JPS584491B2 - 半導体アナログスイツチ - Google Patents
半導体アナログスイツチInfo
- Publication number
- JPS584491B2 JPS584491B2 JP13669078A JP13669078A JPS584491B2 JP S584491 B2 JPS584491 B2 JP S584491B2 JP 13669078 A JP13669078 A JP 13669078A JP 13669078 A JP13669078 A JP 13669078A JP S584491 B2 JPS584491 B2 JP S584491B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- field effect
- effect transistor
- switch
- gate
- fet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/687—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
- H03K17/6871—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
- H03K17/6872—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor using complementary field-effect transistors
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体アナログスイッチの持つオフセット電圧
を補正し、微小信号にも使用できる高精度アナログスイ
ツチに関するものである。
を補正し、微小信号にも使用できる高精度アナログスイ
ツチに関するものである。
従来この種の装置としてはジャンクションFET(電界
効果トランジスタ)やMOS−FET(金属酸化膜電界
効果トランジスタ)が単独で使用されていた。
効果トランジスタ)やMOS−FET(金属酸化膜電界
効果トランジスタ)が単独で使用されていた。
しかしゲート、ソース間の容量を通してスイッチ駆動用
信号がゲートからソースにもれオフセット電圧となり、
この値は、ゲート・ソース間容量を0.03pF、出力
側の負荷容量を30pFとすると、おおよそ12mVと
なり、微小なアナログ信号を扱う回路では誤差を生ずる
原因となる。
信号がゲートからソースにもれオフセット電圧となり、
この値は、ゲート・ソース間容量を0.03pF、出力
側の負荷容量を30pFとすると、おおよそ12mVと
なり、微小なアナログ信号を扱う回路では誤差を生ずる
原因となる。
そこで上記オフセット電圧を補正するためにCMOS構
成によるスイッチ及び2個のNMOS構成によるスイッ
チが考案されていた。
成によるスイッチ及び2個のNMOS構成によるスイッ
チが考案されていた。
先先ず第1図によりCMOS構成による従来のオフセッ
ト補正スイッチを説明する。
ト補正スイッチを説明する。
第1図において、11はPMOS−FET、12はNM
OS−FETで、両者は相補形となっている。
OS−FETで、両者は相補形となっている。
1はドレイン、2はソース、3及び4はゲートである。
第1図の回路においては入力電圧による基板効果の影響
が少なく、出力の応答は速いが、PMOSとNMOSの
スレツショルド電圧の差やゲート重なり容量の電圧依存
性によりクロツクずれに対してオフセット電圧を生ずる
。
が少なく、出力の応答は速いが、PMOSとNMOSの
スレツショルド電圧の差やゲート重なり容量の電圧依存
性によりクロツクずれに対してオフセット電圧を生ずる
。
第2図でX軸はクロツク信号φ,φのずれ即ちφ,φを
nsの単位で示しており、Y軸は CMOSアナログ・スイッチ・オフセット電圧単体NM
OSスイッチ・オフセット電圧 を示している。
nsの単位で示しており、Y軸は CMOSアナログ・スイッチ・オフセット電圧単体NM
OSスイッチ・オフセット電圧 を示している。
第2図からわかるようにCMOSアナログ・スイッチ・
オフセット電圧が零になる点があるが、この点の位置は
スイッチの大きさや負荷の大きさによって変わるので、
一つ一つのスイッチに対してクロツク信号用ドライバー
を改めて設計しなければならない欠点があり、かつ、上
記のオフセット電圧零の点はPMOS−FETとNMO
S−FETの素子値のばらつきに強く依存するという欠
点をもつ。
オフセット電圧が零になる点があるが、この点の位置は
スイッチの大きさや負荷の大きさによって変わるので、
一つ一つのスイッチに対してクロツク信号用ドライバー
を改めて設計しなければならない欠点があり、かつ、上
記のオフセット電圧零の点はPMOS−FETとNMO
S−FETの素子値のばらつきに強く依存するという欠
点をもつ。
次に、2個のNMOS構成によるスイッチについて説明
する。
する。
このスイッチは第3図に示すように単体MOSスイッチ
の逆相の駆動クロツクを印加できるようにした回路によ
るもので、図において11′及び22はNMOS−FE
Tで、第1図の符号と同じ符号は同様の対象を示す。
の逆相の駆動クロツクを印加できるようにした回路によ
るもので、図において11′及び22はNMOS−FE
Tで、第1図の符号と同じ符号は同様の対象を示す。
MOS−FET22のチャンネル幅をMOS−FET1
1′の1/2のチャンネル幅にする。
1′の1/2のチャンネル幅にする。
MOS−FET22のソースとドレインは接続してある
。
。
上記の回路は第1図の回路のようにスレツショルド電圧
のちがいによるオフセット電圧が生じないので、クロツ
ク信号φ,φが丁度逆相の信号であるときはオフセット
電圧は小さくなるが、クロツク信号φ,φがずれたとき
は、オフセット電圧を補正できなくなる。
のちがいによるオフセット電圧が生じないので、クロツ
ク信号φ,φが丁度逆相の信号であるときはオフセット
電圧は小さくなるが、クロツク信号φ,φがずれたとき
は、オフセット電圧を補正できなくなる。
実際上、クロツク信号を丁度逆相にすることは困難であ
り、かつ第1図の回路に比して基板効果の影響が大きく
、出力の応答がおそい欠点をもつ。
り、かつ第1図の回路に比して基板効果の影響が大きく
、出力の応答がおそい欠点をもつ。
第3図ではNMOS−FETについて説明したがPMO
S−FETについても同様である。
S−FETについても同様である。
本発明は従来CMOSアナログスイッチの後にオフセッ
ト補正回路としてソースとドレインを接続したNMOS
,PMOSの素子を付加することにより、ドライバーの
夕ロック信号のずれに合せて、スイッチのオフセットを
補正し高精度な半導体アナログスイッチを得ることを目
的とする。
ト補正回路としてソースとドレインを接続したNMOS
,PMOSの素子を付加することにより、ドライバーの
夕ロック信号のずれに合せて、スイッチのオフセットを
補正し高精度な半導体アナログスイッチを得ることを目
的とする。
以下に図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第4図は本発明の一実施例を示す。
ここで、11,12は第1図に示したと同様なCMOS
一FETによるスイッチであり、31,32はオフセッ
ト補正回路を構成するFETで、上記CMOSスイッチ
に付け加えられたものである。
一FETによるスイッチであり、31,32はオフセッ
ト補正回路を構成するFETで、上記CMOSスイッチ
に付け加えられたものである。
CMOS回路11,12にクロツク信号φ,φがずれて
入ると、既に第1図の回路で説明した如く、PMOS−
FET,NMOS−FETのスレツショルド電圧の差や
ゲート重さなり容量の電圧依存性により、出力にチャー
ジトランスファーによるオフセット電圧を生ずるが、こ
のオフセット電圧はクロックのずれの度合、スイッチの
大きさ、負荷の大きさによって異ってくる。
入ると、既に第1図の回路で説明した如く、PMOS−
FET,NMOS−FETのスレツショルド電圧の差や
ゲート重さなり容量の電圧依存性により、出力にチャー
ジトランスファーによるオフセット電圧を生ずるが、こ
のオフセット電圧はクロックのずれの度合、スイッチの
大きさ、負荷の大きさによって異ってくる。
そこで本発明のアナログスイッチにおいては、クロツク
のずれを一定にした時にスイッチの大きさ、負荷の大き
さにかかわらずオフセット電圧を零にするようなオフセ
ット補正回路(FET31,32による回路)を付設す
る。
のずれを一定にした時にスイッチの大きさ、負荷の大き
さにかかわらずオフセット電圧を零にするようなオフセ
ット補正回路(FET31,32による回路)を付設す
る。
FET31,32による回路は、FET11,12によ
る回路とクロツクが逆相に入っているので、FET31
,32による回路のゲート重さなり容量によりFET1
1,12による回路のアナログスイッチのオフセット電
圧とは逆方向の電圧をソース、ドレインに生ずる。
る回路とクロツクが逆相に入っているので、FET31
,32による回路のゲート重さなり容量によりFET1
1,12による回路のアナログスイッチのオフセット電
圧とは逆方向の電圧をソース、ドレインに生ずる。
これはクロツクのすれとは無関係で一定であるため第2
図のグラフをY方向に移動させる。
図のグラフをY方向に移動させる。
ここでクロツクのずれが一定であればオフセット電圧を
零にするために必要なオフセット補正電圧が定まる。
零にするために必要なオフセット補正電圧が定まる。
このオフセット補正電圧はオフセット補正回路用FET
31,32のチャネル幅で定まる。
31,32のチャネル幅で定まる。
クロツクすれかないときはFET31,32のチャネル
幅はFET11,12のチャネル幅の1/2である。
幅はFET11,12のチャネル幅の1/2である。
このときFET11,12による回路のオフセット電圧
を零にするクロック信号のずれを知れば、クロツクのず
れの度合とオフセット補正回路用FET31,32のチ
ャネル幅との関係がわかる。
を零にするクロック信号のずれを知れば、クロツクのず
れの度合とオフセット補正回路用FET31,32のチ
ャネル幅との関係がわかる。
その一例を第5図に示す。第5図はオフセット補正回路
の特性を示すグラフで、X軸に 「補正MOS−FETのチャンネル幅 スイッチMOS−FETのチャンネル幅」をとり、Y軸
には 「オフセット補正アナログスイッチにおけるオフセット
を零にする点」 をとっている。
の特性を示すグラフで、X軸に 「補正MOS−FETのチャンネル幅 スイッチMOS−FETのチャンネル幅」をとり、Y軸
には 「オフセット補正アナログスイッチにおけるオフセット
を零にする点」 をとっている。
これにより、今まで不可能であったスイッチドライバー
のクロツクのずれに対応してアナログスイッチのオフセ
ット電圧を零に設計することが可能になった。
のクロツクのずれに対応してアナログスイッチのオフセ
ット電圧を零に設計することが可能になった。
また第2図でわかるように、クロツク信号φ,φのすれ
によるオフセット電圧の変化の少ないところを利用して
スイッチドライバーのクロックずれに対して余裕を持た
せることができる。
によるオフセット電圧の変化の少ないところを利用して
スイッチドライバーのクロックずれに対して余裕を持た
せることができる。
以上のようにオフセット電圧を小さくできるため、微小
入力に対して精度の高いアナログスイッチが得られる。
入力に対して精度の高いアナログスイッチが得られる。
ここではMOS−FETについて述べてきたが、ジャン
クションFETに対しても同様の効果が得られることは
明らかである。
クションFETに対しても同様の効果が得られることは
明らかである。
以上説明したように、本発明によればオフセット電圧を
小さくできるので、微小入力に対して出力の相対誤差を
小さくできる利点がある。
小さくできるので、微小入力に対して出力の相対誤差を
小さくできる利点がある。
また、これによりスイッチの出力は増幅しても誤差は小
さく、差動増幅器のオフセット補正やサンプルホールド
回路に使用すれば有効である。
さく、差動増幅器のオフセット補正やサンプルホールド
回路に使用すれば有効である。
また、微小信号のオン、オフや雑音余裕を大きくするこ
とにも使用できる。
とにも使用できる。
第1図は従来のCMOS構成によるオフセット補正スイ
ッチ回路図、第2図はCMOSアナログスイッチ(CM
OS構成によるオフセッ イッチ)におけるクロックのすれとオフセント電圧の関
係を示すグラフ、第3図は従来のオフセツ“一ト補正ス
イッチの回路図、第4図は本発明によるオフセット補正
スイッチの回路図、及び第5図はオフセット補正回路の
MOS−FETのチャネル幅とクロックのずれとの関係
を示すグラフである。 1・・・・・・入力端子、2・・・・・・出力端子、3
・・・・・・駆動用信号端子、4・・・・・・3と逆相
の駆動用信号端子、11・・・・・・PMOS−FET
,11′,12・・・・・・NMOS−FET,22・
・・・・・オフセット電圧補正用NMOs−FET,3
1・・・・・・オフセット電圧補正用PMOS−FET
132・・・・・・オフセット電圧補正用NMOS−F
ET。
ッチ回路図、第2図はCMOSアナログスイッチ(CM
OS構成によるオフセッ イッチ)におけるクロックのすれとオフセント電圧の関
係を示すグラフ、第3図は従来のオフセツ“一ト補正ス
イッチの回路図、第4図は本発明によるオフセット補正
スイッチの回路図、及び第5図はオフセット補正回路の
MOS−FETのチャネル幅とクロックのずれとの関係
を示すグラフである。 1・・・・・・入力端子、2・・・・・・出力端子、3
・・・・・・駆動用信号端子、4・・・・・・3と逆相
の駆動用信号端子、11・・・・・・PMOS−FET
,11′,12・・・・・・NMOS−FET,22・
・・・・・オフセット電圧補正用NMOs−FET,3
1・・・・・・オフセット電圧補正用PMOS−FET
132・・・・・・オフセット電圧補正用NMOS−F
ET。
Claims (1)
- 1 第一の電界効果トランジスタのドレインと該第一の
電界効果トランジスタと相補形の第二の電界効果トラン
ジスタのドレインを結合して入力端子となし、前記第一
および第二の電界効果トランジスタのソースを互いに結
合して出力端子となし、前記第一の電界効果トランジス
タと同種の第三の電界効果トランジスタのソースとドレ
インヲ前記出力端子に結合し、前記第二の電界効果トラ
ンジスタと同種の第四の電界効果トランジスタのソース
とドレインを前記出力端子に結合し、前記第一の電界効
果トランジスタのゲートと前記第四の電界効果トランジ
スタのゲートとを結合し、前記第二の電界効果トランジ
スタのゲートと前記第三の電界効果トランジスタのゲー
トとを結合し、前記第二の電界効果トランジスタのゲー
トト前記第二の電界効果トランジスタのゲートの各各に
より二つの駆動入力信号端子を形成したことを特徴とす
る半導体アナログスイッチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13669078A JPS584491B2 (ja) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | 半導体アナログスイツチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13669078A JPS584491B2 (ja) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | 半導体アナログスイツチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5564437A JPS5564437A (en) | 1980-05-15 |
| JPS584491B2 true JPS584491B2 (ja) | 1983-01-26 |
Family
ID=15181186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13669078A Expired JPS584491B2 (ja) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | 半導体アナログスイツチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS584491B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4467227A (en) * | 1981-10-29 | 1984-08-21 | Hughes Aircraft Company | Channel charge compensation switch with first order process independence |
| JPS5894232A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-04 | Toshiba Corp | 半導体アナログスイッチ回路 |
| JPS5899033A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-13 | Nec Corp | 集積回路装置 |
| JPS58107723A (ja) * | 1981-12-22 | 1983-06-27 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JPS5954258A (ja) * | 1982-09-21 | 1984-03-29 | Matsushita Electronics Corp | 半導体電子スイツチ |
| GB2170954B (en) * | 1985-02-13 | 1988-09-07 | Rca Corp | Transmission gates with compensation |
| JP2642465B2 (ja) * | 1989-01-17 | 1997-08-20 | 株式会社東芝 | アナログ信号入力回路 |
| JP3156194B2 (ja) * | 1995-05-31 | 2001-04-16 | モトローラ株式会社 | アナログスイッチ用オフセットキャンセル回路 |
| JP3959886B2 (ja) | 1999-03-24 | 2007-08-15 | 松下電工株式会社 | 照明器具 |
| JP2012175441A (ja) | 2011-02-22 | 2012-09-10 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
-
1978
- 1978-11-08 JP JP13669078A patent/JPS584491B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5564437A (en) | 1980-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4075509A (en) | Cmos comparator circuit and method of manufacture | |
| JPS5894232A (ja) | 半導体アナログスイッチ回路 | |
| JPS584491B2 (ja) | 半導体アナログスイツチ | |
| JP3320445B2 (ja) | 電流メモリセル | |
| JPH0679262B2 (ja) | 参照電圧回路 | |
| JPH02142214A (ja) | オフセット電圧を補償したラッチングコンパレータ | |
| JP2591066B2 (ja) | アナログスイッチ回路 | |
| JPS6119134B2 (ja) | ||
| JPH04127467A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP2591981B2 (ja) | アナログ電圧比較器 | |
| JPH09130164A (ja) | Mos基準抵抗器を備えた電圧/電流コンバータ | |
| US20200266781A1 (en) | Amplifier circuit, corresponding system, vehicle and method | |
| JPH0423447B2 (ja) | ||
| JP3158000B2 (ja) | バイアス回路 | |
| JP2679450B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH0582741A (ja) | Mosキヤパシタ | |
| JP2001144557A (ja) | 差動増幅回路および高温用増幅回路 | |
| JP2571102Y2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH0618305B2 (ja) | 演算増幅回路 | |
| JP2637791B2 (ja) | ブログラマブル基準電圧発生器 | |
| JPS61148906A (ja) | Mos増幅出力回路 | |
| JPH03117113A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP3251097B2 (ja) | コンパレータ | |
| JPH0344692B2 (ja) | ||
| JPS62272605A (ja) | Mos増幅回路 |