JPH11312760A - 高周波用配線基板 - Google Patents
高周波用配線基板Info
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- JPH11312760A JPH11312760A JP10118213A JP11821398A JPH11312760A JP H11312760 A JPH11312760 A JP H11312760A JP 10118213 A JP10118213 A JP 10118213A JP 11821398 A JP11821398 A JP 11821398A JP H11312760 A JPH11312760 A JP H11312760A
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Abstract
位置合わせを容易に行うことのできる高周波用の配線基
板を得る。 【解決手段】誘電体基板2と、誘電体基板2の表面に被
着形成され、一端が半導体素子5と接続される高周波用
伝送線路Aと、誘電体基板2の裏面に形成され一端が外
部回路基板14との接続部10を形成してなる高周波用
伝送線路Bとを具備し、高周波用伝送線路Aと、高周波
用伝送線路Bとの間で信号の伝達が行われる高周波用配
線基板において、誘電体基板2の表面および/または内
部にグランド層8が被着形成されるとともに、高周波用
伝送線路Bの接続部10が、中心導体10aと、その両
側に被着形成されたグランド層10bにより構成され、
グランド層8と接続部10のグランド層10bを誘電体
基板2の端面に形成された導体帯12によって電気的に
接続し、この導体帯12を実装時の位置合わせ用の目印
として利用する。
Description
関するもので、特に、マイクロ波帯からミリ波帯領域の
高周波用の半導体素子を収納あるいは搭載する高周波用
半導体パッケ−ジに好適であり、外部回路基板に対して
精度の高い実装が容易に行うことのできる配線基板に関
するものである。
扱う高周波用半導体パッケージは、一般には、誘電体基
板と枠体により形成されたキャビティ内に半導体素子を
収納して気密に封止されており、半導体素子はキャビテ
ィ内の誘電体基板表面に形成された第1の高周波伝送線
路と接続されている。また、誘電体基板の裏面には、外
部電気回路基板との接続部を具備する第2の高周波伝送
線路が設けられている。
線路と、誘電体基板裏面に形成された第2の高周波伝送
線路は、キャビティ内の高周波伝送線路を枠体を貫通し
てキャビティ外に引き出し、これを更に誘電体基板の端
面を経由して裏面に配設された高周波伝送線路と接続さ
れる。また、他の接続方法としては、第1の高周波伝送
線路と第2の高周波伝送線路とを誘電体基板内を貫通す
るスルーホール導体によって接続することも提案されて
いる。
成された第2の高周波伝送線路の接続部を外部回路基板
の実装部とを半田等の接着剤を介して接続し実装するこ
とにより、外部回路基板と半導体素子とは電気的な信号
の伝達が行われる。
高周波用半導体パッケージをミリ波帯で用いた場合、ス
トリップ線路等の信号伝送線路を枠体を通してキャビテ
ィ外に引き出した際、枠体貫通部で信号線路がマイクロ
ストリップ線路からストリップ線路へと変換されるた
め、信号線路幅を狭くする必要がある。その結果、この
貫通部で反射損、放射損が発生しやすいため高周波信号
の特性劣化が起こりやすくなるという問題があった。ま
た、信号伝送線路を絶縁基板の端面で曲折することか
ら、反射が大きくなり特性の劣化が生じた。
に形成し、信号線路として用いると、40GHz以上で
急激な特性の劣化が生じるため、高周波領域で使用する
ことが困難であった。
パッケージとして、電磁結合の機構を組み込み、低損失
で信号線路を伝送することができるパッケージを提案し
た(特願平9−186268号)。しかしながら、この
高周波用半導体パッケージを外部配線基板の配線層に実
装する場合、高周波用半導体パッケージの信号線路をマ
イクロストリップ線路で形成し、外部回路基板の配線層
をマイクロストリップ線路で形成して両者を接続し、信
号を伝送すると、電磁界分布が高周波用半導体パッケー
ジ部と外部回路基板部で逆方向に形成されるため、接続
部でモードが不連続となることから伝送特性が劣化する
傾向にある。
非常に狭いことから、この配線層に上記パッケージを実
装する際、パッケージ側の接続部が誘電体基板の裏面に
形成されているために実装時に位置ズレを起こし、これ
により外部回路基板とパッケージとの実装部において伝
送特性が劣化し、最悪の場合、高周波信号線路が断線す
る場合もあった。
て成されたもので、その目的は高周波用半導体パッケー
ジを外部回路基板に実装する際、実装部における高周波
信号の伝送特性の劣化を低減するとともに、外部回路基
板との実装時の位置ズレを最小限に抑制し高精度な実装
を容易に行うことができる高周波用配線基板を提供する
ことにある。
配線基板において、高周波信号の特性劣化を発生するこ
となく外部回路基板に表面実装が可能で、かつ位置ズレ
がなく容易に高周波用半導体パッケージを外部回路基板
への表面実装することが可能な構成について検討を重ね
た結果、誘電体基板の底面に中心導体とその両側にグラ
ンド層を形成したコプレーナ線路からなる接続部を形成
し、接続部のグランド層と誘電体基板の表面あるいは内
部に設けられたグランド層とをその誘電体基板の端面に
形成された導体帯によって接続することにより、この導
体帯が外部回路基板の配線層に実装する際の目印として
機能し、実装時の位置合わせを容易にできることを見い
だした。
体基板と、該誘電体基板の表面に被着形成され、一端が
半導体素子と接続される第1の信号伝送線路と、前記誘
電体基板の裏面に形成され、その一端が外部回路基板と
の接続部を形成してなる第2の信号伝送線路とを具備
し、前記第1の信号伝送線路と、前記第2の信号伝送線
路との間で信号の伝達が行われる高周波用配線基板にお
いて、前記誘電体基板の表面および/または内部に第1
のグランド層が被着形成されるとともに、前記第2の信
号伝送線路の前記接続部が、中心導体と、その両側に被
着形成された第2のグランド層により構成され、前記第
1のグランド層と前記第2のグランド層が、前記誘電体
基板の端面に設けられた導体帯によって電気的に接続さ
れてなることを特徴とするものである。
1の信号伝送線路と、前記第2の信号伝送線路は、前記
誘電体基板内のグランド層に設けられたスロット孔を介
して、電磁的に結合されてなること、前記半導体素子
は、蓋体によって、誘電体基板の表面に気密に封止され
ており、前記蓋体は、前記誘電体基板の表面にメタライ
ズシール部によって接合されてなること、前記メタライ
ズシール部が、前記導体帯と電気的に接続してなるこ
と、さらには、前記誘電体基板の端面における前記接続
部の前記中心導体と整合する箇所にマーキングを設ける
ことが望ましい。
回路基板との接続部を、中心導体と、その両側に被着形
成されたグランド層を具備するコプレーナ線路により構
成し、また外部回路基板側の実装部をコプレーナ線路に
より構成することで、両者の電磁界分布は、類似したモ
ードから構成される。そのため、両者を半田バンプ等に
よって接続することにより高周波信号の伝送特性の劣化
を抑えることができる。
1の信号伝送線路と、誘電体基板の底面に形成された第
2の信号伝送線路とを、誘電体基板内部に設けたスロッ
ト孔を介して電磁結合させることにより、伝送線路を枠
体を貫通してキャビティ外に引き出す必要がなく、枠体
貫通部における反射損、放射損の発生を低減できる。し
かも、従来のスルーホール導体やビアホール導体等によ
る接続に伴う透過損失の影響を受けることがないため、
高周波信号を伝送損失を抑制し、かつ必要な周波数の信
号を伝送することができる。
されたグランド層と、外部回路基板との接続部における
グランド層、さらには、半導体素子を気密封止するため
の蓋体を誘電体基板表面に接合するために設けられたメ
タライズシール部とを配線基板の端面に形成した導体帯
によって電気的に接続することにより、グランド層間の
電位ばらつきを抑えることができ、しかも端面の導体帯
が配線基板内の電磁波が系外に漏洩するのを防止するシ
ールドとして発揮することができる。
は、外部回路基板との接続部のグランド層と接続されて
いるために、導体帯が接続部の位置を示す作用をなし、
外部回路基板における実装部に対して、導体帯を整合さ
せながら表面実装を行うことにより、実装時の位置ズレ
を最小限に抑えることができ、外部回路基板と配線基板
との実装部における伝送特性の劣化を抑えることが可能
となる。
に基づき詳述する。図1は本発明の高周波用配線基板の
典型的応用例として高周波用半導体パッケージを示す断
面図である。図1によれば、高周波用半導体パッケージ
1は、誘電体材料からなる誘電体基板2と蓋体3により
キャビティ4が形成されており、そのキャビティ4内に
はIC等の高周波用の半導体素子5が搭載されている。
部に漏洩するのを防止できる材料から構成されているこ
とが望ましく、セラミックス、セラミックス金属複合材
料、ガラスセラミックス、ガラス有機樹脂系複合材料等
が使用できる。さらに誘電体基板2の半導体素子5搭載
部の周囲にAu・Si合金等のメタライズシール部6が
形成され、蓋体3はこのシール部6に接合されている。
板2の半導体素子5搭載面側の配線図に示される通り、
キャビティ4内の領域に、半導体素子5に信号を伝送す
るための中心導体7が被着形成されており、その一端
は、半導体素子5と接続されている。
Sn合金等によって直接搭載することにより小さな伝送
損失で接続することができるが、中心導体7と半導体素
子5は、その他、金リボンや複数のワイヤボンディング
で接続したり、ポリイミド等の基板にCu等の導体を形
成した導体板等により接続することも可能である。
グランド層8がほぼ誘電体基板2の全面にわたり形成さ
れ、誘電体基板2表面に形成された中心導体7とともに
第1の信号伝送線路Aとしてマイクロストリップ線路を
形成している。
誘電体基板2の裏面の配線図に示される通り、中心導体
9が形成されており、誘電体基板2内のグランド層8と
ともに第2の信号伝送線路Bとなるマイクロストリップ
線路を形成している。また、この中心導体9の端部に
は、外部回路基板との接続部10が形成されている。こ
の接続部10は、中心導体10aと、その両脇にグラン
ド層10bが設けられ、コプレーナ線路あるいはグラン
ド付きコプレーナ線路を形成している。
には、導体が被着形成されないスロット孔11が形成さ
れており、第1の信号伝送線路Aと第2の信号伝送線路
Bとは、スロット孔11を介して、各線路の中心導体
7、9の端部が対峙するように形成することにより電磁
結合され、両線路A,B間で損失のない信号の伝達が行
われる。
に形成されたスロット孔11を介して、それぞれの導体
の端部が伝送信号の波長λの1/2相当の長さで重なる
ような位置に形成されることが望ましい。
ら成る長方形や楕円形状の細長い孔であり、該形状は使
用周波数と周波数の帯域幅を特定することができる。そ
のため、スロット孔11の長辺は伝送信号の波長λの1
/2相当の長さにするのが望ましく、スロット孔11の
短辺は伝送信号の波長λの1/5相当の長さから1/5
0相当の長さに設定するのが望ましい。
面図に示されるように、誘電体基板2の裏面に形成され
た第2の信号伝送線路Bの接続部10におけるグランド
層10bを、誘電体基板2内部のグランド層8と誘電体
基板2の端面に形成した導体帯(キャスタレーション)
12によって電気的に接続する。また、この導体帯12
は、誘電体基板2の表面に図2に示したように蓋体3を
接合するためのメタライズシール部6を有する場合、そ
のシール部6とも電気的に接続することが望ましい。
層10aの線幅と実質的に同一幅であるか、またはグラ
ンド層10aの一方の縁と導体帯12の縁が整合するよ
うに形成することが望ましい。これにより、誘電体基板
2の裏面のグランド層10aの位置を基板の端面から容
易に確認することができる。
角部において、同様な導体帯13を形成することによ
り、さらにパッケージ1の外部回路基板への実装時の位
置合わせを容易に行うことができる。
ッケージ1の配線基板を作製する過程において、誘電体
基板2の周囲に切断しろ部分を形成した基板を作製し、
その誘電体基板2の端面となる境界線上の導体帯形成箇
所に、孔を明け、その孔内に真空吸引しながら導体イン
クを流し込み、適宜焼き付け処理した後、前記境界線に
て切断することにより半径形状の切り欠き部内に導体が
被着形成された導体帯13を形成することができる。
基板における誘電体基板2としては、アルミナ(Al2
O3 )、ガラスセラミックス、窒化アルミニウム(Al
N)、窒化珪素(Si3 N4 )等のセラミックスや有機
樹脂を構成要素とする有機質絶縁材によって構成される
が、高周波信号の伝送損失を小さくするためには、信号
伝送線路の導体としてAg、Cu、Au等の低抵抗導体
を用いることが望ましく、この点からは前記絶縁基体は
焼成温度が800〜1000℃程度のガラスセラミック
スが最適であり、この組み合わせにより絶縁基体と信号
伝送線路との同時焼成も可能となる。
に実装する方法について説明する。図5に、図1のパッ
ケージ1を実装する外部回路基板14の表面の配線図を
示した。外部回路基板14の表面には、パッケージ1に
おける誘電体基板2の裏面に形成された接続部10と整
合するように、第3の信号伝送線路Cとして中心導体1
5aとその両脇に一対のグランド層15bを具備するコ
プレーナ線路あるいはさらに外部回路基板14内部にグ
ランド層(図示せず)を具備するグランド付きコプレー
ナ線路が被着形成されている。また、外部回路基板14
における実装部には、パッケージ1の角部と整合する部
分に位置合わせ用印16を形成してもよい。
リ波帯においても小さい材料を用いることが望ましく、
セラミックス、ガラスセラミックス、ガラス有機樹脂系
複合材料、石英等が好適に使用できる。また、基板14
表面に形成される線路は、Ag、Cu、Au等の低抵抗
導体からなることが望ましい。
板14の表面に実装した場合の斜視図である。図6に示
すように、パッケージ1の端面の導体帯12と、外部回
路基板14の第3の信号伝送線路Cのグランド層15b
とを整合させることにより、パッケージ1側の中心導体
10aと、外部回路基板14側の中心導体15aとを精
度よく位置合わせすることができる。また、パッケージ
1の角部と、外部回路基板14における位置合わせ用印
16とを整合させることによりさらに精度のよい位置合
わせを行うことができる。
せを行った状態で、パッケージ1の裏面に形成した接続
部10の中心導体10a、グランド層10bと、外部回
路基板14の第3の信号伝送線路Cの中心導体15a、
グランド層15bとをそれぞれ半田バンプ17(図1)
等の接着材によって接着することにより、パッケージ1
を外部回路基板14に実装することができる。
装する際、角部の位置を合わせるために設けられる位置
合わせ印16は、線状あるいは円形状の導体精度の高い
位置合わせを行うために、径または線幅が0.2mm以
下で形成されるのが望ましく、さらに位置ズレを抑える
には径または線幅が0.1mm以下で形成されることが
望ましい。
に、図3に示すように、接続部10の中心導体10aと
整合する誘電体基板2の端面に、切り欠き形成や導体イ
ンクや着色インク層塗布形成などによりマーキング18
を設けることも可能である。
信号の伝送線路等について説明したが、パッケージ1に
おいては、誘電体基板2のキャビティ4領域に半導体素
子5に電力を供給するための電源層(図示せず)が形成
されており、電源層の一端は、半導体素子5とリボンや
ワイヤ、TAB等によってそれぞれ電気的に接続され、
他端は、誘電体基板2を貫通するスルーホール導体によ
って誘電体基板2の裏面まで導出され、導出されたスル
ーホール導体は、電極パッド等を介して外部回路基板1
4に設けられた電源用の端子と半田等により接続される
ものである。
導体パッケージなどの配線基板を外部回路基板に実装す
る際、配線基板の裏面に形成した接続部を目視や画像認
識装置で位置を確認しながら外部回路基板への位置合わ
せおよび実装を行うことができるために、実装作業を容
易にするとともに、実装時に生じる位置ずれやそれに伴
う信号の伝送不良などの不具合の発生を抑制することが
できる。
は、半導体素子搭載面側と誘電体基板の底面に信号伝送
線路を形成し、それらを電磁結合する高周波用半導体パ
ッケージを、外部回路基板の配線層に実装する構造にお
いて、高周波用半導体パッケージの端面に外部回路基板
と位置合わせをするためのキャスタレーションを設けた
構造を採用することにより、実装時の位置ズレを最小に
抑えることが出来、かつ伝送特性の劣化を低減できるこ
とできる。
ッケージを外部回路基板に実装した実装構造を示す断面
図である。
電体基板2の半導体素子搭載側の配線を説明するための
図である。
電体基板2の裏面の配線を説明するための図である。
面図である。
ある。
面実装した時の概略斜視図である。
Claims (5)
- 【請求項1】誘電体基板と、該誘電体基板の表面に被着
形成され、一端が半導体素子と接続される第1の信号伝
送線路と、前記誘電体基板の裏面に形成され、その一端
が外部回路基板との接続部を形成してなる第2の信号伝
送線路とを具備し、前記第1の信号伝送線路と、前記第
2の信号伝送線路との間で信号の伝達が行われる高周波
用配線基板において、前記誘電体基板の表面および/ま
たは内部に第1のグランド層が被着形成されるととも
に、前記第2の信号伝送線路の前記接続部が、中心導体
と、その両側に被着形成された第2のグランド層により
構成され、前記第1のグランド層と前記第2のグランド
層が、前記誘電体基板の端面に形成された導体帯によっ
て電気的に接続されてなることを特徴とする高周波用配
線基板。 - 【請求項2】前記第1の信号伝送線路と、前記第2の信
号伝送線路は、前記誘電体基板内のグランド層に設けら
れたスロット孔を介して、電磁的に結合されてなること
を特徴とする請求項1記載の高周波用配線基板。 - 【請求項3】前記半導体素子は、蓋体によって、誘電体
基板の表面に気密に封止されており、前記蓋体は、前記
誘電体基板の表面にメタライズシール部によって接合さ
れてなることを特徴とする請求項1記載の高周波用配線
基板。 - 【請求項4】前記メタライズシール部が、前記導体帯と
電気的に接続してなる請求項3記載の高周波用配線基
板。 - 【請求項5】前記誘電体基板の端面における前記接続部
の前記中心導体と整合する箇所にマーキングを設けたこ
とを特徴とする請求項1記載の高周波用配線基板。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP11821398A JP3570887B2 (ja) | 1998-04-28 | 1998-04-28 | 高周波用配線基板 |
US09/199,716 US6057600A (en) | 1997-11-27 | 1998-11-25 | Structure for mounting a high-frequency package |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP11821398A JP3570887B2 (ja) | 1998-04-28 | 1998-04-28 | 高周波用配線基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH11312760A true JPH11312760A (ja) | 1999-11-09 |
JP3570887B2 JP3570887B2 (ja) | 2004-09-29 |
Family
ID=14731021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11821398A Expired - Lifetime JP3570887B2 (ja) | 1997-11-27 | 1998-04-28 | 高周波用配線基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP2021101475A (ja) * | 2016-07-28 | 2021-07-08 | 京セラ株式会社 | 半導体素子実装用基板および半導体装置 |
CN113056092A (zh) * | 2019-12-27 | 2021-06-29 | Ngk电子器件株式会社 | 布线基板 |
JP2021108359A (ja) * | 2019-12-27 | 2021-07-29 | Ngkエレクトロデバイス株式会社 | 配線基板 |
WO2022270429A1 (ja) * | 2021-06-21 | 2022-12-29 | 京セラ株式会社 | 配線基板、電子部品収納用パッケージ及び電子装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3570887B2 (ja) | 2004-09-29 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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