JP3301136B2 - 光ファイバの製造方法及び光ファイバの製造装置 - Google Patents

光ファイバの製造方法及び光ファイバの製造装置

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JP3301136B2
JP3301136B2 JP166393A JP166393A JP3301136B2 JP 3301136 B2 JP3301136 B2 JP 3301136B2 JP 166393 A JP166393 A JP 166393A JP 166393 A JP166393 A JP 166393A JP 3301136 B2 JP3301136 B2 JP 3301136B2
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宏平 小林
薫 奥野
裕男 松田
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B37/00Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
    • C03B37/01Manufacture of glass fibres or filaments
    • C03B37/02Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、大型光ファイバ母材を
線引きした際に光ファイバの外径の制御を容易にし線引
速度上昇時間を大幅に短縮することができる光ファイバ
の製造方法及び光ファイバの製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、光ファイバを製造するには光フ
ァイバ製造装置を用い、光ファイバ母材から光ファイ
線引きし、被覆を施した後、抗張力のテストをし、巻
取機によって巻取っている。
【0003】図2に一般的な光ファイバの製造装置を示
す。同図に示すように、光ファイバ製造装置10は、光
ファイバ母材11を線引きする線引炉12と、線引きさ
れた光ファイバ13の外径を測定する外径測定器14
と、光ファイバ13の外周に、第一の被覆を施すダイ1
5a及び硬化炉15bとからなる第一被覆部15と、第
二の被覆を施すダイ16a及び硬化炉16bとからなる
第二被覆部16と、光ファイバ13に一定の張力を与
え、抗張力をテストするスクリーニング部7と、光ファ
イバ13を巻取る巻取機18とを具備するものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】光ファイバの製造時に
は、外径測定器14で測定された光ファイバ外径(以下
「線径」ということがある)が一定になるように、線引
速度を制御する(以下このことを「線径制御」とい
う)。大型の光ファイバ母材を高速で線引する場合に
は、線径制御用の外径測定器14を線引炉直下より1〜
2m程度下に下げないと125±0.3μm以下の精度で
線径制御することができない。
【0005】しかしながら、線径制御用の外径測定器1
4を従来の線引炉直下より1〜2m程度下に下げると
線引速度100m/min.以下では光ファイバが線振れを起
こし、その結果、外径測定器14の入口近傍での線振れ
量が±10mmとなり、線径制御が難しくなり、その結果
線速上昇に時間が掛かる等の問題点がある。
【0006】本発明は上記問題に鑑み、大型の光ファイ
バ母材を高速で線引するに際しても、線径制御を容易に
し、線引速度上昇時間を大幅に短縮することができる光
ファイバの製造方法及び光ファイバの製造装置を目的と
する。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明に係る光ファイバの製造方法は、光ファイバ母材を線
引炉内で加熱溶融して線引する光ファイバの製造方法で
あって、線引炉と線経制御用の外径測定器との間におい
て、光ファイバの線引炉からの口出し時の線引速度上昇
時には、光ファイバ外径を±4mm以上の範囲の視野を
有する測定視野の広い外径測定器で測定し、定常の線引
速度とした時には、光ファイバ外径を前記外径測定器よ
りも測定視野の狭い別の外径測定器に切換えて測定する
ことを特徴とする。
【0008】また、一方の本発明に係る光ファイバの製
造装置は、加熱ヒータを有する線引炉内で光ファイバ母
材を加熱溶融して線引して得られる光ファイバの表面に
被覆層を施した後、該光ファイバを巻取る光ファイバの
製造装置において、光ファイバの線引速度が所定の速と
に達した後、該光ファイバの外径を測定する第一の外径
測定器の上流側に、光ファイバの線引速度が所定の速度
に達するまでの間、該光ファイバの外径を測定する第二
の外径測定器を配設し、 第二の外径測定器の測定視野は
±4mmであり、第一の外径測定器の測定視野より測定
範囲が広く、かつ第一の外径測定器の測定精度が第二の
外径測定器の測定精度より高精度であることを特徴とす
る。
【0009】
【実施例】以下、本発明に係る好適な一実施例を図面を
参照して説明する。図1は本実施例に係る光ファイバ製
造装置の概略図である。
【0010】同図に示すように、光ファイバ製造装置2
0は、光ファイバ母材11を線引する線引炉12と、線
引された光ファイバ13の外径を測定する第一の外径測
定器14と、光ファイバ13の外周第一の被覆を施す
ダイ15a及び硬化炉15bとからなる第一被覆部15
と、第二の被覆を施すダイ16a及び硬化炉16bとか
らなる第二被覆部16と、光ファイバ13に一定の張力
を与え、抗張力をテストするスクリーニング部17と、
光ファイバ13を巻取る巻取機18とを具備するもので
ある。
【0011】本実施例においては、線引炉12の出口か
ら1〜2m下の位置で光ファイバ13の外径を測定する
従来と同様の第一の外径測定器14の上流側に、光ファ
イバの線引速度が所定の速度に達するまでの間、光ファ
イバ13の外径を測定する第二の外径測定器21を配設
している。
【0012】上記第一の外径測定器14は従来と同様の
ものであり、線引速度が所定の速度すなわち定常の線引
速度となった状態の光ファイバの外径を常に監視してお
り、その測定外径に対応して線引速度を制御するように
している。この第一の外径測定器14の測定視野は一般
に1×2(mm)あるいは2×2(mm)と狭いものであ
り、またその測定精度は±0.3μmと高精度のものを用
いている。
【0013】また、第二の外径測定器21は、光ファイ
線引口出し時から線引速度が所定の速度となるまで
の線引初期の外径を測定するものであり、この第二の外
径測定器21の測定視野は5×30(mm)又は12×1
2(mm)と広いものであり、また、その測定精度は±5
μmと比較的低精度のものを用いている。
【0014】次に大型光ファイバ母材を用いた光ファイ
バの製造の一例を説明する。線引炉12内に光ファイバ
母材11を設置し、加熱溶融し除々に線引速度を上昇さ
せ線引を開始する。この線速上昇時においては光ファイ
バ13の外径測定には第二の外径測定器21を用いて測
定する。そして定常の線引速度(例えば100m/min 以
上)となった場合には、第一の外径測定器21を用いて
従来と同様に測定する。
【0015】このように線引初期の線引速度上昇時と定
常の線引速度時とにおいて各々測定視野及び測定精度の
異なる別々の外径測定器を用いることで、線引速度上昇
時の低線引速度時における光ファイバの線振れ(±4m
m)があっても広い視野で外径測定でき、線径制御がで
きる。この結果定常の線引速度となるまでの時間を大幅
に短縮することができた。
【0016】すなわち、第一の外径測定器の位置を線引
炉直下より1〜2m程度下にした場合、第一の外径測定
器14の入口近傍では線振れ量が±10mmとなり線径制
御が極めて難しく、線引速度上昇時間が大幅にかかって
いたが、本方法のように二種類の外径測定器を用いるこ
とにより、この問題が解消された。この結果定常の線引
速度(100m/min )となるのに従来では約2時間程度
かかっていたものが、本実施例の場合には約30分と約
4分の3もの時間の短縮を図ることができた。
【0017】さらに、従来約2時間にも亙って使用不能
の光ファイバを線引していたものが、30分で済み光フ
ァイバ母材の有効利用率も向上する。
【0018】
【発明の効果】以上実施例と共に説明したように、本発
明によれば、大型の光ファイバ母材を用いても線引速度
上昇時の線径制御が容易となり、定常の線引速度となる
までの時間を大幅に短縮することができ、時間のロス及
び光ファイバ母材のロスを最小限とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例に係る光ファイバ製造装置の概略図で
ある。
【図2】従来技術に係る光ファイバ製造装置の概略図で
ある。
【符号の説明】
11 光ファイバ母材 12 線引炉 13 光ファイバ 14 第一の外径測定器 15 第一被覆部 16 第二被覆部 17 スクリーニング部 18 巻取機 21 第二の外径測定器
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−275727(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C03B 37/027

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ファイバ母材を線引炉内で加熱溶融し
    て線引する光ファイバの製造方法であって、線引炉と線
    経制御用の外径測定器との間において、光ファイバの線
    引炉からの口出し時の線引速度上昇時には、光ファイバ
    外径を±4mm以上の範囲の視野を有する測定視野の広
    い外径測定器で測定し、定常の線引速度とした時には、
    光ファイバ外径を前記外径測定器よりも測定視野の狭い
    別の外径測定器に切換えて測定することを特徴とする光
    ファイバの製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、定常の線引き線速度
    が100m/min 以上の所定の速度であることを特徴とす
    る光ファイバの製造方法。
  3. 【請求項3】 加熱ヒータを有する線引炉内で光ファイ
    バ母材を加熱溶融して線引して得られる光ファイバの表
    面に被覆層を施した後、該光ファイバを巻取る光ファイ
    バの製造装置において、 光ファイバの線引速度が所定の速とに達した後、該光
    ァイバの外径を測定する第一の外径測定器の上流側に、
    光ファイバの線引速度が所定の速度に達するまでの間、
    該光ファイバの外径を測定する第二の外径測定器を配設
    し、 第二の外径測定器の測定視野は±4mmであり、第一の
    外径測定器の測定視野より測定範囲が広く、かつ第一の
    外径測定器の測定精度が第二の外径測定器の測定精度よ
    り高精度である ことを特徴とする光ファイバの製造装
    置。
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