JP3331162B2 - ディスプレイ装置の駆動電流を測定するための回路装置および該ディスプレイ装置の駆動およびバイアス方法 - Google Patents
ディスプレイ装置の駆動電流を測定するための回路装置および該ディスプレイ装置の駆動およびバイアス方法Info
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- JP3331162B2 JP3331162B2 JP29414097A JP29414097A JP3331162B2 JP 3331162 B2 JP3331162 B2 JP 3331162B2 JP 29414097 A JP29414097 A JP 29414097A JP 29414097 A JP29414097 A JP 29414097A JP 3331162 B2 JP3331162 B2 JP 3331162B2
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Description
【０００１】
【従来の技術】本発明は一般にディスプレイ装置に関
し、特に少なくとも１個の陰極を有するディスプレイ装
置において駆動電圧をバイアスするための装置および方
法に関する。
し、特に少なくとも１個の陰極を有するディスプレイ装
置において駆動電圧をバイアスするための装置および方
法に関する。
【０００２】陰極線管ディスプレイ装置を駆動するに当
たっての問題点は、これらのディスプレイが同一の製造
仕様に基づいて製造された場合であっても、この様な装
置のブラックレベルすなわちカットオフ電圧が２個また
はそれ以上の装置間でかなり異なる事である。さらに、
個々のディスプレイ装置のカットオフ電圧が、経年変化
の結果としてこの装置の寿命に渡って、また温度変動、
湿度およびその他の要素の結果として装置の動作期間中
に、“ドリフト”することである。
たっての問題点は、これらのディスプレイが同一の製造
仕様に基づいて製造された場合であっても、この様な装
置のブラックレベルすなわちカットオフ電圧が２個また
はそれ以上の装置間でかなり異なる事である。さらに、
個々のディスプレイ装置のカットオフ電圧が、経年変化
の結果としてこの装置の寿命に渡って、また温度変動、
湿度およびその他の要素の結果として装置の動作期間中
に、“ドリフト”することである。
【０００３】どのようなイメージ表現であっても、イメ
ージのコントラストは次式で定義される。
ージのコントラストは次式で定義される。
【０００４】
【数５】
【０００５】なお、Ｃはコントラストパーセンテージ、
ＭＡＸはイメージ中の最高輝度、ＭＩＮはイメージ中の
最小輝度である。コントラストを１００％にするための
唯一の方法は、分子および分母が等しいことであり、こ
れはＭＩＮが０の場合のみ発生する。ディスプレイ装置
において、ＭＩＮが０に近づく限り、ＭＡＸの値に係わ
らず全範囲のコントラストが生成される。従って、ドリ
フトしない最小のブラックレベルによって、ディスプレ
イ装置のコントラストが向上する。
ＭＡＸはイメージ中の最高輝度、ＭＩＮはイメージ中の
最小輝度である。コントラストを１００％にするための
唯一の方法は、分子および分母が等しいことであり、こ
れはＭＩＮが０の場合のみ発生する。ディスプレイ装置
において、ＭＩＮが０に近づく限り、ＭＡＸの値に係わ
らず全範囲のコントラストが生成される。従って、ドリ
フトしない最小のブラックレベルによって、ディスプレ
イ装置のコントラストが向上する。
【０００６】多くの陰極線管ディスプレイ装置は、装置
の特定のカットオフ電圧に従ってこの装置の駆動電圧を
バイアスするために、通常電位差計である機械的調整部
品を有している。通常、駆動電圧のバイアスは、その装
置が最初に製造された時一回調整され、その後は調整さ
れないのが普通である。従って、印加駆動電圧に対する
このようなマニュアルで制御される装置の応答特性は、
この装置の寿命全体ににわたって、およびカットオフ電
圧のドリフトを伴う動作期間中において、変化する。
の特定のカットオフ電圧に従ってこの装置の駆動電圧を
バイアスするために、通常電位差計である機械的調整部
品を有している。通常、駆動電圧のバイアスは、その装
置が最初に製造された時一回調整され、その後は調整さ
れないのが普通である。従って、印加駆動電圧に対する
このようなマニュアルで制御される装置の応答特性は、
この装置の寿命全体ににわたって、およびカットオフ電
圧のドリフトを伴う動作期間中において、変化する。
【０００７】自動受像管バイアス（ＡＫＢ）として知ら
れる方法が、カットオフ電圧における検出変化に伴って
ディスプレイ装置を適宜バイアスするために、開発され
ている。この自動受像管バイアス技術では、２個のテス
ト電圧が連続して陰極線管の陰極またはグリッドに印加
される。第１のテスト電圧は結果としてゼロのブラック
レベルビーム電流となるように選択され、一方第１のテ
スト電圧に対して既知の関係の第２の電圧は予め決めら
れたホワイトレベル電圧を生じるように選択される。第
１の電圧の印加によって生じた測定陰極電流は、実際の
ビーム電流の推定値を決定するために、第２の電圧の印
加によって生じる測定陰極電流と比較される。これによ
って、テストおよび駆動電圧をバイアスするためのバイ
アス電圧が調整される。ＡＫＢは、陰極回路からグリッ
ド回路を含む固定の陰極漏洩電流、ここではＤＣ漏洩と
して言及される、を有効に補正する。
れる方法が、カットオフ電圧における検出変化に伴って
ディスプレイ装置を適宜バイアスするために、開発され
ている。この自動受像管バイアス技術では、２個のテス
ト電圧が連続して陰極線管の陰極またはグリッドに印加
される。第１のテスト電圧は結果としてゼロのブラック
レベルビーム電流となるように選択され、一方第１のテ
スト電圧に対して既知の関係の第２の電圧は予め決めら
れたホワイトレベル電圧を生じるように選択される。第
１の電圧の印加によって生じた測定陰極電流は、実際の
ビーム電流の推定値を決定するために、第２の電圧の印
加によって生じる測定陰極電流と比較される。これによ
って、テストおよび駆動電圧をバイアスするためのバイ
アス電圧が調整される。ＡＫＢは、陰極回路からグリッ
ド回路を含む固定の陰極漏洩電流、ここではＤＣ漏洩と
して言及される、を有効に補正する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ＡＫＢ技術は、陰極線
ディスプレイ管の応答特性およびコントラスト制御を大
幅に向上する一方で、この技術は、熱および機械的スト
レスよってその構成部品間の位置関係が経時的に変化す
るようなディスプレイ装置における構成部品間の相対位
置によって影響を受ける、全漏洩電流成分を的確に特徴
付けてはいない。既知のＡＫＢ回路は全漏洩電流成分を
考慮していないので、ＡＫＢバイアスのみを有するディ
スプレイ管では、ブラックスクリーンを生成するように
バイアスされた駆動電圧を有するビーム電流を間違って
生成すること、または反対にホワイトレベルのビーム電
流を生成するようにバイアスされた場合ブラックスクリ
ーンを間違って生成することが、一般的に観察される。
ディスプレイ管の応答特性およびコントラスト制御を大
幅に向上する一方で、この技術は、熱および機械的スト
レスよってその構成部品間の位置関係が経時的に変化す
るようなディスプレイ装置における構成部品間の相対位
置によって影響を受ける、全漏洩電流成分を的確に特徴
付けてはいない。既知のＡＫＢ回路は全漏洩電流成分を
考慮していないので、ＡＫＢバイアスのみを有するディ
スプレイ管では、ブラックスクリーンを生成するように
バイアスされた駆動電圧を有するビーム電流を間違って
生成すること、または反対にホワイトレベルのビーム電
流を生成するようにバイアスされた場合ブラックスクリ
ーンを間違って生成することが、一般的に観察される。
【０００９】陰極線管の電子ビーム強度に対する詳細な
制御を必要とする例えば眼科診断、ビデオ医療診断、お
よび遠隔医学応用を含む応用に対して、従来のバイアス
方法に固有の限界を克服する駆動電圧バイアス回路が、
緊急に必要とされている。
制御を必要とする例えば眼科診断、ビデオ医療診断、お
よび遠隔医学応用を含む応用に対して、従来のバイアス
方法に固有の限界を克服する駆動電圧バイアス回路が、
緊急に必要とされている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】主な特徴に従いかつ概略
的に述べると、本発明は、電流漏洩の効果を正確に補償
しそれに従って実際のビーム電流を決定することによっ
て、陰極ディスプレイ装置の駆動電圧を正確にバイアス
し所望の実際のビーム電流に従って駆動電圧を決定する
ための、回路装置およびそれに関連する方法に関する。
的に述べると、本発明は、電流漏洩の効果を正確に補償
しそれに従って実際のビーム電流を決定することによっ
て、陰極ディスプレイ装置の駆動電圧を正確にバイアス
し所望の実際のビーム電流に従って駆動電圧を決定する
ための、回路装置およびそれに関連する方法に関する。
【００１１】本発明の重要な特徴は、従来技術の回路と
は異なって、駆動電圧バイアス回路および駆動電圧決定
回路は、陰極回路からグリッド回路への（陰極からグリ
ッドへの）漏洩電流の全成分を考慮していることであ
る。発明者等は、陰極からグリッドへの漏洩における刺
激誘導漏洩電流成分が、全漏洩電流のかなりの部分を構
成していることを見いだした。この漏洩電流の故に、測
定された陰極電流と実際に陰極に流れ込む電流量（実際
のビーム電流）との間に不一致が存在する。本発明者等
は、実際のビーム電流は、刺激誘導漏洩電流を含む全て
の漏洩電流源を明らかにすることによって、詳細に決定
されることを見いだした。
は異なって、駆動電圧バイアス回路および駆動電圧決定
回路は、陰極回路からグリッド回路への（陰極からグリ
ッドへの）漏洩電流の全成分を考慮していることであ
る。発明者等は、陰極からグリッドへの漏洩における刺
激誘導漏洩電流成分が、全漏洩電流のかなりの部分を構
成していることを見いだした。この漏洩電流の故に、測
定された陰極電流と実際に陰極に流れ込む電流量（実際
のビーム電流）との間に不一致が存在する。本発明者等
は、実際のビーム電流は、刺激誘導漏洩電流を含む全て
の漏洩電流源を明らかにすることによって、詳細に決定
されることを見いだした。
【００１２】この回路装置は、テスト電圧を発生するた
めのテスト信号生成ユニットと、バイアス電圧を発生す
るための補正ユニットと、および駆動電圧を実際のビー
ム電流の関数として決定するための回路を含んでいる。
このテスト電圧とバイアス電圧は、回路装置の入力にお
いて合計器に提供され、さらにこの合計器の出力はディ
スプレイ装置の陰極またはグリッドに提供される。
めのテスト信号生成ユニットと、バイアス電圧を発生す
るための補正ユニットと、および駆動電圧を実際のビー
ム電流の関数として決定するための回路を含んでいる。
このテスト電圧とバイアス電圧は、回路装置の入力にお
いて合計器に提供され、さらにこの合計器の出力はディ
スプレイ装置の陰極またはグリッドに提供される。
【００１３】本発明では、互いに周知の関係の少なくと
も３個のテスト電圧が回路装置に引き続いて印加され
る。各テスト電圧がディスプレイ装置に（グリッドまた
は陰極の何れかにおいて）印加された後、テスト電圧の
印加によって生じた外見的な陰極電流が補正ユニットの
記憶（記憶）装置によって記憶（蓄積）される。このよ
うにして、テスト電圧印加サイクルの後、外見的なまた
は測定電流に対する測定値アレイが記憶される。エラー
生成回路は、これらの測定値からおよび印加されたテス
ト電圧値から漏洩電流の正確な特性によってもたらされ
る数学的関係に基づいて、実際の陰極電流を決定する。
そのようにすることによって、発明者等は、グリッドか
ら陰極への漏洩電流は、異なるテスト電圧を形成するた
めグリッドから陰極への電圧が変化するに従って、変化
することを見いだした。グリッドから陰極への漏洩電流
の変化成分は、グリッドから陰極へのＡＣ漏洩電流およ
び刺激誘導漏洩電圧として言及される。
も３個のテスト電圧が回路装置に引き続いて印加され
る。各テスト電圧がディスプレイ装置に（グリッドまた
は陰極の何れかにおいて）印加された後、テスト電圧の
印加によって生じた外見的な陰極電流が補正ユニットの
記憶（記憶）装置によって記憶（蓄積）される。このよ
うにして、テスト電圧印加サイクルの後、外見的なまた
は測定電流に対する測定値アレイが記憶される。エラー
生成回路は、これらの測定値からおよび印加されたテス
ト電圧値から漏洩電流の正確な特性によってもたらされ
る数学的関係に基づいて、実際の陰極電流を決定する。
そのようにすることによって、発明者等は、グリッドか
ら陰極への漏洩電流は、異なるテスト電圧を形成するた
めグリッドから陰極への電圧が変化するに従って、変化
することを見いだした。グリッドから陰極への漏洩電流
の変化成分は、グリッドから陰極へのＡＣ漏洩電流およ
び刺激誘導漏洩電圧として言及される。
【００１４】エラー生成回路によって用いられる数学的
関係は、陰極からグリッドへの刺激誘導漏洩電流、すな
わち従来のバイアス回路によって無視されていた漏洩電
流成分を考慮している。それによって、本発明のエラー
生成回路は、実際の陰極、またはビーム電流を、従来の
バイアス方法の適用によって可能であったものよりもよ
り正確に決定することができる。
関係は、陰極からグリッドへの刺激誘導漏洩電流、すな
わち従来のバイアス回路によって無視されていた漏洩電
流成分を考慮している。それによって、本発明のエラー
生成回路は、実際の陰極、またはビーム電流を、従来の
バイアス方法の適用によって可能であったものよりもよ
り正確に決定することができる。
【００１５】実際のビーム電流が決定されると、補正ユ
ニットは、実際のビーム電流を基準電流と比較し、そし
てこの基準電流と実際のビーム電流間の差に基づいて極
性および強度が変化するエラー電圧を発生する。本発明
のこれらおよびその他の特徴および効果は、好ましい実
施例の詳細な記載を図面と共に参照する事によって、よ
り明瞭になる。
ニットは、実際のビーム電流を基準電流と比較し、そし
てこの基準電流と実際のビーム電流間の差に基づいて極
性および強度が変化するエラー電圧を発生する。本発明
のこれらおよびその他の特徴および効果は、好ましい実
施例の詳細な記載を図面と共に参照する事によって、よ
り明瞭になる。
【００１６】
【発明の実施の形態】図１に本発明の１実施例のブロッ
ク図を示す。回路装置１０は、テスト電圧を発生するた
めのテスト信号発生ユニット１２、およびエラー電圧を
発生するための補正ユニット１４とを含んでいる。テス
ト電圧およびエラー電圧は合計器１６に提供される。合
計器１６は次に、チューブ入力電圧を発生し、この電圧
は図１に示すようにディスプレイチューブ１８の陰極２
０かまたは図２に示すように第１のグリッド２２の何れ
かに提供される。図１の回路において、チューブ入力電
圧Ｖ1 は、チューブ１８の陰極２０に入力されたものと
して示されている。チューブ１８がカラーの陰極線管
（チューブ）（ＣＲＴ）であると、チューブ１８は普通
３個の陰極を有しており、それらは赤、緑および青色の
スペクトルに対するものである。カラーＣＲＴの強度レ
ベル安定化のために、ここに記載したようにバイアス回
路は３個の陰極のそれぞれに供給される必要がある。
ク図を示す。回路装置１０は、テスト電圧を発生するた
めのテスト信号発生ユニット１２、およびエラー電圧を
発生するための補正ユニット１４とを含んでいる。テス
ト電圧およびエラー電圧は合計器１６に提供される。合
計器１６は次に、チューブ入力電圧を発生し、この電圧
は図１に示すようにディスプレイチューブ１８の陰極２
０かまたは図２に示すように第１のグリッド２２の何れ
かに提供される。図１の回路において、チューブ入力電
圧Ｖ1 は、チューブ１８の陰極２０に入力されたものと
して示されている。チューブ１８がカラーの陰極線管
（チューブ）（ＣＲＴ）であると、チューブ１８は普通
３個の陰極を有しており、それらは赤、緑および青色の
スペクトルに対するものである。カラーＣＲＴの強度レ
ベル安定化のために、ここに記載したようにバイアス回
路は３個の陰極のそれぞれに供給される必要がある。
【００１７】回路１０の動作は、チューブ１８の走査を
制御するタイミング信号生成器２４によってコーディネ
ートされる。回路１０は、ラスタ走査の期間において、
タイミング信号生成回路１２が適当なタイミング信号を
スイッチ２５への入力に対して発生して、それによって
駆動電圧ＶD が連続してスイッチ２５の出力に現れるよ
うに構成されている。合計器１６において、各駆動電圧
ＶD は、以前に印加されたテスト電圧の印加に応答して
補正ユニット１４によって通常は既に発生されているエ
ラー電圧即ちバイアス電圧ＶB と結合される。合計器１
６の出力は、チューブ１８に入力される前に増幅器２８
によって増幅されても良い。
制御するタイミング信号生成器２４によってコーディネ
ートされる。回路１０は、ラスタ走査の期間において、
タイミング信号生成回路１２が適当なタイミング信号を
スイッチ２５への入力に対して発生して、それによって
駆動電圧ＶD が連続してスイッチ２５の出力に現れるよ
うに構成されている。合計器１６において、各駆動電圧
ＶD は、以前に印加されたテスト電圧の印加に応答して
補正ユニット１４によって通常は既に発生されているエ
ラー電圧即ちバイアス電圧ＶB と結合される。合計器１
６の出力は、チューブ１８に入力される前に増幅器２８
によって増幅されても良い。
【００１８】ラスタ走査駆動の期間において、電圧は、
完全にラスタ化されたイメージが形成されるまで、チュ
ーブ１８に供給される。しかしながら、本発明によれ
ば、チューブ１８に供給された電圧は、周期的に、テス
ト電圧発生ユニット１２によって供給される一連のテス
ト電圧とされる。テスト電圧モードにおいて、テスト電
圧は合計器１６に印加され、このようなテスト電圧の印
加に応答して補正ユニット１４はバイアス電圧ＶB のた
めに新しい値を処理する。回路１０は、タイミング信号
生成器２４から受信した適切なタイミング信号に応答し
て、スイッチ２５がテスト信号発生器１２から受信した
テスト電圧をラッチするように構成することによって、
テスト電圧を合計器１６に選択的に印加するように、適
応されている。
完全にラスタ化されたイメージが形成されるまで、チュ
ーブ１８に供給される。しかしながら、本発明によれ
ば、チューブ１８に供給された電圧は、周期的に、テス
ト電圧発生ユニット１２によって供給される一連のテス
ト電圧とされる。テスト電圧モードにおいて、テスト電
圧は合計器１６に印加され、このようなテスト電圧の印
加に応答して補正ユニット１４はバイアス電圧ＶB のた
めに新しい値を処理する。回路１０は、タイミング信号
生成器２４から受信した適切なタイミング信号に応答し
て、スイッチ２５がテスト信号発生器１２から受信した
テスト電圧をラッチするように構成することによって、
テスト電圧を合計器１６に選択的に印加するように、適
応されている。
【００１９】回路１０は、周期的なバイアス上で、テス
ト電圧モード動作を開始するように適応されている。典
型的な実施例において、回路１０は、各ラスタ走査の後
一旦テスト電圧モードまたはサイクルに入りそれによっ
てバイアス電圧ＶB が周期的に更新されるように、適応
されている。例えば熱および湿度レベルの変化因子の結
果として回路が駆動される期間にわたって、応答性（予
め決められた強度のホワイトレベルを生成するために必
要な入力電圧によって典型的に示されるように）がドリ
フトすると仮定して、回路１０は、例えば各ラスタ走査
のあと一回、または予め決められた回数のラスタ走査の
後一回、バイアス電圧ＶB を周期的に更新することが重
要である。
ト電圧モード動作を開始するように適応されている。典
型的な実施例において、回路１０は、各ラスタ走査の後
一旦テスト電圧モードまたはサイクルに入りそれによっ
てバイアス電圧ＶB が周期的に更新されるように、適応
されている。例えば熱および湿度レベルの変化因子の結
果として回路が駆動される期間にわたって、応答性（予
め決められた強度のホワイトレベルを生成するために必
要な入力電圧によって典型的に示されるように）がドリ
フトすると仮定して、回路１０は、例えば各ラスタ走査
のあと一回、または予め決められた回数のラスタ走査の
後一回、バイアス電圧ＶB を周期的に更新することが重
要である。
【００２０】本発明において、回路１０がテスト電圧モ
ードで動作している場合、互いに既知の関係の少なくと
も３個のテスト電圧ＶT1’、ＶT2’、ＶT3’が引き続い
て合計器１６に印加される。各テスト電圧が、現在の値
ＶB に基づいてバイアスされさらにディスプレイ装置
（グリッドまたは陰極の何れかにおいて）に印加された
後、バイアスされたテスト電圧の印加によって生じる外
見的な即ち測定陰極電流が、電流センサ３０によって感
知され、適切なタイミング信号に応答してスイッチ３１
によって補正ユニット１４中に入力され、電流測定値は
補正ユニットの適切なメモリ装置中に記憶される。図２
から、グリッド駆動ディスプレイ装置の場合陰極電流は
直接に感知され補正ユニット１４の記憶装置によって記
憶されることが理解される。その結果、テスト電圧列の
印加の後、外見的な即ち測定陰極電流ＩM に対する測定
値アレイが記憶される。補正ユニット１４は、これらの
測定値から、またはある実施例では漏洩電流の正確な特
性によって得られる数学的関係に基づく印加テスト電圧
値から、実際の陰極電流またはビーム電流ＩK の値を決
定する。測定された電流データと、恐らくテスト電圧デ
ータとから、エラー生成回路１４は実際の陰極電流に基
づいてエラー電圧ＶE を発生する。テスト電圧サイクル
の期間においてバイアス電圧ＶB がＩM 値を変化させる
ことによって誤って影響されないように、出力ＶB の発
生を制御する補正ユニット１４の回路部品の応答時間
を、補正ユニット１４へのデータ入力の速度を制御する
タイミング信号生成器２４のクロック速度よりも遅くな
るように選択する。あるいは、タイミング信号生成器２
４は、保持装置に入力するためのタイミング信号を発生
して、テスト電圧印加サイクルが完了するまでＶB が以
前の値に留まるようにすることも可能である。
ードで動作している場合、互いに既知の関係の少なくと
も３個のテスト電圧ＶT1’、ＶT2’、ＶT3’が引き続い
て合計器１６に印加される。各テスト電圧が、現在の値
ＶB に基づいてバイアスされさらにディスプレイ装置
（グリッドまたは陰極の何れかにおいて）に印加された
後、バイアスされたテスト電圧の印加によって生じる外
見的な即ち測定陰極電流が、電流センサ３０によって感
知され、適切なタイミング信号に応答してスイッチ３１
によって補正ユニット１４中に入力され、電流測定値は
補正ユニットの適切なメモリ装置中に記憶される。図２
から、グリッド駆動ディスプレイ装置の場合陰極電流は
直接に感知され補正ユニット１４の記憶装置によって記
憶されることが理解される。その結果、テスト電圧列の
印加の後、外見的な即ち測定陰極電流ＩM に対する測定
値アレイが記憶される。補正ユニット１４は、これらの
測定値から、またはある実施例では漏洩電流の正確な特
性によって得られる数学的関係に基づく印加テスト電圧
値から、実際の陰極電流またはビーム電流ＩK の値を決
定する。測定された電流データと、恐らくテスト電圧デ
ータとから、エラー生成回路１４は実際の陰極電流に基
づいてエラー電圧ＶE を発生する。テスト電圧サイクル
の期間においてバイアス電圧ＶB がＩM 値を変化させる
ことによって誤って影響されないように、出力ＶB の発
生を制御する補正ユニット１４の回路部品の応答時間
を、補正ユニット１４へのデータ入力の速度を制御する
タイミング信号生成器２４のクロック速度よりも遅くな
るように選択する。あるいは、タイミング信号生成器２
４は、保持装置に入力するためのタイミング信号を発生
して、テスト電圧印加サイクルが完了するまでＶB が以
前の値に留まるようにすることも可能である。
【００２１】図１および２が本発明のための２個の可能
な回路構成を示すのに対して、ここに開示された特定の
回路における変更は、既存の駆動電圧バイアス技術、即
ち既知の自動受像管バイアス技術、で周知の回路構成を
本発明に使用することによって実施される。一例を挙げ
れば、陰極バイアスされたディスプレイ装置のグリッド
において駆動電圧バイアス回路のテスト電圧を印加する
ことが知られている。
な回路構成を示すのに対して、ここに開示された特定の
回路における変更は、既存の駆動電圧バイアス技術、即
ち既知の自動受像管バイアス技術、で周知の回路構成を
本発明に使用することによって実施される。一例を挙げ
れば、陰極バイアスされたディスプレイ装置のグリッド
において駆動電圧バイアス回路のテスト電圧を印加する
ことが知られている。
【００２２】エラー生成回路１４によってエラー電圧Ｖ
E を発生する場合に使用される数学的関係は、すべての
陰極漏洩電流を考慮している。この数学的関係を導くた
めに使用される陰極線チューブの等価回路モデル４０を
図３に示す。ここにおいてＩ M は測定された陰極電流で
あり、ＩK は実際の陰極またはビーム電流である。この
等価回路４０から、測定可能な値ＩM は、等価抵抗Ｒ1
およびＲ2 をそれぞれ流れる漏洩電流成分ＩL1およびＩ
L2を含む漏洩電流の結果として、実際の陰極電流ＩK と
は相違している。
E を発生する場合に使用される数学的関係は、すべての
陰極漏洩電流を考慮している。この数学的関係を導くた
めに使用される陰極線チューブの等価回路モデル４０を
図３に示す。ここにおいてＩ M は測定された陰極電流で
あり、ＩK は実際の陰極またはビーム電流である。この
等価回路４０から、測定可能な値ＩM は、等価抵抗Ｒ1
およびＲ2 をそれぞれ流れる漏洩電流成分ＩL1およびＩ
L2を含む漏洩電流の結果として、実際の陰極電流ＩK と
は相違している。
【００２３】第１の漏洩電流ＩL1は、陰極からグリッド
２２以外のチューブ１８に関係した構成部品への電子損
失の結果として生じる。漏洩電流ＩL1は、以下の式によ
って示される。
２２以外のチューブ１８に関係した構成部品への電子損
失の結果として生じる。漏洩電流ＩL1は、以下の式によ
って示される。
【００２４】
【数６】
【００２５】なお、ＶTHおよびＲ1 は、セベニン（Thev
enin）電圧および抵抗要素であり、陰極とグリッド２２
以外のディスプレイ装置の他の全ての構成部品間の電圧
および抵抗要素からなる並列等価回路を示し、装置のヒ
ータ、ビデオ増幅器およびその他の全ての駆動、増幅、
制御および他の回路成分を含んでいる。ＩL2は陰極とグ
リッド間の漏洩電流であり、次のように示される：
enin）電圧および抵抗要素であり、陰極とグリッド２２
以外のディスプレイ装置の他の全ての構成部品間の電圧
および抵抗要素からなる並列等価回路を示し、装置のヒ
ータ、ビデオ増幅器およびその他の全ての駆動、増幅、
制御および他の回路成分を含んでいる。ＩL2は陰極とグ
リッド間の漏洩電流であり、次のように示される：
【００２６】
【数７】
【００２７】なお、ＶK は陰極電圧、ＶG はグリッド電
圧、Ｒ2 は陰極２０とグリッド２２間の未知の抵抗を示
す。引き続いて装置の入力電圧を変化させかつ測定値を
取りながら、測定された陰極電流をモニタすることによ
って、発明者は、陰極２０からグリッド２２への漏洩電
流ＩL2が、陰極２０からグリッド２２への電圧の変化に
伴って変化する成分を、変化しない（ＤＣ漏洩）成分と
同様に有することを見いだした。この変動漏洩電流は陰
極−グリッドそれ自身を横切る電圧の変化によって発生
する（これは、グリッドから陰極へのＡＣ漏洩電流およ
び刺激誘導漏洩電流と称され、以下では刺激誘導漏洩電
流として言及される）。従来のＡＫＢ方法では、漏洩電
流ＩL1と漏洩電流ＩL2の非変化成分のみが考慮される漏
洩であり、刺激誘導漏洩電流は考慮されていない。従来
のＡＫＢ方法では、ＩK に対して得られた値は、刺激誘
導漏洩電流によって実際の陰極電流から常に異なってい
る。ここに開示された装置および方法は、刺激誘導漏洩
電流を考慮している。
圧、Ｒ2 は陰極２０とグリッド２２間の未知の抵抗を示
す。引き続いて装置の入力電圧を変化させかつ測定値を
取りながら、測定された陰極電流をモニタすることによ
って、発明者は、陰極２０からグリッド２２への漏洩電
流ＩL2が、陰極２０からグリッド２２への電圧の変化に
伴って変化する成分を、変化しない（ＤＣ漏洩）成分と
同様に有することを見いだした。この変動漏洩電流は陰
極−グリッドそれ自身を横切る電圧の変化によって発生
する（これは、グリッドから陰極へのＡＣ漏洩電流およ
び刺激誘導漏洩電流と称され、以下では刺激誘導漏洩電
流として言及される）。従来のＡＫＢ方法では、漏洩電
流ＩL1と漏洩電流ＩL2の非変化成分のみが考慮される漏
洩であり、刺激誘導漏洩電流は考慮されていない。従来
のＡＫＢ方法では、ＩK に対して得られた値は、刺激誘
導漏洩電流によって実際の陰極電流から常に異なってい
る。ここに開示された装置および方法は、刺激誘導漏洩
電流を考慮している。
【００２８】図３の等価回路４０を続けて参照すること
によって、実際の陰極電流ＩK を正確に決定するために
エラー生成回路１４によって使用される数学的関係の誘
導方法を詳細に説明する。陰極駆動のＣＲＴの場合を考
えると、それ以上ではビーム電流が存在しない既知のカ
ットオフ電圧ＶC が存在する。即ち、ＶK ≧ＶC に対し
て：
によって、実際の陰極電流ＩK を正確に決定するために
エラー生成回路１４によって使用される数学的関係の誘
導方法を詳細に説明する。陰極駆動のＣＲＴの場合を考
えると、それ以上ではビーム電流が存在しない既知のカ
ットオフ電圧ＶC が存在する。即ち、ＶK ≧ＶC に対し
て：
【００２９】
【数８】
【００３０】であり、かつ
【００３１】
【数９】
【００３２】となる。また、ＶK ＜ＶC に対して、
【００３３】
【数１０】
【００３４】であり、かつ
【００３５】
【数１１】
【００３６】となる。本発明では、テスト電圧モード動
作の期間において、複数の、あるいは一連のテスト電圧
をチューブ１８に印加する。本発明では、これらの電圧
は既知であり、あるいは互いに予め決められた関係にあ
る。さらに本発明では、少なくとも２個のテスト電圧
が、結果としてビーム電流を０とするように選択された
レベル、即ち“ブラックレベル”にあり、さらに少なく
とも１個の電圧は、予め決められた強度の正の実際のビ
ーム電流、即ち“ホワイトレベル”のビーム電流を生じ
るように選択される。もし、陰極駆動ＣＲＴの場合（現
在のバイアス電圧によってバイアスされた後）、
ＶT1’、ＶT2’、ＶT3’を示す３個のテスト電圧ＶK1、
ＶK2およびＶK3が、陰極駆動ＣＲＴの場合陰極２０に印
加され、この時ＶK1およびＶK2はブラックレベル（ゼ
ロ）のビーム電流を結果として生じるように選択され、
さらにＶK3は既知の強度のホワイトレベルビーム電流を
結果として生じるように選択され、その後一連のテスト
電圧の印加に対応する測定された陰極電流ＩM1、ＩM2、
ＩM3は、以下に示す式によって表現される。
作の期間において、複数の、あるいは一連のテスト電圧
をチューブ１８に印加する。本発明では、これらの電圧
は既知であり、あるいは互いに予め決められた関係にあ
る。さらに本発明では、少なくとも２個のテスト電圧
が、結果としてビーム電流を０とするように選択された
レベル、即ち“ブラックレベル”にあり、さらに少なく
とも１個の電圧は、予め決められた強度の正の実際のビ
ーム電流、即ち“ホワイトレベル”のビーム電流を生じ
るように選択される。もし、陰極駆動ＣＲＴの場合（現
在のバイアス電圧によってバイアスされた後）、
ＶT1’、ＶT2’、ＶT3’を示す３個のテスト電圧ＶK1、
ＶK2およびＶK3が、陰極駆動ＣＲＴの場合陰極２０に印
加され、この時ＶK1およびＶK2はブラックレベル（ゼ
ロ）のビーム電流を結果として生じるように選択され、
さらにＶK3は既知の強度のホワイトレベルビーム電流を
結果として生じるように選択され、その後一連のテスト
電圧の印加に対応する測定された陰極電流ＩM1、ＩM2、
ＩM3は、以下に示す式によって表現される。
【００３７】ＶK1およびＶK2は実際のビーム電流が０と
なるように選択されているので、従って、
なるように選択されているので、従って、
【００３８】
【数１２】
【００３９】および
【００４０】
【数１３】
【００４１】であり、一方、
【００４２】
【数１４】
【００４３】となる。式７を書き換えて、
【００４４】
【数１５】
【００４５】とし、さらに
【００４６】
【数１６】
【００４７】および
【００４８】
【数１７】
【００４９】とすると、
【００５０】
【数１８】
【００５１】
【数１９】
【００５２】さらに
【００５３】
【数２０】
【００５４】となる。もし印加テスト電圧ＶK1、ＶK2お
よびＶK3が予め決められているか、あるいは互いに予め
決められた関係にある場合、式１３、１４および１５
は、３個の未知の値Ａ、ＢおよびＩK を有する３式のセ
ットを構成することが理解される。これによって、実際
のビーム電流に対応する可変ＩK を、周知の数学的技法
の適用によって正確に解くことが可能である。
よびＶK3が予め決められているか、あるいは互いに予め
決められた関係にある場合、式１３、１４および１５
は、３個の未知の値Ａ、ＢおよびＩK を有する３式のセ
ットを構成することが理解される。これによって、実際
のビーム電流に対応する可変ＩK を、周知の数学的技法
の適用によって正確に解くことが可能である。
【００５５】本発明の一実施例において、補正ユニット
１４は、テスト電圧ＶK1、ＶK2、Ｖ K3およびこれに対応
する測定陰極電流ＩM1、ＩM2、ＩM3を読み取るように構
成され；かつ式１３、１４、１５のセットを解くように
プログラムされた；マイクロプロセッサを含む。補正ユ
ニット１４中にマイクロプロセッサを含む利点は、もし
望めば、マイクロプロセッサは、決定された実際のビー
ム電流ＩK および基準電流ＩREF との差であるΔＩに伴
って非線形的に変化するバイアス電圧ＶB を生成するよ
うに、簡単にプログラムすることができることである。
１４は、テスト電圧ＶK1、ＶK2、Ｖ K3およびこれに対応
する測定陰極電流ＩM1、ＩM2、ＩM3を読み取るように構
成され；かつ式１３、１４、１５のセットを解くように
プログラムされた；マイクロプロセッサを含む。補正ユ
ニット１４中にマイクロプロセッサを含む利点は、もし
望めば、マイクロプロセッサは、決定された実際のビー
ム電流ＩK および基準電流ＩREF との差であるΔＩに伴
って非線形的に変化するバイアス電圧ＶB を生成するよ
うに、簡単にプログラムすることができることである。
【００５６】式１３、１４および１５のセットを再度考
察すると、
察すると、
【００５７】
【数２１】
【００５８】
【数２２】
【００５９】
【数２３】
【００６０】となり、
【００６１】
【数２４】
【００６２】で置換することによって、
【００６３】
【数２５】
【００６４】が得られる。従って、式２０によって必要
とされる数学的演算を実行するように選択された既知の
回路成分を用いて、ＩK に対して正確な値を決定するよ
うに、補正ユニット１４を適応させることが容易に成し
うる。各テスト電圧を選択して互いが所定の比となるよ
うにする事によって、さらに数式の単純化が可能であ
る。もし、電圧ＶK2およびＶK3間の差が、電圧ＶK1およ
びＶK2間の差と同じであると（即ちＶK2がＶK1とＶK3の
“中間”である場合）、典型的なカットオフ電圧値の範
囲における電圧に対してＶK1−ＶK2＝ＶK2−ＶK3とな
る。従ってもし電圧ＶK2が、ブラックレベル電圧ＶK1と
ホワイトレベル電圧ＶK3の中間のブラックレベル電圧と
して選択された場合、
とされる数学的演算を実行するように選択された既知の
回路成分を用いて、ＩK に対して正確な値を決定するよ
うに、補正ユニット１４を適応させることが容易に成し
うる。各テスト電圧を選択して互いが所定の比となるよ
うにする事によって、さらに数式の単純化が可能であ
る。もし、電圧ＶK2およびＶK3間の差が、電圧ＶK1およ
びＶK2間の差と同じであると（即ちＶK2がＶK1とＶK3の
“中間”である場合）、典型的なカットオフ電圧値の範
囲における電圧に対してＶK1−ＶK2＝ＶK2−ＶK3とな
る。従ってもし電圧ＶK2が、ブラックレベル電圧ＶK1と
ホワイトレベル電圧ＶK3の中間のブラックレベル電圧と
して選択された場合、
【００６５】
【数２６】
【００６６】となる。予め決められた互いの比（例えば
１／３、１／４）をテスト電圧に印加することによっ
て、式２１と類似ではあるがしかし異なるスケール因子
を有する式を構成する事が可能である。グリッド駆動デ
ィスプレイ装置の場合、ＶT1、ＶT2、およびＶT3を示す
テスト電圧ＶG1、ＶG2、およびＶG3を、ＶG1およびＶG2
が通常ブラックレベルのビーム電流を結果として生じ、
かつＶG2がＶG1とＶG3の中間の大きさとして選択される
ようにすると、
１／３、１／４）をテスト電圧に印加することによっ
て、式２１と類似ではあるがしかし異なるスケール因子
を有する式を構成する事が可能である。グリッド駆動デ
ィスプレイ装置の場合、ＶT1、ＶT2、およびＶT3を示す
テスト電圧ＶG1、ＶG2、およびＶG3を、ＶG1およびＶG2
が通常ブラックレベルのビーム電流を結果として生じ、
かつＶG2がＶG1とＶG3の中間の大きさとして選択される
ようにすると、
【００６７】
【数２７】
【００６８】
【数２８】
【００６９】および
【００７０】
【数２９】
【００７１】が得られる。今
【００７２】
【数３０】
【００７３】とすると、
【００７４】
【数３１】
【００７５】
【数３２】
【００７６】および
【００７７】
【数３３】
【００７８】が得られる。その結果、
【００７９】
【数３４】
【００８０】となる。さらに、ＶG2＝１／２（ＶG1＋Ｖ
G3）を適用すると、
G3）を適用すると、
【００８１】
【数３５】
【００８２】が得られる。式２１および式３０によって
示したように、実際のビーム電流に対する近似値は、限
られた数の単純な加算および減算操作を解決のために必
要とする数式によって表すことができる。この単純な加
算および減算操作は、この発明が属する技術分野の当業
者にとって周知のように、例えば抵抗要素、トランジス
タ、オペアンプ、デジタル論理ゲートまたは類似の回路
を含む、加算および／または減算回路成分の未定数の組
み合わせを用いて、実行することができる。
示したように、実際のビーム電流に対する近似値は、限
られた数の単純な加算および減算操作を解決のために必
要とする数式によって表すことができる。この単純な加
算および減算操作は、この発明が属する技術分野の当業
者にとって周知のように、例えば抵抗要素、トランジス
タ、オペアンプ、デジタル論理ゲートまたは類似の回路
を含む、加算および／または減算回路成分の未定数の組
み合わせを用いて、実行することができる。
【００８３】一旦、実際のビーム電流ＩK が決定されま
たはその表現が形成されると、ＩK（これは電圧または
ＩK のバイト表現であることが多い）は基準電流ＩREF
またはその表現と比較される。習慣として、ＩREF は典
型的にホワイトレベル条件の１％に相等するように選択
されるが、予め決められたビーム強度のどれかに対応す
るように選択されても良い。補正ユニット１４は、その
値と極性がＩK およびＩREF 間の差に依存して変化する
バイアス電圧ＶE を、通常、ＩK およびＩREF間の差Δ
Ｉに比例するバイアス電圧を生成する回路成分を使用し
て生成するように、構成される。
たはその表現が形成されると、ＩK（これは電圧または
ＩK のバイト表現であることが多い）は基準電流ＩREF
またはその表現と比較される。習慣として、ＩREF は典
型的にホワイトレベル条件の１％に相等するように選択
されるが、予め決められたビーム強度のどれかに対応す
るように選択されても良い。補正ユニット１４は、その
値と極性がＩK およびＩREF 間の差に依存して変化する
バイアス電圧ＶE を、通常、ＩK およびＩREF間の差Δ
Ｉに比例するバイアス電圧を生成する回路成分を使用し
て生成するように、構成される。
【００８４】図６を参照すると、第１のタイミング区間
においてビームおよび漏洩電流の測定を開始する。保持
スイッチ１４ｇおよびサンプルスイッチ１４ｆはそれぞ
れオープン状態であり、電流ループを切断し、クランプ
スイッチ１４ｎはクローズされ、さらにテスト電圧ＶG2
が第１のグリッド２２に印加される。この目的は、その
値からその後の全ての測定が実行される基準レベルＩM2
を確立する測定電流から、ＤＣレベルをゼロにすること
であって、第１のタイミング区間において補正バイアス
を提供することではない。
においてビームおよび漏洩電流の測定を開始する。保持
スイッチ１４ｇおよびサンプルスイッチ１４ｆはそれぞ
れオープン状態であり、電流ループを切断し、クランプ
スイッチ１４ｎはクローズされ、さらにテスト電圧ＶG2
が第１のグリッド２２に印加される。この目的は、その
値からその後の全ての測定が実行される基準レベルＩM2
を確立する測定電流から、ＤＣレベルをゼロにすること
であって、第１のタイミング区間において補正バイアス
を提供することではない。
【００８５】陰極２０は、オペアンプ１４ｄと抵抗１４
ｃによって形成されるトランスインピーダンス増幅器に
接続される。クランプスイッチ１４ｎがクローズされて
いるので、漏洩電流の合計が容量１４ａに記憶（蓄積）
される。電流は抵抗１４ｍを通ってさらに容量１４ａに
流れ、これはＤＣエラーに比例し従ってＤＣエラーを表
示する。抵抗１４ｍおよび１４ｃの抵抗値はそれぞれ抵
抗１４ｂの抵抗値より小さく；さらにスイッチ１４ｎの
デューティサイクルによって分割された抵抗１４ｍの抵
抗値プラス抵抗１４ｃの抵抗値は、抵抗１４ｂの抵抗値
よりも小さい。ＤＣ漏洩電流エラーは、信号から効率的
に除去され、さらに容量１４ａにかかる電圧はＶG2の印
加期間中の測定電流を表している。その結果、容量１４
ａにかかる電圧は全てのＤＣ電流漏洩をキャンセルする
（またはゼロにする）基準を形成する。
ｃによって形成されるトランスインピーダンス増幅器に
接続される。クランプスイッチ１４ｎがクローズされて
いるので、漏洩電流の合計が容量１４ａに記憶（蓄積）
される。電流は抵抗１４ｍを通ってさらに容量１４ａに
流れ、これはＤＣエラーに比例し従ってＤＣエラーを表
示する。抵抗１４ｍおよび１４ｃの抵抗値はそれぞれ抵
抗１４ｂの抵抗値より小さく；さらにスイッチ１４ｎの
デューティサイクルによって分割された抵抗１４ｍの抵
抗値プラス抵抗１４ｃの抵抗値は、抵抗１４ｂの抵抗値
よりも小さい。ＤＣ漏洩電流エラーは、信号から効率的
に除去され、さらに容量１４ａにかかる電圧はＶG2の印
加期間中の測定電流を表している。その結果、容量１４
ａにかかる電圧は全てのＤＣ電流漏洩をキャンセルする
（またはゼロにする）基準を形成する。
【００８６】第２のタイミング区間では、ＶG2よりもむ
しろテスト電圧ＶG3走査線の印加を開始する。クランプ
スイッチ１４ｎがオープンされ、サンプルスイッチ１４
ｆが次に示す方法でクローズされ、さらにテスト電圧Ｖ
G3が第１のグリッド２２に印加される。容量１４ｈは抵
抗１４ｅを介して充電される。第３のタイミング区間に
おいて、スイッチ状態は変化せず、さらにテスト電圧Ｖ
G1の走査線がＶG3よりもむしろ第１のグリッド２２に印
加される。
しろテスト電圧ＶG3走査線の印加を開始する。クランプ
スイッチ１４ｎがオープンされ、サンプルスイッチ１４
ｆが次に示す方法でクローズされ、さらにテスト電圧Ｖ
G3が第１のグリッド２２に印加される。容量１４ｈは抵
抗１４ｅを介して充電される。第３のタイミング区間に
おいて、スイッチ状態は変化せず、さらにテスト電圧Ｖ
G1の走査線がＶG3よりもむしろ第１のグリッド２２に印
加される。
【００８７】測定電流に比例する電圧は容量１４ａに記
憶（蓄積）される。ＶG1の印加後、ＶG3とＶG1がＶG2に
関して対称（即ちＶG2に関して大きさが同じで極性が反
対である）であるため、ＶG3とＶG1からそれぞれ生じる
刺激誘導漏洩電流もまた対称（即ち、ＶG2から生じる基
準電流ＩM2に関して大きさが同じでかつ極性が反対であ
る）となり、その結果キャンセルされる。容量１４ｈに
かかる残りの電圧は、第３のタイミング区間における実
際のビーム電流、即ちＩK を表す。
憶（蓄積）される。ＶG1の印加後、ＶG3とＶG1がＶG2に
関して対称（即ちＶG2に関して大きさが同じで極性が反
対である）であるため、ＶG3とＶG1からそれぞれ生じる
刺激誘導漏洩電流もまた対称（即ち、ＶG2から生じる基
準電流ＩM2に関して大きさが同じでかつ極性が反対であ
る）となり、その結果キャンセルされる。容量１４ｈに
かかる残りの電圧は、第３のタイミング区間における実
際のビーム電流、即ちＩK を表す。
【００８８】少なくとも２個はカットオフである、既知
の関係の非対称の３個のテスト電圧に対する刺激誘導漏
洩電流を決定するための回路を決定することができる。
カットオフにおいて、テスト電圧変化対このテスト電圧
に対する測定電流応答の変化、ΔＶ／ΔＩは、Ｒ2 を定
義する。一旦Ｒ2 が分かると、テスト電圧は、ΔＶ／Δ
Ｉによって置き換えられたＲ2 の値によって、式２９の
回路実施例によって通常の方法で決定される。
の関係の非対称の３個のテスト電圧に対する刺激誘導漏
洩電流を決定するための回路を決定することができる。
カットオフにおいて、テスト電圧変化対このテスト電圧
に対する測定電流応答の変化、ΔＶ／ΔＩは、Ｒ2 を定
義する。一旦Ｒ2 が分かると、テスト電圧は、ΔＶ／Δ
Ｉによって置き換えられたＲ2 の値によって、式２９の
回路実施例によって通常の方法で決定される。
【００８９】第１のタイミング区間を通してサンプルス
イッチ１４ｆはオープンであり、第２のタイミング区間
の最後の２／３と第３のタイミング区間においてのみク
ローズされる。この結果、第１のグリッド２２と陰極２
０間の容量カップリングの結果として生じる信号のオー
バーシュートが解決される。各走査ラインのためのサン
プル時間は、各タイミング区間において一定である。従
って、電荷をもたらす電圧の積分は、推定的に（利得因
子によって乗算された）一個の加算である。回路実行は
式１〜式３０に記載した数学的モデルと殆ど同じであ
る。
イッチ１４ｆはオープンであり、第２のタイミング区間
の最後の２／３と第３のタイミング区間においてのみク
ローズされる。この結果、第１のグリッド２２と陰極２
０間の容量カップリングの結果として生じる信号のオー
バーシュートが解決される。各走査ラインのためのサン
プル時間は、各タイミング区間において一定である。従
って、電荷をもたらす電圧の積分は、推定的に（利得因
子によって乗算された）一個の加算である。回路実行は
式１〜式３０に記載した数学的モデルと殆ど同じであ
る。
【００９０】第１から第３のタイミング区間の終わりの
時点において、サンプルスイッチ１４ｆはオープンされ
維持スイッチ１４ｇはクローズされる。維持スイッチ１
４ｇは、ディスプレイ装置の走査期間中においてクロー
ズされたままである。測定ビーム電流は、抵抗１４ｉ、
オペアンプ１４ｋおよび容量１４ｊを含むフィードバッ
ク回路によって積分され、さらにビデオ信号に加えられ
るべきＤＣオフセットを生成し、その結果ビデオ信号を
適正にバイアスする。ビデオブラックはカットオフ電圧
に一致する。初期の安定化のために数フレームが必要で
ある。その後ドリフトによって生じた全ての変化が制御
される。
時点において、サンプルスイッチ１４ｆはオープンされ
維持スイッチ１４ｇはクローズされる。維持スイッチ１
４ｇは、ディスプレイ装置の走査期間中においてクロー
ズされたままである。測定ビーム電流は、抵抗１４ｉ、
オペアンプ１４ｋおよび容量１４ｊを含むフィードバッ
ク回路によって積分され、さらにビデオ信号に加えられ
るべきＤＣオフセットを生成し、その結果ビデオ信号を
適正にバイアスする。ビデオブラックはカットオフ電圧
に一致する。初期の安定化のために数フレームが必要で
ある。その後ドリフトによって生じた全ての変化が制御
される。
【００９１】再び図３を参照すると、陰極およびグリッ
ド回路を横切る等価抵抗素子Ｒ2 の存在に加えて、図３
に示すように、漂遊容量素子Ｃが存在する。グリッド駆
動回路におけるテスト電圧波形４２を示す図４から理解
されるように、この漂遊容量は、補正ユニット１４にお
いて実行されるＩK の計算に恐らく影響するであろう状
態から状態へのテスト電圧変化に伴って、測定電流ＩM
にスパイク４３、４４、４５をもたらす。
ド回路を横切る等価抵抗素子Ｒ2 の存在に加えて、図３
に示すように、漂遊容量素子Ｃが存在する。グリッド駆
動回路におけるテスト電圧波形４２を示す図４から理解
されるように、この漂遊容量は、補正ユニット１４にお
いて実行されるＩK の計算に恐らく影響するであろう状
態から状態へのテスト電圧変化に伴って、測定電流ＩM
にスパイク４３、４４、４５をもたらす。
【００９２】式２１および式３０を参照すると、テスト
電圧ＶT2’、ＶT3’、ＶT1’が、Ｖ T1’＞ＶT2’＞
ＶT3’またはＶT1’＜ＶT2’＜ＶT3’であるようにして
引き続いて印加されている場合、電極間容量カップリン
グは累積的であり、ノイズ電流から結果として生じる測
定エラーが共に加算されることが理解される。なお、式
２１によれば、ＶT1’、ＶT2’、およびＶT3’はそれぞ
れＶK1、ＶK2およびＶK3によって表され、式３０によれ
ば、ＶT1’、ＶT2’、およびＶT3’はそれぞれＶG1、Ｖ
G2およびＶG3によって表される。従って、漂遊容量から
結果として生じる測定エラーの可能性を減少させるため
に、テスト電圧は、初期テスト電圧ＶT2’が図４に示す
ようにＶT3’とＶT1’の中間の振幅を持つような順序で
印加されることが好ましい。この方法では、スパイク４
３および４４から結果として生じる測定エラーは互いに
キャンセルされ、漂遊容量から結果として生じる合計の
測定エラーを減少させる。
電圧ＶT2’、ＶT3’、ＶT1’が、Ｖ T1’＞ＶT2’＞
ＶT3’またはＶT1’＜ＶT2’＜ＶT3’であるようにして
引き続いて印加されている場合、電極間容量カップリン
グは累積的であり、ノイズ電流から結果として生じる測
定エラーが共に加算されることが理解される。なお、式
２１によれば、ＶT1’、ＶT2’、およびＶT3’はそれぞ
れＶK1、ＶK2およびＶK3によって表され、式３０によれ
ば、ＶT1’、ＶT2’、およびＶT3’はそれぞれＶG1、Ｖ
G2およびＶG3によって表される。従って、漂遊容量から
結果として生じる測定エラーの可能性を減少させるため
に、テスト電圧は、初期テスト電圧ＶT2’が図４に示す
ようにＶT3’とＶT1’の中間の振幅を持つような順序で
印加されることが好ましい。この方法では、スパイク４
３および４４から結果として生じる測定エラーは互いに
キャンセルされ、漂遊容量から結果として生じる合計の
測定エラーを減少させる。
【００９３】さらにスパイク４３、４４、４５から結果
として生じる測定エラーを減少させるために、測定電流
値をサンプリングしかつ維持するためにタイミング発生
回路７４によって生成されるタイミングパルス４６およ
び４７を発生して、電流波形に対する信号対ノイズ比を
最適化することが好ましい。図４に示すように、その時
点以降電流が安定する時点で立ち上がり、さらに次のテ
スト電圧の印加前の時点で立ち下がりながら、各タイミ
ングパルス４６および４７のパルス幅を出来るだけ長く
する。
として生じる測定エラーを減少させるために、測定電流
値をサンプリングしかつ維持するためにタイミング発生
回路７４によって生成されるタイミングパルス４６およ
び４７を発生して、電流波形に対する信号対ノイズ比を
最適化することが好ましい。図４に示すように、その時
点以降電流が安定する時点で立ち上がり、さらに次のテ
スト電圧の印加前の時点で立ち下がりながら、各タイミ
ングパルス４６および４７のパルス幅を出来るだけ長く
する。
【００９４】ここに記載した、実際の陰極電流ＩK を決
定するための方法は、図５に示すようにビーム強度要求
によって駆動されるＣＲＴ駆動回路の制作にあたって使
用することも可能である。図５を参照すると、回路５０
が通常の駆動電圧ＶD による任意の駆動を成すように構
成されていない限り、補正ユニット１４がバイアス電圧
を合計器１６に供給することが要求されない点を除いて
は、駆動回路５０は回路１０と同じ部品を多く含んでい
る。その代わりに補正回路１４は、計算回路１５によっ
て置き換えられる。この回路１５は、少なくとも２個の
ブラックレベル電圧および少なくとも１個のホワイトレ
ベルのテスト信号がチューブ１８に印加された後、ここ
に記載したような計算方法によって決定された実際の決
定陰極電流を表示する信号出力ＩK を生成する。
定するための方法は、図５に示すようにビーム強度要求
によって駆動されるＣＲＴ駆動回路の制作にあたって使
用することも可能である。図５を参照すると、回路５０
が通常の駆動電圧ＶD による任意の駆動を成すように構
成されていない限り、補正ユニット１４がバイアス電圧
を合計器１６に供給することが要求されない点を除いて
は、駆動回路５０は回路１０と同じ部品を多く含んでい
る。その代わりに補正回路１４は、計算回路１５によっ
て置き換えられる。この回路１５は、少なくとも２個の
ブラックレベル電圧および少なくとも１個のホワイトレ
ベルのテスト信号がチューブ１８に印加された後、ここ
に記載したような計算方法によって決定された実際の決
定陰極電流を表示する信号出力ＩK を生成する。
【００９５】回路５０は、ルックアップテーブル５２を
含み、ここにおいてビーム強度値は、関係するビーム強
度値を生成するのに必要とされる駆動電圧値に関係付け
られる。動作に当たって、通常デジタルデータの形であ
る、要求されたビーム電流値が、その要求に関連付けら
れた駆動電圧を生成するルックアップテーブル５２に入
力される。ルックアップテーブル５２から生成された２
値駆動電圧は、次にＤ／Ａ変換器５４によってアナログ
電圧に変換され、最後にはチューブ１８に印加される。
この点に対して、駆動回路５０は既存の周知の電流要求
駆動の駆動回路にその動作が類似である。しかしなが
ら、その調整方法において、回路５０は既存の電流駆動
の駆動回路から実質的に相違している。既知の電流駆動
の駆動回路におけるルックアップテーブルは、フィード
バックループを使用して調整され、この場合ビーム強度
はチューブ１８の外部に配置された光センサによって測
定される。これとは相違して、実際のビームまたは陰極
電流ＩK をここに記載した一方法を使用して決定するこ
とによって、ビーム強度を直接に測定することができ
る。
含み、ここにおいてビーム強度値は、関係するビーム強
度値を生成するのに必要とされる駆動電圧値に関係付け
られる。動作に当たって、通常デジタルデータの形であ
る、要求されたビーム電流値が、その要求に関連付けら
れた駆動電圧を生成するルックアップテーブル５２に入
力される。ルックアップテーブル５２から生成された２
値駆動電圧は、次にＤ／Ａ変換器５４によってアナログ
電圧に変換され、最後にはチューブ１８に印加される。
この点に対して、駆動回路５０は既存の周知の電流要求
駆動の駆動回路にその動作が類似である。しかしなが
ら、その調整方法において、回路５０は既存の電流駆動
の駆動回路から実質的に相違している。既知の電流駆動
の駆動回路におけるルックアップテーブルは、フィード
バックループを使用して調整され、この場合ビーム強度
はチューブ１８の外部に配置された光センサによって測
定される。これとは相違して、実際のビームまたは陰極
電流ＩK をここに記載した一方法を使用して決定するこ
とによって、ビーム強度を直接に測定することができ
る。
【００９６】回路５０を調整するために使用することが
できる特定の調整方法を参照することにより、この回路
が、例えばステートマシンまたはマイクロプロセッサで
ある、制御装置５６と、（おそらくマイクロプロセッサ
の内部の）カウンタ５８と、通常デジタルマルチプレク
サによって形成されるスイッチ６０を含んでいることが
理解される。制御装置５６およびタイミング信号生成器
２４においてＳＥＬＥＣＴコマンドの受信に応答して、
回路５０は動作の調整モードを開始する。この調整モー
ドにおいて、制御装置５６はカウンタ５８に連続して新
しい調整電圧を生成するように命令し、さらにスイッチ
６０に、ルックアップテーブル駆動信号の代わりにカウ
ンタ信号を、調整電圧を変換するＤ／Ａ変換器５４に提
供するように命令する。
できる特定の調整方法を参照することにより、この回路
が、例えばステートマシンまたはマイクロプロセッサで
ある、制御装置５６と、（おそらくマイクロプロセッサ
の内部の）カウンタ５８と、通常デジタルマルチプレク
サによって形成されるスイッチ６０を含んでいることが
理解される。制御装置５６およびタイミング信号生成器
２４においてＳＥＬＥＣＴコマンドの受信に応答して、
回路５０は動作の調整モードを開始する。この調整モー
ドにおいて、制御装置５６はカウンタ５８に連続して新
しい調整電圧を生成するように命令し、さらにスイッチ
６０に、ルックアップテーブル駆動信号の代わりにカウ
ンタ信号を、調整電圧を変換するＤ／Ａ変換器５４に提
供するように命令する。
【００９７】一方、ＳＥＬＥＣＴコマンドに応答して、
タイミング信号生成器２４はスイッチ２５への入力のた
めにタイミング信号を生成し、それによってテスト信号
源１２からのテスト信号が、ＩK の決定を可能とするよ
うに適正に印加されるようにする。テスト信号は、ルッ
クアップテーブルによって直接生成されても良い。調整
モードにおいて、テスト電圧生成器１２からの２個のブ
ラックレベル電圧およびこのブラックレベル電圧に対し
て既知の関係にある１個のホワイトレベル調整電圧が、
連続的にチューブ１８に印加される。この２個のブラッ
クレベルおよび１個のホワイトレベルの電圧の受信に応
答して、計算ユニット１５はＩK 、印加された以前の調
整電圧から結果として生じる実際のビーム電流、を決定
する。計算ユニット１５は次に、ＩK を示す信号をルッ
クアップテーブル５２に送信し、ここで現在のＩK の値
は調整電圧と相関され、その結果現在の陰極電流ＩK を
生じる。調整電圧値は、カウンタおよび制御装置間とさ
らに制御装置とルックアップテーブル５２間のデータラ
イン６２および６４を介してルックアップテーブル５２
に入力される。調整プロセスは、ルックアップテーブル
５２が、ビーム強度要求に応答して駆動電圧を生成する
ために十分に相関された電流および電圧データを含むま
で続けられる。回路５０は自動的に（例えばスタートア
ップの時点で一回）調整され、またはユーザーが調整が
必要であるとみなした場合に調整される。
タイミング信号生成器２４はスイッチ２５への入力のた
めにタイミング信号を生成し、それによってテスト信号
源１２からのテスト信号が、ＩK の決定を可能とするよ
うに適正に印加されるようにする。テスト信号は、ルッ
クアップテーブルによって直接生成されても良い。調整
モードにおいて、テスト電圧生成器１２からの２個のブ
ラックレベル電圧およびこのブラックレベル電圧に対し
て既知の関係にある１個のホワイトレベル調整電圧が、
連続的にチューブ１８に印加される。この２個のブラッ
クレベルおよび１個のホワイトレベルの電圧の受信に応
答して、計算ユニット１５はＩK 、印加された以前の調
整電圧から結果として生じる実際のビーム電流、を決定
する。計算ユニット１５は次に、ＩK を示す信号をルッ
クアップテーブル５２に送信し、ここで現在のＩK の値
は調整電圧と相関され、その結果現在の陰極電流ＩK を
生じる。調整電圧値は、カウンタおよび制御装置間とさ
らに制御装置とルックアップテーブル５２間のデータラ
イン６２および６４を介してルックアップテーブル５２
に入力される。調整プロセスは、ルックアップテーブル
５２が、ビーム強度要求に応答して駆動電圧を生成する
ために十分に相関された電流および電圧データを含むま
で続けられる。回路５０は自動的に（例えばスタートア
ップの時点で一回）調整され、またはユーザーが調整が
必要であるとみなした場合に調整される。
【００９８】多くの特定の実施例を参照して本発明を説
明したが、本発明の精神および範囲は特許請求の範囲を
参照して決定されるべきである。
明したが、本発明の精神および範囲は特許請求の範囲を
参照して決定されるべきである。
【図１】本発明にかかる、陰極駆動の駆動電圧バイアス
回路のブロック図である。
回路のブロック図である。
【図２】本発明にかかる、グリッド駆動のバイアス回路
のブロック図である。
のブロック図である。
【図３】種々の漏洩電流源をモデル化した、陰極線チュ
ーブの等価回路モデルである。
ーブの等価回路モデルである。
【図４】テスト電圧、相関され測定陰極電流、および好
ましいサンプリングパルスを示すタイミング図である。
ましいサンプリングパルスを示すタイミング図である。
【図５】ルックアップテーブルを使用するディスプレイ
装置の駆動回路を示し、このルックアップテーブルは、
実際の陰極電流を決定するための記載の一方法を用い
て、要求されたビーム強度がこれを達成するために必要
な駆動電圧に相関されるように調整された、ディスプレ
イ装置の駆動回路を示す図である。
装置の駆動回路を示し、このルックアップテーブルは、
実際の陰極電流を決定するための記載の一方法を用い
て、要求されたビーム強度がこれを達成するために必要
な駆動電圧に相関されるように調整された、ディスプレ
イ装置の駆動回路を示す図である。
【図６】３個のスイッチと２個の蓄積容量を含む、変動
漏洩電流を決定する前に測定電流からＤＣ漏洩電流をゼ
ロとするための補正ユニット回路の実施例を示す図であ
る。
漏洩電流を決定する前に測定電流からＤＣ漏洩電流をゼ
ロとするための補正ユニット回路の実施例を示す図であ
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ポール デルシア アメリカ合衆国，ニューヨーク 13027, ボールドウィンズビレ，セネカ ストリ ート 41 審査官 山崎 達也 (56)参考文献 特開 昭50−41427（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−78027（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−111221（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−20491（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−34489（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−126091（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−103091（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−29096（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−77082（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−320165（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−236499（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−244534（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−268536（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−6629（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−178312（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−123436（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−98107（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−251447（ＪＰ，Ａ) 特表 平10−501944（ＪＰ，Ａ) 米国特許4922328（ＵＳ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04N 17/04 G09G 1/00 G09G 5/00
Claims (29)
- 【請求項１】 少なくとも１個の陰極と第１のグリッド
を有し、前記陰極は測定陰極電流と実際のビーム電流を
有するディスプレイ装置の駆動電圧をバイアスするため
の回路装置であって、前記装置は、 一連のテスト電圧を互いに予め決められた関係で周期的
に生成するためのテスト電圧生成手段であって、前記陰
極は前記テスト電圧のそれぞれに対応する測定陰極電流
を有するものと； 前記測定陰極電流値に応答し前記テスト電圧が印加され
た後バイアス電圧を生成するためのバイアス信号生成手
段と；および前記テスト電圧生成手段と前記バイアス信
号生成手段に応答する合計手段であって、前記合計手段
は前記ディスプレイ装置を駆動するための入力電圧を生
成するもの；とを含み、 前記バイアス信号手段は前記測定陰極電流値に依存する
数学的関係に基づいて前記バイアス電圧を生成し、前記
数学的関係は前記陰極回路と前記第１のグリッド回路間
の変動陰極漏洩電流を考慮して導出され、前記変動漏洩
電流は前記陰極回路と前記第１のグリッド回路間の変化
電圧によって生じる電流漏洩である、回路装置。 - 【請求項２】 前記テスト電圧生成手段は少なくとも３
個のテスト電圧を生成するものである、請求項１に記載
の回路装置。 - 【請求項３】 前記テスト電圧生成手段は少なくとも３
個のテスト電圧を生成し、前記テスト電圧の少なくとも
２個はブラックレベルのビーム電流を結果として生じる
ように選択され、前記テスト電圧の少なくとも１個は予
め決められた強度のホワイトレベルのビーム電流を結果
として生じるように選択されている、請求項１に記載の
回路装置。 - 【請求項４】 前記テスト電圧生成手段は第１、第２お
よび第３のテスト電圧を生成し、前記第２のテスト電圧
は前記第１および第２の電圧のほぼ中間の大きさとして
選択され、前記第１および第２の電圧はブラックレベル
のビーム電流を結果として生じるように選択され、前記
第３のテスト電圧は予め決められた強度のホワイトレベ
ルのビーム電流を生成するように選択され、さらに前記
バイアス信号手段は前記対応する測定陰極電流値を記憶
し、さらに前記記憶された電流値に加算または減算処理
を実行して実際のビーム電流を決定するものである、請
求項１に記載の回路装置。 - 【請求項５】 前記バイアス信号手段は、 基準電流を記憶する記憶素子と； 前記実際のビーム電流を決定するための手段と； 前記実際のビーム電流を前記基準ビーム電流と比較する
ための比較手段であって、該比較手段は前記基準電流と
前記ビーム電流間の大きさおよび符号の差に対応する出
力を有するものと；さらに前記比較手段に応答し前記出
力に基づいて前記バイアス電圧を生成するための手段、
を含むものである、請求項１に記載の回路装置。 - 【請求項６】 前記テスト電圧生成手段は予め決められ
た順序で３個の引き続くテスト電圧Ｖi 、Ｖi+1 、Ｖ
i+2 を印加するものであり、ここにおいて前記Ｖi+1 は
前記Ｖi とＶi+2 に関して中間の大きさを有するように
選択され、それによって漂遊容量から結果として生じる
測定陰極電流の測定エラーが減少するものである、請求
項１に記載の回路装置。 - 【請求項７】 前記バイアス信号生成手段は、前記変動
漏洩電流を決定する前に前記測定電流からＤＣ漏洩レベ
ルをゼロとするバイアス回路を含むものである、請求項
１に記載の回路装置。 - 【請求項８】 前記バイアス信号生成手段は最大で３個
のスイッチと最大で２個の蓄積容量を含むものである、
請求項１に記載の回路装置。 - 【請求項９】 測定陰極電流と実際のビーム電流とを有
する陰極回路と；グリッドを含む 第１のグリッド回路と； 前記ディスプレイ装置を駆動するために駆動電圧を生成
するための駆動電圧生成手段と；および前記駆動電圧を
バイアスするための回路装置であって、該回路装置は、 一連のテスト電圧を互いに予め決められた関係で周期的
に生成するためのテスト電圧生成手段であって、前記陰
極は前記テスト電圧のそれぞれに対応する測定陰極電流
を有するものと； 測定陰極電流に応答し前記テスト電圧が印加された場合
エラー電圧を生成するためのエラー電圧生成手段と；お
よび前記テスト電圧生成手段と前記エラー生成手段に応
答する合計手段であって、前記合計手段は前記ディスプ
レイ装置を駆動するための入力電圧を生成するものとを
有し、 前記エラー生成手段は前記測定陰極電流値に依存する数
学的関係に基づいて前記バイアス電圧を生成し、前記数
学的関係は前記陰極回路と前記第１のグリッド回路間の
変動陰極漏洩電流を考慮して導出され、前記変動漏洩電
流は前記陰極回路と前記第１のグリッド回路間の電圧変
化によって生じる電流漏洩である、ディスプレイ装置。 - 【請求項１０】 前記テスト電圧生成手段は少なくとも
３個のテスト電圧を生成するものである、請求項９に記
載のディスプレイ装置。 - 【請求項１１】 前記テスト電圧生成手段は少なくとも
３個のテスト電圧を生成し、前記テスト電圧の少なくと
も２個はブラックレベルのビーム電流を結果として生じ
るように選択され、前記テスト電圧の少なくとも１個は
予め決められた強度のホワイトレベルのビーム電流を結
果として生じるように選択されているものである、請求
項９に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項１２】 前記テスト電圧生成手段は第１、第２
および第３のテスト電圧を生成し、前記第２のテスト電
圧は前記第１および第２の電圧のほぼ中間の大きさとし
て選択され、前記第１および第２の電圧はブラックレベ
ルのビーム電流を結果として生じるように選択され、前
記第３のテスト電圧は予め決められた強度のホワイトレ
ベルのビーム電流を生成するように選択され、さらに前
記エラー生成手段は前記対応する測定陰極電流値を記憶
し、さらに前記記憶された電流値に加算または減算処理
を実行して実際のビーム電流を決定するものである、請
求項９に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項１３】 前記バイアス信号生成手段は、 基準電流を記憶する記憶素子と； 前記実際のビーム電流を決定するための手段と； 前記実際のビーム電流を前記基準ビーム電流と比較する
ための比較手段であって、該比較手段は前記基準電流と
前記ビーム電流間の大きさおよび符号の差に対応する出
力を有するものと； 前記比較手段に応答し前記出力に基づいて前記エラー電
圧を生成するための手段、を含むものである、請求項９
に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項１４】 前記テスト電圧生成手段は予め決めら
れた順序で３個の引き続くテスト電圧Ｖi 、Ｖi+1 、Ｖ
i+2 を印加するものであり、ここにおいて前記Ｖiは前
記Ｖi とＶi+2 に関して中間の大きさを有するように選
択され、それによって漂遊容量から結果として生じる測
定陰極電流の測定エラーが減少するものである、請求項
９に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項１５】 前記エラー生成手段はバイアス回路を
含み、該バイアス回路は前記変動漏洩電流を決定する前
に前記測定陰極電流からＤＣ漏洩レベルをキャンセルす
るものである、請求項９に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項１６】 前記バイアス回路は最大で３個のスイ
ッチと最大で２個の蓄積容量を含むものである、請求項
９に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項１７】 少なくとも１個の陰極回路と第１のグ
リッド回路を有するディスプレイ装置の駆動電圧をバイ
アスするためにバイアス電圧を形成するための方法であ
って、該方法は： 一連のテスト電圧であって、前記テスト電圧の少なくと
も２個はブラックレベルのビーム電流を結果として生じ
るように選択され、前記テスト電圧の少なくとも１個は
ホワイトレベルのビーム電流を結果として生じるように
選択され、前記テスト電圧は互いに予め決められた関係
を有している、前記一連のテスト電圧を合計器に印加
し； 印加された前記テスト電圧から結果として生じる測定陰
極電流値を記憶し；さらに前記陰極回路と前記第１のグ
リッド回路間の電圧変化によって生じる電流漏洩であ
る、前記陰極回路と前記第１のグリッド回路間の変動陰
極漏洩電流を考慮することによって得られる数学的関係
であって、前記測定陰極電流に依存する前記数学的関係
を適用することによって、前記陰極に流れ込む実際の陰
極電流ＩK を決定する；各ステップを具備する、バイア
ス電圧を印加する方法。 - 【請求項１８】 前記方法は前記決定ステップの後に、
さらに、 実際の陰極電流の前記決定された値を予め決められたホ
ワイトレベルのビーム強度を表す基準電流と比較し；さ
らに前記実際の陰極電流値と前記基準電流間の差に依存
するバイアス電圧を生成する；各ステップを具備する、
請求項１７に記載の方法。 - 【請求項１９】 前記決定ステップにおいて、前記実際
の陰極電流は、 【数１】 を適用することによって計算されるものであり、前記Ｖ
K1およびＶK2は前記陰極に印加される印加ブラックレベ
ルテスト電圧であり、ＶK3は前記陰極に印加される印加
ホワイトレベルテスト電圧であり、さらにＩM1、ＩM2、
ＩM3は印加されたテスト電圧の結果として生じる測定陰
極電流である、請求項１７に記載の方法。 - 【請求項２０】 前記決定ステップにおいて、前記実際
の陰極電流は、 【数２】 を適用することによって計算されるものであり、第２の
ブラックレベルテスト電圧は、第１のブラックレベルテ
スト電圧とホワイトレベルテスト電圧間のほぼ中間の比
に選択され、さらにＩM1、ＩM2、ＩM3は印加されたテス
ト電圧の結果として生じる測定陰極電流である、請求項
１７に記載の方法。 - 【請求項２１】 前記決定ステップにおいて、前記実際
の陰極電流は、 【数３】 を適用することによって計算されるものであり、前記Ｖ
G1、ＶG2は前記グリッドに印加される印加ブラックレベ
ルテスト電圧であり、ＶG3は前記陰極に印加される印加
ホワイトレベルテスト電圧であり、Ｒ 2 は前記陰極と前
記第１のグリッド間の等価抵抗であって前記測定陰極電
流変化に対する前記テスト電圧変化の比によって定義さ
れ、さらにＩM1、ＩM2、ＩM3は印加されたテスト電圧の
結果として生じる測定陰極電流である、請求項１７に記
載の方法。 - 【請求項２２】 前記決定ステップにおいて、前記実際
の陰極電流は、 【数４】 を適用することによって計算されるものであり、第２の
ブラックレベルテスト電圧は、第１のブラックレベルテ
スト電圧とホワイトレベルテスト電圧間のほぼ中間の比
に選択され、さらにＩM1、ＩM2、ＩM3は印加されたテス
ト電圧の結果として生じる測定陰極電流である、請求項
１７に記載の方法。 - 【請求項２３】 グリッドを有するＣＲＴディスプレイ
装置の陰極に流れ込む実際の陰極電流を決定するための
方法であって、該方法は： 一連のテスト電圧であって、前記テスト電圧の少なくと
も２個はブラックレベルのビーム電流を結果として生じ
るように選択され、前記テスト電圧の少なくとも１個は
ホワイトレベルのビーム電流を結果として生じるように
選択され、前記テスト電圧は互いに予め決められた関係
を有している、前記一連のテスト電圧を合計器に印加
し； 印加された前記テスト電圧から結果として生じる測定陰
極電流値を記憶し；さらに前記陰極回路と前記グリッド
回路間の変化電圧によって生じる電流漏洩である、前記
陰極回路と前記グリッド回路間の変動陰極漏洩電流を考
慮することによって得られる数学的関係であって、前記
測定陰極電流に依存する前記数学的関係を適用すること
によって、前記陰極に流れ込む実際の陰極電流ＩK を決
定する；各ステップを具備する、実際の陰極電流を決定
するための方法。 - 【請求項２４】 前記数学的関係はさらに前記印加テス
ト電圧に依存するものである、請求項２３に記載の方
法。 - 【請求項２５】 さらに、前記ＣＲＴディスプレイ装置
の駆動電圧を決定するステップを含み、該駆動電圧決定
ステップは： 前記合計器に一連の調整電圧を印加し； 前記数学的関係を適用することによて、各調整電圧に対
するＩK の値を決定し；さらに各ＩK を対応する調整電
圧と相関させるメモリルックアップテーブルを形成す
る、各ステップを含むものである、請求項２３に記載の
方法。 - 【請求項２６】 少なくとも１個の陰極と第１のグリッ
ドを有するディスプレイ装置の駆動電圧を決定するため
の回路装置であって、該装置は： 一連の調整駆動電圧を生成するためのテスト電圧生成手
段と； 各調整電圧に対応する実際のビーム電流を決定するため
の実際の電流測定手段と； 各実際のビーム電流を対応する調整電圧と相関させるメ
モリを形成するためのルックアップテーブル形成手段；
とを備え、 前記メモリは所望の実際のビーム電流値に従ってアクセ
スされ、さらに相関された調整電圧値が前記駆動電圧と
して前記陰極へ印加されるために検索されるものであ
り、 少なくとも１個の調整電圧は予め決められた強度のホワ
イトレベルの陰極電流を結果として生じ； 前記テスト電圧生成手段は、前記予め決められた強度の
前記調整電圧と付加的に結果としてブラックレベルの陰
極電流を生じる少なくとも２個のディスプレイ装置駆動
電圧を周期的に生成するための手段を含み、前記周期的
駆動電圧は互いに既知の関係にあり、かつ前記周期的駆
動電圧が複数の測定陰極電流値に依存する数学的関係に
従って印加された後バイアス電圧を生成するために、前
記周期的駆動電圧に対応する前記実際のビーム電流値に
応答するバイアス信号生成手段をさらに含み、前記数学
的関係は前記陰極回路と前記第１のグリッド回路間の変
動陰極漏洩電流を考慮して導出され、前記変動漏洩電流
は前記陰極回路および前記第１のグリッド回路間の電圧
変動によって生じる漏洩電流である、 回路装置。 - 【請求項２７】 前記テスト電圧生成手段は、ブラック
レベルの陰極電流を結果として生じる少なくとも２個の
ディスプレイ装置駆動電圧を生成するための手段を含む
ものである、請求項２６に記載の回路装置。 - 【請求項２８】 前記テスト電圧生成手段はさらに、 結果としてブラックレベル陰極電流を生じる一連の２個
のディスプレイ装置駆動電圧と、さらに結果としてホワ
イトレベルの陰極電流を生じる少なくとも１個のディス
プレイ装置駆動電圧とを周期的に生成する手段であっ
て、前記周期的に生成された駆動電圧は互いに予め決め
られた関係にあり、さらに周期的に生成された駆動電圧
のそれぞれは対応する測定陰極電流を有するものと； 各調整電圧に対応する前記陰極に流れ込む前記測定電流
に応答し、前記周期的に生成されるディスプレイ駆動電
圧が印加された後バイアス電圧を生成するためのバイア
ス信号生成手段と； 前記調整電圧に対応する電圧を生成するための駆動手段
と；および前記調整電圧および前記バイアス信号生成手
段に応答する合計手段であって、該合計手段は前記ディ
スプレイ装置を駆動するために入力電圧を生成するも
の；を含む、請求項２６に記載の回路装置。 - 【請求項２９】 前記バイアス信号生成手段は、前記陰
極回路と前記第１のグリッド回路間の変動陰極漏洩電流
を考慮することによって得られる複数の測定陰極電流値
に依存する数学的関係に従って前記バイアス電圧を生成
し、前記変動漏洩電流は前記陰極回路および前記第１の
グリッド回路間の変化電圧によって生じる電流漏洩であ
る、請求項２８に記載の回路装置。
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