JPH04362535A - 光ディスク装置における補正装置 - Google Patents
光ディスク装置における補正装置Info
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- JPH04362535A JPH04362535A JP16640991A JP16640991A JPH04362535A JP H04362535 A JPH04362535 A JP H04362535A JP 16640991 A JP16640991 A JP 16640991A JP 16640991 A JP16640991 A JP 16640991A JP H04362535 A JPH04362535 A JP H04362535A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、可動ミラーなどの光偏
光器を使用して光ディスクの記録面に照射される検知光
のトラッキング方向の補正を行う光ディスク装置に係り
、特に、光ディスクの記録面からの戻り光と受光部との
間の定量的なずれ量を補正する手段を設けた補正装置に
関する。
光器を使用して光ディスクの記録面に照射される検知光
のトラッキング方向の補正を行う光ディスク装置に係り
、特に、光ディスクの記録面からの戻り光と受光部との
間の定量的なずれ量を補正する手段を設けた補正装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】図3は光偏光器として可動ミラー(ガル
バノミラー)を使用した光磁気ディスク装置の光学系を
示す部品配置図である。図3に示す装置はいわゆる分離
光学方式と称されるものであり、固定部側の光学系1と
可動部側の光学系2とに分かれている。可動部側の光学
系2は光ヘッドに搭載されているものであり、符号Mで
示すリニアモータによりディスクの記録面に沿ってその
半径方向へ駆動されるようになっている。可動部側の光
学系2には、光磁気ディスクの記録面に対向する対物レ
ンズ21とその光軸の真下に位置する全反射プリズム2
2を有している。
バノミラー)を使用した光磁気ディスク装置の光学系を
示す部品配置図である。図3に示す装置はいわゆる分離
光学方式と称されるものであり、固定部側の光学系1と
可動部側の光学系2とに分かれている。可動部側の光学
系2は光ヘッドに搭載されているものであり、符号Mで
示すリニアモータによりディスクの記録面に沿ってその
半径方向へ駆動されるようになっている。可動部側の光
学系2には、光磁気ディスクの記録面に対向する対物レ
ンズ21とその光軸の真下に位置する全反射プリズム2
2を有している。
【0003】固定部側の光学系1に設けられた半導体レ
ーザ11から発せられるレーザ光は、コリメートレンズ
12を通過して平行光束となり、ビームスプリッタ13
に反射され、さらにガルバノミラー14により反射され
て、可動部側の光学系2の全反射プリズム22に送られ
る。そして全反射プリズム22にて反射され対物レンズ
21によりディスクの記録面に集光されて微小スポット
が形成される。ディスクの記録面からの戻り光は、対物
レンズ21、全反射プリズム22、ガルバノミラー14
を経てビームスプリッタ13を透過する。この透過光は
、集光レンズ15により集束され、偏光分離器16によ
り3つの光B0,B1,B2に分離される。
ーザ11から発せられるレーザ光は、コリメートレンズ
12を通過して平行光束となり、ビームスプリッタ13
に反射され、さらにガルバノミラー14により反射され
て、可動部側の光学系2の全反射プリズム22に送られ
る。そして全反射プリズム22にて反射され対物レンズ
21によりディスクの記録面に集光されて微小スポット
が形成される。ディスクの記録面からの戻り光は、対物
レンズ21、全反射プリズム22、ガルバノミラー14
を経てビームスプリッタ13を透過する。この透過光は
、集光レンズ15により集束され、偏光分離器16によ
り3つの光B0,B1,B2に分離される。
【0004】偏光分離器16は例えばウォラストンプリ
ズムなどにより構成され、ディスクからの戻り光を、カ
ー回転角による偏光を検出するための光B1,B2と、
フォーカスとトラッキングのエラー信号を検出するため
の光B0に分離する。
ズムなどにより構成され、ディスクからの戻り光を、カ
ー回転角による偏光を検出するための光B1,B2と、
フォーカスとトラッキングのエラー信号を検出するため
の光B0に分離する。
【0005】分離された光はピンホトダイオード17に
より受光される。ピンホトダイオード17には4分割の
受光部17aと、その両側に配置された受光部17bと
17cを有している。偏光分離器16により分離された
光B0は4分割の受光部17aにより受光され、この受
光部17aによりトラッキングエラーとフォーカスエラ
ーが検知される。図では省略しているが、4分割法によ
りフォーカスエラー信号を得るために光B0の経路には
、シリンドリカルレンズなどのような非点較差を発生さ
せる部材が設けられている。
より受光される。ピンホトダイオード17には4分割の
受光部17aと、その両側に配置された受光部17bと
17cを有している。偏光分離器16により分離された
光B0は4分割の受光部17aにより受光され、この受
光部17aによりトラッキングエラーとフォーカスエラ
ーが検知される。図では省略しているが、4分割法によ
りフォーカスエラー信号を得るために光B0の経路には
、シリンドリカルレンズなどのような非点較差を発生さ
せる部材が設けられている。
【0006】またカー回転角を検出するために異なる偏
光成分(P波成分とS波成分)に分離された光B1とB
2はそれぞれ受光部17bと17cにより受光される。
光成分(P波成分とS波成分)に分離された光B1とB
2はそれぞれ受光部17bと17cにより受光される。
【0007】図4は再生信号(MO信号)とトラッキン
グエラー信号を検出するための回路構成を示している。 2つの受光部17bと17cにより受光された受光光量
の差を演算器25にてとることにより、カー回転角の角
度方向に応じたMO再生信号が得られる。
グエラー信号を検出するための回路構成を示している。 2つの受光部17bと17cにより受光された受光光量
の差を演算器25にてとることにより、カー回転角の角
度方向に応じたMO再生信号が得られる。
【0008】プッシュプル法と称されるトラッキングエ
ラー信号の検出方法では、演算器26,27,28によ
り、4分割の受光部17aのそれぞれの受光量に対し(
B+D)−(A+C)の演算を行う。図5は光磁気ディ
スクの記録面を示しているものであるが、そのMO信号
記録領域(イ)には、信号記録面であるランド30とそ
の両側に形成されたグルーブ31と称される溝が形成さ
れている。図5において(a)はレーザ光のスポットが
ランド30上を移動しているトラッキングエラーのない
状態であり、(b)または(c)はスポットの一部がグ
ルーブ31にかかってトラッキングエラーが生じている
状態である。図4に示すように、4分割の受光部17a
にはディスクの記録面に形成されたスポットからの反射
光が結像し、受光スポットSが形成されている。図5に
おいて(b)または(c)で示すように、スポットがグ
ルーブ31にかかっているときには、受光部17a上の
受光スポットSのいずれかの縁部に影Saが生じる。 演算器28からの出力により、影による受光光量の減少
がどちらの側であるかを検出できるため、これによりト
ラッキングエラー信号が得られることになる。
ラー信号の検出方法では、演算器26,27,28によ
り、4分割の受光部17aのそれぞれの受光量に対し(
B+D)−(A+C)の演算を行う。図5は光磁気ディ
スクの記録面を示しているものであるが、そのMO信号
記録領域(イ)には、信号記録面であるランド30とそ
の両側に形成されたグルーブ31と称される溝が形成さ
れている。図5において(a)はレーザ光のスポットが
ランド30上を移動しているトラッキングエラーのない
状態であり、(b)または(c)はスポットの一部がグ
ルーブ31にかかってトラッキングエラーが生じている
状態である。図4に示すように、4分割の受光部17a
にはディスクの記録面に形成されたスポットからの反射
光が結像し、受光スポットSが形成されている。図5に
おいて(b)または(c)で示すように、スポットがグ
ルーブ31にかかっているときには、受光部17a上の
受光スポットSのいずれかの縁部に影Saが生じる。 演算器28からの出力により、影による受光光量の減少
がどちらの側であるかを検出できるため、これによりト
ラッキングエラー信号が得られることになる。
【0009】このエラー信号に基づくトラッキング補正
動作は、まずトラッキングエラーの微補正は、図3に示
すガルバノミラー駆動部18によりガルバノミラー14
をO軸に対しα方向へ微動させることにより行い、また
粗補正はリニアモータMにより可動部側の光学系2をβ
方向へ移動させることにより行なわれる。
動作は、まずトラッキングエラーの微補正は、図3に示
すガルバノミラー駆動部18によりガルバノミラー14
をO軸に対しα方向へ微動させることにより行い、また
粗補正はリニアモータMにより可動部側の光学系2をβ
方向へ移動させることにより行なわれる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図4に示す、プッシュ
プル法によるトラッキングエラー信号の検出方法では、
4分割の受光部17aにおける受光光量を(A+C)と
(B+D)のように左右に分けて検知し、その差をとる
ことによって行っているため、受光部17aと受光スポ
ットSとのトラッキング方向の位置ずれはエラー信号の
検出精度に大きな影響を与える。
プル法によるトラッキングエラー信号の検出方法では、
4分割の受光部17aにおける受光光量を(A+C)と
(B+D)のように左右に分けて検知し、その差をとる
ことによって行っているため、受光部17aと受光スポ
ットSとのトラッキング方向の位置ずれはエラー信号の
検出精度に大きな影響を与える。
【0011】例えば、光学系を構成する部品の位置ずれ
などにより、受光部17aの中心と受光スポットSの中
心Osとの間に、図6に示すような定量的なずれδがあ
ったとすると、受光スポットSの左側に影Saがあった
としても、(A+C)と(B+D)の受光光量の差を正
確に検出することはできず、オフセットを生じてしまう
。この受光スポットSのずれに対処する従来の方法は、
例えば調整段階でトラッキングエラー信号に与えるバイ
アス電圧を調整し、受光スポットSの位置ずれによる左
右の受光部の受光量の差を相殺できるようにしている。
などにより、受光部17aの中心と受光スポットSの中
心Osとの間に、図6に示すような定量的なずれδがあ
ったとすると、受光スポットSの左側に影Saがあった
としても、(A+C)と(B+D)の受光光量の差を正
確に検出することはできず、オフセットを生じてしまう
。この受光スポットSのずれに対処する従来の方法は、
例えば調整段階でトラッキングエラー信号に与えるバイ
アス電圧を調整し、受光スポットSの位置ずれによる左
右の受光部の受光量の差を相殺できるようにしている。
【0012】しかしながら、上記のバイアス電圧による
調整では、補正できるずれ量δに限界があり、したがっ
て各光学部品の位置決めなどをかなり高精度に保つ必要
があった。さらに一度調整した後、光学部品の接着部に
おける接着剤の硬化などにより経年的に生じるずれに対
しては対処できなかった。
調整では、補正できるずれ量δに限界があり、したがっ
て各光学部品の位置決めなどをかなり高精度に保つ必要
があった。さらに一度調整した後、光学部品の接着部に
おける接着剤の硬化などにより経年的に生じるずれに対
しては対処できなかった。
【0013】本発明は上記従来の課題を解決するもので
あり、受光スポットと受光部との定量的なずれを随時補
正できるようにした光ディスク装置における補正装置を
提供することを目的としている。
あり、受光スポットと受光部との定量的なずれを随時補
正できるようにした光ディスク装置における補正装置を
提供することを目的としている。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明による補正装置は
、光源から出射された検知光がディスクの記録面に至る
経路に前記検知光をトラッキング方向へ振る光偏光器が
設けられている光ディスク装置において、ディスクの記
録面からの戻り光と受光部との間の前記トラッキング方
向に相当する定量的なずれ量を検出する検出手段と、前
記光偏光器の駆動部に与えられるトラッキング補正駆動
信号に、前記検出手段からの検出出力に基づいた前記ず
れ量を補正する補正信号を与える補正手段が設けられて
いることを特徴とするものである。
、光源から出射された検知光がディスクの記録面に至る
経路に前記検知光をトラッキング方向へ振る光偏光器が
設けられている光ディスク装置において、ディスクの記
録面からの戻り光と受光部との間の前記トラッキング方
向に相当する定量的なずれ量を検出する検出手段と、前
記光偏光器の駆動部に与えられるトラッキング補正駆動
信号に、前記検出手段からの検出出力に基づいた前記ず
れ量を補正する補正信号を与える補正手段が設けられて
いることを特徴とするものである。
【0015】
【作用】上記手段では、例えばディスク上のミラー面を
スポットが移動しているときに、4分割の受光部により
受光スポットの位置ずれ方向を検出する。この検出出力
に基づいてトラッキング方向のずれを補正する信号を生
成し、これを光偏光器を駆動するトラッキングエラー信
号に与える。これにより、受光スポットと受光部との定
量的な位置ずれが補正される。
スポットが移動しているときに、4分割の受光部により
受光スポットの位置ずれ方向を検出する。この検出出力
に基づいてトラッキング方向のずれを補正する信号を生
成し、これを光偏光器を駆動するトラッキングエラー信
号に与える。これにより、受光スポットと受光部との定
量的な位置ずれが補正される。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。本発明の
補正装置は、例えば図3に示すように、ガルバノミラー
14のα方向への微動によりレーザ光を振り、これによ
りトラッキング補正を行う光ディスク装置に使用される
。
補正装置は、例えば図3に示すように、ガルバノミラー
14のα方向への微動によりレーザ光を振り、これによ
りトラッキング補正を行う光ディスク装置に使用される
。
【0017】図1は本発明による補正装置の回路ブロッ
ク図である。トラッキング補正駆動信号41は、4分割
受光部17aから得られる。図2に示すように、4分割
受光部17aからの出力41は、各受光部A,B,C,
Dの受光光量を演算器26,27,28により(B+D
)−(A+C)となるように演算することにより得られ
る。トラッキング補正駆動信号41は、位相補償回路4
3を経てガルバノミラー駆動部18に入力される。また
位相補償回路43からの出力は、位相補償回路45、さ
らにはガルバノミラー駆動部18と電気的に等価となる
ように構成された等価フィルタ46を経てリニアモータ
Mに与えられる。
ク図である。トラッキング補正駆動信号41は、4分割
受光部17aから得られる。図2に示すように、4分割
受光部17aからの出力41は、各受光部A,B,C,
Dの受光光量を演算器26,27,28により(B+D
)−(A+C)となるように演算することにより得られ
る。トラッキング補正駆動信号41は、位相補償回路4
3を経てガルバノミラー駆動部18に入力される。また
位相補償回路43からの出力は、位相補償回路45、さ
らにはガルバノミラー駆動部18と電気的に等価となる
ように構成された等価フィルタ46を経てリニアモータ
Mに与えられる。
【0018】上記ガルバノミラー駆動部18により図3
に示すガルバノミラー14がα方向へ微駆動されディス
ク記録面のスポットがT方向へ振られて、トラッキング
の微補正が行われ、また図3に示す光学系2を搭載した
ヘッドがリニアモータMにより駆動されることにより、
トラッキングの粗補正が行われる。
に示すガルバノミラー14がα方向へ微駆動されディス
ク記録面のスポットがT方向へ振られて、トラッキング
の微補正が行われ、また図3に示す光学系2を搭載した
ヘッドがリニアモータMにより駆動されることにより、
トラッキングの粗補正が行われる。
【0019】さらに図1の装置では、4分割受光部17
aからの出力(図2における演算器28からの出力:ト
ラッキング補正駆動信号)41がサンプル・ホールド回
路49に入力し、サンプリングされてホールドされる。 このホールドされた出力がローパスフィルタ50を介し
て、ガルバノミラー駆動部18への入力信号を減算する
。
aからの出力(図2における演算器28からの出力:ト
ラッキング補正駆動信号)41がサンプル・ホールド回
路49に入力し、サンプリングされてホールドされる。 このホールドされた出力がローパスフィルタ50を介し
て、ガルバノミラー駆動部18への入力信号を減算する
。
【0020】サンプル・ホールド回路49は、ミラー面
検出信号51に基づいてサンプリングおよびホールドモ
ードに設定される。このミラー面検出信号51は、例え
ば次のようにして得られる。図5に示す光磁気ディスク
の記録面では、その領域が回転方向へ複数に分割されて
、この分割されたセクターにMO信号の記録領域(イ)
が形成されているが、このセクターの境界領域にグルー
ブ31のないミラー面の領域(ロ)がある。
検出信号51に基づいてサンプリングおよびホールドモ
ードに設定される。このミラー面検出信号51は、例え
ば次のようにして得られる。図5に示す光磁気ディスク
の記録面では、その領域が回転方向へ複数に分割されて
、この分割されたセクターにMO信号の記録領域(イ)
が形成されているが、このセクターの境界領域にグルー
ブ31のないミラー面の領域(ロ)がある。
【0021】このミラー面に位置するスポットから戻り
、受光部17aに形成された受光スポットSにはグルー
ブ31による影がないため、このミラー面にスポットが
移動すると、戻り光の光量は最大になる。よって図2に
示す演算器52により、受光部17bによる受光量と受
光部17cによる受光量の和をとれば、この出力はミラ
ー面の位置で高い値を示すことになる。よって演算器5
2からの出力を所定のスレッショルドレベルにて検出す
れば、スポットがミラー面に移動したことが検出される
。
、受光部17aに形成された受光スポットSにはグルー
ブ31による影がないため、このミラー面にスポットが
移動すると、戻り光の光量は最大になる。よって図2に
示す演算器52により、受光部17bによる受光量と受
光部17cによる受光量の和をとれば、この出力はミラ
ー面の位置で高い値を示すことになる。よって演算器5
2からの出力を所定のスレッショルドレベルにて検出す
れば、スポットがミラー面に移動したことが検出される
。
【0022】次に上記実施例における補正動作について
説明する。図3に示す光磁気ディスク装置において、固
定部側の光学系1に設けられた半導体レーザ11から発
せられたレーザ光は、コリメートレンズ12を通過して
平行光束となり、ビームスプリッタ13に反射され、さ
らにガルバノミラー14により反射されて、可動部側の
光学系2の全反射プリズム22に送られる。そして全反
射プリズム22にて反射され対物レンズ21によりディ
スクの記録面に集光されて微小スポットが形成される。 ディスクの記録面からの戻り光は、対物レンズ21、全
反射プリズム22、ガルバノミラー14を経てビームス
プリッタ13を透過する。この透過光は、集光レンズ1
5により集束され、偏光分離器16により3つの光B0
,B1,B2に分離され、それぞれピンホトダイオード
17の受光部17a,17b,17cにより受光される
。
説明する。図3に示す光磁気ディスク装置において、固
定部側の光学系1に設けられた半導体レーザ11から発
せられたレーザ光は、コリメートレンズ12を通過して
平行光束となり、ビームスプリッタ13に反射され、さ
らにガルバノミラー14により反射されて、可動部側の
光学系2の全反射プリズム22に送られる。そして全反
射プリズム22にて反射され対物レンズ21によりディ
スクの記録面に集光されて微小スポットが形成される。 ディスクの記録面からの戻り光は、対物レンズ21、全
反射プリズム22、ガルバノミラー14を経てビームス
プリッタ13を透過する。この透過光は、集光レンズ1
5により集束され、偏光分離器16により3つの光B0
,B1,B2に分離され、それぞれピンホトダイオード
17の受光部17a,17b,17cにより受光される
。
【0023】図1に示す回路では、スポットがMO信号
の記録領域(イ)を移動しているときに、4分割の受光
部17aからの出力(トラッキング補正駆動信号)41
によって、ガルバノミラー14とリニアモータMが駆動
されてトラッキング補正が行われる。
の記録領域(イ)を移動しているときに、4分割の受光
部17aからの出力(トラッキング補正駆動信号)41
によって、ガルバノミラー14とリニアモータMが駆動
されてトラッキング補正が行われる。
【0024】ディスクの記録面を走査するスポットが、
図5に示すミラー面の領域(ロ)へ移動すると、図2に
示す演算器52からの受光出力が最大になり、これに基
づいてミラー面検出信号51が生成される。図1の装置
では、ミラー面検出信号51によりサンプル・ホールド
回路49がサンプリングモードとなる。これにより4分
割の受光部17aからの受光出力、すなわち演算器28
からの出力41がサンプリングされる。このとき、構成
部品の取り付け位置の誤差などにより、4分割受光部1
7aの中心と受光スポットSの中心Osとの間に、δの
位置ずれがあったとする。ミラー面からの戻り光の受光
スポットSにはグルーブ31による影がないため、演算
器28からの(B+D)−(A+C)の受光出力により
前記ずれ量δならびにその方向を検出することができる
。サンプル・ホールド回路49では、演算器28からの
出力がサンプリングされてこの値がホールドされ、ロー
パスフィルタ50を経て、ガルバノミラー駆動部18へ
の入力信号を減算する。
図5に示すミラー面の領域(ロ)へ移動すると、図2に
示す演算器52からの受光出力が最大になり、これに基
づいてミラー面検出信号51が生成される。図1の装置
では、ミラー面検出信号51によりサンプル・ホールド
回路49がサンプリングモードとなる。これにより4分
割の受光部17aからの受光出力、すなわち演算器28
からの出力41がサンプリングされる。このとき、構成
部品の取り付け位置の誤差などにより、4分割受光部1
7aの中心と受光スポットSの中心Osとの間に、δの
位置ずれがあったとする。ミラー面からの戻り光の受光
スポットSにはグルーブ31による影がないため、演算
器28からの(B+D)−(A+C)の受光出力により
前記ずれ量δならびにその方向を検出することができる
。サンプル・ホールド回路49では、演算器28からの
出力がサンプリングされてこの値がホールドされ、ロー
パスフィルタ50を経て、ガルバノミラー駆動部18へ
の入力信号を減算する。
【0025】その結果、ガルバノミラー14には前記ず
れ量δをなくす方向への駆動力が与えられ、受光スポッ
トSの中心が4分割の受光部17aの中心に一致するよ
うに補正される。ローパスフィルタ50を経てガルバノ
ミラー駆動部18の入力信号を減算するための出力は直
流成分であり、トラッキング補正のための補正駆動信号
からこの直流成分が差し引かれた信号によりガルバノミ
ラー14が駆動されることになるため、スポットがMO
信号の記録領域(イ)へ移動すると、受光スポットSの
中心が一致した状態で、さらに通常のトラキング補正が
行われる。
れ量δをなくす方向への駆動力が与えられ、受光スポッ
トSの中心が4分割の受光部17aの中心に一致するよ
うに補正される。ローパスフィルタ50を経てガルバノ
ミラー駆動部18の入力信号を減算するための出力は直
流成分であり、トラッキング補正のための補正駆動信号
からこの直流成分が差し引かれた信号によりガルバノミ
ラー14が駆動されることになるため、スポットがMO
信号の記録領域(イ)へ移動すると、受光スポットSの
中心が一致した状態で、さらに通常のトラキング補正が
行われる。
【0026】なおサンプル・ホールド回路49によるサ
ンプリングならびにホールドは、ディスクの1回転中に
複数箇所存在するミラー面(ロ)を検出する度に毎回行
ってもよいし、あるいはディスクの1回転に1度あるい
は2度だけサンプリングとホールドを行ってもよい。さ
らにフォーカス補正駆動は、4分割の受光部17aによ
り検出されるフォーカスエラー信号に基づいて行われる
が、その説明は省略する。
ンプリングならびにホールドは、ディスクの1回転中に
複数箇所存在するミラー面(ロ)を検出する度に毎回行
ってもよいし、あるいはディスクの1回転に1度あるい
は2度だけサンプリングとホールドを行ってもよい。さ
らにフォーカス補正駆動は、4分割の受光部17aによ
り検出されるフォーカスエラー信号に基づいて行われる
が、その説明は省略する。
【0027】なお、本実施例ではトラッキング補正を行
なうための光偏光器として可動ミラーを利用する機械的
方法に基づく手段について説明したが、この他超音波に
よる光の回折を利用する方法に基づくもの、あるいは電
気光学効果による屈折角の変化を利用する方法に基づく
ものであってもよいことはもちろんである。また、例え
ばミラー面をを検出するための手段は、受光部17bと
17cの受光光量に基づいて行わなくてもよく、例えば
4分割の受光部17aのA,B,C,Dの受光出力を全
て加算した出力を得れば、ミラー面にてその出力が最大
になるため、この出力によりミラー面検出信号51を生
成できる。さらにスポットが記録領域を通過した時点か
らミラー面を通過するまでの時間を計算し、ミラー面を
通過する時刻にサンプル・ホールド回路49をサンプリ
ングならびにホールドモードに設定してもよい。
なうための光偏光器として可動ミラーを利用する機械的
方法に基づく手段について説明したが、この他超音波に
よる光の回折を利用する方法に基づくもの、あるいは電
気光学効果による屈折角の変化を利用する方法に基づく
ものであってもよいことはもちろんである。また、例え
ばミラー面をを検出するための手段は、受光部17bと
17cの受光光量に基づいて行わなくてもよく、例えば
4分割の受光部17aのA,B,C,Dの受光出力を全
て加算した出力を得れば、ミラー面にてその出力が最大
になるため、この出力によりミラー面検出信号51を生
成できる。さらにスポットが記録領域を通過した時点か
らミラー面を通過するまでの時間を計算し、ミラー面を
通過する時刻にサンプル・ホールド回路49をサンプリ
ングならびにホールドモードに設定してもよい。
【0028】さらに上記実施例では、ディスクの記録面
にてスポットがグルーブ31にかかることによるプッシ
ュプル法にてトラッキングエラー信号を得る場合につい
て説明したが、他のトラッキングエラー信号の検出方法
、例えばピットによるサンプルサーボ法においても実施
することが可能である。
にてスポットがグルーブ31にかかることによるプッシ
ュプル法にてトラッキングエラー信号を得る場合につい
て説明したが、他のトラッキングエラー信号の検出方法
、例えばピットによるサンプルサーボ法においても実施
することが可能である。
【0029】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、受光部と
受光スポットとの位置ずれがあったとしても、随時この
ずれを可動ミラーにより補正できるようにしたので、ト
ラッキングエラー信号にオフセットが生じることはなく
、また各光学部品の組みつけも必要以上に高精度にする
必要がなくなる。また製品完成後に生じたスポットと受
光部との位置ずれも随時補正できるようになる。
受光スポットとの位置ずれがあったとしても、随時この
ずれを可動ミラーにより補正できるようにしたので、ト
ラッキングエラー信号にオフセットが生じることはなく
、また各光学部品の組みつけも必要以上に高精度にする
必要がなくなる。また製品完成後に生じたスポットと受
光部との位置ずれも随時補正できるようになる。
【図1】本発明による補正装置を示す回路ブロック図、
【図2】受光部からの出力検出手段を示すブロック図、
【図3】光磁気ディスク装置の光学系の構造を示す部品
配置図、
配置図、
【図4】トラッキングエラー信号の検出部を示すブロッ
ク図、
ク図、
【図5】光磁気ディスクの記録面の説明図、
【図6】従
来の問題点を説明するための、4分割受光部の受光面の
説明図、
来の問題点を説明するための、4分割受光部の受光面の
説明図、
11 半導体レーザ
14 ガルバノミラー
16 偏光分離器
17 ピンホトダイオード
17a 4分割の受光部
17b,17c MO信号の受光部
18 ガルバノミラー駆動部
21 対物レンズ
49 サンプル・ホールド回路
51 ミラー面検出信号
S 受光スポット
Claims (1)
- 【請求項1】 光源から出射された検知光がディスク
の記録面に至る経路に前記検知光をトラッキング方向へ
振る光偏光器が設けられている光ディスク装置において
、ディスクの記録面からの戻り光と受光部との間の前記
トラッキング方向に相当する定量的なずれ量を検出する
検出手段と、前記光偏光器の駆動部に与えられるトラッ
キング補正駆動信号に、前記検出手段からの検出出力に
基づいた前記ずれ量を補正する補正信号を与える補正手
段が設けられていることを特徴とする光ディスク装置に
おける補正装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16640991A JPH04362535A (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | 光ディスク装置における補正装置 |
GB9211637A GB2257248A (en) | 1991-06-10 | 1992-06-02 | Optical disk tracking system including tangential component correction |
DE19924219017 DE4219017A1 (de) | 1991-06-10 | 1992-06-10 | Fehlerdetektor fuer optikplattengeraet |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16640991A JPH04362535A (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | 光ディスク装置における補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04362535A true JPH04362535A (ja) | 1992-12-15 |
Family
ID=15830887
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16640991A Pending JPH04362535A (ja) | 1991-06-10 | 1991-06-10 | 光ディスク装置における補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04362535A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5919250A (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-31 | Hitachi Ltd | 情報の記録再生装置 |
-
1991
- 1991-06-10 JP JP16640991A patent/JPH04362535A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5919250A (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-31 | Hitachi Ltd | 情報の記録再生装置 |
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