JPS61172220A - デイスク基板の製造方法 - Google Patents
デイスク基板の製造方法Info
- Publication number
- JPS61172220A JPS61172220A JP1209485A JP1209485A JPS61172220A JP S61172220 A JPS61172220 A JP S61172220A JP 1209485 A JP1209485 A JP 1209485A JP 1209485 A JP1209485 A JP 1209485A JP S61172220 A JPS61172220 A JP S61172220A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk substrate
- peripheral surface
- outer peripheral
- crystal rod
- disk
- Prior art date
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- Pending
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気記録ディスク等のディスク基板を製造する
際のディスク基板の製造方法に関する。
際のディスク基板の製造方法に関する。
従来よハ種々の情報等を記録するための硬質の磁気記録
ディスク(いわゆる、ハードディスク)が一般に知られ
ている。この磁気記録ディスクは、通常、アルミニウム
(Ai)から成るディスク基板の両面に磁性層を有する
ものであり、該磁性層はたとえば磁性体を塗布(コーテ
ィング)することによシ形成される。
ディスク(いわゆる、ハードディスク)が一般に知られ
ている。この磁気記録ディスクは、通常、アルミニウム
(Ai)から成るディスク基板の両面に磁性層を有する
ものであり、該磁性層はたとえば磁性体を塗布(コーテ
ィング)することによシ形成される。
一方、近年磁気記録ディスクに高密度記録を行うことが
要望されており、このため、磁性層をより薄く形成する
と共に、ディスクの表面をより滑らかにする必要が生じ
てきて匹る。また、磁性層の形成方法についても、磁性
体を塗布する方法から真空蒸着法、スパッタリング法等
の薄膜形成技術を用いる方向に進みつつある。
要望されており、このため、磁性層をより薄く形成する
と共に、ディスクの表面をより滑らかにする必要が生じ
てきて匹る。また、磁性層の形成方法についても、磁性
体を塗布する方法から真空蒸着法、スパッタリング法等
の薄膜形成技術を用いる方向に進みつつある。
ところが、従来よシ用いられているアルミニウムのディ
スク基板に対して、上述したような薄膜形成技術により
磁性層を形成するためには、その形成以前に、ディスク
基板の両面にたとえば酸化アルミニウムの層(いわゆる
アルマイト層)を形成する等の耐熱処理を施さなければ
ならず工数が増えてしまう。また、通常の加工方法では
、アルミニウムの組成に起因する表面粗さに限界があp
1ディスクの表面をより滑らかにすることは困難である
という問題点があった。
スク基板に対して、上述したような薄膜形成技術により
磁性層を形成するためには、その形成以前に、ディスク
基板の両面にたとえば酸化アルミニウムの層(いわゆる
アルマイト層)を形成する等の耐熱処理を施さなければ
ならず工数が増えてしまう。また、通常の加工方法では
、アルミニウムの組成に起因する表面粗さに限界があp
1ディスクの表面をより滑らかにすることは困難である
という問題点があった。
このような問題点を解決するものとして、たとえば特開
昭59−96539号公報に記載されているように、デ
ィスク基板の材料としてシリコン(SL)を用いたもの
が提案されている。このシリコンのディスク基板によれ
ば、上述したような耐熱処理が不用になると共に、ディ
スク表面をよシ滑らかにすることができる。また、真空
蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成技術との相性が
良い、洗浄が容易である、熱による変形が小さい、集積
回路には使用できない品質のものでも使用できる等の利
点が得られる。
昭59−96539号公報に記載されているように、デ
ィスク基板の材料としてシリコン(SL)を用いたもの
が提案されている。このシリコンのディスク基板によれ
ば、上述したような耐熱処理が不用になると共に、ディ
スク表面をよシ滑らかにすることができる。また、真空
蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成技術との相性が
良い、洗浄が容易である、熱による変形が小さい、集積
回路には使用できない品質のものでも使用できる等の利
点が得られる。
ところで、ディスク基板の製造は一般に、仕上げしろを
残した厚みの板材から、1枚ずついわゆる内径加工およ
び外径加工を施した後、厚み方向の仕上げを行うことに
よりなされている。しかし、内径加工および外径加工は
、板材を加工機に1枚ずつチャックして行わなければな
らず、多数枚のディスク基板を製造する場合には、加工
に長時間を鷹してしまうという問題点があった。また、
前述したように、シリコンあるいはガラス、セラミック
ス等の加工性の悪い脆性材料によるディスク基板を製造
する場合には、内径加工および外径加工は特に難しく、
不良が発生し易いという問題点があった。
残した厚みの板材から、1枚ずついわゆる内径加工およ
び外径加工を施した後、厚み方向の仕上げを行うことに
よりなされている。しかし、内径加工および外径加工は
、板材を加工機に1枚ずつチャックして行わなければな
らず、多数枚のディスク基板を製造する場合には、加工
に長時間を鷹してしまうという問題点があった。また、
前述したように、シリコンあるいはガラス、セラミック
ス等の加工性の悪い脆性材料によるディスク基板を製造
する場合には、内径加工および外径加工は特に難しく、
不良が発生し易いという問題点があった。
そこで、本発明は上述した従来の問題点に鑑みて提案さ
れたものであり、磁気記録ディスク等のディスク基板を
短時間で多数枚製造できるようにすると共に、特にディ
スク基板の材料が脆性材料である場合における内径加工
および外径加工による不良の発生を低減することを目的
とする。
れたものであり、磁気記録ディスク等のディスク基板を
短時間で多数枚製造できるようにすると共に、特にディ
スク基板の材料が脆性材料である場合における内径加工
および外径加工による不良の発生を低減することを目的
とする。
上述した目的を達成するために、本発明に係るディスク
基板の製造方法は、略円柱状の材料の径方向の略中心に
長手方向に貫通する先孔を形成する工程と、この先孔の
形成された材料の内周面および外周面に対してそれぞれ
研削加工を施す工程と、この研削加工の施された材料を
切断してディスク基板の元となる複数の板材を作成する
工程とから成ることを特徴としている。
基板の製造方法は、略円柱状の材料の径方向の略中心に
長手方向に貫通する先孔を形成する工程と、この先孔の
形成された材料の内周面および外周面に対してそれぞれ
研削加工を施す工程と、この研削加工の施された材料を
切断してディスク基板の元となる複数の板材を作成する
工程とから成ることを特徴としている。
本発明によれば、略円柱状の材料に先孔をあけ、内周面
および外周面の研削加工を行った後に、切断してディス
ク基板の元となる複数の板材を作成するよ5[している
ため、工数を減らすことができると共に、脆性材料であ
っても加工の際に不良が発生することはほとんどなくな
る。
および外周面の研削加工を行った後に、切断してディス
ク基板の元となる複数の板材を作成するよ5[している
ため、工数を減らすことができると共に、脆性材料であ
っても加工の際に不良が発生することはほとんどなくな
る。
以下、本発明に係るディスク基板の製造方法の一実施例
について図面を参照しながら詳細に説明する。
について図面を参照しながら詳細に説明する。
第1図〜第6図は本実施例のディスク基板の製造方法を
工程に?8って説明するための図である。
工程に?8って説明するための図である。
まず、第1図に示すように、シリコンの単結晶棒10C
インゴツト)の両端の使用不可能な部分を切断して除去
する。
インゴツト)の両端の使用不可能な部分を切断して除去
する。
次に、第2図に示すように、略円柱状となった単結晶棒
10の両端面11A、118にたとえば研削加工を施し
、該両端面11A、11Bが平行になるように仕上げる
。
10の両端面11A、118にたとえば研削加工を施し
、該両端面11A、11Bが平行になるように仕上げる
。
次に、第3図に示すように、単結晶棒1oの両端面11
A、IIBをチャッキング部材20A 。
A、IIBをチャッキング部材20A 。
20Bによりチャックして、該単結晶棒1oの外周面に
粗加工を施し表面をおよそ滑らかにする。
粗加工を施し表面をおよそ滑らかにする。
次に、第4図に示すように、単結晶棒1oの径方向の略
中心に長手方向に貫通するいわゆる先孔12をあける。
中心に長手方向に貫通するいわゆる先孔12をあける。
なお、チャッキング部材20A 。
20Bには予め所定の大きさの開口部21A、21Bが
それぞれ饅けられている。上記先孔12をあけるには、
脆性材料、難研削材料用の加工機、たとえば超音波加工
機、ダイヤモンドドリル、放電加工機等を用いれば良い
。なお、この工程において、上記先孔12は、最終目標
とする径すなわちディスク基板完成時の内径よシ小さく
あけることは勿論であるが、これによって生じた欠陥を
除去するだけの余裕をもたせた上でできるだけ大きくあ
けることが好ましい。
それぞれ饅けられている。上記先孔12をあけるには、
脆性材料、難研削材料用の加工機、たとえば超音波加工
機、ダイヤモンドドリル、放電加工機等を用いれば良い
。なお、この工程において、上記先孔12は、最終目標
とする径すなわちディスク基板完成時の内径よシ小さく
あけることは勿論であるが、これによって生じた欠陥を
除去するだけの余裕をもたせた上でできるだけ大きくあ
けることが好ましい。
次に、第5図に示すように、先孔12の形成された単結
晶棒10の内周面13および外周面14に、それぞれ砥
石等から成る研削へソド31゜32に、よシ研削加工(
円筒研削)を施し、内径および外径がそれぞれ最終目標
とする径となるように該内周面13および外周面140
表面をより滑らかに仕上げる。この時、内径および外径
の中心が等しくなる(いわゆる、同心度がでる)ように
研削加工を施すようにする。また、この工程における研
削加工はチャッキング部材20A、20Bをチャックし
たままの状態で行え、かつ、内周面13および外周面1
4を同時加工することにより高精度に同心度をだすこと
ができる。
晶棒10の内周面13および外周面14に、それぞれ砥
石等から成る研削へソド31゜32に、よシ研削加工(
円筒研削)を施し、内径および外径がそれぞれ最終目標
とする径となるように該内周面13および外周面140
表面をより滑らかに仕上げる。この時、内径および外径
の中心が等しくなる(いわゆる、同心度がでる)ように
研削加工を施すようにする。また、この工程における研
削加工はチャッキング部材20A、20Bをチャックし
たままの状態で行え、かつ、内周面13および外周面1
4を同時加工することにより高精度に同心度をだすこと
ができる。
この後の工程は集積回路(J C) XK、用いるウェ
ハの製造工程と同様である。すなわち、第6図に示すよ
うに、いわゆる内径加工および外径加工の施された単結
晶棒10をダイヤモンドブレード等によシ所定の厚みに
切断(いわゆる、スライス)して、板材15,15.・
・・を作成する。そして、図示は省略するが、上記板材
15,15.・・・の各々の外周面に対して面取)加工
を施し、エツチング処理を施した後、磁性層が形成され
る両面に対して研磨、ラップ、ポリッシュ等の処理を施
す。
ハの製造工程と同様である。すなわち、第6図に示すよ
うに、いわゆる内径加工および外径加工の施された単結
晶棒10をダイヤモンドブレード等によシ所定の厚みに
切断(いわゆる、スライス)して、板材15,15.・
・・を作成する。そして、図示は省略するが、上記板材
15,15.・・・の各々の外周面に対して面取)加工
を施し、エツチング処理を施した後、磁性層が形成され
る両面に対して研磨、ラップ、ポリッシュ等の処理を施
す。
これにより、表面粗さRM AXが0.01μ。程度の
良好なものが得られる。
良好なものが得られる。
このように、板材15,15.・・・に各処理が施され
ることによ六第7図および第8図に示すようなディスク
基板40が得られる。このディスク基板40は、たとえ
ば、一般に3.5インチディスクと呼ばれているもので
あり、内径LAは25簡程度であり、外径1Bは95w
11程度である。また、厚みtは1.27mm程度であ
る。
ることによ六第7図および第8図に示すようなディスク
基板40が得られる。このディスク基板40は、たとえ
ば、一般に3.5インチディスクと呼ばれているもので
あり、内径LAは25簡程度であり、外径1Bは95w
11程度である。また、厚みtは1.27mm程度であ
る。
そして、たとえば、真空蒸着法、スパッタリング法等の
薄膜形成技術によシ、ディスク基板400両面に磁性層
を形成すれば、表面の極めて滑らかな高密度記録可能な
磁気記録ディスクを得ることができる。なお、この磁気
記録ディスクの表面粗さは、前述した磁性層形成前の表
面粗さ几MAX=0.01μmとほぼ同等となる。
薄膜形成技術によシ、ディスク基板400両面に磁性層
を形成すれば、表面の極めて滑らかな高密度記録可能な
磁気記録ディスクを得ることができる。なお、この磁気
記録ディスクの表面粗さは、前述した磁性層形成前の表
面粗さ几MAX=0.01μmとほぼ同等となる。
上述したように、本実施例のディスク基板の製造方法で
は、シリコンの単結晶棒10を切断してディスク基板4
0の元となる板材15.15 、・・・ を作成する以
前に、先孔12を形成し内周面13および外周面14に
対する研削加工を施すようにしている。このため、工数
が減シ多数枚のディスク基板を短時間で製造することが
できる。また、加工の際に不良が発生することはほとん
どない。
は、シリコンの単結晶棒10を切断してディスク基板4
0の元となる板材15.15 、・・・ を作成する以
前に、先孔12を形成し内周面13および外周面14に
対する研削加工を施すようにしている。このため、工数
が減シ多数枚のディスク基板を短時間で製造することが
できる。また、加工の際に不良が発生することはほとん
どない。
なお、第5図に示した内径加工および外径加工の後に、
エツチング処理を施して表面の欠陥を除去するようにし
ても良い。しかし、このエツチング処理は必要不可欠な
ものではなく、施さなくても実用上差し仕えない。
エツチング処理を施して表面の欠陥を除去するようにし
ても良い。しかし、このエツチング処理は必要不可欠な
ものではなく、施さなくても実用上差し仕えない。
上述した実施例の説明から明らかなように、本発明では
、略円柱状の材料に長手方向に貫通する先孔を形成し、
内周面および外周面の研削加工を行った後に、切断して
ディスク基板の元となる板材を作成するようにしている
。このため、工数がsbディスク基板を短時間で多数枚
製造することができる。また、材料がシリコン等の脆性
材料であっても、内径加工および外径加工により不良が
発生することはほとんどなくなり加工も容易に行える。
、略円柱状の材料に長手方向に貫通する先孔を形成し、
内周面および外周面の研削加工を行った後に、切断して
ディスク基板の元となる板材を作成するようにしている
。このため、工数がsbディスク基板を短時間で多数枚
製造することができる。また、材料がシリコン等の脆性
材料であっても、内径加工および外径加工により不良が
発生することはほとんどなくなり加工も容易に行える。
第1図〜第6図は本発明に係るディスク基板の製造方法
の一実施例を工程に市って説明するための図、第7図は
上記実施例の製造方法により製造されたディスク基板の
平面図、第8図は同じく断面図である。
の一実施例を工程に市って説明するための図、第7図は
上記実施例の製造方法により製造されたディスク基板の
平面図、第8図は同じく断面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 略円柱状の材料の径方向の略中心に長手方向に貫通する
先孔を形成する工程と、 この先孔の形成された材料の内周面および外周面に対し
てそれぞれ研削加工を施す工程と、この研削加工の施さ
れた材料を切断してディスク基板の元となる複数の板材
を作成する工程とから成るディスク基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1209485A JPS61172220A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | デイスク基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1209485A JPS61172220A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | デイスク基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61172220A true JPS61172220A (ja) | 1986-08-02 |
Family
ID=11795983
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1209485A Pending JPS61172220A (ja) | 1985-01-25 | 1985-01-25 | デイスク基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61172220A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6486341A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-31 | Sharp Kk | Optical disk |
JPH01103014U (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-12 | ||
JP2006099936A (ja) * | 2004-08-30 | 2006-04-13 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスクの製造方法及びガラス基板用の円柱状ガラス母材 |
JP2006338817A (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-14 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
JP2008198285A (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-28 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法および磁気ディスクの製造方法 |
JP2010108598A (ja) * | 2010-01-18 | 2010-05-13 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスクの製造方法及び磁気ディスク |
-
1985
- 1985-01-25 JP JP1209485A patent/JPS61172220A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6486341A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-31 | Sharp Kk | Optical disk |
JP2506123B2 (ja) * | 1987-09-29 | 1996-06-12 | シャープ株式会社 | 光ディスク |
JPH01103014U (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-12 | ||
JP2006099936A (ja) * | 2004-08-30 | 2006-04-13 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスクの製造方法及びガラス基板用の円柱状ガラス母材 |
JP2006338817A (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-14 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
JP2008198285A (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-28 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法および磁気ディスクの製造方法 |
JP2010108598A (ja) * | 2010-01-18 | 2010-05-13 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスクの製造方法及び磁気ディスク |
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