JPH09132424A - 光ファイバの線引方法 - Google Patents

光ファイバの線引方法

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JPH09132424A
JPH09132424A JP7286922A JP28692295A JPH09132424A JP H09132424 A JPH09132424 A JP H09132424A JP 7286922 A JP7286922 A JP 7286922A JP 28692295 A JP28692295 A JP 28692295A JP H09132424 A JPH09132424 A JP H09132424A
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preform
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俊章 立石
Keigo Maeda
恵吾 前田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 線引き始め側の光ファイバと線引き終わり側
の光ファイバの伝送特性、特に伝送損失が均一となる光
ファイバの線引装置を提供する。 【解決手段】 所定の温度に加熱された加熱炉4内に光
ファイバ母材1を送り込んで加熱し、その加熱部分を線
引きして光ファイバ10を製造する光ファイバの線引装
置2において、加熱炉4内の所定の温度を光ファイバ母
材1の線引き終わりまでの残長にしたがって一定の割合
で降下させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光ファイバ母材を加
熱して線引きする光ファイバの線引方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】加熱した加熱炉内に光ファイバ母材をそ
の下端から挿入して、加熱部分から光ファイバを線引き
する、いわゆる光ファイバの線引装置の重要なファクタ
の一つに、線引きされた光ファイバの線引き始め側の特
性と、線引き終わり側の特性の均一性がある。光ファイ
バの線引きは、例えば石英系の光ファイバの場合は外径
が40〜100mmの光ファイバ母材を加熱炉内で約2
000°Cに加熱溶解して所定の外径の光ファイバに線
引きしている。線引きに際して、従来は光ファイバの線
引き始め側の特性が最適となる加熱炉温度を設定して、
放射温度計等で加熱炉内の温度を監視して光ファイバの
線引き中は炉内温度が一定になるように制御を行ってい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、最近光ケー
ブルの長尺化が要求されるようになり光ファイバ母材が
大型になりその外径も大径になっている。このような大
径の光ファイバ母材を従来のように炉内温度が一定にな
るように制御して線引きすると、実際に光ファイバ母材
に加えている熱量が変動し、線引き始め側の光ファイバ
と線引き終わり側の光ファイバの伝送特性、特に伝送損
失が変動するという問題が生じる。この原因は、明確で
はないが光ファイバ母材を加熱炉内に投入し線引きが進
むにつれ、光ファイバ母材自体からの放熱量が変化する
ことが原因ではないかと推量される。
【0004】本発明は上記の課題を解決し、大径の光フ
ァイバ母材であっても線引き始め側の光ファイバと線引
き終わり側の光ファイバの伝送特性、特に伝送損失が均
一となる光ファイバの線引方法を提供することを目的と
するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の課題を解
決するために以下のような手段を有している。
【0006】本発明のうち請求項1の光ファイバの線引
方法は、所定の温度に加熱された加熱炉内に光ファイバ
母材を送り込んで加熱、線引きして光ファイバを製造す
る光ファイバの線引方法において、前記加熱炉内の所定
の温度を前記光ファイバ母材の線引き終わりまでの残長
にしたがって一定の割合で降下させることを特徴とす
る。
【0007】本発明のうち請求項2の光ファイバの線引
装置は、加熱炉内の降下温度をT(°C)、光ファイバ
母材の線引き終わりまでの残長をL(mm)としたとき
に、次式 T=1.08×10-6×(320−L)3 の関係が成り立つことを特徴とする。
【0008】本発明の請求項1の光ファイバの線引方法
は、加熱炉内の温度を光ファイバ母材の線引き終わりま
での残長にしたがって一定の割合で降下させるものであ
る。加熱炉で光ファイバ母材を加熱溶融している状態
は、線引き中の光ファイバの線引張力を測定することで
知ることができる。線引き中の線引張力を測定すると、
炉温を一定に制御した場合、光ファイバ母材を投入して
線引きが進行するにつれ、線引張力が下がっていく。つ
まり光ファイバ母材に対して、時間の経過とともにより
多くの熱を加えていることになる。線引張力の変化量を
解析した結果、加熱炉に光ファイバ母材を投入し、線引
きが進行するにつれ加熱炉温度を下げていくことで線引
張力を一定にできることがわかった。そこで光ファイバ
線引中の線引張力を一定にするために、線引きが進行す
るにしたがい加熱炉温度を下げる制御を行う。このよう
に、光ファイバ母材に加えている熱量を低下させると、
線引中の線引張力が一定になり、その結果、線引きされ
た光ファイバの長手方向の伝送特性が安定した状態で線
引きされる。特に線引き終わり側の伝送損失が増加する
のを防いで安定した状態で線引きすることが可能とな
る。
【0009】本発明の請求項2の光ファイバの線引方法
は、加熱炉内の降下温度をT(°C)、光ファイバ母材
の線引き終わりまでの残長をL(mm)としたときに、
次式 T=1.08×10-6×(320−L)3 ・・・・・・(1) の関係が成り立つように、加熱炉温度を降下するもので
ある。すなわち、加熱炉温度を下げていく割合は、光フ
ァイバ母材の線引き終わりまでの残長と密接な関係があ
る。そこで、光ファイバ母材の線引き終わりまでの残長
を変数とした(1)式が最適な近似関数であることが判
った。この(1)式を使用して加熱炉温度を降下させる
ことによって線引された光ファイバの長手方向の伝送特
性が安定した状態で線引きされることが可能となる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下に本発明を実施の形態により
詳細に説明する。図1は本発明の光ファイバの線引装置
の一実施の形態を示す概略図である。図1において、1
は光ファイバ母材、2は光ファイバの線引装置である。
光ファイバの線引装置2は、光ファイバ母材1の把持・
送り部材3、加熱炉4、引取キャプスタン5および巻取
りボビン6を備えている。光ファイバの線引装置2は、
また炉温測定機7、炉温制御装置8および炉温降下量演
算ユニット9を備えている。
【0011】上記の光ファイバの線引装置2で光ファイ
バ母材1から光ファイバ10を線引きする場合について
説明する。先ず、光ファイバ母材1の線引き開始にあた
って、光ファイバ母材1の線引き有効長さL0 (mm)
を計測して、その数値を炉温降下量演算ユニット9に入
力する。次いで光ファイバ母材1の上端サポート部を把
持・送り部材3で把持して約2000°Cに加熱された
加熱炉4に光ファイバ母材1の下端を送り込み、その先
端の加熱軟化部分を光ファイバ10として線引きする。
線引きされた光ファイバ10は、続いて、図示されてい
ない被覆装置により、例えば紫外線硬化性樹脂を塗布し
て、さらに図示されていない硬化炉により、塗布された
紫外線硬化性樹脂を硬化させて被覆光ファイバ11とな
り、これを引取キャプスタン5で引取り、巻取りボビン
6に巻き取る。
【0012】上記の光ファイバ10の線引きにあって、
本発明の特徴は光ファイバ母材1の線引き有効長さL
(mm)、言い換えると線引き残り長さL(mm)が短
くなるに従い加熱炉4の炉内温度を降下して行くことに
ある。すなわち、光ファイバ母材1の線引き残り長さL
(mm)と加熱炉4の炉内温度の降下量T(°C)との
関係は次の(2)式で表される近似式となっている。 T=1.08×10-6×(320−L)3 ・・・・・・(2) (2)式において、1.08×10-6は3次関数近似の
係数であり、320は炉内温度の降下制御を開始する光
ファイバ母材長の初期値である。すなわち、炉内温度の
降下制御はL<320(mm)となったときから開始す
る。
【0013】光ファイバ母材1の線引き残り長さLは把
持・送り装置3に設けられ送り量信号を炉温降下量演算
ユニット9に取り込むことによって計測される。また、
炉内温度の降下制御は、炉温降下量演算ユニット9で計
測された光ファイバ母材1の線引き残り長さL(mm)
と炉温測定機7で得た炉内温度の情報を炉温制御装置8
に取り込み、上記の(2)式にしたがって炉内温度を制
御する。
【0014】図2は、上記の(2)式にしたがって炉内
温度を制御して線引きを行った場合の張力変動の測定結
果を示すもので、図3に示す炉内温度を制御しないで一
定にして線引きし場合、すなわち従来の方法による張力
変動の測定結果に比較して張力変動が小さいことが判
る。
【0015】図4は、図2の炉内温度を制御して線引き
を行った光ファイバの長手方向の伝送損失の変動を示す
もので、長手方向の伝送損失の変動が非常に小さいこと
を示している。なお、光ファイバの線引張力は、周知の
方法、例えば線引き直後の光ファイバの振動測定により
オンラインで求めることができる。以上、説明したよう
に、炉内温度の降下制御を行うことによって、線引中の
光ファイバ母材に加える熱量の変動を少なくし、線引張
力の変動を小さくする。その結果、伝送損失の長手変動
が小さい光ファイバの線引きを行うことができた。な
お、上記実施の形態において、加熱炉の炉内温度の降下
量T(°C)との関係式が(2)式で表される3次関数
の近似式となっているが、近似式は(2)式で表される
3次関数の近似式に限るものではなく、1次関数、2次
関数あるいは指数関数のような他の近似式を採用するこ
とも可能であり、炉温制御系の制御範囲、制御精度を勘
案して適宜選択することができる。
【0016】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の請求項1の
光ファイバの線引方法によれば、加熱炉内の温度を光フ
ァイバ母材の線引き終わりまでの残長にしたがって一定
の割合で降下させるので、線引きが進行するにつれ加熱
炉温度が下がりその結果線引張力を一定にできる。すな
わち、線引きが進行するにしたがい光ファイバ母材に加
えている熱量を低下させると、線引中の線引張力が一定
になる。その結果、線引きされた光ファイバの長手方向
の伝送特性が安定した状態で線引きされる。
【0017】本発明の請求項2の光ファイバの線引装置
によれば、加熱炉内の降下温度をT(°C)、光ファイ
バ母材の線引き終わりまでの残長をL(mm)としたと
きに、加熱炉温度を降下させる最適な近似関数である次
式 T=1.08×10-6×(320−L)3 °C・・・・・・(3) の関係が成り立つように制御するので、光ファイバ母材
に加えている熱量を最適な条件で低下させることにな
り、線引中の線引張力が一定になる。その結果、線引き
された光ファイバの長手方向の伝送特性が安定した状態
で線引きされる。特に線引き終わり側の伝送損失が増加
するのを防いで安定した状態で線引きすることが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ファイバの線引装置の一実施の形態
を示す概要図である。
【図2】図1の光ファイバの線引装置で線引きした際の
光ファイバ母材の線引き終わりまでの残長と線引きされ
た光ファイバの線引張力の関係図である。
【図3】加熱炉内の温度を降下させない従来の光ファイ
バの線引装置で線引きした際の光ファイバ母材の線引き
終わりまでの残長と線引きされた光ファイバの線引張力
の関係図である。
【図4】加熱炉内の温度を降下させない従来の光ファイ
バの線引装置で線引きした際の光ファイバ母材の線引き
終わりまでの残長と線引きされた光ファイバの線引張力
の関係図である。
【符号の説明】 1 光ファイバ母材 2 光ファイバの線引装置 3 把持・送り部材 4 加熱炉 5 引取キャプスタン 6 巻取りボビン 7 炉温測定機 8 炉温制御装置 9 炉温降下量演算ユニット 10 光ファイバ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の温度に加熱された加熱炉内に光フ
    ァイバ母材を送り込んで加熱、線引きして光ファイバを
    製造する光ファイバの線引方法において、前記加熱炉内
    の温度を前記光ファイバ母材の線引き終わりまでの残長
    にしたがって一定の割合で降下させることを特徴とする
    光ファイバの線引装置。
  2. 【請求項2】 加熱炉内の降下温度をT(°C)、光フ
    ァイバ母材の線引き終わりまでの残長をL(mm)とし
    たときに、次式 T=1.08×10-6×(320−L)3 の関係が成り立つことを特徴とする請求項1に記載の光
    ファイバの線引方法。
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