JPS5892275A - 電界効果トランジスタの製造方法 - Google Patents

電界効果トランジスタの製造方法

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JPS5892275A
JPS5892275A JP19350781A JP19350781A JPS5892275A JP S5892275 A JPS5892275 A JP S5892275A JP 19350781 A JP19350781 A JP 19350781A JP 19350781 A JP19350781 A JP 19350781A JP S5892275 A JPS5892275 A JP S5892275A
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JP
Japan
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gate
electrode
gate electrode
field effect
effect transistor
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JP19350781A
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JPS6231833B2 (ja
Inventor
Takeshi Suzuki
武 鈴木
Shigeo Iki
伊木 茂男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPS5892275A publication Critical patent/JPS5892275A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/80Field effect transistors with field effect produced by a PN or other rectifying junction gate, i.e. potential-jump barrier

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  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は電界効果トランジスタの製造方法に関するも
のである。
電界効果トランジスタ、ζ\ではヒ化ガリウムを用いた
電界効果トランジスタ(以下GaAa FETと略称す
る)を例にして説明する。
GaAs P ETはマイクロ波領域において、小信号
および電力用項中器、tt)るいは発振器などに利用さ
れており、このGaAsFETの性能は主としてそのゲ
ート長により左右され、ゲート長を短くすることがその
要点の1つとなっている。そしてこのゲート電極は、一
般に光を用いた密着塵光、すなわちフォトリソグラフィ
法、電子ビーム露光法。
X線リングラフィ法などにより形成されるが、量産性を
考慮するとき、通常はフォトリングラフィ法を採用して
いる。
第1図ないし第3図は従来のGaAsFETの製造工程
を示すもので、各図(a)に平面を、(b)に同断面を
表わしである。すなわち、まず第1図に示すように、半
絶縁性基板(1)と、その−主面上に形成されて不純物
濃度が1〜3X101?Δ−のn形層(2)とからなる
QaAsウェハを用意し、とのクエハの前記n形層(2
)の表面上に、写真製版技術とリフトオ□ フ法によっ
て、ソース電極(3)およびドレイン電極(4)となる
金属膜を形成して熱処理を施すことによリ、それぞれに
オーミック電極を得る。ついで第2図に示すように1靜
電容量低減などのために、膣紀ソース電極(3)および
ドレイン電極(4)の各領域と、次のゲート形成領域と
を除く残余のn形層部分をメサエッチング除去した上で
、第3図に示すように、写真製版技術とフォトリング2
フイ法を利用して、ゲート電極用レジストパターン形成
電流調整用ゲートエッチングエ楊を経てゲート電極金属
膜を蒸着させ、リフトオフ法でゲート電極(5)を形成
するのでらる◇ こ\でこのような密着露光方式によるフォトリングラフ
ィ法により、微錘なゲート長をもつゲート電極を形成す
る場合、前記従来方法によると、ソース電極(3)とド
レイン電極(4)とく挾まれたn形層(2)上のゲート
電極(5)と、除去部分、すなわちメサエッチング部分
のボンディングバット部分とを同時に形成することから
、露光不足によってメサエッチフグ0部分が形成されな
かったり、あるいはメサとn形層の段差部分でゲート電
極(5)K断線・などの不良を生じ、製造歩留りが悪く
なる欠点が6つ九。
この発明は従来のこのような欠点を改善して、微細なゲ
ート長をもつGaAsFgTを歩留りよく製造するため
の方法を提供しようとするものであり、以下、この発明
方法の一実施例について詳細に説明する。
第4図および第5図はこの実施例方法によるGaAsF
BTの製造工程を示し、各図(a)に平面を。
(b)に同断面を表わしである。これらの各図において
、この実施例方法にあっても、まず前記第1図および第
2図工程と全く同様にして、n形層(2)上にソース電
極(3)およびドレイン電極(4)を形成してからメサ
エッチング工程を実施し、ついで第4図に示すように、
前記ソース電極(3)およびドレイ/電極(4)に挾ま
れたゲート形成領域に、写真製版技術とフォトリングラ
フィ法を利用して、微細なゲート長をもつゲート電極用
レジストパターンを形成し、蒸着工程を経てリフトオフ
法により、ゲート電極チャネル部(5a)を一旦形成さ
せ、さらに第5図に示すように1このゲート電極チャネ
ル部(シ)とそれぞれに電気的に連結されているところ
の、ゲート電極ボンディングバット部(sb) pおよ
び外周電流遮断用のバット部(5c)を形成するのであ
る。
すなわち、この実施例方法では、ゲート電極をチャネル
部(5a)と、ボンディングバット部(5b)と、外周
電流遮断用のバット部(5c)とに区分して形成するよ
うにしたものである。
なお前記実施例はGaAsを用いた電界効果トランジス
タについて述べたが、とのG a A sに限定される
ものでないことは勿論である。
以上詳述し友ようにこの発明方法によるときは、電界効
果トランジスタにあって、ゲート電極の形成に関し、こ
れを微細ゲート長を必要とするチャネル部電極領域と、
ゲートボンディングバットおよび外周電流遮断バットの
各部に区分して行なうようにしたから、各部分での露光
不足およびメサエッチング部分とn形層との段差部分で
の電極切れを完全に解消でき、これによって微細ゲート
長をもつ電界効果トランジスタを歩留りよく製造し得る
特長がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 (b)ないし第3図+り 、 (b
)は従来岡による電界効果トランジスタの製造工程を示
す平面および各図(b−b)断面図、第4図(a) 、
 (b)および第5図(a) 、 (b)はこの発明の
一実施例方法による電界効果トランジスタの製造工程要
部を示す平面および各図(b−b)断面図である。 (1)・・・・半絶縁性基板、(2)・・・・n形層、
(3)・・・・ソース電極、(4)・・・・ドレイン電
極、(5a)・・・・ゲート電極チャネル部、 (5b
)・・・・同ボンディングバット部% (sc)・・・
・同外周電流遮断バット部。 代 理 人   葛 野 信 −(ほか1名)第4@1 (CI) Vb (G)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板に形成した導電層上にゲート形成領域を挾んで対向
    するようにソース電極およびドレイン電極をオーミック
    接触により形成する工程と、これらのゲート形成領域お
    よびソース、ドレイン各電極部分以外の前記導電層をメ
    サエッチング除去する工程と、前記ゲート形成領域にゲ
    ート電極チャネル部を形成する工程と、このゲート電極
    チャネル部に電気的に連結させて、ゲートボンディング
    バット部、および外周電流遮断用バット部を形成する工
    程とを含むことを特徴とする電界効果トランジスタの製
    造方法。
JP19350781A 1981-11-28 1981-11-28 電界効果トランジスタの製造方法 Granted JPS5892275A (ja)

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JP19350781A JPS5892275A (ja) 1981-11-28 1981-11-28 電界効果トランジスタの製造方法

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JPS5892275A true JPS5892275A (ja) 1983-06-01
JPS6231833B2 JPS6231833B2 (ja) 1987-07-10

Family

ID=16309198

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JP (1) JPS5892275A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2738455A1 (de) * 1977-08-26 1979-03-01 Daimler Benz Ag Aktive schwingungsdaempfer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2738455A1 (de) * 1977-08-26 1979-03-01 Daimler Benz Ag Aktive schwingungsdaempfer

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JPS6231833B2 (ja) 1987-07-10

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