JPH11354457A - 半導体基板処理装置 - Google Patents

半導体基板処理装置

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JPH11354457A
JPH11354457A JP15950098A JP15950098A JPH11354457A JP H11354457 A JPH11354457 A JP H11354457A JP 15950098 A JP15950098 A JP 15950098A JP 15950098 A JP15950098 A JP 15950098A JP H11354457 A JPH11354457 A JP H11354457A
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JP
Japan
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lid
chamber
arm
opening
arms
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JP15950098A
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English (en)
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Masao Yoshino
正朗 芳野
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Kokusai Electric Corp
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Kokusai Electric Corp
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 積み重ねて設置する場合でも高さ方向にスペ
ースを必要としない半導体基板処理装置を提供する。 【解決手段】 半導体基板処理装置30において、両側
面のアーム35R(35L)および36R(36L)
は、一端が蓋保持部33R(33L)によって蓋部32
に、他端がアーム保持部37R(37L)および38R
(38L)によってチャンバ31に関連して回転可能に
連結されている。アームの回転に従って、蓋部は、チャ
ンバの開口の上に持ち上げられ、開口の領域外に水平に
移動させられる。チャンバの開放時、連結軸周りに対向
する外縁を上方に旋回させる必要が無いので、上方にス
ペースをあまり必要としない。アーム保持部34R(3
4L)は取り外し可能なので、これを取り外せば、アー
ム保持部33R(33L)を枢軸として蓋部を自在に回
転でき、蓋部の裏側の取り扱いが容易に行える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、内部で半導体基
板に成膜などを行う半導体基板処理装置に関し、特に、
上方が開口となっており、前記開口を介して処理対象物
を内部に収容できる箱型のチャンバと、処理実行時には
前記開口を密閉し、所望の処理を実行可能にする蓋部と
を有する半導体基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は、半導体基板処理装置の従来例の
構造を示す断面図である。この半導体基板処理装置は、
上方がシール面として開口され、内部にウェーハを支持
する下電極93を収納しているチャンバ91と、下電極
93と協働してウェーハを支持できる上電極94および
ガス導入部を収納してチャンバ91の開口の上に配置さ
れ、前記チャンバの開口を実線で示したように真空密閉
ができる重量の大きな蓋部92とから構成されている。
この蓋部92は、連結軸95によりチャンバ91と連結
され、連結軸95の周りで枢軸回転し点線で示した位置
等に開くことができる。この半導体基板処理装置のチャ
ンバ91は、蓋部により密閉され、必要に応じて真空に
されたり、ガスが導入されたりする。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した半導体基板処
理装置は、その蓋部92が連結軸95の周りで枢軸回転
してチャンバ91を開放するようにしているので、設置
場所の関係で半導体基板処理装置を積み重ねる方向に設
置しなければならない場合に、高さ方向に大きなスペー
スが必要となる。すなわち、連結軸95から蓋部92の
一番奥までの長さDとほぼ同様な高さだけ、連結軸95
から上方に空間を確保しなければならない。そして、半
導体基板処理装置が大型になればなるほどこの空間上の
問題が大きくなっている。
【0004】この発明は、上記問題に鑑み、積み重ねて
設置する場合にも高さ方向にあまり大きなスペースを必
要としない半導体基板処理装置を提供することを目的と
する。
【0005】
【課題を解決するための手段】前述した課題を解決する
ために、この発明は、上方が開口となっており、前記開
口を介して処理対象物を内部に収容できる箱型のチャン
バと、処理実行時には前記開口を密閉し、所望の処理を
実行可能にする蓋部とを有する半導体基板処理装置にお
いて、前記蓋部の対向する側面に設けられた左右蓋保持
部と、一端が前記左右蓋保持部にそれぞれ回転可能に連
結され、前記密閉状態において前記蓋部およびチャンバ
の側面に沿って前方斜め下に互いに平行に延びる左右ア
ームと、前記チャンバと実質的に連結固定され、前記平
行に延びる左右アームの他端を回転可能に保持する左右
アーム保持部とを有するとともに、前記左右アーム保持
部を中心に前記左右アームを回転させて、前記蓋部を前
記チャンバの開口と平行を保ちつつ前記チャンバの開口
から離間させた場合に、前記蓋部が到達する前記チャン
バの開口からの最も高い高さは、前記蓋部の奥行きの長
さよりも低くなり、前記蓋部を前記チャンバの開口から
最も離間させたときには、前記蓋部は前記チャンバの開
口上から完全に外れているように、前記左右アームの長
さと、前記チャンバに対する前記左右アーム保持部の位
置とが設定されている。
【0006】また、この発明において、前記左蓋保持部
は、前記蓋部の左側面の中央部と、中央部からさらに奥
行き方向に進んだ所とにそれぞれ設けられた第1,第2
の左蓋保持部であり、前記右蓋保持部は、前記蓋部の右
側面の中央部と、中央部からさらに奥行き方向に進んだ
所とにそれぞれ設けられた第1,第2の右蓋保持部であ
り、前記左アームは、一端がそれぞれ前記第1,第2の
左蓋保持部にそれぞれ回転可能に連結され、互いに平行
に延びる実質的に同じ長さの第1,第2の左アームであ
り、前記右アームは、一端がそれぞれ前記第1,第2の
右蓋保持部にそれぞれ回転可能に連結され、互いに平行
に、かつ、第1,第2の左アームに平行に延びる実質的
に第1,第2の左アームと同じ長さの第1,第2の右ア
ームであり、前記左アーム保持部は、前記平行に延びる
前記第1,第2の左アームの他端を回転可能にそれぞれ
保持する第1,第2の左アーム保持部であり、前記右ア
ーム保持部は、前記平行に延びる前記第1,第2の右ア
ームの他端を回転可能にそれぞれ保持する第1,第2の
右アーム保持部であり、前記第2の左右蓋保持部と前記
第2の左右アームの一端との連結は、解除可能にされて
おり、前記蓋部が前記チャンバの開口上から完全に外れ
た位置に移動されたとき、前記連結を解除すれば、前記
蓋部は、前記第1の左右蓋保持部を軸心として回転可能
になる。
【0007】このような構成によれば、蓋部が開放され
る際に、蓋部は一方の外縁を枢軸にして他方の外縁側を
上方に旋回させる必要が無く、蓋部をチャンバの開口に
平行にして移動できるので、上方にスペースをあまり必
要とせずにチャンバを開放できる。また、蓋部をチャン
バの開口上から完全に外れた位置に移動すれば、そこで
蓋部を自在に回転することができ、蓋部下側も容易に観
察できる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて添付図面に基づいて説明する。図1は、この発明に
係わる半導体基板処理装置が用いられる半導体処理シス
テムの全体を概略的に示す構成図、図2は、図1の反応
室として用いられたこの発明に係わる半導体基板処理装
置の第1の実施の形態を説明するための右側面図、図3
は、図2のアームをモータで駆動する場合の駆動機構を
示す図、図4は、この発明に係わる半導体基板処理装置
の第2の実施の形態が適用される反応室を示す断面図、
図5は、図4の反応室に適用された第2の実施の形態を
説明する右側面図、図6は、図5における蓋保持部の構
造を示す図、図7は、図4ないし図6で示された反応室
の取り扱いを示す図、図8は図1ないし図7で示された
ものの従来例との違いを説明するための図である。
【0009】図1の半導体処理システムは、移載ステー
ション10と、ロードロック室11,21と、真空搬送
室12,22と、反応室13,23とから構成されてい
る。移載ステーション10の内部には、大気ローダロボ
ット62が配置されている。多数枚のウェーハWが搭載
されたウェーハカセット(例えば、ウェーハカセット6
3a)がフロントシャッタ61を介して移載ステーショ
ン10に投入されると、大気ローダロボット62は、移
載棚65,66に、例えば、ウェーハカセット63c,
63bを載置し、一時的に保管する。大気ローダロボッ
ト62は、このように保管したウェーハWを後続の装置
における工程の進行に合わせて、ロードロック室11,
21に投入する。
【0010】ウェーハWの投入されたロードロック室1
1,21は、真空ポンプにて気圧1Pa以下に排気され
る。この排気の後、ロードロック室11,21に投入さ
れたウェーハWは、真空搬送室12,22に配置された
ロボットによってロードロック室11,21から反応室
13,23まで真空の中を搬送される。反応室13,2
3に搬送されたウェーハWには、反応ガス等によって所
望の成膜などが実施される。この場合、上方の第1列の
装置11,12.13と、下方の第2列の装置21,2
2.23とは、互いに独立に装置ごとに制御される。
【0011】上述の半導体処理システムにおいて、装置
11,12.13は、それぞれ装置21,22.23の
上に重なるように配置されているので、従来のように連
結軸の周りに回転させて開くものであると、高さ方向に
大きなスペース、少なくとも連結軸から奥行き分のスペ
ースを必要とするが、この発明の半導体基板処理装置に
よれば、そのようなスペースは必要としない。図2を参
照してのその例について説明する。図2の密閉時にほぼ
直方体の形状をしている半導体基板処理装置30は、上
方がシール面となっている開口とされ内部にウェーハを
収納できるチャンバ31と、チャンバ31の開口を実線
で示したように真空密閉ができる蓋部32と、左右の側
面に対称的に設けられ、蓋部32を移動可能に支持して
いるアームとから構成されている。なお、図2において
は、アームは、右側のアーム35R,36Rのみ示され
ているが、これらに対称的に左側にもアーム35R,3
6Rと同様な形状の図2では形状が見えないアーム35
L,36Lが設けられている。
【0012】蓋部32の左右側面のほぼ中央には、蓋保
持部33R(33L)が取り付けられ、それからさらに
奥行き方向に進んだ所に蓋保持部34R(34L)が取
り付けられている。蓋保持部33R(33L)には、ア
ーム35R(35L)の一端が、蓋保持部34R(34
L)には、アーム36R(36L)の一端がそれぞれ回
転可能に組み付けられている。アーム35R(35L)
の他端は、アーム保持部37R(37L)に、アーム3
6R(36L)の他端は、アーム保持部38R(38
L)にそれぞれ支持されている。なお、アーム35R
(35L)には、蓋部32を開放し始めるときに蓋部3
2の重量を軽減するためのガススプリング39R(39
L)が取り付けられている。これらのアーム保持部は、
チャンバ31に直接的に連結固定されていてもよいし、
チャンバ31が固定されているベースに固定されて、間
接的にチャンバ31に固定されていてもよい。また、ア
ーム35R(35L),36R(36L)は、実質的に
同一の長さで、互いに平行するように取り付けられてい
る。
【0013】次に図2のように構成されている半導体基
板処理装置30の動作について説明する。この半導体基
板処理装置30の蓋部32が実線で示されるように、チ
ャンバ31の上方を密閉しているとき、蓋部32を開け
る方向に力が加えられると、例えば、アームに回転力が
加えられると、蓋部32は、ガススプリングの助勢をも
受けて2点鎖線で示す方向に移動し、点線で示すような
位置に移される。また、チャンバ31を蓋部32で密閉
する場合にはこれと逆の動作をさせれば、蓋部32がチ
ャンバ31の開口を密閉できることとなる。
【0014】上述の例においては、左右ともアームを2
本ずつ配置しているが、一端が蓋部32の左右側面の中
央部分に取り付けられたアーム35R(35L)の片側
1本ずつ2本のアームだけでも移動の安定性は下がるが
実行可能ではある。また、上述の蓋部32の開閉は、図
3に示すように電動で行うこともできる。アーム保持部
37R(37L)は、アーム36R(36L)の他端に
歯車41を保持部シャフト42で固定し、このシャフト
を軸受(不図示)で回転可能に支持しているという構造
をしている。この歯車41は、モータ43の駆動軸に取
り付けられた歯車44と噛み合っている。したがって、
モータ43が回転すると、アーム35R(35L)は、
歯車44と歯車41を介して、矢印Uまたは矢印Dの向
きに回転され、蓋部32でチャンバ31を開放または密
閉する。この場合、モータ43は、一個でシャフトなど
で連結することにより左右両方のアームを同時に駆動す
るようにするのが好ましい。
【0015】この発明のもう一つの実施の形態について
半導体基板処理装置が図4のような構成の場合について
説明する。図4で示された半導体基板処理装置の内部の
構成は、図9で示された従来の半導体基板処理装置と同
様であるが、蓋部の開放密閉機構は、図5に示すように
図2の半導体基板処理装置と同様に構成されている(た
だし、蓋保持部34R’(34L’)が設けられている
点が異なる)。この場合、蓋部32を開けた際に、下を
向いている上電極94を上に向けて検査などの作業をし
たいという要望が発生し、このために考案されたのがこ
の実施の形態である。
【0016】図4および図5で示された半導体基板処理
装置70においては、蓋保持部34R(34L)とアー
ム36R(36L)との関係、および、蓋保持部34
R’(34L’)とアーム36R(36L)との関係が
図6に示したように取り付けおよび取り外し可能になっ
ている(この場合、蓋部32が密閉位置にあるとき、ア
ーム36Rについては上から見ており、アーム36Lに
ついては下から見ていると考えればよい)。すなわち、
蓋保持部34R(34L)は、蓋部32の側面に固定さ
れた保持プレート71と、保持プレート71の内側に固
定された軸受72と、アーム36R(36L)の一端に
設けられた貫通孔を通り、軸受72の貫通孔を貫通する
連結ピン73と、連結ピン73の先端に近いところで連
結ピン73を横断貫通する貫通孔に差し込まれ、連結ピ
ンの脱落を防止している脱落防止ピン74とから構成さ
れている。また、この場合、蓋保持部34R’(34
L’)は、蓋保持部33R(33L)を中心にして、蓋
保持部34R(34L)の反対側に設けられている。
【0017】したがって、蓋部32を図5の点線で示さ
れた位置に移動し、図6で示される脱落防止ピン74を
外し、連結ピン73を抜き取ると、蓋保持部34R(3
4L)とアーム36R(36L)とは、連結しなくなる
ので、蓋部32を蓋保持部33R(33L)中心に図7
の矢印のように回転することができる。そこで、上電極
94を上向きにし、自由になっているアーム36R(3
6L)の一端を蓋保持部34R’(34L’)において
連結ピン73と脱落防止ピン74とで連結すれば蓋部3
2を逆向きに保持できる。なお、蓋部32をチャンバ3
1の上に戻せば、安定な状態で蓋部32をチャンバ31
の上に設定でき検査などに便利である。また、蓋部32
を逆向きにしたいだけで、保持する必要がないのであれ
ば、蓋保持部34R’(34L’)は削除してもよい。
蓋部32の左右側面に1本ずつのアームが配置されてい
る場合には、蓋部32を逆向きにするのは容易であるこ
とが分かる。また、図1ないし図3で述べた変形例など
は、第2の実施の形態にも適宜に適用できることはいう
までもない。
【0018】次に、上述の半導体基板処理装置によれ
ば、従来よりも高さ方向でどの程度スペースを小さくで
きるかの低減比DHを図8を参照して確認する。ここ
で、半導体基板処理装置は、直方体であるものとし、図
8(a)のように、その奥行きは500mm、チャンバ
の深さは200mm、蓋部の深さは100mm、蓋保持
部33R(33L)の中心は、蓋部の側面中心、すなわ
ち、前面から250mm、シール面から50mmのとこ
ろにあるものとする。
【0019】従来の場合、点paを支点にして蓋部の最
遠点は図8(b)の点線raに沿って移動して開放され
るので、シール面からの最高値HAは、
【0020】
【数1】HA2 =5002 +1002 ;HA=510
【0021】アーム35R(35L)の両端が点pbと
点pcとに取り付けられているとすると、蓋部の中央の
最高点は、点線rbに沿って移動するので、点pbと点
pcとの間の距離Rとシール面からの最高値HBとは、
【0022】
【数2】R2 =2502 +2502 ;R=354;HB
=R+50−200=204
【0023】したがって、低減比DHは、DH=HB/
HA=204/510=0.40、すなわち高さ方向に
必要なスペースは、従来の40%に低減されている。
【0024】
【発明の効果】以上に詳述したように、この発明に係わ
る半導体基板処理装置は、両側面に配置されたアームに
よって蓋部をチャンバ上に持ち上げるとともに、チャン
バの開口に平行に、チャンバの開口の領域外に移動させ
ることができることにより、チャンバを開放するため
に、蓋部の一方の外縁を枢軸にして他方の外縁側を上方
に旋回させる必要が無いので、上方にスペースをあまり
必要としない。また、左右のアームとしてそれぞれ2本
のアームが配置されていれば、蓋部の移動は非常に安定
に実行できる。蓋部の左右側面に一本のアームが配置さ
れている場合はいうまでもないが、2本ずつ配置されて
いる場合も、蓋部の側面中央に配置されていないアーム
保持部は取り付け取り外し可能にしてあるので、これを
取り外せば、蓋部の側面中央に配置されているアーム保
持部を枢軸として蓋部を自在に回転でき、したがって、
蓋部の裏側の観察あるいは取り扱いが容易に行えるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係わる半導体基板処理装置が用いら
れる半導体処理システムの全体を概略的に示す構成図で
ある。
【図2】図1の反応室として用いられたこの発明に係わ
る半導体基板処理装置の第1の実施の形態を説明するた
めの右側面図である。
【図3】図2のアームをモータで駆動する場合の駆動機
構を示す図である。
【図4】この発明に係わる半導体基板処理装置の第2の
実施の形態が適用される反応室を示す断面図である。
【図5】図4の反応室に適用された第2の実施の形態を
説明する右側面図である。
【図6】図5における蓋保持部の構造を示す図である。
【図7】図4ないし図6で示された反応室の取り扱いを
示す図である。
【図8】図1ないし図7で示されたものと従来例との違
いを説明するための図である。
【図9】従来例を示す断面図である。
【符号の説明】
10 移載ステーション 11,21 ロードロック室 12,22 真空搬送室 13,23 反応室 30,70 半導体基板処理装置 31 チャンバ 32 蓋部 33R,33L,34R,34L,34R’,34L’
蓋保持部 35R,35L,36R,36L アーム 37R,37L,38R,38L アーム保持部 39R,39L ガススプリング 61 フロントシャッタ 62 大気ローダロボット 65 移載棚 71 保持プレート 72 軸受 73 連結ピン 74 脱落防止ピン 93 下電極 94 上電極 95 連結軸

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上方が開口となっており、前記開口を介
    して処理対象物を内部に収容できる箱型のチャンバと、
    処理実行時には前記開口を密閉し、所望の処理を実行可
    能にする蓋部とを有する半導体基板処理装置において、 前記蓋部の対向する側面に設けられた左右蓋保持部と、 一端が前記左右蓋保持部にそれぞれ回転可能に連結さ
    れ、前記密閉状態において前記蓋部およびチャンバの側
    面に沿って前方斜め下に互いに平行に延びる左右アーム
    と、 前記チャンバと実質的に連結固定され、前記平行に延び
    る左右アームの他端を回転可能に保持する左右アーム保
    持部とを有するとともに、 前記左右アーム保持部を中心に前記左右アームを回転さ
    せて、前記蓋部を前記チャンバの開口と平行を保ちつつ
    前記チャンバの開口から離間させた場合に、前記蓋部が
    到達する前記チャンバの開口からの最も高い高さは、前
    記蓋部の奥行きの長さよりも低くなり、前記蓋部を前記
    チャンバの開口から最も離間させたときには、前記蓋部
    は前記チャンバの開口上から完全に外れているように、
    前記左右アームの長さと、前記チャンバに対する前記左
    右アーム保持部の位置とが設定されていることを特徴と
    する半導体基板処理装置。
  2. 【請求項2】 前記左蓋保持部は、前記蓋部の左側面の
    中央部と、中央部からさらに奥行き方向に進んだ所とに
    それぞれ設けられた第1,第2の左蓋保持部であり、前
    記右蓋保持部は、前記蓋部の右側面の中央部と、中央部
    からさらに奥行き方向に進んだ所とにそれぞれ設けられ
    た第1,第2の右蓋保持部であり、 前記左アームは、一端がそれぞれ前記第1,第2の左蓋
    保持部にそれぞれ回転可能に連結され、互いに平行に延
    びる実質的に同じ長さの第1,第2の左アームであり、
    前記右アームは、一端がそれぞれ前記第1,第2の右蓋
    保持部にそれぞれ回転可能に連結され、互いに平行に、
    かつ、第1,第2の左アームに平行に延びる実質的に第
    1,第2の左アームと同じ長さの第1,第2の右アーム
    であり、 前記左アーム保持部は、前記平行に延びる前記第1,第
    2の左アームの他端を回転可能にそれぞれ保持する第
    1,第2の左アーム保持部であり、前記右アーム保持部
    は、前記平行に延びる前記第1,第2の右アームの他端
    を回転可能にそれぞれ保持する第1,第2の右アーム保
    持部であり、 前記第2の左右蓋保持部と前記第2の左右アームの一端
    との連結は、解除可能にされており、前記蓋部が前記チ
    ャンバの開口上から完全に外れた位置に移動されたと
    き、前記連結を解除すれば、前記蓋部は、前記第1の左
    右蓋保持部を軸心として回転可能になる請求項1記載の
    半導体基板処理装置。
JP15950098A 1998-06-08 1998-06-08 半導体基板処理装置 Withdrawn JPH11354457A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007250568A (ja) * 2006-03-13 2007-09-27 Tokyo Electron Ltd 処理装置および蓋体の開閉機構
JP2015216163A (ja) * 2014-05-08 2015-12-03 ワイエイシイ株式会社 蓋体開閉装置およびマルチチャンバー処理システム

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