JPS635877B2

JPS635877B2 -

Info

Publication number: JPS635877B2
Application number: JP54083272A
Authority: JP
Inventors: Toshio Nakayama; Kunio Shibata
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1979-06-30
Filing date: 1979-06-30
Publication date: 1988-02-05
Also published as: JPS567399A

Description

【発明の詳細な説明】この発明はＸ線管電流調整装置に関し、特にＸ
線装置の管電圧と管電流に対応するフイラメント
電流、電圧または電力を決定することのできるＸ
線管電流調整装置に関する。

一般にＸ線装置において、管電圧とフイラメン
ト電流、電圧または電力とを定めるとＸ線発生中
の管電流は一義的に定まる。なお説明の便宜上、
以下フイラメント電流によつて管電流を制御する
場合についてのみ説明する。従来のＸ線装置にお
いては、Ｘ線発生中に必要とされる管電流をＸ線
発生以前にフイラメント電流を適当に調整するこ
とにより設定しておき、Ｘ線発生時にこのフイラ
メント電流により過熱されたフイラメントより所
望の管電流が発生するようにしている。このため
従来のＸ線装置のフイラメント回路は管電圧、管
電流の各々に対応してフイラメント電流が調整で
きるよう多くの調整部材を有しており、これらの
調整箇所を逐一試曝しつつ合せている。したがつ
てこれらの調整作業は極めて煩雑なものであると
云わなければならない。

この煩雑な作業を解消すべく管電圧と管電流の
プリセツト値に対応するフイラメント電流を、管
電圧と管電流のプリセツト値に対応するアドレス
に記憶しておき、管電圧と管電流とをプリセツト
した場合にそのプリセツト値に対応するアドレス
からフイラメント電流を読み出す構成の装置が提
案されている（特開昭53−95593）。ところがこの
装置の場合、あらかじめ記憶されている内容は各
型のＸ線管の代表値である。同一の型のＸ線管に
おいても放射特性のバラツキは避けられないもの
であり、また経年変化も生じるため、試曝を行な
い記憶された値と実際の値とが異なつている場合
には、この誤差を補正するように構成されてい
る。しかしながらこの試曝は管電圧と管電流のプ
リセツト値の多数の組合せ毎に行なう必要がある
ため多数回行なわなければならず、やはり煩雑な
作業となつている。

本発明は、数少ない試曝で管電圧と管電流に対
応するフイラメント電流（電圧または電力）を決
定し、これを記憶することができるようにしたＸ
線管電流調整装置を提供することを目的とする。

以下本発明の実施例について図面を参照しなが
ら説明する。第１図においてまずＸ線管１６に試
曝時に高電圧発生回路１７より単相１パルス波形
の電圧（第２図参照）が印加されるように構成し
ておく。そしてフイラメント電流設定器１４にお
いてＸ線管１６のフイラメント電流の制限範囲内
の値をあらかじめ定める。こうして定められたフ
イラメント電流はスイツチ１８を経てフイラメン
ト制御回路１５に送られ、Ｘ線管１６のフイラメ
ント電流が前記のあらかじめ定められた値となる
ようにする。Ｘ線の曝射と同時に管電圧測定器１
と管電流測定器２とにより管電圧および管電流の
測定を開始する。この管電圧および管電流はサン
プリング発振器７からのサンプリングパルスのタ
イミングでAD変換器３，４においてサンプリン
グされてデジタル信号とされる（第２図参照）。
このデジタル信号は中間メモリ５，６に発振器８
のパルスのタイミングで順次メモリアドレスを変
更しながら記憶される。この中間メモリ５，６は
消去可能なメモリであり、そのアドレス数は前記
サンプリングの数だけあればよい。

この中間メモリ５，６に記憶された管電圧およ
び管電流の測定値は全て順次RAM（ランダムア
クセスメモリ）９に記憶される。更にフイラメン
ト電流設定器１４において先に設定したフイラメ
ント電流と異なつた設定を行ない試曝を行なつ
て、この時の管電圧および管電流の測定値のサン
プリングされたものを前述と同様にRAM９に記
憶させる。このような試曝を何度か行なつてフイ
ラメント電流、管電圧、管電流に関する種々のデ
ータを得る。これらのデータは演算回路１０に取
り込まれ管電圧および管電流の各組合せに対応す
るフイラメント電流値が決定される。前述のよう
に２以上のフイラメント電流を設定した場合、演
算回路１０において例えば隣り合う２つのフイラ
メント電流値における管電圧値および管電流値間
の直線補間などの操作により設定可能な管電圧お
よび管電流の組合せにおけるフイラメント電流値
を算出することができる。このようにして算出さ
れたフイラメント電流値は管電圧および管電流の
値と対応したアドレスをもつROM（リードオン
リーメモリ）１１にその該当するアドレスに記憶
される。

こうして当該Ｘ線管１６の実際の放射特性、す
なわち管電圧、管電流およびフイラメント電流の
関係がROM１１に記憶されることになる。この
ようなROM１１に対するデータの記憶が終了す
ればこのＸ線装置は使用可能な状態となる。使用
者は管電圧および管電流設定器１２により管電圧
および管電流のプリセツト値を決める。するとこ
のプリセツト値によりROM１１の読み出しアド
レスが指定されて対応するフイラメント電流値が
読み出される。この読み出されたフイラメント電
流値はデジタル形態であるためDA変換器１３に
よりアナログ信号に変換された後、切り換えられ
たスイツチ１８を通じてフイラメント制御回路１
５に送られる。スイツチ１８は調整時（試曝時）
にはフイラメント電流設定器１４側に切り換えら
れているが、実際の使用の際にはDA変換器１３
側に切り換えられている。こうして管電圧および
管電流のプリセツト値を得るのに必要なフイラメ
ント電流がＸ線管１６に流れてフイラメントが加
熱されることになる。

なお第２図は上記の管電圧および管電流の測定
値のサンプリングの様子を図示したものである
が、サンプリング発振器７の発振周期は単相１パ
ルスの期間に十分なサンプリング数を得るために
十分短いものとし、またAD変換器３，４の変換
スピードは十分速いものとする。なおこのサンプ
リング発振器７を周波数可変形のもので構成し、
試曝ごとに周波数を変えれば同一条件の試曝でも
異なつたタイミングでのサンプリングが可能であ
るので異なつた種々の管電圧および管電流の値が
得られる。

第３図は第２の実施例の一部の構成を示してい
る。他の構成は第１図と同様であるから省略して
いる。この第３図では管電圧設定器３１によりあ
らかじめ管電圧を設定しておく。この管電圧の設
定値をe₁、e₂、…、e_oとしておき、比較器３２に
おいて管電圧測定器１からの管電圧の測定値が第
４図に示すように設定値e₁、e₂、…、e_oと一致し
たことを検出する。一致した時、比較器３２から
出力が生じてワンシヨツトマルチバイブレータ３
３を動作させて第４図に示すようなサンプリング
パルスを得る。このサンプリングパルスでAD変
換器４を動作させて管電流測定器２からの管電流
の測定値をサンプリングしてAD変換する。この
AD変換器４からの出力は第１図の場合と同様に
中間メモリ６を経てRAM９に送られる。また管
電圧の設定値はAD変換器３においてデジタル信
号とされ、中間メモリ５を経てRAM９に送られ
る。

したがつてこの第３図の実施例では管電圧をパ
ラメータとしたＸ線放射特性のデータが得られる
ため、実際上より正確なデータを得ることができ
る。すなわちこの管電圧設定器３１において定め
る管電圧を実際の使用の際に設定するであろう管
電圧と同一の値とすることにより、より直接的な
データが得られるためである。上記の第１の実施
例では管電圧が変化していく時これとは無関係な
サンプリングパルスのタイミングでサンプリング
しているため、得られるデータはどのような管電
圧のものになるかが事前に分からなかつたのであ
るが、ここでは、予め定めた設定値e₁、e₂、e₃、
…に関するデータが得られる。そこで、第１の実
施例では実際に設定しようとする管電圧に関する
データが直接得られなくて、その近辺の管電圧に
関するデータが得られることが多く、実際に設定
しようとする管電圧のデータは補間計算などによ
つて求める必要があるが、この実施例ではe₁、
e₂、e₃、…を実際に採用するであろう管電圧を定
めることにより、その採用するはずの管電圧に管
するデータが補間計算などを介さずに直接得ら
れ、このように直接的である分だけ正確なデータ
が得られるのである。なお、この第３図の実施例
では比較器としてアナログ比較器を用いている
が、管電圧の測定値をAD変換した後デジタル信
号の段階で比較するようデジタル比較器を用いて
もよい。また管電圧の設定値と管電圧の測定値と
を比較し、両者が一致したときに管電流の測定値
をサンプリングするよう構成しているが、逆に管
電流の設定値と管電流の測定値とを比較し、両者
が一致したとき管電圧の測定値をサンプリングす
るよう構成してもよい。このようにすると管電流
をパラメータとしたＸ線放射特性のデータが得ら
れる。

上記の各実施例ではROM１１は記憶内容を消
去し書き換え可能なものとしておいて、Ｘ線管１
６を交換した場合に上記の操作を行ない、実際に
使用するＸ線管１６のＸ線放射特性に関するデー
タを新らたに読み込むことができる。

また試曝は高電圧発生回路１７から単相１パル
スの波形を加えて行なうようにしているが、例え
ばコンデンサの充放電波形のような管電圧および
管電流の値が変化する波形であれば十分である。
演算回路１０はマイクロコンピユータのような演
算ユニツトで構成することができる。

以上、実施例について述べたように本発明によ
れば、実際に使うＸ線管に関するＸ線放射特性を
実際に高電圧を印加した状態で測定するため、極
めて正確なＸ線放射特性のデータを得ることがで
きる。しかも、試爆中に変化する管電圧を用い、
１回の試爆中に多数サンプリングしてその変化し
ていく管電圧の各値についてデータを求めている
ので、１回の試爆で多数のデータが得られ、管電
圧を種々に設定するというような手間も不要であ
る。そのため、操作が容易で試爆回数も少なくて
よく、データの収集は短時間で終了する。またＸ
線管の交換時のデータの書き換えも容易であり、
メーカとしてはＸ線放射特性のデータを何ら記憶
させておかず全てのメモリを白紙の状態で装置に
組込み、データの書き込みは実際にＸ線管を装着
した状態で行なうことが可能となる。さらに管電
圧値または管電流値の一方が予め定められた値に
一致したときに他方の値をサンプリングするよう
にすれば、設定しようとする値に関するデータが
直接得られ、設定しようとする値の近辺のデータ
しか得られずこれから類推するというような迂遠
な方法を避けることができ、正確なデータが得ら
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示すブロツク
図、第２図は第１図の動作を説明するための波形
図、第３図は第２の実施例の一部を示すブロツク
図、第４図は第３図の動作を説明するための波形
図である。１…管電圧測定器、２…管電流測定器、３，４
…AD変換器、５，６…中間メモリ、７…サンプ
リング発振器、９…RAM、１０…演算回路、１
１…ROM、１２…管電圧および管電流の設定
器、１３…DA変換器、１４…フイラメント電流
設定器、１５…フイラメント制御回路、１６…Ｘ
線管、１７…高電圧発生回路、３１…管電圧設定
器、３２…比較器、３３…ワンシヨツトマルチバ
イブレータ。

Claims

【特許請求の範囲】１試曝のためのフイラメント電流、電圧または
電力設定器と、試曝中にＸ線管に加える電圧が変
化する高電圧発生回路と、試曝中の管電圧を測定
する装置と、試曝中の管電流を測定する装置と、
測定された管電圧値および管電流値を所定のタイ
ミングでサンプリングするサンプリング回路と、
このサンプリングされた電圧値および電流値を設
定されたフイラメント電流値、電圧値または電力
値とにより演算を行なう演算回路と、この演算結
果に基づき管電圧値と管電流値とに対応するフイ
ラメント電流値、電圧値または電力値を当該管電
圧値および管電流値により定まるアドレスに記憶
する記憶回路とを有し、管電圧と管電流のプリセ
ツト値から前記記憶回路の読み出しアドレスを指
定して読み出されたフイラメント電流値、電圧値
または電力値でＸ線管を制御するようにしたＸ線
管電流調整装置。２前記サンプリング回路は周波数可変形の発振
器によりサンプリングタイミングが決められるよ
うにしていることを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載のＸ線管電流調整装置。３試曝のためのフイラメント電流、電圧または
電力設定器と、試曝中にＸ線管に加える電圧が変
化する高電圧発生回路と、試曝中の管電圧を測定
する装置と、試曝中の管電流を測定する装置と、
測定された管電圧値または管電流値のいずれか一
方があらかじめ定められた値に一致したときに他
方の値をサンプリングするサンプリング回路と、
こうしてサンプルングされた値とこの値に対応す
る設定値と設定されたフイラメント電流値、電圧
値または電力値とにより演算を行なう演算回路
と、この演算結果に基づき管電圧値と管電流値と
に対応するフイラメント電流値、電圧値または電
力値を当該管電圧値および管電流値により定まる
アドレスに記憶する記憶回路とを有し、管電圧と
管電流のプリセツト値から前記記憶回路の読み出
しアドレスを指定して読み出されたフイラメント
電流値、電圧値または電力値でＸ線管を制御する
ようにしたＸ線管電流調整装置。