
ならびに光ファイバの外径異常検出をおこなった。該外
径測定器において、サンプリング時間を６４×１０-3秒
とし、その間の平均を取るための測定回数が６４回とな
るように平均値を取る周期の設定を変えて線引きをおこ
なった。また、サンプリング時間を１０２４×１０-3秒
と変え、その間の平均を取るための測定回数が１０２４
回となるように平均値を取る周期の設定を変えて線引き
をおこなった。その結果、平均を取る回数を６４回とし
たときには、外径異常として検出された部分を取り除い
たあとの光ファイバに外径異常の部分は認められなかっ
たが、光ファイバの長手方向における外径変動幅が大き
く、品質的に問題が生じた。また、平均を取る回数を１
０２４回としたときには、外径変動幅は小さかったもの
の、外径異常部分として検出された部分を取り除いた後
にも外径異常の部分が認められた。
【００１２】なお、本実施例では、光ファイバの外径異
常検出用のデータを外径測定器によって得たが、この外
径測定器は光ファイバの長手方向の凹凸を検出すること
ができる凹凸検出器に代えても同様の効果を得ることが
できる。
常検出用のデータを外径測定器によって得たが、この外
径測定器は光ファイバの長手方向の凹凸を検出すること
ができる凹凸検出器に代えても同様の効果を得ることが
できる。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、光ファイバの外径異常
検出と外径制御をともに精度良くおこなうことが可能な
光ファイバの線引き方法を提供することができる。
検出と外径制御をともに精度良くおこなうことが可能な
光ファイバの線引き方法を提供することができる。
【図１】図１は、実施例で使用した光ファイバの線引き
装置である。
装置である。
【図２】図２は、比較例で使用した光ファイバの線引き
装置である。
装置である。
１…光ファイバ用ガラス母材 ２…保持部材 ３…線引き加熱炉 ４…光ファイバ ５…外径測定器 ６…被覆樹脂塗布装置 ７…被覆樹脂硬化装置 ８…光ファイバ素線 ９…被覆樹脂塗布装置 １０…被覆樹脂硬化装置 １１…光ファイバ心線 １２…キャプスタン １３…巻取ドラム ２１…外径異常検出用外径測定器 ２２…外径制御用外径測定器
Claims (1)
- 【請求項１】 光ファイバ用ガラス母材を線引き加熱炉
にて加熱、溶融して光ファイバとする光ファイバの線引
き方法において、前記線引き加熱炉から出た光ファイバ
の外径を外径制御を目的とする外径測定器と外径不良検
出を目的とする外径測定器とで測定することを特徴とす
る光ファイバの線引き方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24280993A JPH0797232A (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 光ファイバの線引き方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24280993A JPH0797232A (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 光ファイバの線引き方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0797232A true JPH0797232A (ja) | 1995-04-11 |
Family
ID=17094615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24280993A Pending JPH0797232A (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 光ファイバの線引き方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797232A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016040213A (ja) * | 2014-08-13 | 2016-03-24 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバの製造方法および製造装置 |
| JP2016124778A (ja) * | 2015-01-08 | 2016-07-11 | 株式会社フジクラ | 光ファイバの製造方法 |
-
1993
- 1993-09-29 JP JP24280993A patent/JPH0797232A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016040213A (ja) * | 2014-08-13 | 2016-03-24 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバの製造方法および製造装置 |
| JP2016124778A (ja) * | 2015-01-08 | 2016-07-11 | 株式会社フジクラ | 光ファイバの製造方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040413 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040609 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040616 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
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