JPH07320893A - Ｘ線装置 - Google Patents
Ｘ線装置Info
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- JPH07320893A JPH07320893A JP7109769A JP10976995A JPH07320893A JP H07320893 A JPH07320893 A JP H07320893A JP 7109769 A JP7109769 A JP 7109769A JP 10976995 A JP10976995 A JP 10976995A JP H07320893 A JPH07320893 A JP H07320893A
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/34—Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は照射開始までの経過時間が短縮され
たＸ線装置の提供を目的とする。 【構成】 本発明のＸ線装置は、Ｘ線管と、フィラメン
ト電流Ｉh によって加熱され得るカソードからなるＸ線
管１を作動するＸ線発生器と、フィラメント電流をブー
スト値Ｉb にブーストするよう照射モードで作動する手
段５，５７と、フィラメント電流を減少させ、管電圧Ｕ
をスイッチオンさせるよう照射モードで作動する手段
５，５８とからなり、Ｘ線発生器は、フィラメント電流
がブースト値Ｉb にブーストされ管電圧Ｕがスイッチオ
ンされる特別モードを有し、上記特別モードで流れる上
記管電流を測定する手段４，６と、上記測定された管電
流又はそこから得られる値Ｉcor の時間的な変化を記憶
する手段と、ブースト時間をメモリ８に記憶された上記
時間的な変化から得る手段とが設けられている。
たＸ線装置の提供を目的とする。 【構成】 本発明のＸ線装置は、Ｘ線管と、フィラメン
ト電流Ｉh によって加熱され得るカソードからなるＸ線
管１を作動するＸ線発生器と、フィラメント電流をブー
スト値Ｉb にブーストするよう照射モードで作動する手
段５，５７と、フィラメント電流を減少させ、管電圧Ｕ
をスイッチオンさせるよう照射モードで作動する手段
５，５８とからなり、Ｘ線発生器は、フィラメント電流
がブースト値Ｉb にブーストされ管電圧Ｕがスイッチオ
ンされる特別モードを有し、上記特別モードで流れる上
記管電流を測定する手段４，６と、上記測定された管電
流又はそこから得られる値Ｉcor の時間的な変化を記憶
する手段と、ブースト時間をメモリ８に記憶された上記
時間的な変化から得る手段とが設けられている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線管と、フィラメン
ト電流によって加熱され得るカソードからなるＸ線管を
作動させるＸ線発生器と、上記フィラメント電流をブー
スト値にブーストするよう照射モードで作動する手段
と、上記フィラメント電流を減少させ、上記管電圧をス
イッチオンさせるよう上記照射モードで作動する手段と
からなるＸ線装置に関する。
ト電流によって加熱され得るカソードからなるＸ線管を
作動させるＸ線発生器と、上記フィラメント電流をブー
スト値にブーストするよう照射モードで作動する手段
と、上記フィラメント電流を減少させ、上記管電圧をス
イッチオンさせるよう上記照射モードで作動する手段と
からなるＸ線装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】上記のＸ線装置が、例えば、先行する蛍
光透視の後にＸ線画像を形成するため使用される場合
に、Ｘ線照射はできる限り迅速に行うことが望ましい。
加熱可能なカソードよりなるＸ線管である場合には、最
初に、Ｘ線照射に必要とされる管電流を放出し得る温度
までカソード（又は、そこに含まれているフィラメン
ト）を加熱する必要がある。
光透視の後にＸ線画像を形成するため使用される場合
に、Ｘ線照射はできる限り迅速に行うことが望ましい。
加熱可能なカソードよりなるＸ線管である場合には、最
初に、Ｘ線照射に必要とされる管電流を放出し得る温度
までカソード（又は、そこに含まれているフィラメン
ト）を加熱する必要がある。
【０００３】照射の開始までの経過時間を短縮するた
め、管電圧がまだスイッチオフされている間に、次のＸ
線照射（管電圧がスイッチオンされる）に必要なフィラ
メント電流よりも大きいフィラメント電流をカソードに
供給する方法が知られている。ブースト時間は次の照射
の間に流れることが必要な管電流によって制御される。
かかる管電流が大きくなるに従って、ブースト時間は長
くなる。
め、管電圧がまだスイッチオフされている間に、次のＸ
線照射（管電圧がスイッチオンされる）に必要なフィラ
メント電流よりも大きいフィラメント電流をカソードに
供給する方法が知られている。ブースト時間は次の照射
の間に流れることが必要な管電流によって制御される。
かかる管電流が大きくなるに従って、ブースト時間は長
くなる。
【０００４】Ｘ線発生器の所定の形の管に必要とされる
ブースト時間をメモリに記憶し、Ｘ線照射の間にかかる
ブースト時間を取り出す方法は既に知られている。かか
るメモリ内のブースト時間テーブルは、Ｘ線管の製造者
によってＸ線管の形毎に別個に行われる複雑な測定処理
を用いて作成される。かくして定められたブースト時間
は典型的な値であり、即ち、ブースト時間の最後でカソ
ードの温度は、当該管電流に必要とされる温度より高い
場合も低い場合もある。従って、ブースト時間の後、フ
ィラメント電流はＸ線照射に必要とされる値に減少す
る。管電圧が２００乃至３００ｍｓの更なる時間間隔後
にスイッチオンされるとき、カソード温度は照射に必要
とされる値に対応する定常値に達する。
ブースト時間をメモリに記憶し、Ｘ線照射の間にかかる
ブースト時間を取り出す方法は既に知られている。かか
るメモリ内のブースト時間テーブルは、Ｘ線管の製造者
によってＸ線管の形毎に別個に行われる複雑な測定処理
を用いて作成される。かくして定められたブースト時間
は典型的な値であり、即ち、ブースト時間の最後でカソ
ードの温度は、当該管電流に必要とされる温度より高い
場合も低い場合もある。従って、ブースト時間の後、フ
ィラメント電流はＸ線照射に必要とされる値に減少す
る。管電圧が２００乃至３００ｍｓの更なる時間間隔後
にスイッチオンされるとき、カソード温度は照射に必要
とされる値に対応する定常値に達する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、準備
時間、即ち、Ｘ線照射の開始までに経過する時間間隔を
大幅に減少させ得るＸ線装置を提供することである。
時間、即ち、Ｘ線照射の開始までに経過する時間間隔を
大幅に減少させ得るＸ線装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の種類のＸ線装置を
使用する場合、上記目的は、Ｘ線発生器が管電圧がスイ
ッチオンされている間にフィラメント電流がブースト値
までブーストされる特別モードを有し、上記特別モード
で流れる管電流を測定する手段と、測定された管電流又
はそれから得られた値の時間的な変化を記憶する手段
と、上記メモリに記憶された時間的な変化からブースト
時間を得る手段とが設けられることによって達成され
る。
使用する場合、上記目的は、Ｘ線発生器が管電圧がスイ
ッチオンされている間にフィラメント電流がブースト値
までブーストされる特別モードを有し、上記特別モード
で流れる管電流を測定する手段と、測定された管電流又
はそれから得られた値の時間的な変化を記憶する手段
と、上記メモリに記憶された時間的な変化からブースト
時間を得る手段とが設けられることによって達成され
る。
【０００７】ブースト時間は管電圧がスイッチオンされ
フィラメント電流がそのブースト値にブーストされてい
るＸ線発生器の特別モードで定められることは、本発明
の本質的な面である。かかるモードにおいて、管電流は
最大値に達するまで連続的に上昇し、その後、管電圧は
スイッチオフされ、フィラメント電流は減少させられ、
或いは、スイッチオフされる。スイッチングオフの時点
までに生じる時間的な変化は測定、記憶される。照射モ
ードで行われる次のＸ線照射のために所定の管電流が事
前に設定されるとき、フィラメント電流がブースト値ま
でブーストされている場合にちょうどカソードの温度が
所望の管電流が放出される温度に達するまでの所要時間
は、記憶された時間的変化から導き出すことが可能であ
る。かかる時間間隔は、その間に当該管電流の値が記憶
された管電流の変化に達する時間間隔に対応し；照射モ
ードのブースト時間として事前に設定される。
フィラメント電流がそのブースト値にブーストされてい
るＸ線発生器の特別モードで定められることは、本発明
の本質的な面である。かかるモードにおいて、管電流は
最大値に達するまで連続的に上昇し、その後、管電圧は
スイッチオフされ、フィラメント電流は減少させられ、
或いは、スイッチオフされる。スイッチングオフの時点
までに生じる時間的な変化は測定、記憶される。照射モ
ードで行われる次のＸ線照射のために所定の管電流が事
前に設定されるとき、フィラメント電流がブースト値ま
でブーストされている場合にちょうどカソードの温度が
所望の管電流が放出される温度に達するまでの所要時間
は、記憶された時間的変化から導き出すことが可能であ
る。かかる時間間隔は、その間に当該管電流の値が記憶
された管電流の変化に達する時間間隔に対応し；照射モ
ードのブースト時間として事前に設定される。
【０００８】本発明によれば、必要とされるブースト時
間を簡単かつ正確、即ち、当該Ｘ線管に対し個別に定め
ることが可能である。かかるブースト時間は、必要な限
り正確にブースト時間の最後で所望の管電流の放出に必
要とされる温度に正確に達していることを確実にする。
従って、フィラメント電流が当該管電流に必要とされる
値に低下する第２の間隔をブースト時間に続ける必要は
ない。かくして、準備時間は実質的に短縮される。Ｘ線
発生器の特別モードは、長時間の間隔で繰り返され得る
更なる利点がある。当該Ｘ線管の特性に影響を与えるエ
ージング現象が考慮される。Ｘ線管を交換するとき、ブ
ースト時間メモリを交換する必要はなく、温度的挙動が
分かっていないＸ線管を使用することが可能である。
間を簡単かつ正確、即ち、当該Ｘ線管に対し個別に定め
ることが可能である。かかるブースト時間は、必要な限
り正確にブースト時間の最後で所望の管電流の放出に必
要とされる温度に正確に達していることを確実にする。
従って、フィラメント電流が当該管電流に必要とされる
値に低下する第２の間隔をブースト時間に続ける必要は
ない。かくして、準備時間は実質的に短縮される。Ｘ線
発生器の特別モードは、長時間の間隔で繰り返され得る
更なる利点がある。当該Ｘ線管の特性に影響を与えるエ
ージング現象が考慮される。Ｘ線管を交換するとき、ブ
ースト時間メモリを交換する必要はなく、温度的挙動が
分かっていないＸ線管を使用することが可能である。
【０００９】一般的に言うと、管電流はフィラメント電
流だけではなく、Ｘ線管に印加された管電圧に依存す
る。所定の管電流と管電圧の組合せに関連するブースト
時間を定め得る方法は多数ある。一つの方法として、管
電圧をパラメータとして管電流の時間的変化を表わす曲
線の集合が得られるよう、複数の管電圧に対し特別モー
ドの管電流の時間的変化を繰り返すことができる。通常
の動作モードにおいて所定の管電圧が事前に設定されて
いるならば、同一の管電圧に対し特別モードで測定され
た管電流の時間的変化は、管電圧を定めるため使用され
る必要がある。この方法は、特別動作モードにおいて複
数の時間的な管電流の変化を測定し記憶することが必要
であるため、かなり複雑である。
流だけではなく、Ｘ線管に印加された管電圧に依存す
る。所定の管電流と管電圧の組合せに関連するブースト
時間を定め得る方法は多数ある。一つの方法として、管
電圧をパラメータとして管電流の時間的変化を表わす曲
線の集合が得られるよう、複数の管電圧に対し特別モー
ドの管電流の時間的変化を繰り返すことができる。通常
の動作モードにおいて所定の管電圧が事前に設定されて
いるならば、同一の管電圧に対し特別モードで測定され
た管電流の時間的変化は、管電圧を定めるため使用され
る必要がある。この方法は、特別動作モードにおいて複
数の時間的な管電流の変化を測定し記憶することが必要
であるため、かなり複雑である。
【００１０】しかし、本発明の好ましい一実施例によれ
ば、種々の管電圧及び管電流に対し定常フィラメント電
流値が記憶された第２のメモリが設けられ、ブースト時
間を得る手段は第１のメモリ及び第２のメモリにアクセ
スするので、ただ一つの管電圧に対し管電流の時間的変
化を定めるだけ十分である。
ば、種々の管電圧及び管電流に対し定常フィラメント電
流値が記憶された第２のメモリが設けられ、ブースト時
間を得る手段は第１のメモリ及び第２のメモリにアクセ
スするので、ただ一つの管電圧に対し管電流の時間的変
化を定めるだけ十分である。
【００１１】
【実施例】以下に、添付図面を参照して本発明をより詳
細に説明する。図１に示す如く、Ｘ線管１に電源を供給
するＸ線発生器は、Ｘ線管のアノードに正の高電圧を発
生する第１の高圧発生部材２と、Ｘ線管のカソードに負
の高電圧を発生する第２の高圧発生部材３とからなる。
二つの高圧発生部材２及び３は、一端が接地された抵抗
４を介して直列接続されている。抵抗４はＸ線管１のア
ノードを流れる管電流を測定するよう機能する。
細に説明する。図１に示す如く、Ｘ線管１に電源を供給
するＸ線発生器は、Ｘ線管のアノードに正の高電圧を発
生する第１の高圧発生部材２と、Ｘ線管のカソードに負
の高電圧を発生する第２の高圧発生部材３とからなる。
二つの高圧発生部材２及び３は、一端が接地された抵抗
４を介して直列接続されている。抵抗４はＸ線管１のア
ノードを流れる管電流を測定するよう機能する。
【００１２】管電圧Ｕの時間的変化を発生させる高圧発
生部材２及び３は、適当にプログラムされたマイクロプ
ロセッサからなる制御ユニット５によって制御すること
ができる。制御ユニットは、アナログ−ディジタル変換
器６を介して、抵抗４の両端間の電圧降下に比例する
値、即ち、管電流に比例する値を受ける。その上、制御
ユニットは、フィラメント電流制御回路７によって発生
されるＸ線管１のカソードのフィラメント電流を定め
る。上記制御ユニットは、動的データを記憶する第１の
メモリ８及び、静的又は定常データが記憶された第２の
メモリ９と協働し、以下に説明する方法でこれらのデー
タをＸ線照射に対し与えられた管電流Ｉr 及び管電圧Ｕ
の値に組み合わせる。
生部材２及び３は、適当にプログラムされたマイクロプ
ロセッサからなる制御ユニット５によって制御すること
ができる。制御ユニットは、アナログ−ディジタル変換
器６を介して、抵抗４の両端間の電圧降下に比例する
値、即ち、管電流に比例する値を受ける。その上、制御
ユニットは、フィラメント電流制御回路７によって発生
されるＸ線管１のカソードのフィラメント電流を定め
る。上記制御ユニットは、動的データを記憶する第１の
メモリ８及び、静的又は定常データが記憶された第２の
メモリ９と協働し、以下に説明する方法でこれらのデー
タをＸ線照射に対し与えられた管電流Ｉr 及び管電圧Ｕ
の値に組み合わせる。
【００１３】図２の（Ａ）は照射モードのフィラメント
電流Ｉh の時間的変化を示し、管電圧Ｕの時間的変化は
破線で表わされている。時点ｔ＝０の前にフィラメント
電流は一定の静止電流値に調節されているが、一方、管
電圧Ｕはまだ現われていないことが分かる。かかる静止
電流値は、管電圧がスイッチオンされてもかなりの管電
流が流れることのないよう選ばれる。典型的な静止電流
値は２Ａである。
電流Ｉh の時間的変化を示し、管電圧Ｕの時間的変化は
破線で表わされている。時点ｔ＝０の前にフィラメント
電流は一定の静止電流値に調節されているが、一方、管
電圧Ｕはまだ現われていないことが分かる。かかる静止
電流値は、管電圧がスイッチオンされてもかなりの管電
流が流れることのないよう選ばれる。典型的な静止電流
値は２Ａである。
【００１４】時点ｔ＝０で、フィラメント電流Ｉh はブ
ースト値にブーストされる。かかるブースト値は、習慣
的に、Ｘ線照射時に流れる管電流よりも実質的に高く、
好ましくは、最大許容値、例えば、１１Ａに一致する。
フィラメント電流は、ブースト時間が経過するまで、即
ち、時点ｔ＝ｔB までこの値に維持される。時点ｔ＝ｔ
B でＸ線照射の管電圧Ｕはスイッチオンされる。その
上、時点ｔ＝ｔB でフィラメント電流は、３Ａから７Ａ
の値、即ち、静止電流よりも大きく、ブースト値よりも
小さい値に低下される。時点ｔ＝ｔB 以前に、管電流が
Ｘ線管の中を流れ始め、従って、Ｘ線を発生することは
なく；即ち、実際のＸ線照射は時点ｔ＝ｔ B まで開始し
ない。所定の照射間隔、又は、自動照射装置により指令
される照射間隔の後、管電圧及び管電流はスイッチオフ
され、即ち、Ｘ線照射は終了される。
ースト値にブーストされる。かかるブースト値は、習慣
的に、Ｘ線照射時に流れる管電流よりも実質的に高く、
好ましくは、最大許容値、例えば、１１Ａに一致する。
フィラメント電流は、ブースト時間が経過するまで、即
ち、時点ｔ＝ｔB までこの値に維持される。時点ｔ＝ｔ
B でＸ線照射の管電圧Ｕはスイッチオンされる。その
上、時点ｔ＝ｔB でフィラメント電流は、３Ａから７Ａ
の値、即ち、静止電流よりも大きく、ブースト値よりも
小さい値に低下される。時点ｔ＝ｔB 以前に、管電流が
Ｘ線管の中を流れ始め、従って、Ｘ線を発生することは
なく；即ち、実際のＸ線照射は時点ｔ＝ｔ B まで開始し
ない。所定の照射間隔、又は、自動照射装置により指令
される照射間隔の後、管電圧及び管電流はスイッチオフ
され、即ち、Ｘ線照射は終了される。
【００１５】所望の管電流が既に時点ｔ＝ｔB で流れ、
Ｘ線照射時を通して一定の状態を保つことを保証するた
め、以下の二つの条件が満たされる必要がある。 １． ブースト時間の最後（ｔ＝ｔB ）で、フィラメン
ト電流は、管電圧Ｕのスイッチオン後に所望の管電流Ｉ
r が発生する温度にカソードを加熱していることが必要
である。 ２． Ｘ線照射時に流れるフィラメント電流は、時点ｔ
＝ｔB で到達した温度レベルがＸ線照射の全体に亘って
維持され、管電流が一定、静的、又は、定常の状態を保
つよう、正確に大きくすることが必要である。
Ｘ線照射時を通して一定の状態を保つことを保証するた
め、以下の二つの条件が満たされる必要がある。 １． ブースト時間の最後（ｔ＝ｔB ）で、フィラメン
ト電流は、管電圧Ｕのスイッチオン後に所望の管電流Ｉ
r が発生する温度にカソードを加熱していることが必要
である。 ２． Ｘ線照射時に流れるフィラメント電流は、時点ｔ
＝ｔB で到達した温度レベルがＸ線照射の全体に亘って
維持され、管電流が一定、静的、又は、定常の状態を保
つよう、正確に大きくすることが必要である。
【００１６】図３の（Ａ）は、特定の静的又は定常フィ
ラメント電流の場合に発生する管電流の値Ｉr を種々の
電圧Ｕ1 ．．．Ｕ4 に対し表わす定常的特性の集合のグ
ラフである。かかるグラフから、特定の管電流Ｉr と管
電圧Ｕの組合せに対し定常状態でフィラメント電流Ｉh
をどのように調節する必要があるかが容易に分かる。か
かる曲線の集合、即ち、管電流又は管電圧の関数として
のフィラメント電流が第２のメモリ９に記憶される。当
該Ｘ線管に対し上記の特性の集合を個別に定めること
は、ドイツ国特許第27 03 420 号明細書に本質的に記載
されている。
ラメント電流の場合に発生する管電流の値Ｉr を種々の
電圧Ｕ1 ．．．Ｕ4 に対し表わす定常的特性の集合のグ
ラフである。かかるグラフから、特定の管電流Ｉr と管
電圧Ｕの組合せに対し定常状態でフィラメント電流Ｉh
をどのように調節する必要があるかが容易に分かる。か
かる曲線の集合、即ち、管電流又は管電圧の関数として
のフィラメント電流が第２のメモリ９に記憶される。当
該Ｘ線管に対し上記の特性の集合を個別に定めること
は、ドイツ国特許第27 03 420 号明細書に本質的に記載
されている。
【００１７】Ｉr 、Ｕの上記及び他の組合せに必要とさ
れるブースト時間の簡単かつ正確な決定法を以下に詳細
に説明する。このため、Ｘ線発生器は特別モードで作動
される。図２の（Ｂ）は、特別モードにおけるフィラメ
ント電流Ｉr 及び管電圧Ｕの時間的変化を示す。フィラ
メント電流は、時点ｔ＝０までその静止電流で維持さ
れ、時点ｔ＝０で照射モードにおけるのと全く同一のブ
ースト値にブーストされる。しかし、照射モードとは異
なり、時点ｔ＝０で電圧Ｕref は既にＸ線管に印加され
ているので、Ｘ線電流はカソードが十分加熱されると即
座に流れ始める。図３の（Ｂ）には、（図２の（Ｂ）で
使用されたスケールとは別の時間的スケールを用いて）
管電流Ｉr の時間的変化が実線で示されている。カソー
ドの抵抗、或いは、そこに含まれているフィラメントは
カソードが高温になるに従って大きくなり、供給される
カソード電源が連続的に増加するので、管電流は最初徐
々に増加し、次いで、かなり速く増加することが分か
る。管電流が最大の値に達するとき、管電圧Ｕ＝Ｕref
はスイッチオフされ、さらにフィラメント電流Ｉh はス
イッチオフされ、或いは、下げられる。
れるブースト時間の簡単かつ正確な決定法を以下に詳細
に説明する。このため、Ｘ線発生器は特別モードで作動
される。図２の（Ｂ）は、特別モードにおけるフィラメ
ント電流Ｉr 及び管電圧Ｕの時間的変化を示す。フィラ
メント電流は、時点ｔ＝０までその静止電流で維持さ
れ、時点ｔ＝０で照射モードにおけるのと全く同一のブ
ースト値にブーストされる。しかし、照射モードとは異
なり、時点ｔ＝０で電圧Ｕref は既にＸ線管に印加され
ているので、Ｘ線電流はカソードが十分加熱されると即
座に流れ始める。図３の（Ｂ）には、（図２の（Ｂ）で
使用されたスケールとは別の時間的スケールを用いて）
管電流Ｉr の時間的変化が実線で示されている。カソー
ドの抵抗、或いは、そこに含まれているフィラメントは
カソードが高温になるに従って大きくなり、供給される
カソード電源が連続的に増加するので、管電流は最初徐
々に増加し、次いで、かなり速く増加することが分か
る。管電流が最大の値に達するとき、管電圧Ｕ＝Ｕref
はスイッチオフされ、さらにフィラメント電流Ｉh はス
イッチオフされ、或いは、下げられる。
【００１８】管電流Ｉr の時間的変化から、当該ブース
ト時間の経過時に管電圧Ｕ＝Ｕrefがスイッチオンされ
たときに所望の管電流が正確に流れることを可能にさせ
る温度に達するため次の管電圧Ｕ＝Ｕref のＸ線照射時
に必要とされるブースト時間を直接導き出すことが可能
である。従って、特別モードにおける管電流の時間的変
化は、アナログ−ディジタル変換器６を用いて抵抗４の
両端の電圧をディジタル化することにより測定、ディジ
タル化され、例えば、３ｍｓの測定時間間隔に対し管電
流の夫々の測定値が得られる。かくして測定された変化
は第１のメモリ８に記憶される。
ト時間の経過時に管電圧Ｕ＝Ｕrefがスイッチオンされ
たときに所望の管電流が正確に流れることを可能にさせ
る温度に達するため次の管電圧Ｕ＝Ｕref のＸ線照射時
に必要とされるブースト時間を直接導き出すことが可能
である。従って、特別モードにおける管電流の時間的変
化は、アナログ−ディジタル変換器６を用いて抵抗４の
両端の電圧をディジタル化することにより測定、ディジ
タル化され、例えば、３ｍｓの測定時間間隔に対し管電
流の夫々の測定値が得られる。かくして測定された変化
は第１のメモリ８に記憶される。
【００１９】図４は特別モードにおいて制御ユニットに
よって実行されるステップの時間的シーケンスを説明す
るフローチャートである。ブロック５０に従って、フィ
ラメント電流は、最初、静止電流値又はスタンバイ値Ｉ
stb に調節される。管の両端の電圧はスイッチオフされ
ている。次いで（ブロック５１）、フィラメント電流は
ブースト値Ｉb に調節され、管電圧は値Ｕ＝Ｕfef に調
節される。この時点で管電流は図３の（Ｂ）に示す如く
流れ始める。上記管電流は３ｍｓ毎に測定、ディジタル
化され、第１のメモリ８に記憶される（ブロック５
２）。次のステップ（ブロック５３）の間に、測定され
た管電流は、Ｘ線管が未だ熱的に過負荷ではない最大値
Ｉmax よりも小さいかどうかが検査される。電流Ｉr の
方が依然として小さいとき、新たな測定と検査等が最大
値に達するまで行われる。これは、通常の場合、２００
乃至３００ｍｓの経過後である。次いで、フィラメント
電流は静止電流Ｉstb まで再び減少させられ、管電圧は
スイッチオフされる（ブロック５４）。
よって実行されるステップの時間的シーケンスを説明す
るフローチャートである。ブロック５０に従って、フィ
ラメント電流は、最初、静止電流値又はスタンバイ値Ｉ
stb に調節される。管の両端の電圧はスイッチオフされ
ている。次いで（ブロック５１）、フィラメント電流は
ブースト値Ｉb に調節され、管電圧は値Ｕ＝Ｕfef に調
節される。この時点で管電流は図３の（Ｂ）に示す如く
流れ始める。上記管電流は３ｍｓ毎に測定、ディジタル
化され、第１のメモリ８に記憶される（ブロック５
２）。次のステップ（ブロック５３）の間に、測定され
た管電流は、Ｘ線管が未だ熱的に過負荷ではない最大値
Ｉmax よりも小さいかどうかが検査される。電流Ｉr の
方が依然として小さいとき、新たな測定と検査等が最大
値に達するまで行われる。これは、通常の場合、２００
乃至３００ｍｓの経過後である。次いで、フィラメント
電流は静止電流Ｉstb まで再び減少させられ、管電圧は
スイッチオフされる（ブロック５４）。
【００２０】前述の如く、管電流Ｉr はフィラメント電
流Ｉh だけではなく、管電圧にも依存する。従って、照
射モードにおいて次のＸ線照射時に、特別モードに現わ
れる電圧Ｕ＝Ｕref から逸れた管電圧がスイッチオンさ
れるならば、ブースト時間はＵ＝Ｕref に対し記憶され
た変化から直接的に得ることはできない。かかる管電流
の付加的な時間的依存性を考慮する多数の方法があり得
る。 ａ） 特別モードにおいて、管電流の時間的変化は、一
つの管電圧だけではなく、多数の電圧に対し測定され
る。かかる電圧の中の一つが次のＸ線照射時に調節れる
ならば、ブースト時間は当該電圧に関連する時間的変化
から得ることが可能である。しかし、特別モードにおけ
る測定及び記憶処理は数回に亘り繰り返すことが必要で
ある。
流Ｉh だけではなく、管電圧にも依存する。従って、照
射モードにおいて次のＸ線照射時に、特別モードに現わ
れる電圧Ｕ＝Ｕref から逸れた管電圧がスイッチオンさ
れるならば、ブースト時間はＵ＝Ｕref に対し記憶され
た変化から直接的に得ることはできない。かかる管電流
の付加的な時間的依存性を考慮する多数の方法があり得
る。 ａ） 特別モードにおいて、管電流の時間的変化は、一
つの管電圧だけではなく、多数の電圧に対し測定され
る。かかる電圧の中の一つが次のＸ線照射時に調節れる
ならば、ブースト時間は当該電圧に関連する時間的変化
から得ることが可能である。しかし、特別モードにおけ
る測定及び記憶処理は数回に亘り繰り返すことが必要で
ある。
【００２１】しかし、一つの電圧Ｕ＝Ｕref に対する管
電流の時間的変化だけでも十分である。Ｕref は、好ま
しくは、最大の管電流（Ｉr ＝Ｉmax ）がＸ線管の熱的
な過負荷を伴うことなく実現されるよう選ばれる必要が
ある。適当な値は、例えば、７０ｋＶである。 ｂ） 一つの管電圧に対し管電流を測定することを十分
にさせる可能性のある第１の方法は、図３の（Ａ）及び
（Ｂ）に図的に示されている。同図において、次のＸ線
照射時に、管電圧Ｕ4 が現われ、管電流Ｉr2が流れるこ
とが想定されている。最初の段階で、フィラメント電流
Ｉh2（同図の（Ａ）の破線を参照のこと）は所定の組合
せＵ4 と関係付けられ、Ｉr2はメモリ９から取り出され
る。第２の段階で、フィラメント電流Ｉh2の代わりに流
れる管電流Ｉr は、電圧Ｕref ＝Ｕ 3 がＸ線管の両端に
存在する場合にメモリ９から取り出される。第３の段階
として、かかる管電流の値に関連するブースト時間ｔB
が第１のメモリ８から取り出される。 ｃ） しかし、例えば、管電流Ｉr の測定値の書込み
中、又は、書込み後に、図３の（Ｂ）に実線で示され、
管電流の時間的変化を表わす曲線が、等価的な定常フィ
ラメント電流の値に対する曲線に一旦変換されるならば
（定常状態の場合、等価的な定常フィラメント電流は、
Ｕ＝Ｕref の場合にちょうど当該管電流を流す）、二つ
の段階でも十分である。この曲線は図３の（Ｂ）に破線
で、Ｉcor として示されている。同図の（Ａ）におい
て、値Ｉr1に対し関連する値Ｉh1がＵ3（＝Ｕref ）の
場合の実線の曲線から定められる方法が示されている。
このため、Ｉr1の測定された値と電圧Ｕref とに関連す
るフィラメント電流の値Ｉh1（同図の（Ａ）を参照のこ
と）だけがメモリ９から取り出され、値Ｌr1の測定時間
と関連付けられる。上記の処理がＩr の全ての測定値に
対し繰り返されると、曲線Ｉcor が得られる（図面の簡
単化のため、曲線Ｉh とＩr に対し横軸のスケールは異
なる）。
電流の時間的変化だけでも十分である。Ｕref は、好ま
しくは、最大の管電流（Ｉr ＝Ｉmax ）がＸ線管の熱的
な過負荷を伴うことなく実現されるよう選ばれる必要が
ある。適当な値は、例えば、７０ｋＶである。 ｂ） 一つの管電圧に対し管電流を測定することを十分
にさせる可能性のある第１の方法は、図３の（Ａ）及び
（Ｂ）に図的に示されている。同図において、次のＸ線
照射時に、管電圧Ｕ4 が現われ、管電流Ｉr2が流れるこ
とが想定されている。最初の段階で、フィラメント電流
Ｉh2（同図の（Ａ）の破線を参照のこと）は所定の組合
せＵ4 と関係付けられ、Ｉr2はメモリ９から取り出され
る。第２の段階で、フィラメント電流Ｉh2の代わりに流
れる管電流Ｉr は、電圧Ｕref ＝Ｕ 3 がＸ線管の両端に
存在する場合にメモリ９から取り出される。第３の段階
として、かかる管電流の値に関連するブースト時間ｔB
が第１のメモリ８から取り出される。 ｃ） しかし、例えば、管電流Ｉr の測定値の書込み
中、又は、書込み後に、図３の（Ｂ）に実線で示され、
管電流の時間的変化を表わす曲線が、等価的な定常フィ
ラメント電流の値に対する曲線に一旦変換されるならば
（定常状態の場合、等価的な定常フィラメント電流は、
Ｕ＝Ｕref の場合にちょうど当該管電流を流す）、二つ
の段階でも十分である。この曲線は図３の（Ｂ）に破線
で、Ｉcor として示されている。同図の（Ａ）におい
て、値Ｉr1に対し関連する値Ｉh1がＵ3（＝Ｕref ）の
場合の実線の曲線から定められる方法が示されている。
このため、Ｉr1の測定された値と電圧Ｕref とに関連す
るフィラメント電流の値Ｉh1（同図の（Ａ）を参照のこ
と）だけがメモリ９から取り出され、値Ｌr1の測定時間
と関連付けられる。上記の処理がＩr の全ての測定値に
対し繰り返されると、曲線Ｉcor が得られる（図面の簡
単化のため、曲線Ｉh とＩr に対し横軸のスケールは異
なる）。
【００２２】各特別モードの間、又は、その後に曲線Ｉ
cor （図３の（Ｂ）を参照のこと）が上記の如く定めら
れた後、次のＸ線照射に対し、事前に設定された管電流
Ｉr及び管電圧Ｕに関連する定常フィラメント電流値Ｉ
h だけが（メモリ９又は図３の（Ａ）の曲線の一つか
ら）定められ、第２の段階中に、曲線Ｉcor 上の当該値
Ｉh に関連するブースト時間の値が（メモリ８又は図３
の（Ｂ）から）定められる。
cor （図３の（Ｂ）を参照のこと）が上記の如く定めら
れた後、次のＸ線照射に対し、事前に設定された管電流
Ｉr及び管電圧Ｕに関連する定常フィラメント電流値Ｉ
h だけが（メモリ９又は図３の（Ａ）の曲線の一つか
ら）定められ、第２の段階中に、曲線Ｉcor 上の当該値
Ｉh に関連するブースト時間の値が（メモリ８又は図３
の（Ｂ）から）定められる。
【００２３】図３の（Ａ）に示す定常特性と同様に、上
記過程は種々の管電流Ｉr 及び管電圧に対し繰り返して
もよく、その後、同図の（Ｂ）に示す如く、管電流Ｉr
と管電圧Ｕの種々の組合せに関連するブースト時間を表
わす曲線の集合が得られる。上記曲線が記憶された場
合、ブースト時間は照射モードにおいてそこから直接的
に、即ち、曲線Ｉcor を利用する中間段階を介すること
なく得ることができるが、方法は簡単化されることなく
記憶容量だけが増加する。その理由は、各Ｘ線照射に先
立って、管電流Ｉr を発生するため次の照射時に流れる
べきフィラメンント電流の値は、いずれにしても図３の
（Ａ）、又は、メモリ９の定常特性から定められる必要
があるからである。従って、あるＸ線照射から別のＸ線
照射までの必要とされるブースト時間をメモリ８及び９
に記憶された特性から得ることがより効果的である。
記過程は種々の管電流Ｉr 及び管電圧に対し繰り返して
もよく、その後、同図の（Ｂ）に示す如く、管電流Ｉr
と管電圧Ｕの種々の組合せに関連するブースト時間を表
わす曲線の集合が得られる。上記曲線が記憶された場
合、ブースト時間は照射モードにおいてそこから直接的
に、即ち、曲線Ｉcor を利用する中間段階を介すること
なく得ることができるが、方法は簡単化されることなく
記憶容量だけが増加する。その理由は、各Ｘ線照射に先
立って、管電流Ｉr を発生するため次の照射時に流れる
べきフィラメンント電流の値は、いずれにしても図３の
（Ａ）、又は、メモリ９の定常特性から定められる必要
があるからである。従って、あるＸ線照射から別のＸ線
照射までの必要とされるブースト時間をメモリ８及び９
に記憶された特性から得ることがより効果的である。
【００２４】図５のブロック図によれば、Ｘ線照射中の
処理は以下の通りである：Ｘ線照射に必要とされる管電
流及び管電圧の値は事前に設定される（ブロック５
５）。Ｘ線照射に必要とされる定常フィラメント電流
が、かかる値から、即ち、メモリ９に記憶された値を用
いて定められる（ブロック５６）。次いで、図３の
（Ｂ）の曲線Ｉcor 、又は、メモリ８から上記フィラメ
ント電流の値に関連するブースト時間ｔB が得られる。
次いで、フィラメント電流は、Ｘ線管に電圧が印加され
ない間隔ｔB の間にブースト値にブーストされる（ブロ
ック５７）。ブースト時間ｔB の終了後、フィラメント
電流はブロック５６で定められた値に下げられ、所望の
管電圧Ｕがスイッチオンされる（ブロック５８）。かく
して、所望の管電流Ｉr が流れる。
処理は以下の通りである：Ｘ線照射に必要とされる管電
流及び管電圧の値は事前に設定される（ブロック５
５）。Ｘ線照射に必要とされる定常フィラメント電流
が、かかる値から、即ち、メモリ９に記憶された値を用
いて定められる（ブロック５６）。次いで、図３の
（Ｂ）の曲線Ｉcor 、又は、メモリ８から上記フィラメ
ント電流の値に関連するブースト時間ｔB が得られる。
次いで、フィラメント電流は、Ｘ線管に電圧が印加され
ない間隔ｔB の間にブースト値にブーストされる（ブロ
ック５７）。ブースト時間ｔB の終了後、フィラメント
電流はブロック５６で定められた値に下げられ、所望の
管電圧Ｕがスイッチオンされる（ブロック５８）。かく
して、所望の管電流Ｉr が流れる。
【００２５】
【発明の効果】ある種の診断方法において、Ｘ線照射の
前に蛍光透視が行われ、その間管電流Ｉr は小さいけれ
ども無視し得ない値を有する。照射モードにおいて、上
記の方法で定められた全ブースト時間に亘りフィラメン
トが引続き加熱された場合、温度は僅かに高くなり過ぎ
ることがある。これは、蛍光透視モードで流れるフィラ
メント電流Ｉh に関連するブースト時間の値で上記ブー
スト時間を短縮することにより防止することができる。
前に蛍光透視が行われ、その間管電流Ｉr は小さいけれ
ども無視し得ない値を有する。照射モードにおいて、上
記の方法で定められた全ブースト時間に亘りフィラメン
トが引続き加熱された場合、温度は僅かに高くなり過ぎ
ることがある。これは、蛍光透視モードで流れるフィラ
メント電流Ｉh に関連するブースト時間の値で上記ブー
スト時間を短縮することにより防止することができる。
【図１】本発明によるＸ線装置のＸ線発生器のブロック
図である。
図である。
【図２】（Ａ）は照射モードにおけるフィラメント電流
及び管電圧の時間的変化を示し、（Ｂ）は特別モードに
おけるフィラメント電流及び管電圧の時間的変化を示す
グラフである。
及び管電圧の時間的変化を示し、（Ｂ）は特別モードに
おけるフィラメント電流及び管電圧の時間的変化を示す
グラフである。
【図３】（Ａ）は安定状態において管電圧をパラメータ
としてフィラメント電流に対する管電流の依存性を表わ
す特性を示し、（Ｂ）は特別モードにおける管電流の時
間的変化とそこから得られるフィラメント電流値を示す
グラフである。
としてフィラメント電流に対する管電流の依存性を表わ
す特性を示し、（Ｂ）は特別モードにおける管電流の時
間的変化とそこから得られるフィラメント電流値を示す
グラフである。
【図４】特別モードの動作を示すフローチャートであ
る。
る。
【図５】照射モードの動作を示すフローチャートであ
る。
る。
１ Ｘ線管 ２，３ 高圧発生部材 ４ 抵抗 ５ 制御ユニット ６ アナログ−ディジタル変換器 ７ フィラメント電流制御回路 ８ 第１のメモリ ９ 第２のメモリ
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線管と、フィラメント電流（Ｉh ）に
よって加熱され得るカソードからなるＸ線管（１）を作
動させるＸ線発生器と、上記フィラメント電流をブース
ト値（Ｉb ）にブーストするよう照射モードで作動する
手段（５，５７）と、上記フィラメント電流を減少さ
せ、上記管電圧（Ｕ）をスイッチオンさせるよう上記照
射モードで作動する手段（５，５８）とからなるＸ線装
置であって、 上記Ｘ線発生器は、上記フィラメント電流が上記ブース
ト値（Ｉb ）にブーストされ、上記管電圧（Ｕ）がスイ
ッチオンされる特別モードを有し、上記特別モードで流
れる上記管電流を測定する手段（４，６）と、上記測定
された管電流、又は、そこから得られる値（Ｉcor ）の
時間的な変化を記憶する手段と、ブースト時間をメモリ
（８）に記憶された上記時間的な変化から得る手段とが
設けられていることを特徴とする、Ｘ線装置。 - 【請求項２】 種々の管電圧（Ｕ）と管電流（Ｉr ）に
対し上記定常フィラメント電流の値（Ｉa ）が記憶され
た第２のメモリ（９）が設けられ、上記ブースト時間を
得る手段（５，５７）は、上記第１のメモリ（８）及び
上記第２のメモリ（９）にアクセスすることを特徴とす
る、請求項１記載のＸ線装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4416556A DE4416556A1 (de) | 1994-05-11 | 1994-05-11 | Röntgengenerator |
| DE4416556:0 | 1994-05-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07320893A true JPH07320893A (ja) | 1995-12-08 |
| JP3560681B2 JP3560681B2 (ja) | 2004-09-02 |
Family
ID=6517823
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10976995A Expired - Fee Related JP3560681B2 (ja) | 1994-05-11 | 1995-05-08 | Ｘ線装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5546441A (ja) |
| EP (1) | EP0682466B1 (ja) |
| JP (1) | JP3560681B2 (ja) |
| DE (2) | DE4416556A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004349254A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 放射線源の発熱体に給電する方法及び対応する線源 |
| JP2006244940A (ja) * | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Toshiba Corp | 医療用ｘ線管装置及び医療用ｘ線管制御方法 |
| JP2010049974A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Mikasa Kk | Ｘ線発生装置及びｘ線管の駆動方法 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1110436A1 (en) * | 1999-07-06 | 2001-06-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus |
| DE10004987A1 (de) * | 2000-02-04 | 2001-07-19 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Verlängerung der Lebensdauer von thermionischen Emittern |
| DE10038946C2 (de) * | 2000-08-09 | 2002-03-14 | Siemens Ag | Heizstromkreis für eine Kathode einer Röntgenröhre und Verfahren zur Ermittlung einer Führungsgröße einer Stromregeleinrichtung eines Heizstromkreises |
| CN102483638B (zh) * | 2009-08-31 | 2015-01-28 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 提高/消退x射线管的灯丝电流 |
| CN105455829A (zh) * | 2014-08-04 | 2016-04-06 | 锐珂（上海）医疗器材有限公司 | 放射性射线照相技术中控制射线管的管电流的方法及相应的系统 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2542016A1 (de) * | 1975-09-20 | 1977-03-24 | Philips Patentverwaltung | Schaltungsanordnung zur einstellung des aufnahmestroms einer roentgenroehre |
| DE2703420C2 (de) * | 1977-01-28 | 1985-11-21 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zum Einstellen des durch eine Röntgenröhre fließenden Röhrenstromes und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens |
| EP0025688A3 (en) * | 1979-09-13 | 1981-05-27 | Pfizer Inc. | Process for rapidly achieving stabilized X-ray emission from an X-ray tube |
| DE3122185A1 (de) * | 1981-06-04 | 1982-12-30 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zum betrieb eines roentgengenerators und roentgengenerator zur durchfuehrung dieses verfahrens |
| JPS62246300A (ja) * | 1986-04-18 | 1987-10-27 | Morita Mfg Co Ltd | Ｘ線診断装置 |
| US4775992A (en) * | 1986-09-19 | 1988-10-04 | Picker International, Inc. | Closed loop x-ray tube current control |
| US4930146A (en) * | 1989-07-10 | 1990-05-29 | General Electric Company | X-ray tube current control with constant loop gain |
| US5077773A (en) * | 1990-07-05 | 1991-12-31 | Picker International, Inc. | Automatic filament calibration system for x-ray generators |
-
1994
- 1994-05-11 DE DE4416556A patent/DE4416556A1/de not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-05-08 JP JP10976995A patent/JP3560681B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-05-09 DE DE59504188T patent/DE59504188D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-05-09 EP EP95201189A patent/EP0682466B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-05-11 US US08/439,325 patent/US5546441A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004349254A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 放射線源の発熱体に給電する方法及び対応する線源 |
| JP2006244940A (ja) * | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Toshiba Corp | 医療用ｘ線管装置及び医療用ｘ線管制御方法 |
| JP2010049974A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Mikasa Kk | Ｘ線発生装置及びｘ線管の駆動方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3560681B2 (ja) | 2004-09-02 |
| DE59504188D1 (de) | 1998-12-17 |
| DE4416556A1 (de) | 1995-11-16 |
| US5546441A (en) | 1996-08-13 |
| EP0682466A1 (de) | 1995-11-15 |
| EP0682466B1 (de) | 1998-11-11 |
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