JPH05242994A - Ｘ線制御装置 - Google Patents
Ｘ線制御装置Info
- Publication number
- JPH05242994A JPH05242994A JP7572692A JP7572692A JPH05242994A JP H05242994 A JPH05242994 A JP H05242994A JP 7572692 A JP7572692 A JP 7572692A JP 7572692 A JP7572692 A JP 7572692A JP H05242994 A JPH05242994 A JP H05242994A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- fluoroscope
- circuit
- filament heating
- heating voltage
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】透視管電流の設定を迅速に無駄なくさらに正確
に行うことにある。 【構成】比較回路６により透視管電流の設定値と検出回
路４からの測定値を比較し、この時の差分を制御回路８
に入力しフィラメント加熱電圧を補正し、Ｘ線管球１の
フィラメントに補正した電圧を加える。また、この設定
値に合ったときのフィラメント加熱電圧を記憶回路９で
記憶したおく。 【効果】透視管電流の差分からフィラメント加熱電圧を
調整するため、透視管電流を設定値に合わせることがで
きる。また、設定値に対応するフィラメント加熱電圧を
記憶するため、容易に適正値にすることができる。これ
らにより、設定値に調整するための時間の短縮や調整ミ
スを防ぐことができ、迅速で正確な設定をすることがで
きる
に行うことにある。 【構成】比較回路６により透視管電流の設定値と検出回
路４からの測定値を比較し、この時の差分を制御回路８
に入力しフィラメント加熱電圧を補正し、Ｘ線管球１の
フィラメントに補正した電圧を加える。また、この設定
値に合ったときのフィラメント加熱電圧を記憶回路９で
記憶したおく。 【効果】透視管電流の差分からフィラメント加熱電圧を
調整するため、透視管電流を設定値に合わせることがで
きる。また、設定値に対応するフィラメント加熱電圧を
記憶するため、容易に適正値にすることができる。これ
らにより、設定値に調整するための時間の短縮や調整ミ
スを防ぐことができ、迅速で正確な設定をすることがで
きる
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線制御装置に係り、特
にＸ線管球に流れる透視管電流の制御に関する。
にＸ線管球に流れる透視管電流の制御に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線撮影装置では、Ｘ線管球よりＸ線を
照射してＸ線フィルムにＸ線像を撮影したり、あるいは
Ｉ．Ｉ．によりＸ線像を光学像に変換してＴＶモニタで
透視画像を観察していた。そして、Ｘ線撮影装置は個々
の病院などで装置設置条件や電源事情が異なり、据付時
に撮影条件や透視条件に係る装置の設定値を調整する必
要がある。このため透視管電流を例にとると従来、装置
での設定値と実際の透視管電流とを整合するために装置
の据付時に、Ｘ線管球のフィラメント加熱電圧を調整し
ながら実際の透視管電流を測定し、その測定値が設定値
となるように調整する方法がとられていた。
照射してＸ線フィルムにＸ線像を撮影したり、あるいは
Ｉ．Ｉ．によりＸ線像を光学像に変換してＴＶモニタで
透視画像を観察していた。そして、Ｘ線撮影装置は個々
の病院などで装置設置条件や電源事情が異なり、据付時
に撮影条件や透視条件に係る装置の設定値を調整する必
要がある。このため透視管電流を例にとると従来、装置
での設定値と実際の透視管電流とを整合するために装置
の据付時に、Ｘ線管球のフィラメント加熱電圧を調整し
ながら実際の透視管電流を測定し、その測定値が設定値
となるように調整する方法がとられていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のフィラメン
ト加熱電圧を調整しながら透視管電流を設定値に調整す
る方法では、調整のために時間及び工程がかかってい
た。また、設定値が複数個存在する場合にはさらに多く
の時間、工程がかかり調整が大変なものとなっていた。
ト加熱電圧を調整しながら透視管電流を設定値に調整す
る方法では、調整のために時間及び工程がかかってい
た。また、設定値が複数個存在する場合にはさらに多く
の時間、工程がかかり調整が大変なものとなっていた。
【０００４】そこで本発明の目的は、据付時に行う透視
管電流の設定を迅速に無駄なくさらに正確に行うことに
ある。
管電流の設定を迅速に無駄なくさらに正確に行うことに
ある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、Ｘ線管球のフィラメント加熱電圧を制御する制御回
路と、Ｘ線管球に流れる透視管電流を検出する検出回路
とを備えたＸ線制御装置において、上記透視管電流を設
定する設定回路と、透視管電流の設定値と前記検出回路
からの測定値を比較する比較回路と、この比較回路で生
じる差により上記フィラメント加熱電圧を調整制御する
自動調整制御手段とを設けたものである。
に、Ｘ線管球のフィラメント加熱電圧を制御する制御回
路と、Ｘ線管球に流れる透視管電流を検出する検出回路
とを備えたＸ線制御装置において、上記透視管電流を設
定する設定回路と、透視管電流の設定値と前記検出回路
からの測定値を比較する比較回路と、この比較回路で生
じる差により上記フィラメント加熱電圧を調整制御する
自動調整制御手段とを設けたものである。
【０００６】
【作用】設定回路により透視に最適な透視管電流を設定
し、比較回路により設定値と検出回路からの測定値とを
比較する。そして、この比較した差に応じて自動調整制
御手段がフィラメント加熱電圧を調整し、設定された透
視管電流に相当するフィラメント加熱電圧にする。これ
により、透視管電流の設定がすばやくさらに簡単に行え
る。
し、比較回路により設定値と検出回路からの測定値とを
比較する。そして、この比較した差に応じて自動調整制
御手段がフィラメント加熱電圧を調整し、設定された透
視管電流に相当するフィラメント加熱電圧にする。これ
により、透視管電流の設定がすばやくさらに簡単に行え
る。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１及び図２によ
り説明する。図１は本発明の構成を示すブロック図、図
２は透視管電流の測定によりフィラメント加熱電圧の変
化を示す図である。１はＸ線管球、２はＸ線管球１に高
電圧を印加する高圧トランス、３はＸ線管球１にフィラ
メント加熱電圧を印加するフィラメント加熱回路、４は
Ｘ線管球１に流れる透視管電流等の電流を検出する検出
回路である。このフィラメント加熱回路３及び検出回路
４を有して高圧トランス２を構成する。
り説明する。図１は本発明の構成を示すブロック図、図
２は透視管電流の測定によりフィラメント加熱電圧の変
化を示す図である。１はＸ線管球、２はＸ線管球１に高
電圧を印加する高圧トランス、３はＸ線管球１にフィラ
メント加熱電圧を印加するフィラメント加熱回路、４は
Ｘ線管球１に流れる透視管電流等の電流を検出する検出
回路である。このフィラメント加熱回路３及び検出回路
４を有して高圧トランス２を構成する。
【０００８】５は撮影条件の設定、制御をするＸ線制御
装置であり、透視管電流を設定する設定回路７と、設定
回路７で設定した設定値と測定値とを比較する比較回路
６と、比較回路６によって生じる差に応じてフィラメン
ト加熱電圧を制御する制御回路８と、透視管電流が適正
値となったときのフィラメント加熱電圧を記憶する記憶
回路９とで構成される。
装置であり、透視管電流を設定する設定回路７と、設定
回路７で設定した設定値と測定値とを比較する比較回路
６と、比較回路６によって生じる差に応じてフィラメン
ト加熱電圧を制御する制御回路８と、透視管電流が適正
値となったときのフィラメント加熱電圧を記憶する記憶
回路９とで構成される。
【０００９】次に、透視管電流の制御動作について説明
する。検出回路４によりＸ線管球１に流れる電流Ｉｔを
検出して、この電流Ｉｔと設定回路７により設定した透
視管電流Ｉｂを比較回路６により比較する。そして、測
定値と設定値の差電流をＩｓとすると次式となる。
する。検出回路４によりＸ線管球１に流れる電流Ｉｔを
検出して、この電流Ｉｔと設定回路７により設定した透
視管電流Ｉｂを比較回路６により比較する。そして、測
定値と設定値の差電流をＩｓとすると次式となる。
【００１０】Ｉｓ＝Ｉｔ−Ｉｂ
【００１１】この時、設定値電流Ｉｂより測定値電流Ｉ
ｔが低い場合にはＩｓ＜０となり、設定値よりも低いと
判断される。このため、制御回路８によりフィラメント
加熱電圧Ｖｆを高くする。さらに、この差電流Ｉｓの大
きさによりフィラメント加熱電圧Ｖｆに加える電圧の大
きさも変化する。つまり、差電流Ｉｓが大きい場合（Ｉ
ｓｌ）には、これに対応した補正加熱電圧Ｖｆｌを加え
る。
ｔが低い場合にはＩｓ＜０となり、設定値よりも低いと
判断される。このため、制御回路８によりフィラメント
加熱電圧Ｖｆを高くする。さらに、この差電流Ｉｓの大
きさによりフィラメント加熱電圧Ｖｆに加える電圧の大
きさも変化する。つまり、差電流Ｉｓが大きい場合（Ｉ
ｓｌ）には、これに対応した補正加熱電圧Ｖｆｌを加え
る。
【００１２】Ｖｆ＝Ｖｆ＋Ｖｆｌ
【００１３】また、差電流Ｉｓが中位（Ｉｓｍ）及び小
さい（Ｉｓｓ）ときにも同様に対応する補正加熱電圧Ｖ
ｆｍ、Ｖｆｓを加える。
さい（Ｉｓｓ）ときにも同様に対応する補正加熱電圧Ｖ
ｆｍ、Ｖｆｓを加える。
【００１４】Ｖｆ＝Ｖｆ＋Ｖｆｍ Ｖｆ＝Ｖｆ＋Ｖｆｓ
【００１５】次に、設定値電流Ｉｂより測定値電流Ｉｔ
が高い場合にはＩｓ＞０となり、設定値よりも高いと判
断し、制御回路８によりフィラメント加熱電圧Ｖｆを低
くする。さらに、前述と同様に差電流Ｉｓの大きさによ
りフィラメント加熱電圧Ｖｆから引かれる電圧の大きさ
も変化する。つまり、差電流ＩｓがＩｓｌ、Ｉｓｍ、Ｉ
ｓｓの場合に対応するように、補正加熱電圧Ｖｆｌ、Ｖ
ｆｍ、Ｖｆｓと変化する。
が高い場合にはＩｓ＞０となり、設定値よりも高いと判
断し、制御回路８によりフィラメント加熱電圧Ｖｆを低
くする。さらに、前述と同様に差電流Ｉｓの大きさによ
りフィラメント加熱電圧Ｖｆから引かれる電圧の大きさ
も変化する。つまり、差電流ＩｓがＩｓｌ、Ｉｓｍ、Ｉ
ｓｓの場合に対応するように、補正加熱電圧Ｖｆｌ、Ｖ
ｆｍ、Ｖｆｓと変化する。
【００１６】Ｖｆ＝Ｖｆ＋Ｖｆｌ Ｖｆ＝Ｖｆ＋Ｖｆｍ Ｖｆ＝Ｖｆ＋Ｖｆｓ
【００１７】以上のように、比較回路６で設定値と測定
値を比較し、この比較した差分を制御回路８によりフィ
ラメント加熱電圧に対応づけて変化させる。つまりフィ
ラメント加熱電圧を補正して、フィラメント加熱回路３
にフィードバックさせる。これにより、透視管電流が設
定値つまり適正値に制御される。
値を比較し、この比較した差分を制御回路８によりフィ
ラメント加熱電圧に対応づけて変化させる。つまりフィ
ラメント加熱電圧を補正して、フィラメント加熱回路３
にフィードバックさせる。これにより、透視管電流が設
定値つまり適正値に制御される。
【００１８】また、透視管電流が適正値になったとき、
記憶回路９は適正値の透視管電流におけるフィラメント
加熱電圧を記憶する。すると、次回の透視時にはフィラ
メントにこの適正時のフィラメント加熱電圧を加える。
これにより、透視管電流を容易に適正値とすることがで
きる。
記憶回路９は適正値の透視管電流におけるフィラメント
加熱電圧を記憶する。すると、次回の透視時にはフィラ
メントにこの適正時のフィラメント加熱電圧を加える。
これにより、透視管電流を容易に適正値とすることがで
きる。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、比較回路により透視管
電流の設定値と測定値を比較し、この時の差分を制御回
路に入力しフィラメント加熱電圧を補正し、Ｘ線管球の
フィラメントに補正した電圧を加えるため、透視管電流
を設定値に合わせることができる。また、この設定値に
合ったときのフィラメント加熱電圧を記憶回路で記憶し
たおくため、次回透視時にはフィラメント加熱電圧を適
正値に合ったときの値にするため、容易に適正値にする
ことができる。これらにより、設定値に調整するための
時間の短縮や調整ミスを防ぐことができ、迅速で正確な
設定をすることができる。
電流の設定値と測定値を比較し、この時の差分を制御回
路に入力しフィラメント加熱電圧を補正し、Ｘ線管球の
フィラメントに補正した電圧を加えるため、透視管電流
を設定値に合わせることができる。また、この設定値に
合ったときのフィラメント加熱電圧を記憶回路で記憶し
たおくため、次回透視時にはフィラメント加熱電圧を適
正値に合ったときの値にするため、容易に適正値にする
ことができる。これらにより、設定値に調整するための
時間の短縮や調整ミスを防ぐことができ、迅速で正確な
設定をすることができる。
【図１】本発明の構成を示すブロック図
【図２】透視管電流の測定によりフィラメント加熱電圧
の変化を示す図
の変化を示す図
１ Ｘ線管球 ２ 高圧トランス ３ フィラメント加熱回路 ４ 検出回路 ５ Ｘ線制御回路 ６ 比較回路 ７ 設定回路 ８ 制御回路 ９ 記憶回路
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ線管球のフィラメント加熱電圧を制御す
る制御回路と、Ｘ線管球に流れる透視管電流を検出する
検出回路とを備えたＸ線制御装置において、上記透視管
電流を設定する設定回路と、透視管電流の設定値と前記
検出回路からの測定値とを比較する比較回路と、この比
較回路で生じる差により上記フィラメント加熱電圧を調
整制御する自動調整制御手段とを設けたことを特徴とす
るＸ線制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7572692A JPH05242994A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | Ｘ線制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7572692A JPH05242994A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | Ｘ線制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05242994A true JPH05242994A (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=13584566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7572692A Pending JPH05242994A (ja) | 1992-02-28 | 1992-02-28 | Ｘ線制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05242994A (ja) |
-
1992
- 1992-02-28 JP JP7572692A patent/JPH05242994A/ja active Pending
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