JPH1154804A - チップ型発光素子 - Google Patents
チップ型発光素子Info
- Publication number
- JPH1154804A JPH1154804A JP20468497A JP20468497A JPH1154804A JP H1154804 A JPH1154804 A JP H1154804A JP 20468497 A JP20468497 A JP 20468497A JP 20468497 A JP20468497 A JP 20468497A JP H1154804 A JPH1154804 A JP H1154804A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- voltage
- emitting element
- light
- led chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
Abstract
や静電気などのサージに対して強く、取扱が容易なチッ
プ型発光素子を提供する。 【解決手段】 絶縁性基板10と、該絶縁性基板の表面
の両端部に設けられる第1および第2の端子電極1、2
と、前記第1および第2の端子電極の一方にマウントさ
れ、p側電極およびn側電極がそれぞれ前記第1および
第2の端子電極と電気的に接続される発光素子チップ3
と、前記第1および第2の端子電極の他方にマウントさ
れる保護素子5とからなり、該保護素子は前記発光素子
チップに印加され得る少なくとも逆方向電圧に対して前
記発光素子チップを保護するように前記第1および第2
の端子電極の間に電気的に接続されている。
Description
ているチップ型発光素子に関する。さらに詳しくは、交
流電圧駆動または静電気などにより発光素子に逆方向電
圧や所定の電圧以上の順方向電圧が印加される場合にも
発光素子がその静電気などにより破壊しにくいように保
護素子が設けられているチップ型発光素子に関する。
形化に伴い、それらに用いられる発光素子なども軽薄短
小化が要求され、小形で薄型のチップ型発光素子が用い
られている。
図5(a)に示されるように、基板10の両端部に端子
電極1、2が形成され、一方の端子電極1と接続され端
子電極の一部となる電極上に発光ダイオード(以下、L
EDという)チップ3がボンディングされてその下部電
極が端子電極1と直接接続され、その上部電極が金線4
により他方の端子電極2とワイヤボンディングされて、
それぞれ電気的に接続されている。LEDチップ3は、
たとえば図5(b)に示されるように、GaAsやGa
Pなどからなるn型半導体層41とp型半導体層42と
の接合によるpn接合面(発光層)43が形成され、そ
の両面に電極44、45が設けられることにより構成さ
れている。この基板10の表面側には、透明または乳白
色のエポキシ樹脂などからなる樹脂によりLEDチップ
3や金線4を被覆して保護するパッケージ6が形成され
ている。
なっているため、逆方向の電圧が印加されても電流が流
れない整流作用を利用して、直流電圧を両電極間に印加
しないで交流電圧を印加することにより、交流で順方向
電圧になる場合にのみ電流が流れて発光する光を利用す
る使用方法も採用されている。
は、一般にGaAs系やGaP系やチッ化ガリウム系な
どの化合物半導体が用いられているが、これらの化合物
半導体を用いた場合には、逆方向に印加される電圧に対
して弱く、半導体層が破壊することがある。とくに、チ
ッ化ガリウム系化合物半導体においては、その逆方向の
耐圧が50V程度と低く逆方向の印加電圧に対してとく
に破壊しやすいこと、またバンドギャップエネルギーが
大きいため、GaAs系などを用いた発光素子より動作
電圧も高くなること、などのため交流電圧の印加で半導
体発光素子が破損したり、その特性が劣化するという問
題がある。
も、外部からサージ電圧などの大きな電圧が印加される
場合、チッ化ガリウム系化合物半導体では順方向電圧で
も150V程度で破壊されやすいという問題がある。
る破壊を防止するため、半導体発光素子が組み込まれる
回路内で、半導体発光素子と並列で半導体発光素子と逆
方向にツェナーダイオードを組み込むことが行われる場
合もある。しかし、回路内に組み込まれる前の製造工程
や出荷に伴う搬送工程、または回路基板に組み込む際な
どのハンドリング時に静電気で破壊したり、外部回路で
LEDの他にダイオードなどを組み込むスペースや工数
を必要とするという問題がある。
6mm×2.5mm〜0.8mm×1.6mm程度と非常
に小形で、ダイオードなどを外付きで付属させるのは難
しく、内蔵するにも横に並べて配置すると基板の横幅を
大きくしなければならず、また一方の端子電極に縦に並
べて配置するとLEDチップを基板の中央部に配置しに
くいか、ダイオードのワイヤボンディングをLEDチッ
プを跨いで行わなければならず、発光の邪魔になったり
ワイヤの接触が生じやすいという問題がある。
なされたもので、小形で非常に薄型でありながら、逆方
向電圧や静電気などのサージ電圧の印加に対して強く、
取扱が容易なチップ型発光素子を提供することを目的と
する。
光素子は、絶縁性基板と、該絶縁性基板の表面の両端部
に設けられる第1および第2の端子電極と、前記第1お
よび第2の端子電極の一方にマウントされ、p側電極お
よびn側電極がそれぞれ前記第1および第2の端子電極
と電気的に接続される発光素子チップと、前記第1およ
び第2の端子電極の他方にマウントされる保護素子とか
らなり、該保護素子は前記発光素子チップに印加され得
る少なくとも逆方向電圧に対して前記発光素子チップを
保護するように前記第1および第2の端子電極の間に電
気的に接続されている。
加され得る逆方向電圧を短絡したり、発光素子チップの
動作電圧より高い所定の電圧以上の順方向電圧をショー
トさせ得る素子を意味し、ツェナーダイオードやトラン
ジスタのダイオード接続、MOSFETのゲートとソー
スまたはドレインとを短絡した素子またはこれらの複合
素子、ICなどを含む。また、端子電極には発光素子が
組み込まれる回路基板などと接続される電極部分と一体
に形成されている金属部分のすべてを含む。
面積の大きいLEDチップが第1の端子電極上にマウン
トされ、保護素子が第2の端子電極にマウントされてい
るため、LEDチップをチップ型発光素子のほぼ中心部
に配置しながら保護素子を内蔵することができる。
合物半導体からなり、前記保護素子がツェナーダイオー
ドであれば、とくに逆電圧に弱く、また順方向でも高電
圧の印加に弱いチッ化ガリウム系化合物半導体が用いら
れる青色系のチップ型発光素子において、逆電圧やサー
ジ電圧などの印加に対して保護されるため好ましい。と
くに保護素子としてツェナーダイオードが用いられるこ
とにより、発光素子チップに順方向にサージなどの高電
圧が印加されてもツェナーダイオードのツェナー特性に
より、発光素子チップにダメージを与えることなく保護
されると共に、通常の動作には何等の異常を来さない。
ここにチッ化ガリウム系化合物半導体とは、III 族元素
のGaとV族元素のNとの化合物またはIII 族元素のG
aの一部がAl、Inなどの他のIII 族元素と置換した
ものおよび/またはV族元素のNの一部がP、Asなど
の他のV族元素と置換した化合物からなる半導体をい
う。
明の半導体発光素子について説明をする。
態の平面および断面の説明図が図1に示されるように、
絶縁性基板10の表面の両端部に第1および第2の端子
電極1、2が設けられ、第1の端子電極1の一端部は絶
縁性基板10の中央部付近まで延びている。そして、第
1の端子電極1の先端部側にLEDチップ3がボンディ
ングされている。LEDチップ3のn側電極39は第1
の端子電極1と、p側電極38は第2の端子電極2と一
体に形成されたパッド2aと、それぞれ金線4により接
続されている。さらに、第2の端子電極2の先端部に保
護素子であるツェナーダイオードチップ5がボンディン
グされ、第1および第2の端子電極1、2間にLEDチ
ップ3と逆方向になるように電気的に接続されている。
そして、その周囲が樹脂パッケージ6により覆われてい
る。図1に示される例では、樹脂パッケージ6の外周に
さらに反射ケース9が設けられている。
に耐熱性のBT樹脂を含浸させたBTレジンなどの絶縁
性の基板からなっている。また、LEDチップ3は、た
とえば青色系(紫外線から黄色)の発光色を有するチッ
プの一例の断面図が図3に示されるように形成される。
すなわち、たとえばサファイア(Al2 O3 単結晶)な
どからなる基板31の表面に、GaNからなる低温バッ
ファ層32が0.01〜0.2μm程度、クラッド層とな
るn形層33が1〜5μm程度、InGaN系(Inと
Gaの比率が種々変わり得ることを意味する、以下同
じ)化合物半導体からなる活性層34が0.05〜0.3
μm程度、p形のAlGaN系(AlとGaの比率が種
々変わり得ることを意味する、以下同じ)化合物半導体
層35aおよびGaN層35bからなるp形層(クラッ
ド層)35が0.2〜1μm程度、それぞれ順次積層さ
れて、その表面に電流拡散層37を介してp側電極38
が形成されている。また、積層された半導体層33〜3
5の一部が除去されて露出したn形層33にn側電極3
9が設けられることにより形成されている。
リコン半導体などからなり、不純物濃度の高い半導体の
pn接合に大きい逆方向電圧を印加すると電子がトンネ
ル効果によってpn接合を通って流れる現象を利用した
ものである。この逆方向の電流が流れ始める電圧(ツェ
ナー電圧)はその不純物濃度により設定される。したが
って、このツェナー電圧をLEDチップ3の動作電圧よ
り高い所定の電圧に設定しておき、LEDチップ3とツ
ェナーダイオード5とが並列で逆方向になるように第1
および第2の端子電極1、2に接続することにより、L
EDチップ3の動作に支障を来すことはない。
に、第1の端子電極1の先端部にボンディングし、n側
電極39およびp側電極38がそれぞれ第1の端子電極
1および第2の電極2と一体に形成されたパッド部2a
と電気的に接続されるように、金線4によりワイヤボン
ディングをする。また、ツェナーダイオードチップ5を
第2の端子電極2の先端部にボンディングし、その正電
極を第1の端子電極と一体に形成されたパッド部1aと
金線4により電気的に接続する。このとき、負電極はダ
イボンディングの際の導電性接着剤により第2の端子電
極2と電気的に接続されている。なお、LEDチップ3
も上下両面にそれぞれn側電極およびp側電極が設けら
れる構造のものであれば、ツェナーダイオードチップ5
と同様に一方の電極はワイヤボンディングによらなくて
も導電性接着剤により電気的に接続される。そして、絶
縁性基板10の周囲に反射ケース9を形成し、その内部
のLEDチップ3やツェナーダイオードチップ5を含め
たこれらの周囲がLEDチップ3により発光する光を透
過する透明または乳白色のエポキシ樹脂などによりモー
ルドすることにより、樹脂パッケージ6で被覆された本
発明のチップ型発光素子が得られる。
(a)と同様に樹脂パッケージの部分を除去した平面説
明図である。この例は、第2の端子電極2の一部を第1
の端子電極1の側部まで延ばし、その延出部2bにツェ
ナーダイオードチップ5が設けられたものである。この
構造にすることにより、第1のリード1とツェナーダイ
オードチップ5の正電極とを接続する金線4を短くする
ことができ、接触事故などを防止しやすい。すなわち、
このような構造にしても、LEDチップ3が一方の第1
の端子電極1に設けられ、ツェナーダイオードチップ5
が他方の第2の端子電極2に設けられているため、LE
Dチップ3を絶縁性基板10のほぼ中央部に配置しなが
ら保護素子5を内蔵することができる。
ダイオードチップとがそれぞれ別々の端子電極にボンデ
ィングされているため、LEDチップがほぼ中央に配置
されると共に、保護素子が内蔵された非常に小形のチッ
プ型発光素子を実現できる。この保護素子が内蔵された
チップ型発光素子は、図4にその等価回路図が示されて
いるように、LEDチップ3と並列にツェナーダイオー
ドチップ5がその極性がLEDチップ3と逆になるよう
に接続されている。そのため、LEDチップ3を駆動す
る電源が交流電源であっても、LEDチップ3に順方向
の電圧になる位相のときは、ツェナーダイオードチップ
5には逆方向電圧でツェナー電圧より低い電圧であるた
め電流は流れず、LEDチップ3に電流が流れて発光す
る。また、交流電源がLEDチップ3に逆方向の電圧に
なる位相のときは、ツェナーダイオードチップ5を介し
て電流が流れる。そのため、交流電圧がLEDチップ3
に対して逆方向の電圧の位相となるときでも、LEDチ
ップ3には逆方向の電圧は殆ど印加されない。また、静
電気が印加される場合、その静電気がLEDチップ3の
逆方向であればツェナーダイオードチップ5を介して放
電し、LEDチップ3に順方向である場合はその電圧が
ツェナー電圧より高ければツェナーダイオードチップ5
を介して放電するためLEDチップ3を保護し、ツェナ
ー電圧より低ければLEDチップ3を介して放電する
が、その電圧は低い電圧であるためLEDチップ3を損
傷することはない。その結果、逆方向の電圧や静電気の
サージに対して弱いLEDチップ3であってもLEDチ
ップ3に高い電圧が印加されず、LEDチップ3を破損
したり、劣化させたりすることがない。
EDチップ3が第1の端子電極にボンディングされて、
ツェナーダイオードチップ5は第2の端子電極2の空い
ている部分を利用してボンディングされているため、両
方のチップを近付け過ぎて光を遮断したり(ツェナーダ
イオードの方が背が高いためすぐ隣に配置されるとその
方向の光が遮断される)、ダイボンディング材の流れな
どによる接触事故(両方のチップ間にダイボンディング
材がセリ上がってショートする虞れがある)や、ワイヤ
ボンディング不良の発生(端子電極上にダイボンディン
グ材が流れるとワイヤボンディングをし辛くなったり、
ワイヤボンディングをすることができなくなる)などを
防止することができる。その結果、小形で超薄型の、し
かも静電気や逆方向の電圧の印加に対して非常に強い保
護素子が内蔵されたチップ型の発光素子が得られる。
イオードチップを用いたが、チップでなくてパッケージ
ングされた製品状のものを使用してもよい。また、ツェ
ナーダイオードでなくても通常のダイオードでも、LE
Dチップに対する逆方向の電圧に対して保護することが
できる。さらに、ダイオードでなくても、トランジスタ
をダイオード接続したものや、MOSFETのゲートと
ソースまたはドレインとを接続したもの、またはこれら
を組み合わせてツェナーダイオードと同様に両方向に保
護する複合素子またはICなど、ダイオードと同様にL
EDチップを保護することができる素子であればよい。
化ガリウム系化合物半導体を用いた青色系の半導体発光
素子であったが、チッ化ガリウム系化合物半導体はとく
に逆方向の電圧や高電圧により破壊されやすいため効果
が大きいが、これに限定されるものではなく、GaAs
系、AlGaAs系、AlGaInP系、InP系など
の赤色系や緑色系の発光素子についても、保護素子が設
けられることにより同様に逆方向電圧や静電気に対して
強い半導体発光素子が得られる。
保護素子が設けられていたが、反射ケースの下に保護素
子の少なくとも一部を設けるようにすれば、LEDチッ
プからの光が遮られることなく上方に反射させることが
できる。また、保護素子の高さがLEDチップの高さよ
り低くなるように、保護素子の下に凹部を形成して凹部
内に保護素子をボンディングしたり、LEDチップの下
にスペーサを介してLEDチップの上面が高くなるよう
にボンディングすることにより、保護素子による光の遮
光の影響を少なくすることができる。
周囲を被覆する樹脂パッケージ6の外周に反射ケース9
を備えるタイプであったが、反射ケースを備えないで、
LEDチップ3で発光する光に対して透明な樹脂だけで
被覆する構造のチップ型発光素子であっても同様であ
る。
子が別々の端子電極上にマウントされているため、LE
Dチップがほぼ中央に配置されて輝度を充分に保持しな
がら保護素子を内蔵した小形のチップ型発光素子が得ら
れる。その結果、逆方向電圧の印加や静電気による高電
圧の印加に対しても損傷することがなく、信頼性が大幅
に向上する薄型の発光素子が得られる。また、素子内に
内蔵されているため、半製品や製品の状態での取扱もア
ースバンドの使用や静電気除去の特別な注意を払う必要
がなくなり、作業効率が大幅に向上する。
よび断面の説明図である。
る。
である。
ある。
Claims (1)
- 【請求項1】 絶縁性基板と、該絶縁性基板の表面の両
端部に設けられる第1および第2の端子電極と、前記第
1および第2の端子電極の一方にマウントされ、p側電
極およびn側電極がそれぞれ前記第1および第2の端子
電極と電気的に接続される発光素子チップと、前記第1
および第2の端子電極の他方にマウントされる保護素子
とからなり、該保護素子は前記発光素子チップに印加さ
れ得る少なくとも逆方向電圧に対して前記発光素子チッ
プを保護するように前記第1および第2の端子電極の間
に電気的に接続されるチップ型発光素子。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20468497A JP3673621B2 (ja) | 1997-07-30 | 1997-07-30 | チップ型発光素子 |
US09/003,145 US6054716A (en) | 1997-01-10 | 1998-01-06 | Semiconductor light emitting device having a protecting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20468497A JP3673621B2 (ja) | 1997-07-30 | 1997-07-30 | チップ型発光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1154804A true JPH1154804A (ja) | 1999-02-26 |
JP3673621B2 JP3673621B2 (ja) | 2005-07-20 |
Family
ID=16494603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20468497A Expired - Lifetime JP3673621B2 (ja) | 1997-01-10 | 1997-07-30 | チップ型発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3673621B2 (ja) |
Cited By (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002124703A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-04-26 | Rohm Co Ltd | チップ型発光装置 |
JP2002314143A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toshiba Corp | 発光装置 |
JP2002314138A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toshiba Corp | 発光装置 |
JP2005020038A (ja) * | 2004-10-18 | 2005-01-20 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光ダイオード |
JP2007116034A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光装置 |
JP2007329502A (ja) * | 2007-08-16 | 2007-12-20 | Toshiba Corp | 発光装置 |
JP2008085296A (ja) * | 2006-09-01 | 2008-04-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2008084943A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2008112966A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-05-15 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
WO2008105245A1 (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-04 | Koa Corporation | 発光部品およびその製造法 |
JP2008211132A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Koa Corp | 発光部品 |
JP2008211131A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Koa Corp | 発光部品およびその製造法 |
JP2008300573A (ja) * | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Toshiba Corp | 発光装置 |
EP2017892A2 (en) | 2007-07-19 | 2009-01-21 | Nichia Corporation | Light emitting device and method of manufacturing the same |
JP2009506556A (ja) * | 2005-08-30 | 2009-02-12 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 表面実装可能なオプトエレクトロニクス素子及び表面実装可能なオプトエレクトロニクス素子の製造方法 |
JP2009044082A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Stanley Electric Co Ltd | 表面実装型発光装置 |
JP2009065199A (ja) * | 2008-11-17 | 2009-03-26 | Toshiba Corp | 発光装置 |
JP2009177187A (ja) * | 2008-01-28 | 2009-08-06 | Alti Electronics Co Ltd | 発光ダイオードパッケージ |
JP2009194026A (ja) * | 2008-02-12 | 2009-08-27 | Stanley Electric Co Ltd | 発光装置およびその製造方法 |
JP2011139109A (ja) * | 2007-04-23 | 2011-07-14 | Samsung Led Co Ltd | 発光装置 |
JP2011525702A (ja) * | 2008-06-24 | 2011-09-22 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 発光素子パッケージ |
US8106411B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-01-31 | Stanley Electric Co., Ltd. | Light emitting device |
JP2013012712A (ja) * | 2011-06-29 | 2013-01-17 | Lg Innotek Co Ltd | 発光素子パッケージ及びこれを具備したライトユニット |
EP1876653A3 (en) * | 2006-07-07 | 2013-05-01 | LG Electronics Inc. | Sub-mount for mounting light emitting device and light emitting device package |
JP2014509790A (ja) * | 2011-03-29 | 2014-04-21 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | オプトエレクトロニクス素子及びオプトエレクトロニクス素子の動作方法 |
US8735935B2 (en) | 2007-04-23 | 2014-05-27 | Samsung Electronics Co., Ltd | Small size light emitting device and manufacturing method of the same |
US8803182B2 (en) | 2009-02-24 | 2014-08-12 | Nichia Corporation | Light emitting device comprising protective element and base |
WO2014162650A1 (ja) * | 2013-04-05 | 2014-10-09 | パナソニック株式会社 | 発光装置 |
KR20160069037A (ko) * | 2014-12-05 | 2016-06-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 발광 다이오드 패키지 및 이를 구비한 액정표시장치 |
WO2019212285A1 (ko) * | 2018-05-04 | 2019-11-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 반도체 소자 패키지 및 이를 포함하는 광 조사장치 |
JP2020080427A (ja) * | 2012-05-09 | 2020-05-28 | ローム株式会社 | 半導体発光装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102305837B1 (ko) | 2015-03-02 | 2021-09-29 | 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 | 발광 장치 |
-
1997
- 1997-07-30 JP JP20468497A patent/JP3673621B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002124703A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-04-26 | Rohm Co Ltd | チップ型発光装置 |
JP2002314143A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toshiba Corp | 発光装置 |
JP2002314138A (ja) * | 2001-04-09 | 2002-10-25 | Toshiba Corp | 発光装置 |
JP2005020038A (ja) * | 2004-10-18 | 2005-01-20 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光ダイオード |
JP4626258B2 (ja) * | 2004-10-18 | 2011-02-02 | 日亜化学工業株式会社 | 発光ダイオード |
JP2009506556A (ja) * | 2005-08-30 | 2009-02-12 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 表面実装可能なオプトエレクトロニクス素子及び表面実装可能なオプトエレクトロニクス素子の製造方法 |
JP2007116034A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光装置 |
EP1876653A3 (en) * | 2006-07-07 | 2013-05-01 | LG Electronics Inc. | Sub-mount for mounting light emitting device and light emitting device package |
JP2008085296A (ja) * | 2006-09-01 | 2008-04-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2008084943A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
JP2008112966A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-05-15 | Nichia Chem Ind Ltd | 発光装置 |
US7709854B2 (en) | 2006-10-05 | 2010-05-04 | Nichia Corporation | Light emitting device |
JP2008211132A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Koa Corp | 発光部品 |
US8405318B2 (en) | 2007-02-28 | 2013-03-26 | Koa Corporation | Light-emitting component and its manufacturing method |
JP2008211131A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Koa Corp | 発光部品およびその製造法 |
WO2008105245A1 (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-04 | Koa Corporation | 発光部品およびその製造法 |
US8735935B2 (en) | 2007-04-23 | 2014-05-27 | Samsung Electronics Co., Ltd | Small size light emitting device and manufacturing method of the same |
JP2011139109A (ja) * | 2007-04-23 | 2011-07-14 | Samsung Led Co Ltd | 発光装置 |
JP2008300573A (ja) * | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Toshiba Corp | 発光装置 |
US8026533B2 (en) | 2007-07-19 | 2011-09-27 | Nichia Corporation | Light emitting device and method of manufacturing the same |
EP2017892A2 (en) | 2007-07-19 | 2009-01-21 | Nichia Corporation | Light emitting device and method of manufacturing the same |
JP2009044082A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Stanley Electric Co Ltd | 表面実装型発光装置 |
JP2007329502A (ja) * | 2007-08-16 | 2007-12-20 | Toshiba Corp | 発光装置 |
JP2009177187A (ja) * | 2008-01-28 | 2009-08-06 | Alti Electronics Co Ltd | 発光ダイオードパッケージ |
JP2009194026A (ja) * | 2008-02-12 | 2009-08-27 | Stanley Electric Co Ltd | 発光装置およびその製造方法 |
US8106411B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-01-31 | Stanley Electric Co., Ltd. | Light emitting device |
JP2011525702A (ja) * | 2008-06-24 | 2011-09-22 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 発光素子パッケージ |
JP2009065199A (ja) * | 2008-11-17 | 2009-03-26 | Toshiba Corp | 発光装置 |
US8803182B2 (en) | 2009-02-24 | 2014-08-12 | Nichia Corporation | Light emitting device comprising protective element and base |
US9293629B2 (en) | 2011-03-29 | 2016-03-22 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelectronic component and method for operating an optoelectronic component |
JP2014509790A (ja) * | 2011-03-29 | 2014-04-21 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | オプトエレクトロニクス素子及びオプトエレクトロニクス素子の動作方法 |
US9515058B2 (en) | 2011-06-29 | 2016-12-06 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device package and light unit including the same |
JP2016167642A (ja) * | 2011-06-29 | 2016-09-15 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 発光素子パッケージ |
JP2013012712A (ja) * | 2011-06-29 | 2013-01-17 | Lg Innotek Co Ltd | 発光素子パッケージ及びこれを具備したライトユニット |
US9728525B2 (en) | 2011-06-29 | 2017-08-08 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device package and light unit including the same |
US10147857B2 (en) | 2011-06-29 | 2018-12-04 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device package and light unit including the same |
US10559734B2 (en) | 2011-06-29 | 2020-02-11 | Lg Innotek Co., Ltd. | Light emitting device package and light unit including the same |
JP2020080427A (ja) * | 2012-05-09 | 2020-05-28 | ローム株式会社 | 半導体発光装置 |
WO2014162650A1 (ja) * | 2013-04-05 | 2014-10-09 | パナソニック株式会社 | 発光装置 |
KR20160069037A (ko) * | 2014-12-05 | 2016-06-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 발광 다이오드 패키지 및 이를 구비한 액정표시장치 |
WO2019212285A1 (ko) * | 2018-05-04 | 2019-11-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 반도체 소자 패키지 및 이를 포함하는 광 조사장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3673621B2 (ja) | 2005-07-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3673621B2 (ja) | チップ型発光素子 | |
KR100686416B1 (ko) | 복합 발광소자, 반도체 발광장치 및 반도체 발광장치의제조방법 | |
US6054716A (en) | Semiconductor light emitting device having a protecting device | |
US7683396B2 (en) | High power light emitting device assembly utilizing ESD protective means sandwiched between dual sub-mounts | |
JP3686569B2 (ja) | 半導体発光装置及びそれを用いた表示装置 | |
JP3559435B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
US20060267040A1 (en) | High-brightness LED with protective function of electrostatic discharge damage | |
JP2002314138A (ja) | 発光装置 | |
JP2001015815A (ja) | 半導体発光装置 | |
KR100562488B1 (ko) | 반도체 발광소자 | |
JP2000124506A (ja) | 半導体発光素子 | |
JP3348843B2 (ja) | 発光ダイオード及びそれを用いたドットマトリックスディスプレイ | |
JP2001036140A (ja) | 静電対策表面実装型led | |
JP2001217461A (ja) | 複合発光素子 | |
JP3911839B2 (ja) | 半導体発光装置 | |
JP3764255B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
JP3787220B2 (ja) | チップ型発光素子 | |
EP1207563A2 (en) | Direct bonding of flip-chip light-emitting diode and flip-chip ESD protection chip to electrodes in a package | |
JP3723328B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
JPH11103096A (ja) | 半導体発光素子 | |
JPH11214747A (ja) | 半導体発光装置 | |
JP2002335012A (ja) | 発光ダイオード及びそれを用いたドットマトリックスディスプレイ | |
JPH11112026A (ja) | 半導体発光素子 | |
JPH10321915A (ja) | 半導体発光素子 | |
KR20150042012A (ko) | 발광다이오드 어레이 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040715 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040817 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041015 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050405 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050425 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110428 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120428 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130428 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130428 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140428 Year of fee payment: 9 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |