JPS61227422A - 位相比較回路 - Google Patents

位相比較回路

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JPS61227422A
JPS61227422A JP60067809A JP6780985A JPS61227422A JP S61227422 A JPS61227422 A JP S61227422A JP 60067809 A JP60067809 A JP 60067809A JP 6780985 A JP6780985 A JP 6780985A JP S61227422 A JPS61227422 A JP S61227422A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、レコードプレーヤ等のモータ制御回路等に用
いられる位相比較回路に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来の位相比較回路を第5図に示す。信号Aと信号Bを
位相比較する。一方の信号Aは遅延回路2に入力され、
他方の信号Bはラッチ回路4に入力される。遅延回路2
はN段の遅延素子21〜。
2 で構成されており、各遅延素子21〜2Hのに 出力はラッチ回路4の各ラッチ41〜4Nで、信号Bの
立上りまたは立下がりに同期してラッチされる。これら
ラッチ4〜4Nの出力Q1.Q2・・・QHにより信号
Aと信号Bの位相差がわかる。
すなわち位相差が全くなければ位相比較出力Q1゜Q2
・・・ONはある所定値になる。この所定値は信号へと
信号Bの周mTと各遅延素子2〜2Nの遅延時間τによ
り定まる。信号Aと信号Bの位相差tpdにより、この
所定値からラッチ回路2の出力値が変化するので信号A
と信号Bの位相を比較することができる。
かかる従来の位相比較回路では各遅延素子の遅延時間τ
が一定しないため、位相比較出力Q1゜Q2・・・QH
が変動するという問題があった。特に電源電圧や温度が
変化すると素子特性が変動し、位相比較出力Q 、Q2
・・・QNが正しく信号Aと信@B間の位相差をあられ
さなくなり、正しく比較することができなかった。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、使用条件
の変化や素子特性のばらつきがあっても、正しく信号間
の位相を比較することができる位相比較回路を提供する
ことを目的とする。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するため本発明による位相比較回路は、
直列接続されて複数の遅延素子を有し、第1の信号を遅
延する比較用遅延回路と、この比較用遅延回路の前記遅
延素子の各出力を第2の信号に同期してラッチする比較
用ラッチ回路と、直列接続された複数の遅延素子を有し
、前記第2の信号を遅延する制御用遅延回路と、この制
御用遅延回路における予め定められた遅延素子の出力を
前記第2の信号に同期してラッチする制御用ラッチ回路
と、この制御用ラッチ回路の出力に基づいて前記制御用
遅延回路および前記比較用遅延回路の前記遅延素子の遅
延時間を制御する制御回路とを備え、前記比較用ラッチ
回路のラッチ出力により前記第1の信号と前記第2の信
号の位相を比較することを特徴とする。
また本発明による位相比較回路は、第1の信号と、第2
の信号を切換える切換回路と、直列接続された複数の遅
延素子を有し、この切換回路からの出力信号を遅延する
遅延回路と、この遅延回路の遅延素子の各出力を前記第
2の信号に同期してラッチするラッチ回路と、このラッ
チ回路の予め定められたラッチ出力に基づいて前記遅延
回路の遅延素子の遅延時間を制御する制御回路とを備え
、遅延制御時には、前記切換回路により前記遅延回路に
前記第2の信号を入力し、前記制御回路により前記遅延
回路の遅延素子の遅延時間を制御し、位相比較時には、
前記切換回路により前記遅延回路に前記第1の信号を入
力し、前記ラッチ回路のラッチ出力により前記第1の信
号と前記第2の信号の位相を比較することを特徴とする
〔発明の実施例〕
第1図は本発明の一実施例による位相比較回路である。
信号へと信号Bを位相比較する。一方の信号Aは比較用
の遅延回路12に入力され、他方の信号Bはラッチ回路
13、制御用の遅延回路14、ラッチ16、ラッチ18
に入力される。遅延回路12はN段の遅延素子121〜
12Nで構成されており、各遅延素子12〜12Nの出
力はラッチ回路13の各ラッチ13〜13Nで、信号B
の立上りまたは立下がりに同期してラッチされる。これ
らラッチ13.13 〜13Nの出力Q、Q2.・・・
Q14により、信号Aと信号°Bの位相差がわかる。
信号Bを遅延する遅延回路14もN段の遅延素子14〜
14Nで構成されている。遅延素子14  .14  
、つまり遅延回路14のN−IN−I    N 段目とN段目の出力信号はそれぞれラッチ回路16.1
8に入力されており、各ラッチ回路16゜18の各出力
信号Q、Q、に制御信号生成回路20に入力される。制
御信号生成回路20からの出力信号0UTG、til!
延回路12と14の各遅延素子121〜12N、14 
〜14Nに対して、制御 御信号として与えられ、この制御信号0LITにより各
遅延素子12〜12.141〜14NのN 遅延時間が制御される。
信号Aと信号Bの位相差t、dはラッチ回路13の位相
比較出力Q1.Q2−QNにより知ることができる。例
えばN−8の場合、位相差t、dがO≦tl)d<τで
あれば位相比較出力Q1・・・Q8=oooooooo
となり、τ≦tpd<2τであれば、位相比較出力Q 
・・・Q8−10000000となる。ここでτは遅延
素子ひとつ分の遅延時間である。
遅延回路14は遅延回路12と同じ遅延素子により構成
され、正しく遅延時間が制御された状態では、遅延素子
14Nの出力が信号Bの1周期分遅れるように構成され
ている。ラッチ16.18の出力信号Q、Q、は制御さ
れた状態ではそれぞれrOJ  NJとなる。これに対
して、遅延時間が長ずざると、ラッチ16.18の各出
力信号QA、QBはそれぞれrlJ、rlJとなる。一
方、遅延時間が短かすぎると、ラッチ16.18の各出
力信号QA、QBはそれぞれrob、rOJとなる。
υ制御信号生成回路20はこれら出力信号QA。
QBに基づいた制御信号を生成し遅延素子121〜12
.141〜14Nに出力する。出力信号QA、Q、がr
ob、rlJのときは遅延素子12〜12.14 〜1
4Nの遅延時間を維持するような制御信号を出力し、出
力信号QA。
Q8がrlJ、NJのときは遅延時間を短くするような
制御信号を出力し、出力信号QA、QBがrOJ、rO
Jのときは遅延時間を長くするような制御信号を出力す
る。
このようにすることにより、遅延回路12と14のN段
目の遅延素子12N、14Nの出力信号が入力信号A、
Bに対して正確に1周期の遅れをもつように制御される
。すなわち、各遅延素子12〜12 .14 〜14N
の遅延時間が入力信号A、Bの周TWITのN分の1に
制御されたことになる。したがって遅延素子12〜12
14の出力信号を用いて正確な位相比較が可能である。
−J開信号生成回路20の具体的回路構成を第3図に示
す。アップダウンカウンタ回路100はラッチ16.1
8の出力信号QA、Q、によって7ツプ、ダウンカンウ
ド@御され、そのカウント値は出力線101,102,
103により電流源回路200に与えられる。電流源回
路20αは、出力線101,102.103からのカウ
ント値に応じた電流1 .21 .4Ioの組合せによ
りO 変化する信号を出力線201を介して遅延回路12.1
4の各遅延素子121〜12M、141〜14Nに供給
する。その結果、遅延回路12の遅延素子12〜12.
14 〜14Nを構成するインバータINV1に直列に
入っているトランジスタQ。のバイアスがコントロール
され、遅延素子12〜12.14 〜14Hの遅延量が
制御される。
各回路構成をさらに詳細に説明する。このアップダウン
カウンタ回路100には3ビツトの/Jウンタ回路12
0,122,124が設けられている。これらカウンタ
回路120,122,124には、アップIJIII入
力端Uとダウン制御入力端りと、り0ツク入力端φと、
キャリー入力端CIと、キャリー出力端COと、カウン
ト出力端Qとが設けられており、アップ制御入力端Uと
ダウン制御入力端りに入力する信号により、カウントア
ツプまたはカウントダウンされるか、カウントされずカ
ウント値が不変であるか制御される。
ラッチ16.18の出り信号Q、Q、からノアゲート1
10、アンドゲート116,118によりアップ制御信
号U1ダウン制御信号りが生成される。アンドゲート1
16には、出力信号QAとオアゲート112からの出力
信号とが入力され、ダウン制御信号りが出力される。オ
アゲート112にはカウンタ回路120,122,12
4のカウント信号Q1.Q2.Q3が入力されている。
このようにすることによりカウント値[Q3゜Q2.Q
lJがrooOJのときにさらにカウントダウンしてr
ll”Hになることが防止できる。
アンドゲート118には、ノアゲート110の出力信号
とナントゲート114の出力信号が入力される。ノアゲ
ート110には出力信号A、Bが入力されている。ナン
トゲート114にはカウンタ回路120,122,12
4のカウント信号Q1゜Q2.Q3が入力されている。
このようにすることによりカウント値rQ3.Q2.Q
IJがN 11Jのときにさらにカウントアツプしてr
ooOJになることを防止している。
ラッチ16.18からの出力信号Q、Q、が「0」、「
0」の場合には、アップ制御信号Uが「0」、ダウン制
御信号りが「1」となり、カウント回路120,122
.124はダウンカウントする。出力信号A、Bが[0
]、「1」の場合には、アップ制御信号Uが「0」、ダ
ウン制御信号りがrOJとなり現在のカウント値が保持
される。出力信号Q、QBがrlJ  rlJの場合に
^ は、アップ信号Uが「1」、ダウン制御信号りが「0」
となり、カウント回路120,122゜124はアップ
カウントする。なお、出力信号Q、、Q、が「1」 「
1」の場合は、遅延′@間が極めて長すぎるか、極めて
短かすぎるかいずれかの場合であり、この回路ではアッ
プ制御信号Uを「1」、ダウン制御信号りを「0」とし
アップカウントすることにしている。
電流源回路200には、直列接続されたnチャンネルM
OSトランジスタ210と抵抗212、nチャンネルM
OSトランジスタ214と抵抗216、nチャンネルM
OSトランジスタ218と抵抗220が設けられている
。これらnチャンネルMOSトランジスタ210,21
4.218のソースは電源に接続され各ゲートはそれぞ
れカウンタ回路120,122,124のカウント出力
端Q1.Q2.Q3にインバータ222,224゜22
6を介して接続されている。カウント値Q1゜Q2.Q
3が「1」のときMOSトランジスタ210.214.
218は導通し電流が流れる。
また抵抗212,216.220の一端は共通接続され
て、nチャンネルMOSトランジスタ222のドレイン
とゲートに接続されている。nチャンネルMO3t−ラ
ンジスタ222のソースは接地されている。
抵抗212,216.220(7)値は、MoSトラン
ジスタ210,214.218が導通したときに流れる
電流の比が1:2:4になるように定められる。したが
ってアップダウンカウンタ回路100のカウント値に応
じた電流がMOSトランジスタ222を流れる。例えば
カウント値−「Q3゜Q2.Ql」が「ool」であれ
ばMOSトランジスタ210が導通し電流■。が流れる
。またカウント値rQ3.Q2.Q1JがrollJで
あればMOSトランジスタが導通し電流3I0が流れる
。またカウント値rQ3.Q2.QIJがrlloJで
あればMOSトランジスタが導通し電流6■。が流れる
。カウント値rQ3.Q2゜QlJが増大すると電流値
が増大する。
遅延回路12.14の各遅延素子121〜12 .14
 〜14Hにはそれぞれインバータ1NV  、INV
2が設けられている。これら信号INV  、INV2
により入力信号が遅延させられる。インバーターNV 
 、INV2はそれぞれpチャンネルMOSトランジス
タQP1.QP2とnチャンネルMOSトランジスタQ
。1.Q10とで構成されている。インバーターNv1
のnチャンネルMOSトランジスタQ。1とアースとの
間には、電流制御用、すなわち遅延時間制御用のnチャ
ンネルMOSトランジスタQ。が挿入されている。
このMOSトランジスタQ。のゲートには電流源回路2
00からの出力源201が接続されている。
アップダウンカウンタ回路100のカウンタ値rQ3.
Q2.Q1Jが増大して、電流源回路200の電流値が
増大すると、MOSトランジスタQ。に流れるN流がミ
ラー効果により増大する。
MOSトランジスタQnに流れる電流が増大すると、イ
ンバータINV1の変化がはやくなり、インバータIN
V1による遅延時間が短くなる。逆にアップダウンカウ
ンタ回路100のカウント値rQ3.Q2.QIJが減
少するとインバータINV1の遅延時間は長くなる。
上述したことからあきらかなように、結局ラッチ16.
18の内容により遅延素子121〜12 .14 〜1
4Nの遅延時間が制御され、最終的に遅延素子12  
.14   の出力信号N−I    N−1 が信号A、Bと1周期遅れの同位相になる。
上記実施例では、アップダウンカウンタ回路100の出
力に基いて電流源回路200の電流値を制御し、この電
流によって遅延素子121〜12.14 〜14Nの遅
延時間を制御する場合を例示したが、遅延素子121〜
12N。
14〜14Nを第3図の回路図に示すように構成し、ア
ップダウンカウンタ回路100の出力101.102,
103で遅延素子121〜12.14 〜14Hの遅延
時間を直接制御すNす るように構成してもよい。すなわち、インバータ1N■
1と電流との間に、並列接続したpチャンネルMOSト
ランジスタ” QPol−QPO2。
Q  を挿入し、MoSトランジスタQPO1゜QPO
2、QPO3のゲートをアップダウンカウンタ回路10
0のカウンタ回路120,122゜124の反転カウン
ト信号Q1.Q2.Q3を入力する。したがってカウン
ト回路120,122゜124のカウント値rQ3.Q
2.Q1Jが増大するとインバーターN■1に流れる電
流が増大し遅延時間が短くなる。
本発明の他の実施例による位相比較回路を第4図に示す
。本実施例はひとつの遅延回路12で比較用遅延回路と
制御用遅延回路を兼ねたものである。信号Aと信号Bは
制御信号φ。により切換回路22で切換えられる。信号
A、Bはそれぞれクロックドインバータ24.26に入
力されている。
信号Aが入力されたクロックドインバータ22は制御信
号φ。により制御され、信号Bが入力されたクロックド
インバータ24は反転制御信号φ。
により制御される。クロックドインバータ22と24の
出力端は共通接続されて遅延回路12に入力される。遅
延回路12はN段の遅延素子121〜12Nで構成され
ている。各遅延素子121〜12Nの出力は、ラッチ回
路13の各ラッチ13〜13Nでラッチされる。このラ
ッチ回路13は、制御信号φ。が入力されたアンドゲー
ト28を介して入力された信号Bに同期してラッチされ
る。これらラッチ131〜13Nの出力により信号へと
信号Bの位相差がわかる。また遅延素子12  .12
Nの出力信号はラッチ16゜18に入力されており、各
ラッチ16.18の出力信号QA、Q、は前述の実施例
と同様の構成の&Ij m信号生成回路20に入力さす
る。制御信号生成回路20からの出力信号OUTにより
遅延回路12の遅延素子12〜12Hの遅延時間が制御
される。ラッチ16.18は、インバータ30による反
転制御信号φ。が入力されたアンドゲート32を介して
入力された信号Bに同期してラッチされる。
本実施例の動作を説明する。信号Aと信号Bの位相比較
をする場合は、制御信号φ。をHレベルとする。制御信
号φ。がHレベルとなると、遅延回路12には信号Aが
入力され、ラッチ回路13に各ラッチ13〜13Nのク
ロック入力端に信号Bが入力する。したがってラッチ1
31〜13Nの位相比較出力Q1・・・QHにより信号
Aと信号Bの位相比較することができる。遅延素子12
〜12Hの遅延時間を制御する場合には制御 御信号φ をLレベルとする。制御信号φ。がLレベル
になると、遅延回路12には信号Bが入力され、ラッチ
16と18のクロック入力端に信号Bが入力する。する
とラッチ16.18から出力信号Q、Q8が制御信号生
成回路20に入力され、この出力信号Q、Q、の値によ
り遅延素子121〜12Nの遅延時間が制御される。
このように本実施例によればtI11iIl信号φ。に
より切換回路22を制御することにより、比較用と制御
用の遅延回路を共用することができる。
上記実施例に限らず本発明の範囲内で種々の変形が可能
である。例えば遅延素子の段数は必要に応じて定めるこ
とができる。
〔発明の効果〕
以上の通り本発明によれば使用条件の変化や素子特性の
ばらつきがあっても正しく信号間の位相を比較すること
ができる。本発明による位相比較回路を用いれば極めて
高精度にモータ等を制御することができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例による位相比較回路の回路図
、第2図は同位相比較回路における制御信号生成回路の
具体例を示す回路図、第3図は同位相比較回路における
遅延素子の他の具体例を示す回路図、第4図は本発明の
他の実施例による位相比較回路の回路図、第5図従来の
位相比較回路の回路図である。 2・・・遅延回路、4・・・ラッチ回路、12.14・
・・遅延回路、13・・・ラッチ回路、16.18・・
・ラッチ、20・・・制御信号生成回路、22・・・切
換回路。 出願人代理人  猪  設    消 第5図 手続補正書 昭和60年5月2日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、直列接続された複数の遅延素子を有し、第1の信号
    を遅延する比較用遅延回路と、この比較用遅延回路の前
    記遅延素子の各出力を第2の信号に同期してラッチする
    比較用ラッチ回路と、直列接続された複数の遅延素子を
    有し、前記第2の信号を遅延する制御用遅延回路と、こ
    の制御用遅延回路における予め定められた遅延素子の出
    力を前記第2の信号に同期してラッチする制御用ラッチ
    回路と、この制御用ラッチ回路の出力に基づいて前記制
    御用遅延回路および前記比較用遅延回路の前記遅延素子
    の遅延時間を制御する制御回路とを備え、前記比較用ラ
    ッチ回路のラッチ出力により前記第1の信号と前記第2
    の信号の位相を比較することを特徴とする位相比較回路
    。 2、特許請求の範囲第1項記載の回路において、前記制
    御用ラッチ回路は、前記制御用遅延回路の隣接する2つ
    の遅延素子の出力信号をラッチし、前記制御回路は、前
    記制御用ラッチ回路の出力信号に応じてアップカウント
    またはダウンカウントするアップダウンカウンタを有し
    、このアップダウンカウンタのカウント値に応じて前記
    遅延素子の遅延時間を制御することを特徴とする位相比
    較回路。 3、特許請求の範囲第1項または第2項記載の回路にお
    いて、前記制御回路は、電流源回路を有し、前記制御用
    ラッチ回路の出力信号に応じて前記電流源回路からの電
    流値を変更して、前記比較用遅延回路および前記制御用
    遅延回路の前記遅延素子の遅延時間を制御することを特
    徴とする位相比較回路。 4、第1の信号と、第2の信号を切換える切換回路と、
    直列接続された複数の遅延素子を有し、この切換回路か
    らの出力信号を遅延する遅延回路と、この遅延回路の遅
    延素子の各出力を前記第2の信号に周期してラッチする
    ラッチ回路と、このラッチ回路の予め定められたラッチ
    出力に基づいて前記遅延回路の遅延素子の遅延時間を制
    御する制御回路とを備え、遅延制御時には、前記切換回
    路により前記遅延回路に前記第2の信号を入力し、前記
    制御回路により前記遅延回路の遅延素子の遅延時間を制
    御し、位相比較時には、前記切換回路により前記遅延回
    路に前記第1の信号を入力し、前記ラッチ回路のラッチ
    出力により前記第1の信号と前記第2の信号の位相を比
    較することを特徴とする位相比較回路。 5、特許請求の範囲第4項記載の回路において、前記制
    御回路は、前記ラッチ回路の隣接する2つのラッチ出力
    に応じてアップカウントまたはダウンカウントするアッ
    プダウンカウンタを有し、このアップダウンカウンタの
    カウント値に応じて前記遅延素子の遅延時間を制御する
    ことを特徴とする位相比較回路。 6、特許請求の範囲第4項または第5項記載の回路にお
    いて、前記制御回路は、電流源回路を有し、前記予め定
    められたラッチ出力に応じて、前記電流源回路からの電
    流値を変更して遅延回路の遅延時間を制御することを特
    徴とする位相比較回路。
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Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0269018A (ja) * 1988-07-21 1990-03-08 Philips Gloeilampenfab:Nv 位相検出回路
JPH03121616A (ja) * 1989-10-04 1991-05-23 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ディジタル位相比較器
JPH03125514A (ja) * 1989-10-11 1991-05-28 Nippon Soken Inc 物理量検出装置
JPH03220814A (ja) * 1990-01-25 1991-09-30 Nippon Soken Inc パルス位相差符号化回路
EP0749210A2 (en) * 1995-06-13 1996-12-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Counting circuit for measuring pulse spacing, sampling circuit, skew adjusting circuit, and logic analyzing circuit
US5686835A (en) * 1989-01-18 1997-11-11 Nippondenso Co., Ltd Physical quantity detection device for converting a physical quantity into a corresponding time interval
JPH104353A (ja) * 1996-06-17 1998-01-06 Denso Corp A/d変換器
JP2002076886A (ja) * 2000-06-30 2002-03-15 Texas Instruments Inc デジタル小位相検出器
JP2006093748A (ja) * 2004-09-16 2006-04-06 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置のタイミング制御回路
JP2007110370A (ja) * 2005-10-13 2007-04-26 Fujitsu Ltd デジタル位相検出器
JPWO2005050844A1 (ja) * 2003-11-20 2007-06-14 株式会社アドバンテスト 可変遅延回路
WO2010016301A1 (ja) * 2008-08-07 2010-02-11 日本電気株式会社 位相比較器、pll回路およびdll回路
JP2011517160A (ja) * 2008-03-03 2011-05-26 クゥアルコム・インコーポレイテッド 高速時間ディジタル・コンバータ
JP2011519529A (ja) * 2008-04-14 2011-07-07 クゥアルコム・インコーポレイテッド 完全デジタル位相ロックループにおける位相デジタル変換器
JP2012060431A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Toshiba Corp 時間計測回路およびデジタル位相同期回路
JP2012511280A (ja) * 2008-12-08 2012-05-17 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 信号の周波数または周期を決定するための方法
JP2012516629A (ja) * 2009-01-27 2012-07-19 アギア システムズ インコーポレーテッド 性能監視用クリティカルパス回路
WO2012165260A1 (ja) * 2011-05-27 2012-12-06 国立大学法人東京大学 信号変換回路、pll回路、遅延調整回路及び位相制御回路
JP2013070172A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk 時間差増幅回路
WO2013069173A1 (ja) * 2011-11-10 2013-05-16 パナソニック株式会社 時間差デジタル変換器
WO2013128790A1 (ja) * 2012-02-29 2013-09-06 パナソニック株式会社 時間デジタル変換器およびそれを備えたa/d変換器

Cited By (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0269018A (ja) * 1988-07-21 1990-03-08 Philips Gloeilampenfab:Nv 位相検出回路
US5686835A (en) * 1989-01-18 1997-11-11 Nippondenso Co., Ltd Physical quantity detection device for converting a physical quantity into a corresponding time interval
JPH03121616A (ja) * 1989-10-04 1991-05-23 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ディジタル位相比較器
JPH03125514A (ja) * 1989-10-11 1991-05-28 Nippon Soken Inc 物理量検出装置
JPH03220814A (ja) * 1990-01-25 1991-09-30 Nippon Soken Inc パルス位相差符号化回路
EP0749210A3 (en) * 1995-06-13 2004-09-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Counting circuit for measuring pulse spacing, sampling circuit, skew adjusting circuit, and logic analyzing circuit
EP0749210A2 (en) * 1995-06-13 1996-12-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Counting circuit for measuring pulse spacing, sampling circuit, skew adjusting circuit, and logic analyzing circuit
JPH104353A (ja) * 1996-06-17 1998-01-06 Denso Corp A/d変換器
JP2002076886A (ja) * 2000-06-30 2002-03-15 Texas Instruments Inc デジタル小位相検出器
JPWO2005050844A1 (ja) * 2003-11-20 2007-06-14 株式会社アドバンテスト 可変遅延回路
JP2006093748A (ja) * 2004-09-16 2006-04-06 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置のタイミング制御回路
JP4642417B2 (ja) * 2004-09-16 2011-03-02 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置
JP2007110370A (ja) * 2005-10-13 2007-04-26 Fujitsu Ltd デジタル位相検出器
JP2011517160A (ja) * 2008-03-03 2011-05-26 クゥアルコム・インコーポレイテッド 高速時間ディジタル・コンバータ
JP2011519529A (ja) * 2008-04-14 2011-07-07 クゥアルコム・インコーポレイテッド 完全デジタル位相ロックループにおける位相デジタル変換器
WO2010016301A1 (ja) * 2008-08-07 2010-02-11 日本電気株式会社 位相比較器、pll回路およびdll回路
JP2012511280A (ja) * 2008-12-08 2012-05-17 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 信号の周波数または周期を決定するための方法
US8773160B2 (en) 2009-01-27 2014-07-08 Agere Systems Llc Critical-path circuit for performance monitoring
JP2012516629A (ja) * 2009-01-27 2012-07-19 アギア システムズ インコーポレーテッド 性能監視用クリティカルパス回路
US8446302B2 (en) 2010-09-09 2013-05-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Time to digital converter and all digital phase-locked-loop
JP2012060431A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Toshiba Corp 時間計測回路およびデジタル位相同期回路
WO2012165260A1 (ja) * 2011-05-27 2012-12-06 国立大学法人東京大学 信号変換回路、pll回路、遅延調整回路及び位相制御回路
JPWO2012165260A1 (ja) * 2011-05-27 2015-02-23 株式会社アイカデザイン 信号変換回路、pll回路、遅延調整回路及び位相制御回路
US9287853B2 (en) 2011-05-27 2016-03-15 Aika Design Inc. Signal conversion circuit, PLL circuit, delay adjustment circuit, and phase control circuit
JP2013070172A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk 時間差増幅回路
US8829985B2 (en) 2011-09-21 2014-09-09 Semiconductor Technology Academic Research Center Time difference amplifier circuit
WO2013069173A1 (ja) * 2011-11-10 2013-05-16 パナソニック株式会社 時間差デジタル変換器
US8896477B2 (en) 2011-11-10 2014-11-25 Panasonic Corporation Time-to-digital converter
WO2013128790A1 (ja) * 2012-02-29 2013-09-06 パナソニック株式会社 時間デジタル変換器およびそれを備えたa/d変換器
US9081370B2 (en) 2012-02-29 2015-07-14 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Time-to-digital converter and an A/D converter including the same

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JPH0342016B2 (ja) 1991-06-25

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