JPS61230631A - 光デイスク用ヘツド制御装置 - Google Patents

光デイスク用ヘツド制御装置

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JPS61230631A
JPS61230631A JP7299585A JP7299585A JPS61230631A JP S61230631 A JPS61230631 A JP S61230631A JP 7299585 A JP7299585 A JP 7299585A JP 7299585 A JP7299585 A JP 7299585A JP S61230631 A JPS61230631 A JP S61230631A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
offset voltage
information track
error signal
light beam
Prior art date
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Pending
Application number
JP7299585A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Shibano
正行 芝野
Shinichi Yamada
真一 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP7299585A priority Critical patent/JPS61230631A/ja
Publication of JPS61230631A publication Critical patent/JPS61230631A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 従来の技術 フォーカスエラー信号及びトラ、ノキングエラー信号を
得るだめの光学系の一例を第2図に示す。
半導体レーザ1から出た光ビーム2はコリメータレンズ
3により平行光となり偏光ビームスプリッタ4及びλ/
4 波長板6及び絞りレンズ6を通ってディスク7の情
報トラック8に集束される。情報トラックにより反射さ
れた戻り光は、再び絞りレンズ6を通って平行光となり
λ/4 波長板5を経テ、偏光ビームスプリッタ4によ
って反射分離され、平行光9となりミラー10により半
分が反射され、トラッキングエラー信号用光検出器11
に照射される。平行光9の残り半分は集光レンズ12に
より絞られて、フォーカスエラー信号用光検出器13に
照射される。
3 ′\−ノ 光検出器13は2分割PINダイオードであり、ミラー
1oをナイフエッヂとしたナイフエッヂ方式の検出方法
であり、捷だ光検出器11も2分割のPINダイオード
で、ファーフィールド方式のトラッキングエラー検出方
式を構成している。
このよう々構成でフォーカスエラー信号を得るには、光
検出器1302分割PINダイオード各々の出力の差信
号をとる。また、トラッキングエラー信号も、同様に光
検出器11の2分割PINダイオード各々の出力の差信
号をとることにより得られる。
第3図にフォーカスエラー信号又はトラッキングエラー
信号を得るだめの回路構成を示す。
光検出器である2分割PINダイオード14の出力P1
及びB2は各々増幅回路15及び16により増幅され、
差動増幅回路17により差信号18が得られる。このよ
うにしてフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー
信号を得、増幅回路19゜位相補償回路20.ドライバ
回路21を介してボイスコイル22に信号を加え、光デ
ィスク用ヘンドを移動させ、光ビームを焦点位置及び情
報トラックのセンタ位置に制御する。
ことで情報トラックから別の情報トラックに移る場合、
移動指令23によりスイッチ24をオフしてサーボ回路
を切って移動させる。移動完了後、スイッチ24をオン
し、サーボ回路を働かせる。
発明が解決しようとする問題点 ここで増幅回路15.16及び17にオフセット電圧が
発生していると差信号18に混入し、フォーカスエラー
信号及びトラッキングエラー信号検出系の誤差となる。
増幅回路15,16.17の増幅率をA1.A2゜A3
とし各々のオフセット電圧を81.B2.B3とすると
差信号Sは次式であられされる。
5−A5(A1(P1+B1)−A2(P2+B2)十
B3) ・・・(1)ここでP 及びB2は2分割PI
Nダイオード光検出器の各々の出力である。A1−A2
−A と設定されているとすると 5−A5A(Pl−B2)+A3【A(B1−B2)十
B3)  ・・・(2)となる。本来差信号として必要
な信号は(2)式の第5 ベーン 1項であり、第2項が誤差信号となる。
オフセット電圧は増幅回路部品の温度ドリフト。
電源電圧の変化等で発生し、変動するため、初期の回路
調整により小さく押えることは困難である。
また温度ドリフトの小さい増幅器は高価なものとなって
しまう。
問題点を解決するための手段 前記問題点を解決するため、光ビームが情報トラックか
ら別の情報トラックに移動する期間、つまり光ビームが
情報トラックの焦点位置及びセンタ位置に追従している
必要のない期間に位置ずれ検出回路のオフセット電圧を
測定し、差信号に加える。測定方法として、位置ずれ検
出回路の入力部をアースに接続し、出力信号をホールド
する。
これは前記(1)式においてPl−B2−o としSを
求めたことに々る。これを81 とすると、S、=A3
(A(B1−B2)+B3)このオフセット電圧S1は
ホールドされており、光ビームの移動完了時までに、位
置ずれ検出回路の入力部をアースからPINダイオード
光検出器e”−7 の側に切換えるとともに、位置ずれ検出回路の出力に逆
極性で加えて差無号S2を得る。
52=S−81 −A3A(P、−B2)   であり、このようにして
、差信号としてオフセット電圧による誤差が取除かれた
信号が得られる。
作  用 位置ずれ検出回路のオフセット電圧を取除ける構成とす
ることにより、回路調整を容易にし、また温度ドリフト
、電源!圧の変化等に対して、位置ずれ検出回路の出力
信号があまり影響をうけなくなり光ビームの正確な位置
制御が可能となる。
実施例 第1図に本発明の実施例を示す。2分割PINダイオー
ドの光検出器26の各々の出力P1.P2はスイッチ2
6及び27を介して位置ずれ検出回路31の増幅回路2
8.29に入る。各々の出力となっている。この信号が
フォーカスエラー信号7へ− または、トラッキングエラー信号と々る。この出力信号
は、スイッチ33を介して、増幅回路34に入り、スイ
ッチ354位相補償回路36.ドライブ回路37を通っ
てボイスコイル38に電流を流し光ディスク用ヘッドを
駆動する。このような構成でフォーカス制御及びトラッ
キング制御を行ない、光ビームの焦点位置及び情報トラ
ックのセンタ位置に追従させる。
ここで光ビームを他の情報トラックへ移動させる場合、
または、スパイラル状の情報トラックにおいては、1回
転して元の情報トラックに戻る場合、移動指令39が出
され、スイッチ35によりサーボ回路構成がOFF  
される。このときスイッチ26及び27が働き増幅回路
28.29の入力部がアースに接続される。寸だ、スイ
ッチ33がホールド回路39側に切り換えられており、
位置ずれ検出回路31の出力がホールドされる。
このようにして移動指令46により、スイッチ26.2
7.33により、構成された測定系により位置ずれ検出
回路31のオフセット電圧がホールドされる。
次に移動指令45が解除されたとき、スイッチ26.2
7.33及び35は復帰し、サーボ回路。
光検出器25の差信号32を演算処理部31により取り
出し、増幅し、位相補償を加えて、ボイスコイル38に
電流を流して制御するという構成に戻る。このときホー
ルド回路40においてホールドされた、位置ずれ検出回
路31のオフセット電圧41を、差信号32に逆極性で
付加し、オフセット電圧の含まれない差信号を増幅回路
34に入力している。
発明の効果 光ディスク用ヘッドの制御回路で、光検出器の出力を増
幅及び、差動増幅を行々いフォーカスエラー信号または
トラッキングエラー信号を得ている位置ずれ検出回路の
、オフセット電圧を光ビームが追従している情報トラッ
クから別の情報トラックへ移動する期間に測定し、ホー
ルドして、移動完了寸でに位置ずれ検出回路の出力に逆
極性で加える。このように位置ずれ検出回路のオフセノ
9 ′\−/ ト電圧を補正する構成とすることにより、回路の温度ド
リフト、電源電圧の変化等からの影響を少々くし、光ビ
ームが情報トラックの焦点位置及びセンタ位置に追従す
る精度を上げることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例における光ディスク用ヘッド
制御装置のブロック図、第2図及び第3図は従来の光デ
ィスク用ヘッド制御装置の光学系及び回路のブロック図
である。 14・・・・・・光検出器、15.16・・・・・・増
幅回路、17・・・・・・差動増幅回路、25・・・・
・・光検出器、26゜27.33.35・・・・・・ス
イッチ、40・・・・・ホールド回路、31・・・・・
・位置ずれ検出回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光ディスクの情報トラックからの戻り光を光検出
    器で電気信号に変換し、この電気信号よりフォーカスエ
    ラー信号とトラッキングエラー信号を得、光ビームを情
    報トラックの焦点位置またはセンタ位置に追従させるよ
    うに構成し、前記電気信号よりフォーカスエラー信号ま
    たはトラッキングエラー信号を検出する位置ずれ検出回
    路のオフセット電圧を測定するオフセット測定手段と、
    測定された前記オフセット電圧を一定期間ホールドする
    ホールド手段とを具備し、前記オフセット電圧を前記位
    置ずれ検出回路の出力に加えることを特徴とした光ディ
    スク用ヘッド制御装置。
  2. (2)前記オフセット測定手段を、前記光ビームが追従
    している情報トラックから他の情報トラックに移動する
    期間に働かせ、前記オフセット電圧をホールドする特許
    請求の範囲第1項記載の光ディスク用ヘッド制御装置。
JP7299585A 1985-04-05 1985-04-05 光デイスク用ヘツド制御装置 Pending JPS61230631A (ja)

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JP7299585A JPS61230631A (ja) 1985-04-05 1985-04-05 光デイスク用ヘツド制御装置

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JPS61230631A true JPS61230631A (ja) 1986-10-14

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ID=13505501

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01113926A (ja) * 1987-09-30 1989-05-02 Deutsche Thomson Brandt Gmbh データ再生装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58169344A (ja) * 1982-03-31 1983-10-05 Hitachi Ltd 光デイスク装置の自動オフセツト補償回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58169344A (ja) * 1982-03-31 1983-10-05 Hitachi Ltd 光デイスク装置の自動オフセツト補償回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01113926A (ja) * 1987-09-30 1989-05-02 Deutsche Thomson Brandt Gmbh データ再生装置

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