JP4383636B2 - 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体製造装置および半導体装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4383636B2 JP4383636B2 JP2000196627A JP2000196627A JP4383636B2 JP 4383636 B2 JP4383636 B2 JP 4383636B2 JP 2000196627 A JP2000196627 A JP 2000196627A JP 2000196627 A JP2000196627 A JP 2000196627A JP 4383636 B2 JP4383636 B2 JP 4383636B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pod
- wafer
- substrate
- transfer device
- boat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体製造装置および半導体装置の製造方法に関する。
例えば、半導体素子を含む半導体集積回路を作り込まれる基板としての半導体ウエハ(以下、ウエハという。)に絶縁膜や金属膜等のCVD膜を形成したり不純物を拡散したりするバッチ式縦形拡散・CVD装置に利用して有効なものに関する。
【0002】
ウエハに絶縁膜や金属膜等のCVD膜を形成したり不純物を拡散したりするバッチ式縦形拡散・CVD装置(以下、単にCVD装置という。)には、ウエハを処理するプロセスチューブと、ウエハを保持してプロセスチューブに搬入搬出するボートと、ウエハをボートおよびウエハローディングポートに対して移載するウエハ移載装置と、ウエハを収納して搬送するキャリアを移送するキャリア移送装置が一台ずつ設備されている。
【0003】
一般に、このCVD装置を使用して大量のウエハを所定の時間内で処理する場合には、二台のCVD装置が隣合わせに並べられて実施されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、二台のCVD装置を隣り合わせに並べた場合においては、次のような問題点がある。第一に、イニシャルコストおよびランニングコストが一台のCVD装置のコストの二倍になってしまう。第二に、クリーンルーム内の占有床面積が隣合うCVD装置の間に発生する隙間の分だけ増加してしまう。
【0005】
本発明の目的は、コストや占有床面積の増加を抑制しつつ大量の基板を処理することができる半導体製造装置および半導体装置の製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る半導体製造装置は、基板を処理するプロセスチューブと、前記基板を保持して前記プロセスチューブに搬入搬出するボートと、上下に複数段設置され前記基板を収納して搬送するキャリアから前記基板を出し入れするための基板ローディングポートと、前記基板を前記ボートおよび前記基板ローディングポートに対して移載する基板移載装置とを一組とした複数組が、一つの筐体に設備されていることを特徴とする。
【0007】
前記した手段によれば、一つの筐体にプロセスチューブ、ボートおよびウエハ移載装置が複数台ずつ設備されているため、大量の基板を所定の時間内で処理することができるとともに、複数台の半導体製造装置を並べて設備する場合に比べて隙間が発生しない分だけ占有床面積を低減することができる。また、キャリア移送装置を一台だけ設備することにより、複数台のキャリア移送装置を設備する場合に比べてコストを低減することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態を図面に即して説明する。
【0009】
本実施の形態において、本発明に係る半導体製造装置は、図1に示されているように、バッチ式縦形拡散・CVD装置として構成されている。以下、バッチ式縦形CVD装置(以下、CVD装置という。)を例にして説明する。図2および図5に示されているように、CVD装置1は気密室構造に構築された筐体2を備えており、筐体2内の一端部(以下、後端部とする。)の上部には二台のヒータユニット3、3が左右に並べられてそれぞれ垂直方向に据え付けられている。各ヒータユニット3の内部にはプロセスチューブ4が同心に配置されており、プロセスチューブ4にはプロセスチューブ4内に原料ガスやパージガス等を導入するためのガス導入管5と、プロセスチューブ4内を真空排気するための排気管6とが接続されている。
【0010】
図3および図5に示されているように、筐体2の後端部の下部には二台のエレベータ7、7が左右に並べられてそれぞれ垂直に設置されており、各エレベータ7は二本のプロセスチューブ4、4の真下にそれぞれ水平に配置された二枚のキャップ8、8を垂直方向に昇降させるように構成されている。各キャップ8はプロセスチューブ4の下端開口よりも大径の円盤形状に形成されており、プロセスチューブ4の下端開口をシールし得るように構成されているとともに、ボート9を垂直に立脚させた状態で支持し得るように構成されている。各ボート9は被処理基板としてのウエハWを多数枚、中心を揃えて水平に配置した状態で保持するように構成されており、キャップ8のエレベータ7による昇降によってプロセスチューブ4の処理室に対して搬入搬出されるようになっている。
【0011】
ところで、ウエハを収容して搬送するためのキャリア(搬送治具)としては、互いに対向する一対の面が開口された略立方体の箱形状に形成されているカセットと、一つの面が開口された略立方体の箱形状に形成され開口面にキャップが着脱自在に装着されているFOUP(front opening unified pod 。以下、ポッドという。)とがある。ウエハのキャリアとしてポッドが使用される場合には、ウエハが密閉された状態で搬送されることになるため、周囲の雰囲気にパーティクル等が存在していたとしてもウエハの清浄度は維持することができる。したがって、CVD装置が設置されるクリーンルーム内の清浄度をあまり高く設定する必要がなくなるため、クリーンルームに要するコストを低減することができる。そこで、本実施の形態に係るCVD装置においては、ウエハのキャリアとしてはポッド10が使用されている。
【0012】
図3および図4に示されているように、筐体2の正面の下部にはウエハWを搬送するためのキャリアとしてのポッド10を筐体2内に搬入搬出するポッド搬入搬出ステージ(以下、ポッドステージという。)11が設定されており、筐体2の正面壁のポッドステージ11に対向する位置にはフロントシャッタ(図示せず)によって開閉される出し入れ口12が開設されている。筐体2内の出し入れ口12に対向する位置には、ポッドステージ11から出し入れ口12を通して筐体2内に搬入されたポッド10を受ける受け台13が設置されている。
【0013】
筐体2の正面壁の内面における上部には複数個のポッド10を保管するバッファ棚14が、左右方向に一杯に水平に敷設されている。バッファ棚14は筐体2の正面壁の内面に据え付けられた支持板15と、支持板15に左右方向に架設されて水平に支持された複数段(本実施の形態においては四段。但し、図1では三段が図示されている。)の棚板16とを備えており、各棚板16にポッド10が複数個ずつ左右方向に並べて載置されるようになっている。
【0014】
図2および図5に示されているように、筐体2内の前後方向の中央部には筐体2の内部空間を上下および前後に仕切る垂直壁部21と水平壁部22とからなる隔壁20が構築されており、隔壁20の水平壁部22の上には二台の回転棚17、17が左右に並べられて設置されている。一台の回転棚17は複数個(本実施の形態においては八個)のポッド10を保管するように構成されている。すなわち、回転棚17は略卍形状に形成された棚板19が複数段(本実施の形態においては二段)、モータ等の間欠回転駆動装置(図示せず)によって一方向ピッチ送り回転される回転軸18に上下方向に配置されて水平に固定されており、各棚板19に保管されたポッド10が正面の位置に回転軸18のピッチ送り回転によって順次送られるようになっている。
【0015】
隔壁20の垂直壁部21における筐体2内の回転棚17の下側にはウエハWをローディングおよびアンローディングするためのポート(以下、ウエハローディングポートという。)23が左右で一組かつ上下で一対ずつ設置されており、垂直壁部21の各ウエハローディングポート23に対応する位置にはウエハWを出し入れするための出し入れ口24がそれぞれ開設されている。各ウエハローディングポート23にはポッド10のキャップ10aを着脱してポッド10を開閉するためのポッドオープナ25がそれぞれ設置されている。
【0016】
筐体2内のポッドステージ11およびバッファ棚15と回転棚17およびウエハローディングポート23との間にはポッド10を移送するためのポッド移送装置26が設置されており、ポッド移送装置26はポッドステージ11、バッファ棚14、左右の回転棚17および左右上下のウエハローディングポート23間でポッド10を搬送するように構成されている。ポッド移送装置26はモータ27aを駆動源としたリニアアクチュエータ27を備えており、リニアアクチュエータ27は筐体2の底面上に左右方向に略一杯に敷設されている。リニアアクチュエータ27の上にはモータ28aを駆動源としたエレベータ28が垂直に立設されており、リニアアクチュエータ27はエレベータ28を左右方向に移動させるように構成されている。エレベータ28には昇降台29が昇降されるように支持されており、昇降台29にはポッド10をハンドリングするポッドハンドリング装置30が設置されている。
【0017】
ポッドハンドリング装置30はスカラ形ロボット(selective compliance assembly robot arm 。SCARA)によって構成されている。すなわち、ポッドハンドリング装置30は昇降台29に垂直に据え付けられたロータリーアクチュエータ31を備えており、ロータリーアクチュエータ31はその出力軸である回転軸に一端部が固定された第一アーム32を水平面内で回転させるように構成されている。第一アーム32の他端部には第二アーム33の一端部が軸支されており、第二アーム33はロータリーアクチュエータ31によって水平面内で回転されるようになっている。第二アーム33の他端部にはハンド34が水平に取り付けられており、ハンド34はポッド10を下から掬い取って水平に支持し得るように構成されている。
【0018】
図3および図5に示されているように、隔壁20後方の下側空間にはウエハ移載装置35が二台、左右にそれぞれ設置されており、各ウエハ移載装置35はウエハローディングポート23とボート9との間でウエハWを移送してポッド10およびボート9に移載するように構成されている。すなわち、ウエハ移載装置35はベース36を備えており、ベース36の上面にはロータリーアクチュエータ37が設置されている。ロータリーアクチュエータ37の上には第一リニアアクチュエータ38が設置されており、ロータリーアクチュエータ37は第一リニアアクチュエータ38を水平面内で回転させるように構成されている。第一リニアアクチュエータ38の上には第二リニアアクチュエータ39が設置されており、第一リニアアクチュエータ38は第二リニアアクチュエータ39を水平移動させるように構成されている。第二リニアアクチュエータ39の上には取付台40が設置されており、第二リニアアクチュエータ39は取付台40を水平移動されるように構成されている。取付台40にはウエハWを下から支持するツィーザ41が複数枚(本実施の形態においては五枚)、等間隔に配置されて水平に取り付けられている。そして、ウエハ移載装置35は送りねじ機構によって構成されたエレベータ42によって昇降されるようになっている。
【0019】
なお、図示しないが、隔壁20の後方の下側空間にはノッチ合わせ装置が設置されている。ノッチ合わせ装置は両方のウエハ移載装置35、35の片脇にそれぞれ設置してもよいが、両方のウエハ移載装置35、35の間に設置して兼用してもよい。また、図示しないが、隔壁20の後方の下側空間にはクリーンユニットがキャップ8の上に支持されたボート9にクリーンエアを吹き付けるように設置されている。
【0020】
次に、前記構成に係るCVD装置を用いる本発明の一実施の形態である半導体装置の製造方法を説明する。
【0021】
図2および図4に示されているように、ポッドステージ11に供給されたポッド10は出し入れ口12から搬入されて受け台13の上に一時的に載置され、二台の回転棚17、17またはバッファ棚14のうちの指定された位置にポッド移送装置26によって適宜に搬送されて一時的に保管される。ちなみに、一台のポッド移送装置26によって二台分の回転棚17、17およびバッファ棚14にポッド10を搬送するために、ポッド移送装置26のリニアアクチュエータ27およびエレベータ28の移動速度は通常のCVD装置のそれよりも速く設定されている。
【0022】
二台の回転棚17、17およびバッファ棚14に保管されたポッド10はポッド移送装置26によって適宜にピックアップされて、四箇所のうちの指定されたウエハローディングポート23に搬送され、図2および図5に示されているように、載置台23aに移載される。
【0023】
ウエハローディングポート23の載置台23aに移載されたポッド10はポッドオープナ25によってキャップを外されて開放される。この一箇所のウエハローディングポート23におけるポッドオープナ25による開放作業の間に、他の三箇所のうち所定のウエハローディングポート23には別のポッド10がポッド移送装置26によって二台の回転棚17、17およびバッファ棚14からピックアップされて移送される。したがって、ポッド移送装置26は四箇所のウエハローディングポート23と二台の回転棚17、17およびバッファ棚14との間、並びに、二台の回転棚17、17およびバッファ棚14とポッドステージ11の受け台13との間をきわめて効率よく移動して稼働することになる。
【0024】
例えば、上段のウエハローディングポート23においてポッド10の開放作業が実施されている間に、下段のウエハローディングポート23へのポッド10の移送作業が同時進行されていると、上段のウエハローディングポート23におけるウエハWの移載作業の終了と同時に、下段のウエハローディングポート23にセットされたポッド10についてのウエハWのウエハ移載装置35による移載(ローディング)作業を開始することができる。すなわち、ウエハ移載装置35はポッド10の入替え作業についての待ち時間を浪費することなくウエハ移載(ローディング)作業を連続して実施することができるため、CVD装置1のスループットを高めることができる。
【0025】
ウエハローディングポート23においてポッド10が開放されると、ポッド10に収納された複数枚のウエハWはウエハ移載装置35によってボート9に移載(ローディング)される。この際、ボート9がバッチ処理するウエハWの枚数(例えば、百枚〜百五十枚)は一台のポッド10に収納されたウエハWの枚数(例えば、二十五枚)よりも何倍も多いため、複数台のポッド10が上下のウエハローディングポート23、23にポッド移送装置26によって交互に繰り返し供給されることになる。
【0026】
予め指定された複数枚のウエハWが上下のウエハローディングポート23、23からボート9に移載されると、ボート9はエレベータ7によって上昇されてプロセスチューブ4の処理室に搬入される。ボート9が上限に達すると、ボート9を保持したキャップ8の上面の周辺部がプロセスチューブ4をシール状態に閉塞するため、処理室は気密に閉じられた状態になる。
【0027】
プロセスチューブ4の処理室が気密に閉じられた状態で、所定の真空度に排気管6によって真空排気され、ヒータユニット3によって所定の温度に加熱され、所定の原料ガスがガス導入管5によって所定の流量だけ供給される。これにより、所定のCVD膜がウエハWに形成される。
【0028】
そして、予め設定された処理時間が経過すると、ボート9がエレベータ7によって下降されることにより、処理済みウエハWを保持したボート9が元の待機位置に搬出される。なお、ボート9のプロセスチューブ4の処理室への搬入搬出作業および処理作業の間に、ポッドステージ11やバッファ棚14および回転棚17においてはポッド10の搬入搬出作業や移送作業が同時に進行される。ちなみに、取り扱う膜種によって異なるが、例えば、処理時間は約1時間〜2時間になる。
【0029】
待機位置に搬出されたボート9の処理済みウエハWはウエハローディングポート23に予め搬送されてキャップ10aを外されて開放された空のポッド10に、ウエハ移載装置35によって移載(アンローディング)される。続いて、ポッド10がポッドオープナ25によって閉じられた後に、処理済みのウエハWが収納されたポッド10は二台の回転棚17、17またはバッファ棚14の指定された位置にポッド移送装置26によって搬送されて一時的に保管される。
【0030】
以上の処理済みウエハWの移載(アンローディング)作業の際も、ボート9がバッチ処理したウエハWの枚数は一台の空のポッド10に収納するウエハWの枚数よりも何倍も多いため、複数台のポッド10が上下のウエハローディングポート23、23に交互にポッド移送装置26によって繰り返し供給されることになる。この場合にも、一方(上段または下段)のウエハローディングポート23へのウエハ移載作業中に、他方(下段または上段)のウエハローディングポート23への空のポッド10への搬送や準備作業が同時進行されることにより、ウエハ移載装置35はポッド10の入替え作業についての待ち時間を浪費することなくウエハ移載(アンローディング)作業を連続して実施することができるため、CVD装置1のスループットを高めることができる。
【0031】
処理済みウエハWを収納したポッド10は回転棚17からポッドステージ11へポッド移送装置26によって搬送される。ポッドステージ11に移載されたポッド10は次工程へ搬送される。
【0032】
そして、新規のウエハWを収納したポッド10がポッドステージ11に供給される。以降、前述した作用が繰り返されてウエハWがCVD装置1によってバッチ処理されて行く。
【0033】
なお、本実施の形態においては、プロセスチューブ4やボート9、ウエハローディングポート23およびウエハ移載装置35が左右一組ずつ設備されているので、片側(左側または右側)の組のプロセスチューブ4において成膜処理が実施されている間に、他側(右側または左側)の組においてウエハローディングポート23に対するポッド10の移送(ローディングおよびアンローディング)作業や、ウエハローディングポート23およびボート9に対するウエハWの移載(ローディングおよびアンローディング)作業が同時進行される。このように左右の組同士で交互に作業を進行させることにより、成膜処理を休みなく継続することができるため、CVD装置1のスループットを高めることができる。
【0034】
前記実施の形態によれば、次の効果が得られる。
【0035】
1) 一つの筐体2内にプロセスチューブ4やボート9、ウエハローディングポート23およびウエハ移載装置35を左右一組ずつ設備することにより、大量のウエハWを所定の時間内で処理することができるとともに、二台のCVD装置を左右に隣り合わせに並べて設備する場合に比べて、隙間が発生しない分だけ占有床面積を低減することができるため、クリーンルームを有効に活用することができる。
【0036】
2) プロセスチューブ4やボート9、ウエハローディングポート23およびウエハ移載装置35を左右一組ずつ設備するのに対して、ポッドステージ11やポッド移送装置26は一組だけ設備することにより、二台のCVD装置を設備する場合に比べてイニシャルコストおよびランニングコストを低減することができるため、半導体装置の製造方法のコストを低減することができる。
【0037】
3) 一対のウエハローディングポート23、23を上下に二段設置するとともに、両ウエハローディングポート23、23にはポッド10のキャップ10aを開閉するポッドオープナ25をそれぞれ設けることにより、一方のウエハローディングポート23におけるポッド10に対するウエハWの出し入れ作業(ローディングおよびアンローディング)中に、他方のウエハローディングポート23へのポッド10の搬入搬出作業やウエハローディングまたはアンローディングのための準備作業を同時進行させることができるため、ポッド10を入替える際の待ち時間をなくしスループットを高めることができる。
【0038】
4) 一対のウエハローディングポート23、23を上下に二段設置することにより、ウエハローディングポートの占拠面積を増加させなくて済むため、CVD装置1の横幅の増加を回避しつつスループットを高めることができる。
【0039】
なお、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変更が可能であることはいうまでもない。
【0040】
例えば、プロセスチューブ4やボート9、ウエハローディングポート23およびウエハ移載装置35は一つの筐体2に左右一組ずつ設備するに限らず、三組以上を設備してもよい。
【0041】
ウエハローディングポートは上下二段設置するに限らず、一段だけ設置してもよいし、上中下三段のように三段以上設置してもよい。
【0042】
ウエハのキャリアとしてはポッドを使用するに限らず、カセットを使用してもよい。カセットを使用する場合にはポッドオープナは省略することができる。
【0043】
前記実施の形態ではバッチ式縦形CVD装置の場合について説明したが、本発明はこれに限らず、バッチ式縦形拡散装置等の半導体製造装置全般に適用することができる。
【0044】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、半導体製造装置のコストや占有床面積の増加を抑制しつつ大量の基板を処理することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態であるCVD装置を示す一部省略斜視図である。
【図2】回転棚を通る平面断面図である。
【図3】ウエハ移載装置を通る平面断面図である。
【図4】ポッド移送装置側の側面断面図である。
【図5】ウエハ移載装置側の側面断面図である。
【符号の説明】
W…ウエハ(基板)、1…CVD装置(半導体製造装置)、2…筐体、3…ヒータユニット、4…プロセスチューブ、5…ガス導入管、6…排気管、7…エレベータ、8…キャップ、9…ボート、10…ポッド(基板収納容器)、10a…キャップ、11…ポッドステージ(ポッド搬入搬出ステージ)、12…出し入れ口、13…受け台、14…バッファ棚、15…支持板、16…棚板、17…回転棚、18…回転軸、19…棚板、20…隔壁、21…垂直壁部、22…水平壁部、23…ウエハローディングポート、24…出し入れ口、25…ポッドオープナ、26…ポッド移送装置、27…リニアアクチュエータ、28…エレベータ、29…昇降台、30…ポッドハンドリング装置、31…ロータリーアクチュエータ、32…第一アーム、33…第二アーム、34…ハンド、35…ウエハ移載装置、36…ベース、37…ロータリーアクチュエータ、38…第一リニアアクチュエータ、39…第二リニアアクチュエータ、40…取付台、41…ツィーザ、42…エレベータ。
Claims (3)
- 基板を処理するプロセスチューブと、前記基板を保持して前記プロセスチューブに搬入搬出するボートと、上下に複数段設置され前記基板を収納して搬送するキャリアから前記基板を出し入れするための基板ローディングポートと、前記基板を前記ボートおよび前記基板ローディングポートに対して移載する基板移載装置とを一組とした複数組が、一つの筐体に設備されており、
前記基板移載装置は前記ボートと複数段の前記基板ローディングポートとの間を移動するように構成されており、
前記筐体には前記キャリアを前記基板ローディングポートそれぞれに移送する一台のキャリア移送装置が設備されていることを特徴とする半導体製造装置。 - 前記ボートの基板収納枚数は、前記キャリアの基板収納枚数より複数倍以上多いことを特徴とする請求項1に記載の半導体製造装置。
- 請求項1に記載の半導体製造装置を用いる半導体装置の製造方法であって、
前記複数組のうち、一組の前記プロセスチューブで基板が処理されている間に、他の組では前記プロセスチューブに搬入搬出する前記ボートと、一つの前記基板ローディングポートに有る前記キャリアとの間での前記基板の搬送作業と、前記キャリア移送装置による他の前記基板ローディングポートへの前記キャリアの移送作業とを同時進行させることを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000196627A JP4383636B2 (ja) | 2000-06-29 | 2000-06-29 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000196627A JP4383636B2 (ja) | 2000-06-29 | 2000-06-29 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002016055A JP2002016055A (ja) | 2002-01-18 |
JP4383636B2 true JP4383636B2 (ja) | 2009-12-16 |
Family
ID=18695085
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000196627A Expired - Lifetime JP4383636B2 (ja) | 2000-06-29 | 2000-06-29 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4383636B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102332418A (zh) * | 2011-09-23 | 2012-01-25 | 北京七星华创电子股份有限公司 | 半导体晶圆运送系统 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100443121B1 (ko) * | 2001-11-29 | 2004-08-04 | 삼성전자주식회사 | 반도체 공정의 수행 방법 및 반도체 공정 장치 |
JP4266197B2 (ja) | 2004-10-19 | 2009-05-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型熱処理装置 |
JP4464993B2 (ja) | 2007-06-29 | 2010-05-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板の処理システム |
JP6724120B2 (ja) * | 2017-12-20 | 2020-07-15 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム |
CN113394145B (zh) * | 2021-05-07 | 2022-08-19 | 拉普拉斯(无锡)半导体科技有限公司 | 一种硅片的导片系统 |
JP7546617B2 (ja) | 2022-03-22 | 2024-09-06 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法、プログラム及び基板搬送方法 |
-
2000
- 2000-06-29 JP JP2000196627A patent/JP4383636B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102332418A (zh) * | 2011-09-23 | 2012-01-25 | 北京七星华创电子股份有限公司 | 半导体晶圆运送系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002016055A (ja) | 2002-01-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4581031B2 (ja) | 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法 | |
US6802934B2 (en) | Processing apparatus | |
JP2002501303A (ja) | 2ウエハ・ロードロック・ウエハ処理装置ならびにその装填および排出方法 | |
KR20020019414A (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 장치를 이용한 반도체디바이스 제조 방법 | |
US20020197145A1 (en) | Substrate processing apparatus and a method for fabricating a semiconductor device by using same | |
JP4342745B2 (ja) | 基板処理方法および半導体装置の製造方法 | |
JP2003124284A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2002246432A (ja) | 基板処理装置 | |
JP4255222B2 (ja) | 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法 | |
JP4383636B2 (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
JP4709912B2 (ja) | 基板処理方法および半導体装置の製造方法 | |
JP2002009131A (ja) | 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法 | |
JP4358690B2 (ja) | 縦型熱処理装置及びその運用方法 | |
JP3856726B2 (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2004119627A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2012169534A (ja) | 基板処理装置及び半導体装置の製造方法 | |
JP2002093877A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2005347667A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2002246436A (ja) | 基板処理装置 | |
JP4283973B2 (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2004011005A (ja) | 処理装置および処理方法 | |
JP4728383B2 (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JP4224192B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2004023032A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2002246445A (ja) | 基板処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050930 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070921 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071002 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090714 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090825 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090915 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090924 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121002 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4383636 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131002 Year of fee payment: 4 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |