JPH0712852A - 波形生成機能付き波形測定装置 - Google Patents
波形生成機能付き波形測定装置Info
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- JPH0712852A JPH0712852A JP15326193A JP15326193A JPH0712852A JP H0712852 A JPH0712852 A JP H0712852A JP 15326193 A JP15326193 A JP 15326193A JP 15326193 A JP15326193 A JP 15326193A JP H0712852 A JPH0712852 A JP H0712852A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】波形測定装置内で所望の波形を定義・生成し、
測定された対象回路の出力波形との任意演算処理に供す
ることにより、前記定義・生成した波形と測定波形との
比較を容易にすると共に装置自身の特性の影響も軽減さ
せ得るような波形測定装置を実現する。 【構成】ＡＤ変換した入力信号を格納する測定波形メモ
リと、波形定義の要素を定めて理想波形を生成し、その
生成された波形データを生成波形メモリに順次格納する
と共に、生成波形メモリの波形データを読み出しアナロ
グ化して出力する機能を有する任意波形発生手段と、前
記測定波形メモリと生成波形メモリの各波形データをも
とに所定の演算を行うデータ処理演算回路と、このデー
タ処理演算回路の演算結果を数値または図形によって表
示する表示手段を具備する。
測定された対象回路の出力波形との任意演算処理に供す
ることにより、前記定義・生成した波形と測定波形との
比較を容易にすると共に装置自身の特性の影響も軽減さ
せ得るような波形測定装置を実現する。 【構成】ＡＤ変換した入力信号を格納する測定波形メモ
リと、波形定義の要素を定めて理想波形を生成し、その
生成された波形データを生成波形メモリに順次格納する
と共に、生成波形メモリの波形データを読み出しアナロ
グ化して出力する機能を有する任意波形発生手段と、前
記測定波形メモリと生成波形メモリの各波形データをも
とに所定の演算を行うデータ処理演算回路と、このデー
タ処理演算回路の演算結果を数値または図形によって表
示する表示手段を具備する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、デジタルオシロスコー
プのような波形測定装置であって、詳しくは任意の波形
を定義し生成することのできる機能を有し、その生成さ
れた波形と他方の測定波形との間の相違を適宜の形式で
表示することができるようにした波形測定装置に関する
ものである。
プのような波形測定装置であって、詳しくは任意の波形
を定義し生成することのできる機能を有し、その生成さ
れた波形と他方の測定波形との間の相違を適宜の形式で
表示することができるようにした波形測定装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、対象回路の特性、例えば増幅
回路等の入出力特性を調べるような場合には、その対象
回路に与える基準となる信号（基準信号）の波形とその
基準信号が入力されたときの対象回路の出力信号の波形
とを比較し、その差異により対象回路の特性を類推する
ことがある。
回路等の入出力特性を調べるような場合には、その対象
回路に与える基準となる信号（基準信号）の波形とその
基準信号が入力されたときの対象回路の出力信号の波形
とを比較し、その差異により対象回路の特性を類推する
ことがある。
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな場合、入力と出力の２つの信号を同時に測定するた
めに２つの測定装置が使用されるが、２つの測定装置が
同じ特性であるという保証はなく、また入力信号として
与えられる信号自体も所望のＳ／Ｎ比であることはあま
り望めず、さらにまた測定装置自身の特性を差し引いた
測定もできない等の種々の問題があった。
うな場合、入力と出力の２つの信号を同時に測定するた
めに２つの測定装置が使用されるが、２つの測定装置が
同じ特性であるという保証はなく、また入力信号として
与えられる信号自体も所望のＳ／Ｎ比であることはあま
り望めず、さらにまた測定装置自身の特性を差し引いた
測定もできない等の種々の問題があった。
【０００３】本発明の目的は、このような点に鑑みてな
されたもので、波形測定装置内で所望の波形を定義・生
成し、測定された対象回路の出力波形との任意演算処理
に供することにより、前記定義・生成した波形と測定波
形との比較を容易にすると共に装置自身の特性の影響も
軽減させ得るような波形測定装置を提供することにあ
る。
されたもので、波形測定装置内で所望の波形を定義・生
成し、測定された対象回路の出力波形との任意演算処理
に供することにより、前記定義・生成した波形と測定波
形との比較を容易にすると共に装置自身の特性の影響も
軽減させ得るような波形測定装置を提供することにあ
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、ＡＤ変換した入力信号を格納する
測定波形メモリと、波形定義の要素を定めて理想波形を
生成し、その生成された波形データを生成波形メモリに
順次格納すると共に、生成波形メモリの波形データを読
み出しアナログ化して出力する機能を有する任意波形発
生手段と、前記測定波形メモリと生成波形メモリの各波
形データをもとに所定の演算を行うデータ処理演算回路
と、このデータ処理演算回路の演算結果を数値または図
形によって表示する表示手段を具備したことを特徴とす
る。
るために本発明では、ＡＤ変換した入力信号を格納する
測定波形メモリと、波形定義の要素を定めて理想波形を
生成し、その生成された波形データを生成波形メモリに
順次格納すると共に、生成波形メモリの波形データを読
み出しアナログ化して出力する機能を有する任意波形発
生手段と、前記測定波形メモリと生成波形メモリの各波
形データをもとに所定の演算を行うデータ処理演算回路
と、このデータ処理演算回路の演算結果を数値または図
形によって表示する表示手段を具備したことを特徴とす
る。
【０００５】
【作用】任意波形発生手段では対象回路の理想的な出力
波形すなわち理想波形を定義し、生成された理想波形デ
ータを生成波形メモリに格納しておく。そしてＡＤ変換
器を介して測定した対象回路の出力信号（本発明の装置
にとっては入力信号）を測定波形メモリに格納する。デ
ータ処理演算回路では、上記２つのメモリから波形デー
タを読取り、理想波形に対する測定波形の差分等を演算
により求める。この差分は表示手段において数値あるい
は図形の形で表示される。このようにして、対象回路の
直線性等の入出力特性を簡単に短時間で再現性よく測定
することができる。
波形すなわち理想波形を定義し、生成された理想波形デ
ータを生成波形メモリに格納しておく。そしてＡＤ変換
器を介して測定した対象回路の出力信号（本発明の装置
にとっては入力信号）を測定波形メモリに格納する。デ
ータ処理演算回路では、上記２つのメモリから波形デー
タを読取り、理想波形に対する測定波形の差分等を演算
により求める。この差分は表示手段において数値あるい
は図形の形で表示される。このようにして、対象回路の
直線性等の入出力特性を簡単に短時間で再現性よく測定
することができる。
【０００６】
【実施例】以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。
図１は本発明に係る波形生成機能付き波形測定装置の一
実施例を示す構成図である。図において、１は対象回路
（図示せず）の出力信号をデジタル変換するアナログ・
デジタル変換器（以下ＡＤ変換器という）、２はＡＤ変
換器１の出力データを格納する測定波形メモリ、３は入
力される２つの信号の差等を演算により求めるデータ処
理演算回路である。データ処理演算回路３はまた、装置
自身の特性を記憶しておき、ＡＤ変換器１を介して測定
した信号を補正する機能をも有する。４はデータ処理演
算回路３で得た結果を数値や波形等などの図形で表示す
るための処理を行う表示処理回路、５は表示処理回路４
の出力を表示するための表示器である。なお、表示処理
回路４および表示器５から成る部分を表示手段と呼ぶ。
図１は本発明に係る波形生成機能付き波形測定装置の一
実施例を示す構成図である。図において、１は対象回路
（図示せず）の出力信号をデジタル変換するアナログ・
デジタル変換器（以下ＡＤ変換器という）、２はＡＤ変
換器１の出力データを格納する測定波形メモリ、３は入
力される２つの信号の差等を演算により求めるデータ処
理演算回路である。データ処理演算回路３はまた、装置
自身の特性を記憶しておき、ＡＤ変換器１を介して測定
した信号を補正する機能をも有する。４はデータ処理演
算回路３で得た結果を数値や波形等などの図形で表示す
るための処理を行う表示処理回路、５は表示処理回路４
の出力を表示するための表示器である。なお、表示処理
回路４および表示器５から成る部分を表示手段と呼ぶ。
【０００７】６は波形生成に必要な情報（データ）を入
力するデータ入力回路であり、アルファニューメリック
スイッチ回路等が使用される。７はデータ入力回路６か
らの情報に基づき波形を生成する波形生成回路であり、
通常、波形を生成するに必要な制御や演算を行うための
中央処理装置（ＣＰＵ）を含んでいる。８は波形生成回
路７で得られる波形データを記憶する生成波形メモリ、
９は生成波形メモリ８に格納された波形を読み出し、ア
ナログ変換して出力する機能を有する信号出力回路であ
る。
力するデータ入力回路であり、アルファニューメリック
スイッチ回路等が使用される。７はデータ入力回路６か
らの情報に基づき波形を生成する波形生成回路であり、
通常、波形を生成するに必要な制御や演算を行うための
中央処理装置（ＣＰＵ）を含んでいる。８は波形生成回
路７で得られる波形データを記憶する生成波形メモリ、
９は生成波形メモリ８に格納された波形を読み出し、ア
ナログ変換して出力する機能を有する信号出力回路であ
る。
【０００８】なお、データ入力回路６、波形生成回路
７、生成波形メモリ８、信号出力回路９から成る部分は
任意の波形を発生する部分であり、ここでは任意波形発
生手段と呼ぶ。
７、生成波形メモリ８、信号出力回路９から成る部分は
任意の波形を発生する部分であり、ここでは任意波形発
生手段と呼ぶ。
【０００９】このような構成における動作について、対
象回路の入出力特性を測定する場合を例にとって説明す
れば次の通りである。対象回路には、図２に示すように
外部の信号発生器等から大きさｅi の三角波または鋸歯
状波を加える。本発明の波形測定装置はこのときの対象
回路の出力ｅ0 （ｅ0 ＝Ａｅi ：ただしＡは対象回路の
ゲイン）を測定する。すなわち、ＡＤ変換器１により適
宜のサンプリング間隔で対象回路の出力ｅ0 をサンプリ
ングし、これをデジタル変換して測定波形メモリ２に順
次蓄える。このようにして測定した対象回路の出力信号
をＳとする。
象回路の入出力特性を測定する場合を例にとって説明す
れば次の通りである。対象回路には、図２に示すように
外部の信号発生器等から大きさｅi の三角波または鋸歯
状波を加える。本発明の波形測定装置はこのときの対象
回路の出力ｅ0 （ｅ0 ＝Ａｅi ：ただしＡは対象回路の
ゲイン）を測定する。すなわち、ＡＤ変換器１により適
宜のサンプリング間隔で対象回路の出力ｅ0 をサンプリ
ングし、これをデジタル変換して測定波形メモリ２に順
次蓄える。このようにして測定した対象回路の出力信号
をＳとする。
【００１０】ここで、任意波形発生部について説明す
る。任意波形発生部では前記ｅ0 に相当する波形、すな
わち三角波または鋸歯状波を定義して発生（その波形を
Ｒとする）させる。なお、ｅ0 に相当する波形とは、入
力信号ｅi を与えたとき理想的な入出力特性を有する対
象回路であれば出力するであろう出力波形（以下これを
理想波形Ｒと呼ぶ）を言う。
る。任意波形発生部では前記ｅ0 に相当する波形、すな
わち三角波または鋸歯状波を定義して発生（その波形を
Ｒとする）させる。なお、ｅ0 に相当する波形とは、入
力信号ｅi を与えたとき理想的な入出力特性を有する対
象回路であれば出力するであろう出力波形（以下これを
理想波形Ｒと呼ぶ）を言う。
【００１１】波形を定義する要素は関数の形式、値およ
び位相である。先の理想波形Ｒに一致する波形をこれら
の要素により定義する。関数の形式、値および位相はデ
ータ入力回路６から入力され、波形生成回路７はその入
力された各情報に基づき波形を生成する。生成された波
形データは生成波形メモリ８に順次格納される。なお、
定義域は表示画面内の時間軸範囲及びフルスパン以内で
ある。例えば、表示画面上で直線的に単調変化する波形
の場合は、図３に示すように、ｖ＝ａｔ＋ｂ （ただ
し、ａは直線の傾き、ｂは電圧軸（縦軸）の切返の値）
で表わされる波形Ｒである。時間原点は測定波形のトリ
ガ点としてもよい。また図３に示す波形Ｒは電圧軸や時
間軸（横軸）に沿って任意に平行移動できる。そのよう
な波形の移動はデータ入力回路６と波形生成回路７との
働きにより可能である。なお、表示画面に波形メモリの
全領域を表示するか、一部を表示するかは適宜に選択で
きるようになっている。
び位相である。先の理想波形Ｒに一致する波形をこれら
の要素により定義する。関数の形式、値および位相はデ
ータ入力回路６から入力され、波形生成回路７はその入
力された各情報に基づき波形を生成する。生成された波
形データは生成波形メモリ８に順次格納される。なお、
定義域は表示画面内の時間軸範囲及びフルスパン以内で
ある。例えば、表示画面上で直線的に単調変化する波形
の場合は、図３に示すように、ｖ＝ａｔ＋ｂ （ただ
し、ａは直線の傾き、ｂは電圧軸（縦軸）の切返の値）
で表わされる波形Ｒである。時間原点は測定波形のトリ
ガ点としてもよい。また図３に示す波形Ｒは電圧軸や時
間軸（横軸）に沿って任意に平行移動できる。そのよう
な波形の移動はデータ入力回路６と波形生成回路７との
働きにより可能である。なお、表示画面に波形メモリの
全領域を表示するか、一部を表示するかは適宜に選択で
きるようになっている。
【００１２】さて、データ処理演算回路３では測定波形
メモリ２と生成波形メモリ８から読み出した各波形を読
み込みその差分を求める。その差分は表示処理回路４に
より数値あるいは図形の形で表示器５に表示される。例
えば、図４の（ａ）に示すような各波形（点線の波形が
測定波形Ｓ、実線の波形が理想波形Ｒ）の差分が同図
（ｂ）のように表示される。なお、データ処理演算回路
３における演算結果から得られる特性値は、図４の
（ｂ）のような図形表示に限らず、数値表示とすること
もできる。なお、増幅回路の直線性は種々の入力電圧範
囲内で測定されるが、それらは理想波形Ｒの傾きを調整
して定義すればよい。
メモリ２と生成波形メモリ８から読み出した各波形を読
み込みその差分を求める。その差分は表示処理回路４に
より数値あるいは図形の形で表示器５に表示される。例
えば、図４の（ａ）に示すような各波形（点線の波形が
測定波形Ｓ、実線の波形が理想波形Ｒ）の差分が同図
（ｂ）のように表示される。なお、データ処理演算回路
３における演算結果から得られる特性値は、図４の
（ｂ）のような図形表示に限らず、数値表示とすること
もできる。なお、増幅回路の直線性は種々の入力電圧範
囲内で測定されるが、それらは理想波形Ｒの傾きを調整
して定義すればよい。
【００１３】以上のようにして理想波形Ｒに対する測定
波形Ｓの差分を簡単に短時間で求めることができるが、
本発明は実施例に限定されるものではなく、各部機能の
変形、追加等が可能である。例えば、外部の信号発生器
と本発明のＡＤ変換器の特性の影響をなくするために、
対象回路を介さないで信号発生器から直接ＡＤ変換器へ
入力したときの測定信号と理想波形Ｒとの差をあらかじ
め求めておき、測定信号からその差を差し引くことによ
りＡＤ変換器の特性の影響を補正することもできる。
波形Ｓの差分を簡単に短時間で求めることができるが、
本発明は実施例に限定されるものではなく、各部機能の
変形、追加等が可能である。例えば、外部の信号発生器
と本発明のＡＤ変換器の特性の影響をなくするために、
対象回路を介さないで信号発生器から直接ＡＤ変換器へ
入力したときの測定信号と理想波形Ｒとの差をあらかじ
め求めておき、測定信号からその差を差し引くことによ
りＡＤ変換器の特性の影響を補正することもできる。
【００１４】更にまた、生成波形メモリ８の内容を信号
出力回路９によりアナログ化して出力することができる
ので、これを対象回路の入力信号として利用するように
してもよい。なお、生成波形メモリ８の容量は有限であ
るから、出力信号の繰り返しのためには波形Ｒには図５
に示すように所定の冗長部（繰り返しのための定義域）
８１，８２を設ける必要がある。
出力回路９によりアナログ化して出力することができる
ので、これを対象回路の入力信号として利用するように
してもよい。なお、生成波形メモリ８の容量は有限であ
るから、出力信号の繰り返しのためには波形Ｒには図５
に示すように所定の冗長部（繰り返しのための定義域）
８１，８２を設ける必要がある。
【００１５】また、測定チャネルおよび生成波形メモリ
は複数にすることもできる。また波形の比較において
は、２つの信号によりＸ−Ｙ表示される曲線を生成し、
基準としてＸ−Ｙ表示された曲線と比較するようにして
もよい。
は複数にすることもできる。また波形の比較において
は、２つの信号によりＸ−Ｙ表示される曲線を生成し、
基準としてＸ−Ｙ表示された曲線と比較するようにして
もよい。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば比
較のための理想波形Ｒを自機内で定義生成でき、例えば
増幅回路の直線性の測定等が簡単に短時間で再現性よく
実施できる。従来これと同様な測定を行う場合には、直
流電圧発生器と電圧測定器を用い、手動操作あるいはコ
ンピュータ制御による煩雑な操作を必要としていたが、
本発明の波形測定装置によればそのような煩雑さ全くな
く簡単な操作で正確に直線性の測定ができる。また、信
号発生機能を有するので、外部の信号発生器がなくても
対象回路に信号を与えることができ、自機のみで多くの
測定ができるという特徴を有する。
較のための理想波形Ｒを自機内で定義生成でき、例えば
増幅回路の直線性の測定等が簡単に短時間で再現性よく
実施できる。従来これと同様な測定を行う場合には、直
流電圧発生器と電圧測定器を用い、手動操作あるいはコ
ンピュータ制御による煩雑な操作を必要としていたが、
本発明の波形測定装置によればそのような煩雑さ全くな
く簡単な操作で正確に直線性の測定ができる。また、信
号発生機能を有するので、外部の信号発生器がなくても
対象回路に信号を与えることができ、自機のみで多くの
測定ができるという特徴を有する。
【図１】本発明に係る波形生成機能付き波形測定装置の
一実施例を示す構成図である。
一実施例を示す構成図である。
【図２】対象回路の入出力信号に関する説明図である。
【図３】理想波形Ｒと画面表示の関係を示す図である。
【図４】測定波形Ｓと理想波形Ｒの表示例を示す図であ
る。
る。
【図５】メモリに格納される繰り返し波形定義域を説明
するための波形図である。
するための波形図である。
１ ＡＤ変換器 ２ 測定波形メモリ ３ データ処理演算回路 ４ 表示処理回路 ５ 表示器 ６ データ入力回路 ７ 波形生成回路 ８ 生成波形メモリ ９ 信号出力回路
Claims (1)
- 【請求項１】ＡＤ変換した入力信号を格納する測定波形
メモリと、 波形定義の要素を定めて理想波形を生成し、その生成さ
れた波形データを生成波形メモリに順次格納すると共
に、生成波形メモリの波形データを読み出しアナログ化
して出力する機能を有する任意波形発生手段と、 前記測定波形メモリと生成波形メモリの各波形データを
もとに所定の演算を行うデータ処理演算回路と、 このデータ処理演算回路の演算結果を数値または図形に
よって表示する表示手段を具備したことを特徴とする波
形生成機能付き波形測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15326193A JPH0712852A (ja) | 1993-06-24 | 1993-06-24 | 波形生成機能付き波形測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15326193A JPH0712852A (ja) | 1993-06-24 | 1993-06-24 | 波形生成機能付き波形測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712852A true JPH0712852A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=15558594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15326193A Pending JPH0712852A (ja) | 1993-06-24 | 1993-06-24 | 波形生成機能付き波形測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0712852A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009004790A1 (ja) * | 2007-07-02 | 2009-01-08 | Anritsu Corporation | 移動端末機試験装置 |
| WO2009011095A1 (ja) * | 2007-07-19 | 2009-01-22 | Anritsu Corporation | 信号解析装置 |
| DE19910902B4 (de) * | 1998-03-31 | 2011-11-17 | Tektronix, Inc. | Messwerterfassungs- und -Anzeigenvorrichtung |
| JP2021071431A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | 株式会社エー・アンド・デイ | 波形記録装置 |
-
1993
- 1993-06-24 JP JP15326193A patent/JPH0712852A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19910902B4 (de) * | 1998-03-31 | 2011-11-17 | Tektronix, Inc. | Messwerterfassungs- und -Anzeigenvorrichtung |
| WO2009004790A1 (ja) * | 2007-07-02 | 2009-01-08 | Anritsu Corporation | 移動端末機試験装置 |
| WO2009011095A1 (ja) * | 2007-07-19 | 2009-01-22 | Anritsu Corporation | 信号解析装置 |
| JP2009027476A (ja) * | 2007-07-19 | 2009-02-05 | Anritsu Corp | 信号解析装置 |
| CN101755387A (zh) * | 2007-07-19 | 2010-06-23 | 安立股份有限公司 | 信号分析器 |
| JP4613193B2 (ja) * | 2007-07-19 | 2011-01-12 | アンリツ株式会社 | 信号解析装置 |
| US8355339B2 (en) | 2007-07-19 | 2013-01-15 | Anritsu Corporation | Signal analyzer |
| JP2021071431A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | 株式会社エー・アンド・デイ | 波形記録装置 |
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