JP2002009131A - 基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法 - Google Patents

基板処理装置、基板処理方法および半導体装置の製造方法

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JP2002009131A
JP2002009131A JP2001115619A JP2001115619A JP2002009131A JP 2002009131 A JP2002009131 A JP 2002009131A JP 2001115619 A JP2001115619 A JP 2001115619A JP 2001115619 A JP2001115619 A JP 2001115619A JP 2002009131 A JP2002009131 A JP 2002009131A
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考宜 中島
Tatsuhisa Matsunaga
建久 松永
Hidehiro Yanagawa
秀宏 柳川
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 リードタイムを短縮しスループットを高め
る。 【解決手段】 半導体製造装置1において、一対のウエ
ハローディングポート13、13を上下に二段設置し、
両ウエハローディングポート13、13にはポッド10
のキャップ10aを開閉するポッドオープナ20を設け
る。一方のウエハローディングポート13におけるポッ
ド10に対するウエハ9の出し入れ作業中に、他方のウ
エハローディングポート13へのポッド10の搬入搬出
作業や準備作業を同時進行させる。 【効果】 ポッド10を入替える際の待ち時間をなくし
スループット高めることができる。上下に二段設置する
ことで、ウエハローディングポートの占拠面積を増加さ
せなくて済むため、半導体製造装置の横幅の増加を回避
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板処理装置、基
板処理方法および半導体装置の製造方法に関し、特に、
ポッドを開閉する技術に係り、例えば、半導体素子を含
む半導体集積回路を作り込まれる基板としての半導体ウ
エハ(以下、ウエハという。)に絶縁膜や金属膜等のC
VD膜を形成したり不純物を拡散したりするバッチ式縦
形拡散・CVD装置およびこれを使用して成膜したり不
純物を拡散したりする基板処理方法並びに半導体装置を
製造する方法に利用して有効なものに関する。
【0002】基板処理装置の一例であるバッチ式縦形拡
散・CVD装置(以下、半導体製造装置という。)にお
いては、未処理のウエハがキャリア(ウエハ収納容器)
に収納された状態で半導体製造装置の外部から搬入され
る。従来のこの種のキャリアとして、互いに対向する一
対の面が開口された略立方体の箱形状に形成されている
カセットと、一つの面が開口された略立方体の箱形状に
形成され開口面にキャップが着脱自在に装着されている
FOUP(front opening unified pod 。以下、ポッド
という。)とがある。
【0003】ウエハのキャリアとしてポッドが使用され
る場合には、ウエハが密閉された状態で搬送されること
になるため、周囲の雰囲気にパーティクル等が存在して
いたとしてもウエハの清浄度は維持することができる。
したがって、半導体製造装置が設置されるクリーンルー
ム内の清浄度をあまり高く設定する必要がなくなるた
め、クリーンルームに要するコストを低減することがで
きる。そこで、最近の半導体製造装置においてはウエハ
のキャリアとしてポッドが使用されて来ている。
【0004】ウエハのキャリアとしてポッドを使用した
半導体製造装置においては、キャップを開閉するに際し
て筐体内およびポッド内のウエハの清浄度を維持しつつ
ウエハをポッドに対して出し入れ可能とするポッド開閉
装置(以下、ポッドオープナという。)が、設置されて
いる。従来のこの種のポッドオープナとして、特開平8
−279546号公報に開示されているものがある。す
なわち、このポッドオープナはウエハローディングポー
トに設置されており、ウエハローディングポートに載置
されたポッドのキャップを摩擦係合によって固定するク
ロージャを備えており、クロージャがキャップを固定し
た状態で下降することによりポッドを開放するように構
成されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
半導体製造装置においては、ウエハローディングポート
が一つだけしか設定されていないことにより、ウエハの
移載時間にポッドの入替え時間が算入されることになる
ため、半導体製造装置全体としての処理時間が長くな
り、半導体製造装置のスループットが低下するという問
題点がある。
【0006】本発明の目的は、スループットを高めるこ
とができる基板処理装置およびこれを使用した基板処理
方法並びに半導体装置の製造方法を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記した課題を解決する
ための手段は、複数枚の基板を収納し開閉自在なキャッ
プを有するポッドに対して前記基板を出し入れする基板
ローディングポートが複数設けられているとともに、こ
れら基板ローディングポートには前記ポッドの前記キャ
ップを開閉する開閉装置がそれぞれ設けられていること
を特徴とする。
【0008】前記した手段によれば、複数の基板ローデ
ィングポートの一つにおけるポッドに対する基板の出し
入れ作業中に、他方の基板ローディングポートへのポッ
ドの搬入搬出作業や基板の出し入れのための準備作業を
同時進行させることができるため、ポッドを入れ換える
際の待ち時間をなくしスループットを高めることができ
る。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面に即して説明する。
【0010】本実施の形態において、本発明に係る基板
処理装置は、図1に示されているように半導体製造装置
すなわちバッチ式縦形拡散・CVD装置として構成され
ている。図1に示されている半導体製造装置1は気密室
構造に構築された筐体2を備えている。筐体2内の一端
部(以下、後端部とする。)の上部にはヒータユニット
3が垂直方向に据え付けられており、ヒータユニット3
の内部にはプロセスチューブ4が同心に配置されてい
る。プロセスチューブ4にはプロセスチューブ4内に原
料ガスやパージガス等を導入するためのガス導入管5
と、プロセスチューブ4内を真空排気するための排気管
6とが接続されている。筐体2の後端部の下部にはエレ
ベータ7が設置されており、エレベータ7はプロセスチ
ューブ4の真下に配置されたボート8を垂直方向に昇降
させるように構成されている。ボート8は多数枚のウエ
ハ9を中心を揃えて水平に配置した状態で支持して、プ
ロセスチューブ4の処理室に対して搬入搬出するように
構成されている。
【0011】筐体2の正面壁にはポッド出し入れ口(図
示せず)が開設されており、ポッド出し入れ口はフロン
トシャッタによって開閉されるようになっている。ポッ
ド出し入れ口にはポッド10の位置合わせを実行するポ
ッドステージ11が設置されており、ポッド10はポッ
ド出し入れ口を通してポッドステージ11に出し入れさ
れるようになっている。
【0012】筐体2内の前後方向の中央部の上部には回
転式のポッド棚12が設置されており、回転式のポッド
棚12は合計八個のポッド10を保管するように構成さ
れている。すなわち、回転式のポッド棚12は略卍形状
に形成された棚板が上下二段に配置されて水平面内で回
転自在に支承されており、モータ等の間欠回転駆動装置
(図示せず)によってピッチ送り的に一方向に回転され
るようになっている。筐体2内のポッド棚12の下側に
は基板としてのウエハ9を払い出す(ローディングす
る)ためのウエハローディングポート13が一対、垂直
方向に上下二段に配置されて設置されており、両ウエハ
ローディングポート13、13には後記するポッドオー
プナ20がそれぞれ設置されている。なお、便宜上、図
1においてはポッド棚は合計八個のポッドを保管するよ
うに図示されているが、最大十六個のポッドを保管する
ことができる。
【0013】筐体2内のポッドステージ11とポッド棚
12およびウエハローディングポート13との間にはポ
ッド搬送装置14が設置されており、ポッド搬送装置1
4はポッドステージ11とポッド棚12およびウエハロ
ーディングポート13との間およびポッド棚12とウエ
ハローディングポート13との間でポッド10を搬送す
るように構成されている。また、ウエハローディングポ
ート13とボート8との間にはウエハ移載装置15が設
置されており、ウエハ移載装置15はウエハローディン
グポート13とボート8との間でウエハ9を搬送するよ
うに構成されている。
【0014】上下のウエハローディングポート13、1
3に設置されたポッドオープナ20、20は同一に構成
されているため、ポッドオープナ20の構成については
上段のウエハローディングポート13に設置されたもの
について説明する。
【0015】図1に示されているように、ポッドオープ
ナ20は筐体2内においてウエハローディングポート1
3とウエハ移載装置15とを仕切るように垂直に立脚さ
れた側壁をなすベース21を備えており、図2および図
3に示されているように、ベース21にはポッド10の
キャップ10aと若干大きめに相似する四角形に形成さ
れたウエハ出入口22が開設されている。なお、ベース
21は上下のポッドオープナ20、20で共用されてい
るため、ベース21には上下で一対のウエハ出入口2
2、22が垂直方向で縦に並ぶように開設されている。
【0016】図2に示されているように、ベース21の
ウエハローディングポート13側の主面(以下、正面と
する。)におけるウエハ出入口22の下側にはアングル
形状の支持台23が水平に固定されており、支持台23
の平面視の形状は一部が切り欠かれた略正方形の枠形状
に形成されている。支持台23の上面には一対のガイド
レール24、24がベース21の正面と平行方向(以
下、左右方向とする。)に配置されて、ベース21の正
面と直角方向(以下、前後方向とする。)に延在するよ
うに敷設されており、左右のガイドレール24、24に
は載置台27が複数個のガイドブロック25を介して前
後方向に摺動自在に支承されている。載置台27は支持
台23の上面に据え付けられたエアシリンダ装置26に
よって前後方向に往復移動されるようになっている。
【0017】図2に示されているように、載置台27は
一部が切り欠かれた略正方形の枠形状に形成されてお
り、載置台27の上面には位置決めピン28が三本、正
三角形の頂点に配置されて垂直に突設されている。三本
の位置決めピン28はポッド10が図3に示されている
ように載置台27の上に載置された状態において、ポッ
ド10の下面に没設された三箇所の位置決め凹部(図示
せず)に嵌入するようになっている。
【0018】図4に示されているように、ベース21の
ウエハ移載装置15側の主面(以下、背面とする。)に
おけるウエハ出入口22の下側には、ガイドレール30
が左右方向に水平に敷設されており、ガイドレール30
にはアングル形状に形成された左右方向移動台31が左
右方向に往復移動し得るように摺動自在に支承されてい
る。左右方向移動台31の垂直部材にはエアシリンダ装
置32が左右方向に水平に据え付けられており、エアシ
リンダ装置32のピストンロッド32aの先端はベース
21に固定されている。すなわち、左右方向移動台31
はエアシリンダ装置32の往復作動によって左右方向に
往復駆動されるようになっている。
【0019】図5に示されているように、左右方向移動
台31の水平部材の上面には一対のガイドレール33、
33が左右に配されて前後方向に延在するように敷設さ
れており、両ガイドレール33、33には前後方向移動
台34が前後方向に往復移動し得るように摺動自在に支
承されている。前後方向移動台34の片側端部にはガイ
ド孔35が左右方向に延在するように開設されている。
左右方向移動台31の一側面にはブラケット36が固定
されており、ブラケット36にはロータリーアクチュエ
ータ37が垂直方向上向きに据え付けられている。ロー
タリーアクチュエータ37のアーム37aの先端に垂直
に立脚されたガイドピン38は前後方向移動台34のガ
イド孔35に摺動自在に嵌入されている。すなわち、前
後方向移動台34はロータリーアクチュエータ37の往
復回動によって前後方向に往復駆動されるように構成さ
れている。
【0020】前後方向移動台34の上面にはブラケット
39が垂直に立脚されており、ブラケット39の正面に
はウエハ出入口22に若干大きめに相似する長方形の平
盤形状に形成されたクロージャ40が垂直に固定されて
いる。つまり、クロージャ40は前後方向移動台34に
よって前後方向に往復移動されるようになっているとと
もに、左右方向移動台31によって左右方向に往復移動
されるようになっている。そして、クロージャ40は前
進移動してそのベース側を向いた主面(以下、正面とす
る。)がベース21の背面に当接することによりウエハ
出入口22を閉塞し得るようになっている。なお、図5
および図6に示されているように、ベース21の正面に
おけるウエハ出入口22の周りには、ポッド10の押し
付け時にポッド10のウエハ出し入れ口およびベース2
1のウエハ出入口22をシールするパッキン54が敷設
されている。クロージャ40の正面における外周縁近傍
には、クロージャ40の押し付け時にベース21のウエ
ハ出入口22をシールするためのパッキン55が敷設さ
れている。クロージャ40の正面における外周縁のパッ
キン55の内側には、キャップ10aに付着した異物が
ウエハ移載装置15の設置室側へ侵入するのを防止する
ためのパッキン56が敷設されている。
【0021】図4に示されているように、クロージャ4
0の上下方向の中心線上には一対の解錠軸41、41が
左右に配置されて前後方向に挿通されて回転自在に支承
されている。両解錠軸41、41におけるクロージャ4
0のベースと反対側の主面(以下、背面とする。)側の
端部には一対のプーリー42、42が固定されており、
両プーリー42、42間には連結片44を有するベルト
43が巻き掛けられている。クロージャ40の背面にお
ける一方のプーリー42の上側にはエアシリンダ装置4
5が水平に据え付けられており、エアシリンダ装置45
のピストンロッドの先端はベルト43の連結片44に連
結されている。すなわち、両解錠軸41、41はエアシ
リンダ装置45の伸縮作動によって往復回動されるよう
になっている。図2に示されているように、両解錠軸4
1、41のクロージャ40の正面側の端部にはキャップ
10aの錠前(図示せず)に係合する係合部41aが直
交して突設されている。
【0022】図2に示されているように、クロージャ4
0の正面における一方の対角付近にはキャップ10aの
表面に吸着する吸着具(吸盤)46が二個、吸込口部材
47によってそれぞれ固定されている。吸着具46を固
定する吸込口部材47は中空軸によって構成されてお
り、吸込口部材47の背面側端は給排気路(図示せず)
に接続されている。吸込口部材47の正面側端の外径は
キャップ10aに没設された位置決め穴(図示せず)に
嵌入するように設定されている。すなわち、吸込口部材
47はキャップ10aの位置決め穴に嵌入してキャップ
10aを機械的に支持するための支持ピンを兼用するよ
うに構成されている。
【0023】図2、図4および図6に示されているよう
に、ベース21の正面におけるウエハ出入口22の片脇
にはロータリーアクチュエータ50が回転軸50aが垂
直方向になるように据え付けられており、回転軸50a
には略C字形状に形成されたアーム51の一端が水平面
内で一体回動するように固定されている。アーム51は
ベース21に開設された挿通孔52を挿通されており、
アーム51のベース21の背面側の先端部にはマッピン
グ装置53が固定されている。
【0024】次に、本発明の一実施の形態に係る半導体
装置の製造方法の特徴工程であって、本発明の一実施の
形態に係る基板処理方法であるウエハのボートへの装填
および脱装(チャージングおよびディスチャージング)
方法を、前記構成に係る半導体製造装置を使用して実施
する場合について図7に示されたシーケンスに沿って説
明する。なお、説明を理解し易くするため、以下の説明
においては、一方のウエハローディングポート13を上
段ポートAとし、他方のウエハローディングポート13
を下段ポートBとする。
【0025】図7に示されたシーケンスが実施される前
に、予め、図1に示されているように、筐体2内のポッ
ドステージ11にポッド出し入れ口から搬入されたポッ
ド10は、ポッド搬送装置14によって指定されたポッ
ド棚12に適宜に搬送されて一時的に保管される。
【0026】ポッド棚12に予め保管されたポッド10
はポッド搬送装置14によって適宜にピックアップさ
れ、図7に示された実ポッド搬入ステップS1におい
て、上段ポートAに搬送されて、ポッドオープナ20の
載置台27に図3に示されているように移載される。こ
の際、ポッド10の下面に没設された位置決め凹部が載
置台27の三本の位置決めピン28とそれぞれ嵌合され
ることにより、ポッド10と載置台27との位置合わせ
が実行される。
【0027】ポッド10が載置台27に載置されて位置
合わせされると、載置台27がエアシリンダ装置26に
よってベース21の方向に押され、図6(a)に示され
ているように、ポッド10の開口側端面がベース21の
正面におけるウエハ出入口22の開口縁辺部に押し付け
られる。また、ポッド10がベース21の方向に押され
ると、クロージャ40の解錠軸41がキャップ10aの
鍵穴に挿入される。
【0028】続いて、負圧がクロージャ40の吸込口部
材47に給排気路から供給されることにより、ポッド1
0のキャップ10aが吸着具46によって真空吸着保持
される。この状態で、解錠軸41がエアシリンダ装置4
5によって回動されると、解錠軸41はキャップ10a
側の錠前に係合した係合部41aによってキャップ10
aの錠前の施錠を解除する。
【0029】次いで、前後方向移動台34がロータリー
アクチュエータ37の作動によってベース21から離れ
る方向に移動され、続いて、左右方向移動台31がエア
シリンダ装置32の作動によってウエハ出入口22から
離れる方向に移動されることにより、キャップ10aを
吸着具46によって真空吸着保持したクロージャ40が
ベース21の背面における退避位置に移動される。この
クロージャ40の移動により、キャップ10aがポッド
10の開口部から外されるため、図6(b)に示されて
いるように、ポッド10が開放される。以上により、上
段ポートAにおいては図7の実ポッド開けステップS2
が実行されたことになる。
【0030】次に、図7に示されているように、上段ポ
ートAにおいてはマッピングステップS3が実行され
る。すなわち、図6(b)に示されているように、マッ
ピング装置53がロータリーアクチュエータ50の作動
によって移動されて、ポッド10の開口に挿入される。
ポッド10の開口に挿入されたマッピング装置53はポ
ッド10に収納された複数枚のウエハ9を検出すること
によってマッピングする。ここで、マッピングとはポッ
ド10の中のウエハ9の所在位置(ウエハ9がどのスリ
ットにあるのか。)を確認することである。指定された
マッピング作業が終了すると、マッピング装置53はロ
ータリーアクチュエータ50の作動によって元の待機位
置に戻される。
【0031】マッピング装置53が待機位置に戻ると、
上段ポートAにおいて開けられたポッド10の複数枚の
ウエハ9はボート8にウエハ移載装置15によって順次
装填(チャージング)されて行く。すなわち、図7のチ
ャージングステップS4−1が実行される。
【0032】この上段ポートAにおけるウエハ移載装置
15によるウエハ9の装填作業中(チャージングステッ
プS4−1の実行中)に、図7に示されているように、
下段ポートBにおいては実ポッド搬入ステップS1、実
ポッド開けステップS2およびマッピングステップS3
が実行される。すなわち、下段ポートBにはポッド棚1
2から別のポッド10がポッド搬送装置14によって搬
送されて移載され、ポッドオープナ20による前述した
位置決め作業からマッピング作業が同時進行される。な
お、下段ポートBにおいてマッピングステップS3が完
了した後に上段ポートAにおいてチャージングステップ
S4−1が継続中の場合には、下段ポートBにおいては
待機ステップStが適宜に実行されることになる。
【0033】このように下段ポートBにおいてマッピン
グステップS3迄が同時進行されていると、上段ポート
Aにおけるウエハ9の装填作業の終了と同時に、下段ポ
ートBに待機させたポッド10についてのウエハ9のウ
エハ移載装置15による装填作業を開始することができ
る。すなわち、ウエハ移載装置15はポッド10の入替
え作業についての待ち時間を浪費することなくウエハ移
載(ウエハローディング)作業を連続して実施すること
ができるため、半導体製造装置1のスループットを高め
ることができる。
【0034】翻って、図7に示されているように、上段
ポートAにおいてチャージングステップS4−1が終了
すると、空ポッド閉じステップS5が実行される。すな
わち、クロージャ40に保持されて退避されていたキャ
ップ10aがウエハ出入口22の位置に左右方向移動台
31によって戻され、前後方向移動台34によってウエ
ハ出入口22に挿入されてポッド10の開口部に嵌入さ
れる。キャップ10aがポッド10に嵌入されると、解
錠軸41がエアシリンダ装置45によって回動され、キ
ャップ10aの錠前を施錠する。キャップ10aの施錠
が終了すると、給排気路から吸込口部材47へ供給され
ていた負圧が切られて大気に開放されることにより、吸
着具46の真空吸着保持が解除される。続いて、載置台
27がエアシリンダ装置26によってベース21から離
れる方向に移動され、ポッド10の開口側端面がベース
21の正面から離座される。
【0035】キャップ10aによりウエハ出入口が閉塞
された上段ポートAの空のポッド10は、図7の空ポッ
ド搬出ステップS6において、ポッド棚12にポッド搬
送装置14によって搬送されて一時的に戻される。
【0036】空のポッド10が上段ポートAから搬出さ
れると、図7に示されているように、次の実ポッド10
が上段ポートAに搬入される実ポッド搬入ステップS1
が実行される。以降、上段ポートAにおいては前述した
各ステップS2〜S6が必要回数繰り返される。但し、
マッピングステップS3の後に必要に応じて待機ステッ
プStが実行される。
【0037】以上の上段ポートAにおける空ポッド閉じ
ステップS5〜待機ステップStの実行中に、図7に示
されているように、下段ポートBにおいてはチャージン
グステップS4−2が前述した上段ポートAのそれと同
様にして実行される。
【0038】下段ポートBにおいてチャージングステッ
プS4−2が終了すると、図7に示されているように、
空ポッド閉じステップS5が実行される。続いて、下段
ポートBの空のポッド10は空ポッド搬出ステップS6
においてポッド棚12にポッド搬送装置14によって搬
送されて一時的に戻される。空のポッド10が下段ポー
トBから搬出されると、図7に示されているように、次
の実ポッド10が下段ポートBに搬入される実ポッド搬
入ステップS1が実行される。以降、下段ポートBにお
いては前述した各ステップS2〜S6が必要回数繰り返
される。
【0039】このように上段ポートAにおいてマッピン
グステップS3迄が同時進行されていると、下段ポート
Bにおけるウエハ9の装填作業の終了と同時に、上段ポ
ートAに待機させたポッド10についてのウエハ9のウ
エハ移載装置15による装填(チャージング)作業を開
始することができる。すなわち、ウエハ移載装置15は
ポッド10の入替え作業についての待ち時間を浪費する
ことなくウエハ移載(ローディング)作業を連続して実
施することができるため、半導体製造装置1のスループ
ットを高めることができる。
【0040】以上のようにして上段ポートAと下段ポー
トBとに対するウエハ移載装置15によるチャージング
ステップS4−1、S4−2、S4−3、S4−4が交
互に繰り返されることによって、複数枚のウエハ9がポ
ッド10からボート8に装填されて行く。この際、バッ
チ処理するウエハ9の枚数(例えば、百枚〜百五十枚)
は一台のポッド10に収納されたウエハ9の枚数(例え
ば、二十五枚)よりも何倍も多いため、複数台のポッド
10が上段ポートAと下段ポートBとにポッド搬送装置
14によって交互に繰り返し供給されることになる。す
なわち、前述したステップS1〜ステップS6が上段ポ
ートAと下段ポートBとにおいて複数回繰り返される。
例えば、一回のバッチ処理のウエハ枚数が百枚の場合に
は、図7に示されているように、前述したステップS1
〜ステップS6が上段ポートAと下段ポートBとにおい
て二回宛繰り返される。
【0041】予め指定された複数枚(図7の場合は百
枚)のウエハ9がポッド10からボート8に移載される
と、図7に示されているように、ウエハローディングポ
ート13にとっては実質的に待機ステップ〔以下、成膜
待機ステップSt(Sp)という。〕となる成膜処理が
プロセスチューブ4において実行される。すなわち、ボ
ート8はエレベータ7によって上昇されてプロセスチュ
ーブ4の処理室に搬入される。ボート8が上限に達する
と、ボート8を保持したキャップの上面の周辺部がプロ
セスチューブ4をシール状態に閉塞するため、処理室は
気密に閉じられた状態になる。
【0042】プロセスチューブ4の処理室が気密に閉じ
られた状態で、所定の真空度に排気管6によって真空排
気され、ヒータユニット3によって所定の温度に加熱さ
れ、所定の原料ガスがガス導入管5によって所定の流量
だけ供給される。これにより、所定の膜がウエハ9に形
成される。
【0043】そして、予め設定された処理時間が経過す
ると、ボート8がエレベータ7によって下降されること
により、処理済みウエハ9を保持したボート8が元の装
填および脱装ステーション(以下、装填ステーションと
いう。)に搬出される。
【0044】以上の成膜待機ステップSt(Sp)の実
行中に上段ポートAおよび/または下段ポートBにおい
ては処理済みウエハの回収準備作業が同時進行されてい
る。例えば、図7に示されているように、空ポッド搬入
ステップS7において、空のポッド10が上段ポートA
に搬入され、空ポッド開けステップS8において、空の
ポッド10のキャップ10aが外される。
【0045】そして、図7に示されているように、上段
ポートAのディスチャージングステップS9−1におい
て、装填ステーションに搬出されたボート8の処理済み
ウエハ9はウエハ移載装置15によってディスチャージ
ングされ、上段ポートAに予め搬入されてキャップ10
aを外されて開放された空のポッド10に収容(アンロ
ーディング)される。
【0046】上段ポートAへの空のポッド10への所定
の枚数のウエハ9の収容が終了すると、図7に示されて
いるように、処理済みポッド閉じステップS10が実行
される。すなわち、クロージャ40に保持されて退避さ
れていたキャップ10aがウエハ出入口22の位置に左
右方向移動台31によって戻され、前後方向移動台34
によってウエハ出入口22に挿入されポッド10の開口
部に嵌入される。キャップ10aがポッド10に嵌入さ
れると、解錠軸41がエアシリンダ装置45によって回
動され、キャップ10aの錠前を施錠する。キャップ1
0aの施錠が終了すると、給排気路から吸込口部材47
に供給されていた負圧が切られて大気に開放されること
により、吸着具46のキャップ10aの真空吸着保持が
解除される。続いて、載置台27がエアシリンダ装置2
6によってベース21から離れる方向に移動され、ポッ
ド10の開口側端面がベース21の正面から離座され
る。
【0047】次いで、図7に示された処理済み実ポッド
搬出ステップS11において、処理済みのウエハ9が収
納された処理済み実ポッド10はポッド棚12にポッド
搬送装置14によって搬送されて戻される。
【0048】以上の上段ポートAにおけるディスチャー
ジングステップS9−1の実行中に、図7に示されてい
るように、下段ポートBにおいては空ポッド搬入ステッ
プS7および空ポッド開けステップS8が、上段ポート
Aの場合と同様にして実行される。下段ポートBにおい
て空ポッド開けステップS8が終了した後に上段ポート
AにおいてディスチャージングステップS9−1が継続
中の場合には、下段ポートBにおいては待機ステップS
tが適宜に実行されることになる。
【0049】このように上段ポートAのディスチャージ
ングステップS9−1の実行中に、下段ポートBにおい
て空ポッド開けステップS8迄が同時進行されている
と、上段ポートAにおけるウエハ9の脱装(ディスチャ
ージング)作業の終了と同時に、下段ポートBに待機さ
せたポッド10についてのウエハ9のウエハ移載装置1
5によるディスチャージング作業を開始することができ
る。すなわち、ウエハ移載装置15はポッド10の入替
え作業についての待ち時間を浪費することなくウエハ移
載(ウエハアンローディング)作業を連続して実施する
ことができるため、半導体製造装置1のスループットを
高めることができる。
【0050】以上の処理済みウエハ9のディスチャージ
ング作業の際も、ボート8に装填してバッチ処理したウ
エハ9の枚数は一台の空のポッド10に収納するウエハ
9の枚数よりも何倍も多いため、複数台のポッド10が
上段ポートAと下段ポートBとに交互にポッド搬送装置
14によって繰り返し供給されることになる。この場合
にも、上段ポートA(または下段ポートB)におけるデ
ィスチャージングステップS9−1の実行中に、下段ポ
ートB(または上段ポートA)における空のポッド10
の搬送やディスチャージング準備作業が同時進行される
ことにより、ウエハ移載装置15は空のポッド10の入
替え作業についての待ち時間を浪費することなくディス
チャージング作業を連続して実施することができるた
め、半導体製造装置1のスループットを高めることがで
きる。
【0051】処理済みウエハ9を収納してポッド棚12
に戻されたポッド10はポッド棚12からポッドステー
ジ11へポッド搬送装置14によって搬送される。ポッ
ドステージ11に移載されたポッド10はポッド出し入
れ口から筐体2の外部に搬出されて、洗浄工程や成膜検
査工程等の次工程へ搬送される。そして、新規のウエハ
9を収納したポッド10が筐体2内のポッドステージ1
1にポッド出し入れ口から搬入される。
【0052】なお、新旧ポッド10のポッドステージ1
1への搬入搬出(ポッドローディングおよびポッドアン
ローディング)作業およびポッドステージ11とポッド
棚12との間の入替え作業は、プロセスチューブ4にお
けるボート8の搬入搬出(ボートローディングおよびボ
ートアンローディング)作業や成膜処理の間すなわち成
膜待機ステップSt(Sp)の実行中に同時進行される
ため、半導体製造装置1の全体としての作業時間が延長
されるのを防止することができる。
【0053】以降、以上説明したウエハ装填脱装方法お
よび成膜方法が繰り返されて、CVD膜がウエハ9に半
導体製造装置1によって形成され、半導体素子を含む集
積回路がウエハ9に作り込まれる半導体装置の製造方法
における成膜工程が実施されたことになる。
【0054】前記実施の形態によれば、次の効果が得ら
れる。
【0055】1) 一対のウエハローディングポート1
3、13を上下に二段設置するとともに、両ウエハロー
ディングポート13、13にはポッド10のキャップ1
0aを開閉するポッドオープナ20をそれぞれ設けるこ
とにより、一方のウエハローディングポート13におけ
るポッド10に対するウエハ9の出し入れ作業(ウエハ
ローディングおよびウエハアンローディング)中に、他
方のウエハローディングポート13へのポッド10の搬
入搬出作業やウエハローディングまたはウエハアンロー
ディングのための準備作業を同時進行させることができ
るため、ポッド10を入替える際の待ち時間をなくしス
ループットを高めることができる。
【0056】2) 一対のウエハローディングポート1
3、13を上下に二段設置することにより、ウエハロー
ディングポートの占拠面積を増加させなくて済むため、
半導体製造装置1の横幅の増加を回避しつつスループッ
トを高めることができる。
【0057】3) 一対のウエハローディングポート1
3、13を上下に二段設置するとともに、両ウエハロー
ディングポート13、13にはポッド10のキャップ1
0aを開閉するポッドオープナ20をそれぞれ設けるこ
とにより、ウエハ移載装置15に幅方向の動作を追加さ
せずに済むため、半導体製造装置1の横幅の増加を回避
しつつスループットを高めることができる。
【0058】4) 一対のウエハローディングポート1
3、13を上下に二段設置するとともに、両ウエハロー
ディングポート13、13には一対のマッピング装置5
3、53をそれぞれ設けることにより、一方のウエハロ
ーディングポート13におけるポッド10に対するウエ
ハ9の出し入れ作業中に、他方のウエハローディングポ
ート13のポッド10に対するマッピング作業を同時進
行させることができるため、ポッド10に対するマッピ
ング作業の際の待ち時間をなくし半導体製造装置1のス
ループットを高めることができる。
【0059】5) ベース21の背面のウエハ出入口22
の片脇に据え付けたロータリーアクチュエータ50の回
転軸50aにアーム51を固定するとともに、アーム5
1をベース21に開設された挿通孔52を挿通させて、
そのベース21の正面側の先端部にマッピング装置53
を固定することにより、マッピング装置53を円弧軌跡
によってポッド10の開口部に出し入れさせることがで
きるため、マッピング装置53の出し入れのための駆動
装置を簡単かつ小形に構成することができる。
【0060】6) ポッド10のキャップ10aを保持し
たクロージャ40が水平方向に移動するようにポッドオ
ープナ20を構成することにより、ポッドオープナ20
の高さが増加するのを防止することができるため、複数
段のポッドオープナ20を垂直方向に並べて設置した場
合であっても全体の高さが著しく増加するのを防止する
ことができる。すなわち、クロージャ40を水平移動す
るように構成することによる効果は複数段のポッドオー
プナ20を垂直方向に並設した場合により一層顕著にな
る。換言すれば、クロージャ40を水平移動するように
構成することにより、初めて複数段のポッドオープナ2
0を垂直方向に並設することができる。
【0061】ここで、ポッド10のキャップ10aを保
持したクロージャ40が垂直方向に移動するようにポッ
ドオープナ20を構成した場合には、ポッドオープナ2
0の高さがキャップ10aの高さの分だけ増加(略倍
増)してしまうため、複数段のポッドオープナ20を垂
直方向に設置すると、高さが相乗的に増加してしまう。
その増加に伴って、ポッド棚12はより一層上方に設置
されることになるため、ポッドの搬送時間が増加しスル
ープットが低下する。また、半導体製造装置の高さ規制
によってポッド棚の頂上の高さは制限されるため、ポッ
ド棚が上方に行き過ぎると、ポッド棚の段数が減少され
ることになり、ポッド棚のポッドの収納数が減少してし
まう。つまり、クロージャ40を垂直移動するように構
成すると、複数段のポッドオープナ20すなわちウエハ
ローディングポート13を垂直方向に並設することがで
きない。
【0062】図8は本発明の第二の実施の形態であるウ
エハ装填脱装方法を示すシーケンス図である。
【0063】本実施の形態においては、マッピングステ
ップは次の例のような方法によって事前に完了されてい
る。ポッド10の筐体2への投入時にポッド10がウエ
ハローディングポート13にポッド搬送装置14によっ
て搬送され、ポッド10のキャップ10aがポッドオー
プナ20によって外され、ポッド10内のウエハ9がマ
ッピング装置50にマッピングされる。マッピング終了
後に、ポッド10のキャップ10aがポッドオープナ2
0によって閉じられ、ポッド10がポッド棚12にポッ
ド搬送装置14によって搬送されて保管される。なお、
各ステップにおけるポッドオープナ20やマッピング装
置50等の動作は前記第一の実施の形態と同様である。
【0064】予めマッピングされた後にポッド棚12に
保管されたポッド10はポッド搬送装置14によって適
宜にピックアップされ、図8に示された実ポッド搬入ス
テップS1において上段ポートAに搬入される。上段ポ
ートAに搬入されたポッド10はキャップ10aを外さ
れる実ポッド開けステップS2を実行される。続いて、
上段ポートAのポッド10はウエハ移載装置15によっ
てウエハ9をボート8に装填するチャージングステップ
S4−1を実行される。
【0065】図8に示されているように、上段ポートA
におけるチャージングステップS4−1の実行中に、下
段ポートBにおいては実ポッド搬入ステップS1が実行
される。下段ポートBに搬入されたポッド10は待機ス
テップStにおいてそのまま待機される。このように下
段ポートBにおいてポッド10がキャップ10aを閉じ
たまま待機していると、上段ポートAのチャージングス
テップS4−1の実行に際して下段ポートBのポッド1
0の内部に異物が侵入するのを防止することができる。
【0066】図8に示されているように、上段ポートA
におけるチャージングステップS4−1が終了すると、
下段ポートBにおいてはポッド10のキャップ10aが
外される実ポッド開けステップS2が実行される。続い
て、下段ポートBのポッド10はウエハ移載装置15に
よってウエハ9をボート8に装填するチャージングステ
ップS4−2を実行される。
【0067】翻って、図8に示されているように、上段
ポートAにおいてはチャージングステップS4−1が終
了すると、空ポッド閉じステップS5が実行される。キ
ャップ10aによっウエハ出入口が閉塞された上段ポー
トAの空のポッド10は、図8の空ポッド搬出ステップ
S6において、ポッド棚12にポッド搬送装置14によ
って搬送されて一時的に戻される。
【0068】空のポッド10が上段ポートAから搬出さ
れると、図8に示されているように、次の実ポッド10
が上段ポートAに搬入される実ポッド搬入ステップS1
が実行される。この上段ポートAに搬入されたポッド1
0は待機ステップStにおいてにおいてそのまま待機さ
れる。このように上段ポートAにおいてポッド10がキ
ャップ10aを閉じたまま待機していると、下段ポート
BのチャージングステップS4−2の実行に際して上段
ポートAのポッド10の内部に異物が侵入するのを防止
することができる。
【0069】図8に示されているように、上段ポートA
における空ポッド閉じステップS5〜待機ステップSt
の実行中に、下段ポートBにおいてはチャージングステ
ップS4−2が実行される。下段ポートBにおいてチャ
ージングステップS4−2が終了すると、空ポッド閉じ
ステップS5が実行される。続いて、空のポッド10は
空ポッド搬出ステップS6においてポッド棚12にポッ
ド搬送装置14によって搬送されて一時的に戻される。
空のポッド10が下段ポートBから搬出されると、次に
装填すべきポッド10が下段ポートBに搬入される実ポ
ッド搬入ステップS1が実行される。
【0070】以上のようにして上段ポートAと下段ポー
トBとに対するウエハ移載装置15によるチャージング
ステップS4−1、S4−2、S4−3、S4−4が交
互に繰り返されることによって、複数枚のウエハ9がポ
ッド10からボート8に装填されて行く。例えば、一回
のバッチ処理のウエハ枚数が百枚の場合には図8に示さ
れているように、前述したステップS1〜ステップS6
および待機ステップStが上段ポートAと下段ポートB
とにおいて二回宛繰り返されることになる。
【0071】そして、予め指定された複数枚(図8の場
合は百枚)のウエハ9がポッド10からボート8に移載
されると、図8に示されているように、成膜待機ステッ
プSt(Sp)が前記実施の形態と同様にして実行され
る。すなわち、ボート8はエレベータ7によって上昇さ
れてプロセスチューブ4の処理室に搬入される。ボート
8が上限に達すると、ボート8を保持したキャップの上
面の周辺部がプロセスチューブ4をシール状態に閉塞す
るため、処理室は気密に閉じられた状態になる。この成
膜待機ステップSt(Sp)の実行中に上段ポートAお
よび/または下段ポートBにおいては、処理済みウエハ
の回収作業が同時に進行されている。例えば、図8に示
されているように、成膜待機ステップSt(Sp)中
に、上段ポートAへ空ポッド搬入ステップ7において空
ポッド10が搬入され、続いて、空ポッド開けステップ
S8によって空ポッド10のキャップ10aが外され
る。
【0072】次いで、上段ポートAのディスチャージン
グステップS9−1において装填ステーションに搬出さ
れたボート8の処理済みウエハ9は、ウエハ移載装置1
5によりディスチャージングされ、上段ポートAに予め
搬入されてキャップ10aを外されて開放された空のポ
ッド10に収容(ウエハアンローディング)される。
【0073】上段ポートAへの空のポッド10への所定
の枚数のウエハ9の収容が終了すると、図8に示されて
いるように、処理済みポッド閉じステップS10が前記
第一の実施の形態の場合と同様にして実行される。次い
で、処理済み実ポッド搬出ステップS11において、処
理済みのウエハ9が収納された処理済み実ポッド10は
ポッド棚12にポッド搬送装置14によって搬送されて
戻される。
【0074】以上の上段ポートAにおけるディスチャー
ジングステップS9−1の実行中に、図8に示されてい
るように、下段ポートBにおいては空ポッド搬入ステッ
プS7が上段ポートAの場合と同様にして実行される。
下段ポートBにおいて空ポッド搬入ステップS7が終了
した後に上段ポートAにおいてディスチャージングステ
ップS9−1が継続中の場合には、下段ポートBにおい
ては待機ステップStが適宜に実行されることになる。
【0075】以上のように上段ポートAまたは下段ポー
トBのチャージングステップS4およびディスチャージ
ングステップS9の実行中に、下段ポートBまたは上段
ポートAにおいて実ポッド搬入ステップS1や空ポッド
搬出ステップS6、処理済み実ポッド搬出ステップS1
1および空ポッド搬入ステップS7等を実行することに
より、上段ポートAまたは下段ポートBにおけるウエハ
9の装填作業または脱装作業の終了と同時に、下段ポー
トBまたは上段ポートAに待機させたポッド10のキャ
ップ10aを外してウエハ9のウエハ移載装置15によ
る装填作業または脱装作業を開始することができる。す
なわち、ウエハ移載装置15はポッド10の入替え作業
についての待ち時間を浪費することなくウエハ移載(ウ
エハローディングおよびウエハアンローディング)作業
を連続して実施することができるため、半導体製造装置
1のスループットを高めることができる。
【0076】なお、新旧ポッド10のポッドステージ1
1への搬入搬出作業およびポッドステージ11とポッド
棚12との間の入替え作業は、成膜待機ステップSt
(Sp)の実行中に同時進行されるため、半導体製造装
置1の全体としての作業時間が延長されるのを防止する
ことができる。
【0077】図9は本発明の第三の実施の形態であるウ
エハ装填脱装方法を示すシーケンス図である。
【0078】本実施の形態が前記第二の実施の形態と異
なる点は、上段ポートAまたは下段ポートBの一方にお
けるチャージングステップS4およびディスチャージン
グステップS9の終了直前に、下段ポートBまたは上段
ポートAの他方においてポッド開けステップS2および
S8を実行するように設定されている点である。
【0079】図10は本発明の第四の実施の形態である
ウエハ装填脱装方法を示すシーケンス図である。
【0080】本実施の形態が前記第二の実施の形態と異
なる点は、上段ポートAまたは下段ポートBの一方にお
けるチャージングステップS4およびディスチャージン
グステップS9の実行中に、下段ポートBまたは上段ポ
ートAの他方においてポッド搬入ステップおよびポッド
開けステップを実行し、ポッド10のキャップ10aを
外した状態で待機する(すなわち待機ステップStを実
行する)ように設定されている点である。
【0081】なお、本発明は前記実施の形態に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変
更が可能であることはいうまでもない。
【0082】例えば、ウエハローディングポートは上下
二段設置するに限らず、上中下三段のように三段以上設
置してもよい。
【0083】マッピング装置をポッドに対して進退させ
る構造としてはロータリーアクチュエータを使用した構
成を採用するに限らず、XY軸ロボット等を使用した構
成を採用してもよい。また、マッピング装置は省略して
もよい。
【0084】基板はウエハに限らず、ホトマスクやプリ
ント配線基板、液晶パネル、コンパクトディスクおよび
磁気ディスク等であってもよい。
【0085】半導体製造装置は成膜処理に使用するCV
D装置に限らず、酸化膜形成処理や拡散処理等の熱処理
にも使用することができる。
【0086】前記実施の形態ではバッチ式縦形拡散・C
VD装置の場合について説明したが、本発明はこれに限
らず、半導体製造装置全般に適用することができる。
【0087】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体製造装置のリードタイムを短縮しスループットを
高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態である半導体製造装置を
示す概略斜視図である。
【図2】ポッドオープナを示す正面側から見た斜視図で
ある。
【図3】そのポッド載置状態を示す斜視図である。
【図4】ポッドオープナを示す背面側から見た一部省略
斜視図である。
【図5】図4の省略したV部を示す斜視図である。
【図6】マッピング装置を示す各平面断面図であり、
(a)は待機中を示し、(b)は作動中を示している。
【図7】本発明の第一の実施の形態であるウエハ装填脱
装方法を示すシーケンス図である。
【図8】本発明の第二の実施の形態であるウエハ装填脱
装方法を示すシーケンス図である。
【図9】本発明の第三の実施の形態であるウエハ装填脱
装方法を示すシーケンス図である。
【図10】本発明の第四の実施の形態であるウエハ装填
脱装方法を示すシーケンス図である。
【符号の説明】
1…半導体製造装置(基板処理装置)、2…筐体、3…
ヒータユニット、4…プロセスチューブ、5…ガス導入
管、6…排気管、7…エレベータ、8…ボート、9…ウ
エハ(基板)、10…ポッド、10a…キャップ、11
…ポッドステージ、12…ポッド棚、13…ウエハロー
ディングポート、14…ポッド搬送装置、15…ウエハ
移載装置、20…ポッドオープナ(開閉装置)、21…
ベース、22…ウエハ出入口、23…支持台、24…ガ
イドレール、25…ガイドブロック、26…エアシリン
ダ装置、27…載置台、28…位置決めピン、30…ガ
イドレール、31…左右方向移動台、32…エアシリン
ダ装置、32a…ピストンロッド、33…ガイドレー
ル、34…前後方向移動台、35…ガイド孔、36…ブ
ラケット、37…ロータリーアクチュエータ、37a…
アーム、38…ガイドピン、39…ブラケット、40…
クロージャ、41…解錠軸、41a…係合部、42…プ
ーリー、43…ベルト、44…連結片、45…エアシリ
ンダ装置、46…吸着具、47…吸込口部材、50…ロ
ータリーアクチュエータ、50a…回転軸、51…アー
ム、52…挿通孔、53…マッピング装置、54、5
5、56…パッキン。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳川 秀宏 東京都中野区東中野三丁目14番20号 株式 会社日立国際電気内 Fターム(参考) 5F031 CA01 CA02 CA05 CA07 CA20 DA08 DA17 EA14 FA01 FA03 FA09 FA11 FA12 FA15 FA22 GA47 GA48 GA49 MA02 MA28 NA09 NA10 PA03 PA09 PA30 5F046 AA21 CD01

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数枚の基板を収納し開閉自在なキャッ
    プを有するポッドに対して前記基板を出し入れする基板
    ローディングポートが複数設けられているとともに、こ
    れら基板ローディングポートには前記ポッドの前記キャ
    ップを開閉する開閉装置がそれぞれ設けられていること
    を特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 前記複数の基板ローディングポートは垂
    直方向に配置されていることを特徴とする請求項1に記
    載の基板処理装置。
  3. 【請求項3】 前記開閉装置は前記ポッドの前記キャッ
    プを開閉する際に前記キャップを水平方向に移動させる
    ように構成されていることを特徴とする請求項2に記載
    の基板処理装置。
  4. 【請求項4】 前記複数の基板ローディングポートには
    前記ポッドの中の前記基板の所在位置を確認するマッピ
    ング装置がそれぞれ設けられていることを特徴とする請
    求項1に記載の基板処理装置。
  5. 【請求項5】 前記複数の基板ローディングポートの一
    つにおける前記ポッドに対する前記基板の移載動作中に
    別のポッドを他の前記基板ローディングポートに搬送す
    るポッド搬送装置を備えていることを特徴とする請求項
    1に記載の基板処理装置。
  6. 【請求項6】 複数枚の基板を収納し開閉自在なキャッ
    プを有するポッドの前記キャップを開閉する開閉装置を
    備えており、この開閉装置は前記ポッドの前記キャップ
    を開閉する際に前記キャップを水平方向に移動させるよ
    うに構成されていることを特徴とする基板処理装置。
  7. 【請求項7】 複数枚の基板を収納し開閉自在なキャッ
    プを有するポッドに対して前記基板を出し入れする基板
    ローディングポートを備えており、この基板ローディン
    グポッドには前記ポッドの中の前記基板の所在位置を確
    認するマッピング装置が設けられていることを特徴とす
    る基板処理装置。
  8. 【請求項8】 複数枚の基板を収納し開閉自在なキャッ
    プを有するポッドに対して前記基板を出し入れする基板
    ローディングポートが垂直方向に複数段設置されている
    ことを特徴とする基板処理装置。
  9. 【請求項9】 複数枚の基板を収納し開閉自在なキャッ
    プを有するポッドに対して前記基板を出し入れする基板
    ローディングポートが複数設けられている基板処理装置
    を使用して基板を処理する際に、一つの基板ローディン
    グポートにおけるポッドに対する前記基板の移載動作中
    に、別のポッドを他の基板ローディングポートに搬送す
    ることを特徴とする基板処理方法。
  10. 【請求項10】 複数枚の基板を収納し開閉自在なキャ
    ップを有するポッドに対して前記基板を出し入れする基
    板ローディングポートが複数設けられている基板処理装
    置を使用して基板を処理する際に、一つの基板ローディ
    ングポートにおけるポッドに対する前記基板の移載動作
    中に、別のポッドを他の基板ローディングポートに搬送
    することを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP2001115619A 2000-04-17 2001-04-13 基板処理装置、ポッド開閉装置、基板処理方法、半導体装置の製造方法および基板搬送方法 Expired - Lifetime JP4155722B2 (ja)

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