JPH103999A - Ｘ線高電圧装置 - Google Patents
Ｘ線高電圧装置Info
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- JPH103999A JPH103999A JP17281296A JP17281296A JPH103999A JP H103999 A JPH103999 A JP H103999A JP 17281296 A JP17281296 A JP 17281296A JP 17281296 A JP17281296 A JP 17281296A JP H103999 A JPH103999 A JP H103999A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】Ｘ線高電圧装置において、Ｘ線管球等の経年変
動によりフィラメントの加熱電流又は加熱電圧のＸ線曝
射時の初期値が変化するのを適正に補償する。 【解決手段】Ｘ線管球１のＸ線曝射条件の設定及び制御
をするＸ線制御装置１０の内部に、Ｘ線管球１のフィラ
メント加熱のフィードバック制御により管電流が適正値
になったときのその加熱電流又は加熱電圧を記憶するフ
ィラメント加熱記憶回路１１と、上記Ｘ線管球１のＸ線
曝射の間隔を計測し記憶する時計回路１２とを設け、上
記フィラメント加熱記憶回路１１から一定時間間隔以内
の加熱電流又は加熱電圧を選んで初期値記憶回路９の初
期値を入れ換えて記憶すると共に、それを読み出してフ
ィラメント加熱制御回路７に新たな加熱電流又は加熱電
圧の初期値を与えるようにしたものである。これによ
り、Ｘ線管球等の経年変動によりフィラメントの加熱電
流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が変化するのを適
正に補償することができる。
動によりフィラメントの加熱電流又は加熱電圧のＸ線曝
射時の初期値が変化するのを適正に補償する。 【解決手段】Ｘ線管球１のＸ線曝射条件の設定及び制御
をするＸ線制御装置１０の内部に、Ｘ線管球１のフィラ
メント加熱のフィードバック制御により管電流が適正値
になったときのその加熱電流又は加熱電圧を記憶するフ
ィラメント加熱記憶回路１１と、上記Ｘ線管球１のＸ線
曝射の間隔を計測し記憶する時計回路１２とを設け、上
記フィラメント加熱記憶回路１１から一定時間間隔以内
の加熱電流又は加熱電圧を選んで初期値記憶回路９の初
期値を入れ換えて記憶すると共に、それを読み出してフ
ィラメント加熱制御回路７に新たな加熱電流又は加熱電
圧の初期値を与えるようにしたものである。これによ
り、Ｘ線管球等の経年変動によりフィラメントの加熱電
流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が変化するのを適
正に補償することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線撮影装置、Ｘ
線ＣＴ装置などのＸ線管球に高電圧を供給するＸ線高電
圧装置に関し、特にＸ線管球等の経年変動によりフィラ
メントの加熱電流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が
変化するのを適正に補償することができるＸ線高電圧装
置に関する。
線ＣＴ装置などのＸ線管球に高電圧を供給するＸ線高電
圧装置に関し、特にＸ線管球等の経年変動によりフィラ
メントの加熱電流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が
変化するのを適正に補償することができるＸ線高電圧装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種のＸ線高電圧装置は、図３
に示すように、Ｘ線管球１のフィラメントをフィラメン
ト加熱回路２で加熱し、上記Ｘ線管球１のＸ線曝射時の
実管電流を管電流検出回路３で検出し、上記Ｘ線管球１
に高電圧を印加する高圧トランス回路４と、上記Ｘ線管
球１に印加する管電流を管電流設定回路５で設定し、こ
の設定された管電流と上記管電流検出回路３で検出した
実管電流とを管電流比較回路６で比較し、この比較した
電流差に応じてフィラメント加熱制御回路７でＸ線管球
１のフィラメント加熱の加熱電流又は加熱電圧を上記フ
ィラメント加熱回路２へ送りフィードバック制御し、上
記Ｘ線管球１のフィラメント加熱の補正計算を制御演算
回路８で行い、Ｘ線曝射時のＸ線管球１のフィラメント
加熱の初期値を初期値記憶回路９で記憶し、Ｘ線管球１
のＸ線曝射条件の設定及び制御をするＸ線制御装置１０
とを備えて成っていた。なお、上記Ｘ線管球１のフィラ
メントの加熱は、そのフィラメントに印加する加熱電流
又は加熱電圧で制御するようになっている。
に示すように、Ｘ線管球１のフィラメントをフィラメン
ト加熱回路２で加熱し、上記Ｘ線管球１のＸ線曝射時の
実管電流を管電流検出回路３で検出し、上記Ｘ線管球１
に高電圧を印加する高圧トランス回路４と、上記Ｘ線管
球１に印加する管電流を管電流設定回路５で設定し、こ
の設定された管電流と上記管電流検出回路３で検出した
実管電流とを管電流比較回路６で比較し、この比較した
電流差に応じてフィラメント加熱制御回路７でＸ線管球
１のフィラメント加熱の加熱電流又は加熱電圧を上記フ
ィラメント加熱回路２へ送りフィードバック制御し、上
記Ｘ線管球１のフィラメント加熱の補正計算を制御演算
回路８で行い、Ｘ線曝射時のＸ線管球１のフィラメント
加熱の初期値を初期値記憶回路９で記憶し、Ｘ線管球１
のＸ線曝射条件の設定及び制御をするＸ線制御装置１０
とを備えて成っていた。なお、上記Ｘ線管球１のフィラ
メントの加熱は、そのフィラメントに印加する加熱電流
又は加熱電圧で制御するようになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のＸ線高電圧装置においては、Ｘ線管球１の管電流毎
のフィラメントの加熱電流又は加熱電圧のＸ線曝射時の
初期値は、装置の据え付け時に一旦決めてしまうと、そ
の後は変更していなかった。すなわち、初期値記憶回路
９に記憶されたＸ線管球１のフィラメント加熱の初期値
を入れ換えて記憶させることは、行っていなかった。そ
のため、Ｘ線管球１等の経年変動や、エージングの不足
や、暫く使用していないなどの理由によって、据え付け
時に決めた管電流毎のフィラメントの加熱電流又は加熱
電圧のＸ線曝射時の初期値では、Ｘ線曝射直後は設定管
電流にならないようになってくる。特に、Ｘ線透視で
は、据え付け時に管電流を低く設定してもＸ線曝射直後
には大きな管電流が流れるようになり、管電流のフィー
ドバック制御が動作する前に過電流回路が動作し、イン
ターロックが働いて透視、撮影ができなくなることがあ
った。また、Ｘ線撮影では、据え付け時はＸ線曝射直後
から設定管電流になっていたが、経年変動によってＸ線
曝射直後から設定管電流にならないようになることで、
自動露出使用時においては撮影時間の変動、マニュアル
撮影では写真濃度の変動が発生することがあった。そし
て、このような不具合が発生する度に再調整していた。
来のＸ線高電圧装置においては、Ｘ線管球１の管電流毎
のフィラメントの加熱電流又は加熱電圧のＸ線曝射時の
初期値は、装置の据え付け時に一旦決めてしまうと、そ
の後は変更していなかった。すなわち、初期値記憶回路
９に記憶されたＸ線管球１のフィラメント加熱の初期値
を入れ換えて記憶させることは、行っていなかった。そ
のため、Ｘ線管球１等の経年変動や、エージングの不足
や、暫く使用していないなどの理由によって、据え付け
時に決めた管電流毎のフィラメントの加熱電流又は加熱
電圧のＸ線曝射時の初期値では、Ｘ線曝射直後は設定管
電流にならないようになってくる。特に、Ｘ線透視で
は、据え付け時に管電流を低く設定してもＸ線曝射直後
には大きな管電流が流れるようになり、管電流のフィー
ドバック制御が動作する前に過電流回路が動作し、イン
ターロックが働いて透視、撮影ができなくなることがあ
った。また、Ｘ線撮影では、据え付け時はＸ線曝射直後
から設定管電流になっていたが、経年変動によってＸ線
曝射直後から設定管電流にならないようになることで、
自動露出使用時においては撮影時間の変動、マニュアル
撮影では写真濃度の変動が発生することがあった。そし
て、このような不具合が発生する度に再調整していた。
【０００４】そこで、本発明は、このような問題点に対
処し、Ｘ線管球等の経年変動によりフィラメントの加熱
電流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が変化するのを
適正に補償することができるＸ線高電圧装置を提供する
ことを目的とする。
処し、Ｘ線管球等の経年変動によりフィラメントの加熱
電流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が変化するのを
適正に補償することができるＸ線高電圧装置を提供する
ことを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるＸ線高電圧装置は、Ｘ線管球のフィラ
メントをフィラメント加熱回路で加熱し、上記Ｘ線管球
のＸ線曝射時の実管電流を管電流検出回路で検出し、上
記Ｘ線管球に高電圧を印加する高圧トランス回路と、上
記Ｘ線管球に印加する管電流を管電流設定回路で設定
し、この設定された管電流と上記管電流検出回路で検出
した実管電流とを管電流比較回路で比較し、この比較し
た電流差に応じてフィラメント加熱制御回路でＸ線管球
のフィラメント加熱の加熱電流又は加熱電圧を上記フィ
ラメント加熱回路へ送りフィードバック制御し、上記Ｘ
線管球のフィラメント加熱の補正計算を制御演算回路で
行い、Ｘ線曝射時のＸ線管球のフィラメント加熱の初期
値を初期値記憶回路で記憶し、Ｘ線管球のＸ線曝射条件
の設定及び制御をするＸ線制御装置とを備えて成るＸ線
高電圧装置において、上記Ｘ線制御装置の内部に、Ｘ線
管球のフィラメント加熱のフィードバック制御により管
電流が適正値になったときのその加熱電流又は加熱電圧
を記憶するフィラメント加熱記憶回路と、上記Ｘ線管球
のＸ線曝射の間隔を計測し記憶する時計回路とを設け、
上記フィラメント加熱記憶回路から一定時間間隔以内の
加熱電流又は加熱電圧を選んで初期値記憶回路の初期値
を入れ換えて記憶すると共に、それを読み出して上記フ
ィラメント加熱制御回路に新たな加熱電流又は加熱電圧
の初期値を与えるようにしたものである。
に、本発明によるＸ線高電圧装置は、Ｘ線管球のフィラ
メントをフィラメント加熱回路で加熱し、上記Ｘ線管球
のＸ線曝射時の実管電流を管電流検出回路で検出し、上
記Ｘ線管球に高電圧を印加する高圧トランス回路と、上
記Ｘ線管球に印加する管電流を管電流設定回路で設定
し、この設定された管電流と上記管電流検出回路で検出
した実管電流とを管電流比較回路で比較し、この比較し
た電流差に応じてフィラメント加熱制御回路でＸ線管球
のフィラメント加熱の加熱電流又は加熱電圧を上記フィ
ラメント加熱回路へ送りフィードバック制御し、上記Ｘ
線管球のフィラメント加熱の補正計算を制御演算回路で
行い、Ｘ線曝射時のＸ線管球のフィラメント加熱の初期
値を初期値記憶回路で記憶し、Ｘ線管球のＸ線曝射条件
の設定及び制御をするＸ線制御装置とを備えて成るＸ線
高電圧装置において、上記Ｘ線制御装置の内部に、Ｘ線
管球のフィラメント加熱のフィードバック制御により管
電流が適正値になったときのその加熱電流又は加熱電圧
を記憶するフィラメント加熱記憶回路と、上記Ｘ線管球
のＸ線曝射の間隔を計測し記憶する時計回路とを設け、
上記フィラメント加熱記憶回路から一定時間間隔以内の
加熱電流又は加熱電圧を選んで初期値記憶回路の初期値
を入れ換えて記憶すると共に、それを読み出して上記フ
ィラメント加熱制御回路に新たな加熱電流又は加熱電圧
の初期値を与えるようにしたものである。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳細に説明する。図１は本発明によるＸ
線高電圧装置の実施の形態を示すブロック図である。こ
のＸ線高電圧装置は、Ｘ線撮影装置、Ｘ線ＣＴ装置など
のＸ線管球に高電圧を供給するもので、図１に示すよう
に、高圧トランス回路４と、Ｘ線制御装置１０とを備え
て成る。
図面に基づいて詳細に説明する。図１は本発明によるＸ
線高電圧装置の実施の形態を示すブロック図である。こ
のＸ線高電圧装置は、Ｘ線撮影装置、Ｘ線ＣＴ装置など
のＸ線管球に高電圧を供給するもので、図１に示すよう
に、高圧トランス回路４と、Ｘ線制御装置１０とを備え
て成る。
【０００７】上記高圧トランス回路４は、Ｘ線管球１に
高電圧を印加するもので、上記Ｘ線管球１のフィラメン
トを加熱するフィラメント加熱回路２と、上記Ｘ線管球
１のＸ線曝射時の実管電流を検出する管電流検出回路３
とを有して成る。また、Ｘ線制御装置１０は、Ｘ線管球
１のＸ線曝射条件の設定及び制御をするもので、上記Ｘ
線管球１に印加する管電流を設定する管電流設定回路５
と、この設定された管電流と上記管電流検出回路３で検
出した実管電流とを比較する管電流比較回路６と、この
比較した電流差に応じてＸ線管球１のフィラメント加熱
の加熱電流又は加熱電圧を上記フィラメント加熱回路２
へ送りフィードバック制御するフィラメント加熱制御回
路７と、上記Ｘ線管球１のフィラメント加熱の補正計算
を行う制御演算回路８と、Ｘ線曝射時のＸ線管球１のフ
ィラメント加熱の初期値を記憶する初期値記憶回路９と
を有して成る。
高電圧を印加するもので、上記Ｘ線管球１のフィラメン
トを加熱するフィラメント加熱回路２と、上記Ｘ線管球
１のＸ線曝射時の実管電流を検出する管電流検出回路３
とを有して成る。また、Ｘ線制御装置１０は、Ｘ線管球
１のＸ線曝射条件の設定及び制御をするもので、上記Ｘ
線管球１に印加する管電流を設定する管電流設定回路５
と、この設定された管電流と上記管電流検出回路３で検
出した実管電流とを比較する管電流比較回路６と、この
比較した電流差に応じてＸ線管球１のフィラメント加熱
の加熱電流又は加熱電圧を上記フィラメント加熱回路２
へ送りフィードバック制御するフィラメント加熱制御回
路７と、上記Ｘ線管球１のフィラメント加熱の補正計算
を行う制御演算回路８と、Ｘ線曝射時のＸ線管球１のフ
ィラメント加熱の初期値を記憶する初期値記憶回路９と
を有して成る。
【０００８】ここで、本発明においては、上記Ｘ線制御
装置１０の内部に、フィラメント加熱記憶回路１１と時
計回路１２とが設けられている。上記フィラメント加熱
記憶回路１１は、Ｘ線管球１のフィラメント加熱のフィ
ードバック制御により管電流が適正値になったときのそ
の加熱電流又は加熱電圧を記憶するもので、前記フィラ
メント加熱制御回路７から信号を取り込むと共に制御演
算回路８へ送るようになっている。また、時計回路１２
は、上記Ｘ線管球１のＸ線曝射の間隔を計測し記憶する
ものである。そして、制御演算回路８の制御により、上
記フィラメント加熱記憶回路１１から一定時間間隔以内
の加熱電流又は加熱電圧を選んで初期値記憶回路９の初
期値を入れ換えて記憶すると共に、それを読み出して上
記フィラメント加熱制御回路７に新たな加熱電流又は加
熱電圧の初期値を与えるようになっている。
装置１０の内部に、フィラメント加熱記憶回路１１と時
計回路１２とが設けられている。上記フィラメント加熱
記憶回路１１は、Ｘ線管球１のフィラメント加熱のフィ
ードバック制御により管電流が適正値になったときのそ
の加熱電流又は加熱電圧を記憶するもので、前記フィラ
メント加熱制御回路７から信号を取り込むと共に制御演
算回路８へ送るようになっている。また、時計回路１２
は、上記Ｘ線管球１のＸ線曝射の間隔を計測し記憶する
ものである。そして、制御演算回路８の制御により、上
記フィラメント加熱記憶回路１１から一定時間間隔以内
の加熱電流又は加熱電圧を選んで初期値記憶回路９の初
期値を入れ換えて記憶すると共に、それを読み出して上
記フィラメント加熱制御回路７に新たな加熱電流又は加
熱電圧の初期値を与えるようになっている。
【０００９】次に、このように構成されたＸ線高電圧装
置により、Ｘ線管球１のＸ線曝射中に管電流を検出して
フィラメント加熱を制御する動作を説明する。なお、Ｘ
線管球１のフィラメントの加熱は、そのフィラメントに
印加する加熱電流又は加熱電圧で制御するようになって
いるが、ここでは加熱電流で制御する場合について説明
する。この場合は、図１において、フィラメント加熱制
御回路７はフィラメント加熱電流制御回路となり、フィ
ラメント加熱記憶回路１１はフィラメント加熱電流記憶
回路となる。いま、管電流検出回路３で検出されたＸ線
管球１の実管電流をＩtとし、管電流設定回路５で設定
された管電流をＩbとし、管電流比較回路６で比較出力
された電流差をＩsとすると、 Ｉs＝Ｉt−Ｉb …（１） となる。
置により、Ｘ線管球１のＸ線曝射中に管電流を検出して
フィラメント加熱を制御する動作を説明する。なお、Ｘ
線管球１のフィラメントの加熱は、そのフィラメントに
印加する加熱電流又は加熱電圧で制御するようになって
いるが、ここでは加熱電流で制御する場合について説明
する。この場合は、図１において、フィラメント加熱制
御回路７はフィラメント加熱電流制御回路となり、フィ
ラメント加熱記憶回路１１はフィラメント加熱電流記憶
回路となる。いま、管電流検出回路３で検出されたＸ線
管球１の実管電流をＩtとし、管電流設定回路５で設定
された管電流をＩbとし、管電流比較回路６で比較出力
された電流差をＩsとすると、 Ｉs＝Ｉt−Ｉb …（１） となる。
【００１０】上記式（１）において、電流差Ｉs＜０の
場合は、設定した管電流Ｉbに対し実管電流Ｉtが低い場
合である。そのため、次のように加熱電流を補正する。
すなわち、装置の据え付け時に決められ初期値記憶回路
９に記憶されたＸ線曝射時の加熱電流の初期値をＩf0と
し、フィラメント加熱制御回路７に記憶された加熱電流
の補正値をＩfhとし、フィラメント加熱記憶回路１１に
記憶されＸ線曝射終了時の加熱電流値をＩfとすると、
上記フィラメント加熱制御回路７で初期値Ｉf0に補正値
Ｉfhを加えて Ｉf＝Ｉf0＋Ｉfh …（２） のように加熱電流を補正する。つまり、加熱電流値Ｉf
を高くする。
場合は、設定した管電流Ｉbに対し実管電流Ｉtが低い場
合である。そのため、次のように加熱電流を補正する。
すなわち、装置の据え付け時に決められ初期値記憶回路
９に記憶されたＸ線曝射時の加熱電流の初期値をＩf0と
し、フィラメント加熱制御回路７に記憶された加熱電流
の補正値をＩfhとし、フィラメント加熱記憶回路１１に
記憶されＸ線曝射終了時の加熱電流値をＩfとすると、
上記フィラメント加熱制御回路７で初期値Ｉf0に補正値
Ｉfhを加えて Ｉf＝Ｉf0＋Ｉfh …（２） のように加熱電流を補正する。つまり、加熱電流値Ｉf
を高くする。
【００１１】また、上記式（１）において、電流差Ｉs
＞０の場合は、設定した管電流Ｉbに対し実管電流Ｉtが
高い場合である。そのため、次のように加熱電流を補正
する。すなわち、上記フィラメント加熱制御回路７で初
期値Ｉf0から補正値Ｉfhを引いて Ｉf＝Ｉf0−Ｉfh …（３） のように加熱電流を補正する。つまり、加熱電流値Ｉf
を低くする。これらの制御は、Ｘ線曝射中に管電流フィ
ードバック制御として常に行われている。
＞０の場合は、設定した管電流Ｉbに対し実管電流Ｉtが
高い場合である。そのため、次のように加熱電流を補正
する。すなわち、上記フィラメント加熱制御回路７で初
期値Ｉf0から補正値Ｉfhを引いて Ｉf＝Ｉf0−Ｉfh …（３） のように加熱電流を補正する。つまり、加熱電流値Ｉf
を低くする。これらの制御は、Ｘ線曝射中に管電流フィ
ードバック制御として常に行われている。
【００１２】上記管電流フィードバック制御の様子を図
２に示す。まず、加熱開始時ｔ0では、図１に示す初期
値記憶回路９に記憶された加熱電流の初期値Ｉf0を読み
出してフィラメント加熱制御回路７に送り、この初期値
Ｉf0を用いてフィラメント加熱回路２を介してＸ線管球
１を加熱する。次に、Ｘ線曝射開始時ｔ1には、Ｘ線管
球１からＸ線を曝射しこのＸ線曝射中に管電流検出回路
３で実管電流Ｉtを検出し、管電流比較回路６及びフィ
ラメント加熱制御回路７を介して加熱電流を補正すると
共に、管電流フィードバック制御を行う。そして、この
Ｘ線曝射中に設定管電流に到達したときのフィラメント
の加熱電流Ｉfをフィラメント加熱記憶回路１１に記憶
する。
２に示す。まず、加熱開始時ｔ0では、図１に示す初期
値記憶回路９に記憶された加熱電流の初期値Ｉf0を読み
出してフィラメント加熱制御回路７に送り、この初期値
Ｉf0を用いてフィラメント加熱回路２を介してＸ線管球
１を加熱する。次に、Ｘ線曝射開始時ｔ1には、Ｘ線管
球１からＸ線を曝射しこのＸ線曝射中に管電流検出回路
３で実管電流Ｉtを検出し、管電流比較回路６及びフィ
ラメント加熱制御回路７を介して加熱電流を補正すると
共に、管電流フィードバック制御を行う。そして、この
Ｘ線曝射中に設定管電流に到達したときのフィラメント
の加熱電流Ｉfをフィラメント加熱記憶回路１１に記憶
する。
【００１３】このとき、管電流が大きい場合は、Ｘ線曝
射直後に設定管電流に到達したときの加熱電流に比べＸ
線曝射時間が長くなったときでは、加熱電流を大きくし
ないと設定管電流にならなくなってくる。そのため、上
記フィラメント加熱記憶回路１１に記憶する加熱電流Ｉ
fは、Ｘ線曝射直後において設定管電流に到達したとき
の加熱電流にする必要がある。このようにして、初期値
Ｉf0で加熱し、補正値Ｉfhで補正をしつつフィードバッ
ク制御を行い、設定管電流に到達させるように動作す
る。
射直後に設定管電流に到達したときの加熱電流に比べＸ
線曝射時間が長くなったときでは、加熱電流を大きくし
ないと設定管電流にならなくなってくる。そのため、上
記フィラメント加熱記憶回路１１に記憶する加熱電流Ｉ
fは、Ｘ線曝射直後において設定管電流に到達したとき
の加熱電流にする必要がある。このようにして、初期値
Ｉf0で加熱し、補正値Ｉfhで補正をしつつフィードバッ
ク制御を行い、設定管電流に到達させるように動作す
る。
【００１４】このような動作により、Ｘ線管球１に高電
圧を供給するが、上記フィラメント加熱記憶回路１１に
記憶された加熱電流Ｉfと初期値記憶回路９に記憶され
た初期値Ｉf0とを制御演算回路８で比較し、その差が大
きくなったとき（例えば５％の差が生じたとき）に、実
際にＸ線曝射をした管電流については、上記制御演算回
路８の制御により初期値記憶回路９に記憶された初期値
Ｉf0をフィラメント加熱記憶回路１１に記憶された加熱
電流Ｉfで置き換え、初期値記憶回路９の初期値を入れ
換える。これによって、いま実際にＸ線曝射をした管電
流については、Ｘ線曝射時の加熱電流の初期値に補正が
行われる。
圧を供給するが、上記フィラメント加熱記憶回路１１に
記憶された加熱電流Ｉfと初期値記憶回路９に記憶され
た初期値Ｉf0とを制御演算回路８で比較し、その差が大
きくなったとき（例えば５％の差が生じたとき）に、実
際にＸ線曝射をした管電流については、上記制御演算回
路８の制御により初期値記憶回路９に記憶された初期値
Ｉf0をフィラメント加熱記憶回路１１に記憶された加熱
電流Ｉfで置き換え、初期値記憶回路９の初期値を入れ
換える。これによって、いま実際にＸ線曝射をした管電
流については、Ｘ線曝射時の加熱電流の初期値に補正が
行われる。
【００１５】なお、上記の補正が行われたとき、図１に
示す時計回路１２により、異なる二つの管電流について
Ｘ線曝射の時間間隔があまり離れていないもの、或いは
各管電流の最後の曝射の日時を呼び出し、ある一定時間
間隔以内（通常は同一日がよい）にＸ線曝射した他の管
電流の加熱電流値を呼び出して用い、補正計算し、Ｘ線
曝射をしていない管電流も補正するようにしてある。そ
の補正計算は、図１に示す制御演算回路８で行う。い
ま、Ｘ線管球１のフィラメントの加熱電流値をＩfと
し、Ｘ線管球１の管電流値をＩmとし、係数をａ，ｂと
すると、加熱電流値Ｉfは、次の式（４）の関係により
算出できる。上式の対数をとると、次のようになる。 ｌｎ(Ｉf)＝ａ×ｌｎ(Ｉm)＋ｌｎ(ｂ) …（５）
示す時計回路１２により、異なる二つの管電流について
Ｘ線曝射の時間間隔があまり離れていないもの、或いは
各管電流の最後の曝射の日時を呼び出し、ある一定時間
間隔以内（通常は同一日がよい）にＸ線曝射した他の管
電流の加熱電流値を呼び出して用い、補正計算し、Ｘ線
曝射をしていない管電流も補正するようにしてある。そ
の補正計算は、図１に示す制御演算回路８で行う。い
ま、Ｘ線管球１のフィラメントの加熱電流値をＩfと
し、Ｘ線管球１の管電流値をＩmとし、係数をａ，ｂと
すると、加熱電流値Ｉfは、次の式（４）の関係により
算出できる。上式の対数をとると、次のようになる。 ｌｎ(Ｉf)＝ａ×ｌｎ(Ｉm)＋ｌｎ(ｂ) …（５）
【００１６】上記式（５）において、管電流値がＩm1，
Ｉm2の２点のときの加熱電流値をそれぞれＩf1，Ｉf2と
すると、係数ａ，ｂは次の式で求められる。 ａ＝｛ｌｎ(Ｉf2)−ｌｎ(Ｉf1)｝／｛ｌｎ(Ｉm2)−ｌｎ
(Ｉm1)｝ ｌｎ(ｂ)＝ｌｎ(Ｉf1)−ａ×ｌｎ(Ｉm1) よって、他の管電流における加熱電流値は、 Ｉf＝eｘp(ａ×ｌｎ(Ｉm)＋ｌｎ(ｂ)) で求められる。この計算によって得られた加熱電流値Ｉ
fを用いて、初期値記憶回路９に記憶された各管電流毎
の初期値Ｉf0を置き換える。これによって、次の回にお
けるＸ線曝射について、Ｘ線曝射時の加熱電流の初期値
に補正が行われ、図２に破線１３で示すように加熱開始
時からスムーズに設定管電流に到達する。
Ｉm2の２点のときの加熱電流値をそれぞれＩf1，Ｉf2と
すると、係数ａ，ｂは次の式で求められる。 ａ＝｛ｌｎ(Ｉf2)−ｌｎ(Ｉf1)｝／｛ｌｎ(Ｉm2)−ｌｎ
(Ｉm1)｝ ｌｎ(ｂ)＝ｌｎ(Ｉf1)−ａ×ｌｎ(Ｉm1) よって、他の管電流における加熱電流値は、 Ｉf＝eｘp(ａ×ｌｎ(Ｉm)＋ｌｎ(ｂ)) で求められる。この計算によって得られた加熱電流値Ｉ
fを用いて、初期値記憶回路９に記憶された各管電流毎
の初期値Ｉf0を置き換える。これによって、次の回にお
けるＸ線曝射について、Ｘ線曝射時の加熱電流の初期値
に補正が行われ、図２に破線１３で示すように加熱開始
時からスムーズに設定管電流に到達する。
【００１７】なお、以上の説明では、Ｘ線管球１のフィ
ラメントの加熱を、そのフィラメントに印加する加熱電
流で制御する場合について説明したが、本発明はこれに
限らず、フィラメントに印加する加熱電圧で制御するよ
うにしてもよい。この場合は、図１において、フィラメ
ント加熱制御回路７はフィラメント加熱電圧制御回路と
なり、フィラメント加熱記憶回路１１はフィラメント加
熱電圧記憶回路となる。また、その他の動作説明におい
て、フィラメントの加熱電流値を、加熱電圧値と読み換
えればよい。
ラメントの加熱を、そのフィラメントに印加する加熱電
流で制御する場合について説明したが、本発明はこれに
限らず、フィラメントに印加する加熱電圧で制御するよ
うにしてもよい。この場合は、図１において、フィラメ
ント加熱制御回路７はフィラメント加熱電圧制御回路と
なり、フィラメント加熱記憶回路１１はフィラメント加
熱電圧記憶回路となる。また、その他の動作説明におい
て、フィラメントの加熱電流値を、加熱電圧値と読み換
えればよい。
【００１８】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されたので、
Ｘ線管球のＸ線曝射条件の設定及び制御をするＸ線制御
装置の内部に、Ｘ線管球のフィラメント加熱のフィード
バック制御により管電流が適正値になったときのその加
熱電流又は加熱電圧を記憶するフィラメント加熱記憶回
路と、上記Ｘ線管球のＸ線曝射の間隔を計測し記憶する
時計回路とを設け、上記フィラメント加熱記憶回路から
一定時間間隔以内の加熱電流又は加熱電圧を選んで初期
値記憶回路の初期値を入れ換えて記憶すると共に、それ
を読み出してフィラメント加熱制御回路に新たな加熱電
流又は加熱電圧の初期値を与えるようにしたことによ
り、Ｘ線管球等の経年変動によりフィラメントの加熱電
流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が変化するのを適
正に補償することができる。従って、Ｘ線曝射直後から
設定した管電流に早く到達することができる。
Ｘ線管球のＸ線曝射条件の設定及び制御をするＸ線制御
装置の内部に、Ｘ線管球のフィラメント加熱のフィード
バック制御により管電流が適正値になったときのその加
熱電流又は加熱電圧を記憶するフィラメント加熱記憶回
路と、上記Ｘ線管球のＸ線曝射の間隔を計測し記憶する
時計回路とを設け、上記フィラメント加熱記憶回路から
一定時間間隔以内の加熱電流又は加熱電圧を選んで初期
値記憶回路の初期値を入れ換えて記憶すると共に、それ
を読み出してフィラメント加熱制御回路に新たな加熱電
流又は加熱電圧の初期値を与えるようにしたことによ
り、Ｘ線管球等の経年変動によりフィラメントの加熱電
流又は加熱電圧のＸ線曝射時の初期値が変化するのを適
正に補償することができる。従って、Ｘ線曝射直後から
設定した管電流に早く到達することができる。
【００１９】このとき、Ｘ線曝射をした一つの管電流で
も、いまＸ線曝射をしたその管電流のＸ線曝射時の加熱
電流又は加熱電圧の初期値に補正を行うことができる。
また、時計回路を設けることにより、Ｘ線曝射の日時を
記憶し、その日時の差によってより近い日時にＸ線曝射
をした二つの異なる管電流を探して補正計算することに
より、より正確に補正を行うことができる。
も、いまＸ線曝射をしたその管電流のＸ線曝射時の加熱
電流又は加熱電圧の初期値に補正を行うことができる。
また、時計回路を設けることにより、Ｘ線曝射の日時を
記憶し、その日時の差によってより近い日時にＸ線曝射
をした二つの異なる管電流を探して補正計算することに
より、より正確に補正を行うことができる。
【００２０】これらにより、Ｘ線透視では、据え付け時
に管電流を低く設定してもＸ線曝射直後には大きな管電
流が流れるようになり、管電流のフィードバック制御が
動作する前に過電流回路が動作し、インターロックが働
いて透視、撮影ができなくなるという状態を除去でき
る。また、Ｘ線撮影では、Ｘ線管球等の経年変動があっ
ても、設定管電流にＸ線曝射直後から常に制御でき、自
動露出使用時においては撮影時間の変動、マニュアル撮
影では写真濃度の変動が発生するという状態を除去で
き、そのための再調整を不要とすることができる。
に管電流を低く設定してもＸ線曝射直後には大きな管電
流が流れるようになり、管電流のフィードバック制御が
動作する前に過電流回路が動作し、インターロックが働
いて透視、撮影ができなくなるという状態を除去でき
る。また、Ｘ線撮影では、Ｘ線管球等の経年変動があっ
ても、設定管電流にＸ線曝射直後から常に制御でき、自
動露出使用時においては撮影時間の変動、マニュアル撮
影では写真濃度の変動が発生するという状態を除去で
き、そのための再調整を不要とすることができる。
【図１】本発明によるＸ線高電圧装置の実施の形態を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】上記Ｘ線高電圧装置によりＸ線曝射時の管電流
をフィードバック制御する動作を説明するグラフであ
る。
をフィードバック制御する動作を説明するグラフであ
る。
【図３】従来のＸ線高電圧装置を示すブロック図であ
る。
る。
１ Ｘ線管球 ２ フィラメント加熱回路 ３ 管電流検出回路 ４ 高圧トランス回路 ５ 管電流設定回路 ６ 管電流比較回路 ７ フィラメント加熱制御回路 ８ 制御演算回路 ９ 初期値記憶回路 １０ Ｘ線制御装置 １１ フィラメント加熱記憶回路 １２ 時計回路。
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ線管球のフィラメントをフィラメント加
熱回路で加熱し、上記Ｘ線管球のＸ線曝射時の実管電流
を管電流検出回路で検出し、上記Ｘ線管球に高電圧を印
加する高圧トランス回路と、上記Ｘ線管球に印加する管
電流を管電流設定回路で設定し、この設定された管電流
と上記管電流検出回路で検出した実管電流とを管電流比
較回路で比較し、この比較した電流差に応じてフィラメ
ント加熱制御回路でＸ線管球のフィラメント加熱の加熱
電流又は加熱電圧を上記フィラメント加熱回路へ送りフ
ィードバック制御し、上記Ｘ線管球のフィラメント加熱
の補正計算を制御演算回路で行い、Ｘ線曝射時のＸ線管
球のフィラメント加熱の初期値を初期値記憶回路で記憶
し、Ｘ線管球のＸ線曝射条件の設定及び制御をするＸ線
制御装置とを備えて成るＸ線高電圧装置において、上記
Ｘ線制御装置の内部に、Ｘ線管球のフィラメント加熱の
フィードバック制御により管電流が適正値になったとき
のその加熱電流又は加熱電圧を記憶するフィラメント加
熱記憶回路と、上記Ｘ線管球のＸ線曝射の間隔を計測し
記憶する時計回路とを設け、上記フィラメント加熱記憶
回路から一定時間間隔以内の加熱電流又は加熱電圧を選
んで初期値記憶回路の初期値を入れ換えて記憶すると共
に、それを読み出して上記フィラメント加熱制御回路に
新たな加熱電流又は加熱電圧の初期値を与えるようにし
たことを特徴とするＸ線高電圧装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17281296A JPH103999A (ja) | 1996-06-13 | 1996-06-13 | Ｘ線高電圧装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17281296A JPH103999A (ja) | 1996-06-13 | 1996-06-13 | Ｘ線高電圧装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH103999A true JPH103999A (ja) | 1998-01-06 |
Family
ID=15948838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17281296A Pending JPH103999A (ja) | 1996-06-13 | 1996-06-13 | Ｘ線高電圧装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH103999A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018190581A (ja) * | 2017-05-01 | 2018-11-29 | 東芝電子管デバイス株式会社 | Ｘ線システムおよびｘ線管検査方法 |
| CN111568457A (zh) * | 2020-05-25 | 2020-08-25 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种分段控制灯丝电流快速软启动的调节方法 |
| CN113539768A (zh) * | 2021-07-21 | 2021-10-22 | 康达洲际医疗器械有限公司 | X射线管灯丝预热方法、装置及成像设备 |
-
1996
- 1996-06-13 JP JP17281296A patent/JPH103999A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018190581A (ja) * | 2017-05-01 | 2018-11-29 | 東芝電子管デバイス株式会社 | Ｘ線システムおよびｘ線管検査方法 |
| CN111568457A (zh) * | 2020-05-25 | 2020-08-25 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种分段控制灯丝电流快速软启动的调节方法 |
| CN111568457B (zh) * | 2020-05-25 | 2023-08-04 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种分段控制灯丝电流快速软启动的调节方法 |
| CN113539768A (zh) * | 2021-07-21 | 2021-10-22 | 康达洲际医疗器械有限公司 | X射线管灯丝预热方法、装置及成像设备 |
| CN113539768B (zh) * | 2021-07-21 | 2024-01-30 | 康达洲际医疗器械有限公司 | X射线管灯丝预热方法、装置及成像设备 |
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