JPS6026280B2 - Ｘ線発生器の管電流調整回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、Ｘ線発生器のＸ線管の管電流及び管電圧のプ
リセット値からアドレスを形成する符号化装置と、種々
の管電流及び管電圧と関連するフィラメント電流値を記
憶し、前記アドレスに記憶されているフィラメント電流
値を謙出し得るアドレス可能記憶装置と、謙出されたフ
ィラメント電流値に応じて制御され、そのフィラメント
電流値を調整する制御回路とを具えるＸ線発生器の管電
流を調整する回路に関するものである。

既知のＸ線発生器では、Ｘ線露出中に必要とされる管電
流を、Ｘ線露出の開始前にフィラメント電流を適当に調
整して、Ｘ線露出の開始時、即ち高電圧をＸ線管に印加
した時に略々所望の管電流がフィラメント電流により加
熱されたフィラメントにより発生するように調整するの
が一般的である。

このフィラメント電流の値は管電流及び管電圧に直線的
に依存しない。これがため、既知のＸ線発生器のフィラ
メント回路は、動作点（プリセット管電圧に対する管電
流）を調整するか、調整パラメータのプログラムされた
時間依存関数（例えば自動ノモグラム装層）に追従する
フィラメント電流調整装置を具える。

前記関数は関数発生器によって発生させる。この種の関
数発生器は、数個の調整部材を有しＸ線管に固有の実際
の管電流の粗近似のみが可能となるように構成されるか
、多数の調整部材を有するものとして構成される。何れ
の場合にも各型のＸ線管に対し複数個の調整部材を設け
る必要があり、且つこれら部材をサービス技術者が頻繁
に調整する必要がある。前者の場合には動作点（例えば
１００ＫＶの管電圧及び管の公称電力と管電圧の商によ
り決まる管電流に対する動作点）の調整も必要とされ、
且つ（例えば放射特性の変化のために）調整パラメータ
により選択された種々のプリセット値の偏差を容認しな
ければならない。

これらの偏差は、第１に、Ｘ線発生器を放射特性が著し
く相違する種々の型のＸ線管に対し動作し得るようにす
る必要があることにより生じ、これらの偏差は数個の調
整装置のみでは十分に補償することはできない。これら
の偏差は、第２に、同一の型のＸ線管は個々に若干異な
る特定の放射特性を示すことにより生ずる。更に、Ｘ線
管の放射特性は経時変化をするので、やがて再調整を必
要とする。冒頭に述べた種類の回路は、斯る回路（例え
ば米国特許第３５２１０６７号明細書から既知）に比べ
、管電流を比較的簡単に比較的精密にプリセットし得る
利点を有する。

この回路の記憶装置は読取専用（固定）メモリ、特にプ
ログラムし得る読取専用メモリとし、各メモリをそれぞ
れ１個のＸ線管と関連させ、このＸ線管の種々の管電圧
及び管電流に対し必要なフィラメント電流値を記憶する
。調整すべき管電流及び管電圧の関数としてのフィラメ
ント電流をメモリ内に書込むことは、そのＸ線管製造業
者がＸ線管の所要のテスト（種々の組合わせの管電流及
び管電圧でテスト）中に行なうことができる。管を取り
替えるときは読取専用メモリを取り替えるだけでよい。
従ってサービス技術者による調整は最早必要ない。しか
し、上述の回路はいくつかの欠点を有する。即ち、経時
変化し易いＸ線管の放射特性が考慮されていない。種々
のＸ線管と関連する読取専用メモリの混同を避ける手段
を講ずる必要がある。関連する読取専用メモリを供給し
ない製造業者のＸ線管を使用するときは、読取専用メモ
リへのフィラメント電流の書込みを使用者が行なわなけ
ればならず、この場合には全ての管電圧及び答電流の組
合わせに対しＸ線管の放射特性を測定し、これらの組合
わせに対するフィラメント電流を決定し、記憶する必要
がある。本発明の目的は、管電流を簡単に精密にプリセ
ットし得るＸ線発生器の管電流調整回路を提供せんとす
るにある。

この目的のために、本発明では、第１に、Ｘ線発生器の
Ｘ線管の管電流及び管電圧のプＩＪセット値からアドレ
スを形成する符号化装置と、種々の管電流及び管電圧と
関連するフィラメント電流値が記憶される記憶装置であ
って、前記アドレスに記憶されているフィラメント電流
値を読出し得るアドレス可能記憶装置と、謙出されたフ
ィラメント電流値に応じてＸ線管のフィラメント電流を
調整制御する制御回路とを具えるＸ線発生器の管電流を
調整する回路において、前記謙出されたフィラメント電
流値を記憶し、Ｘ線露出中前記制御回路を制御するはバ
ッファメモリを設け、Ｘ線露出中測定装置によって測定
された管電流及び管電圧の実際値を前記管電流及び管電
圧のプリセット値の代りに前記符号化装置に供給して、
これら測定値からアドレスを形成し、前記バッファメモ
リ内に記憶されているフィラメント電流値を前記記憶装
置内の前記測定値から形成されたアドレスと関連する記
憶位置に記憶するようにしたことを特徴とする。

本発明では、第２に、Ｘ線発生器のＸ線管の管電流及び
管電圧のプリセット値からアドレスを形成する符号化装
置と、種々の管電流及び管電圧と関連するフィラメント
電流値が記憶される記憶装置であって、前記アドレスに
記憶されているフィラメント電流値を読出し得るアドレ
ス可能記憶装置と、Ｘ線露出の開始前に読出されたフィ
ラメント電流値に応じてＸ線管のフィラメント電流値を
調整制御すると共に、Ｘ線露出の開始後にプリセット管
電流値に応じてＸ線管の管電流を調整制御する制御回路
と、少くともフィラメント電流を測定する測定装置とを
具えるＸ線発生器の管電流を調整する回路において、前
記制御回路による管電流の制御中、前記測定装置により
フィラメント電流値を測定すると共に、前記管電流及び
管電圧のプリセット値を前記符号化装置４に供給してこ
れらプリセット値からアドレスを形成し、前記測定され
たフィラメント電流の実際値を前記記憶装置内の、前記
プリセツト値から形成されたアドレスと関連する記憶位
置に記憶するよう構成したことを特徴とする。

上述の両回路とも、記憶装置の内容を、各露出毎に、露
出中測定した管電流及び管電圧の値又はフィラメント電
流の値に応じて補正するという共通点を有する。

第１の回路では、謙出されたフィラメント電流値が正し
い値からずれているとき、即ち管電流及び答電圧の測定
値がプリセット値に合致しないとき、管電流及び管電圧
の測定値から新しいアドレスを形成し、前記源フィラメ
ント電流値をこのアドレスに記憶する。しかし、第２の
回路では、記憶されているフィラメント電流値が正しい
フィラメント電流値からずれているとき、管電流制御に
よって発生された正しい（新）フィラメント電流値を記
憶装置の腺アドレスに記憶する。本発明回路によれば記
憶されているフィラメント電流値が種々のＸ線露出中に
補正されるため、露出の開始当初から正しいフィラメン
ト値を記憶装置内に存在させる必要がない。

更にこのフィラメント電流値の連続補正の結果、老化に
よるＸ線管の放射特性の変化も考慮される。前記両回路
を組合わせて２個のフィラメント電流値を１回の露出中
に補正することもできる。この場合には、先ず最初、露
出開始前に調整されたフィラメント電流に対する露出開
始後の管電流及び管電圧の値を測定し、これら測定値を
前記符号化装置の関連する入力端子に供Ｖ給し、前記フ
ィラメント電流値が正しい値からずれている場合、即ち
管電流及び管電圧の測定値がプリセット値と相違する場
合にこの符号化装置により新しいアドレスを供給する。
この（露出開始後に得られた）新しいアドレスに、露出
開始前に読出された原フィラメント電流値を記憶する。
次いで、制御回路を管電流制御に切換える。管電流制御
の終了時に管電流及び管電圧はプリセット値になる。こ
の時点の測定フィラメント電流はプリセット管電圧を調
整するのに必要な正しいフィラメント電流値である。管
電流制御の終了後に得られたこのフィラメント電流値を
メモリ装置の原アドレスに記憶する。この原アドレスは
、管電流及び管電圧のプリセット値を前記符号化装贋の
入力端子に再び供給することにより与えられる。しかし
、管電流制御の終了時にプリセット値に一致する管電圧
及び管電流の測定値を前記符号化装置の入力端子に供給
することもできる。本発明の上記第１の回路の好適例で
は、前記記憶装置を、管電流及び管電圧のプリセット値
と関連する特性フィラメント電流値を前記符号化装置に
より形成されたアドレスを有する記憶位置に記憶した謙
取専用メモリと、補正値を記憶するランダムアクセスメ
モリとで構成し、更に前記符号化装置により前記管電流
及び管電圧のプリセット値から形成されたアドレスに記
憶されている上記論取専用メモリ及びランダムアクセス
メモリ内の記憶値を加算する加算装置と、該加算装置の
出力値を記憶しＸ線露出中前記制御回路を制御するバッ
ファメモリと、Ｘ線露出中測定装置によって測定された
管電流及び管電圧の実際値を前記管電流及び管電圧のプ
リセット値の代りに前記符号化装置に供Ｖ給してこれら
測定値からアドレスを形成させる手段と、前記謙取専用
メモリ内の、前記測定値から形成されたアドレスに記憶
されている特性フィラメント電流値を前記バッファメモ
リ内に記憶されているフィラメント電流値から減算する
減算装置と、この減算により得られた補正値を前記ラン
ダムアクセスメモリ内の、前記測定値から形成されたア
ドレスに書込む手段とを設けた構成とする。

この場合、記憶フィラメント電流値を所定の型の全ての
Ｘ線管に対し同一にすることができる（従って、同一に
プログラムされた読取専用メモリを同一の型の全てのＸ
線管に対し用いることができる）。

記憶フィラメント電流値は代表的なＸ線管の特性に対応
させる。あるＸ線管の動作中、諸取専用メモリ内に記憶
されているフィラメント電流値からの偏差はこの特定の
Ｘ線管に対するランダムアクセスメモリ内に記憶される
。これがため前記符号化装置により読出され、前記加算
装置の出力端子に現われるフィラメント電流値は読取専
用メモリ内に記憶されている特性値と、当該×線管と関
連する特性値からの偏差とで構成される。読取専用メモ
リ内の対応するアドレスに記憶されている値とフィラメ
ント回路内に発生する実際のフィラメント電流値との差
はそのつど減算回路によりランダムアクセスメモリ内の
アドレスされた位置に記憶されるため、両メモリ内の対
応するアドレスの記憶値の和は管に適合する新しいフィ
ラメント電流値に一致する。

謙取専用メモリ（その内容は妨害信号により消去されな
い）を使用する結果として、ランダムアクセスメモリの
内容が例えば妨害信号により消去されてもなおこの型の
Ｘ線管の特性値が読取専用メモリ内に残存するようにす
ることができる。更に、新しい管を使用するときは基本
調整が予め得られる利点がある。ランダムアクセスメモ
リ内に記憶する補正値の大きさは制限して、例えば妨害
信号により生じた補正値の変化が管を破損するような特
性値の不所望に大きな偏差を生じ得ないようにすること
ができる。図面につき本発明を説明する。

管電圧及び管電流のプリセット値ＵＩ及び１１（デジタ
ル形態）及び管番号ｎ（種々のＸ線管を接続し得るＸ線
発生器の場合）を、中間メモリー，２及び３からスイッ
チ２０，２１を経て符号化装置４に供給し、これにより
これらプＩＪセット値に基づいてアドレスを形成する。

このアドレス・によりプログラムし得る読取専用（固定
記憶）メモリ（ＰＲＯＭ）５及びランダムアクセスメモ
リ６から成るものが好適である記憶装置の記憶位置を決
定する。このためこれらメモリのアドレス入力端子を符
号化装置４の出力端子に接続する。読取専用メモリ５は
ｎ個（一般に３個以下）の異なるＸ線管の放射特性を記
憶し、符号化装置４により形成されたアドレスを有する
記憶位置は符号化装置４の入力端子に供給された管電流
及び管電圧のプリセット値と関連するフィラメント電流
値を記憶している。このフィラメント電流値は選択され
たＸ線管の属する型の特性を表わす特性値である。しか
し、同一の型のＸ線管の特性は互に僅かに相違する。使
用するＸ線管に対する特性値からのそのフィラメント電
流の偏差をランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）６の同一
のアドレスに補正値として記憶する。謙取専用メモリ５
及びランダムアクセスメモリ６に接続された加算装置７
において、前記特性値と補正値を加算する。このとき補
正値は負とすることができる。両値の和をＸ線露出中バ
ッファメモリ１１に記憶すると共にスィツチ２２及びデ
ジタルーァナログ変換器８を経て、Ｘ線管１０のフィラ
メント電流を調整する制御回路９のプリセツト値入力端
子９１に偽給する。×線管１０はフィラメント電流、管
電流及び管電圧の測定値である値ＩＨ，ＩＲ及びＵＲを
測定する測定装置１０′内に設けられている。“準備”
中、即ちＸ線露出の開始前、上述のようにして制御回路
９のプリセット値入力端子９１に供艶貧された値のフィ
ラメント電流をＸ線管１０のフィラメント回路に流す。

次いで露出を行なうときは、高電圧Ｕ，が慣例の方法で
Ｘ線管に印加され、管電流ＩＲが流れる。同時にスイッ
チ２０及び２１を切換える。このときアナログ信号ＩＲ
がアナログーデジタル変換器１２及びスイッチ２０を経
て符号化装置４の“電流”入力端子に供給される。測定
された管電流ＩＲは、読出されたフィラメント電流値が
この管電流／管電圧の組合わせに必要とされる所要のフ
ィラメント電流値に一致する場合のみ答電流１・のプリ
セット値に一致する。他の場合には測定管電流ＩＲとプ
リセット管電流１，との間に偏差が生じ、この偏差は管
電圧を管電流と無関係に維持する管電圧制御がない場合
には電圧発生器（図示せず）の内部抵抗値を介して管電
圧ＵＲにも影響を与え得る。管電圧の斯る変化を考慮に
入れるために、管電圧も測定し、そのアナログ測定値Ｕ
Ｒをアナログーデジタル変換器１３及びスイッチ２１蓬
て符号化装置４の「電圧」入力端子に供給する。好都合
な電子又は高速電子スイッチ２０及び２１の切換えに要
する時間及びアナログーデジタル変換に要する時間は一
般に露出時間と比較して著しく短かし、。 ．アナログ
ーデジタル変換の終了後、符号化装置４を介して記憶装
置５，６内の、管電圧及び管電流の実際値ＵＲ及びＩＲ
に対応する記憶位置をアドレスする。バッファメモリ１
１の出力端子を減算装置１４の十入力端子に接続し、そ
の一入力端子を読取専用メモリ５の出力端子に接続する
。減算装置１４は、露出開始前に謙出されフィラメント
回路内に実際に供給されたフィラメント電流値と、読取
専用メモリ５内の新たにアドレスされた記憶位置に記憶
されている特性フィラメント電流値との差を発生する。
この差はランダムアクセスメモリ６のデータ入力端子６
１に現われ、書込入力端子６２の書込信号により符号化
装置４で形成されたアドレスに書込まれる。管電圧及び
管電流のプリセット値Ｕ，及び１，が測定された実際値
ＵＲ及びＩＲに一致するときは、メモリ５，６内の“準
備”中と同一のアドレスが得られ、減算装置１４で発生
された差はランダムアクセスメモリ６のもとの内容と一
致する。

しかし、プリセット値と実際値が相違する場合（新しい
管を装着したとき又は管の老化により生ずる）、読取専
用メモリ５からのフィラメント電流値とバッファメモリ
１１からのフィラメント電流値の差が補正値としてラン
ダムアクセスメモリ６内の、管電圧及び管電流の測定さ
れた実際値ＵＲ及びＩＲにより決定されたアドレスに書
込まれる。この（新しい）補正値と読取専用メモリ５内
の対応するアドレスに記憶されている特性値の和は、最
初に読出され、メモリ装置ＩＳ内に記憶されているフィ
ラメント電流値に一致する。従って、すでに測定された
管電圧及び管電流の値ＵＲ及びＩＲが次の露出のために
選択されると、正しいフィラメント電流が読出され、所
望の管電流１１が発生する。

これがため、常規Ｘ線露出処理中に露出パラメータを種
々に変化させることにより管の動作範囲の大部分に対し
自動制御が予め得られる。第１図の回路の上述の部分で
は管電圧及び管電流のプリセット値Ｕ，及び１，の組合
わせと関連する。メモリ５及び６内の対応するアドレス
Ｕ，，１，に記憶されているフィラメント電流を補正す
るのではなく、管電流及び管電圧の測定値ＩＲ及びＵＲ
の組合わせと関連する、メモリ５及び６内の対応するア
ドレスＵＲ，ＩＲに記憶されているフィラメント電流値
を補正している。しかし、管電圧及び管電流のプリセッ
ト値と関連する記憶フィラメント電流値を補正すること
もできる。

これは、スイッチ２２及び制御回路９のスイッチ９２を
切換えて制御回路９を“フィラメント電流制御”から“
管電流制御”に切換えることにより行なうことができる
。この場合、管電流の測定値ＩＲがスイッチ９２を経て
制御回路９の帰還入力端子に帰還されると共に、中間メ
モリ１からプリセツト管電流値１，がスイッチ２２及び
デジタルーアナログ変換器８を経て制御回路９のプリセ
ット値入力端子９１に供給され、Ｘ線管１０の管電流が
プリセット値１１に調整される。フィラメント電流制御
も管電流制御も行ない得る斯る制御回路の構成は前記刊
行物に記載されている。管電流の調整に必要な期間以上
の期間経過後、スイッチ２３を切換えて減算装置１４の
十入力端子を、アナログーデジタル変換器１２の出力端
子に接続すると同時にスイッチ２４を切換え、このスイ
ッチ２４によりアナログーデジタル変換器１２の入力端
子に、測定装置１０′により測定された管電流の実際値
ＩＲの代りにフィラメント電流の実際値ＩＨを供給する
。

同時に、プリセット値１，及びＵ，により決定されるア
ドレスを再び謙出す。この議出し‘ま管電流制御の終了
後にスイッチ２０及び２１を第１図に示す位置に戻すこ
とにより、又は符号化装置４の電流及び電圧入力端子に
〜プリセツト値に一致する管電流及び管電圧の測定値Ｉ
Ｒ及びＵＲを供給することにより行なうことができる。
この場合減算装置１４はアナログ−デジタル変換器１２
の出力端子に存在するフィラメント電流の実際値と読取
専用メモリ５内の管電圧及び管電流のプリセット値Ｕ，
及び１・により決まるアドレスに記憶されている特性フ
ィラメント電流値との差を発生する。この差は、入力端
子６２に供給される書込信号によりランダムアクセスメ
モリ６内の当該アドレスに記憶される。このメモリ６は
非破壊記憶装置として、回路のスイッチオフ後に記憶さ
れているデータが消失されないようにする。Ｘ線管を取
り替えるときは、ランダムアクセスメモリ６の内容をリ
セット入力端子６３により消去する。

新しいＸ線管に適合する補正値の書込みは種々の管電圧
及び管電流の組合わせ順次入力して実現することができ
、この場合補正値は手動調整を必要とすることなく自動
的に得られる。Ｘ線管を他の型のＸ線管と取り替える場
合は原則として謙取専用メモリ５を取り替える必要はな
い。しかし、この場合には大きな補正値を受け入れ得る
ようにする必要がある。また、読取専用メモリ５に１つ
の型の管の特性値のみを記憶し、このメモリを同一の型
の１個以上の各管動作に対し用いることもできる。

この場合には、Ｘ線管に対し読取専用メモリと同一記憶
容量のランダムアクセスメモリが必要とされ、各ランダ
ムアクセスメモリを中間メモリ３により選択し得るよう
にする。しかし、この場合には所要の大容量を有する１
個のランダムアクセスメモリを用い、中間メモリ３によ
り所定のタイプの管と関連するランダムアクセスメモリ
の部分を選択するようにすることもできる。アナログ測
定値ＩＲ及びＵＲを変換するアナログーデジタル変換器
１２及び１３は、第２図に示すように１個のアナログー
デジタル変換器１２３とすることができる。

このためにはアナログ入力信号をアナログーデジタル変
換器１２３に順次に供給する必要があり、このためアナ
ログーデジタル変換器１２３に入力端子を、露出中管電
圧のアナログ値を搬送するりード線とスイッチ２４とに
切換え得るスイッチ３川こ接続し、スイッチ２４により
管電流の実際値又はフィラメント電流の実際値を供給し
得るようにする。このアナログーデジタル変換器の出力
端子をスイッチ３０と同期して動作するスイッチ３１を
経て２個のレジスタ３２及び３３に接続し、これらレジ
スタにより管電流及び管電圧のデジタル実際値をバッフ
ァする。減算装置１４及び加算装置７は第３図に示すよ
うに１個の演算ユニット３４と取り替えることができる
。この演算ユニットは、その一方の入力端子３５を加算
又は減算用に切換え得るようにすると共に読取専用メモ
リ５の出力端子に接続し、他方の入力端子３６をスイッ
チ３７を経てランダムアクセスメモリ６の出力端子又は
デジタル形態のフィラメント電流を供給するスイッチ２
３の何れかに接続する。この計算ユニット３４の出力端
子をスイッチ３８を経てバッファメモリー１の入力端子
又はランダムアクセスメモリ６の入力端子６１に懐続す
る。加算から減算への切換え及びスイッチ３７及び３８
の一方の位置から他方の位置への切換えはＸ線露出の開
始時に同期して行なう。第１〜第３図について述べた処
理（例えばスイッチ２０〜２４，３０及び３１及び３７
及び３８の切換え；メモリ１１及び６へのデータ記憶等
）のタイミングを決定する制御回路はパルス発生器４０
を具え、その動作は完全なＸ線露出が得られるよう調整
される。その構成は当業者に既知である。この制御回路
はマイクロコンピュータやマイクロプロセッサのような
演算ユニットとすることもできる。この場合、この演算
ユニットにより“準備”中における符号化、メモリ装置
５，６のアドレス指定、その出力値の加算及びその中間
記憶を行なうことができると共に、露出の開始後におい
てアナログ−デジタル変換器の出力値に基づいて更新符
号化を行ない、最初に取出された記憶フィラメント電流
値から読取専用メモリ５内に記憶されている特性フィラ
メント電流値を減算すること及びその減算結果をランダ
ムアクスメモリに書込むことも行なうことができる。最
后に、管電流及び管電圧のプリセツト値により決定され
たアドレスを再び調整し、メモリ５からの特性フィラメ
ント電流値を実測フィラメント電流の値ＩＨから減算す
ることもできる。従って、符号化装置、減算装置、加算
装層、全てのスイッチ及びメモリ１，２，３，１１，３
２及び３３を１台のマイクロコンピュータ又はマイクロ
プロセッサで実現することができる。使用するメモリの
記憶容量に応じて、所定の組合わせの管電流及び管電圧
に対するフィラメント電流値のみを記憶することができ
る。

しかし、他の組合わせに対するフィラメント電流値を、
例えば種々のフィラメント電流値間の直線補間により決
めることもできる。この場合には中間メモリ１，２，３
により異なるアドレスを供給し、それらの位置に記憶さ
れている値を読取る必要がある。この場合調整すべき露
出電圧はメモリ５及び６内に記憶されているフィラメン
ト電流値に対する２個のプリセット値間の値とすること
ができる。隣接するプリセット値（所望の露出電流と関
連する）が記憶されている２個のメモリ位置を議取り、
補間装置（図示せず）に供給し、これによりプリセット
値間の直線補間を行なう必要がある（この桶間は前記マ
イクロコンピュータ又はマイクロプロセッサにより容易
に行なうことができる）。上述の場合には、補闇値を１
個のアドレスに書込むことはできず、桶間に使用された
２個のアドレスを指定する必要があり、この補正値の指
定にはフィラメント電流値を決定する補間に使用された
重み係数を使用する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明回路を例示するブロック図、第２図は管
電流及び管電圧のアナログ測定値をデジタル信号に変換
する装置の一例のブロック図、第３図は加算装置及び減
算装置の両機能を行なう演算ユニットの一例のブロック
図である。 １１及びＵ１・・・・・・管電流及び管電圧のプリセッ
ト値、ｎ……管番号、１，２，３，……中間メモリ、４
・・・・・・符号化装置、５，６・・・・・・記憶装置
、５・・・・・・読取専用メモリ、６・・・・・・ラン
ダムアクセスメモリ、７・…・・加算装置、８・・・・
・・デジタルーアナログ変換器、９・・…・制御回路、
１０・・・・・・Ｘ線管、１０′・・・・・・測定装置
、１１・・…・バッファメモリ、ＩＲ及びＵＲ・・・・
・・管電流及び管電圧の測定値、ＩＨ・・・・・・フィ
ラメント電流の測定値、１２，１３・・・…アナログー
デジタル変換器、１４・・・・・・減算袋贋、２０，２
１．２２，２４，９２……スイツチ、６１・…・・デー
タ入力端子、６２…・・・書込入力端子、９１・・・・
・・プリセット値入力端子、１２３・・・・・・アナロ
グーデジタル変換器、２４，３０，３１…・・・スイッ
チ、３２，３３・・・・・・レジスタ、３４・・・・・
・演算ュニツト、２３，３７，３８……スイツチ、３５
，３６・・…・入力端子、４０・・・・・・パルス発生
器。 Ｆ二９．ｌＦ‘９．２ Ｆｉ９．３

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ Ｘ線発生器のＸ線管の管電流及び管電圧のプリセツ
   ト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉからアドレスを形成する符号化装
   置４と、種々の管電流及び管電圧と関連するフイラメン
   ト電流値が記憶される記憶装置であつて、前記アドレス
   に記憶されているフイラメント電流値Ｉ＿Ｈに読出し得
   るアドレス可能記憶装置５，６と、読出されたフイラメ
   ント電流値に応じてＸ線管のフイラメント電流を調整制
   御する制御回路９とを具えるＸ線発生器の管電流を調整
   する回路において、前記読出されたフイラメント電流値
   を記憶し、Ｘ線露出中前記制御回路９を制御するバツフ
   アメモリ１１を設け、Ｘ線露出中測定装置１０′によつ
   て測定された管電流及び管電圧の実際値Ｉ＿Ｒ及びＵ＿
   Ｒを前記管電流及び管電圧のプリセツト値をＩ＿Ｉ及び
   Ｉ＿Ｉの代りに前記符号化装置４に供給して、これら測
   定値からアドレスを形成し、前記バツフアメモリ１１内
   に記憶されているフイラメント電流値を前記記憶装置５
   ，６内の、前記測定値Ｉ＿Ｒ及びＵ＿Ｒから形成された
   アドレスと関連する記憶位置に記憶するよう構成したこ
   とを特徴とするＸ線発生器の管電流調整回路。 ２ Ｘ線発生器のＸ線管の管電流及び管電圧のプリセツ
   ト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉからアドレスを形成する符号化装
   置４と、種々の管電流及び管電圧と関連するフイラメン
   ト電流値が記憶される記憶装置であつて、前記アドレス
   に記憶されているフイラメント電流値Ｉ＿Ｈを読出し得
   るアドレス可能記憶装置５，６と、Ｘ線露出の開始前に
   読出されたフイラメント電流値に応じてＸ線管のフイラ
   メント電流を調整制御すると共にＸ線露出の開始後にプ
   リセツト管電流値Ｉ＿Ｉに応じてＸ線管の管電流を調整
   制御する制御回路９と、少くともフイラメント電流を測
   定する測定装置１０とを具えるＸ線発生器の管電流を調
   整する回路において、前記制御回路９による管電流Ｉ＿
   Ｉの制御中、前記測定装置１０′によりフイラメント電
   流値Ｉ＿Ｈを測定すると共に、前記管電流及び管電圧の
   プリセツト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉを前記符号化装置４に供
   給してこれらプリセツト値からアドレスを形成し、前記
   測定されたフイラメント電流の実際値を前記記憶装置５
   ，６内の、前記プリセツト値から形成されたアドレスと
   関連する記憶位置に記憶するよう構成したことを特徴と
   するＸ線発生器の管電流調整回路。 ３ Ｘ線発生器のＸ線管の管電流及び管電圧のプリセツ
   ト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉ）からアドレスを形成する符号化
   装置４と、種々の管電流及び管電圧と関連するフイラメ
   ント電流値が記憶される記憶装置であつて、前記アドレ
   スに記憶されているフイラメント電流値Ｉ＿Ｈを読出し
   得るアドレス可能記憶装置５，６と、読出されたフイラ
   メント電流値に応じてＸ線管のフイラメント電流を調整
   制御する制御回路９とを具えるＸ線発生器の管電流を調
   整する回路において、前記記憶装置は前記管電流及び管
   電圧のプリセツト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉと関連する特性フ
   イラメント電流値を前記符号化装置で形成されるアドレ
   スを有する記憶位置に記憶した読取専用メモリ５と、補
   正値を記憶するランダムアクセスメモリ６とから成り、
   且つ本回路は更に、前記符号化装置により前記管電流及
   び管電圧のプリセツト値から形成されたアドレスに記憶
   されている前記読取専用メモリ及びランダムアクセスメ
   モリの記憶値を加算する装置７と、該加算装置の出力値
   を記憶しＸ線露出中前記制御回路９を制御するバツフア
   メモリ１１と、Ｘ線露出中測定装置１０′によつて測定
   された管電流及び管電圧の実際値Ｉ＿Ｒ及びＵ＿Ｒを前
   記管電流及び管電圧のプリセツト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉの
   代りに前記符号化装置に供給してこれら測定値からアド
   レスを形成させる手段２０，２１と、前記読取専用メモ
   リ５内の、前記測定値Ｉ＿Ｒ及びＵ＿Ｒから形成された
   アドレスに記憶されている特性フイラメント電流値を前
   記バツフアメモリ１１内に記憶されているフイラメント
   電流値から減算する減算装置１４と、この減算により得
   られた補正値を前記ランダムアクセスメモリ６内の、前
   記測定値Ｉ＿Ｒ及びＵ＿Ｒから形成されたアドレスに書
   込む手段６１，６２とを具えていることを特徴とするＸ
   線発生器の管電流調整回路。 ４ Ｘ線発生器のＸ線管の管電流及び管電圧のプリセツ
   ト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉからアドレスを形成する符号化装
   置４と、種々の管電流及び管電圧と関連するフイラメン
   ト電流値が記憶される記憶装置であつて、前記アドレス
   に記憶されているフイラメント電流値Ｉ＿Ｈを読出し得
   るアドレス可能記憶装置５，６と、Ｘ線露出の開始前に
   読出されたフイラメント電流値に応じてＸ線管のフイラ
   メント電流を調整制御すると共にＸ線露出の開始後にプ
   リセツト管電流値Ｉ＿Ｉに応じてＸ線管の管電流を調整
   制御する制御回路９と、少くともフイラメント電流を測
   定する測定装置１０′とを具えるＸ線発生器の管電流を
   調整する回路において、前記記憶装置は前記管電流及び
   管電圧のプリセツト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉと関連する特性
   フイラメント電流値を前記符号化装置で形成されるアド
   レスを有する記憶位置に記憶した読取専用メモリ５と、
   補正値を記憶するランダムアクセスメモリ６とから成り
   、且つ本回路は更に、前記符号化装置により前記管電流
   及び管電圧のプリセツト値から形成されたアドレスに記
   憶されている前記読取専用メモリ及びランダムアクセス
   メモリの記憶値を加算する加算装置７と、前記制御回路
   ９による管電流Ｉ＿Ｉの制御中前記管電流及び管電圧の
   プリセツト値Ｉ＿Ｉ及びＵ＿Ｉを前記符号化装置４に供
   給してこれらプリセツト値からアドレスを形成させる手
   段２０，２１と、前記読取専用メモリ５内の、前記管電
   流及び管電圧のプリセツト値かに形成されたアドレスに
   記憶されている特性フイラメント電流値を前記管電流の
   制御中に前記測定装置１０′により測定されたフイラメ
   ント電流値から減算する減算装置１４と、この減算によ
   り得られた補正値を前記ランダムアクセスメモリ６内の
   、前記管電流及び管電圧から形成されたアドレスに書込
   む手段６１，６２とを具えていることを特徴とするＸ線
   発生器の管電流調整回路。