JP3443839B2 - 光磁気ディスク装置及び誘電体光路部材 - Google Patents
光磁気ディスク装置及び誘電体光路部材Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光によって情報を記録、
または再生する光磁気ディスク装置に関する。
または再生する光磁気ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光を利用して情報の記録や再生を
行う技術はめざましい進歩を遂げている。あらかじめ記
録媒体に記憶されている音声や文字、画像データを読み
だす再生専用の光学装置、いわゆるコンパクトディス
ク、ＣＤ−ＲＯＭ、レーザディスクと呼ばれているもの
で、これらの基本的な技術、市場とも成熟期にある。ま
た、コンピュータの２次記憶装置リライタブルファイリ
ング装置などに、ますますその利用範囲を広げている書
き換え可能な光磁気ディスク装置や相変化型ディスク装
置などの書き換え型ディスク装置などが、現在、技術的
確立、市場の形成、シェア獲得などを目ざし本格的な立
ち上がり時期を迎えつつある。これらの技術的発展を支
えているものは市場ニーズもあるが半導体レーザ技術、
光学技術、媒体技術、信号処理技術などの多くの周辺技
術の発展の寄与するところが大きいといえる。今後ます
ます技術の発展、市場規模の拡大にともなって、光磁気
ディスク装置はデータ記憶装置としてその地位を築いて
いくものと思われる。
行う技術はめざましい進歩を遂げている。あらかじめ記
録媒体に記憶されている音声や文字、画像データを読み
だす再生専用の光学装置、いわゆるコンパクトディス
ク、ＣＤ−ＲＯＭ、レーザディスクと呼ばれているもの
で、これらの基本的な技術、市場とも成熟期にある。ま
た、コンピュータの２次記憶装置リライタブルファイリ
ング装置などに、ますますその利用範囲を広げている書
き換え可能な光磁気ディスク装置や相変化型ディスク装
置などの書き換え型ディスク装置などが、現在、技術的
確立、市場の形成、シェア獲得などを目ざし本格的な立
ち上がり時期を迎えつつある。これらの技術的発展を支
えているものは市場ニーズもあるが半導体レーザ技術、
光学技術、媒体技術、信号処理技術などの多くの周辺技
術の発展の寄与するところが大きいといえる。今後ます
ます技術の発展、市場規模の拡大にともなって、光磁気
ディスク装置はデータ記憶装置としてその地位を築いて
いくものと思われる。
【０００３】以下に従来の光磁気ディスク装置につい
て、図面を参照しながら説明する。図７に示すように従
来の光磁気ディスク装置の光学系は、光源の半導体レー
ザ１から射出する光束がコリメータレンズ２によって平
行光束に変換され、さらに反射ミラー３によって反射さ
れ、ビームスプリッタ４においてＰ偏光の一部が透過し
Ｐ偏光の残りおよびＳ偏光成分は反射する。この透過光
は反射ミラー５を介して対物レンズ６に入射し、対物レ
ンズ６の集光作用によって記録面７に結像し、光磁気信
号の記録、再生などに利用される。
て、図面を参照しながら説明する。図７に示すように従
来の光磁気ディスク装置の光学系は、光源の半導体レー
ザ１から射出する光束がコリメータレンズ２によって平
行光束に変換され、さらに反射ミラー３によって反射さ
れ、ビームスプリッタ４においてＰ偏光の一部が透過し
Ｐ偏光の残りおよびＳ偏光成分は反射する。この透過光
は反射ミラー５を介して対物レンズ６に入射し、対物レ
ンズ６の集光作用によって記録面７に結像し、光磁気信
号の記録、再生などに利用される。
【０００４】つぎに、光磁気ディスク装置の記録と再生
およびサーボ方式について説明する。まず記録方法であ
るが、初期化された磁化方向の揃った垂直磁気記録媒体
面７に対して反対方向にバイアス磁界をかけその上から
ビームを集光させ磁気材料のキューリー点といわれる温
度以上に加熱し、抗磁力を低下させ磁化方向を反転させ
ることにより記録を行う。また記録信号の再生は結像さ
れたスポットによって記録面にあらかじめ記録されてい
る磁気記録信号部分を走査する。記録面７からの記録信
号を含む戻り光は再び対物レンズ６に導かれ、反射ミラ
ー５で反射され、ビームスプリッタ４によって光路変更
されたのち、λ／２板８を透過し光の偏光方向が回転
し、偏光ビームスプリッタ９によってＰ偏光成分とＳ偏
光成分に分離される。Ｐ偏光成分（あるいはＳ偏光成
分）は光検出器１０、Ｓ偏光成分（あるいはＰ偏光成
分）は光検出器１１によりそれぞれ光量検知され、その
差を電気的に変換しあるしきいちで１または０に２値化
することによって記録信号の再生が行われる。
およびサーボ方式について説明する。まず記録方法であ
るが、初期化された磁化方向の揃った垂直磁気記録媒体
面７に対して反対方向にバイアス磁界をかけその上から
ビームを集光させ磁気材料のキューリー点といわれる温
度以上に加熱し、抗磁力を低下させ磁化方向を反転させ
ることにより記録を行う。また記録信号の再生は結像さ
れたスポットによって記録面にあらかじめ記録されてい
る磁気記録信号部分を走査する。記録面７からの記録信
号を含む戻り光は再び対物レンズ６に導かれ、反射ミラ
ー５で反射され、ビームスプリッタ４によって光路変更
されたのち、λ／２板８を透過し光の偏光方向が回転
し、偏光ビームスプリッタ９によってＰ偏光成分とＳ偏
光成分に分離される。Ｐ偏光成分（あるいはＳ偏光成
分）は光検出器１０、Ｓ偏光成分（あるいはＰ偏光成
分）は光検出器１１によりそれぞれ光量検知され、その
差を電気的に変換しあるしきいちで１または０に２値化
することによって記録信号の再生が行われる。
【０００５】また、偏光ビームスプリッタ９によってＰ
偏光成分とＳ偏光成分に分離された２つの光はレーザー
ビームの焦点位置と記録面の位置とのずれを補正するた
めのフォーカシングと、記録面上のスポットの位置とト
ラック中心とのずれを補正するトラッキングなどのエラ
ー信号検出にも用いられる。つまり、そのひとつは集光
レンズ１２によって集光作用を受け、シリンドリカルレ
ンズ１３を透過することによって非点収差が与えられ、
記録面７の焦点ずれで生ずる光ビームの形状の変化を４
分割センサ１０で捉えることによって誤差信号成分を
得、この信号を対物レンズアクチュエータへフィードバ
ックすることによりフォーカシングのサーボを行う。他
方は、集光レンズ１４で集光された光において記録面の
ピットや案内溝で回折された±１次回折光のトラック中
央からのずれによる０次光との干渉光量のバランスを２
分割センサ１１の左右で捉えることによって、トラック
方向の位置決め制御を行う。
偏光成分とＳ偏光成分に分離された２つの光はレーザー
ビームの焦点位置と記録面の位置とのずれを補正するた
めのフォーカシングと、記録面上のスポットの位置とト
ラック中心とのずれを補正するトラッキングなどのエラ
ー信号検出にも用いられる。つまり、そのひとつは集光
レンズ１２によって集光作用を受け、シリンドリカルレ
ンズ１３を透過することによって非点収差が与えられ、
記録面７の焦点ずれで生ずる光ビームの形状の変化を４
分割センサ１０で捉えることによって誤差信号成分を
得、この信号を対物レンズアクチュエータへフィードバ
ックすることによりフォーカシングのサーボを行う。他
方は、集光レンズ１４で集光された光において記録面の
ピットや案内溝で回折された±１次回折光のトラック中
央からのずれによる０次光との干渉光量のバランスを２
分割センサ１１の左右で捉えることによって、トラック
方向の位置決め制御を行う。
【０００６】さらに、別のサーボ方式としてスポットサ
イズ法と呼ばれるフォーカスエラー検出法について図
８，図９を用いて説明する。集光レンズ１５によって集
光された光は、光束に対して４５度に傾けられた偏光ビ
ームスプリッタ１６によってＳ偏光成分は反射し、Ｐ偏
光成分は透過する。透過したＰ偏光成分は偏光ビームス
プリッタの後部に置かれた反射ミラー１７によって反射
される。それぞれの反射光は垂直に置かれた多分割セン
サ１８上に集光される。多分割センサ１８は細長い長方
形のエリアをもち、それぞれ長辺方向を接触させて並ん
だ左右３つずつのフォトダイオードＳ１〜Ｓ３、および
Ｓ４〜Ｓ６、により形成されている。このセンサ群によ
り再生信号の検出、フォーカシング、トラッキングのエ
ラー検出を行う。Ｓ１〜Ｓ６の出力をそれぞれＰ１〜Ｐ
６とする。再生信号はＰ偏光成分を検出するＳ１，Ｓ
２，Ｓ３の出力の和とＳ偏光成分を検出するＳ４，Ｓ
５，Ｓ６の出力の和の差動信号（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）−
（Ｐ４＋Ｐ５＋Ｐ６）により得られる。また、この多分
割センサ１８は結像スポットが記録面に合焦な位置にあ
る場合に左右の検出器上の光のスポットのサイズが同じ
になる位置に置かれている。したがって、記録面が焦点
ずれの場合に左右で捉える光のスポットのサイズが異な
ってくる。すなわち、Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５の出力の和とＳ
２，Ｓ４，Ｓ６の出力の和の差動信号（Ｐ１＋Ｐ３＋Ｐ
５）−（Ｐ２＋Ｐ４＋Ｐ６）をとることによって、デフ
ォーカスに伴うセンサ上での集光スポットの大きさを比
較することができ、この差動信号によってフォーカスエ
ラー信号とすることができる。トラッキングエラー信号
については、記録面のピットや案内溝で回折された±１
次光のトラック中央からのずれによる光量のバランスを
エリアＳ１，Ｓ３の出力の和とエリアＳ４，Ｓ６の出力
の和の差動信号（Ｐ１＋Ｐ３）−（Ｐ４＋Ｐ６）でと
る。
イズ法と呼ばれるフォーカスエラー検出法について図
８，図９を用いて説明する。集光レンズ１５によって集
光された光は、光束に対して４５度に傾けられた偏光ビ
ームスプリッタ１６によってＳ偏光成分は反射し、Ｐ偏
光成分は透過する。透過したＰ偏光成分は偏光ビームス
プリッタの後部に置かれた反射ミラー１７によって反射
される。それぞれの反射光は垂直に置かれた多分割セン
サ１８上に集光される。多分割センサ１８は細長い長方
形のエリアをもち、それぞれ長辺方向を接触させて並ん
だ左右３つずつのフォトダイオードＳ１〜Ｓ３、および
Ｓ４〜Ｓ６、により形成されている。このセンサ群によ
り再生信号の検出、フォーカシング、トラッキングのエ
ラー検出を行う。Ｓ１〜Ｓ６の出力をそれぞれＰ１〜Ｐ
６とする。再生信号はＰ偏光成分を検出するＳ１，Ｓ
２，Ｓ３の出力の和とＳ偏光成分を検出するＳ４，Ｓ
５，Ｓ６の出力の和の差動信号（Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３）−
（Ｐ４＋Ｐ５＋Ｐ６）により得られる。また、この多分
割センサ１８は結像スポットが記録面に合焦な位置にあ
る場合に左右の検出器上の光のスポットのサイズが同じ
になる位置に置かれている。したがって、記録面が焦点
ずれの場合に左右で捉える光のスポットのサイズが異な
ってくる。すなわち、Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５の出力の和とＳ
２，Ｓ４，Ｓ６の出力の和の差動信号（Ｐ１＋Ｐ３＋Ｐ
５）−（Ｐ２＋Ｐ４＋Ｐ６）をとることによって、デフ
ォーカスに伴うセンサ上での集光スポットの大きさを比
較することができ、この差動信号によってフォーカスエ
ラー信号とすることができる。トラッキングエラー信号
については、記録面のピットや案内溝で回折された±１
次光のトラック中央からのずれによる光量のバランスを
エリアＳ１，Ｓ３の出力の和とエリアＳ４，Ｓ６の出力
の和の差動信号（Ｐ１＋Ｐ３）−（Ｐ４＋Ｐ６）でと
る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、このような光磁気ディスク装置を小型化、
軽量化しようとする場合、集光レンズ、エラー検出系、
再生信号検出系などを含めたいわゆる検出光学系の構成
も小型化、簡素化する必要があり、従来の構成では光学
部品点数が多く検出光学系が大きなものとなる。前述の
フォーカスエラー検出をスポットサイズ法にした場合に
はより光学部品点数を少なくでき有利ではあるが、まだ
充分に小型、軽量化されたとは言えないという問題点を
有していた。
の構成では、このような光磁気ディスク装置を小型化、
軽量化しようとする場合、集光レンズ、エラー検出系、
再生信号検出系などを含めたいわゆる検出光学系の構成
も小型化、簡素化する必要があり、従来の構成では光学
部品点数が多く検出光学系が大きなものとなる。前述の
フォーカスエラー検出をスポットサイズ法にした場合に
はより光学部品点数を少なくでき有利ではあるが、まだ
充分に小型、軽量化されたとは言えないという問題点を
有していた。
【０００８】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、検出光学系をより小型、簡素化した光磁気ディスク
装置を提供することを目的とする。
で、検出光学系をより小型、簡素化した光磁気ディスク
装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光磁気ディスク装置は、光源としての半導体
レーザと、光源からの射出光を４５度の直線偏光に変換
する偏光手段と、偏光手段により変換された光束を光磁
気媒体の記録面へ集光する対物レンズと、平行平板に形
成された誘電体光路部材とを有し、誘電体光路部材の光
源側に位置する第１の面は偏光手段により変換された光
束の一部を反射し一部を透過する光分離面を形成し、誘
電体光路部材の第１の面に平行な第２の面は、偏光手段
により変換された光束の一部が光分離面を透過して入射
するモニタ光検出器と、記録面で反射した戻り光が光分
離面を透過して入射する偏光膜が施された第１の光検出
器と、偏光膜で反射した戻り光が第１の面で再び反射し
て入射する第２の光検出器とを形成したことを特徴とす
る光磁気ディスク装置である。
に本発明の光磁気ディスク装置は、光源としての半導体
レーザと、光源からの射出光を４５度の直線偏光に変換
する偏光手段と、偏光手段により変換された光束を光磁
気媒体の記録面へ集光する対物レンズと、平行平板に形
成された誘電体光路部材とを有し、誘電体光路部材の光
源側に位置する第１の面は偏光手段により変換された光
束の一部を反射し一部を透過する光分離面を形成し、誘
電体光路部材の第１の面に平行な第２の面は、偏光手段
により変換された光束の一部が光分離面を透過して入射
するモニタ光検出器と、記録面で反射した戻り光が光分
離面を透過して入射する偏光膜が施された第１の光検出
器と、偏光膜で反射した戻り光が第１の面で再び反射し
て入射する第２の光検出器とを形成したことを特徴とす
る光磁気ディスク装置である。
【００１０】
【作用】本発明は上記構成において、半導体レーザと二
枚の平行な反射面をもつ誘電体と検出器とを接触させ一
体化することで、小型、簡素化した光磁気ディスク装置
の検出光学系とすることとなる。
枚の平行な反射面をもつ誘電体と検出器とを接触させ一
体化することで、小型、簡素化した光磁気ディスク装置
の検出光学系とすることとなる。
【００１１】
（実施例１）以下本発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。
照しながら説明する。
【００１２】図１に示すように本実施例の光磁気ディス
ク装置は、光源としての半導体レーザ１９、その半導体
レーザ１９の近傍に設けた偏光膜２０、誘電体中に光路
を形成するように配置された誘電体光路部材の光源側の
面に形成された光分離面２１、コリメータレンズ２２、
はね上げミラー２３、対物レンズ２４、記録媒体として
の光磁気ディスク２６と、光分離面２１に平行に構成さ
れた他の面である反射面２８とその反射面２８上に取り
つけられた光検出器２９，３１、およびモニタフォトダ
イオード３２などで構成されている。
ク装置は、光源としての半導体レーザ１９、その半導体
レーザ１９の近傍に設けた偏光膜２０、誘電体中に光路
を形成するように配置された誘電体光路部材の光源側の
面に形成された光分離面２１、コリメータレンズ２２、
はね上げミラー２３、対物レンズ２４、記録媒体として
の光磁気ディスク２６と、光分離面２１に平行に構成さ
れた他の面である反射面２８とその反射面２８上に取り
つけられた光検出器２９，３１、およびモニタフォトダ
イオード３２などで構成されている。
【００１３】以上の構成要素よりなる光磁気ディスク装
置について、図１および図２を用いて以下その各構成要
素の関係と動作を説明する。
置について、図１および図２を用いて以下その各構成要
素の関係と動作を説明する。
【００１４】まず、半導体レーザ１９から射出したレー
ザ光束は、偏光膜２０を透過し光軸に対して４５゜傾い
た直線偏光に変換され、さらに偏光に影響されることな
く光を透過、反射する無偏光膜が施されてある光分離面
２１によって一部が反射される。この反射光はコリメー
タレンズ２２で平行光に変換されたのち、はね上げミラ
ー２３および対物レンズ２４よりなる移動光学系２５に
伝播される。対物レンズ２４により光束は光磁気ディス
ク２６よりなる記録面に集光され、この記録面に対して
情報の記録または再生信号の読みだし、さらにフォーカ
ス、トラッキングサーボ情報のピックアップを行う。記
録面で反射し対物レンズ２４、はね上げミラー２３を通
過した移動光学系２５からの戻り光は再びコリメータレ
ンズ２２に入射し集光作用を受ける。コリメータレンズ
２２によって集光された光の一部が光分離面２１を透過
し、再生信号およびサーボ信号の検出系に導かれる。移
動光学系２５はシャフト２７で支持されつつすべての記
録面がアクセスできるように記録面の半径方向へリニア
モータで駆動される。
ザ光束は、偏光膜２０を透過し光軸に対して４５゜傾い
た直線偏光に変換され、さらに偏光に影響されることな
く光を透過、反射する無偏光膜が施されてある光分離面
２１によって一部が反射される。この反射光はコリメー
タレンズ２２で平行光に変換されたのち、はね上げミラ
ー２３および対物レンズ２４よりなる移動光学系２５に
伝播される。対物レンズ２４により光束は光磁気ディス
ク２６よりなる記録面に集光され、この記録面に対して
情報の記録または再生信号の読みだし、さらにフォーカ
ス、トラッキングサーボ情報のピックアップを行う。記
録面で反射し対物レンズ２４、はね上げミラー２３を通
過した移動光学系２５からの戻り光は再びコリメータレ
ンズ２２に入射し集光作用を受ける。コリメータレンズ
２２によって集光された光の一部が光分離面２１を透過
し、再生信号およびサーボ信号の検出系に導かれる。移
動光学系２５はシャフト２７で支持されつつすべての記
録面がアクセスできるように記録面の半径方向へリニア
モータで駆動される。
【００１５】つぎに、検出光学系について図２を用いて
詳しく説明する。光磁気ディスク２６の記録面から戻っ
てきた光は集光作用を受けつつ光分離面２１に対して平
行に構成された反射面２８上の３分割フォトダイオード
の光検出器２９が取りつけられたエリアに到達する。反
射面２８におけるこのエリア上にはＰ偏光成分を透過し
てＳ偏光成分を反射するような偏光膜が施されており、
Ｐ偏光成分は透過してＳ７〜Ｓ９のセンサ群に達して、
Ｓ偏光成分は反射される。反射したＳ偏光成分はさらに
光分離面２１に施された全反射面３０で全反射されたの
ち再び反射面２８に到達し３分割フォトダイオードの光
検出器３１上のエリアＳ１０〜Ｓ１２に至る。
詳しく説明する。光磁気ディスク２６の記録面から戻っ
てきた光は集光作用を受けつつ光分離面２１に対して平
行に構成された反射面２８上の３分割フォトダイオード
の光検出器２９が取りつけられたエリアに到達する。反
射面２８におけるこのエリア上にはＰ偏光成分を透過し
てＳ偏光成分を反射するような偏光膜が施されており、
Ｐ偏光成分は透過してＳ７〜Ｓ９のセンサ群に達して、
Ｓ偏光成分は反射される。反射したＳ偏光成分はさらに
光分離面２１に施された全反射面３０で全反射されたの
ち再び反射面２８に到達し３分割フォトダイオードの光
検出器３１上のエリアＳ１０〜Ｓ１２に至る。
【００１６】再生信号の検出、エラー検出については前
述のスポットサイズ法の場合とほぼ同様に行う。フォト
ダイオードＳ７〜Ｓ１２の出力をそれぞれＳ７〜Ｓ１２
とすると、光磁気信号の再生は戻り光のＰ偏光成分を検
出するＳ７，Ｓ８，Ｓ９の出力の和とＳ偏光成分を検出
するＳ１０，Ｓ１１，Ｓ１２の出力の和の差動信号、す
なわち（Ｐ７＋Ｐ８＋Ｐ９）−（Ｐ１０＋Ｐ１１＋Ｐ１
２）により得られる。また、結像スポットが記録面に合
焦な位置にある場合にはコリメータレンズ２２によって
集光される光は光分離面２１に施された全反射面３０に
結像されるように調整されており、センサ群Ｓ７〜Ｓ９
およびＳ１０〜Ｓ１２上の光のスポットのサイズは同じ
となる。したがって、記録面が焦点ずれの場合にはセン
サ群Ｓ７〜Ｓ９とＳ１０〜Ｓ１２で捉える光のスポット
のサイズが異なってくるから、フォーカスエラー信号は
Ｓ７，Ｓ９，Ｓ１１の出力の和とＳ８，Ｓ１０，Ｓ１２
の出力の和の差動信号（Ｐ７＋Ｐ９＋Ｐ１１）−（Ｐ８
＋Ｐ１０＋Ｐ１２）により得られる。トラッキングエラ
ー信号は、１ビームプッシュプル法によりエリアＳ７，
Ｓ９の出力の和とエリアＳ１０，Ｓ１２の出力の和の差
動信号（Ｐ７＋Ｐ９）−（Ｐ１０＋Ｐ１２）で与えられ
る。
述のスポットサイズ法の場合とほぼ同様に行う。フォト
ダイオードＳ７〜Ｓ１２の出力をそれぞれＳ７〜Ｓ１２
とすると、光磁気信号の再生は戻り光のＰ偏光成分を検
出するＳ７，Ｓ８，Ｓ９の出力の和とＳ偏光成分を検出
するＳ１０，Ｓ１１，Ｓ１２の出力の和の差動信号、す
なわち（Ｐ７＋Ｐ８＋Ｐ９）−（Ｐ１０＋Ｐ１１＋Ｐ１
２）により得られる。また、結像スポットが記録面に合
焦な位置にある場合にはコリメータレンズ２２によって
集光される光は光分離面２１に施された全反射面３０に
結像されるように調整されており、センサ群Ｓ７〜Ｓ９
およびＳ１０〜Ｓ１２上の光のスポットのサイズは同じ
となる。したがって、記録面が焦点ずれの場合にはセン
サ群Ｓ７〜Ｓ９とＳ１０〜Ｓ１２で捉える光のスポット
のサイズが異なってくるから、フォーカスエラー信号は
Ｓ７，Ｓ９，Ｓ１１の出力の和とＳ８，Ｓ１０，Ｓ１２
の出力の和の差動信号（Ｐ７＋Ｐ９＋Ｐ１１）−（Ｐ８
＋Ｐ１０＋Ｐ１２）により得られる。トラッキングエラ
ー信号は、１ビームプッシュプル法によりエリアＳ７，
Ｓ９の出力の和とエリアＳ１０，Ｓ１２の出力の和の差
動信号（Ｐ７＋Ｐ９）−（Ｐ１０＋Ｐ１２）で与えられ
る。
【００１７】また、半導体レーザ１９から発したレーザ
光のうち他の一部は、前述の光分離面２１を透過して誘
電体光路部材中を進み、反射面２８上に取りつけられた
モニタフォトダイオード３２に入射してレーザ光の出力
がモニターされる。
光のうち他の一部は、前述の光分離面２１を透過して誘
電体光路部材中を進み、反射面２８上に取りつけられた
モニタフォトダイオード３２に入射してレーザ光の出力
がモニターされる。
【００１８】なお、本実施例では、誘電体光路部材と光
検出器からなる検出光学系がすべて誘電体部品で構成さ
れているために、光路の屈曲がなく、光学部品の組立、
調整などが比較的容易に行えることを特徴としている。
さらに、モニタフォトダイオード３２は半導体レーザ１
９から発して対物レンズ２４へ向かうレーザ光の一部を
モニターする構成であるから、半導体レーザ１９が射出
するレーザ光の出力を正確にモニターすることができ
る。
検出器からなる検出光学系がすべて誘電体部品で構成さ
れているために、光路の屈曲がなく、光学部品の組立、
調整などが比較的容易に行えることを特徴としている。
さらに、モニタフォトダイオード３２は半導体レーザ１
９から発して対物レンズ２４へ向かうレーザ光の一部を
モニターする構成であるから、半導体レーザ１９が射出
するレーザ光の出力を正確にモニターすることができ
る。
【００１９】（実施例２）以下本発明の第２の実施例に
ついて図面を参照しながら説明する。
ついて図面を参照しながら説明する。
【００２０】図３に示すように第２の実施例の光磁気デ
ィスク装置は、半導体レーザ１９と光分離面２１の間に
新しく三角プリズム３３設けたことを特徴としている。
図３において、三角プリズム３３の一辺を構成する面に
半導体レーザ１９と偏光膜２０とを配置しておき、三角
プリズム３３の斜辺を構成する面を誘電体光路部材の光
分離面２１に配置する。以下、誘電体光路部材の構成と
光検出器の配置は前述の第１の実施例と同様である。
ィスク装置は、半導体レーザ１９と光分離面２１の間に
新しく三角プリズム３３設けたことを特徴としている。
図３において、三角プリズム３３の一辺を構成する面に
半導体レーザ１９と偏光膜２０とを配置しておき、三角
プリズム３３の斜辺を構成する面を誘電体光路部材の光
分離面２１に配置する。以下、誘電体光路部材の構成と
光検出器の配置は前述の第１の実施例と同様である。
【００２１】以上のように構成された光磁気ディスク装
置について、図３を用いて以下その動作を説明する。
置について、図３を用いて以下その動作を説明する。
【００２２】まず、記録面からの戻り光は三角プリズム
３３を介して第１の実施例と同様に光分離面２１を透過
して反射面２８に達し、その一部が反射面２８を透過
し、一部が反射面２８で反射したのちさらに光分離面２
１で反射し再び反射面２８に戻る。この構成で、第１の
実施例と同様な作用によって記録面の情報再生、サーボ
信号の検出を行う。
３３を介して第１の実施例と同様に光分離面２１を透過
して反射面２８に達し、その一部が反射面２８を透過
し、一部が反射面２８で反射したのちさらに光分離面２
１で反射し再び反射面２８に戻る。この構成で、第１の
実施例と同様な作用によって記録面の情報再生、サーボ
信号の検出を行う。
【００２３】（実施例３）以下本発明の第３の実施例に
ついて図面を参照しながら説明する。
ついて図面を参照しながら説明する。
【００２４】図４に示すように、記録面からの戻り光は
第２の実施例と同様に三角プリズム３３を介して光分離
面２１を透過して反射面２８に達し、その一部が反射面
２８を透過し多分割センサの光検出器２９に入射し、一
部が反射面２８を反射したのちさらに光分離面２１の偏
光膜３０ａが施されているエリアに到達する。偏光膜３
０ａによってＳ偏光成分は反射して再び反射面２８に達
し光検出器３１に至る。一方、Ｓ偏光成分は透過してフ
ォトダイオード３４が設置されたエリアに到達する。光
検出器３１とフォトダイオード３４からの光出力は差動
信号として取りだされ検出される。本実施例は第１，第
２の実施例において光分離面２１上に構成した全反射面
３０を偏光膜３０ａに置換したことを特徴としている。
第２の実施例と同様に三角プリズム３３を介して光分離
面２１を透過して反射面２８に達し、その一部が反射面
２８を透過し多分割センサの光検出器２９に入射し、一
部が反射面２８を反射したのちさらに光分離面２１の偏
光膜３０ａが施されているエリアに到達する。偏光膜３
０ａによってＳ偏光成分は反射して再び反射面２８に達
し光検出器３１に至る。一方、Ｓ偏光成分は透過してフ
ォトダイオード３４が設置されたエリアに到達する。光
検出器３１とフォトダイオード３４からの光出力は差動
信号として取りだされ検出される。本実施例は第１，第
２の実施例において光分離面２１上に構成した全反射面
３０を偏光膜３０ａに置換したことを特徴としている。
【００２５】（実施例４）
以下本発明の第４の実施例について図面を参照しながら
説明する。図５において、誘電体光路部材の面のうち光
検出器側は単に反射面３５を構成し、反射面３５の所定
の領域に全反射面３０が形成されている。反射面３５に
対して所定の空間だけ離れた位置に別の誘電体に形成さ
れた反射面２８とその反射面２８上に取りつけられた光
検出器２９、３１、およびモニタフォトダイオード３２
などが配置されている。
説明する。図５において、誘電体光路部材の面のうち光
検出器側は単に反射面３５を構成し、反射面３５の所定
の領域に全反射面３０が形成されている。反射面３５に
対して所定の空間だけ離れた位置に別の誘電体に形成さ
れた反射面２８とその反射面２８上に取りつけられた光
検出器２９、３１、およびモニタフォトダイオード３２
などが配置されている。
【００２６】図５に示すように、記録面からの戻り光は
前実施例と同様に光分離面２１を透過して別の反射面３
５を透過したのち反射面２８に到達する。その光束の一
部が反射面２８を透過し光検出器２９に入射する。光束
の他の一部が反射面２８で反射したのちさらに別の反射
面３５に形成された全反射面３０で全反射し再び反射面
２８に戻り光検出器３１に入射する。前実施例では光分
離面２１と反射面２８との間の誘電体光路部材内で光の
伝播が行われていたのに対して、本実施例では誘電体光
路部材表面の反射を利用し空気中での伝播になってい
る。このため反射面３５，２８相互の微細な位置決め調
整などができ、検出器２９，３１の取りつけも容易であ
る。
前実施例と同様に光分離面２１を透過して別の反射面３
５を透過したのち反射面２８に到達する。その光束の一
部が反射面２８を透過し光検出器２９に入射する。光束
の他の一部が反射面２８で反射したのちさらに別の反射
面３５に形成された全反射面３０で全反射し再び反射面
２８に戻り光検出器３１に入射する。前実施例では光分
離面２１と反射面２８との間の誘電体光路部材内で光の
伝播が行われていたのに対して、本実施例では誘電体光
路部材表面の反射を利用し空気中での伝播になってい
る。このため反射面３５，２８相互の微細な位置決め調
整などができ、検出器２９，３１の取りつけも容易であ
る。
【００２７】なお、図６は第１の実施例の光磁気ディス
ク装置の検出光学系が有限系の光学系による光磁気ディ
スク装置にも適用できることを示したものである。
ク装置の検出光学系が有限系の光学系による光磁気ディ
スク装置にも適用できることを示したものである。
【００２８】ただし、本実施例では光磁気方式の光ディ
スク装置について説明したが、再生専用光ディスク装
置、追記型光ディスク装置などにも適用でき、光磁気方
式に限定されるものではない。
スク装置について説明したが、再生専用光ディスク装
置、追記型光ディスク装置などにも適用でき、光磁気方
式に限定されるものではない。
【００２９】
【発明の効果】以上の実施例から明らかなように本発明
によれば、光磁気ディスク装置における記録面からの戻
り光の分離と再生信号およびサーボ信号の検出を、平行
に配置された二枚の反射面を有する誘電体光路部材とそ
の少なくとも一枚の反射面に配置した光検出器によって
行うことができ、全体として小型でまとまりのある検出
光学系が構成でき、小型簡素化した光磁気ディスク装置
を供給することによって、機器組み込み性の向上、コス
トなどに優れた光磁気ディスク装置を実現できるもので
ある。さらに、半導体レーザ１９から発して対物レンズ
２４へ向かうレーザ光の一部をモニタフォトダイオード
３２によってモニターする構成であるから、半導体レー
ザ１９が射出するレーザ光の出力を正確にモニターする
ことができる。
によれば、光磁気ディスク装置における記録面からの戻
り光の分離と再生信号およびサーボ信号の検出を、平行
に配置された二枚の反射面を有する誘電体光路部材とそ
の少なくとも一枚の反射面に配置した光検出器によって
行うことができ、全体として小型でまとまりのある検出
光学系が構成でき、小型簡素化した光磁気ディスク装置
を供給することによって、機器組み込み性の向上、コス
トなどに優れた光磁気ディスク装置を実現できるもので
ある。さらに、半導体レーザ１９から発して対物レンズ
２４へ向かうレーザ光の一部をモニタフォトダイオード
３２によってモニターする構成であるから、半導体レー
ザ１９が射出するレーザ光の出力を正確にモニターする
ことができる。
【図１】本発明の第１の実施例の光磁気ディスク装置の
光学系の構成図
光学系の構成図
【図２】同実施例の検出光学系の構成図
【図３】本発明の第２の実施例の検出光学系の構成図
【図４】本発明の第３の実施例の検出光学系の構成図
【図５】本発明の第４の実施例の検出光学系の構成図
【図６】本発明の第５の実施例の検出光学系の構成図
【図７】従来の光磁気ディスク装置の光学系の構成図
【図８】従来のスポットサイズ法を用いたフォーカスエ
ラー検出系の構成図
ラー検出系の構成図
【図９】従来のスポットサイズ法を用いたフォーカスエ
ラー検出系の部分図
ラー検出系の部分図
１９ 半導体レーザ
２０，３０ａ 偏光膜
２１ 光分離面
２４ 対物レンズ
２６ 光磁気ディスク
２８ 反射面
２９，３１ 光検出器
３０ 全反射面
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 11/105
G11B 7/135
Claims (5)
- 【請求項１】光源としての半導体レーザと、前記光源か
らの射出光を４５度の直線偏光に変換する偏光手段と、
前記偏光手段により変換された光束を光磁気媒体の記録
面へ集光する対物レンズと、平行平板に形成された誘電
体光路部材とを有し、 前記誘電体光路部材の前記光源側に位置する第１の面は
前記偏光手段により変換された光束の一部を反射し一部
を透過する光分離面を形成し、 前記誘電体光路部材の前記第１の面に平行な第２の面
は、前記偏光手段により変換された光束の一部が前記光
分離面を透過して入射するモニタ光検出器と、記録面で
反射した戻り光が前記光分離面を透過して入射する偏光
膜が施された第１の光検出器と、前記偏光膜で反射した
戻り光が前記第１の面で再び反射して入射する第２の光
検出器とを形成したことを特徴とする光磁気ディスク装
置。 - 【請求項２】 光源としての半導体レーザと、前記光源か
らの射出光を４５度の直線偏光に変換する偏光手段と、
三角プリズムと、前記偏光手段により変換された光束を
光磁気媒体の記録面へ集光する対物レンズと、平行平板
に形成された誘電体光路部材とを有し、 前記三角プリズムの一辺を構成する面に前記光源と前記
偏光手段とを配置し、前記三角プリズムの斜辺を構成す
る面を前記誘電体光路部材に配置する共に、 前記三角プリズムを配置した前記誘電体光路部材の第１
の面は前記偏光手段により変換された光束の一部を反射
し一部を透過する光分離面を形成し、 前記誘電体光路部材の前記第１の面に平行な第２の面
は、前記偏光手段により変換された光束の一部が前記光
分離面を透過して入射するモニタ光検出器と、記録面で
反射した戻り光が前記光分離面を透過して入射する偏光
膜が施された第１の光検出器と、前記偏光膜で反射した
戻り光が前記第１の面で再び反射して入射する第２の光
検出器とを形成したことを特徴とする光磁気ディスク装
置。 - 【請求項３】 光源からの射出光を対物レンズへ導くと共
に光磁気媒体の記録面で反射された戻り光を光検出器へ
導く平行平板に形成された誘電体光路部材であって、 前記誘電体光路部材の前記光源側に位置する第１の面は
前記光源からの射出光の一部を反射し一部を透過する光
分離面を形成し、 前記誘電体光路部材の前記第１の面に平行な第２の面
は、前記光源からの射出光の一部が前記光分離面を透過
して入射するモニタ光検出器と、前記戻り光が前記光分
離面を透過して入射する偏光膜が施された第１の光検出
器と、前記偏光膜で反射した戻り光が前記第１の面で再
び反射して入射する第２の光検出器とを形成したことを
特徴とする誘電体光路部材。 - 【請求項４】 光源からの射出光を対物レンズへ導くと共
に光磁気媒体の記録面で反射された戻り光を光検出器へ
導く平行平板に形成された誘電体光路部材であって、 三角プリズムを有し、前記三角プリズムの一辺を構成す
る面に前記光源を配置すると共に前記三角プリズムの斜
辺を構成する面を前記誘電体光路部材に配置して、 前記三角プリズムを配置した前記誘電体光路部材の第１
の面は前記光源からの射出光の一部を反射し一部を透過
する光分離面を形成し、 前記誘電体光路部材の前記第１の面に平行な第２の面
は、前記光源からの射出光の一部が前記光分離面を透過
して入射するモニタ光検出器と、前記戻り光が前記光分
離面を透過して入射する偏光膜が施された第１の光検出
器と、前記偏光膜で反射した戻り光が前記第１の面で再
び反射して入射する第２の光検出器とを形成したことを
特徴とする誘電体光路部材。 - 【請求項５】 前記光源は、光を４５度の直線偏光に変換
する偏光手段介して射出することを特徴とする請求項３
または請求項４に記載の誘電体光路部材。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06452092A JP3443839B2 (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | 光磁気ディスク装置及び誘電体光路部材 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06452092A JP3443839B2 (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | 光磁気ディスク装置及び誘電体光路部材 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05266528A JPH05266528A (ja) | 1993-10-15 |
| JP3443839B2 true JP3443839B2 (ja) | 2003-09-08 |
Family
ID=13260578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06452092A Expired - Fee Related JP3443839B2 (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | 光磁気ディスク装置及び誘電体光路部材 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3443839B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3029541B2 (ja) * | 1994-12-19 | 2000-04-04 | シャープ株式会社 | 光ピックアップ装置 |
-
1992
- 1992-03-23 JP JP06452092A patent/JP3443839B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05266528A (ja) | 1993-10-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |